KR101732347B1 - 오스테나이트계 강 개질기 튜브 등의 건강 및 잔여 수명을 판정하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

오스테나이트계 강 개질기 튜브 등의 건강 및 잔여 수명을 판정하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

개질기에 사용된 강 튜브 및 다른 고온 분야에 사용된 다른 튜브와 파이프의 건강을 검사하기 위한 검사 방법 및 장치. 본 방법은, 상이한 주파수 F1 및 F2 를 각각 갖는 2 개의 사인파 전자기 신호들을 개질기 튜브에 송신하는 단계, 응답 신호를 수신하는 단계, 및 수신된 응답 신호의 상호변조 주파수들을 분석하여 강 개질기 튜브의 상태를 판정하는 단계를 포함한다.

Description

오스테나이트계 강 개질기 튜브 등의 건강 및 잔여 수명을 판정하기 위한 방법 및 장치{METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE HEALTH AND REMAINING SERVICE LIFE OF AUSTENITIC STEEL REFORMER TUBES AND THE LIKE}
관련 출원의 상호참조
본 출원은 35 U.S.C. 119(e) 하에서 2012년 12월 10일에 출원된 미국 가출원 61/735,505 에 기초하여 우선권을 주장한다.
본 발명은 일반적으로 비파괴 검사 방법 및 그를 위한 장치에 관한 것이다. 더 구체적으로는, 오스테나이트계 강 개질기 (reformer) 튜브 등을 위한 비파괴 검사 (NDT) 방법 및 장치에 관한 것이다. 가장 구체적으로는, 합금의 미세조직의 해로운 변화를 어떠한 다른 이용가능한 NDT 방법으로 검출할 수 있기 전에 조기 검출하여, 사용 중인 (in-service) 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 건강 (health) 과 잔여 수명을 추정하기 위한 전자기 방법 및 장치에 관한 것이다.
오스테나이트계 강 개질기 튜브는 많은 화학 프로세스에서 사용된다. 예로는 암모니아, 메탄올, 수소, 질산 및 황산을 생산하는데 사용되거나 석유의 크래킹에 사용되는 튜브가 있다. 또한 촉매 튜브라고도 불리는 개질기 튜브는 자본과 유지보수 쌍방에서 그러한 플랜트의 가장 높은 비용 성분들 중 하나이다. 전형적인 설비는 수백 개의 수직 튜브로 구성된다. 이 튜브는 상당한 교체 비용이 들고, 예기치 않은 오류가 발생하는 경우 플랜트 비가동률의 주된 원인이 될 수 있다.
그러한 튜브는 일반적으로 높은 온도, 온도 구배, 압력 변화 및 부식성 물질과의 접촉을 겪는다. 그러한 상황 하에서, 크리프, 금속 더스팅, 및 표면 불규칙이 종종 발생한다. 크리프는 점차 발달하는 확산 관련 프로세스이다. 징후는 개질기 조작자가 인식하기 어렵다. 크리프는, 합쳐져서 결국 크리프 피셔 (creep fissure) (크랙) 를 형성하는 미세 보이드를 형성한다. 처리없이 방치하면, 크리프는 크랙으로 발전하고, 크랙이 전파되어 사용 중에 튜브의 치명적인 고장으로 이어질 것이다.
플랜트 조작자는 튜브 수명과 튜브 고장의 위험에 대해 생산 요구를 균형잡아야 한다. 플랜트 작동 중에, 촉매로 충전된 튜브는 개질 반응이 일어날 수 있도록 외부적으로 가열된다. 플랜트 작동의 주된 걱정 중 하나는, 개질기 튜브가 높게 상승된 온도 (1150-1200℃ 까지) 에서 작동하여서, "크리프" 라고 위에서 언급된 고장 메커니즘에 민감하다는 것이다. 이러한 조건은, 내부 압력, 열적 구배 및 기계적 하중 사이클에 의해 부여되는 상승된 온도와 스트레스로 인해 존재한다. 조기 단계에서 그러한 손상을 식별하고 찾을 수 있는 것이, 플랜트 작동을 최적화하고 튜브의 유용한 수명을 연장하는데 있어 필수적이다.
상호변조 (intermodulation) 측정에 기초하는 공지의 비파괴 검사 (NDT) 방법은 비전도성 기판에 포함된 비선형 전도성 재료를 찾는데 사용된다. 도전성 기판에 포함된 비선형 자기 재료를 다루기 위해 다른 방법이 필요하다. 오스테나이트계 강을 위한 기존의 NDT 방법은 레이저 형상 측정, 표면 크랙을 위한 와전류 (eddy current) 시험, 및 표면아래 (subsurface) 균열을 위한 초음파 검사에 근거한다. 이러한 방법은 유용하지만, 재료 수명에서 조기 변화에 대해서는 거의 또는 전혀 알 수 없다. 그리고, 기존의 방법은 재료의 초기 조건을 알 필요가 있고, 표면 조건의 변화로 인해 오차가 발생한다.
개질기 튜브에 현재 적용되는 통상적인 NDT 검사 기술은 내부 크랙의 형태의 크리프 손상을 찾도록 조정되어 있다. 그러나, 더 큰 튜브 직경 및 턴어라운드 사이의 더 긴 간격으로의 추세로, 그러한 결함의 검출은 튜브 교체의 장래 계획을 위한 충분한 시간을 허용하지 않을 수 있다. 또한, 그러한 "수명 말기 (end of life)" 기술은 "양호한" 튜브와 "불량한" 튜브 사이의 어떠한 구별도 허용하지 않는다. 활용도가 낮은 튜브 수명의 조기 검출은, 양호한 튜브가 조기에 폐기된다면 그들을 너무 차갑게 하거나 튜브 수명을 "포기" 함을 통한 미실현된 생산에서의 기회 상실을 방지할 수 있다.
전형적으로, 비파괴 검사는 남은 절대 수명을 시도하고 결정하기 위해 개질기로부터 제거된 적은 개수의 튜브에 사용된다. 사용되는 방법이 무엇이든, 그 결과는 통계학상으로 유효하지 않은 샘플 사이즈에 사용된다. 모든 튜브의 상대적인 상태를 특성화하기 위해 NDT 기술로 모든 튜브를 조사하는 것이 바람직하다.
개질기 튜브는 점화되는 첫날부터, 길이방향 및/또는 직경방향 성장 형태로, 크리프 응력을 겪는다. 그러한 튜브의 크리프 신장 (creep elongation) 을 측정하는 것이 오늘날 일상적인 용도에서 가장 인기있는 악화 검출 방법이지만, 이 방법은 사용 중의 튜브 악화를 모니터링하기에는 매우 부정확하다. 국부적인 길이방향 성장을 측정하기 위한 공지된 방법이 없기 때문에, 단지 총 성장이 튜브의 전체 길이에 걸쳐 평균된다.
직경 증가를 측정하는 것이 더 정확하지만, 스케일 효과로 인해 튜브의 수명의 조기에는 부정확한 측정으로 이어질 수 있다. 즉, 원주방향 성장의 정확한 측정은 직경방향 확장을 모사하는 튜브 표면에서의 부식층 (스케일) 의 성장 및 붕괴로 인해 복잡해진다. 직경방향 성장을 측정하는 것은 또한 튜브 등반 장비를 필요로 한다.
튜브 악화를 정확하게 측정하고 기록하는 능력은 튜브의 상태가 첫날에 모니터링될 수 있음을 의미한다. 따라서, 개별 튜브가 적절한 시기에 사용 중지될 수 있을 뿐만 아니라, 개질기가 전체적으로 성능 평가될 수 있다.
해결하려는 과제의 범위의 아이디어를 얻기 위해, 현재, ArcelorMittal 이 약 2,500 개의 개질기 튜브들을 사용하는 8 개의 개질기들을 갖고 있음에 주목해야 한다. 튜브는 매우 비싸며, 설치 비용과 함께 튜브 비용을 두 배로 하는 촉매 비용을 더하면, 각각 3만 달러 넘게 든다. 개질기는 저온 정지 (cold shutdown) 사이에 2 내지 5 년간 연속적으로 작동한다.
계획된 저온 정지 동안에 튜브의 현 상태를 평가하고 2 내지 5 년 작동 기간 동안의 임의의 튜브의 비극적인 고장을 방지하기 위해 불량 튜브를 제거하기 위한 방법이 요구된다. 그러한 고장은 개질기의 조기 정지를 야기하여 시간과 돈의 큰 손실을 야기할 수 있다.
그리고, 개질기 작동 조건이 하나의 개질기 영역마다 일관되지 않을 수 있기 때문에 개질기의 성능을 전체로서 평가하기 위해 툴 (tool) 이 필요하다. 튜브의 악화의 증가가 특정 개질기 영역에서 더 빠르다면, 이는 개질기 작동 조건이 잘 균형잡히지 않았다는 것을 나타낸다. 더 양호한 균형을 위해 개질기의 미세 조정은 생산성을 향상시킬 것이고, 그렇지 않으면 이 영역에서 더 빠르게 악화되었을 튜브를 구한다. 목적은, 작동 조건으로 인한 튜브 미세조직의 변화가 불가피하므로 튜브의 더 빠른 악화를 방지할만큼 충분히 조기에 개질기 작동 이상을 검출하는 것이다.
따라서, 개질기 튜브의 검사를 위한 자동화된 방법 및 장치가 필요하다. 이 방법은 비파괴적이어야 하고, 튜브를 구할 시간이 여전히 있는 때에 개질기 조정을 허용하도록 튜브 합금에서의 변화를 매우 조기에 검출할 수 있어야 한다. 또한, 이 방법 및 장치는 튜브 교체 결정을 돕는 추정되는 "튜브 수명의 리마인더" 를 제공할 수 있어야 한다.
본 발명은 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 악화 정도를 측정/검사하기 위한 방법 및 장치를 포함한다. 본 발명의 방법은, 상자성 튜브 합금이 악화됨에 따라, 조기 단계에서 매우 작아서 임의의 다른 이용가능한 바업에 의해 검출할 수 없는 강자성 영역을 성장시킨다는 야금 현상 (metallurgical phenomenon) 을 활용한다. 본 발명자들은 합금의 자기 특성과 내열성 Cr-Ni 합금 튜브의 수명 사이의 양호한 상관 관계를 발견하였다. 본 방법 및 장치 디자인은 합금의 자기 특성, 조직 변태 및 내열성 Cr-Ni 합금 튜브의 수명 사이의 발견된 상관 관계를 활용한다. 상기 방법 및 장치는 고온의 서비스 환경에 의해 야기되는 튜브의 열적 손상을 측정하기 위해 상관 관계를 활용한다.
상기 방법은, 검사할 샘플 오스테나이트계 강 개질기 튜브를 제공하는 단계, 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브상에서 하나 이상의 검사 위치들을 선택하는 단계, 상이한 주파수 F1 및 F2 를 각각 갖는 2 개의 사인파 전자기 신호들을 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브상의 검사 위치에 송신하는 단계, 상기 검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계, 및 상기 검사 위치에서의 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 상태를 판단하기 위하여, 수신된 상기 응답 신호의 기본 (fundamental) 및 상호변조 주파수들을 분석하는 단계를 포함한다.
검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계는 수신기 코일에서 아날로그 응답 신호를 수신하는 것을 포함할 수 있다. 검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 사용하여 상기 아날로그 응답 신호를 디지털 응답 신호로 변환하는 단계를 추가로 포함할 수 있다. 아날로그-디지털 변환기는 샘플링 주파수 Fs 를 가질 수 있다. 아날로그-디지털 변환기를 사용하여 아날로그 응답 신호를 디지털 응답 신호로 변환하는 단계는, 다수의 샘플들을 단일의 대표 샘플로 조합하는 것을 포함할 수 있고, 상기 단일의 대표 샘플로 조합되는 샘플들의 개수는 샘플 사이즈 Ss 로서 지정될 수 있다. 샘플 사이즈 Ss 는 2 의 정수제곱일 수 있다. 샘플 사이즈 Ss 는 4096, 8192 및 16384 샘플들로 이루어진 군으로부터 선택되는 수일 수 있다. 샘플링 주파수 Fs 는 초당 44100 샘플들일 수 있다.
2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는, 베이스 (base) 주파수 F0 을 정의하는 단계를 포함할 수 있고, F0 = Fs / Ss 이다. 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는, F1 = N × F0; F2 = P × F0 이도록 2 개의 주파수 F1 및 F2 를 선택하는 것을 추가로 포함할 수 있고, 여기서, N 및 P 는 서로 다른 정수이고, N 및 P 는, Q 및 R 이 0 이 아닌 작은 정수 (양 또는 음) 값일 때, 상호변조 주파수들 F(Q,R) = Q x F1 + R x F2 중의 어느 것도 F1 또는 F2 의 정수배 (integral multiple) 와 동일하지 않도록 선택된다.
2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는, 단일의 송신기 코일로부터 신호들 쌍방을 송신하는 것을 포함하거나, 또는 개별 송신기 코일들로부터 신호들의 각각을 송신하는 것을 포함할 수 있다. 송신기 코일들은 검사할 샘플 튜브의 두께보다 더 큰 직경을 가질 수 있다. 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는, 적어도 하나의 디지털-아날로그 신호 발생기를 이용하여 아날로그 사인파 전자기 신호들을 생성하는 것을 포함할 수 있다. 2 개의 사인파 전자기 신호들은 2 개의 신호 발생기들에 의해 또한 생성될 수 있다.
수신된 응답 신호의 기본 및 상호변조 주파수들을 분석하는 단계는, 상기 수신된 응답 신호의 1차 기본 및 3차 상호변조 주파수들을 분석하는 것을 포함할 수 있다. 기본은 F2 일 수 있다. 3차 상호변조 주파수들은 2F1 + F2 및 F1 + 2F2 일 수 있다. 3차 상호변조 주파수들을 분석하는 단계는, 기본 주파수의 크기에 대한 3차 상호변조 주파수들의 크기의 비를 데시벨 dB 로 변환하는 것을 포함할 수 있다.
데시벨 dB 로 변환된 상기 3차 상호변조 주파수들의 강도가 신품의 그리고 수명 말기의 오스테나이트계 강 개질기 튜브들의 동일한 측정과 비교될 수 있고, 상기 비교는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 건강의 정량적 척도를 제공할 수 있다. 상기 방법은, 하기의 식들:
비율적 (fractional) 잔여 수명 Lr = ｜Se - Sn｜/ ｜Se - S0｜; 및
추정 잔여 수명 Tr = (Lr/(1-Lr)) × Tn
에 의해 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 현재 수명의 비율로서 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 잔여 수명을 추정하는 추가의 단계를 포함할 수 있고, 여기서 Lr 은 잔여 수명의 추정 백분율이고, Se 는 수명 말기에서의 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 데시벨 dB 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고, Sn 은 지금 검사 샘플의 데시벨 dB 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고, S0 는, 프로브하에 존재하는 튜브가 없는 때의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도, 또는 수시간 동안 작동 온도까지 가열된 새로운 튜브의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도 중, 더 높은 것이고, Tr 은 검사 샘플의 추정 잔여 수명이고, Tn 은 검사 샘플의 현재 수명이다.
도 1 은 본 발명의 방법에 사용될 수 있는 본 발명의 프로브 측정 시스템의 개략도이다.
도 2a 및 도 2b 는, 신품의 개질기 튜브 (2a) 와 5년간 사용된 튜브 (2b) 에 대한 상호변조 주파수 신호 (dB 로 변환된 신호) 대 튜브를 따른 거리의 2차원 (2D) 플롯이다.
도 3 은 개질기 내에서의 상이한 사용 길이 후의, 동일한 조성의 다양한 개질기 튜브의 길이를 따른 dBc 로 변환된 상호변조 주파수 신호의 플롯이다.
도 4a 및 도 4b 는, 개질기의 냉각기 섹션에서 또한 5 년간 사용된 사용된 개질기 튜브 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 광학 현미경사진이다.
도 5a 및 도 5b 는, 또한 5 년간 사용되었지만 노 (furnace) 의 더 뜨거운 영역에 노출되었던, 사용된 개질기 튜브 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 광학 현미경 사진이다.
도 6a 및 도 6b 는, 또한 5 년간 사용되었지만 노의 가장 뜨거운 영역에 노출되었던, 사용된 개질기 튜브 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 광학 현미경사진이다.
본 발명은 개질기에 사용되는 강 튜브 및 다른 고온 분야에 사용되는 다른 튜브와 파이프의 건강을 검사하기 위한 측정/검사 방법 및 장치에 관한 것이다. 본 발명자들은 사용 동안에 상자성 합금에서 발생하는 강자성을 측정하기 위해 전자기 상호변조 기술을 이용한다. 강자성 신호는 초기에 작지만, 사용 기간 및 열적 환경의 심각도와 함께 증가한다. 종래의 와전류 NDT 방법은 이러한 매우 낮은 레벨의 악화를 감지할 수 없다. 악화의 초기 단계에서, 튜브 벽의 서브-스케일 Cr-고갈 구역에서 탄화물 주위에 그리고 결정립계를 따라 강자성이 발달하여서, 상자성 재료을 통해 강자성 채널들의 개별 네트워크를 형성한다고 생각된다.
전도성 매체 (즉, 강 개질기 튜브) 를 통해 신호 상호변조 기술을 적용하기 위해, 기판 전체를 통해 빠르게 침투하도록 여분의 저주파수 신호들을 사용하는 것이 필요하다. 필드 구성은 기판 전체를 통해 상당히 균일한 민감도를 제공하도록 그리고 표면 효과를 무시하도록 선택되어야 한다. 충분한 민감도를 달성하기 위해 신호 처리 기술이 사용된다. 그리고, 이러한 재료의 악화 및 실패가 국부적인 현상이기 때문에, 전체 기판을, 바람직하게는 가능한 한 빨리, 스캔할 수 있는 것이 필요하다.
일반적으로 상기 방법은 검사될 재료에 상이한 주파수의 한 쌍의 전자기 신호를 전송하도록 본 발명의 프로브를 사용하는 것으로 이루어진다. 그러면, 프로브는 상기 쌍의 신호에 대한 재료의 응답을 기록하고, 이 응답은 재료의 물리적 상태를 결정하는 데 사용된다.
본 발명을 더 완전하게 이해하기 위해, 프로브 및 검사 기준/기술을 설명한다. 그리고 나서, 고온 환경에 노출된 강 튜브의 건강 및 기대 수명을 결정하기 위한 기술과 프로브의 사용의 상세를 설명한다.
프로브
도 1 은 본 발명의 프로브 측정 시스템의 개략도이다. 검사될 재료도 또한 도 1 에 도시되어 있다. 2 개의 송신기 코일 (3) 을 통해 샘플 (1) 에 복잡한 가변 자기장을 구동하기 위해 2 개의 사인파 전류 발생기 (2) (여기에는 D/A 1 및 D/A 2 로 도시되어 있음) 가 사용된다. 이 모범적인 실시형태가 회로 설계를 단순화하기 위해 2 개의 송신기 회로를 묘사하지만, 단 하나를 사용하여 프로브를 설계할 수 있다. 송신기 코일 (3) 의 중심 하의 자기장이 본질적으로 균일하도록, 송신기 코일 (3) 은 샘플 (1) 의 두께보다 더 큰 직경을 갖는 것이 바람직하다. 송신기 코일들 (3) 은 동축으로 배치되어 있다. 2 개의 송신기 코일들 (3) 내의 본질적으로 균일한 자기장을 갖는 이 영역에 수신기 코일 (4) 이 위치된다. 수신기 코일 (4) 에 유도된 전압이 검출되고, 검사되는 샘플 (1) 에 관련된 정보를 결정하는데 사용된다. 바람직하게는, 수신기 코일 (4) 의 유도 전압을 마이크로프로세서 (7) 로 보내지는 디지털 샘플로 변환시키기 위해 아날로그-디지털 (A/D) 변환기 (5) 가 사용된다. 프로브의 모든 전자장치는 공통 클록 (6) 을 사용한다.
프로브의 상기 설명은 2 개의 송신기 코일 (3) 과 2 개의 사인파 전류 발생기 (2) 를 포함하지만, 이것이 원하는 측정을 달성하도록 작동하는 유일한 구성은 아니다. 예를 들어, 2 개의 신호를 생성하기 위해 단일 송신기 코일 (3) 과 단일 발생기 (2) 가 사용될 수 있다. 이것이 가장 저렴한 프로브를 형성한다. 발생기 (2) 는 훨씬 더 비싼데, 그 이유는 매우 낮은 IMD (상호 변조 왜곡) 값을 가져야 하기 때문이다. 다른 구성에서, 프로브는 단일 코일 (3) 과 2 개의 발생기를 가질 수 있다. 이 실시형태는, 2 개의 발생기 (2) 가 존재하고, 최종 증폭기(들)가 신호들을 조합할 수 있어야 하므로, 단일 코일/발생기 실시형태보다 형성하기에 아마 더 비싸다.
또 다른 실시형태에서, 프로브는 2 개의 코일 (3) 및 단일 발생기 (2) 를 가질 수 있다. 이 실시형태는 단일 코일/발생기보다 더 비싸지만, 2 개의 코일 (3) 이 유연성을 추가한다. 2 개의 코일 (3) 이 "푸시-풀" 모드로 사용되는 경우, 최종 증폭기는 형성하기 더 용이할 것이다. 2 개의 코일 (3) 및 2 개의 발생기 (2) 를 포함하는 상술한 실시형태는 낮은 IMD 성분 없이 형성될 수 있는 유일한 고민감도 구성이다. 이 실시형태의 변형예에서, 코일은 표유 자기장을 무효화하거나 향상시킬 수 있는 대향 (apposing) DC 전류 성분을 운반한다.
마지막으로, 4 개의 코일 (3) 및 2 개의 발생기 (2) 를 포함하는 실시형태가 있다. 코일은 형성하기 매우 어려울 수 있지만, 2 개의 발생기 및 증폭기는 모두 푸시 풀 모드로 작동할 수 있으므로 더 간단하다. 제 2 프로브가 사용되는 경우, 2 개의 프로브의 코일은, 제 2 프로브에서 역전되는 2 신호의 의미에서, 직렬로 연결된다. 이는 상호 인덕턴스 효과를 상쇄시키고, 전송된 신호를 상당히 향상시킨다. 이는 이용가능한 기술로 가장 높은 가능한 민감도를 제공한다.
프로브의 일반적인 사용
프로브의 특정 구성에 상관없이, 2 개의 사인파 신호가 생성되고 검사할 샘플에 전송된다. 이제, 2 개의 신호를 사용하는 이유를 검토한다. 전송된 신호(들)에 의해 수신기 코일에서 전압이 유도되고, 검사되는 샘플에 의해 유도된 임의의 작은 변화는 전송된 신호의 파워에 비해 구별되기 어려울 것이다. 따라서, 전송된 신호에 존재하지 않는 일부 다른 주파수에서의 파워가 측정될 필요가 있다. 검사 샘플은 수신기 코일에 의해 픽업될 전송된 신호의 고조파 (즉, x 가 전송된 신호의 주파수인 경우, 고조파는 2x, 3x, 4x 등일 것이다) 를 또한 생성할 것이다. 따라서, 샘플에 의해 생성된 고조파 신호를 판독하는 것은 검사되는 샘플에 관한 유용한 정보를 제공할 수 있다. 불행하게도, 신호 발생기는 아마도 전송된 신호의 고조파를 또한 생성할 것이고, 다시, 샘플에 의해 생성된 신호는 전송된 고조파에 비해 아마도 작을 것이다 (즉, 노이즈가 될 것이다). 마지막으로, 2 개의 신호가 샘플에 전달되는 때, 검사되는 샘플의 임의의 비선형 전기적 또는 자기적 성질이 수신기 코일에 의해 또한 픽업되는 2 개의 전송된 신호의 상호변조곱 (intermodulation products) 을 생성할 것이다. 상호변조곱 주파수들은 2 개 이상의 주파수들의 합산 및 감산 조합이다. 예컨대, 2 개의 주파수 F1 및 F2 의 경우, 일부 상호변조곱 주파수는 F1+F2; F1-F2; 2F1+F2; 2F1-F2; 2F1+2F2; 등이다.
실제 사용의 경우, 송신기 주파수 F1 및 F2, A/D 변환기 샘플링 주파수 FS, 및 샘플 사이즈 Ss 는 다음의 요건을 충족하도록 선택된다. 샘플 사이즈 Ss 는 2 의 정수제곱이다 (예컨대, 4096, 또는 8192, 또는 16384 등). Fs 는 초당 샘플에서의 AD 변환기의 샘플링 주파수이다. 베이스 주파수는 다음과 같이 정의될 것이다: F0 = Fs/Ss. F1 = N x F0; F2 = P x F0; 여기서 N 및 P 는 서로 다른 정수. 또한, N 및 P 는, Q 및 R 이 0 이 아닌 작은 정수 (양 또는 음) 값일 때, 상호변조 주파수 F(Q,R) = Q x F1 + R x F2 중의 어느 것도 F1 또는 F2 의 정수배와 동일하지 않도록 선택된다.
샘플의 임의의 비선형 전기적 또는 자기적 특성은 주파수 F(Q, R) 에서 상호변조곱을 생성할 것이다. 송신기 장치는 이 주파수 F(Q, R) 를 생성하지 않으므로, F(Q, R) 성분의 진폭은 비선형 재료의 성질의 절대적 측정이다. M 이 정수일 때,
F(Q,R) = (Q x N + R x P) x F0 = M x F0
라면, F(Q, R) 성분의 진폭은, A/D 변환기에 의해 취해진 샘플 측정들의 세트에서 고속 푸리에 변환 또는 유한 임펄스 응답 필터를 이용하여 용이하게 획득된다.
프로브 및 검사 방법의 구체적인 사용의 예
본 발명자들은, 본 발명의 프로브 및 검사 방법이 수소 개질기에 사용된 오스테나이트계 합금 개질기 튜브의 악화 상태를 결정하는데 매우 유용하다는 것을 발견하였다. 이러한 오스테나이트계 합금의 악화가 강자성 특성이 발현과 관련된다는 것에 주목하였고, 이로부터, 본 발명자들은, 악화의 양을 측정할 수 있다면, 남은 수명을 예측할 수 있을 것이라고 판단하였다.
측정
설명된 프로브 및 방법은 수소 개질기의 개질기 튜브에 사용되는 타입의 내크리프성 오스테나이트계 합금의 건강을 측정하는데 사용된다. 프로브가 이 합금에서 크리프 저항의 발달 및 악화와 상호관련될 수 있는 특정 강자성 마이크로-영역의 총 자기 모멘트 및 밀도를 측정하는 것으로 생각된다. 위에서 개시된 바와 같이, 상기 방법은, 상기 합금에 약간 상이한 주파수에서 2 개의 사인파 자화장 (sinusoidal magnetizing fields) 을 적용한다. 이 자화장으로부터 발생하는 자속 (magnetic flux) 및 합금 내의 유도 자기 모멘트로 인한 자속이 샘플링, 처리 및 분석된다. 측정은 튜브의 길이와 둘레를 따라 이격된 간격으로 취해진다. 이로써 튜브의 건강을 2d 및 3d 맵핑할 수 있다.
분석
각 개별 검사 위치에서 수신기 코일에 의해 수신되는 총 자속으로부터, 그의 근본적인 상호변조 주파수 신호가 분리된다. 이 상호변조 주파수 신호는 특정 검사 위치에서 튜브의 오스테나이트계 합금의 건강을 분석하기 위한 유용한 정보를 제공한다. 3차 상호변조 주파수가 특히 관심을 받고 있다. 상호변조 주파수에서의 파워 레벨은 기본 주파수 파워에 대한 데시벨 (dB) 로 변환되고, 튜브의 길이 및/또는 둘레를 따른 위치에 대해 2D 또는 3D 그래프로 표시된다. 백분율과 동일한 방식으로, 데시벨, 이 경우 20xLOG(Vmeasured / Vreference) 는 항상 두 숫자의 비율이어야 한다. 이 비율이 수신기 특성에 독립적이며 송신기 특성에 지나치게 민감하지 않기 때문에, 기본적인 크기와의 비교가 가장 유용하다.
도 2a 및 도 2b 는, 각각, 신품의 개질기 튜브 (잔류 델타 페라이트 개재물을 갖지 않음) 와 5년간 사용된 튜브에 대한 상호변조 주파수 신호 (dB 로 변환된 신호) 대 튜브를 따른 거리의 2차원 (2D) 플롯이다. 도 2a 로부터 알 수 있는 바와 같이, 잔류 프리 "새로운" 개질기 튜브는 기존 프로브에 대해 노이즈 플로어 아래의 3차 상호변조 주파수 응답을 가지며, 따라서 우리가 볼 수 있는 모든 것은 프로브 자체로부터의 비상관 (uncorrelated) 전기 노이즈이다. 기록되고 있는 모든 것이 프로브 시스템의 전기 노이즈이기 때문에, (dB 로 변환된) 신호 강도는 -95 dB 내지 -115 dB 의 임의의 값으로 빠르게 점프한다. 전반적으로, 새로운 튜브가 평균적으로 100 dB 미만의 매우 낮은 상호변조 응답 신호를 갖는 것을 알 수 있으며, 이는 손상되지 않은 튜브의 특징으로서 받아들여질 것이다.
도 2a 에 대조적으로, 도 2b 는 도 2a 의 튜브와 똑같은 재료로 형성되었지만 5년간 수소 개질기에서 사용된 튜브의 상호변조 응답 신호를 보여준다. 볼 수 있는 바와 같이, 수소 개질기 노의 극한 환경에서의 사용은 상호변조 주파수 신호 응답을 변화시켰다. 신호는 사용전 (virgin) 튜브에 비해 크게 증가되었다. 튜브의 정상부가 노 천장에 매립되고 플랜지에 부착되어 있다는 것에 유의해야 한다. 이는 연속 냉각 효과를 제공하여, 최상단부가 노의 전체 열적 영향에 노출된 튜브 부분만큼 빨리 악화되는 것을 방지한다. 알 수 있는 바와 같이, 노 환경에 노출된 튜브의 상부의 응답 신호가 실질적으로 증가하였고, 대략 -40 dB 에서 피크를 나타내고 있다. 이는 튜브가 그 영역에서 상당히 악화되었고 개질기의 핫 스팟 (가능하게는 이웃한 튜브의 수소 누출) 을 가리킬 수도 있다는 것을 나타낸다. 튜브의 하측 절반부는 상측 절반부와 상이한 합금으로 형성된다. 개질기 튜브는 실제로, 서로 용접되는 2 개의 튜브로 형성된다. 하측 튜브는 내열성 주조 합금의 25Cr/35Ni/Fe 타입으로 형성되는 반면, 상측 튜브는 내열성 주조 합금의 28Cr/48Ni/Fe 타입으로 형성된다. 하측 절반부는 열적 환경에 대해 상측 절반부와는 상이한 반응을 갖는다. 튜브의 하측 절반부는 비교적 균일하게 악화되고, 그의 응답 신호는 튜브의 이 부분이 적어도 합당한 잔여 수명을 갖는다 것을 나타낼 것이다. 마지막으로, 튜브의 정상부와 유사하게, 튜브의 저부는 노의 플로어에 매립되고, 따라서 노의 열적 영향으로부터 상당히 보호된다.
따라서, 상호변조 응답 신호의 분석은, 5년된 튜브의 하측 절반부가 균일하게 에이징된 반면, 상측 절반부가 튜브의 최상부를 조기에 에이징시키는 "핫 스팟" 을 포함할 수도 있는 변하는 노 환경을 거치는 것을 나타낸다. 이러한 조기 에이징은 튜브를 그 영역에서 고장나게 할 수도 있고 (즉, 수소 누출을 야기하거나 또는 심지어 분리되어 떨어질 수도 있고), 이는 그 근방의 다른 튜브를 손상시킬 수 있다. 따라서, 튜브 전체 길이를 따른 튜브의 조건을 알면, 조작자가 필요에 따라 개별 튜브를 교체할 수 있고, 또한 중요하게는, 조작자가 교체가 필요한 시점까지 악화되지 않은 오래된 튜브를 계속 사용할 수 있다.
튜브의 예상 잔여 수명을 결정하기 위해, 상이한 연령의 다중 튜브로부터 상호변조 응답 신호의 측정을 행하였다 (즉, 신규 튜브, 변하는 시간 동안 개질기에서 사용된 튜브, 및 고장난 튜브). 도 3 은 개질기 내에서의 상이한 사용 길이 후의, 동일한 조성의 다양한 개질기 튜브의 길이를 따른 dBc 로 변환된 상호변조 주파수 신호의 플롯이다. 볼 수 있는 바와 같이, 튜브의 사용 기간이 길어질수록, 튜브의 상호변조 주파수 신호 강도가 강해진다. 일단 이 데이터를 수집하면, 유사한 튜브에서 그 수명을 통한 간격에서 얻은 측정치들과의 비교에 의해 현재 연령의 일부로서 잔여 수명이 결정될 수 있다.
현재 수명의 비율로서 개질기 튜브의 잔여 수명 및 실제 잔여 수명은 다음 식들에 의해 추정될 수 있다:
잔여 수명% Lr = |Se-Sn| / |Se-S0|; 및
추정 잔여 수명 Tr = (Lr /(1-Lr)) x Tn
여기서, Lr 는 잔여 수명의 추정 비율이고; Se 는 수명 말기에서의 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 데시벨 (dB) 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고; Sn 는 지금 검사 샘플의 데시벨 (dB) 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고; S0 는, 프로브하에 존재하는 튜브가 없는 때의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도, 또는 수시간 동안 작동 온도까지 가열된 새로운 튜브의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도 중, 더 높은 것이고; Tr 는 검사 샘플의 추정 잔여 수명이고; Tn 는 검사 샘플의 현재 수명이다.
S0 의 최선값 (best value) 은 튜브를 검사하는데 사용되는 프로브에 대한 오픈 에어 캘리브레이션 포인트 (open air calibration point), 즉 튜브가 존재하지 않은 때의 3차 신호 강도이다. 이 값은 지금까지 검사된 프로브와 증폭기 조합에서 일반적으로 -90 내지 -109 dBc 이다. 그것이 S0 실제 값이 -120 내지 -130 dBc 이라고 믿는 이유이지만, 검사 디바이스의 오픈 에어 캘리브레이션 포인트 미만의 측정을 의미있게 만드는 것은 불가능하다. 다음의 최선값은 수 시간 동안 작동 온도까지 올려진 튜브로부터 취해질 것이다. 이것은 신규의, 애즈 캐스트 (as cast), 튜브가 주조 프로세스로부터 종종 남겨지는 불안정한 형태의 델타 페라이트를 함유할 수 있기 때문이다. 이러한 잔류물은 가열 시에 사라진다. 이러한 잔류물이 전체 튜브 수명에 미치는 영향은 알려져 있지 않지만, 전술한 식들에 사용될 수 없다. 애즈 캐스트 튜브에서 초기 IMD 가 없는 경우가 있었지만, 이는 예외적인 것이고, 통례가 아니다.
일례로, 검사되는 튜브의, 데시벨 (dB) 로 변환된 현재의 3차 상호변조 주파수 신호 강도가 -50 dB 이라고 가정하면, 검사되는 튜브로서 동일한 타입 (합금 조성, 프로세싱 등) 의 신규 튜브의 그것은 -100 dB 이고, 그 수명 말기에서의 튜브의 그것은 -40 db 이다. 비율적 잔여 수명 Lr 은 |-40-(-50)| / |-40-(-100)| = 10/60 = 1/6 일 것이다. 또한, 검사 샘플의 현재 수명 Tn 이 85 개월이라고 가정하자. 그러면, 검사 샘플의 추정 잔여 수명 Tr = (1/6 / (1-1/6)) x 85 개월 = 17 개월이다.
본 검사 방법 및 식들이 극심한 손상을 갖는 튜브에 잘 맞지 않음을 본 발명자들이 습득하였다는 것에 유의해야 한다. 극심한 손상을 갖는 튜브에서, IMD 값은 떨어지기 시작하는 반면, 수신기에서의 F2 성분의 크기는 증가한다. 영향은 -40 dBc 의 IMD 값에서 더 현저해지고, F2 가 그의 최대값의 절반에 도달할 때까지, IMD 값은 -35 dBc 에 도달한다. 그 점을 넘어서는, F2 가 최대치까지 계속 증가함에 따라, IMD 는 떨어지기 시작한다. 그러한 경우, 이로부터, -35 dBc 초과로 연장되는 합성 IMD 값이 투영될 수 있고, 합성 IMD 값이 0 에 도달할 때가지, 튜브는 줄곧 크래킹된다.
크롤러 (crawler) 를 통한 프로브의 개발/사용
프로브가 검사될 샘플의 길이와 폭 또는 둘레를 횡단할 수 있게 하는 수송 디바이스에 하나 이상의 프로브가 부착될 수 있다. 수송 디바이스는 수평방향 샘플을 횡단하거나 수직방향 샘플을 위아래로 오르는 능력을 가진 크롤러의 형태를 가질 수도 있다. 또한, 크롤러의 프로브의 개수에 따라, 크롤러는 샘플 둘레의 상이한 지점으로 프로브를 재위치시키도록 샘플 주위에서 둘레방향으로 회전하는 능력을 가질 수도 있다. 바람직하게는, 크롤러는 샘플의 치수에 대해 프로브의 위치를 측정하는 수단을 포함하고, 따라서 측정된 상호변조 주파수 신호는 샘플에서의 특정 위치와 상호관련될 수 있다.
크롤러는 신호 생성기, A/D 및 D/A 변환기 등과 같은, 프로브를 위한 지지 전자장치를 또한 지닐 수도 있다. 수신된 상호변조 주파수 신호는 나중의 회수를 위해 크롤러에 탑재된 전용 저장 매체 등에 기록될 수 있다. 대안적으로, 신호는 개별 저장 디바이스에 전송 (유선 또는 무선 송신) 될 수 있다. 상호변조 주파수 신호 처리 전자장치는 탑재될 수도 있지만, 바람직하게는 탑재되지 않는다.
야금학적 조사
이론에 얽매이는 것을 바라지 않으면서, 본 발명자들은 본 발명의 방법 및 프로브를 적용한 경우의 측정/결과와 관련하여 이하의 야금학적 설명을 기재한다.
본 방법 및 프로브는 철 니켈 크롬 탄소 합금 튜브의 악화를 검출하기 위해 유도 자화를 이용한다. 초기 재료는 강자성이 아니지만, 크롬의 손실 및 탄화물의 증가가 미세조직을 변화시킬 것이고 고투자율 (high permeability) 을 갖는 강자성 영역을 생성할 것이다. 철 니켈 크롬 합금이 애즈 캐스트 매트릭스에서 석출하는 탄화물로부터 내크리프성을 갖는다는 것과, 추가적인 탄화물이 석출하고 시간 및 온도에 따라 확대된다는 것이 알려져 있다. 크롬과 철이 이 탄화물 내로 이동함에 따라, 니켈이 풍부해지고 크롬이 고갈되는 영역이 카바이드 근처 또는 주위에 형성된다는 것이 발견되었다. 얻어지는 강자성 구조는 약한 자화장에 의해 포화되도록 용이하게 구동된다. 크리프가 시작됨에 따라, 합금 내에 형성되는 크랙으로 크롬이 또한 손실되어, 니켈과 철이 남아서 크랙 주위에서 매트릭스 내에 얇은 강자성 시트를 형성한다. 다시 한번, 이러한 구조는 본 발명의 프로브의 약한 자화장에 의해 포화되도록 용이하게 구동된다. 이러한 유도 자기 모멘트는, 구조의 크기 및 밀도에 관련될 수 있는 원래의 2 개의 사인파 자화장의 상호변조곱 및 고조파를 포함한다.
도 4a 및 도 4b 는, 개질기의 냉각기 섹션에서 5 년간 사용된, 사용된 개질기 튜브 합금 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 관학 현미경사진이다. 샘플은 내부 직경 (ID) 에서 튜브의 표면아래 영역으로부터 취해졌다. ID 표면은 현미경사진의 오른쪽 아래 코너에 있다. 샘플은 금속조직학적으로 연마되었지만, 에칭되지는 않았다. 도 4a 에서, 샘플의 연마된 표면은 얇은 자성유체 층으로 코팅되어 있지만, 자기장이 인가되지 않았다. 자성유체는 자기장의 존재 하에서 강하게 자화되는 액체이다. 자성유체는 캐리어 유체 (보통 유기 용제 또는 물) 에 현탁된 나노스케일 강자성 또는 페리자성 입자들로 이루어진 콜로이드성 액체이다. 각각의 작은 입자는 응집 (clumping) 을 억제하도록 계면활성제로 완전히 코팅된다.
도 4b 는 자기장이 인가된 후의 (도 4a 와) 동일한 샘플을 보여준다. 자성유체가 탄화물 주위의 자기 영역으로 그리고 결정립계로 이동하는 것을 볼 수 있다. 도 4a 및 도 4b (즉, 자기장 인가 전과 후) 사이의 타원 내의 영역들을 비교하면, 일단 자성유체를 끌어당기면 명확히 보이는 원 내의 결정립계가 존재하는 것을 볼 수 있다.
자기 영역들이 탄화물 주위의 좁은 영역들 (표면 스캐일 아래) 로 한정되고 본 예의 경우 결정립계로 한정된다는 것에 주목해야 한다. 그렇지만, 노의 더 뜨거운 영역에서, 또는 튜브가 사용되는 시간이 길어짐에 따라, 탄화물 주위의 영역 (표면 스캐일 아래) 및 결정립계가 성장한다. 도 5a 및 도 5b 는, 또한 5 년간 사용되었지만 노의 더 뜨거운 영역에 노출되었던, 사용된 개질기 튜브 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 광학 현미경 사진이다. 다시, 샘플은 금속조직학적으로 연마되었지만, 에칭되지는 않았다. 도 5a 에서, 샘플의 연마된 표면은 전과 같이 얇은 자성유체 층으로 코팅되어 있지만, 자기장이 인가되지 않았다. 도 5b 는 자기장이 인가된 후의 (도 5a 와) 동일한 샘플을 보여준다. 다시, 자성유체가 자기 영역으로 이동하는 것을 볼 수 있다. 그렇지만, 이번에는, 자기 영역들이 도 4a 및 도 4b 의 것보다 더 두껍게 (흰색 화살표 참조) 그리고 더 풍부하게 성장하였음을 볼 수 있다. 이것은 합금이 더 뜨거운 영역에서 매우 빠르게 악화되기 때문인 것으로 생각되고, 이는 Cr 의 탄화물로의 이동, Cr-산화물로의 탄화물 변태, 및 Cr-산화물의 일부 종들 (species) 의 종국적 휘발 (이는 Cr 이 고갈된 줄곧 팽창하는 영역을 남김) 에 의해 야기되는 것으로 생각된다. 이것이, 강의 사용 수명에 걸쳐 상호변조 신호가 증가하는 이유이다.
마지막으로, 도 6a 및 도 6b 는, 또한 5 년간 사용되었지만 노의 가장 뜨거운 영역에 노출되었던, 사용된 개질기 튜브 샘플 (타입 28%Cr, 48%Ni) 의 단면의 광학 현미경사진이다. 다시, 샘플은 금속조직학적으로 연마되었지만, 에칭되지는 않았다. 도 6a 에서, 샘플의 연마된 표면은 전과 같이 얇은 자성유체 층으로 코팅되어 있지만, 자기장이 인가되지 않았다. 도 5b 는 자기장이 인가된 후의 (도 6a 와) 동일한 샘플을 보여준다. 이제, 자성유체가 탄화물 및 다른 개재물 밖으로 이동하여 합금 매트릭스 표면에 걸쳐 특징적인 미로같은 (labyrinthine) 패턴을 형성하는 것을 볼 수 있다. 결정립계 및 표면아래 자기 재료는 더 이상 보이지 않고, 이는 전체 매트릭스가 자성이 되었음을 나타낸다. 이때, 자화장이 매트릭스를 포화시킬 정도로 충분히 강하지 않으므로, 상호변조 신호는 사라지기 시작한다. 동시에, 자기 매트릭스가 송신기 및 수신기 코일들을 함께 커플링하는 트랜스포머의 코어처럼 작용하여서, 이 영역이 수신기에서 F2 신호 크기의 증가로서 검출될 수 있게 한다.
이상의 내용은 본 발명의 바람직한 실시형태를 설명하고 개시하려는 목적으로 제공된다. 묘사된 실시형태의 변형 및 수정은 본 기술분야의 통상의 기술자에게 자명할 것이다. 이러한 변화 등은 이하의 청구항들에 기재된 본 발명의 범위나 사상으로부터 벗어남이 없이 행해질 수 있다.

Claims (20)

  1. 오스테나이트계 강 개질기 (reformer) 튜브의 검사 방법으로서,
    검사할 샘플 오스테나이트계 강 개질기 튜브를 제공하는 단계,
    상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브상에서 하나 이상의 검사 위치들을 선택하는 단계,
    상이한 주파수 F1 및 F2 를 각각 갖는 2 개의 사인파 전자기 신호들을 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브상의 검사 위치에 송신하는 단계,
    상기 검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계, 및
    상기 검사 위치에서의 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 상태를 판단하기 위하여, 수신된 상기 응답 신호의 기본 (fundamental) 및 상호변조 (intermodulation) 주파수들을 분석하는 단계를 포함하고,
    상기 수신된 응답 신호의 기본 및 상호변조 주파수들을 분석하는 상기 단계는 상기 수신된 응답 신호의 1차 기본 및 3차 상호변조 주파수들을 분석하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계는 수신기 코일에서 아날로그 응답 신호를 수신하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 검사 위치로부터 응답 신호를 수신하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 사용하여 상기 아날로그 응답 신호를 디지털 응답 신호로 변환하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 아날로그-디지털 변환기는 샘플링 주파수 Fs 를 갖는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    아날로그-디지털 변환기를 사용하여 상기 아날로그 응답 신호를 디지털 응답 신호로 변환하는 상기 단계는 다수의 샘플들을 단일의 대표 샘플로 조합하는 것을 포함하고, 상기 단일의 대표 샘플로 조합되는 샘플들의 개수는 샘플 사이즈 Ss 로서 지정되는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 샘플 사이즈 Ss 는 2 의 정수제곱 (integral power of 2) 인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 샘플 사이즈 Ss 는 4096, 8192 및 16384 샘플들로 이루어진 군으로부터 선택되는 수인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 샘플링 주파수 Fs 는 초당 44100 샘플들인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  9. 제 5 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는 베이스 (base) 주파수 F0 을 정의하는 단계를 포함하고, F0 = Fs / Ss 인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는
    F1 = N × F0;
    F2 = P × F0;
    이도록 2 개의 상기 주파수 F1 및 F2 를 선택하는 것을 추가로 포함하고, 여기서, N 및 P 는 서로 다른 정수이고,
    N 및 P 는, Q 및 R 이 0 이 아닌 정수 (양 또는 음) 값일 때, 상호변조 주파수들 F(Q,R) = Q x F1 + R x F2 중의 어느 것도 F1 또는 F2 의 정수배 (integral multiple) 와 동일하지 않도록 선택되는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는 단일의 송신기 코일로부터 상기 신호들 쌍방을 송신하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는 개별 송신기 코일들로부터 상기 신호들의 각각을 송신하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 송신기 코일들은 검사할 샘플 튜브의 두께보다 더 큰 직경을 가지는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  14. 제 1 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들을 송신하는 단계는 적어도 하나의 디지털-아날로그 신호 발생기를 이용하여 아날로그 사인파 전자기 신호들을 생성하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 2 개의 사인파 전자기 신호들은 2 개의 신호 발생기들에 의해 생성되는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  16. 삭제
  17. 제 1 항에 있어서,
    상기 기본은 F2 이고, 상기 3차 상호변조 주파수들은 2F1 + F2 및 F1 + 2F2 인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  18. 제 1 항에 있어서,
    상기 3차 상호변조 주파수들을 분석하는 단계는 상기 3차 상호변조 주파수들의 진폭을 상기 기본의 진폭에 대한 데시벨 dB 로 변환하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  19. 제 18 항에 있어서,
    데시벨 dB 로 변환된 상기 3차 상호변조 주파수들의 강도가 신품의 그리고 수명 말기의 오스테나이트계 강 개질기 튜브들의 동일한 측정과 비교되고, 상기 비교는 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 건강의 정량적 척도를 제공하는 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
  20. 제 19 항에 있어서,
    하기의 식들:
    비율적 (fractional) 잔여 수명 Lr = ｜Se - Sn｜/ ｜Se - S0｜; 및
    추정 잔여 수명 Tr = (Lr/(1-Lr)) × Tn
    에 의해 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 현재 수명의 비율로서 상기 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 잔여 수명을 추정하는 추가의 단계를 포함하고, 여기서
    Lr 은 잔여 수명의 추정 백분율이고,
    Se 는 수명 말기에서의 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 데시벨 dB 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고,
    Sn 은 지금 검사 샘플의 데시벨 dB 로 변환된 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도이고,
    S0 는, 프로브하에 존재하는 튜브가 없는 때의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도, 또는 수시간 동안 작동 온도까지 가열된 새로운 튜브의 3차 상호변조 주파수들의 신호 강도 중, 더 높은 것이고,
    Tr 은 검사 샘플의 추정 잔여 수명이고,
    Tn 은 검사 샘플의 현재 수명인 것을 특징으로 하는 오스테나이트계 강 개질기 튜브의 검사 방법.
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