KR101579559B1 - 비파괴 검사장치용 거치장치 - Google Patents

비파괴 검사장치용 거치장치 Download PDF

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장현우
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Abstract

본 발명은 비파괴 검사장치용 거치장치에 관한 것으로, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치(1)가 삽입되어 고정되도록 중공관 형태로 형성된 고정관(11)을 포함하는 고정부(10), 막대 형상으로 형성되고, 비파괴 검사장치(1)와 나란하게 배치되도록 일단이 고정관(11)에 결합된 한 쌍의 결착바(21)를 포함하는 결착부(20), 및 피검용 파이프(5)를 감싸도록 원통형으로 형성된 드럼(31), 및 드럼(31)의 외주연으로부터 돌출되되, 한 쌍의 결착바(21)가 삽입 배치되도록 테두리로부터 드럼(31) 방향으로 함몰되는 한 쌍의 가이드홈(35)이 드럼(31)을 중심으로 소정의 각도를 이루며 복수 개가 형성된 플랜지(33)를 포함하는 지지부(30)를 포함하고, 한 쌍의 결착바(21)가 서로 다른 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입됨에 따라서, 비파괴 검사장치(1)가 피검용 파이프(5)를 중심으로 회전하면서 피검용 파이프(5)를 검사한다.

Description

비파괴 검사장치용 거치장치{SETTING DEVICE OF NONDESTRUCTIVE INSPECTION APPARATUS}
본 발명은 비파괴 검사장치용 거치장치에 관한 것이다.
재료의 결함을 발견해내는 검사방법으로서, 비파괴 검사가 있다. 이러한 비파괴 검사는 재료를 절단하거나 파괴하지 않고 내부의 기공이나 균열 등의 결함을 판별하는 검사법이다. 비파괴 검사에는 여러 가지 방법이 있는데, 방사선을 이용한 방사선 탐상법, 초음파를 재료에 방사하는 초음파 탐상법 등이 대표적인 비파괴 검사방법이다.
한편, 비파괴 검사는 다양한 산업분야에서 여러 종류의 재료를 검사하기 위해 이용되는데, 하기 선행기술문헌의 특허문헌에 개시된 바와 같이, 파이프의 내부 균열이나 용접부의 상태를 점검하기 위해서 매우 유용하게 사용된다.
이렇게 파이프의 결함을 검사하는 종래 비파괴 검사장치는 방사선이나 초음파를 조사하는 프로젝터(projector)가 파이프를 따라서 이동할 수 있게, 별도의 레일을 구비한다. 따라서, 종래 비파괴 검사장치를 사용하기 위해서는 파이프 주변에 충분한 설치공간이 확보되어야 하므로 공간적 제약을 받고, 설치에 장시간이 소요되므로, 검사시간이 길어지는 문제점이 있었다.
또한, 파이프에 대한 비파괴 검사는 파이프의 길이방향을 따라 서로 다른 지점을 검사해야 할 뿐만 아니라 파이프의 외주면을 따라 회전하면서도 검사가 이루어져야 한다. 이때, 작업자가 특별한 기준 없이 임의로 검사지점을 선정하게 되면, 특정 지점을 반복하여 검사하게 되므로, 검사결과가 반복되고, 검사지점이 일부 누락되는 문제점이 발생한다.
따라서, 종래 비파괴 검사장치에 발생하는 문제를 해결하기 위한 방안이 절실히 요구되고 있는 상황이다.
KR 10-1263750 B1
본 발명은 상술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 일 측면은 비파괴 검사장치가 결착바에 연결되고, 파이프를 감싸는 지지부의 플랜지에 복수 개의 가이드홈이 형성됨으로써, 비파괴 검사장치가 파이프의 외주면을 따라 회전하면서 파이프의 결함을 용이하게 검사할 수 있게 하는 비파괴 검사장치용 거치장치를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명의 다른 측면은 비파괴 검사장치와 연결된 결착바에 함몰부가 형성되고, 가이드홈의 너비가 입구부에서 소정의 깊이까지 점점 커지도록 형성됨으로써, 비파괴 검사장치를 용이하고 단단하게 고정시키는 비파괴 검사장치용 거치장치를 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치가 삽입되어 고정되도록 중공관 형태로 형성된 고정관을 포함하는 고정부, 막대 형상으로 형성되고, 상기 비파괴 검사장치와 나란하게 배치되도록 일단이 상기 고정관에 결합된 한 쌍의 결착바를 포함하는 결착부, 및 피검용 파이프를 감싸도록 원통형으로 형성된 드럼, 및 상기 드럼의 외주연으로부터 돌출되되, 한 쌍의 상기 결착바가 삽입 배치되도록 테두리로부터 상기 드럼 방향으로 함몰되는 한 쌍의 가이드홈이 상기 피검용 파이프를 중심으로 소정의 각도를 이루며 복수 개가 형성된 플랜지를 포함하는 지지부를 포함하고, 한 쌍의 상기 결착바가 서로 다른 한 쌍의 상기 가이드홈에 삽입됨에 따라서, 상기 비파괴 검사장치가 상기 피검용 파이프를 중심으로 회전하면서 상기 피검용 파이프를 검사한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 고정관은 삽입되는 상기 비파괴 검사장치의 외주면으로부터 돌출된 걸림턱의 일면과 맞닿는다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 고정부는 소정의 길이를 갖고, 상기 비파괴 검사장치와 나란하게 배치되도록, 일단이 상기 고정관의 외측면에 결합되는 블록체, 및 핀 형상으로 형성되고, 상기 블록체의 타단을 관통한 일단이 상기 비파괴 검사장치를 향해 슬라이딩되어, 상기 걸림턱의 타면에 맞닿아 상기 비파괴 검사장치가 상기 고정관에서 이탈되는 것을 방지하는 고정핀을 더 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 고정부는 "U" 자형으로 형성되어, 상기 비파괴 검사장치의 외주면으로부터 돌출된 돌기가 일단에서 타단 방향으로 삽입되고, 타단이 상기 고정관에 배치된 걸림편을 더 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 결착부는 한 쌍의 상기 결착바의 타단을 서로 연결하는 연결체, 및 핀 형상으로 형성되고, 상기 연결체를 관통하여 상기 연결체의 일면으로부터 돌출된 일단이 상기 드럼을 향해 슬라이딩되면서, 상기 드럼에 관통된 결합홀에 삽입되는 결착핀을 더 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 결착부는 상기 연결체의 타면에 배치되고, 외면으로부터 상기 연결체 방향으로 함몰된 삽입홀이 형성되며, 상기 삽입홀 내에 상기 결착핀의 타단이 배치되도록, 상기 결착핀에 의해 관통되는 받침부, 및 상기 결착핀의 타단의 외주면으로부터 돌출되고, 상기 결착핀이 상기 드럼으로부터 멀어지는 방향으로 슬라이딩되어 고정되도록 상기 결착핀을 중심으로 회전하여 상기 받침부의 외면에 걸리는 스토퍼를 더 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 결착부는 상기 연결체에 고리 형태로 형성된 결착손잡이를 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 가이드홈은 상기 결착바가 삽입되는 입구부로부터 소정의 깊이까지 너비가 점점 커지고, 상기 결착바는 외주면으로부터 함몰된 함몰부가 형성되어, 상기 함몰부가 상기 가이드홈의 입구부로 삽입되고, 상기 가이드홈의 입구부의 너비보다 큰 너비를 갖는 상기 결착바의 외주면이 상기 가이드홈에 배치 고정되도록, 상기 가이드홈 내에서 길이방향을 따라 이동된다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 한 쌍의 상기 가이드홈 중 어느 하나의 상기 가이드홈과 다른 상기 가이드홈 사이의 상기 플랜지의 테두리는 상기 비파괴 검사장치의 외주면에 대응되도록 형성된다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 플랜지는 복수 개로, 상기 드럼의 길이방향을 따라 각각 서로 이격 배치된다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 드럼은 반원통형의 세그먼트 2개가 결합되어 형성되되, 각각의 세그먼트의 일단이 서로 힌지결합된다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 각각의 상기 세그먼트의 타단을 결착하는 결착구를 더 포함한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치에 있어서, 상기 드럼과 상기 피검용 파이프 사이에 밀착 배치되는 고정부재를 더 포함한다.
본 발명의 특징 및 이점들은 첨부도면에 의거한 다음의 상세한 설명으로 더욱 명백해질 것이다.
이에 앞서 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이고 사전적인 의미로 해석되어서는 아니되며, 발명자가 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
본 발명에 따르면, 비파괴 검사장치가 결착바에 연결되고, 파이프를 감싸는 지지부의 플랜지에 복수 개의 가이드홈이 형성됨으로써, 결착바가 서로 다른 가이드홈에 삽입됨에 따라서, 비파괴 검사장치가 파이프의 외주면을 따라 회전하므로, 검사 시간을 단축하고, 누락된 부분 없이 파이프의 결함을 용이하게 검사할 수 있게 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 비파괴 검사장치와 연결된 결착바에 함몰부가 형성되고, 가이드홈의 너비가 입구부에서 소정의 깊이까지 점점 커지도록 형성됨으로써, 결착바의 함몰부가 가이드홈의 입구부로 삽입된 후에 너비가 큰 결착바의 일부분이 가이드홈에 배치되므로, 비파괴 검사장치를 용이하고 단단하게 고정시키는 장점이 있다.
도 1은 비파괴 검사장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 고정부와 결착부의 사시도이다.
도 4는 도 3에 도시된 고정부와 결착부의 측면도이다.
도 5는 결착부가 지지부에 결착되는 때의 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이다.
도 7은 도 6에 도시된 지지부의 사시도이다.
본 발명의 목적, 특정한 장점들 및 신규한 특징들은 첨부된 도면들과 연관되어지는 이하의 상세한 설명과 바람직한 실시예들로부터 더욱 명백해질 것이다. 본 명세서에서 각 도면의 구성요소들에 참조번호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 한해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 번호를 가지도록 하고 있음에 유의하여야 한다. 또한, "제1", "제2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위해 사용되는 것으로, 구성요소가 상기 용어들에 의해 제한되는 것은 아니다. 이하, 본 발명을 설명함에 있어서, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 관련된 공지 기술에 대한 상세한 설명은 생략한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시형태를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 비파괴 검사장치의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 고정부와 결착부의 사시도이고, 도 4는 도 3에 도시된 고정부와 결착부의 측면도이다.
도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치(1)가 삽입되어 고정되도록 중공관 형태로 형성된 고정관(11)을 포함하는 고정부(10), 막대 형상으로 형성되고, 비파괴 검사장치(1)와 나란하게 배치되도록 일단이 고정관(11)에 결합된 한 쌍의 결착바(21)를 포함하는 결착부(20), 및 피검용 파이프(5)를 감싸도록 원통형으로 형성된 드럼(31), 및 드럼(31)의 외주연으로부터 돌출되되, 한 쌍의 결착바(21)가 삽입 배치되도록 테두리로부터 드럼(31) 방향으로 함몰되는 한 쌍의 가이드홈(35)이 드럼(31)을 중심으로 소정의 각도를 이루며 복수 개가 형성된 플랜지(33)를 포함하는 지지부(30)를 포함하고, 한 쌍의 결착바(21)가 서로 다른 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입됨에 따라서, 비파괴 검사장치(1)가 피검용 파이프(5)를 중심으로 회전하면서 피검용 파이프(5)를 검사한다.
본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 비파괴 검사장치(1)를 피검용 파이프(5)에 배치 고정시키는 장치로서, 고정부(10), 결착부(20), 및 지지부(30)를 포함한다.
여기서, 비파괴 검사장치(1)는 파이프(5)의 비파괴 검사에 사용되는 검사장치이다. 이때, 비파괴 검사는 파이프(5)에 방사선, 초음파 또는 엑스선을 조사하는 방식(방사선 탐상법, 초음파 탐상법, 엑스선 탐상법), 파이프(5)의 결함부위에 형광액을 침투시키는 방식(형광 탐상법), 파이프(5)를 자화시키는 방식(자기 탐상법)으로 파이프(5)의 결함을 검사한다. 따라서, 비파괴 검사장치(1)는 방사선, 초음파 또는 엑스선 등과 같은 빔(beam)을 조사하는 프로젝터(projector), 형광액 투여장치, 자화장치일 수 있다.
한편, 비파괴 검사장치(1)는 소정의 길이를 갖고, 외주면에 걸림턱(2), 돌기(3)가 형성될 수 있다. 이러한 걸림턱(2)이나 돌기(3)는 비파괴 검사장치(1)의 외주면으로부터 돌출되어 형성되는데, 비파괴 검사장치(1)의 제조과정에서 일체로 형성될 수도 있고, 제조 판매된 비파괴 검사장치(1)에 별도로 형성될 수도 있다. 또한, 걸림턱(2)과 돌기(3)는 비파괴 검사장치(1)에 어느 하나만 형성될 수도 있고, 함께 형성될 수도 있으며, 이때 돌기(3)가 걸림턱(2)의 외면으로부터 돌출되어 형성될 수도 있다. 그리고, 걸림턱(2)과 돌기(3)는 비파괴 검사장치(1)의 외주면으로부터 외측으로 돌출된 형태이면 족하고, 반드시 서로 다른 형태로 형성되어야 하는 것은 아니다. 이하에서 비파괴 검사장치(1)에는 걸림턱(2) 및 돌기(3)가 형성된 것으로 가정하여 설명하지만, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.
한편, 고정부(10)는 비파괴 검사장치(1)를 고정하는 것으로서, 고정관(11)을 포함한다. 이러한 고정관(11)은 중공관 형태로 형성되므로, 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치(1)가 삽입되어 고정된다. 이때, 비파괴 검사장치(1)의 외주면에 걸림턱(2)이 형성된 경우에는, 그 걸림턱(2)의 일면이 고정관(11)의 일단에 맞닿으므로, 비파괴 검사장치(1)가 고정관(11)을 통과하지 않고 고정된다.
결착부(20)는 비파괴 검사장치(1)를 지지부(30)에 결착시키는 것으로, 한 쌍의 결착바(21)를 포함한다. 여기서, 한 쌍의 결착바(21)는 각각 막대 형상으로 형성되고, 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치(1)와 나란하게 배치된다. 이때, 결착바(21)의 일단은 고정관(11)에 결합되는데, 직접 연결될 수도 있고(도시되지 않음), 별도의 연결부재(6)를 통해 연결될 수도 있다. 따라서, 결착바(21)가 지지부(30)의 플랜지(33)에 삽입 배치됨으로써, 고정관(11)에 고정된 비파괴 검사장치(1)가 지지부(30)에 결착된다.
이러한 지지부(30)는 피검용 파이프(5)에 비파괴 검사장치(1)를 고정하는 것으로, 드럼(31), 및 플랜지(33)를 포함한다. 여기서, 드럼(31)은 원통형으로 형성되어, 파이프(5)를 감싸면서 그 파이프(5)에 결착된다. 한편, 플랜지(33)는 드럼(31)의 외주연으로부터 돌출되어 형성되고, 복수 개의 가이드홈(35)을 구비한다. 이러한 가이드홈(35)은 결착바(21)가 삽입되어 고정되는 요홈으로서, 플랜지(33)의 테두리로부터 드럼(31) 방향으로 함몰되어 형성된다. 이때, 한 쌍의 결착바(21)가 각각 삽입되므로, 가이드홈(35)도 한 쌍으로 이루어진다. 다만, 플랜지(33)에 한 쌍의 가이드홈(35)만 형성되는 것은 아니고, 한 쌍의 가이드홈(35)이 플랜지(33)의 테두리를 따라, 드럼(31)을 중심으로 회전하면서, 복수 개가 형성된다. 이렇게 한 쌍의 가이드홈(35)이 복수 개 형성됨으로써, 서로 다른 한 쌍의 가이드홈(35)은 드럼(31)을 중심으로 소정의 각도를 이룬다. 따라서, 한 쌍의 결착바(21)가 순차적으로 어느 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입되었다가, 인접하는 다른 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입되면, 드럼(31)을 중심으로 회전하는 방향을 따라서, 지지부(30)에 순차적으로 결착된다. 이때, 결착바(21)와 결합된 고정관(11)에 비파괴 검사장치(1)가 고정되므로, 비파괴 검사장치(1)는 드럼(31)이 감싸고 있는 파이프(5)를 중심으로 회전하면서 파이프(5)를 검사할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 파이프(5)에 비파괴 검사장치(1)를 용이하게 고정시켜 사용할 수 있으므로, 사용자가 직접 비파괴 검사장치(1)를 들고 검사해야 하는 불편함이 없고, 방사선을 이용하는 경우에도, 방사선에 피폭될 염려가 없다. 또한, 비파괴 검사장치(1)가 파이프(5)의 길이방향뿐만 아니라, 외주면을 따라 회전하며 이동할 수도 있으므로, 누락되는 지점 없이 파이프(5)를 세심하게 검사할 수 있다. 구체적으로, 한 쌍의 결착바(21)가 어느 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입되어 특정 지점을 검사한 후, 드럼(31)을 중심으로 소정의 각도를 이루는 다른 한 쌍의 가이드홈(35)에 삽입되어 다른 지점을 검사한다. 따라서, 정해진 각도에 따라 순차적으로 이동하면서, 파이프(5)를 검사할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 고정관(11) 내에서 비파괴 검사장치(1)가 회전하지 않고 고정되도록, 고정부(10)가 걸림편(17)을 더 포함할 수 있다. 이러한 걸림편(17)은 비파괴 검사장치(1)에 형성된 돌기(3)를 고정하여, 비파괴 검사장치(1)가 회전하는 것을 방지한다. 구체적으로, 걸림편(17)은 "U" 자 형으로 형성되어, 일단에서부터 타단을 향하여 소정의 깊이만큼 틈새가 벌어져 있다. 이때, 걸림편(17)의 타단은 고정관(11)에 배치되므로, 비파괴 검사장치(1)가 고정관(11)에 삽입될 때, 비파괴 검사장치(1)의 돌기(3)는 걸림편(17)의 일단으로부터 타단을 향하여 삽입된다. 따라서, 비파괴 감사장치의 돌기(3)가 걸림편(17)의 틈새에 배치되므로, 비파괴 검사장치(1)가 회전하지 않고 고정된다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 비파괴 검사장치(1)가 고정관(11)에서 이탈되지 않도록, 고정부(10)가 블록체(13), 및 고정핀(15)을 더 포함할 수 있다. 구체적으로, 블록체(13)는 일단에서부터 타단까지 소정의 길이를 갖도록 형성된 부재로서, 일단이 고정관(11)의 외측면에 결합되어, 비파괴 검사장치(1)와 나란하게 배치된다. 이때, 블록체(13)의 일단에서부터 타단까지의 길이는 비파괴 검사장치(1)의 걸림턱(2)의 일면(2a)에서부터 타면(2b)까지의 길이보다 길어야 한다. 즉, 고정관(11)의 일단에 맞닿은 걸림턱(2)의 일면(2a)을 기준으로 고정핀(15)이 배치되는 블록체(13)의 타단까지의 길이가 걸림턱(2)의 일면(2a)에서부터 걸림턱(2)의 타면(2b)까지의 길이보다 길어야 하는 것이다. 따라서, 걸림턱(2)의 타면(2b)은 블록체(13)의 타단보다 고정관(11)의 일단에 가깝게 배치된다.
한편, 고정핀(15)은 핀 형상으로 형성되고, 블록체(13)의 타단을 관통하여, 비파괴 검사장치(1)에 가까워지거나 멀어지도록 슬라이딩된다. 이러한 고정핀(15)이 비파괴 검사장치(1)를 향해 슬라이딩되면, 고정핀(15)의 일단이 비파괴 검사장치(1)의 외주면에 접촉하거나 근접하게 된다. 이때, 걸림턱(2)의 타면(2b)은 블록체(13)의 타단보다 고정관(11)의 일단에 가까우므로, 걸림턱(2)은 고정관(11)과 고정핀(15) 사이에 배치되어, 비파괴 검사장치(1)가 고정된다(도 4 내지 도 5 참조). 즉, 걸림턱(2)의 일면은 고정관(11)에 맞닿고, 걸림턱(2)의 타면은 고정핀(15)의 일단에 맞닿으므로, 비파괴 검사장치(1)가 고정관(11)에서 이탈되지 않는다. 한편, 고정핀(15)의 타단에는 사용자가 고정핀(15)을 용이하게 슬라이딩시킬 수 있도록 손잡이(16)가 형성될 수 있다. 또한, 탄성력에 의해 고정핀(15)이 슬라이딩되도록, 스프링(도시되지 않음)이 블록체(13) 내부에 배치될 수도 있다. 이러한 경우, 고정핀(15)에 외력을 가해 강제로 당겼다가 그 외력을 제거하면, 스프링의 탄성에 의해서, 고정핀(15)은 비파괴 검사장치(1)를 향해 슬라이딩되어, 비파괴 검사장치(1)를 고정한다.
또한, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 결착바(21)가 지지부(30)에 고정되도록, 결착 부(20)가 연결체(23), 및 결착핀(24)을 더 포함할 수 있다. 여기서, 연결체(23)는 한 쌍의 결착바(21)의 타단을 서로 연결하는 부재이다. 한편, 결착핀(24)은 핀 형상으로 형성되고, 연결체(23)를 관통하여, 드럼(31)에 가까워지거나 멀어지도록 슬라이딩된다. 이러한 결착핀(24)이 드럼(31)을 향해서 슬라이딩되면, 결착핀(24)의 일단이 드럼(31)에 형성된 결합홀에 삽입된다. 여기서, 결착핀(24)의 일단은 연결체(23)의 일면으로부터 돌출되는 결착핀(24)의 부분을 의미한다. 따라서, 결합홀은 연결체(23)의 일면과 대향하는 드럼(31)의 외주면을 관통하여 형성된다. 이렇게, 결착핀(24)이 결합홀에 삽입되면, 결착바(21)가 길이방향으로 움직이지 않고 지지부(30)에 고정된다.
한편, 결착부(20)는 결착핀(24)을 고정하기 위해서, 받침부(25), 및 스토퍼(26)를 더 포함할 수 있다. 구체적으로, 받침부(25)는 연결체(23)의 타면에 배치되고, 외면으로부터 연결체(23) 방향으로 함몰되어 삽입홀이 형성된다. 여기서, 연결체(23)의 타면은 연결체(23)의 일면의 반대쪽 면을 의미하고, 결착핀(24)이 연결체(23)의 일면과 타면을 관통하므로, 받침부(25)도 결착핀(24)에 의해 관통된다. 이때, 결착핀(24)은 받침부(25)의 삽입홀에 삽입되어, 받침부(25)를 관통하므로, 상술한 바와 같이, 결착핀(24)의 일단은 연결체(23)의 일면으로부터 돌출되되, 결착핀(24)의 타단은 삽입홀 내에 배치된다. 한편, 스토퍼(26)는 결착핀(24)의 타단 외주면으로부터 외측으로 돌출되어 형성된다. 이러한 스토퍼(26)는 결착핀(24)의 타단에 형성되므로, 결착핀(24)이 슬라이딩됨에 따라 그 위치가 변한다. 구체적으로, 결착핀(24)의 일단이 슬라이딩되어 드럼(31)의 결합홀에 삽입된 때에는, 도 4의 A 위치 즉, 삽입홀 내에 스토퍼(26)가 위치한다. 반면에, 결착핀(24)의 일단이 드럼(31)으로부터 멀어지는 방향으로 슬라이딩된 때에는, 스토퍼(26)는 삽입홀에서부터 빠져나와, 도 4의 B 위치 즉, 받침부(25)의 외측에 위치하게 된다. 이때, 스토퍼(26)는 결착핀(24)이 회전함에 따라, 결착핀(24)을 중심으로 회전하여, 받침부(25)의 외면에 밀착될 수 있다. 이렇게, 스토퍼(26)가 받침부(25)의 외면에 밀착되어 걸리면, 결착핀(24)이 드럼(31) 방향으로 슬라이딩되지 않아서, 결착핀(24)의 일단은 드럼(31)의 결합홀에서 이탈된 채로 고정된다.
또한, 상술한 고정핀(15)과 동일하게, 결착핀(24)의 타단에도 사용자가 결착핀(24)을 용이하게 슬라이딩시킬 수 있도록 손잡이(29)가 형성될 수 있다. 또한, 탄성력에 의해 결착핀(24)이 슬라이딩되도록, 스프링(도시되지 않음)이 연결체(23) 또는 받침부(25) 내부에 배치될 수도 있다. 이러한 경우, 받침부(25)의 외면에 걸려있던 스토퍼(26)가 회전하여, 받침부(25)의 외면으로부터 이탈되어 풀리면, 스프링의 탄성에 의해서, 결착핀(24)은 드럼(31)을 향해 슬라이딩된다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 사용자가 결착바(21)를 용이하게 운반하고, 지지부(30)에 결착시킬 수 있도록, 결착부(20)가 결착손잡이(27)를 더 포함할 수 있다. 이러한 결착손잡이(27)는 연결체(23)에 고리 형태로 형성되므로, 사용자가 결착손잡이(27)를 이용해 결착바(21)를 용이하게 운반할 수 있다. 또한, 결착바(21)는 지지부(30)에 결착되거나 지지부(30)로부터 해체되는 과정에서, 길이방향을 따라 이동하므로, 사용자가 결착손잡이(27)를 당기거나 밀어서, 쉽게 결착바(21)를 이동시킬 수 있다. 결착바(21)가 결착, 해제되는 과정은 후술한다.
도 5는 결착부가 지지부에 결착되는 때의 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이다.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 결착바(21)가 가이드홈(35)에 삽입 고정되도록, 가이드홈(35)은 소정의 깊이까지 너비가 점점 커지고, 결착바(21)에 함몰부(28)가 형성될 수 있다. 구체적으로, 가이드홈(35)은 결착바(21)가 삽입되는 입구부로부터 소정의 깊이까지 점점 커지도록 형성된다. 따라서, 결착바(21)는 너비가 좁은 가이드홈(35)의 입구부로 삽입되어, 가이드홈(35) 내에 배치된다. 한편, 결착바(21)의 함몰부(28)는 결착바(21)의 외주면으로부터 함몰되어 형성된 부분으로서(도 3 참조), 가이드홈(35)의 입구부로 삽입되는 결착바(21)의 일부분이다. 따라서, 함몰부(28)의 너비는 입구부의 너비보다 작다. 이렇게, 함몰부(28)를 통해 가이드홈(35) 내로 삽입된 결착바(21)는 가이드홈(35) 내에서 길이방향을 따라 이동되어 고정된다(도 2 참조). 이때, 가이드홈(35) 내에 배치되어 고정되는 결착바(21)의 외주면은 가이드홈(35)의 입구부의 너비보다 큰 너비를 가지므로, 결착바(21)는 가이드홈(35)에서 이탈되지 않고 고정된다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치의 사시도이고, 도 7은 도 6에 도시된 지지부의 사시도이다.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 플랜지(33)가 비파괴 검사장치(1)의 외주면에 밀착되도록, 플랜지(33)의 테두리가 비파괴 검사장치(1)의 외주면에 대응되게 형성될 수 있다. 구체적으로, 한 쌍의 결착바(21)가 삽입되어 고정되는 한 쌍의 가이드홈(35a, 35b) 중 어느 하나의 가이드홈(35a)과 다른 가이드홈(35b) 사이의 플랜지(33)의 테두리(S)가 비파괴 검사장치(1)의 외주면에 대응된다. 따라서, 결착부(20)가 지지부(30)에 결착되는 때에, 비파괴 검사장치(1)는 플랜지(33)에 밀착되어 고정된다.
한편, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 비파괴 검사장치(1)가 파이프(5)에 대해서 비스듬하게 기울어지지 않도록, 복수 개의 플랜지(33)가 서로 이격되어 배치될 수 있다. 구체적으로, 플랜지(33)가 복수 개로, 드럼(31)의 길이방향을 따라 각각 이격 배치되므로, 결착바(21)는 복수 개의 플랜지(33)에 의해 고정된다. 즉, 어느 하나의 결착바(21)는 복수 개의 가이드홈(35)에 삽입되어 고정되는 것이다. 이때, 결착바(21)는 파이프(5)와 나란하게 배치되므로, 결착바(21)에 연결된 비파괴 검사장치(1)도 기울어지지 않고 파이프(5)와 나란하게 배치된다.
또한, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 지지부(30)에 의해 파이프(5)가 손상되지 않도록, 고정부재(38)를 더 포함할 수 있다. 여기서, 고정부재(38)는 드럼(31)과 파이프(5) 사이에 밀착 배치됨으로써, 드럼(31)의 마찰로 인한 파이프(5)의 손상을 방지한다. 이러한 고정부재(38)는 드럼(31)의 내주면과 파이프(5)의 외주면이 서로 이격되도록 하나 이상 배치된다. 이때, 고정부재(38)는 드럼(31)의 내주면에 결합될 수 있다. 한편, 고정부재(38)는 결착부(20)가 지지부(30)에 결착될 때, 그 충격을 흡수할 수 있는 재료, 예를 들면, 폴리우레탄이나 MC 나이론 등으로 이루어질 수 있다. 다만, 고정부재(38)가 반드시 이러한 재료로 형성되어야 하는 것은 아니다.
한편, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 파이프(5)에 탈부착되도록, 드럼(31)이 2개의 세그먼트(31a, 31b)가 결합되어 형성될 수 있다. 구체적으로, 원통형 드럼(31)은 반원통형의 세그먼트(31a, 31b) 2개가 결합되어 형성된다. 따라서, 파이프(5)를 사이에 두고, 2개의 세그먼트(31a, 31b)를 결합함으로써, 드럼(31)을 용이하게 파이프(5)에 배치시킬 수 있다. 이때, 본 발명에 따른 비파괴 검사장치용 거치장치는 2개의 세그먼트(31a, 31b)를 결착하기 위해, 결착구(37)를 더 포함할 수 있다. 이러한 결착구(37)는 폐곡선의 고리, 후크(hook), 벨트, 벨크로, 나사 등과 같은 모든 공지의 결착수단을 이용할 수 있다.
도 7에 도시된 바와 같이, 2개의 세그먼트(31a, 31b)는 회동가능하도록, 각각의 일단이 서로 힌지결합될 수도 있다. 이때, 결착구(37)는 각각의 세그먼트(31a, 31b)의 타단을 결착한다.
이상 본 발명을 구체적인 실시예를 통하여 상세히 설명하였으나, 이는 본 발명을 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 그 변형이나 개량이 가능함이 명백하다.
본 발명의 단순한 변형 내지 변경은 모두 본 발명의 영역에 속한 것으로 본 발명의 구체적인 보호 범위는 첨부된 특허청구범위에 의하여 명확해질 것이다.
1: 비파괴 검사장치 2: 걸림턱
3: 돌기 5: 파이프
10: 고정부 11: 고정관
13: 블록체 15: 고정핀
17: 걸림편 20: 결착부
21: 결착바 23: 연결체
24: 결착핀 25: 받침부
26: 스토퍼 27: 결착손잡이
28: 함몰부 30: 지지부
31: 드럼 31a, 31b: 세그먼트
33: 플랜지 35, 35a, 35b: 가이드홈
37: 결착구 38: 고정부재

Claims (13)

  1. 소정의 길이를 갖는 비파괴 검사장치가 삽입되어 고정되도록 중공관 형태로 형성된 고정관을 포함하는 고정부;
    막대 형상으로 형성되고, 상기 비파괴 검사장치와 나란하게 배치되도록 일단이 상기 고정관에 결합된 한 쌍의 결착바를 포함하는 결착부; 및
    피검용 파이프를 감싸도록 원통형으로 형성된 드럼, 및 상기 드럼의 외주연으로부터 돌출되되, 한 쌍의 상기 결착바가 삽입 배치되도록 테두리로부터 상기 드럼 방향으로 함몰되는 한 쌍의 가이드홈이 상기 피검용 파이프를 중심으로 소정의 각도를 이루며 복수 개가 형성된 플랜지를 포함하는 지지부;
    를 포함하고,
    한 쌍의 상기 결착바가 서로 다른 한 쌍의 상기 가이드홈에 삽입됨에 따라서, 상기 비파괴 검사장치가 상기 피검용 파이프를 중심으로 회전하면서 상기 피검용 파이프를 검사하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 고정관은 삽입되는 상기 비파괴 검사장치의 외주면으로부터 돌출된 걸림턱의 일면과 맞닿는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 고정부는
    소정의 길이를 갖고, 상기 비파괴 검사장치와 나란하게 배치되도록, 일단이 상기 고정관의 외측면에 결합되는 블록체; 및
    핀 형상으로 형성되고, 상기 블록체의 타단을 관통한 일단이 상기 비파괴 검사장치를 향해 슬라이딩되어, 상기 걸림턱의 타면에 맞닿아 상기 비파괴 검사장치가 상기 고정관에서 이탈되는 것을 방지하는 고정핀;
    을 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 고정부는
    "U" 자형으로 형성되어, 상기 비파괴 검사장치의 외주면으로부터 돌출된 돌기가 일단에서 타단 방향으로 삽입되고, 타단이 상기 고정관에 배치된 걸림편을 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  5. 청구항 1에 있어서,
    상기 결착부는
    한 쌍의 상기 결착바의 타단을 서로 연결하는 연결체; 및
    핀 형상으로 형성되고, 상기 연결체를 관통하여 상기 연결체의 일면으로부터 돌출된 일단이 상기 드럼을 향해 슬라이딩되면서, 상기 드럼에 관통된 결합홀에 삽입되는 결착핀;
    을 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 결착부는
    상기 연결체의 타면에 배치되고, 외면으로부터 상기 연결체 방향으로 함몰된 삽입홀이 형성되며, 상기 삽입홀 내에 상기 결착핀의 타단이 배치되도록, 상기 결착핀에 의해 관통되는 받침부; 및
    상기 결착핀의 타단의 외주면으로부터 돌출되고, 상기 결착핀이 상기 드럼으로부터 멀어지는 방향으로 슬라이딩되어 고정되도록 상기 결착핀을 중심으로 회전하여 상기 받침부의 외면에 걸리는 스토퍼;
    를 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  7. 청구항 5에 있어서,
    상기 결착부는
    상기 연결체에 고리 형태로 형성된 결착손잡이를 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  8. 청구항 1에 있어서,
    상기 가이드홈은 상기 결착바가 삽입되는 입구부로부터 소정의 깊이까지 너비가 점점 커지고,
    상기 결착바는 외주면으로부터 함몰된 함몰부가 형성되어, 상기 함몰부가 상기 가이드홈의 입구부로 삽입되고, 상기 가이드홈의 입구부의 너비보다 큰 너비를 갖는 상기 결착바의 외주면이 상기 가이드홈에 배치 고정되도록, 상기 가이드홈 내에서 길이방향을 따라 이동되는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  9. 청구항 1에 있어서,
    한 쌍의 상기 가이드홈 중 어느 하나의 상기 가이드홈과 다른 상기 가이드홈 사이의 상기 플랜지의 테두리는 상기 비파괴 검사장치의 외주면에 대응되도록 형성되는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  10. 청구항 1에 있어서,
    상기 플랜지는 복수 개로, 상기 드럼의 길이방향을 따라 각각 서로 이격 배치되는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  11. 청구항 1에 있어서,
    상기 드럼은 반원통형의 세그먼트 2개가 결합되어 형성되되, 각각의 세그먼트의 일단이 서로 힌지결합되는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  12. 청구항 11에 있어서,
    각각의 상기 세그먼트의 타단을 결착하는 결착구를 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
  13. 청구항 1에 있어서,
    상기 드럼과 상기 피검용 파이프 사이에 밀착 배치되는 고정부재를 더 포함하는 비파괴 검사장치용 거치장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200481910Y1 (ko) * 2016-06-01 2016-11-24 호진산업기연(주) 비파괴 검사장비 설치지그
KR20180067851A (ko) * 2016-12-13 2018-06-21 웨스글로벌 주식회사 배관벽면부착식 초음파 센서용 취부구조

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003172729A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Daido Steel Co Ltd 金属管検査装置
KR100723023B1 (ko) * 2006-08-04 2007-05-29 안종열 초음파 용접 검사장치
KR101263750B1 (ko) 2012-12-07 2013-05-13 주식회사 이이더불유코리아 파이프의 용접라인 검사용 x선 비파괴 검사 장치
KR101430183B1 (ko) * 2013-02-08 2014-08-13 전남대학교산학협력단 파이프 검사용 착탈식 유도 초음파 센서장치

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003172729A (ja) * 2001-12-05 2003-06-20 Daido Steel Co Ltd 金属管検査装置
KR100723023B1 (ko) * 2006-08-04 2007-05-29 안종열 초음파 용접 검사장치
KR101263750B1 (ko) 2012-12-07 2013-05-13 주식회사 이이더불유코리아 파이프의 용접라인 검사용 x선 비파괴 검사 장치
KR101430183B1 (ko) * 2013-02-08 2014-08-13 전남대학교산학협력단 파이프 검사용 착탈식 유도 초음파 센서장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200481910Y1 (ko) * 2016-06-01 2016-11-24 호진산업기연(주) 비파괴 검사장비 설치지그
KR20180067851A (ko) * 2016-12-13 2018-06-21 웨스글로벌 주식회사 배관벽면부착식 초음파 센서용 취부구조
KR101870199B1 (ko) 2016-12-13 2018-06-22 웨스글로벌 주식회사 배관벽면부착식 초음파 센서용 취부구조

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