KR101700687B1 - 온도 보상형 rf 피크 검출기 - Google Patents

온도 보상형 rf 피크 검출기 Download PDF

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Abstract

온도 보상형 RF 피크 검출기가 기재된다. 일 예시적인 실시예에서, 장치는, 기준 신호를 생성하도록 구성되는 제 1 RF 피크 검출기, 기준 신호에 기초하여 온도 보상형 검출 임계치를 생성하도록 구성되는 온도 보상형 임계치 생성기, 및 온도 보상형 검출 임계치에 기초하여 피크 검출 출력을 생성하도록 구성되는 비교기를 포함한다.

Description

온도 보상형 RF 피크 검출기{TEMPERATURE COMPENSATED RF PEAK DETECTOR}
관련 출원들에 대한 상호-참조
[0001] 본 출원은, 2013년 7월 10일자로 출원된 공동 소유의 미국 정규 특허출원 제 13/939,076호를 우선권으로 주장하며, 상기 정규 특허출원의 내용들은 그 전체가 인용에 의해 본 명세서에 명백히 포함된다.
[0002] 본 출원은 일반적으로 아날로그 프런트 엔드(front end)들의 동작 및 설계에 관한 것으로, 더 구체적으로는, 아날로그 프런트 엔드들에서의 사용을 위한 피크 검출기(peak detector)들의 동작 및 설계에 관한 것이다.
[0003] 라디오 주파수(RF) 피크 검출기들은 다양한 애플리케이션(application)들에서 사용될 수 있다. 예를 들어, RF 피크 검출기는, 송신기로부터의 RF 송신 전력 출력을 검출하거나 또는 수신된 RF 신호에서의 잼머(jammer) 신호 전력의 존재를 검출하는데 사용될 수 있다.
[0004] 종래의 RF 피크 검출기들과 연관된 하나의 제한은, 검출기의 이득이 온도에 걸쳐 변할 수도 있다는 것이다. 이것은 직접적으로 검출 감도 레벨에서의 불확실성으로 변환될 것이다. 이득 변동들을 보상하기 위한 통상적인 솔루션은, 온도가 상승하는 경우 피크 검출기에서의 전류를 증가시키는 것이다. 불운하게도, 이러한 기술은 이용가능한 헤드룸(headroom)을 감소시킬 수도 있다.
[0005] 따라서, 종래의 RF 피크 검출기들과 연관된 문제들을 극복하는 RF 피크 검출기를 갖는 것이 바람직할 것이다.
[0006] 본 명세서에 설명되는 전술한 양상들은 첨부된 도면들과 함께 해석할 때 다음의 설명을 참조함으로써 더 용이하게 명백해질 것이다.
[0007] 도 1은, 무선 디바이스에서의 사용에 대해 적절한 온도 보상형(compensated) RF 피크 검출기의 예시적인 실시예를 포함하는 송신기 프런트 엔드를 도시한다.
[0008] 도 2a는 온도 보상형 RF 피크 검출기의 상세한 예시적인 실시예를 도시한다.
[0009] 도 2b는 온도 보상형 RF 피크 검출기의 대안적인 상세한 예시적인 실시예를 도시한다.
[0010] 도 3은 RF 피크 검출기의 예시적인 실시예를 도시한다.
[0011] 도 4는 오프셋(offset) 생성기의 예시적인 실시예를 도시한다.
[0012] 도 5는 온도 보상형 임계치 생성기의 예시적인 실시예를 도시한다.
[0013] 도 6은 온도 보상형 RF 피크 검출기 장치의 예시적인 실시예를 도시한다.
[0014] 첨부된 도면들과 관련하여 아래에 기재되는 상세한 설명은, 본 발명의 예시적인 실시예들의 설명으로서 의도되며, 본 발명이 실시될 수 있는 유일한 실시예들을 표현하도록 의도되지 않는다. 본 명세서 전반에 걸쳐 사용된 용어 "예시적인"은 "예, 예시, 또는 예증으로서 기능하는 것"을 의미하고, 다른 예시적인 실시예들에 비해 반드시 바람직하거나 유리한 것으로서 해석되지는 않아야 한다. 상세한 설명은 본 발명의 예시적인 실시예들의 철저한 이해를 제공하려는 목적을 위해 특정한 세부사항들을 포함한다. 본 발명의 예시적인 실시예들이 이들 특정한 세부사항들 없이 실시될 수도 있다는 것은 당업자들에게 명백할 것이다. 몇몇 예시들에서, 본 명세서에 제시된 예시적인 실시예들의 신규성을 불명료하게 하는 것을 회피하기 위해, 잘-알려진 구조들 및 디바이스들은 블록도 형태로 도시되어 있다.
[0015] 도 1은 무선 디바이스에서의 사용에 대해 적절한 온도 보상형 RF 피크 검출기(102)의 예시적인 실시예를 포함하는 송신기 프런트 엔드(100)를 도시한다. 프런트 엔드(100)는 송신기(Tx) 부분(106) 및 수신기(Rx) 부분(108)을 포함하는 트랜시버(104)를 포함한다. 이제 송신기 부분(106)을 참조하면, 기저대역(baseband)(BB) 프로세서(110)는 BB 송신 신호를 Tx BB 필터(112)에 출력한다. Tx BB 필터(112)의 출력은, 로컬 오실레이터(local oscillator)(LOT) 신호에 기초하여 기저대역 송신 신호를 RF 송신 신호로 상향-변환(up-convert)하는 상향변환기(114)에 입력된다. 그 후, RF 송신 신호는, 송신 RF 신호를 증폭하는 드라이버 증폭기(driver amplifier)(DA)(116)에 입력된다. 증폭된 RF 송신 신호는, 송신 RF 신호를 추가로 증폭하여 TX 신호를 형성하는 전력 증폭기(power amplifier)(PA)(118)에 입력된다. PA(118)로부터 출력되는 TX 신호는, 송신을 위해 TX 신호를 안테나(122)로 유도(direct)하는 듀플렉서(duplexer)(120)에 입력된다.
[0016] 송신기 부분(106)은 온도 보상형 RF 피크 검출기(102a)의 예시적인 실시예를 포함한다. 예를 들어, 피크 검출기(102a)는, 넓은 온도 범위에 걸쳐 정밀한 피크 검출을 제공한다. 피크 검출기(102a)는, 예를 들어, 오프셋 전압을 셋팅하고 그리고/또는 온도 보상형 검출 임계치를 셋팅하기 위해, 피크 검출기(102a)의 동작을 제어하는 제어 신호들(124)을 BB 프로세서(110)로부터 수신한다. 피크 검출기(102a)로부터 출력되는 검출 출력(126)은 BB 프로세서(110)에 입력된다. 예를 들어, 피크 검출기(102a)는 송신 전력 검출기로서 동작할 수도 있고, 피크 검출기(102a)의 검출 출력(126)은, 검출된 전력에 응답하여, TX 신호의 송신 전력을 조정하고 그리고/또는 트랜시버(104)의 다른 기능들을 조정하기 위해 BB 프로세서(110)에 의해 사용될 수도 있다.
[0017] 이제 수신기 부분(108)을 참조하면, 듀플렉서(120)는 RF 신호를 수신하고, 이러한 신호를 저 잡음 증폭기(LNA)(128)로 유도한다. LNA(128)로부터 출력되는 증폭된 수신 RF 신호는, LO 신호(LOR)에 기초하여 신호를 기저대역으로 하향-변환(down-convert)하는 하향-변환기(130)에 입력된다. 기저대역 신호는 Rx BB 필터(132)에 의해 필터링되고, 필터링된 기저대역 신호는 (BB) 프로세서(110)에 입력된다.
[0018] 수신기 부분(108)은 온도 보상형 RF 피크 검출기(102b)의 예시적인 실시예를 포함한다. 예를 들어, 피크 검출기(102b)는 넓은 온도 범위에 걸쳐 정밀한 피크 검출을 제공한다. 피크 검출기(102b)는, 예를 들어, 전압 오프셋 및/또는 온도 보상형 검출 임계치를 셋팅하기 위해, 피크 검출기(102b)의 동작을 제어하는 제어 신호들(134)을 BB 프로세서(110)로부터 수신한다. 피크 검출기(102b)의 검출 출력(136)은 BB 프로세서(110)에 입력된다. 예를 들어, 피크 검출기(102b)는, 수신된 RF 신호에서의 잼머 신호 에너지의 존재를 검출하기 위한 잼머 검출기로서 동작할 수도 있다. BB 프로세서(110)는, 검출된 잼머들에 응답하여 LNA(128) 및/또는 트랜시버(104)의 다른 기능들을 조정하도록 동작할 수도 있다.
[0019] 따라서, 다양한 예시적인 실시예들에서, 온도 보상형 RF 피크 검출기(102)는, 정밀한 RF 피크 검출 기능을 제공하기 위해 송신기 및 수신기 둘 모두에서 동작한다. 다양한 예시적인 실시예들에서, RF 피크 검출기(102)는, 임의의 RF 신호 경로 상에서의 RF 피크 검출을 제공하도록 이용될 수 있다. 온도 보상형 RF 피크 검출기(102)의 더 상세한 설명이 아래에 제공된다.
[0020] 도 2a는 온도 보상형 RF 피크 검출기(200)의 상세한 예시적인 실시예를 도시한다. 예를 들어, 피크 검출기(200)는, 도 1에 도시된 피크 검출기(102)로서의 사용에 대해 적절하다.
[0021] 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 RF 피크 검출기(200)는, RF 신호들(204)을 수신하고 검출 신호(206)를 생성하는 RF 피크 검출기(202)를 포함한다. 검출 신호(206)는 비교기(208)에 입력된다. 예를 들어, 동작 동안, RF 피크 검출기(202)는 입력 RF 신호들(204)의 진폭에 응답하여 검출 신호(206) 상의 전압 강하를 출력한다. RF 입력 신호들(204)의 진폭이 더 클수록 검출 신호(206) 상의 전압 강하는 더 크다. 피크 검출기(202)는 또한, 온도에서의 변경을 반영하게 검출 신호(208)의 진폭이 상향 또는 하향으로 이동하도록, 온도에 민감할 수도 있다.
[0022] 일 예시적인 실시예에서, RF 피크 검출기(202)와 동일한 집적 회로(212) 상에 레플리카(replica) RF 피크 검출기(210)가 형성되며, 그에 따라, RF 피크 검출기(202)와 대략적으로 동등한 프로세스 변동들(PVT)을 나타낸다. 레플리카 피크 검출기(210)의 입력(214)은 부동(floating)적이고, 그에 따라, 어떠한 시-가변적(time-varying) 신호에도 접속되지 않는다. 다른 예시적인 실시예들에서, 입력(214)은, 입력(214)에서 어떠한 RF 신호도 존재하지 않도록, 접지 또는 다른 비 시-가변적(non time-varying) 신호에 접속된다. 온도 보상형 임계치 생성기(222)에 입력되는 기준 신호(216)는 레플리카 RF 피크 검출기(210)에 의해 생성된다.
[0023] 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 임계치 생성기(222)는 DAC로 구성되고, 기준 신호(216) 및 m 제어 비트들을 갖는 디지털 임계치 제어 신호(228)에 기초하여 온도 보상형 임계 전압(226)을 생성한다. 일 예시적인 실시예에서, 임계치 생성기(222)는, 온도 보상형 임계 전압(226)을 생성하도록 디지털 임계치 제어 신호(228)에 의해 제어되는 저항기 래더(ladder) 네트워크 및 절대 온도에 비례하는(proportional to absolute temperature)(PTAT) 전류 소스를 포함한다. 따라서, 임계치 제어 신호(228)의 진폭은 온도에 관하여 검출 신호(206)의 진폭을 트래킹(track)한다. 온도 보상형 임계 전압(226)은 또한 비교기(208)에 입력된다. 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 임계치 생성기(222)는, 기저대역 프로세서 또는 무선 디바이스에서의 다른 엔티티(entity)로부터 임계치 제어 신호(228)를 수신한다.
[0024] 일 예시적인 실시예에서, 비교기(208)는, 검출 신호(206)와 온도 보상형 임계 전압(226)의 비교에 기초하여 검출 출력 신호(230)를 생성한다. 예를 들어, 검출 출력 신호(230)는, 수신된 RF 신호에서의 잼머 신호들을 검출하거나 또는 도 1을 참조하여 설명된 바와 같은 송신 RF 신호의 송신 전력을 검출하기 위해, 무선 디바이스에서의 기저대역 프로세서에 의해 이용될 수 있다.
[0025] 따라서, 다양한 예시적인 실시예들에서, RF 피크 검출기(202) 이득의 온도 종속성은 감소되거나 또는 제거된다. 비교 포인트로서 작동하고 피크 검출기(202)와 실질적으로 동등한 프로세스 변동들을 갖는 레플리카 피크 검출기(210)는 기준 신호(216)를 생성하기 위해 사용된다. 기준 신호(216)는, 온도 보상형 임계치(226)를 생성하기 위해, 임계치 생성기(DAC)(222)를 사용하여 시프팅(shift)된다. 전압 시프트의 양은 피크 검출기를 트리거링(tirgger)할 RF 진폭을 결정한다.
[0026] 도 2b는 온도 보상형 RF 피크 검출기(240)의 대안적인 상세한 예시적 실시예를 도시한다. 예를 들어, 도 2b에 도시된 피크 검출기(240)는, 도 1에 도시된 피크 검출기(102)로서의 사용에 대해 적절하다.
[0027] 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 RF 피크 검출기(240)는, 온도 보상형 임계치 생성기(222)에 입력되는 오프셋 조정된 기준 신호(220)를 생성하기 위해 기준 신호(216)의 DC 오프셋을 조정하도록 동작하는 오프셋 생성기(218)를 포함한다. 예를 들어, 오프셋 생성기(218)는, 디지털-투-아날로그 변환기(digital-to-analog convertor)(DAC)로 구성되고, 복수의 n 제어 비트들을 포함하는 디지털 오프셋 제어 신호(224)에 기초하여 기준 신호(216)의 오프셋을 조정한다. 오프셋 제어 비트들(224)은, RF 피크 검출기(202)의 입력(204)에 어떠한 RF 입력 신호도 존재하지 않는 경우, 오프셋 조정된 기준 신호(220)가 검출 신호(206)와 동일한 오프셋을 갖도록 셋팅된다. 일 예시적인 실시예에서, 오프셋 생성기(218)는 기저대역 프로세서 또는 무선 디바이스에서의 다른 엔티티로부터 오프셋 제어 신호(224)를 수신한다.
[0028] 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 임계치 생성기(222)는 DAC로 구성되고, 오프셋 조정된 기준 신호(220) 및 m 제어 비트들을 갖는 디지털 임계치 제어 신호(228)에 기초하여 온도 보상형 임계 전압(226)을 생성한다. 일 예시적인 실시예에서, 임계치 생성기(222)는, 온도 보상형 임계 전압(226)을 생성하도록 디지털 임계치 제어 신호(228)에 의해 제어되는 저항기 래더 네트워크 및 절대 온도에 비례하는(PTAT) 전류 소스를 포함한다. 따라서, 임계치 제어 신호(228)의 진폭은 온도 및 오프셋에 관하여 검출 신호(206)의 진폭을 트래킹한다. 온도 보상형 임계 전압(226)은 또한 비교기(208)에 입력된다. 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 임계치 생성기(222)는, 기저대역 프로세서 또는 무선 디바이스에서의 다른 엔티티(entity)로부터 임계치 제어 신호(228)를 수신한다.
[0029] 또한, 다른 예시적인 실시예들에서, 오프셋 생성기(218) 및 온도 보상형 임계치 생성기(222)는, 온도 보상형 임계치 신호(226)를 생성하도록 재배열되거나 또는 재순서화(reorder)될 수 있음이 유의되어야 한다.
[0030] 따라서, 다양한 예시적인 실시예들에서, RF 피크 검출기(202) 이득의 온도 종속성은 감소되거나 또는 제거된다. 비교 포인트로서 작동하고 피크 검출기(202)와 실질적으로 동등한 프로세스 변동들을 갖는 레플리카 피크 검출기(210)는 기준 신호(216)를 생성하기 위해 사용된다. 기준 신호(216)는 오프셋 생성기(DAC)(218)를 사용하여 상향 또는 하향으로 시프팅되며, 이는, 메인(main) 피크 검출기(202)와 레플리카 피크 검출기(210) 사이의 오프셋을 무효화(nullify)하도록 동작한다. 오프셋 조정된 기준 신호(220)는, 온도 보상형 임계치(226)를 생성하기 위해, 임계치 생성기(DAC)(222)를 사용하여 다시 시프팅된다. 전압 시프트의 양은 피크 검출기를 트리거링할 RF 진폭을 결정한다.
RF 피크 검출기
[0031] 도 3은 RF 피크 검출기(300)의 예시적인 실시예를 도시한다. 예를 들어, RF 피크 검출기(300)는, 도 2에 도시된 RF 피크 검출기(202) 및 레플리카 RF 피크 검출기(210)로서의 사용에 대해 적절하다.
[0032] 일 예시적인 실시예에서, RF 피크 검출기(300)는, 입력 단자들(302 및 304)에서 RF 신호들을 수신하도록 구성되는 스위칭 디바이스들(예를 들어, 4개의 FET 트랜지스터)을 포함한다. RF 피크 검출기(300)는, RF 입력 신호들의 진폭을 검출하도록 동작하고, RF 입력들의 진폭을 표현하는 검출 신호(306)를 생성한다. 예를 들어, 입력 단자들(302 및 304)에서의 RF 신호들의 진폭이 증가하는 경우, 검출 신호(306)의 진폭 또한 증가한다.
[0033] 일 예시적인 실시예에서, RF 피크 검출기(300)는 집적 회로 상에 형성되며, 다양한 프로세스 변동들을 나타낸다. 일 예시적인 실시예에서, RF 피크 검출기(300)는, 집적 회로(212) 상에 형성되는 RF 피크 검출기(202) 및 레플리카 RF 피크 검출기(210) 둘 모두에 대한 사용에 대해 적절하다. RF 피크 검출기들 둘 모두가 동일한 집적 회로 상에 형성되므로, 그들은 동일한 (또는 대략적으로 동등한) 프로세스 변동들을 나타내며, 그에 따라, 사실상 같은 성능을 제공할 것이다. 본 명세서에 기재된 예시적인 실시예들은 피크 검출기(300)를 사용하도록 제한되지 않으며, 다른 피크 검출기 구성들이 가능함이 또한 유의되어야 한다.
오프셋 생성기
[0034] 도 4는 오프셋 생성기(400)의 예시적인 실시예를 도시한다. 예를 들어, 오프셋 생성기(400)는 도 2에 도시된 오프셋 생성기(218)로서의 사용에 대해 적절하다.
[0035] 일 예시적인 실시예에서, 오프셋 생성기(400)는, 입력 단자(404)에서 입력 신호를 수신하는 증폭기(402)를 포함한다. 예를 들어, 입력 신호는 도 2에 도시된 기준 신호(216)일 수도 있다. 증폭기(402)의 출력은 트랜지스터(406)의 게이트 단자에 접속된다. 트랜지스터(406)는, 접지 신호에 접속되는 소스 단자 및 저항기 래더(408)에 접속되는 드레인 단자를 갖는다.
[0036] 일 예시적인 실시예에서, 저항기 래더(408)는, 노드 A에서 저항기(412)에 접속되는 저항기(410)를 포함한다. 각각의 저항기는 대응하는 스위치들(s1-sN)에 접속되는 다수의 탭(tap)들을 갖는다. 스위치들의 출력들은 오프셋 출력 단자(414)에서 함께 결속(tie)된다. 오프셋 출력 단자(414)에 접속될 저항기 래더(408)의 특정한 탭을 인에이블(enable)하게 스위치를 폐쇄하도록 동작하는 저항기 래더(408)는, n 비트들을 포함하는 디지털 오프셋 제어 신호(416)를 수신한다. 폐쇄되는 스위치에 의존하여, 대응하는 탭이 출력 단자(414)에 커플링되어 오프셋 조정된 신호를 제공한다.
[0037] 전류 소스(418)는 공급 전압과 저항기 래더(408) 사이에 접속된다. 노드 A는 또한 증폭기(402)의 인버팅(inverting) 입력에 접속된다. 동작 동안, 입력 단자(404)에서의 전압이 또한 노드 A에서 생성된다. 트랜지스터(406)는 턴 온(turn on)되고, 전류 소스(418)는 저항기들(410 및 412)을 통해 전류를 소싱(source)한다. 저항기 래더(408)의 선택된 탭은 출력 단자(414)에서 나타나는 오프셋 전압을 셋팅한다. 다른 예시적인 실시예들에서, 오프셋 소거는, 아날로그 제어 신호에 기초하여 동작하는 아날로그 회로만으로 구성되는 오프셋 생성기를 사용하여 수행될 수 있음이 또한 유의되어야 한다.
온도 보상형 임계치 생성기
[0038] 도 5는 온도 보상형 임계치 생성기(500)의 예시적인 실시예를 도시한다. 예를 들어, 임계치 생성기(500)는, 도 2에 도시된 온도 보상형 임계치 생성기(222)로서의 사용에 대해 적절하다.
[0039] 일 예시적인 실시예에서, 온도 보상형 임계치 생성기(500)는, 입력 단자(504)에서 입력 신호를 수신하는 증폭기(502)를 포함한다. 예를 들어, 입력 신호는 도 2에서 도시된 오프셋 조정된 기준 신호(220)일 수도 있다. 증폭기(502)의 출력은 트랜지스터(506)의 게이트 단자에 접속된다. 트랜지스터(506)는, 접지 신호에 접속되는 소스 단자 및 저항기 래더(508)에 접속되는 드레인 단자를 갖는다.
[0040] 일 예시적인 실시예에서, 저항기 래더(508)는, 대응하는 스위치들(s1-sm)에 접속되는 다수의 탭들을 갖는 저항기(514)를 포함한다. 스위치들의 출력들은 임계치 출력 단자(510)에서 함께 결속된다. 저항기 래더(514)는, 데시벨(dB) 단위의 고정된(fixed) 임계치 단계들을 제공하도록 대수적으로(logarithmically) 파티셔닝(partition)된다. 임계치 출력 단자(510)에 접속될 저항기 래더(508)의 대응하는 탭을 인에이블하게 특정한 스위치를 폐쇄하도록 동작하는 저항기 래더(508)는, m 비트들을 포함하는 디지털 임계치 제어 신호(512)를 수신한다. 폐쇄되는 스위치에 의존하여, 대응하는 탭이 출력 단자(510)에 커플링되어 선택된 전압을 제공한다.
[0041] PTAT 전류 소스(516)는 노드 A에서 저항기 래더(508)와 공급 전압 사이에 접속된다. 노드 A는 또한 증폭기(502)의 인버팅 입력에 접속딘다. 동작 동안, 입력 단자(504)에서의 전압은 또한 노드 A에서 생성된다. 트랜지스터(506)는 턴 온되고, PTAT 전류 소스(516)는 저항기(514)를 통해 전류를 소싱한다. 저항기 래더(508)의 선택된 탭은, 임계치 출력 단자(510)에서 나타나는 임계 전압을 셋팅한다. 온도가 변하는 경우, 전류 소스(516)로부터의 전류 및 저항기(514)에 걸친 전압 또한 마찬가지이며, 그러므로, 임계치 출력 단자(510)에서의 출력은 피크 검출기(202)의 이득의 온도 변동을 트래킹한다.
[0042] 온도가 변하는 경우, PTAT 전류 소스(516)에 의해 제공되는 전류 또한 변한다. 전류가 변하는 것은, 온도 조정된 임계치 출력 단자(510)에서의 전압이 변하는 것을 초래한다. 일 예시적인 실시예에서, PTAT 전류 소스(516)의 온도 특성들이 RF 피크 검출기(202)의 온도 특성들과 매칭(match)함으로써, 단자(510)에서의 온도 보상형 출력 임계치는, RF 피크 검출기(202)로부터 출력되는 검출 신호(206)에 대해 자신의 관계를 유지한다. 다른 예시적인 실시예들에서, PTAT 전류 소스(516)는, RF 피크 검출기(202)의 온도 특성들과 매칭하도록 측정 및 조정될 수 있는 조정가능한 기울기(slope) 특성을 포함함이 또한 유의되어야 한다.
[0043] 따라서, 온도 보상형 피크 검출기(200)의 다양한 예시적인 실시예들은 다음의 특성들 중 하나 또는 그 초과를 제공한다.
1. 메인 피크 검출기(202)와의 비교를 위해 기준 신호(216)를 생성하기 위한 레플리카 피크 검출기(210)의 사용.
2. 기준 신호 경로 상에서 직렬연결된(in cascade) 오프셋 DAC(218) 및 임계치 DAC(222)의 사용.
3. 임계치 DAC(222)는 메인 피크 검출기(202)의 온도 이득 변동들을 트래킹함.
4. RF 회로 상의 스퍼(spur)들을 제거하도록 클로킹(clock)되지 않은 비교기(208)의 사용.
[0044] 도 6은 온도 보상형 RF 피크 검출기 장치(600)의 예시적인 실시예를 도시한다. 예를 들어, 장치(600)는, 도 2에 도시된 온도 보상형 RF 피크 검출기(200)로서의 사용에 대해 적절하다. 일 양상에서, 장치(600)는, 본 명세서에 설명된 바와 같은 기능들을 제공하도록 구성되는 하나 또는 그 초과의 모듈들에 의해 구현된다. 예를 들어, 일 양상에서, 각각의 모듈은 하드웨어 및/또는 소프트웨어를 실행하는 하드웨어를 포함한다.
[0045] 장치(600)는, 기준 신호를 생성하기 위한 수단(602)을 포함하는 제 1 모듈을 포함하며, 이는 일 양상에서, 레플리카 RF 피크 검출기(210)를 포함한다.
[0046] 장치(600)는, 기준 신호에 기초하여 온도 보상형 검출 임계치를 생성하기 위한 수단(604)을 포함하는 제 2 모듈을 포함하며, 이는 일 양상에서, 온도 보상형 임계치 생성기(222)를 포함한다.
[0047] 장치(600)는, 온도 보상형 검출 임계치에 기초하여 피크 검출 출력을 생성하기 위한 수단(606)을 포함하는 제 3 모듈을 포함하며, 이는 일 양상에서, 비교기(208)를 포함한다.
[0048] 당업자들은, 정보 및 신호들이 다양한 상이한 기술들 및 기법들 중 임의의 기술 및 기법을 사용하여 표현되거나 프로세싱될 수도 있음을 이해할 것이다. 예를 들어, 상기 설명 전반에 걸쳐 참조될 수도 있는 데이터, 명령들, 커맨드들, 정보, 신호들, 비트들, 심볼들, 및 칩들은 전압들, 전류들, 전자기파들, 자기장들 또는 자기 입자들, 광학 필드들 또는 광학 입자들, 또는 이들의 임의의 결합에 의해 표현될 수도 있다. 트랜지스터 타입들 및 기술들은 동일한 결과들을 달성하기 위해 치환, 재배열 또는 달리 변형될 수도 있음을 추가적으로 유의한다. 예를 들어, PMOS 트랜지스터들을 이용하는 것으로 도시된 회로들은 NMOS 트랜지스터들을 사용하도록 변형될 수도 있고, 그 역으로 될 수도 있다. 따라서, 본 명세서에 기재된 증폭기들은 다양한 트랜지스터 타입들 및 기술들을 사용하여 실현될 수도 있으며, 도면들에 예시된 이들 트랜지스터 타입들 및 기술들로 제한되는 것은 아니다. 예를 들어, BJT, GaAs, MOSFET 또는 임의의 다른 트랜지스터 기술과 같은 트랜지스터 타입들이 사용될 수도 있다.
[0049] 당업자들은 본 명세서에 기재된 예시적인 실시예들과 관련하여 설명된 다양한 예시적인 로직 블록들, 모듈들, 회로들, 및 알고리즘 단계들이 전자 하드웨어, 컴퓨터 소프트웨어, 또는 이 둘의 결합들로서 구현될 수도 있음을 추가적으로 인식할 것이다. 하드웨어와 소프트웨어의 이러한 상호교환가능성을 명확히 예시하기 위해, 다양한 예시적인 컴포넌트들, 블록들, 모듈들, 회로들, 및 단계들은 그들의 기능의 관점들에서 일반적으로 상술되었다. 그러한 기능이 하드웨어로서 구현되는지 또는 소프트웨어로서 구현되는지는 특정 애플리케이션 및 전체 시스템에 부과된 설계 제한들에 의존한다. 당업자들은 설명된 기능을 각각의 특정한 애플리케이션에 대해 다양한 방식들로 구현할 수도 있지만, 그러한 구현 결정들이 발명의 예시적인 실시예들의 범위를 벗어나게 하는 것으로서 해석되지는 않아야 한다.
[0050] 본 명세서에 기재된 예시적인 실시예들과 관련하여 설명된 다양한 예시적인 로직 블록들, 모듈들, 및 회로들은 범용 프로세서, 디지털 신호 프로세서(DSP), 주문형 집적회로(ASIC), 필드 프로그래밍가능 게이트 어레이(FPGA) 또는 다른 프로그래밍가능 로직 디바이스, 이산 게이트 또는 트랜지스터 로직, 이산 하드웨어 컴포넌트들, 또는 본 명세서에 설명된 기능들을 수행하도록 설계된 이들의 임의의 결합으로 구현되거나 수행될 수도 있다. 범용 프로세서는 마이크로프로세서일 수도 있지만, 대안적으로, 프로세서는 임의의 종래의 프로세서, 제어기, 마이크로제어기, 또는 상태 머신일 수도 있다. 또한, 프로세서는 컴퓨팅 디바이스들의 결합, 예를 들어 DSP와 마이크로프로세서의 결합, 복수의 마이크로프로세서들, DSP 코어와 결합된 하나 또는 그 초과의 마이크로프로세서들, 또는 임의의 다른 그러한 구성으로서 구현될 수도 있다.
[0051] 본 명세서에 기재된 예시적인 실시예들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은 직접 하드웨어로, 프로세서에 의해 실행되는 소프트웨어 모듈로, 또는 이 둘의 결합으로 구현될 수도 있다. 소프트웨어 모듈은 랜덤 액세스 메모리(RAM), 플래시 메모리, 판독 전용 메모리(ROM), 전기적으로 프로그래밍가능 ROM(EPROM), 전기적으로 소거가능한 프로그래밍가능 ROM(EEPROM), 레지스터들, 하드 디스크, 착탈형 디스크, CD-ROM, 또는 당업계에 알려진 임의의 다른 형태의 저장 매체에 상주할 수도 있다. 예시적인 저장 매체는, 프로세서가 저장 매체로부터 정보를 판독하고, 저장 매체에 정보를 기입할 수 있도록 프로세서에 커플링된다. 대안적으로, 저장 매체는 프로세서에 통합될 수도 있다. 프로세서 및 저장 매체는 ASIC에 상주할 수도 있다. ASIC은 사용자 단말에 상주할 수도 있다. 대안적으로, 프로세서 및 저장 매체는 사용자 단말 내의 별개의 컴포넌트들로서 상주할 수도 있다.
[0052] 하나 또는 그 초과의 예시적인 실시예들에서, 설명된 기능들은 하드웨어, 소프트웨어, 펌웨어, 또는 이들의 임의의 결합으로 구현될 수 있다. 소프트웨어로 구현되면, 기능들은 컴퓨터-판독가능 매체 상에 하나 또는 그 초과의 명령들 또는 코드로서 저장되거나 이들을 통해 송신될 수도 있다. 컴퓨터-판독가능 매체들은, 일 장소에서 다른 장소로의 컴퓨터 프로그램의 전달을 용이하게 하는 임의의 매체를 포함한 통신 매체들 및 비-일시적인 컴퓨터 저장 매체들 양자를 포함한다. 비-일시적인 저장 매체들은 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는 임의의 이용가능한 매체들일 수도 있다. 제한이 아닌 예로서, 그러한 컴퓨터-판독가능 매체들은 RAM, ROM, EEPROM, CD-ROM 또는 다른 광학 디스크 저장부, 자기 디스크 저장 또는 다른 자기 저장 디바이스들, 또는 명령들 또는 데이터 구조들의 형태로 원하는 프로그램 코드를 반송 또는 저장하는데 사용될 수 있고, 컴퓨터에 의해 액세스될 수 있는 임의의 다른 매체를 포함할 수 있다. 또한, 임의의 접속수단(connection)이 컴퓨터-판독가능 매체로 적절히 지칭된다. 예를 들어, 소프트웨어가 동축 케이블, 광섬유 케이블, 연선(twisted pair), 디지털 가입자 라인(DSL), 또는 (적외선, 라디오, 및 마이크로파와 같은) 무선 기술들을 사용하여 웹사이트, 서버, 또는 다른 원격 소스로부터 송신되면, 동축 케이블, 광섬유 케이블, 연선, DSL, 또는 (적외선, 라디오, 및 마이크로파와 같은) 무선 기술들이 매체의 정의에 포함된다. 본 명세서에 사용되는 바와 같이, 디스크(disk) 및 디스크(disc)는 컴팩트 디스크(disc)(CD), 레이저 디스크(disc), 광 디스크(disc), 디지털 다목적 디스크(digital versatile disc)(DVD), 플로피 디스크(disk) 및 blu-Ray 디스크(disc)를 포함하며, 여기서 디스크(disk)들은 일반적으로 데이터를 자기적으로 재생하지만, 디스크(disc)들은 레이저들을 이용하여 광학적으로 데이터를 재생한다. 또한, 상기의 것들의 결합들은 컴퓨터-판독가능 매체들의 범위 내에 포함되어야 한다.
[0053] 기재된 예시적인 실시예들의 설명은 임의의 당업자가 본 발명을 사용 또는 실시할 수 있도록 제공된다. 이들 예시적인 실시예들에 대한 다양한 변형들은 당업자들에게 용이하게 명백할 것이며, 본 명세서에 정의된 일반적인 원리들은 본 발명의 사상 또는 범위를 벗어나지 않으면서 다른 예시적인 실시예들에 적용될 수도 있다. 따라서, 본 발명은 본 명세서에 설명된 예시적인 실시예들로 제한되도록 의도되는 것이 아니라, 본 명세서에 기재된 원리들 및 신규한 특성들과 일치하는 가장 넓은 범위에 부합할 것이다.

Claims (20)

  1. 장치로서,
    기준 신호를 생성하도록 구성되는 제 1 라디오 주파수(RF) 피크(peak) 검출기;
    상기 제 1 RF 피크 검출기에 커플링되고, 상기 제 1 RF 피크 검출기에 의해 생성되는 상기 기준 신호에 기초하여 온도 보상형(compensated) 검출 임계치를 생성하도록 구성되는 온도 보상형 임계치 생성기; 및
    상기 온도 보상형 검출 임계치에 기초하여 피크 검출 출력을 생성하도록 구성되는 비교기를 포함하는, 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 비교기는, 상기 온도 보상형 검출 임계치와 제 2 RF 피크 검출기에 의해 생성되는 피크 검출 신호의 비교에 기초하여 상기 피크 검출 출력을 생성하도록 구성되는, 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 기준 신호를 수신하고, 상기 기준 신호에 기초하여 오프셋(offset) 기준 신호를 생성하도록 구성되는 오프셋 생성기를 더 포함하며,
    상기 오프셋 기준 신호는 상기 온도 보상형 임계치 생성기에 제공되는, 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 오프셋 생성기는 추가로, 상기 제 2 RF 피크 검출기와 연관된 오프셋과 매칭(match)하게 상기 오프셋 기준 신호를 생성하도록 구성되는, 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 오프셋 생성기는, 디지털 제어 신호에 기초하여 상기 오프셋 기준 신호를 생성하는 디지털 투 아날로그 변환기(digital to analog converter)(DAC)를 포함하는, 장치.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 임계치 생성기는, 온도 보상형 전류를 생성하는 온도 보상형 전류 소스를 포함하는, 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 임계치 생성기는, 상기 온도 보상형 전류 및 디지털 제어 입력에 기초하여 상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하도록 구성되는 디지털-투-아날로그 변환기(DAC)를 더 포함하는, 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 검출 임계치 및 상기 피크 검출 출력은 온도에 대해 동등한 변동들을 갖는, 장치.
  9. 제 2 항에 있어서,
    상기 제 1 RF 피크 검출기 및 상기 제 2 RF 피크 검출기는 집적 회로 상에 형성되고, 동등한 프로세스 변동들을 갖도록 구성되는, 장치.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 RF 피크 검출기는, 부동(floating) 값을 수신하도록 구성되거나 또는 RF 신호를 수신하지 않도록 구성되는 입력 단자를 사용하여 상기 기준 신호를 생성하도록 구성되는, 장치.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 피크 검출 출력은, 상기 피크 검출 출력에 기초하여 송신기에서의 송신 전력을 검출하도록 구성되는 프로세서에 제공되는, 장치.
  12. 제 1 항에 있어서,
    상기 피크 검출 출력은, 상기 피크 검출 출력에 기초하여 수신기에서의 재밍(jamming) 신호 전력을 검출하도록 구성되는 프로세서에 제공되는, 장치.
  13. 장치로서,
    기준 신호를 생성하기 위한 수단;
    상기 기준 신호를 생성하기 위한 수단에 의해 생성되는 상기 기준 신호에 기초하여 온도 보상형 검출 임계치를 생성하기 위한 수단 ― 상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하기 위한 수단은 상기 기준 신호를 생성하기 위한 수단에 커플링됨 ―; 및
    상기 온도 보상형 검출 임계치에 기초하여 피크 검출 출력을 생성하기 위한 수단을 포함하는, 장치.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 피크 검출 출력을 생성하기 위한 수단은, 상기 온도 보상형 검출 임계치와 라디오 주파수(RF) 피크 검출 신호를 생성하기 위한 수단에 의해 생성되는 피크 검출 신호의 비교에 기초하여 상기 피크 검출 출력을 생성하도록 구성되는, 장치.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 기준 신호에 기초하여 오프셋 기준 신호를 생성하기 위한 수단을 더 포함하며,
    상기 오프셋 기준 신호는 상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하기 위한 수단에 제공되는, 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 오프셋 기준 신호를 생성하기 위한 수단은, 상기 RF 피크 검출 신호와 연관된 오프셋과 매칭하게 상기 오프셋 기준 신호를 생성하도록 구성되는, 장치.
  17. 제 14 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하기 위한 수단은, 온도 보상형 전류 소스 및 디지털 제어 입력에 기초하여 상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하도록 구성되는 디지털-투-아날로그 변환기(DAC)를 포함하는, 장치.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 검출 임계치 및 상기 피크 검출 신호는 온도에 대해 동등한 변동들을 갖는, 장치.
  19. 제 13 항에 있어서,
    상기 피크 검출 출력은, 상기 피크 검출 출력에 기초하여 송신기에서의 송신 전력을 검출하거나 또는 상기 피크 검출 출력에 기초하여 수신기에서의 재밍 신호 전력을 검출하도록 구성되는 프로세서에 제공되는, 장치.
  20. 제 1 항에 있어서,
    상기 온도 보상형 임계치 생성기는 추가로, 제어 신호를 수신하고, 상기 기준 신호 및 상기 제어 신호에 기초하여 상기 온도 보상형 검출 임계치를 생성하도록 구성되는, 장치.
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