CN115267493A - 引脚状态检测装置、方法和编程器 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种引脚状态检测装置、方法和编程器。该引脚状态检测装置包括输入输出电路和比较器，其中：输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和芯片的待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；比较器的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，比较器用于根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。采用本装置能够提高引脚检测的安全性。

Description

引脚状态检测装置、方法和编程器

技术领域

本申请涉及电子电路技术领域，尤其是一种引脚状态检测装置、方法和编程器。

背景技术

一般芯片的引脚内部集成有保护二极管电路。其中一个保护二极管的阳极接引脚，阴极接VDD引脚；另一个保护二极管的阴极接该引脚，阳极接VSS引脚。那么当芯片的工作电路处于正常工作状态时，保护二极管处于截止状态，此时不会影响芯片的正常工作。当工作电路出现异常过压并且达到保护二极管击穿电压时，保护二极管就会从高阻态变为低阻态，此时保护二极管导通，为瞬间激增的电流提供一条通路，同时把异常电压钳制在一个安全范围以内，避免引脚的异常电压损坏集成芯片内部电路，从而保护集成芯片。

传统的引脚状态连通性检测方法主要是将待测芯片的VCC引脚与供电电源断开，并且将VCC引脚连接到一设备的检测引脚。将芯片的GND引脚与GND网络断开，并将供电电源串接一个加载电阻后加载于芯片的GND引脚；通过设备检查剩余引脚的高低电平状态实现对二极管的检测。该检测方式存在引脚状态检测不准确的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种引脚状态检测装置、方法和编程器，相较于传统方式安全性高，并且引脚状态检测更加准确。

一种引脚状态检测装置，所述装置包括输入输出电路和比较器；

所述输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和所述芯片的待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；

所述比较器的第一输入端与处于所述阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；所述比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，所述比较器用于根据所述引脚输出信号和所述预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。

一种引脚状态检测方法，应用于芯片的引脚使用状态检测，所述方法包括：

将电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；

接收处于所述阻抗调节模式下所述待测引脚的引脚输出信号；

将所述引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平。

一种编程器，用于实现本申请各实施例中方法的步骤。

上述引脚状态检测装置、方法和编程器，输入输出电路，分别与电源引脚和待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式，通过比较器根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平，检测电路简单，安全性高，可操控性强，配置比较器输出比较电压可以快速检测出芯片引脚是否存在保护二极管以及开路、短路等情况，准确性高。

附图说明

图1为一个实施例中引脚状态检测装置的结构框图；

图2为一个实施例中检测VDD引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图；

图3为一个实施例中检测VSS引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图；

图4为一个实施例中引脚状态检测方法的流程示意图。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变，所述的连接可以是直接连接，也可以是间接连接。

另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

本申请所使用的术语“第一”、“第二”等可在本文中用于描述各种元件，但这些元件不受这些术语限制。这些术语仅用于将第一个元件与另一个元件区分。距离来说，在不脱离本申请的范围的情况下，可以将第一开关管称为第二开关管，且类似地，可将第二开关管称为第一开关管。第一开关管和第二开关管两者都是开关管，但其不是同一开关管。

可以理解，以下实施例中的“连接”，如果被连接的电路、模块、单元等相互之间具有电信号或数据的传递，则应理解为“电连接”、“通信连接”等。

比较器是通过比较两个输入端的电流或电压的大小，在输出端输出不同电压结果的一种电子元件。(输出是高或低)以引脚输出信号的电平大于预设比较信号的电平时比较器输出高电平，引脚输出信号的电平小于预设比较信号的电平时比较器输出低电平为例进行说明。本申请实施例中以正电源引脚为VDD引脚、地端引脚为VSS引脚、待测引脚包括IO1引脚和IO2引脚为例进行说明。可以理解的是，芯片除了IO1引脚之外还有其它引脚。

在一个实施例中，传统的方式芯片引脚耐压值较低，其直接与待测芯片的引脚连接存在损坏芯片的风险；并且通过设备检查剩余引脚的高低电平状态实现对二极管的检测，仅能检测是否存在引脚，存在引脚状态检测不准确的问题，因此提出了本申请各实施例中的技术方案。如图1所示，为一个实施例中引脚状态检测装置的结构框图。图1中包括芯片100、输入输出电路200和比较器300。芯片100包括引脚，引脚包括电源引脚110和待测引脚120。电源引脚110与输入输出电路200连接，待测引脚120与输入输出电路200连接。比较器300的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚120连接，第二输入端用于接收预设比较信号，输出端用于输出检测电平。芯片100、输入输出电路200和比较器300位于编程器中，芯片100放入编程器上的IC座中。

芯片中除了待测引脚，还有其它引脚，且其它引脚分别与各输入输出电路相连接。即一个引脚对应一个输入输出电路。例如，一个芯片有8个引脚，那么这8个引脚每个引脚均对应一个输入输出电路，总共对应8个输入输出电路。并且，同一芯片的引脚所对应的输入输出电路的电路结构可以相同。

一种引脚状态检测装置，装置包括输入输出电路和比较器；

输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和芯片的待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为阻抗调节模式；

比较器的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，比较器用于根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。

其中，芯片包括引脚，引脚包括电源引脚和待测引脚。电源引脚的类型包括正电源引脚和地端引脚。与电源引脚的类型所不同的电源模式是指，当电源引脚的类型包括正电源引脚，则对应的电源模式则为接地模式；当电源引脚的类型包括地端引脚，则对应的电源模式为供电模式。阻抗调节模式是指处于上拉电阻模式或者处于下拉电阻模式。引脚使用状态包括短路状态、开路状态和正常使用状态。第一输入端可以是正向输入端，第二输入端可以是反向输入端。同样地，第一输入端可以是反向输入端，第二输入端可以是正向输入端。本申请各实施例中以第一输入端为正向输入端，第二输入端为反向输入端为例进行说明。

具体地，输入输出电路，分别与电源引脚和待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为阻抗调节模式。将除了该电源引脚和待测引脚之外的引脚配置为输入浮空。比较器的第一输入端与处于阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，比较器用于根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。在芯片中包含保护二极管的情况下，芯片内部形成回路，则可以通过比较器与特定电压比较，得到引脚使用状态。

本实施例中，输入输出电路，分别与电源引脚和待测引脚连接，用于将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式，通过比较器根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平，检测电路简单，安全性高，可操控性强，配置比较器输出比较电压可以快速检测出芯片引脚是否存在保护二极管以及开路、短路等情况，准确性高。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；装置还包括处理器；

比较器用于将引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；第一比较信号和第二比较信号所表征的电压值不同；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定待测引脚处于正常使用状态。

其中，用于表征引脚使用状态的电平包括第一检测电平和第二检测电平。第一检测电平是与第一比较信号进行比较所得到的电平，第二检测电平是与第二比较信号进行比较所得到的电平。第一电平和第二电平不同。如当第一电平为高电平，第二电平则为低电平；当第一电平为低电平，第二电平则为高电平。

具体地，本实施例中以第一电平为低电平，第二电平为高电平进行说明。由于待测引脚存在三种引脚使用状态，即开路状态、短路状态和正常使用状态。并且三种引脚使用状态使得待测引脚所输出的电压值均不相同。通过分析发现，正常使用状态的待测引脚所输出的电压值处于开路状态的电压值和正常使用状态的电压值之间，因此可以通过两个比较信号，即第一比较信号和第二比较信号进行判断，确定引脚对应的引脚使用状态。

本实施例中，第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值，第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值。在第一比较电压值大于第二比较电压值的情况下，当第一检测电平为第二电平时，确定待测引脚处于开路状态；当第二检测电平为第一电平时，确定待测引脚处于短路状态。

本实施例中，比较器用于将引脚输出信号分别与第一比较信号和第二比较信号进行比较，以获得检测电平，从而能够确定待测引脚对应的保护二极管正常，即待测引脚处于正常工作状态，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，电源引脚包括正电源引脚。输入输出电路，用于将正电源引脚配置为接地模式，以及将待测引脚配置为上拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为保护二极管压降至上拉模式的电源电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值。

具体地，上拉模式可以是弱上拉模式。即上拉电阻的阻值大于预设阻值。上拉模式即为待测引脚接上拉电阻的一端，上拉电阻的另一端接电源。将正电源引脚配置为接地模式，将待测引脚配置为上拉模式，则可以在芯片中形成回路，将待测引脚的输出端和预设比较信号接入比较器，通过比较器的输出即可得知该待测引脚的引脚使用状态。具体可以得知正电源引脚和待测引脚之间的保护二极管(即上管)是否存在以及是否存在短路、开路等情况。

如图2所示，为一个实施例中检测VDD引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图。VDD引脚即正电源引脚。图中IO1引脚和IO2引脚均为上拉模式，正电源引脚VDD接地。在检测VDD引脚和待测引脚之间保护二极管的情况下，VSS引脚不操作，因此下管不接入电路中，下管对上管的检测没有影响。在需要检测VDD引脚和待测引脚之间的保护二极管(简称上管)时，以待测引脚为IO2引脚、第一电平为高电平为例，当IO2引脚存在上管时，VIO2＝保护二极管压降。若IO2和VDD之间没有二极管或者IO2和VDD之间开路，那么VIO2＝VDD。若IO2和VDD之间短路，那么VIO2＝GND＝0。其中，VDD＞保护二极管压降＞0。由于有三种情况，那么比较信号可以设置两个，即第一比较信号和第二比较信号，二者表示不同的电压值。第一比较信号的第一比较电压值为A1，第二比较信号的第二比较电压值A2。A1是在保护二极管压降和VDD之间的电压值，A2是在0和保护二极管压降之间的电压值，A1＞A2。那么，将引脚输出信号与第一比较信号比较，当第一检测电平为高电平时，即引脚输出信号的电压值大于第一比较电压值，说明此时IO2和VDD之间没有二极管或者IO2和VDD之间开路。当第一检测电平为低电平时，即引脚输出信号的电压值小于第一比较信号的电压值，则需要将引脚输出信号与第二比较信号进行比较。当第二检测电平为高电平时，即引脚输出信号的电压值大于第二比较信号的电压值，说明IO2引脚存在上管。当第二检测电平低电平时，即引脚输出信号的电压值小于第二比较信号的电压值，说明IO2和VDD之间短路。

本申请实施例中的上拉电阻的阻值约为28kΩ(千欧姆)，范围在27kΩ～30kΩ之间，可以将加载到保护二极管上的正向电压限制在100uA～150uA内。本申请实施例中的上拉阻值，相比于传统的通过2kΩ～3.3kΩ的电阻使得保护二极管的正向电流可能大于1mA(毫安)，电流过大导致损坏芯片引脚的方式，能够避免损坏芯片引脚，使得电路更加安全。

本实施例中，通过将正电源引脚配置为接地模式，以及将待测引脚配置为上拉模式，第一比较电压值和第二比较电压值依据能够准确检测正电源引脚和待测引脚之间是否存在保护二极管以及是否短路或者开路，并且通过比较器的比较，更加直观地呈现检测结果。

在一个实施例中，在根据第一检测电平或第二检测电平确定待测引脚处于短路状态的情况下，输入输出电路用于将地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的待测引脚配置为下拉模式。

具体地，根据第一检测电平或者第二检测电平可以确定待测引脚是否处于短路状态。在根据第一检测电平或第二检测电平确定待测引脚的上管处于短路状态的情况下，说明该待测引脚只会永远输出高电平或低电平，该待测引脚完全损坏，因此，不需要再检测该待测引脚。输出输出电路将地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为下拉模式，从而检测出待测引脚是否存在下管或者短路等引脚使用状态。在一个实施例中，电源引脚包括地端引脚。输入输出电路，用于将地端引脚配置为供电模式，以及将待测引脚配置为下拉模式。

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为目标差值和供电模式所表征的供电电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值；目标差值为供电电压与保护二极管压降之间的差值。

具体地，下拉模式可以是弱下拉模式。即下拉电阻的阻值大于预设阻值。上拉模式即为待测引脚接下拉电阻的一端，上拉电阻的另一端接地。将地端引脚配置为供电模式，以及将待测引脚配置为下拉模式，则可以在芯片中形成回路，将待测引脚的输出端和预设比较信号接入比较器，通过比较器的输出即可得知该待测引脚的引脚使用状态。具体可以得知地端引脚和待测引脚之间的保护二极管是否存在以及是否存在短路等情况。

如图3所示，为一个实施例中检测VSS引脚和待测引脚之间的保护二极管的电路示意图。VSS引脚即地端引脚。以第一比较电压值取值为目标差值和供电电压之间的值，第二比较电压值取值为0和目标差值之间的值为例进行说明。图3中IO1引脚和IO2引脚均为下拉模式，地端引脚VSS接地。在检测VSS引脚和待测引脚之间的保护二极管的情况下，VDD引脚不操作，因此上管不接入电路中，上管对下管的检测没有影响。在需要检测VSS引脚和待测引脚之间的保护二极管(简称下管)时，以待测引脚为IO2引脚为例，当IO2引脚存在下管时，VIO2＝VCC-保护二极管压降。若没有下管或者下管开路，那么VIO2＝GND＝0。若下管短路，那么VIO2＝VCC。其中，VCC＞VCC-保护二极管压降＞0。由于有三种情况，那么比较信号可以设置两个，即第一比较信号和第二比较信号，二者表示不同的电压值。第一比较信号的第一比较电压值为A3，第二比较信号的第一比较电压值A4。A3是在VCC和VCC-保护二极管压降之间的电压值，A4是在0和VCC-保护二极管压降之间的电压值，A3＞A4。可以理解的是，A1的值可以与A3的值相同，A2的值可以和A4的值相同。那么，将引脚输出信号与第一比较信号比较，当第一检测电平为高电平时，即引脚输出信号的电压值大于第一比较信号的电压值，说明IO2和VDD之间短路，即二极管短路。当第一检测电平为低电平时，即引脚输出信号的电压值小于第一比较信号的电压值，则需要将引脚输出信号与第二比较信号进行比较。当第二检测电平为高电平时，即引脚输出信号的电压值大于第二比较信号的电压值，说明IO2引脚存在下管。当第二检测电平为低电平时，即引脚输出信号的电压值小于第二比较信号的电压值，说明IO2和VDD之间没有下管或者下管开路。

本实施例中，通过将地端引脚配置为供电模式，以及将待测引脚配置为下拉模式，能够准确检测地端电源引脚和待测引脚之间是否存在保护二极管，以及是否开路或短路，并且通过比较器的比较，更加直观地呈现检测结果。

在一个实施例中，在根据第一检测电平或第二检测电平确定待测引脚处于短路状态的情况下，输入输出电路用于将正电源引脚配置为接地模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的待测引脚配置为上拉模式。

具体地，根据第一检测电平或者第二检测电平可以确定待测引脚的下管是否处于短路状态。在根据第一检测电平或第二检测电平确定待测引脚处于短路状态的情况下，说明该待测引脚只会永远输出高电平或者低电平，该待测引脚完全损坏，因此，不需要再检测该待测引脚。输出输出电路将地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为上拉模式，从而检测出待测引脚是否存在上管或者短路等引脚使用状态。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；装置还包括处理器；

输入输出电路还用于将从芯片各引脚中选中的第一引脚配置为接地模式；以及将除第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式；

比较器还用于将处于上拉模式的第二引脚的引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定第一引脚为正电源引脚；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为保护二极管压降至上拉模式的电源电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值。

具体地，与检测引脚使用状态相似，预设比较信号可以包含两种信号，第一比较信号和第二比较信号。第一比较信号和第二比较信号，二者表示不同的电压值。第一比较信号的电压值为A1，第二比较信号的电压值A2。A1是在保护二极管压降和VDD之间的电压值，A2是在0和保护二极管压降之间的电压值，A1＞A2。比较器用于将引脚输出电压与第一比较信号比较，当比较器输出的第一检测电平为第一电平时，将引脚输出电压和第二比较信号进行比较，当比较器输出的第二检测电平为第二电平时，确定第一引脚为正电源引脚。即，当A1＞引脚输出电压＞A2时，确定第一引脚为正电源引脚。本实施例中以第一电平为低电平，第二电平为高电平进行说明。

芯片中有两类引脚，一类是电源引脚，一类是待测引脚，即IO引脚。电源引脚分为正电源引脚和地端引脚。在本实施例中，在不知道各引脚的引脚类型的情况下，假设了第一引脚为正确的VDD引脚，第二引脚为任意引脚。但是实际上，在不知情的情况下，第一引脚和第二引脚可能有以下几种情况：

①第一引脚和第二引脚均为IO引脚。第一引脚和第二引脚之间开路，引脚输出电压为VDD，VDD大于A1，因此第一引脚不是VDD引脚。

②第一引脚为VDD引脚，第二引脚为IO引脚。第一引脚和第二引脚形成回路，引脚输出电压为保护二极管压降，保护二极管压降小于A1且大于A2，因此第一引脚是VDD引脚。

③第一引脚为IO引脚，第二引脚为VDD引脚。第一引脚和第二引脚之间因保护二极管截止而开路，引脚输出电压为VDD，VDD大于A1，因此第一引脚不是VDD引脚。

④第一引脚为VDD引脚，第二引脚为VSS引脚。VDD引脚和VSS引脚之间因有一个固定的保护二极管，其阳极接VDD引脚，阴极接VSS引脚，那么此时引脚输出电压为保护二极管压降，保护二极管压降小于A1且大于A2，因此第一引脚是VDD引脚。

⑤第一引脚为VSS引脚，第二引脚为VDD引脚。VDD引脚和VSS引脚之间因有一个固定的保护二极管，其阳极接VDD引脚，阴极接VSS引脚，那么此时引脚输出电压为VDD，VDD大于A1，因此第一引脚不是VDD引脚。

⑥第一引脚为VSS引脚，第二引脚为IO引脚，二者不导通，那么此时引脚输出电压为VDD，VDD大于A1，因此第一引脚不是VDD引脚。

上述情况均可通过该方式检测出正确的正电源引脚。即使有些引脚的保护二极管可能存在短路或者开路等情况，依旧可以依照以上方式检测出正确的正电源引脚。

本实施例中，由于有些芯片是未知芯片，或者无法已知正电源引脚，因此通过将选中的第一引脚视为正电源引脚，使其接地，再将除该第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式，若第一引脚确实为正电源引脚，则会形成通路，从而判断出正电源引脚，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，处理器还用于在遍历完芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚；

输入输出电路，用于将两个待定的正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚；

或者输入输出电路，用于将两个待定的正电源引脚中的一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚。

其中，结合上一个实施例，第⑦种情况是第一引脚为IO引脚，第二引脚为VSS引脚，当存在下管时，引脚输出电压为保护二极管压降，保护二极管压降小于A1且大于A2，因此会将该VSS引脚认为是VDD引脚，从而在遍历完后得到②和⑦的VDD引脚和VSS引脚。

具体地，在遍历完芯片的引脚之后，处理器获得两个待定的正电源引脚。这两个分别为正电源引脚和地端引脚。VDD引脚和第二VSS引脚之间因保护二极管截止或者因缺少保护二极管而开路因有一个固定的保护二极管，其阳极接VDD引脚，阴极接VSS引脚。将两个正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，那么如果形成回路，那么配置为供电模式的引脚为地端引脚，配置为下拉模式的引脚为正电源引脚。如果没有形成回路，那么配置为供电模式的引脚为正电源引脚，配置为下拉模式的引脚为地端引脚。

或者，将两个正电源引脚中的一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式。那么如果形成回路，那么配置为上拉模式的引脚为地端引脚，配置为接地模式的引脚为正电源引脚。如果没有形成回路，那么配置为上拉模式的引脚为正电源引脚，配置为接地模式的引脚为地端引脚。

本实施例中，基于对电路的分析，在遍历完芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚，通过将其中一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式；或者将其中一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，从而确定正电源引脚和地端引脚，能够简便快速确定正电源引脚和地端引脚。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；装置还包括处理器；

输入输出电路用于将从芯片各引脚中选中的第三引脚配置为供电模式；以及将除第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式；

比较器还用于将处于下拉模式的第四引脚所输出的引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定第三引脚为地端引脚；

第一比较信号所表征的第一比较电压值和第二比较信号所表征的第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为目标差值和供电模式所表征的供电电压之间的值；目标差值为供电电压与保护二极管压降之间的差值。

具体地，与检测引脚使用状态相似，比较信号可以设置两个，即第一比较信号和第二比较信号，二者表示不同的电压值。第一比较信号的第一比较电压值为A3，第二比较信号的第一比较电压值A4。A3是在VCC和VCC-保护二极管压降之间的电压值，A4是在0和VCC-保护二极管压降之间的电压值，A3＞A4。那么，当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，当比较器输出的第二检测电平为第二电平时，确定第三引脚为地端引脚。本实施例中以第一电平为低电平，第二电平为高电平进行说明。

芯片中有两类引脚，一类是电源引脚，一类是待测引脚，即IO引脚。电源引脚分为正电源引脚和地端引脚。在本实施例中，在不知道各引脚的引脚类型的情况下，假设了第三引脚为正确的VDD引脚，第四引脚为任意引脚，第三引脚和第四引脚可能有以下几种情况：

①第三引脚和第四引脚均为IO引脚。第三引脚和第四引脚之间开路，引脚输出电压为0，0小于A4，因此第三引脚不是VSS引脚。

②第三引脚为VSS引脚，第四引脚为IO引脚。第三引脚和第四引脚形成回路，引脚输出电压为VCC-保护二极管压降，VCC-保护二极管压降小于A3且大于A4，因此第三引脚是VSS引脚。

③第三引脚为IO引脚，第四引脚为VSS引脚。第三引脚和第四引脚之间因保护二极管截止而开路，引脚输出电压为0，0小于A4，因此第三引脚不是VSS引脚。

④第三引脚为VSS引脚，第四引脚为VDD引脚。VDD引脚和VSS引脚之间因有一个固定的保护二极管，其阳极接VDD引脚，阴极接VSS引脚，那么此时引脚输出电压为VCC-保护二极管压降，VCC-保护二极管压降小于A3且大于A4，因此第三引脚是VSS引脚。

⑤第三引脚为VDD引脚，第四引脚为VSS引脚。VDD引脚和VSS引脚之间因有一个固定的保护二极管，其阳极接VDD引脚，阴极接VSS引脚，那么此时引脚输出电压为0，0小于A4，，因此第三引脚不是VSS引脚。

⑥第三引脚为VDD引脚，第四引脚为IO引脚，二者因保护二极管截止不导通，那么此时引脚输出电压为0，0小于A4，因此第三引脚不是VSS引脚。

上述情况均可通过该方式检测出正确的地端引脚。上述情况均可通过该方式检测出正确的地端引脚。

本实施例中，由于有些芯片是未知芯片，或者无法已知地端引脚，因此通过将选中的第三引脚视为地端引脚，使其接地，再将除该第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式，若第三引脚确实为地端引脚，则会形成通路，从而判断出地端引脚，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，输入输出电路用于将从除正电源引脚之外的引脚中选取的第三引脚配置为供电模式，以及将除正电源引脚和第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式，即在已知正电源引脚的情况下，不需要再重新判断，简化检测过程，提高检测效率。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；装置还包括处理器；

输入输出电路还用于将从芯片各引脚中选中的第一引脚配置为接地模式；以及将除第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式；

比较器还用于将处于上拉模式的第二引脚的引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定第一引脚为正电源引脚；

当第二检测电平为第二电平时，确定第二引脚为正电源引脚；第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为保护二极管压降至上拉模式的电源电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值；

处理器还用于在遍历完芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚；

输入输出电路，用于将两个待定的正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚；

或者输入输出电路，用于将两个待定的正电源引脚中的一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚。

在一个实施例中，如图4所示，为一个实施例中引脚状态检测方法的流程示意图，应用于芯片的引脚使用状态检测，该方法包括：

步骤402，将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；

步骤404，接收处于阻抗调节模式下待测引脚的引脚输出信号；

步骤406，将引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平。

具体地，上述步骤可以通过编程器或者计算机设备如电脑、手机等连接编程器后实现。

本实施例中，芯片包括引脚，引脚包括电源引脚和待测引脚，将电源引脚配置为与电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式，根据引脚输出信号和预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平，检测逻辑简单，安全性高，可操控性强，通过比较电压可以快速检测出芯片引脚是否存在保护二极管以及开路、短路等情况，准确性高。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；

将引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平，包括：

将引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定待测引脚处于正常使用状态。

本实施例中，将引脚输出信号分别与第一比较信号和第二比较信号进行比较，以获得检测电平，从而能够确定待测引脚对应的保护二极管正常，即待测引脚处于正常工作状态，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，电源引脚包括正电源引脚；将电源引脚配置为与电源引脚电源不同的电源模式，以及将待测引脚配置为阻抗调节模式，包括：

将正电源引脚配置为接地模式，以及将待测引脚配置为上拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为保护二极管压降至上拉模式的电源电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值。

本实施例中，通过将正电源引脚配置为接地模式，以及将待测引脚配置为上拉模式，第一比较电压值和第二比较电压值依据能够准确检测正电源引脚和待测引脚之间是否存在保护二极管以及是否短路或者开路，并且通过比较，更加直观地呈现检测结果。

在一个实施例中，该引脚状态检测方法还包括：在根据第一检测电平或第二检测电平确定待测引脚处于短路状态的情况下，将地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为下拉模式。

本实施例中，通过将正电源引脚配置为接地模式，以及将待测引脚配置为上拉模式，第一比较电压值和第二比较电压值能够准确检测正电源引脚和待测引脚之间是否存在保护二极管以及是否短路或者开路，并且通过比较器的比较，更加直观地呈现检测结果。

在一个实施例中，电源引脚包括地端引脚；将电源引脚配置为与电源引脚电源不同的电源模式，以及将待测引脚配置为阻抗调节模式，包括：

将地端引脚配置为供电模式，将待测引脚以及正电源引脚配置为下拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为目标差值和供电模式所表征的供电电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值；目标差值为供电电压与保护二极管压降之间的差值。

本实施例中，通过将地端引脚配置为供电模式，以及将待测引脚配置为下拉模式，能够准确检测地端电源引脚和待测引脚之间是否存在保护二极管，以及是否开路或短路，并且通过比较器的比较，更加直观地呈现检测结果。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；该引脚状态检测方法还包括：

将从芯片各引脚中选中的第一引脚配置为接地模式；以及将除第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式；

将处于上拉模式的第二引脚的引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

当第二检测电平为第二电平时，确定第一引脚为正电源引脚；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为保护二极管压降至上拉模式的电源电压之间的值；第一比较电压值是第一比较信号所表征的电压值；第二比较电压值是第二比较信号所表征的电压值。

本实施例中，由于有些芯片是未知芯片，或者无法已知正电源引脚，因此通过将选中的第一引脚视为正电源引脚，使其接地，再将除该第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式，若第一引脚确实为正电源引脚，则会形成通路，从而判断出正电源引脚，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，该引脚状态检测方法还包括：在遍历完芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚；

将两个待定的正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚；

或者输入输出电路，用于将两个待定的正电源引脚中的一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，以从两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚。

本实施例中，基于对电路的分析，在遍历完芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚，通过将其中一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式；或者将其中一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，从而确定正电源引脚和地端引脚，能够简便快速确定正电源引脚和地端引脚。

在一个实施例中，预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；该引脚状态检测方法还包括：

将从芯片各引脚中选中的第三引脚配置为供电模式；以及将除第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式；

将处于下拉模式的第四引脚所输出的引脚输出信号与第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当第一检测电平为第一电平时，将引脚输出信号与第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

处理器用于当第二检测电平为第二电平时，确定第三引脚为地端引脚；

第一比较信号所表征的第一比较电压值和第二比较信号所表征的第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为目标差值和供电模式所表征的供电电压之间的值；目标差值为供电电压与保护二极管压降之间的差值。

本实施例中，由于有些芯片是未知芯片，或者无法已知地端引脚，因此通过将选中的第三引脚视为地端引脚，使其接地，再将除该第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式，若第三引脚确实为地端引脚，则会形成通路，从而判断出地端引脚，提高引脚检测的准确性。

在一个实施例中，编程器与芯片引脚使用状态测试，本质上是编程器是否能够检测到芯片引脚的保护二极管(对于没有连接到芯片内部晶圆的引脚不做检测或当开路处理)，如果能检测到芯片引脚上的二极管，则说明编程器与芯片引脚正常连接。以正电源引脚为VDD引脚，地端引脚为VSS引脚为例进行说明。编程器与集成芯片引脚使用状态的测试方法步骤如下：

S0：将待测芯片放入编程器的IC座中。

S1：确定待测芯片的VDD引脚。

S11：选择待测芯片的任意一个引脚，假设其就是VDD引脚，并通过编程器使其接地。

S12：选择除了S11已选取的第一引脚之外的第二引脚，并对其对应的IC座引脚设置成弱上拉模式，待测芯片配置为输入浮空，同时使编程器向比较器输出一个2.5V～3V的比较电压。(保护二极管压降＜2.5V～3V＜VDD)读取比较器输出的电平状态为高电平，则可认为是开路，如果读取比较器输出的电平状态为低，即可认为引脚已经连接，此时可能是短路也可能两个引脚之间有保护二极管。编程器向比较器反向输入端输出0.3V～0.7V(0＜0.3V～0.7V＜保护二极管压降)的比较电压，此时读取比较器输出的电平状态为低，则为短路状态；当比较器输出的电平状态为高时，则第一引脚为VDD引脚。

S13：选择其中一个剩余的引脚，重复S11-S12直至检测出芯片真实的VDD引脚。

S2：确定待测芯片的VSS引脚。

S21：选择待测芯片中除VDD引脚之外的芯片引脚，即第三引脚，假设其为VSS引脚，并通过编程器使其接VCC。

S22：选择除S21选取的引脚之外芯片引脚，即第四引脚，并将其对应的IC座设置为弱下拉模式，剩余引脚配置为输入浮空，同时使编程器向比较器反向输入端输出一个0.3V～0.7V(低于VCC-保护二极管压降)的比较电压，读取到比较器输出的电平状态为低则可以认为是开路。如果读取比较器输出的电平状态为高即可认为引脚已经连接，此时可能是短路也可能两个引脚之间有保护二极管。编程器向比较器反向输入端输出一个2.5V～3V(高于VCC-保护二极管压降且低于VDD)的比较电压，此时读取比较器输出的电平状态为高即是短路状态，低则为VSS脚。

S3：检测集成芯片VDD与引脚之间的保护二极管。

S31：将S1确定的VDD引脚配置为GND模式。

S32：编程器IC座待测引脚的IO电路配置为弱上拉模式，剩余引脚配置为输入浮空，同时使编程器向比较器的反向输入端输出一个2.5V～3V的比较电压。(保护二极管压降＜2.5V～3V＜VDD)读取比较器输出的电平状态为高电平，则可认为是开路，如果读取比较器输出的电平状态为低，即可认为引脚已经连接，此时可能是短路也可能两个引脚之间有保护二极管。编程器向比较器反向输入端输出0.3V～0.7V(0＜0.3V～0.7V＜保护二极管压降)的比较电压，此时读取比较器输出的电平状态为低，则为短路状态；当比较器输出的电平状态为高时，则VDD与待测引脚之间存在保护二极管。

S33：剩余IO引脚依次通过S31～S32步骤检测与VDD引脚之间的保护二极管。

S4：检测集成芯片VSS与IO引脚之间的保护二极管。

S41：将S1确定的VSS引脚配置为VCC模式。

S42：编程器IC座待测引脚的IO电路设置为弱下拉模式，剩余引脚配置为输入浮空，同时使编程器向比较器反向输出端输出一个0.3V～0.7V(低于VCC-保护二极管压降)的比较电压，读取到比较器输出的电平状态为低则可以认为是开路。如果读取比较器输出的电平状态为高即可认为引脚已经连接，此时可能是短路也可能两个引脚之间有保护二极管。编程器向比较器反向输入端输出一个2.5V～3V(高于VCC-保护二极管压降且低于VDD)的比较电压，此时读取比较器输出的电平状态为高即是短路状态，低则为VSS脚与待测引脚之间存在保护二极管。

S43：编程器IC座剩余IO引脚一次通过S31～S32步骤检测与芯片VSS引脚之间的保护二极管。

S5：有的芯片引脚只有一个保护二极管，为了增加通用性及准确性，经过S3和S4两个步骤的操作，只要检测到一个保护二极管即可认为编程器IC座引脚与集成芯片引脚相连通。

S6：需要检测的编程器IC座引脚因此经过S1、S2、S3、S4和S5的操作后，即可判断出编程器与芯片引脚的引脚使用状态是否良好，也可以指示出编程器与集成芯片没有连接好的引脚或有短路的引脚。

本申请实施例可将电流控制在合理的范围之内，检测电路简单，可操控性强，上下拉电阻代替恒流源切换，缩小了电路体积且成本低；配合比较器输出检测电平可以快速检测出芯片引脚是否存在保护二极管以及开路、短路等情况，准确性高。

应该理解的是，虽然上述S1至S6的流程图中各个步骤依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头或者数字指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，上述S1至S6中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

关于引脚状态检测方法的具体限定可以参见上文中对于引脚状态检测装置的限定，在此不再赘述。上述引脚状态检测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，计算机设备可用于实现上述实施例中的步骤。该计算机设备可以是终端设备该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种引脚状态检测方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，上述指的仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种编程器，该编程器用于实现上述各方法实施例的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述各方法实施例的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述各方法实施例的步骤。

在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。计算机设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得计算机设备执行上述各方法实施例中的步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，该计算机程序可存储于一非易失性计算机可读存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例中流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用地对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory,ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory,SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory,DRAM)等。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (14)

1.一种引脚状态检测装置，其特征在于，所述装置包括输入输出电路和比较器；

所述输入输出电路，分别与芯片的电源引脚和所述芯片的待测引脚连接，用于将所述电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；

所述比较器的第一输入端与处于所述阻抗调节模式的待测引脚连接，用于接收引脚输出信号；所述比较器的第二输入端用于接收预设比较信号，所述比较器用于根据所述引脚输出信号和所述预设比较信号确定用于表征引脚使用状态的检测电平。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；所述第一比较信号和所述第二比较信号所表征的电压值不同；所述装置还包括处理器；

所述比较器用于将所述引脚输出信号与所述第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述待测引脚处于正常使用状态。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括正电源引脚；

所述输入输出电路，用于将所述正电源引脚配置为接地模式，以及将所述待测引脚配置为上拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为所述保护二极管压降至所述上拉模式的电源电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值。

4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；在根据所述第一检测电平或所述第二检测电平确定所述待测引脚处于短路状态的情况下，所述输入输出电路用于将所述地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为下拉模式。

5.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；

所述输入输出电路，用于将所述地端引脚配置为供电模式，将所述待测引脚以及所述正电源引脚配置为下拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为所述目标差值和所述供电模式所表征的供电电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值；所述目标差值为所述供电电压与保护二极管压降之间的差值。

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；所述装置还包括处理器；

所述输入输出电路还用于将从所述芯片各引脚中选中的第一引脚配置为接地模式；以及将除所述第一引脚之外的第二引脚配置为上拉模式；

所述比较器还用于将处于上拉模式的所述第二引脚的引脚输出信号与所述第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述第一引脚为正电源引脚；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为所述保护二极管压降至所述上拉模式的电源电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述处理器还用于在遍历完所述芯片的引脚之后，获得两个待定的正电源引脚；

所述输入输出电路，用于将两个所述待定的正电源引脚中的一个配置为供电模式，另一个配置为下拉模式，以从所述两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚；

或者所述输入输出电路，用于将两个所述待定的正电源引脚中的一个配置为上拉模式，另一个配置为接地模式，以从所述两个待定的正电源引脚中确定正电源引脚和地端引脚。

8.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；所述装置还包括处理器；

所述输入输出电路用于将从所述芯片各引脚中选中的第三引脚配置为供电模式；以及将除所述第三引脚之外的第四引脚配置为下拉模式；

所述比较器还用于将处于下拉模式的所述第四引脚所输出的引脚输出信号与所述第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述第三引脚为地端引脚；

所述第一比较信号所表征的第一比较电压值和所述第二比较信号所表征的第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为所述目标差值和所述供电模式所表征的供电电压之间的值；所述目标差值为所述供电电压与保护二极管压降之间的差值。

9.一种引脚状态检测方法，其特征在于，应用于芯片的引脚使用状态检测，所述方法包括：

将电源引脚配置为与所述电源引脚的类型所不同的电源模式，以及将待测引脚配置为对应的阻抗调节模式；

接收处于所述阻抗调节模式下所述待测引脚的引脚输出信号；

将所述引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述预设比较信号包括第一比较信号和第二比较信号；

所述将所述引脚输出信号与预设比较信号进行比较，获得用于表征引脚使用状态的检测电平，包括：

将所述引脚输出信号与所述第一比较信号进行比较，获得第一检测电平；

当所述第一检测电平为第一电平时，将所述引脚输出信号与所述第二比较信号进行比较，获得第二检测电平；

所述处理器用于当所述第二检测电平为第二电平时，确定所述待测引脚处于正常使用状态。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述电源引脚包括正电源引脚；

所述将所述电源引脚配置为与所述电源引脚电源不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为阻抗调节模式，包括：

将所述正电源引脚配置为接地模式，以及将所述待测引脚配置为上拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0至保护二极管压降之间的值，另一个电压值取值为所述保护二极管压降至所述上拉模式的电源电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；所述方法还包括：

在根据所述第一检测电平或所述第二检测电平确定待测引脚处于短路状态的情况下，将所述地端引脚配置为供电模式，将除了处于短路状态的待测引脚之外的其它待测引脚配置为下拉模式。

13.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述电源引脚包括地端引脚；

所述将所述电源引脚配置为与所述电源引脚电源不同的电源模式，以及将所述待测引脚配置为阻抗调节模式，包括：

将所述地端引脚配置为供电模式，将所述待测引脚以及所述正电源引脚配置为下拉模式；

第一比较电压值和第二比较电压值中的一个电压值取值为0和目标差值之间的值，另一个电压值取值为所述目标差值和所述供电模式所表征的供电电压之间的值；所述第一比较电压值是所述第一比较信号所表征的电压值；所述第二比较电压值是所述第二比较信号所表征的电压值；所述目标差值为所述供电电压与保护二极管压降之间的差值。

14.一种编程器，其特征在于，所述编程器用于实现权利要求9至13任一项所述的引脚状态检测方法的步骤。

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