KR101751310B1

KR101751310B1 - 회로 오동작 검출 시스템 및 그 제어 방법

Info

Publication number: KR101751310B1
Application number: KR1020150184926A
Authority: KR
Inventors: 김기만; 정재봉; 장현호
Original assignee: 만도헬라일렉트로닉스(주)
Priority date: 2015-12-23
Filing date: 2015-12-23
Publication date: 2017-06-28
Also published as: US10627438B2; FR3046248A1; FR3046248B1; US20170184652A1

Abstract

본 발명은 회로 오동작 검출 시스템 및 그 제어 방법이 제공된다. 본 발명의일 실시예에 따르면, 인가 전압원과 검출 대상 회로의 상단 사이에 직렬로 위치하는 다이오드, 제 1 저항 및 제 2 저항과 상기 검출 대상 회로와 그라운드 사이에 직렬로 위치하는 제 3 저항 및 제 4 저항을 포함하는 검출 회로와 제 1 저항과 상기 제 2 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 1 입력 단자와 상기 제 3 저항과 상기 제 4 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 2 입력 단자를 포함하는 입력부와 입력부에서 검출된 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부 및 상기검출 대상 회로의 동작의 고장을 검출하는 제어부 및 고장이 검출되면 사용자에게 경고하는 표시부;를 포함하는 회로 오동작 검출 시스템이 제공될 수 있다.

Description

회로 오동작 검출 시스템 및 그 제어 방법{Circuit Fault Detection System And Method Thereof}

본 발명은 회로 내에서 발생할 수 있는 오류를 검출하기 위한 시스템과 그 제어 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 집적회로(IC: Integrated Circuit) 시스템은 그 내부의 오류를 감지하기가 쉽지 않다.

예를 들어, 집적 회로 내 사용 온도가 크게 변하거나, 전원 전압이 크게 변동되는 경우, 회로 내 그라운드 단락, 전원 단락 또는 회로 끊김 현상이 발생하는 경우 오동작을 일으킨다.

오동작이 발생하는 경우에 문제가 생긴 부분을 재빨리 확인하지 않으면, 오동작이 지속적으로 발생하여 자동차와 같은 위험도가 높은 제품군에 사용되는 경우 이로 인한 재산 또는 인명 피해가 발생할 수도 있다.

또한, 회로 내 오동작을 감지하기 위하여 다이오드를 제외하고 패시브 소자인 저항으로만 구성된 회로도를 이용하여 회로 오류 검출 시스템을 확보하는 경우 와 같이 저비용으로 회로의 오류를 감지할 수 있는 제어 방법에 대한 연구가 지속되고 있다.

본 발명의 실시 예는 회로 내 오동작을 감지하기 위하여 다이오드를 제외하고 패시브 소자인 저항으로만 구성된 회로도를 이용함에 따라 저비용으로 회로의 오류를 감지하고자 한다.

또한, 오류가 가능한 단계별 데이터를 예상하여 오류 가능성을 판단하여, 발생한 오류 데이터를 확보할 수 있으며, 발생할 수 있는 오류 조건들을 구분하기 위해 입력단자 전압값이 중복되지 않도록 저항값을 부여함에 따라 다양한 오동작을 감지하고자 한다.

본 발명의 일 측면에 따르면, 인가 전압원과 검출 대상 회로의 상단 사이에 직렬로 위치하는 다이오드, 제 1 저항 및 제 2 저항과 상기 검출 대상 회로와 그라운드 사이에 직렬로 위치하는 제 3 저항 및 제 4 저항을 포함하는 검출 회로와 상기 제 1 저항과 상기 제 2 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 1 입력 단자와 상기 제 3 저항과 상기 제 4 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 2 입력 단자를 포함하는 입력부;와 상기 입력부에서 검출된 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부 및 상기검출 대상 회로의 동작의 고장을 검출하는 제어부; 및 상기 고장이 검출되면 사용자에게 경고하는 표시부;를 포함하는 회로 오동작 검출 시스템이 제공될 수 있다.

또한, 상기 검출 회로의 제 1 저항 내지 제 4 저항은 상기 검출 대상 회로의 등가 저항값보다 큰 값을 가지는 회로 오동작 검출 시스템이 제공될 수 있다.

또한, 상기 제어부는 상기 입력부에서 검출된 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부 또는 상기 검출 대상 회로의 동작 중 적어도 하나에서 발생할 수 있는 오류 데이터를 포함할 수 있다.

또한, 상기 제어부는 상기 오류 데이터와 일치하는 고장이 검출되면 상기 오류 데이터를 사용자에게 표시하도록 제어할 수 있다.

또한, 상기 검출 대상 회로 내부에서 발생할 수 있는 고장은 상기 검출 대상 회로의 개방, 배터리 측 단락, 그라운드 측 단락 중 하나일 수 있다.

본 발명의 다른 일 측면에 따르면, 인가 전압원과 검출 대상 회로의 상단 사이에 직렬로 위치하는 다이오드, 제 1 저항 및 제 2 저항과 상기 검출 대상 회로와 그라운드 사이에 직렬로 위치하는 제 3 저항 및 제 4 저항을 포함하는 검출 회로에 있어서, 상기 제 1 저항과 상기 제 2 저항 사이에서 제 1 전압을 측정하는 단계;와 상기 제 3 저항과 상기 제 4 저항 사이에서 제 2 전압을 측정하는 단계; 와 상기 측정된 제 1 전압값과 제 2 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부 및 상기 검출 대상 회로의 동작의 고장을 검출하는 단계; 및 상기 고장이 검출되면 사용자에게 경고하는 단계;를 포함하는 회로 오동작 검출 제어 방법이 제공될 수 있다.

또한, 상기 검출 대상 회로 내부의 고장은 상기 검출 대상 회로의 개방, 배터리 측 단락, 그라운드 측 단락되는 경우를 포함할 수 있다.

또한, 상기 검출 대상 회로의 동작의 오류를 검출하기 위하여 상기 검출 대상 회로의 상단 측 전압값과 하단 측 전압값을 측정하는 단계;를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 실시 예는 회로 내 오동작을 감지하기 위하여 다이오드를 제외하고 패시브 소자인 저항으로만 구성된 회로도를 이용함에 따라 저비용으로 회로의 오류를 감지할 수 있다.

또한, 오류가 가능한 단계별 데이터를 예상하여 오류 가능성을 판단하여, 발생한 오류 데이터를 확보할 수 있으며, 발생할 수 있는 오류 조건들을 구분하기 위해 입력단자 전압값이 중복되지 않도록 저항값을 부여함에 따라 다양한 오작동을 감지할 수 있다.

도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 회로 오동작을 감지하기 위한 검출 회로를 도시한 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 오동작 감지 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 검출 대상 회로의 로드 오류 조건을 나타낸 표이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 검출 대상 회로의 동작 조건을 나타낸 표이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 오류 검출 제어 방법을 나타낸 순서도이다.

이하에서는 본 발명의 실시 예를 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 이하의 실시 예는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 사상을 충분히 전달하기 위해 제시하는 것이다. 본 발명은 여기서 제시한 실시 예만으로 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 도면은 본 발명을 명확히 하기 위해 설명과 관계없는 부분의 도시를 생략하고, 이해를 돕기 위해 구성요소의 크기를 다소 과장하여 표현할 수 있다.

먼저, 도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 회로 오동작을 감지하기 위한 검출 회로를 도시한 개략도이며, 도 2는 도 1의 검출 회로의 제 1 입력부 및 제 2 입력부를 포함하는 회로 오동작 감지 시스템의 블록도이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 점선으로 표시된 사각형(1)에는 검출 대상 회로가 위치할 수 있다. 구체적으로, 검출 대상 회로(1)는 검출 대상 회로(1)에 인가되는 전원 전압(V1)과 검출 대상 회로 내부의 등가 저항으로 표기된 R_L 에 본 검출 대상 회로(1)가 위치할 수 있다.

검출 대상 회로(1)에 인가되는 전원 전압(V1)이 인가되기 위하여 개방 또는단락되는 상단 스위치와 그라운드측과 개방 또는 단락되는 하단 스위치를 포함할 수 있다.

본 발명에 따른 검출 회로는 인가 전압원(V2)을 포함하고, 다이오드(D1)및 4개의 저항으로 구성된다.

상단의 경우, 인가 전압원(V2)와 가까운 쪽을 의미하고, 하단이란 그라운드와 가까운 쪽을 의미한다. 구체적으로, 상단에는 다이오드(D1), 제 1 저항(R1), 제 2 저항(R2)을 포함하여, 제 1 저항(R1)과 제 2 저항(R2) 사이에서 전압값을 측정하는 제 1 입력부가 위치할 수 있다.

이 때, 다이오드(D1)는 인가 전압원(V2) 바로 하단에 위치하여, 검출 대상 회로(1) 의 전원 전압(V1)이 인가 전압원(V2) 쪽으로 전류가 흐르는 것을 방지할 수 있다.

다음으로, 하단에는 제 3 저항(R3), 제 4 저항(R4)을 포함하여, 제 3 저항(R3)과 제 4 저항(R4) 사이에서 전압값을 측정하는 제 2 입력부가 위치할 수 있다.

제 1 입력부 및 제 2 입력부에서 측정된 전압값은 도 2에 도시된 전자 제어 유닛(100)으로 전송되고, 전자 제어 유닛(100)은 수신받은 전압값을 기초로 검출 대상 회로 내 오류가 있는지 판단할 수 있다.

다음으로, 도 2는 도 1의 검출 회로의 제 1 입력부 및 제 2 입력부를 포함하는 회로 오동작 감지 시스템의 블록도이다.

이러한 회로 오동작 감지 시스템(1000)은 도 2에 도시된 바와 같이, 입력부(10), 전자 제어 유닛(100) 및 표시부(400)를 포함한다.

입력부(10)는 제 1 입력부 및 제 2 입력부를 포함하는 것으로, 측정된 전압값을 전자 제어 유닛(100)으로 송신한다.

또한, 입력부(10)는 검출 대상 회로(1)의 동작의 고장을 검출하기 위하여 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 입력값으로 포함할 수 있다.

즉, 입력부(10)는 제 1 입력부, 제 2 입력부, 및 V+노드 및 V-노드에서 측정된 전압을 입력값으로 포함할 수 있다.

다음으로, 전자 제어 유닛(100)는 본 발명에 따른 회로 오동작 검출 시스템(1000)을 총괄적으로 제어한다.

구체적으로, 전자 제어 유닛(100)은 입력된 전압값을 기초로 검출 대상 회로 내부 또는 검출 대상 회로의 동작에 고장이 있는지를 판단하는 메인 프로세서(200)와 각종 데이터를 저장하는 메모리(300)를 포함한다.

메인 프로세서(200)는 도 3 및 도 4에 도시된 오류조건을 기초로 검출 대상 회로(1) 또는 검출 대상 회로의 동작에 고장이 있는지를 판단한다.

다음으로, 메모리(300)는 본 발명에 따른 회로 오동작 검출 시스템(1000)의프로그램 및 데이터를 기억한다.

구체적으로, 메모리(300)은 S램(S-RAM), D램(D-RAM) 등의 휘발성 메모리뿐만 아니라 플래시 메모리, 롬(Read Only Memory), 이피롬(Erasable Programmable Read Only Memory: EPROM), 이이피롬(Electrically Erasable Programmable Read OnlyMemory: EEPROM) 등의 비휘발성 메모리를 포함할 수 있다.

비휘발성 메모리는 회로 오동작 검출 시스템(1000)의 동작을 제어하기 위한 제어 프로그램 및 제어 데이터를 반 영구적으로 저장할 수 있으며, 휘발성 메모리는 비휘발성 메모리로부터 제어 프로그램 및 제어 데이터를 불러와 임시로 기억하고, 입력부(10)로부터 획득한 전압값 및 메인 프로세서에서 출력하는 각종 제어 신호를 임시로 저장할 수 있다.

따라서, 비휘발성 메모리는 회로 오동작 검출 시스템(1000)의 동작을 제어하기 위하여 도 3 및 도 4에 도시된 오류 검출 표를 영구적으로 저장되어 있을 수 있다.

구체적으로, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 모니터링 조건을 나타낸 표이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 세부 오류 조건을 나타낸 표이다.

먼저, 도 3은 검출 대상 회로 내부의 개방, 배터리측 단락, 그라운드 측 단락 여부의 고장 정보를 검출하기 위하여 전자 제어 유닛(100) 내 저장된 도표이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 검출 대상 회로(1) 내부의 고장을 검출하기 위하여 전원 전압(V1)을 인가하지 않은 상태에서 검출 회로와 연결시키고, 이 때, 제 1 입력부 및 제 2 입력부에서 측정된 전압을 기초로 검출 대상 회로 내부의 고장이 존재하는지 판단할 수 있다.

예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v]이면, 검출 대상 회로(1) 내부가 끊어진 경우, 즉 개방된 오류로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V1[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 동일하게 V1[v]이면, 검출 대상 회로(1) 내부에서 인가 전압인 배터리측으로 단락이 된 오류로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {R2/(R1+R2)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 동일하게 0[v]이면, 검출 대상 회로(1) 내부에서 그라운드 측으로 단락이 된 오류로 판단할 수 있다.

만일, 도 3에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {(R2+R3+R4)/(R1+R2+R3+R4)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R1+R2+R3+R4)}* V2[v] 이면, 검출 대상 회로(1) 내부에 오류가 없는 상태로 판단할 수 있다.

즉, 도 3에 도시된 바와 같이, 메인 프로세서(200) 는 제 1 입력부 및 제 2 입력부로부터 수신 받은 전압값을 기초로 도 3의 오류조건과 비교하여 검출 대상 회로(1) 내부에 오류가 발생한 경우, 어떤 문제인지를 판단할 수 있다.

다음으로, 도 4는 검출 대상 회로에서 발생할 수 있는 세부 고장 정보를 검출하기 위하여 전자 제어 유닛(100) 내 저장된 도표이다.

검출 대상 회로에서 발생할 수 있는 세부 고장 정보를 검출하기 위하여 입력부(10)는 제 1 입력부 및 제 2 입력부에서 측정된 전압값 이외에 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 입력값으로 포함한다.

예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방된 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 또는 하단 측에서 개방 되거나 정상인 경우와 무관하게 검출 대상 회로(1) 동작 시 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상의 오류가 발생하는 것(로드 개방)으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방된 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측에서 개방되거나 정상이고, 하단 측에서 측정된 전압값을 기초로 그라운드 단락으로 판단되어도, 검출 대상 회로(1) 동작 시 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상의 오류가 발생하는 것(로드 개방)으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R3+R4)}* V1[v] 이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방된 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측에서 개방되거나 정상이고, 하단 측에서 측정된 전압값이 V1으로 측정되면, 검출 대상 회로(1) 동작 시 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상이 발생하고, 하단이 V1인 인가전압에 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {R2/(R1+R2)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v] 이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방된 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측이 그라운드에 단락되고, 하단 측은 정상이거나, 개방되거나, 그라운드 단락되는 것으로 판단되면, 검출 대상 회로(1) 동작 시 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상이 발생하고, 상단 또는 하단에서 그라운드 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

뿐만 아니라, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {R2/(R1+R2)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v] 이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 정상으로 측정되더라도, 상단 측에서 개방 또는 정상으로 측정되고, 하단 측에서 그라운드 단락 되거나, 상단 측에서 그라운드 단락 및 하단 측에서 개방, 정상, 또는 그라운드 단락 되는 것으로 측정되면, 검출 대상 회로(1) 동작 시 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상이 발생하고, 상단 또는 하단에서 그라운드 단락 되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {R2/(R1+R2)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R3+R4)}* V1[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방되거나 정상인 것으로 검출되고, 상단 측에 그라운드 단락되고, 하단 측에 V1 단락되는 것으로 검출된 경우에 전자 제어 유닛(100)은 상단 측 그라운드에 단락되고, 하단 측 V1 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

다음으로, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {(R2+R3+R4)/(R1+R2+R3+R4)}* V2[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R1+R2+R3+R4)}* V2[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 정상인 것으로 검출되고, 상단 및 하단 측의 개방 또는 정상인 것으로 검출된 경우에 전자 제어 유닛(100)은 본 검출 대상 회로(1)가 정상 적으로 동작하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V1[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방된 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측이 V1에 단락되고, 하단 측이 개방 되거나 정상이거나 그라운드 단락일 수 있는 경우로 검출 대상 회로(1) 동작 시 상단 측이 V1에 단락되고 회로의 끊어짐과 같은 개방 현상의 오류가 발생하는 것(로드 개방) 또는 하단 측 그라운드 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V1[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 0[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 정상일 때, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측이 V1에 단락되고, 하단 측이 그라운드 단락일 수 있는 경우로 검출 대상 회로(1) 동작 시 상단 측이 V1에 단락되거나 하단 측 그라운드 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 예를 들어, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 V1[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R3+R4)}* V1[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 개방되거나 정상인 것으로 검출되면, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측이 V1에 단락되고, 하단 측이 개방 되거나 정상이거나 V1에 단락일 수 있는 경우로 검출 대상 회로(1) 동작 시 상단 측이 V1에 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

또한, 마지막으로, 도 4에 도시된 바와 같이, 제 1 입력부에서 측정된 전압값이 {R1/(R1+R2)}* V1[v]이고, 제 2 입력부에서 측정된 전압값이 {R4/(R3+R4)}* V1[v]이고, R_L은 검출 대상 회로(1)의 등가 저항을 의미하는 것으로, 상단 스위치 하부에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V+)과 하단 스위치 상단에 위치하는 접점에서 측정되는 전압값(V-)을 기초로 회로가 정상인 것으로 검출되고, 전자 제어 유닛(100)은 상단 측이 개방 되거나 정상으로 판단되고, 하단 측이 V1에 단락된 경우로 검출 대상 회로(1) 동작 시 하단 측이 V1에 단락되는 오류가 발생하는 것으로 판단할 수 있다.

즉, 도 4와 같이, 검출 대상 회로(1) 가 동작 시 발생할 수 있는 오류를 전자 제어 유닛(100) 내 메모리(300)에 카테고리화 하여 저장해 두어, 제 1입력부, 제 2 입력부 및 V+와 V-에서 획득한 전압값을 기초로 검출 대상 회로(1)의 오동작한 원인을 쉽게 발견할 수 있다.

따라서, 전자 제어 유닛(100)은 획득한 전압 값을 기초로 오동작 된 원인을 사용자가 확인할 수 있도록 표시부(400)에 제어 신호를 송신한다.

이에 표시부(400)는 입력부(10)에서 획득한 전압값 및 검출 대상 회로(1)에서 발생한 오류에 대하여 사용자가 확인할 수 있도록 표시할 수 있다.

이상에서는 본 발명에 따른 회로 오동작 검출 시스템(1000)의 구성에 대하여설명하였다.

이하, 도 5에서는 본 발명에 따른 회로 오동작 검출 시스템(1000)의 제어 방법에 대한 순서도이다.

먼저, 본 발명에 따른 오동작 검출 시스템(1000)은 검출 대상 회로(1)가 동작(Operating) 단계에 있는지 판단한다(S5). 구체적으로, 검출 대상 회로(1) 에 인가되는 전원 전압을 인가하지 않은 채, 검출 대상 회로(1) 내부의 개방 오류, 배터리측 단락 오류, 그라운드 단락 오류 등의 오류를 검출하는 것을 의미한다.

이 때, 오류 조건이 매치(match)되지 않으면(S5의 아니오), 검출 대상 회로(1)의 동작(operating)오류 검출을 위하여 로드(Load) 오류 검출을 하는 것으로, 시작한다(S10).

이를 위하여 오동작 검출 시스템(1000)은 제 1 입력부 및 제 2 입력부에서의 전압값을 검출한다(S20).

이 때, 오류 조건이 매치(match)되는 경우(S30의 예), 오동작 검출 시스템(1000)은 감지된 오류 정보를 표시부(400)로 전송하여 사용자에게 경고할 수 있다(S70).

만일, 본 발명에 따른 오동작 검출 시스템(1000)은 로드(Load) 오류 검출이 되지 않으면, 정상 동작하는 것으로 판단하여 검출 대상 회로를 동작(Operating) 상태에 진입시킨다(S40).

이상에서는 개시된 발명의 일 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 개시된 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며 청구범위에서 청구하는 요지를 벗어남 없이 개시된 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 다양한 변형실시가 가능함을 물론이고 이러한 변형실시들은 개시된 발명으로부터 개별적으로 이해될 수 없다.

1 : 검출 대상 회로 1000: 회로 오동작 검출 시스템

Claims

인가 전압원과 검출 대상 회로의 상단 사이에 직렬로 위치하는 다이오드, 제 1 저항 및 제 2 저항과 상기 검출 대상 회로와 그라운드 사이에 직렬로 위치하는 제 3 저항 및 제 4 저항을 포함하는 검출 회로;
상기 제 1 저항과 상기 제 2 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 1 입력 단자와 상기 제 3 저항과 상기 제 4 저항 사이에서 측정되는 전압을 입력으로 하는 제 2 입력 단자를 포함하는 입력부;
상기 입력부에서 검출된 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부의 고장을 검출하고, 상기 검출 대상 회로 내부의 고장이 없으면, 상기 검출 대상 회로 동작 고장을 검출하는 제어부; 및
상기 검출 대상 회로 내부의 고장 또는 상기 검출 대상 회로 동작 고장이 검출되면 사용자에게 경고하는 표시부;를 포함하는 회로 오동작 검출 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 검출 회로의 제 1 저항 내지 제 4 저항은 상기 검출 대상 회로의 등가 저항값보다 큰 값을 가지는 회로 오동작 검출 시스템.
제 1 항에 있어서,
상기 제어부는 상기 입력부에서 검출된 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부에서 발생할 수 있는 오류 데이터, 상기 검출 대상 회로 상단의 동작 오류 데이터, 상기 검출 대상 회로 하단의 동작 오류 데이터를 포함하는 회로 오동작 검출 시스템.
제 3항에 있어서,
상기 제어부는 상기 오류 데이터와 일치하는 고장이 검출되면 상기 오류 데이터를 사용자에게 표시하도록 제어하는 회로 오동작 검출 시스템.
제 4항에 있어서,
상기 검출 대상 회로 내부에서 발생할 수 있는 오류 데이터는 상기 검출 대상 회로의 개방, 배터리 측 단락, 그라운드 측 단락을 포함하는 회로 오동작 검출 시스템.
인가 전압원과 검출 대상 회로의 상단 사이에 직렬로 위치하는 다이오드, 제 1 저항 및 제 2 저항과 상기 검출 대상 회로와 그라운드 사이에 직렬로 위치하는 제 3 저항 및 제 4 저항을 포함하는 검출 회로에 있어서,
상기 제 1 저항과 상기 제 2 저항 사이에서 제 1 전압을 측정하는 단계;
상기 제 3 저항과 상기 제 4 저항 사이에서 제 2 전압을 측정하는 단계;
상기 측정된 제 1 전압값과 제 2 전압값을 기초로 상기 검출 대상 회로 내부의 고장을 검출하는 단계;
상기 검출 대상 회로 내부의 고장이 없으면, 상기 검출 대상 회로 동작 고장을 검출하는 단계; 및
상기 검출 대상 회로 내부의 고장 또는 상기 검출 대상 회로 동작 고장이 검출되면 사용자에게 경고하는 단계;를 포함하는 회로 오동작 검출 제어 방법.
제 6항에 있어서,
상기 검출 대상 회로 내부의 고장은 상기 검출 대상 회로의 개방, 배터리 측 단락, 그라운드 측 단락되는 경우를 포함하고, 상기 검출 대상 회로 동작 고장은 상기 검출 대상 회로 상단의 동작 오류 및 상기 검출 대상 회로 하단의 동작 오류를 포함하는 회로 오동작 검출 제어 방법.
제 7항에 있어서,
상기 검출 대상 회로의 동작의 오류를 검출하기 위하여 상기 검출 대상 회로의 상단 측 전압값과 하단 측 전압값을 측정하는 단계;를 더 포함하는 회로 오동작 검출 제어 방법.