KR101570010B1 - 접촉자 - Google Patents

접촉자 Download PDF

Info

Publication number
KR101570010B1
KR101570010B1 KR1020147003974A KR20147003974A KR101570010B1 KR 101570010 B1 KR101570010 B1 KR 101570010B1 KR 1020147003974 A KR1020147003974 A KR 1020147003974A KR 20147003974 A KR20147003974 A KR 20147003974A KR 101570010 B1 KR101570010 B1 KR 101570010B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
movable
contact
fixing
fixed contact
contact piece
Prior art date
Application number
KR1020147003974A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140043813A (ko
Inventor
타카히로 사카이
요시노부 헴미
Original Assignee
오므론 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 오므론 가부시키가이샤 filed Critical 오므론 가부시키가이샤
Publication of KR20140043813A publication Critical patent/KR20140043813A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101570010B1 publication Critical patent/KR101570010B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/02—Contact members
    • H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
    • H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
    • H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
    • H01R13/2428—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using meander springs
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716—Elastic
    • G01R1/06722—Spring-loaded
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
    • H01R2201/20—Connectors or connections adapted for particular applications for testing or measuring purposes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Contacts (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Push-Button Switches (AREA)

Abstract

소정의 변위량을 확보하면서, 소망하는 도통성을 갖는 접촉자를 제공하는 것에 있다. 이를 위해, 사복체(20)와, 상기 사복체(20)의 일단부(21)에 접속되고, 또한, 상기 사복체(20)에 따라 연재한 고정 접촉편(33, 34)을 구비한 고정부(30)와, 상기 사복체(20)의 타단부(22)에 접속된 가동부(40)를 갖고 있다. 그리고, 상기 가동부(40)를 가압하여 상기 사복체(20)를 압축하고, 상기 가동부(40)를 상기 고정부(30)의 고정 접촉편(33, 34)에 접촉시킨다.

Description

접촉자{CONTACTOR}
본 발명은 접촉자, 예를 들면, 집적 회로 검사용 프로브에 사용되는 접촉자에 관한 것이다.
종래, 집적 회로 검사용 프로브에 사용되는 접촉자로서는, 전자 부품을 소켓 본체에 대해 가압함에 의해, 상기 전자 부품의 전극 단자와 상기 소켓 본체의 전극부와의 접촉을 유지하고, 상기 소켓 본체의 전극부를 피접속 전자 부품의 전극 단자에 접속하여 이루어지는 전자 부품용 소켓에 있어서, 상기 소켓 본체의 전극부가, 소정의 두께의 탄성판재를 타발 가공하여 양단에 상기 전자 부품의 전극 단자 및 상기 피접속 전자 부품의 전극 단자와 각각 접촉하는 한 쌍의 콘택트와, 상기 한 쌍의 콘택트 사이에 개재하여 상기 한 쌍의 콘택트를 접속하는 연속하여 병설된 사행부(蛇行部)를 갖는 것을 특징으로 하는 전자 단자용 소켓의 접촉자가 있다(특허 문헌 1 참조).
일본 특개2002-134202호 공보
그러나, 전술한 전자 단자용 소켓의 접촉자에서는, 사행부의 되접는 회수가 적고, 소망하는 신축량(변위량)을 확보하기 어렵기 때문에, 사용감이 나쁘다. 이 때문에, 소망하는 신축량(변위량)을 확보하기 위해, 상기 전자 단자용 소켓의 되접는 회수를 증대시킨 장척의 접촉자가 생각된다. 그러나, 장척의 접촉자의 사행부가 가늘고 길게 되면, 전기 저항이 증대하고, 전류가 흐르기 어려워져서, 장척화에 한계가 있다는 문제점이 있다.
본 발명에 관한 접촉자는, 전술한 문제점을 감안하여, 소정의 변위량을 확보하면서, 소망하는 도통성을 갖는 접촉자를 제공하는 것에 있다.
본 발명에 관한 접촉자는, 상기 과제를 해결하기 위해, 사복체(bellows body)와, 상기 사복체의 일단부에 접속되고, 또한, 상기 사복체에 따라 연재한 적어도 1개의 고정 접촉편을 구비한 고정부와, 상기 사복체의 타단부에 접속된 가동부를 가지며, 상기 가동부를 가압하여 상기 사복체를 압축하고, 상기 가동부를 상기 고정부의 고정 접촉편에 접촉시키는 구성으로 하고 있다.
본 발명에 의하면, 소망하는 변위량을 확보하기 위해, 사복체를 장척(긴 치수)으로 하여도, 가동부와 고정부의 고정 접촉편과의 접촉에 의해 단락하여, 접촉 저항을 저하시킬 수 있기 때문에, 접촉 저항이 작은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명에 관한 다른 접촉자는, 상기 과제를 해결하기 위해, 사복체와, 상기 사복체의 일단부에 접속되고, 또한, 상기 사복체에 따라 연재한 적어도 1개의 고정 접촉편을 구비한 고정부와, 상기 사복체의 타단부에 접속된 가동부를 가지며, 상기 가동부를 가압하여 상기 사복체를 압축함과 함께, 상기 사복부를 상기 고정부의 고정 접촉편에 접촉시키는 구성으로 하여도 좋다.
본 발명에 의하면, 소망하는 변위량을 확보하기 위해, 사복체를 장척으로 하여도, 사복부와 고정부의 고정 접촉편과의 접촉에 의해 단락하여, 접촉 저항을 저하시킬 수 있기 때문에, 접촉 저항이 작은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 실시 형태로서는, 상기 사복체가, 직선형상의 중간부와, 서로 이웃하는 상기 중간부를 접속하는 원호부로 이루어지는 형상이라도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 설계하기 쉬운 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 상기 사복체가 서로 이웃하는 중간부의 적어도 하나에, 접속용 돌기를 마련하여 두어도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 접속용 돌기를 통하여 단락함에 의해, 접촉 저항이 보다 한층 낮은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 상기 사복체가 곡선형상의 중간부와 서로 이웃하는 상기 중간부를 접속하는 원호부로 이루어지는 형상이라도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 설계의 자유도가 넓어진다는 이점이 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 상기 사복체가 중간부와 원호부와의 경계에 상호 당접 가능한 접속용 돌기를 마련하여 두어도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 접속용 돌기를 통하여 단락함에 의해, 접촉 저항이 보다 한층 낮은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 고정부의 양측 테두리부로부터 상기 사복체에 따라 고정 접촉편을 평행하게 연재하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 한 쌍의 고정 접촉편이 가동부의 가이드 부재가 되어, 동작 특성이 안정됨과 함께, 한 쌍의 고정 접촉편의 어느 한쪽에 가동부 및 사복체가 반드시 접촉하기 때문에, 접촉 신뢰성이 높은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 사복체와 고정부와의 접속 위치를, 상기 고정부의 축심상에 배치하여도 좋고, 또한, 사복체와 고정부와의 접속 위치를, 상기 고정부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 사복체와 고정부와의 접속 위치를, 고정부의 축심상에 배치한 경우에는, 작은 조작력으로 조작할 수가 있어서, 수명이 긴 접촉자를 얻을 수 있다.
한편, 사복체와 고정부와의 접속 위치를, 고정부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치한 경우에는, 사복체가 좌굴되기 쉬워져서 접점압이 높은 접촉자를 얻을 수 있다.
본 발명의 다른 실시 형태로서는, 사복체와 가동부와의 접속 위치를, 상기 가동부의 축심상에 배치하여도 좋고, 또한, 사복체와 가동부와의 접속 위치를, 상기 가동부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치하여도 좋다.
본 실시 형태에 의하면, 사복체와 가동부와의 접속 위치를, 가동부의 축심상에 배치한 경우에는, 작은 조작력으로 조작할 수가 있어서, 수명이 긴 접촉자를 얻을 수 있다.
한편, 사복체와 가동부와의 접속 위치를, 가동부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치한 경우에는, 사복체가 좌굴하기 쉬워져서 접점압이 높은 접촉자를 얻을 수 있다는 효과가 있다.
도 1의 (A)는 본 발명에 관한 접촉자의 제1 실시 형태를 도시하는 사시도, 도 1의 (B), 1의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면도.
도 2의 (A)는 도 1에 도시하는 접촉자를 하우징 내에 수납한 정면도, 도 2의 (B), 도 2의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면 단면도.
도 3의 (A)는 본 발명에 관한 접촉자의 제2 실시 형태를 도시하는 사시도, 도 3의 (B), 도 3의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면도.
도 4의 (A)는 도 3에 도시하는 접촉자를 하우징 내에 수납한 정면도, 도 4의 (B), 4의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면 단면도.
도 5의 (A)는 본 발명에 관한 접촉자의 제3 실시 형태를 도시하는 사시도, 도 5의 (B), 5의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면도.
도 6의 (A)는 도 5에 도시하는 접촉자를 하우징 내에 수납한 정면도, 도 6의 (B), 6의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면 단면도.
도 7의 (A)는 본 발명에 관한 접촉자의 제4 실시 형태를 도시하는 사시도, 도 7의 (B), 7의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면도.
도 8의 (A)는 도 7에 도시하는 접촉자를 하우징 내에 수납한 정면도, 도 8의 (B), 8의 (C)는 동작 전후를 도시하는 정면 단면도.
도 9의 (A), 9의 (B), 9의 (C)는 제1 실시 형태의 동작 과정을 도시하는 정면도, 도 9의 (D)는 도 9의 (A)의 부분 확대도, 도 9의 (E)는 도 9의 (C)의 부분 확대도, 도 9의 (F)는 변위량과 접촉 저항치와의 관계를 측정한 결과를 도시하는 그래프도.
도 10의 (A), 10의 (B), 10의 (C)는 제4 실시 형태의 동작 과정을 도시하는 정면도, 도 10의 (D)는 변위량과 접촉 저항치와의 관계를 측정한 결과를 도시하는 그래프도.
본 발명에 관한 접촉자의 실시 형태를 도 1 내지 도 8의 첨부 도면에 따라 설명한다.
제1 실시 형태는, 도 1 및 도 2에 도시하는 바와 같이, 사복체(20)와, 사복체(20)의 일단부(21)에 접속된 고정부(30)와, 상기 사복체(20)의 타단부(22)에 접속된 가동부(40)로 형성된 접촉자(10)를 하우징(50) 내에 수납한 것이다.
상기 사복체(20)는, 직선형상의 중간부(23)와 서로 이웃하는 상기 중간부(23, 23)를 접속하는 원호부(24)로 형성되어 있다. 또한, 상기 사복체(20)는, 그 단면의 애스펙트비가 1.5 이상, 바람직하게는 2 이상이고, 프레스 가공으로 형성하여도 좋고, 전기 주조법으로 형성하여도 좋다. 또한, 여기서 애스펙트비란 사복체(20)의 단면에서의 두께 치수와 높이 치수와의 비를 말한다.
상기 고정부(30)는, 그 상단 중, 그 축심상에 상기 사복체(20)의 일단부(21)를 접속하고 있음과 함께, 그 하단에 단자부(31)를 축심에 따라 연재하고 있다. 또한, 상기 고정부(30)는, 그 양측 측면에 계지용 폴부(32)를 돌설하고 있음과 함께, 그 상단의 양측 테두리부로부터 고정 접촉편(33, 34)을 상기 사복체(20)에 따라 평행하게 연재하고 있다.
상기 가동부(40)는 정면 개략 T자형상을 가지며, 그 폭광부(41)의 하단 중, 그 축심상에 상기 사복체(20)의 타단부(22)를 접속하고 있다.
하우징(50)은, 도 2에 도시하는 바와 같이, 상기 접촉자(10)를 수납 가능한 슬릿(51)을 갖는 직방체 형상이고, 그 상단면에 조작구멍(52)을 갖는 한편, 그 하단면에 압입구멍(53)을 갖고 있다.
그리고, 도 2에 도시하는 바와 같이, 가동부(40)를 밀어 내리면, 사복체(20)가 압축됨에 의해, 폭광부(41)가 고정 접촉편(33, 34)의 내측면에 활주한다. 한편, 원호부(24)가 고정 접촉편(33, 34)에 접촉함과 함께, 서로 이웃하는 원호부(24, 24)가 상호 접촉하여 단락한다. 이 때문에, 가동부(40)의 변위량에 응하여 접촉 저항이 저하하여 전류가 흐른다.
제2 실시 형태는, 도 3 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 전술한 제1 실시 형태와 같으며, 사복체(20)와, 사복체(20)의 일단부(21)에 접속된 고정부(30)와 상기 사복체(20)의 타단부(22)에 접속된 가동부(40)로 형성된 접촉자(10)를 하우징(50) 내에 수납한 것이다.
상기 사복체(20)는, 직선형상의 중간부(23)와 서로 이웃하는 상기 중간부(23, 23)를 접속하는 원호부(24)로 형성되어 있다.
상기 고정부(30)는, 그 상단 중, 그 축심으로부터 편심한 위치에 상기 사복체(20)의 일단부(21)를 접속하고 있음과 함께, 그 하단에 단자부(31)를 축심에 따라 연재하고 있다. 또한, 상기 고정부(30)는, 그 양측 측면에 계지용 폴부(32)를 돌설하고 있음과 함께, 그 상단의 양측 테두리부로부터 고정 접촉편(33, 34)을 상기 사복체(20)에 따라 평행하게 연재하고 있다. 또한, 상기 고정 접촉편(33, 34)은, 그 상단부를 내측으로 굴곡한 굴곡부(35, 36)를 마련함에 의해, 후술하는 가동부(40)를 빠짐 방지한다.
상기 가동부(40)는 정면 개략 T자형상을 가지며, 그 폭광부(41)의 하단 중, 축심으로부터 편심한 위치에 상기 사복체(20)의 타단부(22)를 접속하고 있다.
하우징(50)은, 도 4에 도시하는 바와 같이, 상기 접촉자(10)를 수납 가능한 슬릿(51)을 갖는 직방체 형상이고, 그 상단면에 조작구멍(52)을 갖는 한편, 그 하단면에 압입구멍(53)을 갖고 있다.
그리고, 상기 가동부(40)를 밀어 내리면, 사복체(20)가 압축됨과 함께, 좌굴함에 의해, 폭광부(41)의 편측이 고정 접촉편(34)의 내측면에 접촉한다. 한편, 서로 이웃하는 원호부(24, 24)가 상호 접촉함과 함께, 고정 접촉편(33, 34)의 내측면에 접촉하여 단락한다. 이 때문에, 가동부(40)의 변위량에 응하여 접촉 저항이 저하하여 전류가 흐른다.
제3 실시 형태는, 도 5 및 도 6에 도시하는 바와 같이, 전술한 제1 실시 형태와 거의 같고, 사복체(20)와, 사복체(20)의 일단부(21)에 접속된 고정부(30)와, 상기 사복체(20)의 타단부(22)에 접속된 가동부(40)로 형성된 접촉자(10)를 하우징(50) 내에 수납한 것이다.
제3 실시 형태가 제1 실시 형태와 다른 점은, 사복체(20)의 서로 이웃하는 중간부(23)의 한편에 접속용 돌기(25)를 마련한 점이다. 전술한 제1 실시 형태와 같기 때문에, 동일 부분에 동일 번호를 붙이고 설명을 생략한다.
본 실시 형태에 의하면, 도 6에 도시하는 바와 같이, 가동부(40)를 밀어 내리면, 사복체(20)가 압축됨에 의해, 폭광부(41)가 고정 접촉편(33, 34)의 어느 한쪽의 내측면에 활주접촉한다. 한편, 사복체(20)의 접속용 돌기(25)가 대향하는 중간부(23)에 접촉함과 함께, 원호부(24)가 고정 접촉편(33, 34)의 어느 하나에 접촉하여 단락함에 의해, 접촉 저항이 저하하여 전류가 흐른다.
제4 실시 형태는, 도 7 및 도 8에 도시하는 바와 같이, 전술한 제1 실시 형태와 거의 같고, 사복체(20)와, 사복체(20)의 일단부(21)에 접속된 고정부(30)와, 상기 사복체(20)의 타단부(22)에 접속된 가동부(40)로 형성된 접촉자(10)를, 하우징(50) 내에 수납한 것이다.
상기 사복체(20)는, 곡선형상의 중간부(23)와, 서로 이웃하는 상기 중간부(23)를 접속하는 원호부(24)로 형성되어 있다. 그리고, 상기 중간부(23)와 상기 원호부(24)와의 경계에 상호 접촉 가능한 접속용 돌기(26)를 각각 마련하고 있다.
상기 고정부(30)는, 그 상단 중, 그 축심상에 돌설한 접속용 축부(37)에 상기 사복체(20)의 일단부(21)를 접속하고 있음과 함께, 그 하단에 단자부(31)를 축심에 따라 연재하고 있다. 또한, 상기 고정부(30)는, 그 양측 측면에 계지용 폴부(32)를 돌설하고 있음과 함께, 그 상단의 양측 테두리부로부터 고정 접촉편(33, 34)을 상기 사복체(20)에 따라 평행하게 연재하고 있다. 상기 고정 접촉편(33, 34)은, 그 상단부를 내측으로 굴곡한 굴곡부(35, 36)를 마련함에 의해, 후술하는 사복체(20)를 빠짐 방지한다.
상기 가동부(40)는 정면 개략 I자형상을 가지며, 그 하단의 축심으로부터 편심한 위치에 상기 사복체(20)의 타단부(22)를 접속하고 있다.
하우징(50)은, 도 8에 도시하는 바와 같이, 상기 접촉자(10)를 수납 가능한 슬릿(51)을 갖는 직방체 형상이고, 그 상단면에 조작구멍(52)을 갖는 한편, 그 하단면에 압입구멍(53)을 갖고 있다.
본 실시 형태에 의하면, 도 8에 도시하는 바와 같이, 가동부(40)를 밀어 내리면, 사복체(20)가 압축되어 좌굴함에 의해, 원호부(24)가 고정 접촉편(33, 34)의 내측면에 접촉함과 함께, 사복체(20)의 서로 이웃하는 접속용 돌기(26)가 상호 접촉하여 단락함에 의해, 접촉 저항이 저하하여 전류가 흐른다.
<실시예 1>
제1 실시 형태에 관한 접촉자의 변위량과 접촉 저항치와의 관계를 측정하였다. 측정 결과를 도 9의 (F)에 도시한다.
도 9의 (F)로부터 분명한 바와 같이, 동작 전(도 9의 (A))에서는 극히 접촉 저항치가 크고, 전류는 거의 흐르지 않는다.
그리고, 가동부(40)를 조작체(55)로 밀어 내리면, 가동부(40)의 폭광부(41)와 고정 접촉편(33, 34)의 내측면이 접촉하고(도 9의(A), 도 9의 (D)), 접촉 저항치가 급격하게 저하하여 전류가 흐르기 시작한다.
더욱, 상기 가동부(40)를 밀어 내리면(도 9의 (B), 도 9의 (C)), 사복체(20)의 서로 이웃하는 원호부(24)가 상호 접촉하여 단락함과 함께, 고정 접촉편(34)에 접촉한다(도 9의 (E)). 이 때문에, 접촉 저항이 점차로 저하하여 전류가 안정하게 흐른다.
전술한 실시예 1로부터, 예를 들면, 집적 회로 검사용 프로브로서 이용할 수 있을 뿐만 아니라, 스위치로서도 이용할 수 있음을 알 수 있었다.
특히, 집적 회로 검사용 프로브로서 사용하면, 상기 접촉자는 두께를 얇게 형성할 수 있기 때문에, 좁은 피치로 다수의 접촉자를 배치할 수 있음과 함께, 부품 갯수가 적은 집적 회로 검사용 프로브를 얻을 수 있다. 또한, 스위치로서 이용하면, 응답성이 좋은 스위치를 얻을 수 있다.
<실시예 2>
제4 실시 형태에 관한 접촉자의 변위량과 접촉 저항치와의 관계를 측정하였다. 측정 결과를 도 10의 (D)에 도시한다.
도 10의 (D)로부터 분명한 바와 같이, 동작 전(도 10의 (A))에서는 극히 접촉 저항치가 크고, 전류는 거의 흐르지 않는다.
그리고, 가동부(40)를 밀어 내려도, 소정의 변위량에 달할 때까지 급격하게 접촉 저항치가 저하되는 일은 없다. 그러나, 소정의 변위량에 달하면(도 10의 (B)), 좌굴량이 급증함에 의해, 사복체(20)의 원호부(24)가 고정 접촉편(33, 34)의 내측면에 접촉하여 단락한다. 이 때문에, 접촉 저항치가 급격하게 저하하여 전류가 흐르기 시작한다.
또한, 상기 가동부를 밀어 내리면(도 10의 (C)), 사복체(20)의 서로 이웃하는 접속용 돌기(26)가 상호 접촉하여 단락하기 때문에, 접촉 저항이 점차로, 저하하여 전류가 안정하게 흐른다.
전술한 실시예 2로부터, 집적 회로 검사용 프로브로서 이용할 수 있을 뿐만 아니라, 스위치로서도 이용할 수 있음을 알 수 있었다.
특히, 집적 회로 검사용 프로브로서 사용하면, 상기 접촉자는 두께를 얇게 형성할 수 있기 때문에, 좁은 피치로 다수의 접촉자를 배치할 수 있음과 함께, 부품 갯수가 적은 집적 회로 검사용 프로브를 얻을 수 있다. 또한, 스위치로서 사용하면, 소정량만큼 압입한 후에 전류가 흐르기 시작하기 때문에, 실시예 1과 다른 동작 특성의 스위치를 얻을 수 있다.
[산업상의 이용 가능성]
본 발명에 관한 접촉자는 집적 회로 검사용 프로브, 스위치로서만이 아니라, 예를 들면, 배터리의 접속단자로서 이용하여도 좋다.
또한, 하우징은 일체 성형한 것으로 한하지 않고, 2분할 할 수 있는 것이라도 좋음은 물론이다.
10 : 접촉자 20 : 사복체
21 : 일단부 22 : 타단부
23 : 중간부 24 : 원호부
25 : 접속용 돌기 26 : 접속용 돌기
30 : 고정부 31 : 단자부
32 : 계지용 폴부 33, 34 : 고정 접촉편
35, 36 : 굴곡부 37 : 접속용 축부
40 : 가동부 41 : 폭광부
50 : 하우징 51 : 슬릿
52 : 조작구멍 53 : 압입구멍

Claims (11)

  1. 사복체와,
    상기 사복체의 일단부에 접속되고, 또한, 양 측연부로부터 상기 사복체에 따라 평행하게 연재된 고정 접촉편을 구비한 고정부와,
    상기 사복체의 타단부에 접속된 가동부를 가지며,
    상기 고정 접촉편의 자유단부로부터 상기 사복체 및/또는 상기 가동부를 빠짐방지하는 굴곡부를 내방으로 연재함과 함께,
    상기 가동부를 가압하여 상기 사복체를 압축하고, 상기 가동부를 상기 고정부의 상기 고정 접촉편에 접촉시키는 것을 특징으로 하는 접촉자.
  2. 사복체와,
    상기 사복체의 일단부에 접속되고, 또한, 양 측연부로부터 상기 사복체에 따라 평행하게 연재된 고정 접촉편을 구비한 고정부와,
    상기 사복체의 타단부에 접속된 가동부를 가지며,
    상기 고정 접촉편의 자유단부로부터 상기 사복체 및/또는 상기 가동부를 빠짐방지하는 굴곡부를 내방으로 연재함과 함께,
    상기 가동부를 가압하여 상기 사복체를 압축함과 함께, 상기 사복체를 상기 고정부의 상기 고정 접촉편에 접촉시키는 것을 특징으로 하는 접촉자.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체가 직선형상의 중간부와, 서로 이웃하는 상기 중간부를 접속하는 원호부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 접촉자.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 사복체의 서로 이웃하는 상기 중간부의 적어도 하나에, 접속용 돌기를 마련한 것을 특징으로 하는 접촉자.
  5. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체가 곡선형상의 중간부와, 서로 이웃하는 상기 중간부를 접속하는 원호부로 이루어지는 것을 특징으로 하는 접촉자
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 사복체가 상기 중간부와 원호부와의 경계에 상호 당접 가능한 접속용 돌기를 마련한 것을 특징으로 하는 접촉자
  7. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 고정부의 양측 테두리부로부터 상기 사복체에 따라 상기 고정 접촉편을 평행하게 연재한 것을 특징으로 하는 접촉자.
  8. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체와 상기 고정부와의 접속 위치를, 상기 고정부의 축심상에 배치한 것을 특징으로 하는 접촉자.
  9. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체와 상기 고정부와의 접속 위치를, 상기 고정부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치한 것을 특징으로 하는 접촉자.
  10. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체와 상기 가동부와의 접속 위치를, 상기 가동부의 축심상에 배치한 것을 특징으로 하는 접촉자.
  11. 제 1항 또는 제 2항에 있어서,
    상기 사복체와 상기 가동부와의 접속 위치를, 상기 가동부의 축심으로부터 편심한 위치에 배치한 것을 특징으로 하는 접촉자.
KR1020147003974A 2011-10-14 2012-03-15 접촉자 KR101570010B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2011-227161 2011-10-14
JP2011227161A JP5708430B2 (ja) 2011-10-14 2011-10-14 接触子
PCT/JP2012/056655 WO2013054555A1 (ja) 2011-10-14 2012-03-15 接触子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140043813A KR20140043813A (ko) 2014-04-10
KR101570010B1 true KR101570010B1 (ko) 2015-11-17

Family

ID=48081619

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020147003974A KR101570010B1 (ko) 2011-10-14 2012-03-15 접촉자

Country Status (6)

Country Link
US (1) US9130290B2 (ko)
EP (1) EP2747212B1 (ko)
JP (1) JP5708430B2 (ko)
KR (1) KR101570010B1 (ko)
CN (1) CN103765687B (ko)
WO (1) WO2013054555A1 (ko)

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104319508A (zh) * 2014-08-29 2015-01-28 中航光电科技股份有限公司 “8”字型弹性接触件及使用该接触件的电连接器
JP1529604S (ko) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529602S (ko) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529603S (ko) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529608S (ko) * 2014-12-15 2015-07-27
TWD177827S (zh) * 2014-12-15 2016-08-21 歐姆龍股份有限公司 積體電路插座用探針引腳之部分
JP1529606S (ko) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529605S (ko) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529609S (ko) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529607S (ko) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529613S (ko) * 2014-12-19 2015-07-27
JP1529612S (ko) * 2014-12-19 2015-07-27
USD775984S1 (en) * 2015-03-04 2017-01-10 Omron Corporation Probe pin
JP2017015581A (ja) * 2015-07-01 2017-01-19 富士通コンポーネント株式会社 コンタクト
JP1554473S (ko) * 2015-09-15 2016-07-25
JP1554474S (ko) * 2015-09-15 2016-07-25
JP1567318S (ko) * 2016-02-15 2017-01-23
JP1567321S (ko) * 2016-02-15 2017-01-23
JP1567319S (ko) * 2016-02-15 2017-01-23
CN109073679B (zh) * 2016-04-15 2021-10-22 欧姆龙株式会社 探针以及利用该探针的电子设备
JP6642359B2 (ja) * 2016-09-21 2020-02-05 オムロン株式会社 プローブピンおよび検査ユニット
JP7393980B2 (ja) 2020-03-05 2023-12-07 ヒロセ電機株式会社 回路基板用電気コネクタおよび回路基板付電気コネクタ
DE102021102793A1 (de) 2021-02-05 2022-08-11 Physik Instrumente (PI) GmbH & Co KG Vorspann-Vorrichtung und Antriebsvorrichtung mit einer Vorspann-Vorrichtung

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003307525A (ja) 2002-04-16 2003-10-31 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
JP2009128218A (ja) 2007-11-26 2009-06-11 Koyo Technos:Kk 電気接触子およびそれを備える検査冶具

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3134954A (en) * 1963-05-24 1964-05-26 Air Reduction Resistor
US4161346A (en) 1978-08-22 1979-07-17 Amp Incorporated Connecting element for surface to surface connectors
EP0718918B1 (en) * 1994-12-20 1997-08-06 Connector Systems Technology N.V. Connector with spring contact member and shorting means
JP2912882B2 (ja) 1996-10-23 1999-06-28 山一電機株式会社 両面接触形接続器
KR100373152B1 (ko) * 1999-11-17 2003-02-25 가부시키가이샤 아드반테스트 Ｉｃ 소켓 및 ｉｃ 시험 장치
JP3520468B2 (ja) * 2000-06-21 2004-04-19 日本航空電子工業株式会社 コネクタ
JP2002134202A (ja) * 2000-10-27 2002-05-10 Otax Co Ltd 電子部品用ソケット
JP2002164135A (ja) 2000-11-26 2002-06-07 Isao Kimoto ソケット
JP2004138391A (ja) 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置の製造方法
JP2004138405A (ja) * 2002-10-15 2004-05-13 Renesas Technology Corp 半導体装置測定用プローブ
US6783405B1 (en) * 2003-11-28 2004-08-31 Chuan Yi Precision Industry Co., Ltd. Terminal for electric connector for communication apparatus
TW200535425A (en) * 2003-12-31 2005-11-01 Microfabrica Inc Pin-type probes for contacting electronic circuits and methods for making such probes
US20060020615A1 (en) * 2004-07-22 2006-01-26 International Business Machines Corporation Method of automatically including parenthetical information from set databases while creating a document
CN2800520Y (zh) * 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
CN2800519Y (zh) 2005-04-28 2006-07-26 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器
US7150658B1 (en) * 2006-06-19 2006-12-19 Excel Cell Electronic Co., Ltd. Terminal for an electrical connector
JP2008047417A (ja) 2006-08-16 2008-02-28 Bairong Electron Co Ltd 電気コネクター用端子及び該端子をそなえた電気コネクター
WO2009058858A1 (en) 2007-10-29 2009-05-07 Ardent Concepts, Inc. Compliant electrical contact and assembly
JP4964754B2 (ja) 2007-12-17 2012-07-04 富士通コンポーネント株式会社 コンタクト部材
US20100285698A1 (en) * 2008-01-02 2010-11-11 Hong-Dae Lee Probe pin composed in one body and the method of making it
JP5493896B2 (ja) 2010-01-15 2014-05-14 オムロン株式会社 電気コネクタ、電子機器および導電接触方法。
JP5842528B2 (ja) * 2011-10-14 2016-01-13 オムロン株式会社 接触子
JP5699899B2 (ja) * 2011-10-14 2015-04-15 オムロン株式会社 接触子
JP5879906B2 (ja) * 2011-10-14 2016-03-08 オムロン株式会社 接触子およびこれを用いたプローブ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003307525A (ja) 2002-04-16 2003-10-31 Sumitomo Electric Ind Ltd コンタクトプローブ
JP2009128218A (ja) 2007-11-26 2009-06-11 Koyo Technos:Kk 電気接触子およびそれを備える検査冶具

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013089370A (ja) 2013-05-13
EP2747212A4 (en) 2015-01-14
US20140235112A1 (en) 2014-08-21
CN103765687A (zh) 2014-04-30
EP2747212A1 (en) 2014-06-25
JP5708430B2 (ja) 2015-04-30
KR20140043813A (ko) 2014-04-10
EP2747212B1 (en) 2017-08-09
US9130290B2 (en) 2015-09-08
CN103765687B (zh) 2016-11-09
WO2013054555A1 (ja) 2013-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101570010B1 (ko) 접촉자
KR101570009B1 (ko) 접촉자
KR101545105B1 (ko) 접촉자
KR101574448B1 (ko) 접촉자 및 이것을 이용한 프로브
TWI582433B (zh) Kelvin probe and the Kevin test unit with the Kevin probe
JP6268896B2 (ja) 接触子
JP2017162600A (ja) スプリングコンタクト
CN201518305U (zh) 一种用于电流保护器的动触片
JPH11251022A (ja) Ｉｃソケットのコンタクトピン、コンタクトピンユニット及びｉｃソケット
JP2005265662A (ja) プローブカード

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181023

Year of fee payment: 4