KR101713374B1 - 조명장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 조명장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 광원을 갖고, 검사 대상물을 향해 광을 조사하기 위한 조명장치에 있어서, 상기 광원에서 발생되는 광을 가이드하여 조사하되, 상호 교차되는 각도로 광을 조사하도록 경사지게 두 개의 열이 배열되는 광섬유, 및 상기 광섬유 열의 전측으로 위치되어 상기 각 광섬유 열에서 조사되는 광을 각각 굴절시켜 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호 교차시키는 렌즈;를 포함하여 이루어진다.
상기와 같은 본 발명에 의하면, 두 열의 광섬유에 의해 광원 위치와 무관하게 광을 조사하여 상호 교차시킬 수 있어 종래 촬영장비의 위치에 따라 한정되던 광원의 위치문제를 해소할 수 있다.

Description

조명장치{Lighting device}
본 발명은 조명장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 촬영장비의 위치와 무관하게 광원을 위치시킬 수 있고, 이 광원의 광을 조사하여 검사 대상물의 결함을 용이하게 확인할 수 있는 조명장치에 관한 것이다.
일반적으로, 액정표시장치 등의 제조과정에서 화소의 결함이나 발색의 불량, 불균일 및 휘도 등을 검사할 목적으로, 액정패널에 드라이버 IC를 설치하기 전에, 액정봉입 후의 액정패널의 검사가 행하여지고 있다.
검사에 사용되는 검사장치에서는 검사용 조명장치에 의해 액정패널을 배면측으로부터 조명하여 그 투과특성을 검사하고 있다.
이 검사장치로서는 CCD 카메라를 사용하여 검사하는 자동검사장치 또는 작업자가 육안으로 검사하는 육안 검사장치가 사용된다.
여기서, 카메라를 이용하는 자동검사장치는 종래 실용신안 제1993-0003718호에서 개진된 바와 같다.
이 조명장치는 검사 대상물을 향해 광을 조사한 후, 결함이 있는 부위에서 굴절되는 광을 확인함으써 결함 유무를 판단하게 된다.
종래 조명장치의 실시 예는, 검사 대상물의 상면에 존재하는 결함을 찾기위한 것이고, 하면에 존재하는 결함을 찾기위해선 검사 대상물의 하측에서 광을 조사하여 결합을 찾게 된다.
그러나 이러한 종래 조명장치는 검사 대상물의 비교적 넓은 부위로 광을 조사하여 검사를 함에 따라 검사 속도는 증가시킬 수 있지만, 결함에 조사된 광은 일부는 통과하고 일부는 반사되어 결함이 없는 부위까지 결함으로 판단될 수 있어 정밀도가 떨어지는 문제점이 있다.
이러한 문제를 해소하기 위해 다수 회 검사를 다시 실시하고, 육안으로도 확인을 하고 있지만, 이는 오히려 검사시간을 증가시키고, 작업자의 피로도를 높이는 문제점이 있다.
이에 따라, 검사 회수를 줄여 검사시간을 단축시키되, 정밀도를 향상시키고, 작업자의 피로도를 감소시켜 작업효율성을 향상시킬 수 있는 기술에 대한 개발이 절실히 요구되는 실정이다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점들을 해소하기 위해 안출된 것으로써, 광원에서 발생되는 광을 가이드하여 조사하되, 상호 교차되는 각도로 광을 조사하도록 경사지게 두 개의 열이 배열되는 광섬유 및 광섬유 열의 전측으로 위치되어 각 광섬유 열에서 조사되는 광을 각각 굴절시켜 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호 교차시키는 렌즈로 구성되어 촬영장비의 위치와 무관하게 설치되는 광원의 광을 가이드하여 랜즈에 의해 상호 교차시킬 수 있는 조명장치를 제공하는 것이 목적이다.
상기 목적을 이루기 위한 본 발명은, 광원을 갖고, 검사 대상물을 향해 광을 조사하기 위한 조명장치에 있어서, 상기 광원에서 발생되는 광을 가이드하여 조사하되, 상호 교차되는 각도로 광을 조사하도록 경사지게 두 개의 열이 배열되는 광섬유, 및 상기 광섬유 열의 전측으로 위치되어 상기 각 광섬유 열에서 조사되는 광을 각각 굴절시켜 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호 교차시키는 렌즈;를 포함하여 이루어진다.
바람직하게, 상기 광섬유 열은 제1광섬유열과 제2광섬유열로 구성되고, 상기 광원과 검사 대상물을 지나는 연장선을 기준으로, 상기 제1광섬유열과 제2광섬유열은 상호 대칭되는 각도로 설치되어 광을 조사된다.
그리고 상기 제1광섬유열과 제2광섬유열의 설치 각도는 상기 연장선을 기준으로 30 ~ 60°이다.
또한, 상기 렌즈는, 원기둥이며, 상기 광섬유 열을 따라 수평방향으로 구비되어 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호방향으로 굴절시켜 상호 조사된 광이 교차된다.
그리고 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하도록 위치조절부가 더 구비된다.
또한, 상기 위치조절부는, 상기 광섬유 열을 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절한다.
그리고 상기 위치조절부는, 상기 렌즈를 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절한다.
또한, 상기 위치조절부는, 상기 광섬유 열과 렌즈 중 어느 하나 이상을 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절한다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 의한 조명장치에 의하면, 두 열의 광섬유에 의해 광원 위치와 무관하게 광을 조사하여 상호 교차시킬 수 있어 종래 촬영장비의 위치에 따라 한정되던 광원의 위치문제를 해소할 수 있으며, 라인스캔을 할 수 있게 하여 검사 회수를 줄여도 정밀도를 향상시킬 수 있게 하는 매우 유용하고 효과적인 발명이다.
도 1은 본 발명에 따른 조명장치를 도시한 도면이고,
도 2는 본 발명에 따른 조명장치의 작동상태를 도시한 도면이며,
도 3은 본 발명에 따른 조명장치의 정면도를 도시한 도면이고,
도 4는 본 발명에 따른 조명장치의 측면도를 도시한 도면이며,
도 5는 본 발명에 따른 조명장치에 위치조절부가 더 구비된 상태를 도시한 도면이다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.
또한, 본 실시 예는 본 발명의 권리범위를 한정하는 것은 아니고 단지 예시로 제시된 것이며, 그 기술적 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변경이 가능하다.
도 1은 본 발명에 따른 조명장치를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 조명장치의 작동상태를 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명에 따른 조명장치의 정면도를 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 조명장치의 측면도를 도시한 도면이며, 도 5는 본 발명에 따른 조명장치에 위치조절부가 더 구비된 상태를 도시한 도면이다.
도면에서 도시한 바와 같이, 조명장치(10)는 검사 대상물에 광을 조사하기 위한 광원(20)과 광섬유(100)와 렌즈(200)로 구성된다.
광섬유(100)는 광원(20)에서 발생되는 광을 가이드하여 조사하되, 상호 교차되는 각도로 광을 조사하도록 경사지게 두 개의 열(110, 120)이 배열된다.
그리고 렌즈(200)는 광섬유(100) 열의 전측으로 위치되어 각 광섬유 열(110, 120)에서 조사되는 광을 각각 굴절시켜 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호 교차시키게 된다.
이에 검사 대상물을 두 개의 광섬유 열(110, 120)이 교차되는 위치(F)로 이동시켜 검사준비를 하는 것이다.
이러한 광섬유 열은 제1광섬유열(110)과 제2광섬유열(120)로 구성된다.
이 제1광섬유열(110)과 제2광섬유열(120)의 설치 각도는 광원(20)과 검사 대상물을 지나는 연장선(A)을 기준으로, 상호 대칭되는 각도로 설치되어 광을 조사하게 된다.
여기서, 제1광섬유열(110)과 제2광섬유열(120)의 설치 각도는 연장선(A)을 기준으로 각각 30 ~ 60°로 형성되며, 각 45°로 형성됨이 바람직하다.
그리고 렌즈(200)는 원기둥이며, 광섬유 열을 따라 수평방향으로 구비되어 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호방향으로 굴절시켜 상호 조사된 광이 교차되는 것이다.
또한 도 5에서 도시한 바와 같이, 두 개의 광섬유 열(110, 120)에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하도록 위치조절부(300)가 더 구비된다.
이 위치조절부(300)는 광섬유 열(110, 120)을 변위시켜 렌즈(200)에 의해 굴절되어 상호 교차되는 위치를 조절할 수 있다.
한편, 위치조절부(300)는 렌즈(200)를 변위시켜 두 개의 광섬유 열(110, 120)에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절할 수도 있다.
그리고 위치조절부(300)는 광섬유 열(110, 120)과 렌즈(200) 중 어느 하나 이상을 변위시켜 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절할 수도 있다.
다시 말해, 위치조절부(300)는 광섬유 열(110, 120)과 렌즈(200)를 동시에 변위시켜 상호 교차되는 위치를 조절하는 것이다.
이에, 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 정밀하게 조절할 수 있게 된다.
10 : 조명장치 20 : 광원
100 : 광섬유 110 : 제1광섬유열
120 : 제2광섬유열 200 : 렌즈
300 : 위치조절부

Claims (8)

  1. 광원을 갖고, 검사 대상물을 향해 광을 조사하기 위한 조명장치에 있어서,
    상기 광원에서 발생되는 광을 가이드하여 조사하되, 상호 교차되는 각도로 광을 조사하도록 경사지게 두 개의 열이 배열되는 광섬유; 및
    상기 광섬유 열의 전측으로 위치되어 상기 각 광섬유 열에서 조사되는 광을 각각 굴절시켜 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호 교차시키는 렌즈;를 포함하고,
    상기 렌즈는,
    원기둥이며, 상기 광섬유 열을 따라 수평방향으로 구비되어 각 광섬유 열에서 조사된 광을 상호방향으로 굴절시켜 상호 조사된 광이 교차되는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 광섬유 열은 제1광섬유열과 제2광섬유열로 구성되고,
    상기 광원과 검사 대상물을 지나는 연장선을 기준으로, 상기 제1광섬유열과 제2광섬유열은 상호 대칭되는 각도로 설치되어 광을 조사하는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 제1광섬유열과 제2광섬유열의 설치 각도는 상기 연장선을 기준으로 30 ~ 60°인 것을 특징으로 하는 조명장치.
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하도록 위치조절부가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 위치조절부는,
    상기 광섬유 열을 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  7. 제5항에 있어서, 상기 위치조절부는,
    상기 렌즈를 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  8. 제5항에 있어서, 상기 위치조절부는,
    상기 광섬유 열과 렌즈 중 어느 하나 이상을 변위시켜 상기 두 개의 광섬유 열에서 조사되어 상호 교차되는 위치를 조절하는 것을 특징으로 하는 조명장치.
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