KR101713025B1

KR101713025B1 - 면취 측정기

Info

Publication number: KR101713025B1
Application number: KR1020160116255A
Authority: KR
Inventors: 김영현
Original assignee: 김영현
Priority date: 2016-09-09
Filing date: 2016-09-09
Publication date: 2017-03-22

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기는, 내측에 타공부가 형성되고 모서리에 면취부가 형성된 구조물에 장착하여 상기 면취부의 면취 깊이를 측정하기 위한 치수 측정 장치로서, 상기 타공부에 하방 삽입되는 원통형 고정부가 하방으로 돌출 형성되고, 상기 하우징 내부에 상기 원통형 고정부로부터 미리 설정된 간격만큼 측방으로 이격된 위치에서 하우징을 상하 방향으로 관통하도록 관통홀이 형성된 하우징; 상기 관통홀에 배치되는 핀 본체와, 상기 핀 본체의 하단으로부터 하방으로 연장되고 미리 설정된 경사각으로 테이퍼진 테이퍼부와, 상기 테이퍼부의 하단으로부터 하방으로 연장되는 핀 단부를 포함하는 측정핀으로서, 상기 테이퍼부 및 상기 핀 단부는 상기 하우징의 하면으로부터 돌출된 상태로 위치 고정되며, 상기 관통홀을 따라 상기 하우징의 내부로 직선 이동하도록 구성되는 측정핀; 및 상기 측정핀과 연동되어 측정핀의 상방 이동량을 측정하는 측정부;를 포함하고, 상기 원통형 고정부가 상기 타공부에 삽입된 상태에서 상기 면취 측정기를 회전시켜 상기 측정핀의 테이퍼부를 상기 구조물의 면취부에 접촉시키고, 상기 면취 측정기를 더 회전시켜 상기 테이퍼부를 상기 면취부에 압착시킴에 따라, 상기 테이퍼부 하단의 핀 단부가 상기 면취부 하방 측면에 접촉할 때까지 상기 측정핀이 상기 하우징의 내부로 상방 이동한다.

Description

면취 측정기{CHAMFER MEASURING DEVICE}

본 발명은 면취 깊이를 측정하기 위한 면취 측정기에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 면취 측정기의 측정핀을 경사진 면취부에 평면 방향으로 압박함에 따라 측정핀의 테이퍼부가 면취부의 경사진 면취면을 따라 상방 이동하도록 구성되고, 측정핀의 상방 이동량으로부터 면취부의 면취 깊이를 측정하는, 면취 측정기에 관한 것이다.

종래기술로서, 공개특허공보 제10-2003-0074820호(워크의 내경 치수 측정 방법 및 장치)에 의하면, 상기 워크의 내경 치수 측정 방법 및 장치는 내경 치수가 이미 알려진 마스터의 내주부에 압축 공기를 공급하여, 그 배압을 검출하며, 그 측정 결과로부터 내경 치수와 배압의 관계를 나타내는 배압 특성을 산출하고, 다음에, 측정 대상의 워크의 내주부에 압축 공기를 공급하여, 그 배압을 검출하고, 상기 배압 특성에 기초하여 워크의 내경 치수를 측정하며, 이에 따라, 워크를 회전시키지 않고서 워크의 내경 치수를 측정할 수 있으며, 이렇게 하여 워크의 내경 치수를 측정할 수 있는 내경 치수 측정 방법 및 장치가 제공된다고 기재되어 있다.

그러나, 이와 같은 종래기술에 따른 치수 측정 장치는 그 구조와 측정 방식이 복잡하므로, 구조가 단순하고 간편하게 면취량을 측정 가능한 장치의 개발이 요구되어 왔다.

본 발명은 면취 깊이를 측정하기 위한 구조가 간단하여 사용이 용이한 면취 측정기를 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기는, 내측에 타공부가 형성되고 모서리에 면취부가 형성된 구조물에 장착하여 상기 면취부의 면취 깊이를 측정하기 위한 치수 측정 장치로서, 상기 타공부에 하방 삽입되는 원통형 고정부가 하방으로 돌출 형성되고, 상기 하우징 내부에 상기 원통형 고정부로부터 미리 설정된 간격만큼 측방으로 이격된 위치에서 하우징을 상하 방향으로 관통하도록 관통홀이 형성된 하우징; 상기 관통홀에 배치되는 핀 본체와, 상기 핀 본체의 하단으로부터 하방으로 연장되고 미리 설정된 경사각으로 테이퍼진 테이퍼부와, 상기 테이퍼부의 하단으로부터 하방으로 연장되는 핀 단부를 포함하는 측정핀으로서, 상기 테이퍼부 및 상기 핀 단부는 상기 하우징의 하면으로부터 돌출된 상태로 위치 고정되며, 상기 관통홀을 따라 상기 하우징의 내부로 직선 이동하도록 구성되는 측정핀; 및 상기 측정핀과 연동되어 측정핀의 상방 이동량을 측정하는 측정부;를 포함하고, 상기 원통형 고정부가 상기 타공부에 삽입된 상태에서 상기 면취 측정기를 회전시켜 상기 측정핀의 테이퍼부를 상기 구조물의 면취부에 접촉시키고, 상기 면취 측정기를 더 회전시켜 상기 테이퍼부를 상기 면취부에 압착시킴에 따라, 상기 테이퍼부 하단의 핀 단부가 상기 면취부 하방 측면에 접촉할 때까지 상기 측정핀이 상기 하우징의 내부로 상방 이동한다.

또한, 상기 테이퍼부의 경사각은 상기 면취부의 면취각과 동일하고, 상기 테이퍼부의 높이는 상기 면취부의 면취 깊이보다 큰 것일 수 있다.

또한, 상기 테이퍼부는 경사각이 측정 대상이 되는 구조물의 면취부의 면취각에 대응하는 형태로 변경 가능하다.

또한, 상기 관통홀의 상방에는 관통홀보다 큰 직경의 안착홈이 형성되고, 상기 측정핀의 핀 본체 상단에는 플랜지부가 형성되며, 상기 핀 본체가 상기 관통홀에 배치될 때, 상기 플랜지부가 상기 안착홈의 저면에 걸려 상기 측정핀의 하방 이동이 억제될 수 있다.

또한, 상기 측정부는 연결부를 통해 상기 하우징의 상방에 결합되고, 상기 연결부와 상기 하우징의 안착홈 및 관통홈은 동축 상에 배열되며, 상기 연결부 내부에는 상기 플랜지부를 하방으로 압박하는 탄성 스프링이 설치될 수 있다.

또한, 상기 측정부로부터 연장되어 상기 플랜지부에 접촉하는 스핀들이 상기 연결부의 내부에 배치되고, 상기 측정핀의 상방 이동량은 상기 스핀들을 통해 상기 측정부에 전달될 수 있다.

본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기는 워크에 장착하고 면취 측정기를 회전하는 조작만으로 면취부의 면취 깊이를 측정하는 것이 가능하도록 구성되어 있으므로, 면취 깊이를 간편하고 용이하게 측정 가능하다는 이점을 제공한다.

또한, 면취부의 경사각과 면취 깊이가 각 워크마다 상이하더라도, 측정자에 끼워지는 테이퍼부의 형태만 바꿔 적용하는 것으로서 다양한 워크에 대하여 면취 깊이 측정이 가능하다는 이점이 있다.

또한, 본 발명의 면취 측정기는 구조가 매우 단순하고 크기가 작기 때문에, 사용이 용이하고 보관이 쉽다는 장점이 있다.

도 1은 본 발명의 면취 측정기의 측정 대상이 되는 피측정 대상 부품(구조물)을 예시적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기의 사시도이다.
도 3a는 면취 측정기의 좌측면도이다.
도 3b는 면취 측정기의 정면도이다.
도 3c는 면취 측정기의 우측면도이다.
도 3d는 면취 측정기의 저면도이다.
도 4a는 본 발명의 피측정 대상 부품(구조물)의 평면도이다.
도 4b는 도 4a의 정면도이다.
도 5는 본 발명의 비교에에 따른 면취 측정기를 설명하기 위한 개념도이다.
도 6a 내지 6d는 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기를 사용한 면취 깊이 측정 방법을 설명하기 위한 개념도이다.

본 발명의 목적 및 효과, 그리고 그것들을 달성하기 위한 기술적 구성들은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 뒤에 설명되는 실시 예들을 참조하면 명확해질 것이다. 본 발명을 설명함에 있어서 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐를 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고 뒤에 설명되는 용어들은 본 발명에서의 구조, 역할 및 기능 등을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다.

그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있다. 단지 본 실시 예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 오로지 특허청구범위에 기재된 청구항의 범주에 의하여 정의될 뿐이다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.

이하에서는 첨부한 도면을 참조하며, 본 발명의 바람직한 실시예들을 보다 상세하게 설명하기로 한다.

이하에서는 본 발명의 면취 측정기(100)의 측정 대상이 되는 피측정 대상 부품을 간략히 구조물 또는 워크(110)라 정의한다. 도 1은 이러한 구조물을 예시적으로 나타낸 도면이다. 구조물 또는 워크(110)는 외부 장비에 의하여 면취부(113)가 가공된 부품으로서, 워크(110)는 예컨대, 도 1과 같이 소정의 평면 형상을 갖는 평판형 플레이트 구조가 될 수 있으며, 평면 형태가 다양하게 변형 제작된 구조물도 본 발명의 면취 측정기(100)의 측정 대상이 될 수 있다는 점은 당업자에게 자명하다. 면취부(113)는 워크(110) 상면과 측면이 만나는 모서리를 깎아 워크(110)의 모서리를 경사지도록 가공하여 형성된다. 도 4a는 본 발명의 피측정 대상 부품(구조물)의 평면도이고, 도 4b는 도 4a의 정면도이다. 도 4b를 참조하면, 면취 깊이는 워크(110)의 상면으로부터 연장된 평면에서 면취부(113)의 측면 에지(면취부(113)와 측면이 만나는 모서리)까지 이르는 직선 거리 d를 의미한다. 그리고, 면취 길이는 면취부(113)의 상면 에지(면취부(113)와 상면이 만나는 모서리)로부터 워크(110)의 측면으로부터 연장된 평면까지 이르는 직선 거리를 의미한다. 그리고, 면취부(113)의 경사각(a)은 워크(110)의 상면으로부터 연장된 평면과 면취부(113)의 면취면이 이루는 예각을 의미한다. 만일, 경사각이 45°일 경우 면취 깊이와 면취 길이는 동일하다. 한편, 워크(110)의 내측에는 타공부(111)가 형성되어 있다. 타공부(111)는 후술하는 하우징(120)의 원통형 고정부(121)가 삽입 지지되는 구성으로서, 타공부(111)의 축선은 워크(110)의 상면에 수직하다. 이하에서는 도 4a 또는 도 4b에 도시된 워크(110)를 측정 대상 구조물로 특정하여 본 발명에 대하여 자세히 설명한다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기(100)의 사시도이고, 도 3a 내지 도 3d는 면취 측정기(100)의 좌측면도, 정면도, 우측면도 및 저면도이다. 이들 도면을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기(100)는 내측에 타공부(111)가 형성되고 모서리에 면취부(113)가 형성된 구조물(워크(110))에 장착하여 워크(110)의 면취부(113)의 면취 깊이 d를 측정하기 위한 치수 측정용 장치로서, 하우징(120), 측정핀(130) 및 측정부(140)를 포함한다.

하우징(120)은 워크(110)의 상면과 결합하는 구성으로서, 워크(110)의 타공부(111)에 하방 삽입되는 원통형 고정부(121)가 하우징(120)의 하방으로 돌출 형성되고, 내부에 원통형 고정부(121)로부터 미리 설정된 간격만큼 측방으로 이격된 위치에서 하우징(120)을 상하 방향으로 관통하도록 관통홀(123)이 형성된다. 원통형 고정부(121)는 워크(110)의 타공부(111)에 하방 삽입되어 본 발명의 면취 측정기(100)를 워크(110)에 대하여 회전 가능하게 위치 고정시키는 구성으로, 면취 측정기(100)는 원통형 고정부(121)를 중심으로 워크(110) 상에서 평면 방향으로 회전 가능하다. 원통형 고정부(121)는 워크(110)의 타공부(111)에 삽입하여 면취 측정기(100)를 안전하게 고정시킬 수 있고, 동시에 측정후 면취 측정기(100)를 워크(110)로부터 용이하게 이탈시킬 수 있도록, 원통형 고정부(121)의 외경은 타공부(111)의 내경에 대응하는 사이즈로 구성하는 것이 바람직하다. 한편, 도 3a를 참조하면, 원통형 고정부(121)의 평면 방향 일측에는 하우징(120)을 상하 방향으로 관통하는 관통홀(123)이 형성된다. 관통홀(123)의 중심축은 전술한 원통형 고정부(121)의 중심축과 평행하게 형성되는 것이 바람직하다. 관통홀(123)의 상방에는 관통홀(123)보다 큰 직경의 안착홈(124)이 더 형성된다. 관통홀(123)과 안착홈(124)에는 후술하는 측정핀(130)이 상하 방향으로 배치되어 안착되는데, 구체적으로 관통홀(123)에는 측정핀(130)의 핀 본체(131)가 삽입 안착되고, 핀 본체(131)의 상단에 형성된 플랜지부(137)가 안착홈(124)에 안착된다. 한편, 하우징(120)에는 원통형 고정부(121)의 평면 방향 타측의 하방에 고정핀이 설치된다. 고정핀은 하우징(120)의 하면에 평행한 방향으로 배치되어 사용자의 조임 조작에 의해 평면 방향 일측을 향하여 이동함으로써, 하우징(120)을 워크(110)에 대하여 고정시키는 구성이다. 즉, 원통형 고정부(121)가 워크(110)의 투공부에 삽입되면, 면취 측정기(100)는 측정핀(130)과 고정핀을 통해 워크(110)의 일단 및 타단에 위치 고정된다.

한편, 측정핀(130)은 하우징(120)의 관통홀(123)에 배치되는 핀 본체(131)와, 핀 본체(131)의 하단으로부터 하방으로 연장되고 미리 설정된 경사각으로 테이퍼진 테이퍼부(133)와, 테이퍼부(133)의 하단으로부터 하방으로 연장되는 핀 단부(135), 핀 본체(131)의 상단에 형성된 플랜지부(137)를 포함하여 구성된다. 도 3b 및 도 6a를 참조하면, 핀 본체(131)와 테이퍼부(133)와 핀 단부(135)는 관통홀(123) 내부를 향하여 하방으로 삽입되고, 테이퍼부(133)와 핀 단부(135)는 관통홀(123)의 외부, 즉, 하우징(120)의 하면으로부터 하방으로 돌출된 상태로 위치 고정된다. 핀 본체(131)는 직경이 일정한 원형 단면의 핀 부재이고, 테이퍼부(133)는 상단면이 핀 본체(131)의 하단면과 실질적으로 동일하면서 핀 본체(131)의 하단으로부터 하방으로 멀어질수록 단면이 작아지는 콘 형상으로 형성되며, 테이퍼부(133) 하단의 핀 단부(135)는 직경이 테이퍼부(133)의 하단면과 실질적으로 동일하고 그 단면이 일정한 핀 부재이다. 핀 본체(131)의 길이는 관통홀(123)의 깊이와 실질적으로 동일하거나 짧게 형성될 수 있다. 이에 따라, 테이퍼부(133)의 전체와 핀 단부(135)가 관통홀(123)의 외부로 돌출되도록 구성할 수도 있고, 테이퍼부(133)의 일부와 핀 단부(135)가 관통홀(123)의 외부로 돌출하도록 구성될 수도 있다. 다만, 핀 본체(131)의 옆면은 관통홀(123)의 외부로 돌출하지 않도록 하는 것이 바람직하다. 측정핀(130)은 관통홀(123)을 따라 하우징(120)의 내부에서 상하 방향으로 직선 이동하도록 구성되는데, 후술하는 바와 같이 하우징(120)의 상면에 형성된 연결부(150)와 측정핀(130)의 플랜지부(137) 사이에 배치된 탄성 스프링에 의해 측정핀(130)은 관통홀(123) 내에서 하방으로 압박되고 있으며, 측정핀(130)의 플랜지부(137)는 하우징(120)의 안착홈(124) 내에서 상하 이동하되, 하우징(120)의 안착홈(124) 저면에 안착됨으로써 측정핀(130)의 하방 이동이 제한된다.

한편, 측정부(140)는 전술한 측정핀(130)과 연동되어 측정핀(130)의 상방 이동 길이를 측정하는 단위 계량기이다. 도 3b를 참조하면, 측정부(140)는 측정핀(130)의 이동 길이가 다이얼로 표시되는 다이얼 게이지(141), 다이얼 게이지(141)의 하부에 결합되고 수직 방향으로 운동하는 스핀들(143), 그리고 스핀들(143)과 다이얼 게이지를 결합하는 스템(145)으로 구성된다. 스핀들(143)은 전술한 측정핀(130)의 상측에 접촉하여 측정핀(130)의 상방 이동량 만큰 상방으로 이동한다. 보다 구체적으로, 다이얼 게이지의 스핀들에는 래크(미도시)가 형성되고, 스핀들의 상방 움직임이 피니언 기어(미도시)에 전달되며, 랙 및 피니언 기어가 스핀들의 상방 직선 운동을 회전 운동으로 바꾸고, 기어열(gear train; 미도시)에 의해 이 회전 운동을 확대함으로써 수 내지 수십 마이크로미터의 길이를 다이얼 상에 지침으로 표시하도록 한다.

도 3b를 계속 참조하면, 측정부(140)는 연결부(150)를 통해 하우징(120)의 상방에 결합되는데, 연결부(150)에는 관통홀(123)이 형성되어 있고, 측정부(140)의 스템이 이 관통홀(123)에 삽입되어 연결부(150)의 내측에 고정된다. 다이얼 게이지의 하부에 결합하는 스핀들은 상기 스템의 내부를 통과하여 스템으로부터 하방 돌출하며, 스핀들의 하단부는 전술한 측정핀(130)의 플랜지부(137)에 접촉한다. 전술한 바와 같이, 연결부(150) 내부에는 플랜지부(137)를 하방으로 압박하는 탄성 스프링이 설치되어 있다. 구체적으로, 연결부(150) 내부에는 스템(145)이 배치되는데, 탄성 스프링은 스템(145)의 하단과 플랜지부(137)의 상면 사이에서 수축된 상태로 배치되어 있다. 한편, 연결부(150)의 관통홀(123)과 하우징(120)의 안착홈(124) 및 관통홈은 동축 상에 배열된다. 이에 따라, 관통홈과 안착홈(124)에 배치되는 측정핀(130)의 상하 방향의 이동이 연결부(150)의 관통홀(123)에 고정된 스템 내측의 스핀들(143)에 선형으로 전달될 수 있으며, 측정핀(130)의 상방 이동량은 스핀들(143)을 통해 측정부(140)에 전달된다.

이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 면취 측정기(100)를 이용하여 구조물(워크(110))의 면취 깊이를 측정하는 방식에 대하여 구체적으로 설명한다.

먼저, 본 발명의 면취 측정기(100)를 워크(110)의 상방에 배치한 후(도 6a 참조), 하우징(120)의 원통형 고정부(121)가 워크(110)의 타공부(111)에 삽입되도록, 워크(110)의 상방에 하우징(120)을 결합한다(도 6b 참조). 이때, 하우징(120)의 하면으로부터 돌출된 측정핀(130)(즉, 테이퍼부(133) 및 핀 단부(135))은 면취부(113)의 평면 외측에 배치된다. 이 상태에서 면취 측정기(100)를 평면 방향으로 회전시키면서 측정핀(130)의 테이퍼부(133)를 워크(110)(구조물)의 면취부(113)에 접촉시킨다(도 6c 참조). 이때, 테이퍼부(133)의 경사각은 면취부(113)의 면취각과 동일하게 구성되므로, 테이퍼부(133)의 경사진 측면과 면취부(113)의 경사진 면이 면 접촉한다. 후술하는 바와 같이 테이퍼부(133)는 면취부(113)의 경사진 면에 면 접촉한 후 동 방향의 계속적인 회전 조작에 의해 면취부(113)로부터 압박을 받아 상방(즉 하우징(120)의 내부)으로 위치 이동하도록 구성되는바, 이와 같은 면취부(113)와 테이퍼부(133)의 상호 작용을 고려하여, 테이퍼부(133)의 경사각은 면취부(113)의 면취각과 동일하게 형성하는 것이 바람직하다. 또한, 테이퍼부(133)의 형상은 측정 대상이 되는 워크(110)의 면취각에 따라 상이하게 선택되어야 하는바, 테이퍼부(133)의 형상은 테이퍼부(133)의 경사각이 워크(110)의 면취부(113)의 면취각에 대응하는 형태로 변경하여 채용이 가능하다.

이어서, 테이퍼부(133)의 경사면이 면취부(113)의 경사진 면에 면 접촉한 상태에서, 면취 측정기(100)를 동방향으로 더 회전시킨다(도 6d 참조). 이 경우 테이퍼부(133)는 면취부(113)로부터 평면 방향으로의 외력을 받게 되고, 테이퍼부(133)의 형태적인 특성상 테이퍼부(133)의 경사면은 상방으로의 들어 올려지는 힘을 받게 된다. 즉, 면취부(113)가 테이퍼부(133)를 상방으로 압박함에 따라 측정핀(130)은 하우징(120)의 내부로 상방 이동한다. 이때, 면취부(113)가 테이퍼부(133)를 하우징(120)의 내부로 상방 이동시킬 수 있도록, 테이퍼부(133)의 높이는 면취부(113)의 면취 깊이보다 큰 것이 바람직하다. 예컨대, 도 5에 도시된 바와 같이, 테이퍼부(133)의 높이가 면취부(113)의 면취 깊이보다 작을 경우에는 면취부(113)의 워크(110)의 측면이 측정부(140)의 테이퍼부(133)가 아닌 핀 단부(135)에 먼저 닿아버리기 때문에, 테이퍼부(133)의 경사진 측면과 면취부(113)의 경사진 면이 면 접촉할 수 없으며, 이 상태에서 하우징(120)을 동일한 평면 방향으로 계속 회전한다면 워크(110)에 의해 측정핀(130)이 파손될 우려가 있다. 한편, 이와 같은 측정핀(130)의 상방 이동은 테이퍼부(133) 하단의 핀 단부(135)가 면취부(113) 하방 측면에 접촉할 때까지 진행된 후 정지한다(도 6d 참조).

도 6d와 같이 측정핀(130)의 핀 단부(135)가 면취부(113) 하방 측면에 접촉하여 측정핀(130)의 상방 이동이 정지할 경우, 측정 핀이 도 6b의 초기 위치에서부터 상방으로 이동한 거리는 d이며, 이 거리 d는 워크(110)의 면취 깊이 d와 동일하다. 즉, 측정 핀의 상방 이동량으로부터 면취 깊이 d 값을 산출할 수 있다. 구체적으로, 측정 핀의 플랜지부(137)에는 측정부(140)의 스핀들이 접촉하고 있으며, 측정 핀이 상방으로 이동하는 거리만큼 스핀들도 동일하게 상방 이동하면서 그 이동량을 측정부(140)에 전달한다. 스핀들의 상방 움직임은 측정부(140) 내의 피니언 기어에 전달되며, 랙 및 피니언 기어가 스핀들의 상방 직선 운동을 회전 운동으로 바꾸고, 기어열에 의해 스핀들의 회전 운동이 확대되어 다이얼 상에 표시된다.

이상, 본 발명의 실시예에 대하여 설명하였으나, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서, 구성 요소의 부가, 변경, 삭제 또는 추가 등에 의해 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있을 것이며, 이 또한 본 발명의 권리범위 내에 포함되는 것으로 이해되어야 한다.

100: 면취 측정기 110: 구조물(워크)
111: 타공부 113: 면취부
120: 하우징 121: 원통형 고정부
123: 관통홀 124: 안착홈
130: 측정핀 131: 핀 본체
133: 테이퍼부 135: 핀 단부
137: 플랜지부 140: 측정부
150: 연결부

Claims

내측에 타공부가 형성되고 모서리에 면취부가 형성된 구조물에 장착하여 상기 면취부의 면취 깊이를 측정하기 위한 면취 측정기로서,
상기 타공부에 하방 삽입되는 원통형 고정부가 하방으로 돌출 형성되고, 하우징 내부에 상기 원통형 고정부로부터 미리 설정된 간격만큼 측방으로 이격된 위치에서 하우징을 상하 방향으로 관통하도록 관통홀이 형성된 하우징;
상기 관통홀에 배치되는 핀 본체와, 상기 핀 본체의 하단으로부터 하방으로 연장되고 미리 설정된 경사각으로 테이퍼진 테이퍼부와, 상기 테이퍼부의 하단으로부터 하방으로 연장되는 핀 단부를 포함하는 측정핀으로서, 상기 테이퍼부 및 상기 핀 단부는 상기 하우징의 하면으로부터 돌출된 상태로 위치 고정되며, 상기 관통홀을 따라 상기 하우징의 내부로 직선 이동하도록 구성되는 측정핀; 및
상기 측정핀과 연동되어 측정핀의 상방 이동량을 측정하는 측정부;
를 포함하고,
상기 원통형 고정부가 상기 타공부에 삽입된 상태에서 상기 면취 측정기를 회전시켜 상기 측정핀의 테이퍼부를 상기 구조물의 면취부에 접촉시키고, 상기 면취 측정기를 더 회전시켜 상기 테이퍼부를 상기 면취부에 압착시킴에 따라, 상기 테이퍼부 하단의 핀 단부가 상기 면취부 하방 측면에 접촉할 때까지 상기 측정핀이 상기 하우징의 내부로 상방 이동하는 것인, 면취 측정기.
제1항에 있어서,
상기 테이퍼부의 경사각은 상기 면취부의 면취각과 동일하고, 상기 테이퍼부의 높이는 상기 면취부의 면취 깊이보다 큰 것인, 면취 측정기.
제1항에 있어서,
상기 테이퍼부는 경사각이 측정 대상이 되는 구조물의 면취부의 면취각에 대응하는 형태로 변경 가능한 것인, 면취 측정기.
제1항에 있어서,
상기 관통홀의 상방에는 관통홀보다 큰 직경의 안착홈이 형성되고, 상기 측정핀의 핀 본체 상단에는 플랜지부가 형성되며, 상기 핀 본체가 상기 관통홀에 배치될 때, 상기 플랜지부가 상기 안착홈의 저면에 걸려 상기 측정핀의 하방 이동이 억제되는 것인, 면취 측정기.
제4항에 있어서,
상기 측정부는 연결부를 통해 상기 하우징의 상방에 결합되고, 상기 연결부와 상기 하우징의 안착홈 및 관통홈은 동축 상에 배열되며,
상기 연결부 내부에는 상기 플랜지부를 하방으로 압박하는 탄성 스프링이 설치되는 것인, 면취 측정기.
제5항에 있어서,
상기 측정부로부터 연장되어 상기 플랜지부에 접촉하는 스핀들이 상기 연결부의 내부에 배치되고, 상기 측정핀의 상방 이동량은 상기 스핀들을 통해 상기 측정부에 전달되는 것인, 면취 측정기.