KR101478790B1 - 인쇄회로기판의 테스트 장치 - Google Patents

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    • G06T2207/30141—Printed circuit board [PCB]

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 다수의 테스트 유닛으로 이루어진 인쇄회로기판에서 테스트 모드에 따라 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 생성하여 사용자로 하여금 인쇄회로기판의 다수 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 용이하게 판단할 수 있도록 하며, 사용자 선택에 따라 테스트 유닛 단위로 테스트 유닛을 구성하는 전체 핀의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이할뿐만 아니라 다수의 인쇄회로기판으로 이루어진 관리 단위로 누적 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이하여 인쇄회로기판 테스트 장치의 정상 동작 여부도 자체적으로 판단할 수 있는 인쇄회로기판 테스트

Description

인쇄회로기판의 테스트 장치{Apparatus for testing Printed Circuit Board}
본 발명은 인쇄회로기판의 테스트 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로 다수의 테스트 유닛으로 이루어진 인쇄회로기판에서 테스트 모드에 따라 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 생성하여 사용자로 하여금 인쇄회로기판의 다수 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 용이하게 판단할 수 있도록 하며, 사용자 선택에 따라 테스트 유닛 단위로 테스트 유닛을 구성하는 전체 핀의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이할뿐만 아니라 다수의 인쇄회로기판으로 이루어진 관리 단위로 누적 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이하여 인쇄회로기판 테스트 장치의 정상 동작 여부도 자체적으로 판단할 수 있는 인쇄회로기판 테스트 장치에 관한 것이다.
전자기기의 소형화 및 슬림화의 요구뿐만 아니라 다양한 부가 기능의 요구도 함께 증가함에 따라 고밀도 집적기술은 필요불가결하다. 다양한 기능을 수행하는 전자부품들은 소형화된 칩에 집적되어 설계되는데, 이러한 칩은 다시 단위 인쇄회로기판에 실장되어 사용된다.
통상적으로 단위 인쇄회로기판을 제작하는 과정을 살펴보면, 다수의 단위 인쇄회로기판으로 이루어진 인쇄회로기판의 각 단위 인쇄회로기판칩에 실장하고, 칩이 실장된 단위 인쇄회로기판을 절삭하여 칩이 실장된 단위 인쇄회로기판을 제조한다.
그러나 칩이 실장된 단위 인쇄회로기판이 불량인 경우 수율이 낮아지게 되며, 따라서 단위 인쇄회로기판에 칩을 실장하기 전 단위 인쇄회로기판 자체의 정상/불량 여부를 테스트하여 정상인 단위 인쇄회로기판에만 칩을 실장한다.
도 1은 통상의 인쇄회로기판의 사진을 도시하고 있다.
도 1에 도시되어 있는 바와 같이, 인쇄회로기판은 다수의 단위 인쇄회로기판(DUT, Device Under Test)로 이루어지는데, 이하 칩이 실장되기 전의 단위 인쇄회로기판을 테스트 유닛이라 언급한다.
각 테스트 유닛의 테스트는 인쇄회로기판 단위로 이루어지는데, 각 테스트 유닛의 핀에 접촉되는 테스트 지그를 통해 핀의 일부에 테스트 신호를 입력하고, 테스트 신호에 상응하여 다른 일부의 핀을 통해 출력되는 테스트 결과 신호에 기초하여 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단한다.
보다 구체적으로 살펴보면, 테스트 결과 신호의 값에 기초하여 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부, 각 테스트 유닛을 구성하는 전체 핀들의 정상/불량 여부를 나타내는 텍스트 형태의 로그(log) 데이터를 생성한다. 사용자는 로그 데이터를 이용하여 인쇄회로기판, 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단하거나 확대경을 통해 각 테스트 유닛의 불량 핀을 판단하게 된다.
따라서 사용자는 로그 데이터에 기초하여 일일히 인쇄회로기판에서 정상/불량인 테스트 유닛을 찾아야 하며, 다시 테스트 유닛의 각 핀에 대한 정상/불량 여부를 판단하여야 한다. 그러나 통상적으로 각 테스트 유닛은 수천 내지 수만개의 핀으로 구성되어 있어 전체 인쇄회로기판에서 불량인 테스트 유닛을 용이하게 판단하기 곤란하며, 더욱이 테스트 유닛을 구성하는 핀들 중에서 불량인 핀을 검색하는데 오랜 시간과 노력이 필요하다는 문제점을 가진다.
본 발명은 위에서 언급한 종래 인쇄회로기판 테스트 장치가 가지는 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명이 이루고자 하는 목적은 다수의 테스트 유닛으로 이루어진 인쇄회로기판의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지를 통해 용이하게 판단할 수 있는 인쇄회로기판의 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 다른 목적은 다양한 테스트 모드에 따른 테스트 결과를 그래픽 이미지로 용이하게 판단할 수 있으며, 사용자 선택에 따라 그래픽 이미지를 이용하여 인쇄회로기판 단위로 정상/불량인 테스트 유닛을 용이하게 판단하거나 테스트 유닛 단위로 전체 핀의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 용이하게 판단할 수 있는 인쇄회로기판의 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 이루고자 하는 또 다른 목적은 다수의 인쇄회로기판으로 이루어진 관리 단위로 인쇄회로기판의 테스트 유닛별 정상/불량 여부를 누적하여 인쇄회로기판의 테스트뿐만 아니라 인쇄회로기판 테스트 장치의 자체 테스트도 가능한 인쇄회로기판의 테스트 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 다수의 테스트 유닛으로 이루어진 인쇄회로기판의 테스트 유닛에 테스트 신호를 인가하고 테스트 유닛으로부터 테스트 신호에 상응하여 출력되는 테스트 결과 신호에 따라 테스트 유닛 단위로 불량/정상 여부를 판단하는 테스트부와, 테스트 유닛의 불량/정상 판단 결과에 따라 테스트 유닛의 불량/정상 판단 결과를 전체 인쇄회로기판에서 테스트 유닛 단위로 이미지화하여 테스트 이미지를 생성하는 이미지 생성부와, 테스트 이미지를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서 테스트부는 테스트 모드를 설정하기 위한 사용자 명령에 기초하여 테스트 모드에 따라 상이한 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부와, 테스트 신호를 테스트 유닛 단위로 인가하고 테스트 신호에 상응하여 테스트 결과 신호를 출력하는 테스트 지그와, 테스트 모드 또는 테스트 결과 신호에 기초하여 테스트 유닛의 불량/정상 여부의 판단하고 판단 신호를 생성하는 판단 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서 판단 신호 생성부는 테스트 모드, 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과, 불량으로 판단된 상기 테스트 유닛의 불량 핀 번호 중 적어도 어느 하나에 대한 정보를 구비하는 판단 신호를 생성하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 이미지 생성부는 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과 및 불량 핀 번호에 대한 정보에 기초하여 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 불량 핀을 가지는 테스트 유닛과 정상 테스트 유닛을 식별하여 테스트 이미지를 생성하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 이미지 생성부는 테스트 모드, 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과, 불량으로 판단된 상기 테스트 유닛의 불량 핀 번호에 기초하여 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 테스트 모드에 상응하는 색상으로, 불량 핀을 가지는 테스트 유닛과 정상 테스트 유닛을 식별하여 테스트 이미지를 생성하는 특징으로 한다.
바람직하게, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 테스트 이미지에서 불량 핀을 가지는 테스트 유닛을 선택하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우,사용자 명령에 따라 선택한 테스트 유닛 단위의 전체 핀에 대한 불량/정상 판단 결과를 이미지화하여 보조 테스트 이미지를 생성하는 보조 이미지 생성부를 더 포함하며, 디스플레이부는 보조 테스트 이미지를 디스플레이하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 입력된 사용자 명령에 따라 관리 단위의 다수 인쇄회로기판의 테스트 유닛별 불량/정상 판단 결과를 누적하여 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 누적 결과를 계조를 이루도록 누적 테스트 이미지를 생성하는 누적 이미지 생성부를 더 포함하며, 디스플레이부는 누적 이미지를 디스플레이하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 다음과 같은 다양한 효과를 가진다.
첫째, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 다수의 테스트 유닛으로 이루어진 인쇄회로기판의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이함으로써, 사용자는 그래픽 이미지를 통해 용이하게 인쇄회로기판의 불량 여부를 판단할 수 있다.
둘째, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 다양한 테스트 모드에 따른 테스트 결과를 그래픽 이미지로 디스플레이하거나, 사용자 선택에 따라 인쇄회로기판 단위로 정상/불량인 테스트 유닛을 그래픽 이미지로 디스플레이하거나 테스트 유닛 단위로 전체 핀의 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 디스플레이함으로써, 테스트 모드 또는 테스트 단위별로 용이하게 정상/불량 여부를 판단할 수 있다.
셋째, 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치는 다수의 인쇄회로기판으로 이루어진 관리 단위로 인쇄회로기판의 테스트 유닛별 정상/불량 여부를 누적하여 누적 이미지를 생성함으로써, 인쇄회로기판의 테스트뿐만 아니라 인쇄회로기판 테스트 장치의 정상/불량 여부의 자체 테스트도 가능하다.
도 1은 통상의 인쇄회로기판의 사진을 도시하고 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치를 설명하기 위한 기능 블록도이다.
도 3은 본 발명에 따른 테스트부를 보다 구체적으로 설명하기 위한 기능 블록도이다.
도 4는 본 발명에 따른 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 5는 본 발명에 따른 테스트 이미지의 다른 예를 도시하고 있다.
도 6은 본 발명에 따른 보조 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 7은 본 발명에 따른 누적 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 8은 본 발명에 따른 테스트 이미지의 또 다른 예를 도시하고 있다.
도 9는 본 발명에 따른 누적 테스트 이미지의 다른 일 예를 도시하고 있다.
이하 첨부한 도면을 참고로 본 발명에 따른 인쇄회로기판의 테스트 장치에 대해 보다 구체적으로 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치를 설명하기 위한 기능 블록도이다.
도 2를 참고로 보다 구체적으로 살펴보면, 사용자는 사용자 인터페이스부(110)를 인쇄회로기판 테스트 장치를 제어하기 위한 사용자 명령을 입력하는데, 예를 들어 인쇄회로기판 테스트 장치의 동작 전원을 인가하기 위한 사용자 명령을 입력하거나, 인쇄회로기판 테스트 장치의 테스트 모드를 선택하기 위한 사용자 명령을 입력하거나, 인쇄회로기판의 테스트 결과를 그래픽 이미지로 생성하기 위한 사용자 명령을 입력한다. 본 발명이 적용되는 분야에 따라 사용자 인터페이스부(110)는 사용자 명령을 입력하기 위한 디스플레이부, 스피커부 등이 사용될 수 있으며, 본 발명이 적용되는 분야에 따라 인쇄회로기판 테스트 장치를 제어하기 위한 다양한 종류의 사용자 명령을 입력할 수 있다.
테스트부(120)는 입력된 사용자 명령에 따라 테스트 모드를 설정하고, 설정한 테스트 모드에 따라 로딩(loading)되는 인쇄회로기판의 각 테스트 유닛(DUT)으로 테스트 신호를 인가하고 테스트 신호에 응답하여 출력되는 테스트 결과 신호에 따라 인쇄회로기판을 구성하는 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단한다.
이미지 생성부(130)는 테스트부(120)로부터 인쇄회로기판을 구성하는 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부의 판단 결과를 제공받으며, 사용자 인터페이스부(110)로부터 입력된 사용자 명령에 따라 인쇄회로기판의 각 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과를 이용하여 테스트 유닛의 정상/불량 핀단 결과를 전체 인쇄회로기판에서 테스트 유닛 단위로 그래픽 이미지화하여 테스트 이미지를 생성한다.
보조 이미지 생성부(140)는 사용자 인터페이스부(110)로부터 인쇄회로기판 중 특정 테스트 유닛을 선택하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우, 테스트부(120) 또는 이미지 생성부(130)로부터 선택한 테스트 유닛의 모든 핀에 대한 정상/불량 여부의 판단 결과를 제공받으며, 선택한 테스트 유닛 단위로 테스트 유닛을 구성하는 모든 핀에 대한 개별적인 정상/불량 여부의 판단 결과를 그래픽 이미지화하여 보조 테스트 이미지를 생성한다.
한편, 누적 이미지 생성부(150)는 사용자 인터페이스부(110)로부터 관리 단위 누적 테스트 결과를 선택하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우, 관리 단위의 다수 인쇄회로기판의 테스트 유닛별 정상/불량 판단 결과를 누적하여 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 누적 결과가 계조를 이루도록 누적 테스트 이미지를 생성한다. 통상적으로 인쇄회로기판은 예를 들어 동일한 인쇄회로기판이 100장 또는 200장과 같이 다수의 인쇄회로기판으로 이루어진 관리 단위로 포장 또는 관리되는데, 관리 단위로 테스트 유닛별 정상/불량 판단 결과를 누적하여 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 누적 결과가 계조를 이루도록 누적 테스트 이미지를 생성함으로써, 인쇄회로기판 테스트 장치의 자체 테스트가 가능하다. 즉, 인쇄회로기판의 테스트 유닛에 불량이 발생하는 경우 불량인 테스트 유닛을 검출하지만, 관리 단위에서 특정 위치의 테스트 유닛에서 계속해서 불량이 검출되는 경우 특정 위치의 테스트 유닛의 불량보다는 특정 위치의 테스트 유닛으로 테스트 신호를 인가하거나 테스트 결과 신호를 출력하는 인쇄회로기판 테스트 장치 자체의 불량인 경우가 종종 발생한다.
본원발명의 일 실시예에 따른 인쇄회로기판 테스트 장치는 사용자 선택에 따라 테스트 이미지를 통해 인쇄회로기판 단위로 개략적 정상/불량 여부를 판단하거나, 인쇄회로기판에서 개략적으로 불량 판단된 특정 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 보조 테스트 이미지를 통해 구체적으로 판단할 수 있다. 또한, 누적 테스트 이미지를 통해 인쇄회로기판 테스트 장치의 자체 테스트도 가능하다.
디스플레이부(160)는 이러한 테스트 이미지, 보조 테스트 이미지 또는 누적 테스트 이미지를 사용자 인터페이스부(110)를 통해 입력된 사용자 명령에 따라 사용자에 디스플레이한다.
도 3은 본 발명에 따른 테스트부를 보다 구체적으로 설명하기 위한 기능 블록도이다.
도 3을 참고로 보다 구체적으로 살펴보면, 테스트 신호 생성부(121)는 사용자 인터페이스부(110)를 통해 입력된 사용자 명령에 상응하는 테스트 모드에 따라 테스트 신호를 생성한다. 여기서 테스트 모드는 인쇄회로기판의 테스트 유닛에서 테스트하고자 하는 종류를 의미하는 것으로, 오픈 불량(open fail) 테스트 모드, 단락 불량(short fail) 테스트 모드, 누설 불량(leak fail) 테스트 모드, 4단자 오픈 불량(4wire open fail) 테스트 모드 등이 있다.
테스트 지그(123)는 테스트 신호 생성부(121)에서 생성한 테스트 모드에 따른 테스트 신호를 인쇄회로기판의 각 테스트 유닛의 일부 핀에 인가하거나 테스트 신호에 응답하여 각 테스트 유닛의 일부 핀으로부터 테스트 결과 신호를 출력한다. 여기서 테스트 지그(123)는 평평한 테스트 베이스에 테스트하고자 하는 인쇄회로기판이 로딩되는 경우 인쇄회로기판의 각 테스트 유닛의 핀으로 테스트 신호를 인가하거나 또는 테스트 결과 신호를 출력하는 다수의 접속 핀을 구비하고 있다.
판단 신호 생성부(125)는 테스트 지그(123)로부터 출력되는 테스트 결과 신호에 기초하여 인쇄회로기판의 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단한다. 예를 들어, 판단 신호 생성부(125)는 인가된 테스트 신호에 응답하여 출력되는 테스트 결과 신호의 값이 정상 범위에 속하는지 여부에 따라 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단한다.
도 4는 본 발명에 따른 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 4(a)에 도시되어 있는 바와 같이 다수의 테스트 유닛을 구비하는 인쇄회로기판이 인쇄회로기판 단위로 그래픽 이미지로 표현되며, 도 4(b)에 도시되어 있는 바와 같이 그래픽 이미지에서 각 테스트 유닛별로 정상/불량 여부를 그래픽 이미지로 표현하여 테스트 이미지를 생성한다.
도 5는 본 발명에 따른 테스트 이미지의 다른 예를 도시하고 있다.
도 5를 참고로 살펴보면, 테스트 모드에 따라 인쇄회로기판의 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 판단하고 각 테스트 모드에 따른 각 테스트 유닛의 정상/불량 여부를 색상을 달리하여 인쇄회로기판 단위로 그래픽 이미지로 표현된다.
도 6은 본 발명에 따른 보조 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 6을 참고로 살펴보면, 사용자가 테스트 이미지에서 불량으로 판단된 특정 위치의 테스트 유닛을 구체적으로 살펴보기 위하여 특정 위치의 테스트 유닛을 선택하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우 특정 위치의 테스트 유닛의 전체 핀과 전체 핀 중 불량 핀이 색상으로 구분되어 그래픽 이미지로 표시한 보조 테스트 이미지가 생성된다.
도 7은 본 발명에 따른 누적 테스트 이미지의 일 예를 도시하고 있다.
도 7을 참고로 살펴보면, 관리 단위로 테스트 유닛별 정상/불량 판단 결과를 누적하여 특정 위치의 테스트 유닛이 불량으로 판단되는 횟수가 증가할수록 계조를 달리하여 표시한다. 예를 들어, 특정 위치의 테스트 유닛이 불량으로 판단되는 횟수가 증가할수록 명도를 증가시켜 누적 이미지를 생성한다. 누적 테스트 이미지를 이용하여 특정 위치의 테스트 유닛에서 불량이 발생하는 횟수를 판단할 수 있으며, 이를 통해 인쇄회로기판의 제조 공정에서 발생하는 문제점을 분석하거나 인쇄회로기판 테스트 유닛의 자체 테스트도 가능하다.
도 8은 본 발명에 따른 테스트 이미지의 또 다른 예를 도시하고 있으며, 도 9는 본 발명에 따른 누적 테스트 이미지의 다른 일 예를 도시하고 있다.
도 8에 도시되어 있는 바와 같이 다수의 테스트 유닛을 구비하는 인쇄회로기판이 인쇄회로기판 단위로, 각 테스트 유닛에서 발생한 불량 핀이 그래픽 이미지로 표현된 테스트 이미지가 생성된다.
한편, 도 9에 도시되어 있는 바와 같이 관리 단위로 테스트 유닛별 정상/불량 판단 결과를 누적하여 특정 위치의 테스트 유닛에서 불량으로 판단된 핀이 그래픽 이미지로 누적되어 표시된 누적 테스트 이미지가 생성된다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 등록청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
110: 사용자 인터페이스부 120: 테스트부
130: 이미지 생성부 140: 보조 이미지 생성부
150: 누적 이미지 생성부 160: 디스플레이부
121: 테스트 신호 생성부 123: 테스트 지그
125: 판단 신호 생성부

Claims (7)

  1. 테스트 모드를 설정하기 위한 사용자 명령에 기초하여 상기 테스트 모드에 따라 상이한 테스트 신호를 생성하는 테스트 신호 생성부와, 상기 테스트 신호를 상기 테스트 유닛 단위로 인가하고 상기 테스트 신호에 상응하여 테스트 결과 신호를 출력하는 테스트 지그와, 상기 테스트 모드 또는 상기 테스트 결과 신호에 기초하여 상기 테스트 유닛의 불량/정상 여부의 판단하고 판단 신호를 생성하는 판단 신호 생성부를 구비하는 테스트부;
    상기 테스트 유닛의 불량/정상 판단 결과에 따라 테스트 유닛의 불량/정상 판단 결과를 전체 상기 인쇄회로기판에서 테스트 유닛 단위로 이미지화하여 테스트 이미지를 생성하는 이미지 생성부; 및
    상기 테스트 이미지를 디스플레이하는 디스플레이부를 포함하며,
    상기 판단 신호 생성부는 상기 테스트 모드, 상기 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과, 불량으로 판단된 상기 테스트 유닛의 불량 핀 번호 중 적어도 어느 하나에 대한 정보를 구비하는 판단 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 이미지 생성부는
    상기 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과 및 상기 불량 핀 번호에 대한 정보에 기초하여 상기 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 불량 핀을 가지는 상기 테스트 유닛과 정상 테스트 유닛을 식별하여 테스트 이미지를 생성하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 장치.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 이미지 생성부는
    상기 테스트 모드, 상기 테스트 유닛의 정상/불량 판단 결과, 불량으로 판단된 상기 테스트 유닛의 불량 핀 번호에 기초하여 상기 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 상기 테스트 모드에 상응하는 색상으로, 불량 핀을 가지는 상기 테스트 유닛과 정상 테스트 유닛을 식별하여 테스트 이미지를 생성하는 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 장치.
  6. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 인쇄회로기판의 테스트 장치는
    상기 테스트 이미지에서 불량 핀을 가지는 상기 테스트 유닛을 선택하기 위한 사용자 명령이 입력되는 경우, 상기 사용자 명령에 따라 선택한 테스트 유닛 단위의 전체 핀에 대한 불량/정상 판단 결과를 이미지화하여 보조 테스트 이미지를 생성하는 보조 이미지 생성부를 더 포함하며,
    상기 디스플레이부는 상기 보조 테스트 이미지를 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 장치
  7. 제 1 항 또는 제 4 항에 있어서, 상기 인쇄회로기판의 테스트 장치는
    입력된 사용자 명령에 따라 관리 단위의 다수 인쇄회로기판의 테스트 유닛별 불량/정상 판단 결과를 누적하여 상기 인쇄회로기판의 전체 이미지에서 누적 결과를 계조를 이루도록 누적 테스트 이미지를 생성하는 누적 이미지 생성부를 더 포함하며,
    상기 디스플레이부는 상기 누적 이미지를 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판의 테스트 장치.
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JP2001266125A (ja) 2000-03-15 2001-09-28 Olympus Optical Co Ltd 基板検査装置
JP2003139720A (ja) * 2001-10-31 2003-05-14 Olympus Optical Co Ltd ベリファイ装置
JP2004028831A (ja) 2002-06-26 2004-01-29 Nec Toppan Circuit Solutions Toyama Inc パターン欠陥解析支援装置およびパターン欠陥解析支援プログラム
JP2008504521A (ja) 2004-06-21 2008-02-14 カムテック エルティーディー． 欠陥プリント回路をマッピングするためのシステム

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