KR101653660B1 - 스폿 용접건의 용접팁 검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 스폿 용접건의 용접팁 검사방법에 관한 것으로서, 상호 대향하는 한 쌍의 용접팁 측면영상과, 평면영상을 획득하는 영상획득단계와, 획득된 상기 측면영상과, 상기 평면영상의 노이즈를 제거하는 노이즈 제거단계와, 미리 설정된 기준값에 기초하여 상기 측면영상과 상기 평면영상을 이진화하여 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터를 획득하는 이진화 데이터 획득단계와, 이진화된 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터에 기초하여 상기 한 쌍의 용접팁 에지를 추출하는 에지추출단계와, 추출된 상기 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는지 여부에 따라 직진도를 검사하는 직진도 검사단계와, 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중심간 거리를 측정하고, 측정된 거리값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 한 쌍의 용접팁 영점을 검사하는 영점 검사단계 및 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하고, 획득된 상기 선단영상에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 검사단계를 포함하되, 상기 오염도 검사단계는 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하는 선단영상 획득단계와, 템플릿 매칭 기법을 이용하여 상기 선단영상으로부터 상기 용접팁의 선단경과 대응되는 위치를 검색하는 선단경 검색단계와, 검색된 상기 선단경의 크기를 검출하고, 검출된 상기 선단경의 크기에 기초하여 상기 용접팁의 드레싱면을 추출하는 드레싱면 추출단계 및 상기 선단영상 중 상기 드레싱면과 대응되는 영역의 명암차와 색정보에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 분석단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 제공한다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 한 쌍의 용접팁 측면영상 및 평면영상을 이진화하여 용접팁의 에지를 추출한 후 추출된 용접팁의 에지를 통해 한 쌍의 용접팁 직진도 및 영점을 검사함으로써 하나의 장치에서 복수의 용접팁 검사공정을 일괄처리하여 검사작업의 시간을 현저하게 단축시킬 수 있을 뿐 아니라 검사결과의 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Description

스폿 용접건의 용접팁 검사방법{Test method for tip of spot wellding gun}

본 발명은 스폿 용접건의 용접팁 검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 하나의 장치에서 복수의 용접팁 검사공정을 일괄처리하여 검사작업의 시간을 현저하게 단축시킬 수 있을 뿐 아니라 검사결과의 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법에 관한 것이다.

일반적으로 스폿용접은 저항용접기술의 일종으로, 용접하기 위한 금속판재를 두장 또는 세장을 포개어 한 쌍의 용접팁 사이에 배치한 쌍태에서 한 쌍의 용접팁으로 가압한 후 용접팁에 전류를 인가하여 그로부터 발생되는 저항발열을 이용하여 금속판재를 용접하는 방식이다.

이러한 스폿용접은 점용접이라고도 하는데, 용접시간이 짧다는 이점이 있어 박판의 용접에 널리 사용되고 있다.

상기한 스폿용접을 하기 위한 스폿용접건은 상호 대향하는 한 쌍의 용접팁이 구비되어 겹치진 모재의 상하면에 한 쌍의 용접팁을 각각 밀착시킨 상태에서 용접팁에 고전류의 전기를 흘려보내 이때 발생하는 고온의 열을 이용하여 모재를 용접하게 되는데, 최근에는 로봇암에 상기 스폿용접기를 설치하여 용접 작업을 자동으로 진행할 수 있도록 된 용접로봇이 널리 사용되고 있다.

그런데, 이러한 스폿용접건은 용접작업시 용접팁의 가압력, 전류의 세기, 용접팁의 직진도, 선단경, 영점등 설정 오류와, 장시간 용접 작업으로 인한 용접팁의 마모 또는 형상변경, 용접팁에 발생된 오염물에 의해 전극손상, 품질저하, 강도저하, 내부 균열등의 용접불량이 발생될 수 있다.

이에 종래에는 스폿용접건을 이용한 용접작업 전에 용접팁의 가압력, 전류의 세기등을 측정하여 검사하고, 측정검사가 어려운 용접팁의 직진도, 선단경, 영점, 용접팁 오염도 검사등은 작업자가 직접 육안으로 검사한 후 용접작업이 이루어지도록 함으로써 안전사고에 대해 미연에 대처하고 있다.

그러나, 종래에는 앞에서 설명한 바와 같이 작업자가 측정검사로는 작업이 어려운 용접팁의 직진도, 선단경, 영점, 용접팁의 오염도등을 직접 육안으로 검사함으로써 용접팁 검사작업에 상당한 시간이 소요될 뿐 아니라 그 검사의 신뢰도가 낮은 문제점이 있었다.

이에 최근에는 한국등록특허 1385922호와 같이 비전장비를 이용하여 용접팁의 선단형상을 자동으로 검사하는 검사장치가 개발된 바 있으나, 이는 거울을 이용하여 검사장치 외부에 배치된 용접팁의 선단을 검사하는 것으로서, 일부 검사공정에만 이용되어 그외 다른 검사공정은 종래와 같이 작업자가 육안으로 검사해야 함으로써 종래의 문제점을 개선하는데 한계가 있었다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 한 쌍의 용접팁 측면영상 및 평면영상을 이진화하여 용접팁의 에지를 추출한 후 추출된 용접팁의 에지를 통해 한 쌍의 용접팁 직진도 및 영점을 검사함으로써 하나의 장치에서 복수의 용접팁 검사공정을 일괄처리하여 검사작업의 시간을 현저하게 단축시킬 수 있을 뿐 아니라 검사결과의 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 제공함에 있다.

또한, 본 발명의 다른 목적은 하나의 장치에서 용접팁의 직진도 및 영점검사와 함께 용접팁 선단의 오염도 검사 또한 일괄적으로 이루어질 수 있도록 함으로써 용접팁 검사작업의 효율을 크게 향상시킬 수 있는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 제공함에 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따르면, 상호 대향하는 한 쌍의 용접팁 측면영상과, 평면영상을 획득하는 영상획득단계와, 획득된 상기 측면영상과, 상기 평면영상의 노이즈를 제거하는 노이즈 제거단계와, 미리 설정된 기준값에 기초하여 상기 측면영상과 상기 평면영상을 이진화하여 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터를 획득하는 이진화 데이터 획득단계와, 이진화된 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터에 기초하여 상기 한 쌍의 용접팁 에지를 추출하는 에지추출단계와, 추출된 상기 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는지 여부에 따라 직진도를 검사하는 직진도 검사단계와, 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중심간 거리를 측정하고, 측정된 거리값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 한 쌍의 용접팁 영점을 검사하는 영점 검사단계 및 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하고, 획득된 상기 선단영상에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 검사단계를 포함하되, 상기 오염도 검사단계는 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하는 선단영상 획득단계와, 템플릿 매칭 기법을 이용하여 상기 선단영상으로부터 상기 용접팁의 선단경과 대응되는 위치를 검색하는 선단경 검색단계와, 검색된 상기 선단경의 크기를 검출하고, 검출된 상기 선단경의 크기에 기초하여 상기 용접팁의 드레싱면을 추출하는 드레싱면 추출단계 및 상기 선단영상 중 상기 드레싱면과 대응되는 영역의 명암차와 색정보에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 분석단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 제공한다.

그리고, 상기 직진도 검사단계는 추출된 상기 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 서로 대향하는 용접팁 방향으로 직선의 가상선을 연장하는 단계와, 상기 각 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는지 여부를 판단하는 단계와, 상기 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 불일치하는 경우 한 쌍의 가상선이 상호 평행한지 여부를 판단하는 단계 및 상기 한 쌍의 가상선이 평행한 경우 상기 한 쌍의 가상선간 거리를 측정하고, 상기 한 쌍의 가상선이 평행하지 않는 경우 상기 한 쌍의 가상선간 각도를 측정하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중 각각 수직선에 대응되는 영역을 추출하고, 추출된 영역의 길이를 측정하여 상기 한 쌍의 용접팁 선단경을 검사하는 선단경 검사단계를 더 포함할 수 있다.

아울러, 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하고, 획득된 상기 선단영상에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 검사단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.

또한, 상기 오염도 검사단계는 상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하는 선단영상 획득단계와, 템플릿 매칭 기법을 이용하여 상기 선단영상으로부터 상기 용접팁의 선단경과 대응되는 위치를 검색하는 선단경 검색단계와, 검색된 상기 선단경의 크기를 검출하고, 검출된 상기 선단경의 크기에 기초하여 상기 용접팁의 드레싱면을 추출하는 드레싱면 추출단계 및 상기 선단영상 중 상기 드레싱면과 대응되는 영역의 명암차와 색정보에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 분석단계를 포함할 수 있다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 한 쌍의 용접팁 측면영상 및 평면영상을 이진화하여 용접팁의 에지를 추출한 후 추출된 용접팁의 에지를 통해 한 쌍의 용접팁 직진도 및 영점을 검사함으로써 하나의 장치에서 복수의 용접팁 검사공정을 일괄처리하여 검사작업의 시간을 현저하게 단축시킬 수 있을 뿐 아니라 검사결과의 신뢰도를 크게 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

또한, 본 발명의 다른 목적은 하나의 장치에서 용접팁의 직진도 및 영점검사와 함께 용접팁 선단의 오염도 검사 또한 일괄적으로 이루어질 수 있도록 함으로써 용접팁 검사작업의 효율을 크게 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

도1은 본 발명의 일실시예에 따른 스폿 용접팁 검사장치를 도시한 사시도,
도2는 본 발명의 일실시예에 따른 용접팁 검사부를 도시한 블럭도,
도3은 본 발명의 일실시예에 따른 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 도시한 순서도.

이하에서 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일실시예를 상세하게 설명하도록 한다.

도1은 본 발명의 일실시예에 따른 스폿 용접팁 검사장치를 도시한 사시도이다.

도1에서 보는 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 스폿 용접팁 검사장치는 내부에 암실의 검사공간을 제공하는 하우징(10)과, 하우징(10) 내부에 설치되는 측면 촬상부(20)와, 하우징(10)의 내부 중 상부 일측에 설치되는 평면 촬상부(30)와, 하우징(10)의 내부 중 측면 촬상부(20)와 대향되게 설치되는 제1 조명부(40)와, 하우징(10)의 내부 중 평면 촬상부(30)와 대향되게 설치되는 제2 조명부(50)와, 한 쌍의 용접팁 선단과 대향되게 설치되는 선단촬상부 및 측면 촬상부(20), 평면 촬상부(30), 선단 촬상부(60)와 전기적으로 연결되어 이들로부터 각각 한 쌍의 용접팁 측면영상, 평면영상 및 선단영상을 인가받고 인가된 영상을 분석하여 한 쌍의 용접팁 직진도, 선단경, 영점 및 오염도를 검사하는 용접팁 검사부(70)를 포함하여 구성된다.

이러한 스폿 용접팁 검사장치는 하우징(10)의 검사공간으로 한 쌍의 용접팁이 인입되면, 제1 조명부(40) 및 제2 조명부(50)가 on되고, 측면 촬상부(20) 및 평면 촬상부(30)가 한 쌍의 용접팁 측방과 상방에서 촬상하여 각각 용접팁 측면영상과, 평면영상을 획득한 후 이를 용접팁 검사부(70)로 전달한다.

그리고, 선단 촬상부(60)에서 각 용접팁의 선단부를 촬상하여 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하고, 획득한 선단영상을 용접팁 검사부(70)로 전달한다.

이와 같이 측면 촬상부(20), 평면 촬상부(30) 및 선단 촬상부(60)로부터 각각 측면영상, 평면영상 및 선단영상이 용접팁 검사부(70)로 전달되면, 용접팁 검사부(70)는 전달된 각 영상을 분석하여 한 쌍의 용접팁 직진도, 선단경, 영점 및 오염도 검사를 수행하게 되는데, 이하에서 상기한 용접팁 검사부(70)의 동작을 보다 상세하게 살펴보도록 한다.

도2는 본 발명의 일실시예에 따른 용접팁 검사부를 도시한 블럭도이다.

도2에서 보는 바와 같이 본 발명의 일실시예에 따른 용접팁 검사부(70)는 입력부(71)와, 필터링부(72)와, 정렬상태 분석부(73) 및 오염도 분석부(74)를 포함하여 구성된다.

입력부(71)는 측면 촬상부(20), 평면 촬상부(30) 및 선단 촬상부(60)로부터 각각 측면영상, 평면영상, 선단영상을 입력받고, 이를 후술하는 필터링부(72)로 전달하는 역할을 한다.

필터링부(72)는 입력부(71)로부터 전달된 측면영상, 평면영상에서 Cb, Cr의 데이터를 제거함과 아울러 측면영상, 평면영상, 선단영상을 그레이스케일 영상으로 색변환을 수행한 후 Y신호에 대하여 가우시안 로패스 필터 처리를 수행함으로써 영상 내에 포함되어 있는 잡음을 제거하는 역할을 한다.

정렬상태 분석부(73)는 이진화 처리모듈(73a)과, 에지추출모듈(73b) 및 정렬상태 분석모듈(73c)을 포함하여 구성되며, 측면영상 및 평면영상에 기초하여 용접팁의 에지를 추출한 후 용접팁의 직진도, 선단경 및 영점을 분석하여 검사하는 역할을 한다.

여기서, 이진화 처리모듈(73a)은 필터링부(72)에 의해 필터링된 측면영상 및 평면영상을 미리 설정된 기준값에 따라 0과 255로 이진화처리하는 역할을 한다. 즉, 이진화 처리부(73)는 영상 중 기준값보다 낮은 부분은 0으로 처리하고, 기준값보다 높은 부분은 255로 처리하여 이진화 데이터를 획득하는 역할을 한다.

에지 추출모듈(73b)은 이진화 처리된 측면영상데이터 및 평면영상데이터 중 이진화 데이터값이 큰 폭으로 차이나는 부분을 검출함으로써 용접팁의 형상 중 외곽부분, 즉 용접팁의 에지를 추출하는 역할을 한다.

정렬상태 분석모듈(73c)는 에지 추출부(74)로부터 추출된 용접팁의 에지데이터에 기초하여 용접팁의 직진도, 선단경, 영점을 분석, 검사하는 역할을 한다.

오염도 분석부(74)는 드레싱면 추출모듈(74a) 및 오염도 분석모듈(74b)을 포함하여 구성되고, 그레이스케일 영상으로 용접팁의 드레싱면을 검출한 후 Cb, Cr의 데이터를 제거되지 않은 선단영상에 기초하여 용접팁 드레싱면의 오염도를 분석하여 검사하는 역할을 한다.

드레싱면 추출모듈(74a)은 템플릿 매칭 기법을 통해 필터링부(72)에 의해 필터링된 선단영상으로부터 용접팁 선단경의 위치를 검색하고, 검출된 결과를 기반으로 선단영상 중 드레싱면을 추출하는 역할을 한다.

오염도 분석모듈(74b)은 추출된 드레싱면과 용접팁의 다른 영역간 명암차 및 색정보를 비교하여 용접팁의 오염도를 분석하는 역할을 한다.

도3은 본 발명의 일실시예에 따른 스폿 용접건의 용접팁 검사방법을 도시한 순서도이다.

이와 같은 구성을 갖는 스폿 용접건의 용접팁 검사장치를 이용하여 스폿 용접건의 용접팁을 검사하는 방법을 도3을 참조하여 상세하게 살펴보면 다음과 같다.

영상획득단계 및 선단영상 획득단계(S10)

제1 조명부(40) 및 제2 조명부(50)가 on된 상태에서 측면 촬상부(20), 평면 촬상부(30)가 한 쌍의 용접팁을 측방과 상방에서 촬상하여 각각 한 쌍의 용접팁 측면영상 및 평면영상을 획득하고, 획득된 측면영상 및 평면영상을 용접팁 검사부(70)로 전달한다.

다음, 제1 조명부(40) 및 제2 조명부(50)가 on으로 유지된 상태에서 선단 촬상부(60)가 각각 한 쌍의 용접팁 선단을 촬상하여 2개의 선단영상을 획득하고, 획득한 선단영상 또한 용접팁 검사부(70)로 전달한다.

용접팁 검사부(70)는 측면 촬상부(20) 및 평면 촬상부(30)로부터 전달된 측면영상 및 평면영상과, 선단 촬상부(60)로부터 전달된 2개의 선단영상이 입력부(71)를 통해 입력된다.

노이즈 제거단계(S20)

입력부(71)를 통해 입력된 측면영상, 평면영상 및 선단영상이 입력되면, 필터링부(72)는 측면영상, 평면영상으로부터 Cb,Cr값을 제거함과 아울러 측면영상, 평면영상, 선단영상을 그레이스케일 영상으로 색변환하고, 색변환된 측면영상, 평면영상 및 선단영상을 Y신호에 대하여 가우시안 로패스 필터 처리를 수행함으로써 각 영상에 포함된 노이즈를 제거한다.

여기서, 노이즈가 제거된 측면영상 및 평면영상은 정렬상태 분석부(73)로 인가되고, 선단영상은 그레이스케일 영상과, Cb, Cr값이 제거되지 않은 영상을 동시에 오염도 분석부(74)로 인가된다.

이진화 데이터 획득단계(S30)

필터링부(72)로부터 인가된 측면영상 및 평면영상은 먼저 이진화 처리모듈(73a)에 의해 미리 설정된 기준값을 기준으로 0 또는 255의 값으로 이진화됨으로써 측면영상과 평면영상을 각각 이진화된 영상으로 형성된다.

일예로, 측면영상 중 기준값보다 낮은 영역은 0으로 수치화하고, 기준값보다 높은 영역은 255로 설정, 즉 기준값을 기준으로 기준값보다 작은 값은 0으로, 기준값 보다 큰 값은 255로 매핑하여 측면 이진화 데이터를 획득하며, 위와 동일한 방법으로 평면영상으로부터 평면 이진화 데이터를 획득한다.

에지추출단계(S40)

다음, 에지추출모듈(73b)은 측면 이진화 데이터 및 평면 이진화 데이터에 기초하여 0과 255의 경계영역을 검출함으로써 용접팁의 형상 중 외곽부분, 즉 용접팁의 에지를 추출한다.

용접팁 정렬상태 검사단계(S50)

정렬상태 분석모듈(73c)은 추출된 용접팁의 에지를 통해 한 쌍의 용접팁 직진도 검사, 선단경 검사, 영점검사를 수행하게 되는데, 먼저 직진도 검사방법을 살펴보면 다음과 같다.

1. 직진도 검사(S51)

먼저, 분석부(75)는 도3에서 보는 바와 같이 추출된 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 상호 대향하는 용접팁 방향으로 직선의 가상선을 연장한다.(S51a)

이후, 분석부(75)는 상호 대향하는 한 쌍의 용접팁 측면 에지로부터 각각 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는 여부를 분석(S51b)하고, 일치하는 경우 한 쌍의 용접팁이 동일선상에 위치한 것으로 판단하여 정상판정을 한다.

한편, 한 쌍의 가상선이 불일치하는 경우 다시 한 쌍의 가상선이 상호 평행한지 여부를 분석한다.(S51c)

이때, 한 쌍의 가상선이 평행한 경우 한 쌍의 가상선간 거리를 측정(S51d)하고, 한 쌍의 가상선이 평행하지 않는 경우 한 쌍의 가상선간 각도를 측정(S51e)하는 역할을 하는데, 여기서, 측정된 한 쌍의 가상선간 거리는 용접팁의 직진도를 향상시키기 위해 용접팁의 이동거리로서 이용되고, 측정된 한 쌍의 가상선간 각도는 용접팁의 직진도를 향상시키기 위해 용접팁의 회전각도로서 이용된다.

2. 선단경 검사(S52)

분석부(75)는 한 쌍의 용접팁 에지 중 선단에지를 추출(S52a)하고, 추출된 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중 각각 수직선에 대응되는 영역을 검출(S52b)하며, 검출된 영역의 길이, 즉 용접팁 선단경의 직경을 측정(S52c)한 후 측정값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 용접팁 선단경의 불량유무를 검사한다.

3. 영점검사(S53)

분석부(75)는 한 쌍의 용접팁 에지 중 선단 에지를 추출(S53a)하고, 선단경 검사에서 검출된 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중 중앙영역간 거리를 측정(S53b)하고, 측정된 측정값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 용접팁의 영점을 검사한다.

용접팁 오염도 검사단계(S60)

한편, 오염도 분석부는 필터링부(72)로부터 노이즈 제거된 그레이스케일 영상과, CbCr이 제거되지 않은 선단영상을 인가받고, 인가된 영상에 기초하여 용접팁의 오염도를 검사하게 되는데, 이를 단계적으로 살펴보면, 선단영상 획득단계(S61)와, 선단경 검색단계(S62)와, 드레싱면 추출단계(S63) 및 오염도 분석단계(S64)로 이루어질 수 있다.

선단영상 획득단계(S54a)는 앞서 설명한 바와 같이 필터링부(72)로부터 노이즈가 제거된 선단영상을 인가받는 단계이다.

선단경 검색단계(S54b)는 템플릿 매칭 기법을 통해 그레이스케일 영상으로부터 용접팁 선단경의 위치를 검색한다.

드레싱면 추출단계(S54c)는 선단경 검색단계에서 검색된 용집팁의 선단경과 대응되는 부분의 크기를 검출하고, 검출된 선단경에 기초하여 용접팁의 드레싱면을 추출한다.

오염도 분석단계(S54d)는 검출된 드레싱면과 대응되는 색정보를 CbCr이 제거되지 않은 선단영상으로부터 추출한 후 드레싱면과 용접팁의 다른 영역간 색차 정보를 비교하여 용접팁 드레싱면의 오염도를 분석한다.

비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위는 본 발명의 요지에서 속하는 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.

10 : 하우징 20 : 측면 촬상부
30 : 평면 촬상부 40 : 제1 조명부
50 : 제2 조명부 60 : 선단 촬상부
70 : 프로세서 71 : 입력부
72 : 필터링부 73 : 이진화 처리부
74 : 에지 추출부 75 : 분석부

Claims (5)

1. 상호 대향하는 한 쌍의 용접팁 측면영상과, 평면영상을 획득하는 영상획득단계와;
   획득된 상기 측면영상과, 상기 평면영상의 노이즈를 제거하는 노이즈 제거단계와;
   미리 설정된 기준값에 기초하여 상기 측면영상과 상기 평면영상을 이진화하여 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터를 획득하는 이진화 데이터 획득단계와;
   이진화된 측면 이진화데이터 및 평면 이진화데이터에 기초하여 상기 한 쌍의 용접팁 에지를 추출하는 에지추출단계와;
   추출된 상기 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는지 여부에 따라 직진도를 검사하는 직진도 검사단계와;
   한 쌍의 용접팁 선단 에지 중심간 거리를 측정하고, 측정된 거리값을 미리 설정된 기준값과 비교하여 상기 한 쌍의 용접팁 영점을 검사하는 영점 검사단계; 및
   상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하고, 획득된 상기 선단영상에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 검사단계를 포함하되,
   상기 오염도 검사단계는
   상기 한 쌍의 용접팁 선단영상을 획득하는 선단영상 획득단계와;
   템플릿 매칭 기법을 이용하여 상기 선단영상으로부터 상기 용접팁의 선단경과 대응되는 위치를 검색하는 선단경 검색단계와;
   검색된 상기 선단경의 크기를 검출하고, 검출된 상기 선단경의 크기에 기초하여 상기 용접팁의 드레싱면을 추출하는 드레싱면 추출단계; 및
   상기 선단영상 중 상기 드레싱면과 대응되는 영역의 명암차와 색정보에 기초하여 상기 용접팁의 오염도를 분석하는 오염도 분석단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 직진도 검사단계는
   추출된 상기 한 쌍의 용접팁 에지 중 각 용접팁의 측면 에지로부터 서로 대향하는 용접팁 방향으로 직선의 가상선을 연장하는 단계와;
   상기 각 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 상호 일치하는지 여부를 판단하는 단계와;
   상기 용접팁의 측면 에지로부터 연장된 한 쌍의 가상선이 불일치하는 경우 한 쌍의 가상선이 상호 평행한지 여부를 판단하는 단계; 및
   상기 한 쌍의 가상선이 평행한 경우 상기 한 쌍의 가상선간 거리를 측정하고, 상기 한 쌍의 가상선이 평행하지 않는 경우 상기 한 쌍의 가상선간 각도를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법.
   
3. 제1항에 있어서,
   상기 한 쌍의 용접팁 선단 에지 중 각각 수직선에 대응되는 영역을 추출하고, 추출된 영역의 길이를 측정하여 상기 한 쌍의 용접팁 선단경을 검사하는 선단경 검사단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 스폿 용접건의 용접팁 검사방법.
   
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