KR101723096B1 - 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법 - Google Patents

태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101723096B1
KR101723096B1 KR1020150159160A KR20150159160A KR101723096B1 KR 101723096 B1 KR101723096 B1 KR 101723096B1 KR 1020150159160 A KR1020150159160 A KR 1020150159160A KR 20150159160 A KR20150159160 A KR 20150159160A KR 101723096 B1 KR101723096 B1 KR 101723096B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
precursor
thin film
sns
precursor material
solar cell
Prior art date
Application number
KR1020150159160A
Other languages
English (en)
Inventor
조아라
조준식
윤재호
안세진
곽지혜
유진수
안승규
박주형
어영주
김기환
Original Assignee
한국에너지기술연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국에너지기술연구원 filed Critical 한국에너지기술연구원
Priority to KR1020150159160A priority Critical patent/KR101723096B1/ko
Priority to US15/209,837 priority patent/US10056512B2/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101723096B1 publication Critical patent/KR101723096B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0256—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by the material
    • H01L31/0264—Inorganic materials
    • H01L31/032—Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312
    • H01L31/0324—Inorganic materials including, apart from doping materials or other impurities, only compounds not provided for in groups H01L31/0272 - H01L31/0312 comprising only AIVBVI or AIIBIVCVI chalcogenide compounds, e.g. Pb Sn Te
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104—Forming layers
    • H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02518—Deposited layers
    • H01L21/02521—Materials
    • H01L21/02568—Chalcogenide semiconducting materials not being oxides, e.g. ternary compounds
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104—Forming layers
    • H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
    • H01L21/02612—Formation types
    • H01L21/02617—Deposition types
    • H01L21/02623—Liquid deposition
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02—Details
    • H01L31/0216—Coatings
    • H01L31/02161—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/02168—Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02—Details
    • H01L31/0224—Electrodes
    • H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022441—Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02—Details
    • H01L31/0236—Special surface textures
    • H01L31/02366—Special surface textures of the substrate or of a layer on the substrate, e.g. textured ITO/glass substrate or superstrate, textured polymer layer on glass substrate
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/036—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes
    • H01L31/0392—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their crystalline structure or particular orientation of the crystalline planes including thin films deposited on metallic or insulating substrates ; characterised by specific substrate materials or substrate features or by the presence of intermediate layers, e.g. barrier layers, on the substrate
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/186—Particular post-treatment for the devices, e.g. annealing, impurity gettering, short-circuit elimination, recrystallisation
    • H01L31/1864—Annealing
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)

Abstract

본 발명은 태양전지의 광흡수층에 적합한 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 방법에 관한 것으로, Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 제조하는 단계; 상기 전구체액을 도포하여 전구체막을 형성하는 단계; 및 상기 전구체막을 열처리하는 단계;를 포함하여 구성되며, 상기 Sn 전구체물질과 상기 S 전구체물질이 액체 상태의 물질인 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 액체상태의 전구체 물질을 사용하여 황화 열처리 공정 없이 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 방법을 제공함으로써, 고품질의 SnS 박막을 비용이 낮고 대량생산에 적합한 공정으로 형성할 수 있는 뛰어난 효과를 나타낸다.
또한, 대량생산에 적합한 공정으로 광흡수층을 형성함으로써, 칼코겐 화합물 박막 태양전지를 낮은 비용으로 제조할 수 있는 효과가 있다.

Description

태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법{FORMING METHOD FOR SnS FILM AND MANUFACTURING METHOD FOR SOLAR CELL BY USING THE FORMING METHOD}
본 발명은 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 방법에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 태양전지의 광흡수층에 적합한 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 방법에 관한 것이다.
최근 심각한 환경오염 문제와 화석 에너지 고갈로 차세대 청정에너지 개발에 대한 중요성이 증대되고 있다. 그 중에서도 태양전지는 태양 에너지를 직접 전기 에너지로 전환하는 장치로서, 공해가 적고, 자원이 무한적이며 반영구적인 수명이 있어 미래 에너지 문제를 해결할 수 있는 에너지원으로 기대되고 있다.
태양전지는 광흡수층으로 사용되는 물질에 따라서 다양한 종류로 구분되며, 현재 가장 많이 사용되는 것은 실리콘을 이용한 실리콘 태양전지이다. 그러나 최근 실리콘의 공급부족으로 가격이 급등하면서 박막형 태양전지에 대한 관심이 증가하고 있다. 박막형 태양전지는 얇은 두께로 제작되므로 재료의 소모량이 적고, 무게가 가볍기 때문에 활용범위가 넓다. 이러한 박막형 태양전지의 재료로서 실용화가 진행된 물질로는 CdTe가 있으며, 최근에는 높은 광흡수 계수를 가지는 CIGS(Copper Indium Gallium Selenide)가 각광받고 있다.
CdTe와 CIGS는 사용 재료 중에서 In과 Ga 및 Te가 고가의 물질이고, Se과 Cd가 독성을 나타내는 단점이 있다.
이러한 단점을 해결하기 위하여 새로운 광흡수층 재질에 대한 관심도 계속 이어지고 있으며, 그 중에 SnS는 실리콘과 유사한 밴드갭(1.1 eV)을 가지나 광흡수계수가 실리콘에 비해 월등히 크기 때문에 1㎛ 이하의 얇은 박막만으로도 밴드갭보다 큰 영역의 태양광스펙트럼을 대부분 흡수할 수 있으며, 주석과 황은 범용원소로써 그 매장량이 풍부하고 독성도 없는 장점이 있다.
SnS 박막 기반의 태양전지는 최근 2-3년간 1.3%에서 4.36%까지 효율 증대에 괄목할만한 성과를 보여 왔는데, 열진공증발(thermally evaporated) 기반 공정의 경우 상대적으로 낮은 효율을 나타내었고, 현재 최고효율 성과는 ALD 공정에 의한 것이지만 이는 산업적 응용이 어려운 단점이 있다. 이러한 고비용의 SnS 박막 형성 공정으로 인하여 SnS 태양전지의 상용화가 이루어지지 못하고 있다.
미국공개특허 2014-0318623
V. Steinmann et al., Adv. Mater. 2014, DOI: 10.1002/adma.201402219
본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서 고품질의 칼코겐 화합물 박막을 낮은 비용으로 형성하는 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 태양전지용 SnS 광흡수층 박막 형성 방법은, Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 제조하는 단계; 상기 전구체액을 도포하여 전구체막을 형성하는 단계; 및 상기 전구체막을 열처리하는 단계;를 포함하여 구성되며, 상기 Sn 전구체물질과 상기 S 전구체물질이 액체 상태의 물질인 것을 특징으로 한다.
태양전지의 광흡수층으로 사용할 수 있는 칼코겐 화합물 박막을 저비용으로 대량생산할 수 있는 비진공 공정으로 제조하는 공정에 대한 연구는 많이 진행되었으며, 대부분이 황화 공정 또는 셀레늄화 공정을 적용하고 있다. 하지만 칼코겐 화합물의 일종인 SnS 박막의 경우는 Sn2S3나 SnS2와 같은 2차상이 생성되기 쉽기 때문에 종래의 일반적인 비진공 공정으로는 2차상이 없는 SnS 박막을 제조하는 것이 불가능한 것으로 알려져 있다.
이에 본 발명은 Sn의 전구체 물질로서 용액이 아닌 자체가 액체 상태인 물질을 사용하고, 이에 따라서 액체 상태인 S 전구체 물질을 함께 혼합한 전구체액을 제조하여 사용함으로써 열처리 공정에서 황화 열처리가 아닌 일반 열처리 공정을 적용할 수 있었으며, 결과적으로 2차상이 형성되지 않은 SnS 박막을 형성할 수 있었다.
특히, 본 발명은 액체 상태의 전구체 물질을 사용하여 전구체액을 도포한 뒤에 건조 공정을 적용할 필요가 없으며, 일반적으로 건조 공정을 진행하는 과정에서 전구체액이 산소 등과 접촉하기 때문에 원료가 산화되는 등의 문제가 생기는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다. 이와 같이, 본 발명은 건조공정을 수행할 필요가 없기 때문에 공정이 단축될 뿐만 아니라 건조과정에서 발생하는 전구체 물질의 산화 등의 문제도 해결할 수 있다.
이때, Sn 전구체 물질과 S 전구체 물질이 모두 용액 상태이기 때문에 전구체액에 포함된 Sn과 S의 몰비율을 조절하는 것이 용이하며, Sn과 S의 비율이 Sn/S가 0.8~1.5의 범위가 되도록 조절하는 것이 바람직하다. 이 비율을 벗어나는 경우에는 SnS를 구성하지 못하는 여분의 원소가 많아져서 SnS 박막의 품질이 나빠지는 단점이 있다.
그리고 열처리 공정은 450~520℃의 온도범위에서 수행되는 것이 바람직하며, 이 범위보다 낮은 경우에는 SnS 박막의 형성에 시간이 너무 오래 걸리고, 이보다 높은 온도에서는 SnS 박막의 품질이 나빠진다.
액체상태의 Sn 전구체 물질은 주석과 유기물을 복합한 액체 상태의 화합물인 주석-유기물 복합체로서 액체 상태인 물질일 수 있으며, 대표적으로 Sn-에칠헥사노에이트(Sn-ethylhexanoate)가 있다.
또한, 액체 상태의 S 전구체 물질은 DMSO 등의 물질인 것이 좋다.
그리고 열처리 단계는 불활성기체 분위기에서 수행되는 것이 좋다. 전구체액에 액체 상태의 S 전구체 물질을 포함하고 있기 때문에, 불활성 기체 분위기에서 수행하는 것이 바람직하다.
본 발명의 다른 형태에 의한 태양전지의 제조방법은 칼코겐 화합물 박막을 광흡수층으로 구비한 태양전지의 제조방법으로서, 광흡수층을 형성하는 공정이 상기한 박막 형상방법 중에 하나의 방법으로 수행되는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 태양전지 제조법에 따르면, 2차상이 포함되지 않은 SnS 박막을 낮은 공정비용으로 형성함으로써, 태양전지를 낮은 비용으로 제조할 수 있는 효과가 있다. 따라서 본 발명에 의해서 제조된 태양전지는 독성물질을 포함하지 않을 뿐만 아니라 발전에 필요한 전력당 비용을 크게 낮춰 비용 효율이 크게 향상되는 효과가 있다.
이때, 소다라임 유리 기판에 형성되는 것이 좋고, 소다라임 유리 기판 표면에는 몰리브덴 하부전극층을 형성하는 것이 좋다. 칼코겐 화합물 박막을 광흡수층으로 구비한 태양전지는 소다라임 유리 기판과 몰리브덴 하부전극층을 구비한 경우에 발전효율이 뛰어나다.
본 발명의 다른 형태에 의한 칼코겐 화합물 박막은, 태양전지의 광흡수층에 사용될 수 있는 칼코겐 화합물 박막으로서, 액체 상태의 Sn 전구체물질과 액체 상태의 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 도포한 뒤에 열처리를 수행함으로써 Sn2S3와 SnS2가 형성되지 않은 것을 특징으로 한다. 나아가 본 발명의 칼코겐 화합물 박막은 액체 상태의 전구체 물질을 사용하여 건조 공정을 수행하지 않았기 때문에 건조 과정에서 전구체 물질과 산소와 반응하는 문제가 없으며, 그 결과 박막에 산화물이 존재하지 않는 특징이 있다.
본 발명의 마지막 형태에 의한 태양전지는, 칼코겐 화합물 박막을 광흡수층으로 구비한 태양전지로서, 상기 칼코겐 화합물 박막이, 액체 상태의 Sn 전구체물질과 액체 상태의 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 도포한 뒤에 열처리를 수행함으로써 Sn2S3와 SnS2가 형성되지 않은 것을 특징으로 한다.
상술한 바와 같이 구성된 본 발명은, 액체상태의 전구체 물질을 사용하여 황화 열처리 공정 없이 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 방법을 제공함으로써, 고품질의 SnS 박막을 비용이 낮고 대량생산에 적합한 공정으로 형성할 수 있는 뛰어난 효과를 나타낸다.
또한, 액체 상태의 전구체 물질을 사용하기 때문에 코팅과정에서 별도의 건조공정을 수행할 필요가 없으므로, 전체 공정이 단축될 뿐만 아니라 건조과정에서 발생하는 전구체 물질의 산화 등의 문제도 방지할 수 있는 효과가 있다.
나아가 대량생산에 적합한 공정으로 광흡수층을 형성함으로써, 칼코겐 화합물 박막 태양전지를 낮은 비용으로 제조할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라서 형성된 SnS 박막과 비교예에 따라서 제조된 박막에 대한 XRD 분석 결과이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따라서 제조된 SnS 박막의 표면을 촬영한 전자현미경 사진이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따라서 제조된 SnS 박막의 단면을 촬영한 전자현미경 사진이다.
도 4는 비교예에 따라서 제조된 SnS 박막의 표면을 촬영한 전자현미경 사진이다.
도 5는 비교예에 따라서 제조된 SnS 박막의 단면을 촬영한 전자현미경 사진이다.
첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.
본 발명의 실시예에 따른 SnS 박막의 형성방법은, 먼저 전구체 물질을 포함하는 전구체액을 제조하고, 전구체액을 막 형태로 코팅한 뒤에 열처리하여 수행된다.
전구체액의 제조를 위해서 액체상(liquid phase)의 Sn 전구체물질인 Sn-에칠헥사노에이트(Sn-ethylhexanoate)와 액체상의 S 전구체물질인 DMSO(dimethyl sulfoxide, 다이메틸설폭사이드)를 혼합하였다.
본 실시예에서 사용된 Sn 전구체물질과 S 전구체물질은 모두 액체 상태이기 때문에 별도의 용매를 사용하지 않고, Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 혼합하여 전구체액을 제조하였다. 이때, Sn-에칠헥사노에이트와 DMSO는 몰비를 기준으로 1:1의 양으로 혼합하여 전구체액을 제조하였다.
다음으로 전구체액을 2000rpm으로 20초간 스핀 코팅하여 넓게 펼침으로써 전구체막을 형성하였다. 본 실시예에서 제조된 전구체액은 용액이 아닌 그 자체로 액체 상태인 전구체 물질을 혼합한 것이고 점도가 높은 상태이기 때문에, 별도의 건조 과정 없이 20초간 1회의 스핀 코팅 공정만으로 충분한 두께의 전구체막을 형성할 수 있었다.
마지막으로 스핀 코팅된 전구체막을 열처리하여 SnS를 합성한다. 본 실시예의 열처리 공정은 질소 가스 분위기에서 500℃의 온도에서 30분 동안 수행되었다. 본 실시예의 전구체액은 Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 모두 포함하기 때문에 SnS 합성을 위하여 별도의 물질을 추가할 필요가 없으며, 질소 분위기에서 열처리하는 것만으로도 SnS 박막을 형성할 수 있다. 우선 챔버 내부를 10-4~-5torr의 진공상태로 만든 뒤에 1.02atm 까지 질소 가스를 채워 넣고, 500℃까지 승온하여 30분 동안 유지하였다.
상기한 본 발명에 따른 실시예의 효과를 확인하기 위한 비교예로서 종래의 방식으로 SnS 박막을 형성하였다. 비교예의 SnS 박막 형성 방법은 전구체 용액을 제조하여 스핀 코팅한 뒤에 열처리하는 기본적인 내용은 유사하지만, 각 단계의 구체적 내용에서 본 발명과 차이가 있다.
먼저, 전구체 용액을 제조하는 과정에서 일반적인 방식에 따라서 분말 상태의 Sn 전구체인 Sn 아세테이트(Sn(Ac)2)를 용매인 피리딘(pyridine)에 녹여 전구체 용액을 제조하였으며, Sn 아세테이트와 피리딘은 중량을 기준으로 1:10의 비율로 혼합하였다.
다음으로 제조된 전구체 용액을 스핀 코팅으로 넓게 펼쳐 전구체막을 형성하였다. 본 실시예의 전구체액과 달리 비교예의 전구체 용액은 고체 상태의 Sn 전구체를 용매에 녹인 것이고 점도도 낮기 때문에, 2000rpm으로 20초 동안 스핀코팅을 수행한 뒤에 200℃의 온도에서 4분간 건조시키는 과정을 5회 반복하여 전구체막을 형성하였다. 건조과정을 포함함으로써, 상기한 본 실시예에 비하여 공정 시간이 추가되어 전체 공정이 길어지는 결과가 되었다. 또한, 건조 공정은 간단하게 대기 분위기에서 수행하는 것이 일반적이며, 건조 과정에서 대기 중의 산소와 전구체가 반응할 수 있는 단점도 가지고 있다.
마지막으로 전구체막에 황화 열처리를 수행하였다. 비교예의 전구체 용액에는 Sn 전구체만 포함되었기 때문에, 열처리 과정에서 S를 공급하여 전구체막에 포함된 Sn과 S를 반응시키는 황화 열처리(sulfurization)를 수행하였다. 황화 열처리를 위하여 우선 챔버 내부를 10-4~-5torr의 진공상태로 만든 뒤에 1.02atm 까지 질소 가스를 채워 넣었으며, 이후 H2S 가스를 흘려 넣어주면서 650℃까지 승온하여 30분간 황화 열처리를 수행하였다. 황화 열처리를 수행하기 때문에 상기한 실시예에 비하여 높은 온도에서 열처리를 수행하였고, 열처리 과정에서 H2S가스는 100sccm으로 유입시켰으며, 질소 가스도 30sccm으로 유입시켰다.
이하에서는 본 발명에 따른 실시예와 비교예에 의해서 제조된 박막의 특성을 확인한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따라서 형성된 SnS 박막과 비교예에 따라서 제조된 박막에 대한 XRD 분석 결과이다.
도시된 것과 같이, 본 실시예에 따라 형성된 SnS 박막은 SnS 이외에 다른 2차상에 대한 피크는 관찰되지 않았으나, 비교예에 의해서 제조된 박막에는 SnS 이외에 Sn2S3와 SnS2에 의한 피크도 강하게 나타난다.
비교예와 같이, 분말 상태의 전구체 물질을 포함하는 용액으로 전구체막을 형성한 뒤에 황화(또는 셀레늄화) 열처리하여 칼코겐 화합물 박막을 형성하는 것은 CIS나 CIGS 등의 박막을 제조하는 경우에 일반적으로 사용되는 방법이다. 이러한 방식은 고비용 공정인 진공공정에 비하여 박막의 품질이 좋지 못하지만, 비진공 공정의 낮은 공정비용에 따른 경제적 이익이 높기 때문에 비진공 방식의 형성공정이 사용되고 있다. 하지만, 상기한 비교예의 결과에서 알 수 있듯이, SnS 박막을 형성하는 경우에는 단순히 품질의 문제를 벗어나 SnS와 함께 2차상이 과도하게 생성되기 때문에 SnS 박막을 형성할 때에는 비진공 공정을 사용하지 못하는 것으로 알려져 있었다.
본 발명은, 액체 상태의 Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 혼합한 전구체액을 사용함으로써, 분말이 용해된 전구체 용액의 문제 및 황화 열처리 과정의 단점까지 해결하여 도 1에 도시된 것과 같이 2차상을 포함하지 않는 SnS 박막을 형성할 수 있는 새로운 비진공 공정에 대한 것이다.
도 2와 도 3은 본 발명의 실시예에 따라서 형성된 SnS 박막의 표면과 단면을 촬영한 전자현미경 사진이고, 도 4와 도 5는 비교예에 따라서 형성된 SnS 박막의 표면과 단면을 촬영한 전자현미경 사진이다.
도시된 것과 같이, 본 실시예에 의해서 형성된 박막과 비교예에 의해서 형성된 박막은 표면과 단면의 미세 구조에서 차이가 있으며, 이는 황화 열처리 수행 여부 및 박막 내부에 2차상이 형성되었는지 여부에 의한 것이다.
본 실시예에 따라서 형성된 박막의 경우에 표면과 단면에서 더욱 규칙적인 형태인 것을 확인할 수 있고, 비교예에 의해서 형성된 박막은 2차상이 존재하기 때문에 불규칙한 미세구조를 나타내고 있다.
이상의 내용으로부터 본 발명에 따른 방법을 적용하면 공정비용이 매우 낮은 비진공 공정을 적용하면서도 2차상이 없은 고품질의 SnS 박막을 형성할 수 있는 것을 확인할 수 있었으며, 이러한 SnS 박막을 태양전지의 광흡수층으로 적용할 수 있으며, 본 발명의 박막 형성 공정을 광흡수층 형성공정으로 적용하여 태양전지를 제조할 수 있다.
본 발명의 다른 형태에 의한 태양전지는 광흡수층 및 그 제조공정을 상기한 SnS 박막형성 공정을 적용하는 것을 제외하고는 일반적인 칼코겐화합물 박막 태양전지의 내용을 그대로 적용할 수 있다. 구체적으로 칼코겐화합물 광흡수층의 성능을 향상시키는 것으로 알려진 소다라임 유리 기판 및 몰리브덴 하부전극을 사용하는 등의 내용을 모두 포함할 수 있으므로 구체적인 설명은 생략한다.
이러한 방법으로 제조된 태양전지는 광흡수층 형성 공정을 낮은 비용으로 수행하기 때문에 태양전지 제조비용을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다.
이상 본 발명을 바람직한 실시예를 통하여 설명하였는데, 상술한 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과하며, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화가 가능함은 이 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 보호범위는 특정 실시예가 아니라 특허청구범위에 기재된 사항에 의해 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술적 사상도 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (14)

  1. Sn 전구체물질과 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 제조하는 단계;
    상기 전구체액을 도포하여 전구체막을 형성하는 단계; 및
    상기 전구체막을 열처리하여 SnS를 형성하는 단계;를 포함하여 구성되며,
    상기 Sn 전구체물질과 상기 S 전구체물질이 액체 상태의 물질인 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 전구체액에 포함된 Sn과 S의 비율이 Sn/S가 0.8~1.5의 범위인 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 열처리 공정이 450~520℃의 온도범위에서 수행되는 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 Sn 전구체물질이 액체상태의 주석-유기물 복합체인 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 주석-유기물 복합체가 Sn-에칠헥사노에이트(Sn-ethylhexanoate)인 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 S 전구체물질이 DMSO인 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  7. 청구항 1에 있어서,
    상기 열처리 단계가 불활성기체 분위기에서 수행되는 것을 특징으로 하는 SnS 박막 형성 방법.
  8. 태양전지의 제조방법으로서,
    광흡수층을 형성하는 공정이 청구항 1 내지 청구항 7 중 하나의 방법으로 수행되는 것을 특징으로 하는 태양전지의 제조방법.
  9. 청구항 8에 있어서,
    상기 태양전지가 소다라임 유리 기판에 형성되는 것을 특징으로 하는 태양전지의 제조방법.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 소다라임 유리 기판 표면에 몰리브덴 하부전극층을 형성한 것을 특징으로 하는 태양전지의 제조방법.
  11. 태양전지의 광흡수층에 사용될 수 있는 SnS 박막으로서,
    액체 상태의 Sn 전구체물질과 액체 상태의 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 도포한 뒤에 열처리를 수행함으로써 Sn2S3와 SnS2가 형성되지 않은 것을 특징으로 하는 SnS 박막.
  12. SnS 박막을 광흡수층으로 구비한 태양전지로서,
    상기 SnS 박막이, 액체 상태의 Sn 전구체물질과 액체 상태의 S 전구체물질을 포함하는 전구체액을 도포한 뒤에 열처리를 수행함으로써 Sn2S3와 SnS2가 형성되지 않은 것을 특징으로 하는 태양전지.
  13. 청구항 12에 있어서,
    상기 태양전지가 소다라임유리 기판에 형성된 것을 특징으로 하는 태양전지.
  14. 청구항 12에 있어서,
    상기 태양전지가 몰리브덴을 후면전극층으로 포함하는 것을 특징으로 하는 태양전지.
KR1020150159160A 2015-11-12 2015-11-12 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법 KR101723096B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150159160A KR101723096B1 (ko) 2015-11-12 2015-11-12 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법
US15/209,837 US10056512B2 (en) 2015-11-12 2016-07-14 Method of forming chalcogen compound light-absorption layer thin film for solar cell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150159160A KR101723096B1 (ko) 2015-11-12 2015-11-12 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101723096B1 true KR101723096B1 (ko) 2017-04-05

Family

ID=58586602

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150159160A KR101723096B1 (ko) 2015-11-12 2015-11-12 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10056512B2 (ko)
KR (1) KR101723096B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111295292A (zh) 2017-09-26 2020-06-16 艾利丹尼森零售信息服务公司 热转移标签

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101386901B1 (ko) * 2013-03-08 2014-04-18 고려대학교 산학협력단 용액합성법을 이용한 테이퍼 모양의 황화주석 나노라드의 제조방법
US20140318623A1 (en) 2013-04-30 2014-10-30 Alliance For Sustainable Energy, Llc Photovoltaic semiconductor materials based on alloys of tin sulfide, and methods of production
KR20150051151A (ko) * 2013-10-31 2015-05-11 재단법인대구경북과학기술원 Ｃｚｔｓ계 태양전지용 박막의 제조방법
KR20150051148A (ko) * 2013-10-31 2015-05-11 재단법인대구경북과학기술원 Ｃｚｔｓ계 태양전지용 박막의 제조방법
KR101540032B1 (ko) * 2012-02-27 2015-07-29 중앙대학교 산학협력단 황화주석 박막 형성용 전구체 및 그의 제조 방법

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4681777A (en) * 1986-05-05 1987-07-21 Engelken Robert D Method for electroless and vapor deposition of thin films of three tin sulfide phases on conductive and nonconductive substrates
US8138084B2 (en) * 2009-12-23 2012-03-20 Intel Corporation Electroless Cu plating for enhanced self-forming barrier layers
WO2011123675A1 (en) 2010-04-01 2011-10-06 President And Fellows Of Harvard College Cyclic metal amides and vapor deposition using them
KR101512749B1 (ko) 2012-02-27 2015-04-17 중앙대학교 산학협력단 황화주석 박막 형성용 전구체 및 그의 제조 방법
KR101331971B1 (ko) 2012-05-07 2013-11-25 한국화학연구원 아미노싸이올레이트를 이용한 주석 전구체, 이의 제조방법 및 이를 이용하여 박막을 형성하는 방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101540032B1 (ko) * 2012-02-27 2015-07-29 중앙대학교 산학협력단 황화주석 박막 형성용 전구체 및 그의 제조 방법
KR101386901B1 (ko) * 2013-03-08 2014-04-18 고려대학교 산학협력단 용액합성법을 이용한 테이퍼 모양의 황화주석 나노라드의 제조방법
US20140318623A1 (en) 2013-04-30 2014-10-30 Alliance For Sustainable Energy, Llc Photovoltaic semiconductor materials based on alloys of tin sulfide, and methods of production
KR20150051151A (ko) * 2013-10-31 2015-05-11 재단법인대구경북과학기술원 Ｃｚｔｓ계 태양전지용 박막의 제조방법
KR20150051148A (ko) * 2013-10-31 2015-05-11 재단법인대구경북과학기술원 Ｃｚｔｓ계 태양전지용 박막의 제조방법

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
V. Steinmann et al., Adv. Mater. 2014, DOI: 10.1002/adma.201402219

Also Published As

Publication number Publication date
US20170141250A1 (en) 2017-05-18
US10056512B2 (en) 2018-08-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Lei et al. Review of recent progress in antimony chalcogenide‐based solar cells: materials and devices
Chantana et al. Impact of Urbach energy on open-circuit voltage deficit of thin-film solar cells
Tang et al. n-type doping of Sb2S3 light-harvesting films enabling high-efficiency planar heterojunction solar cells
US10109755B2 (en) Capping layers for improved crystallization
Maeda et al. Influence of H2S concentration on the properties of Cu2ZnSnS4 thin films and solar cells prepared by sol–gel sulfurization
Xiao et al. Influencing mechanism of the selenization temperature and time on the power conversion efficiency of Cu2ZnSn (S, Se) 4-based solar cells
Jo et al. 8% Efficiency Cu2ZnSn (S, Se) 4 (CZTSSe) thin film solar cells on flexible and lightweight molybdenum foil substrates
Zheng et al. Solid-state nanocrystalline solar cells with an antimony sulfide absorber deposited by an in situ solid–gas reaction
Suryawanshi et al. A simple aqueous precursor solution processing of earth-abundant Cu2SnS3 absorbers for thin-film solar cells
JP5709662B2 (ja) Ｃｚｔｓ系薄膜太陽電池の製造方法
CN102034898A (zh) 一种太阳电池用铜铟硫光电薄膜材料的制备方法
KR20070015604A (ko) 박막 황동광 화합물 제조 방법
JP2010141307A (ja) 薄膜太陽電池の製法
US20140209174A1 (en) Ink for forming compound semiconductor thin film and production method thereof
Baid et al. A comprehensive review on Cu 2 ZnSnS 4 (CZTS) thin film for solar cell: forecast issues and future anticipation
Kahraman et al. Effects of diethanolamine on sol–gel–processed Cu2ZnSnS4 photovoltaic absorber thin films
TW201743460A (zh) 金屬摻雜之Cu(In,Ga)(S,Se)2奈米顆粒
CN103400903A (zh) 一种提高铜锌锡硫薄膜晶粒尺寸和致密度的制备方法
KR20100034817A (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
Saha A Status Review on Cu2ZnSn (S, Se) 4‐Based Thin‐Film Solar Cells
Akcay et al. Investigation on photovoltaic performance of Cu2SnS3 thin film solar cells fabricated by RF-sputtered In2S3 buffer layer
Chander et al. Nontoxic and earth-abundant Cu2ZnSnS4 (CZTS) thin film solar cells: a review on high throughput processed methods
CN109904255B (zh) 一种Cr-Se共掺杂硫化锌太阳能电池缓冲层薄膜材料的制备方法
KR101210171B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조방법
KR101723096B1 (ko) 태양전지용 SnS 박막 형성 방법 및 이를 이용한 태양전지의 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191210

Year of fee payment: 4