KR101467927B1 - 광각렌즈 테스트 장치 - Google Patents

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KR101467927B1
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권락범
백성욱
신익철
조성기
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주식회사 세코닉스
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Abstract

본 발명은 육안 관측에 의존하지 않고 광각렌즈를 자동으로 테스트할 수 있도록 하며, 이를 통해 광각렌즈의 테스트 및 조립에 소요되는 시간을 감소시키는 것은 물론 신뢰성 있는 테스트 결과를 기대할 수 있는 광각렌즈 테스트 장치를 개시한다. 이를 위해 본 발명은, 내부가 비어있는 반구 형상의 패턴 반사구, 패턴 반사구의 내측 면을 향해 패턴 광을 투사하는 빔 방출노즐을 구비하는 조광장치, 빔 방출노즐로 광각렌즈를 이송하는 렌즈 이송부, 조광장치와 이웃하게 배치되며 각각 패턴 반사구의 일 영역과 타 영역을 촬상하는 제1촬상장치 및 제2촬상장치 및 제1촬상장치와 제2촬상장치의 촬상 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 이를 기준 영상과 비교하여 광각렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 렌즈불량 판단장치를 포함하여 구성될 수 있다.

Description

광각렌즈 테스트 장치{Apparatus for testing wide angle lens}
본 발명은 광각렌즈 테스트 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 구형의 내측 면을 따라 인쇄된 패턴을 비교하는 패턴 비교법을 자동으로 처리할 수 있도록 함으로써, 광각렌즈의 테스트에 소요되는 시간을 저감하고, 신뢰성 있는 테스트 결과를 얻도록 하는 광각렌즈 테스트 장치에 관한 것이다.
통상적으로 광각렌즈는 표준렌즈에 비해 촛점 거리가 짧은 렌즈를 의미하며, 표준 렌즈에 비해 더 넓은 범위를 찍을 수 있다. 차량용으로 개발되는 광각렌즈는 통상 120도 내지 190도의 촬상각을 가지는데, 광각렌즈는 그 특성상 촬상 영역의 중심부를 기준으로 테두리 방향으로 입사광이 퍼져나가고, 이러한 특성에 따라 피사체를 있는 그대로 촬상하는 일반 렌즈에 비해 영상 왜곡이 크게 발생한다.
광각렌즈는 렌즈 자체의 왜곡에 의해 입사광이 넓게 퍼져나가므로 120도 이상의 촬상각을 가지는 광각 렌즈를 테스트하고자 하는 경우, 광각 렌즈의 전방 또는 후방에 테스트 패턴을 덧대고, 광각 렌즈와 테스트 패턴을 관통하는 입사광을 투사하여 벽면이나 화이트 보드에 테스트 패턴이 올바로 표현되는가를 관찰하는 방법에 의해 렌즈를 테스트하고 있다.
그러나, 광각 렌즈는 입사광을 180도 가까이 왜곡시키므로 평면의 벽면이나 화이트 보드에 정상적으로 표현되기 어렵다. 현재, 광각렌즈는 반구형 패턴 반사구에 테스트 패턴을 투사하여 표현하고 있는데, 이러한 반구형 패턴 반사구는 내측 면에 기준 패턴이 인쇄되고, 기준 패턴과 테스트 패턴의 일치 여부를 육안 관측으로 판단하여 렌즈의 불량 여부를 판단하는데 이용되고 있다.
렌즈에 대한 테스트 방식은 한국 등록특허 10-1114224에서도 참조될 수 있다. 한국 등록특허 10-1114224를 참조하면, 렌즈가 렌즈 조립체에 결착될 때, 광원과 렌즈 사이에, 도 1과 같은 테스트 패턴을 배치하고, 테스트 패턴이 올바로 투영될 때, 렌즈의 불량 여부를 판단하고 있다. 즉, 한국 등록특허 10-1114224 또한 렌즈가 렌즈 조립체에 결착된 후, 렌즈가 올바로 결착 되었는가를 판단하는 방법은 육안 관측에 의한 것임을 볼 수 있다. 이에 따라, 광각렌즈에 대해서 렌즈의 불량 여부를 자동으로 판독하는 방안이 요구되며, 이를 통해 렌즈 조립체의 생산성 향상을 도모할 필요가 있다.
본 발명의 목적은 광각렌즈를 자동으로 테스트함으로써, 테스트에 소요되는 시간을 감소시키는 것은 물론 신뢰성 있는 광각 렌즈의 테스트 결과를 도출 가능한 광각 렌즈 테스트 장치를 제공함에 있다.
상기한 목적은 본 발명에 따라, 내부가 비어있는 반구 형상의 패턴 반사구, 상기 패턴 반사구의 내측 면을 향해 패턴 광을 투사하는 빔 방출노즐을 구비하는 조광장치, 상기 빔 방출노즐로 광각렌즈를 이송하는 렌즈 이송부, 상기 조광장치와 이웃하게 배치되며 각각 상기 패턴 반사구의 일 영역과 타 영역을 촬상하는 제1촬상장치 및 제2촬상장치 및 상기 제1촬상장치와 상기 제2촬상장치의 촬상 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 이를 기준 영상과 비교하여 상기 광각렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 렌즈불량 판단장치에 의해 달성된다.
상기한 목적은 본 발명에 따라, 내부가 비어있는 반구 형상을 가지며, 중심부는 투명재질로 형성되는 패턴 반사구, 상기 패턴 반사구의 내측 면을 향해 패턴 광을 투사하는 빔 방출노즐을 구비하는 조광장치, 상기 빔 방출노즐로 광각렌즈를 이송하는 렌즈 이송부, 상기 조광장치의 후면에 배치되며, 상기 패턴 반사구의 내 측면을 따라 표시되는 영상 중 상기 중심부를 제외한 나머지 영상을 획득하는 제1촬상장치, 상기 패턴 반사구의 외측면 중심부를 촬상하는 제2촬상장치 및 상기 제1촬상장치 및 상기 제2촬상장치의 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 이를 미리 준비된 기준 영상과 비교하여 상기 광각렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 렌즈불량 판단장치에 의해 달성된다.
본 발명에 따르면 육안 관측에 의존하지 않고 광각렌즈를 자동으로 테스트할 수 있다. 따라서, 광각렌즈의 테스트 및 조립에 소요되는 시간을 감소시킬 수 있고, 육안관측에 비해 정확하고 신뢰성 있는 광각렌즈 테스트 결과를 기대할 수 있다.
도 1은 테스트 패턴을 이용하는 종래의 렌즈 테스트 방법에 대한 참조도면을 도시한다.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치의 개념도를 도시한다.
도 3은 기준 영상의 일 실시예에 따른 참조도면을 도시한다.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치에 대한 개념도를 도시한다.
도 5는 제1실시예와 제2실시예에 따른 렌즈 이송부의 일 예에 대한 참조도면을 도시한다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈불량 판단장치의 블록개념도를 도시한다.
본 명세서에서 언급되는 렌즈불량 판단장치는 프로세서 및 메모리를 구비하며, 광각렌즈 테스트 프로그램을 구동 가능한 장치를 의미할 수 있다. 본 명세서에서 언급되는 렌즈불량 판단장치는 퍼스널 컴퓨터, 서버 컴퓨터, 노트북 및 기타 다양한 장치일 수 있다. 다만 한정하지는 않는다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치의 개념도를 도시한다.
도 2를 참조하면, 실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치는 패턴 반사구(210), 렌즈 이송부(220), 조광장치(230), 제1촬상장치(240), 제2촬상장치(250), 렌즈불량 판단장치(260)를 포함하여 구성될 수 있다.
패턴 반사구(210)는 내부가 비어있는 반구 형상을 가지며, 중심부(S2)는 투명 또는 반투명 재질로 형성되어 조광장치(230)에서 투사되는 패턴 광이 투과되도록 한다.
조광장치(230)는 패턴 반사구(210)를 향해 광을 투사하는 빔 방출노즐(231)을 구비하며, 빔 방출노즐(231)에는 반투명 또는 투명 재질의 테스트 패턴필름이 장착될 수 있다. 즉, 조광장치(230)에서 투사되는 광이 테스트 패턴필름을 지나면 서 패턴 광을 형성하며, 패턴 광이 패턴 반사구(210) 내측 면에 표시되는 것이다.
조광장치(230)의 빔 방출노즐(231)을 통해 패턴 반사구(210)로 투사되는 패턴 광은 광각렌즈(L1, L2)에 의해 굴곡되어 패턴 반사구(210) 내측 면 전체에 걸쳐 확산되어 표시되는데, 표시되는 패턴 광이 패턴 반사구(210) 내측의 반구면 전체에 표시되는 바, 통상의 촬상장치로 패턴 반사구(210)의 반구형 내측 면을 모두 촬상하기에 곤란함이 있다. 이에 따라, 제1촬상장치(240)는 조광장치(230)의 후면에서 패턴 반사구(210)를 촬상 함으로써 패턴 반사구(210)에 투사된 패턴 광에 대해 평면화된 단면(S1)의 영상을 획득할 수 있다.
제1촬상장치(240)는 조광장치(230)의 후면에 위치하여 패턴 반사구(210)의 평면화된 단면의 영상을 획득하므로, 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)는 조광장치(230)에 의해 가려질 수 있다. 즉, 제1촬상장치(240)는 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)를 촬상하지 못하는 것이다. 따라서, 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)를 촬상하는 별도의 촬상장치가 요구되는데, 제2촬상장치(250)가 이에 해당한다.
전술한 바와 같이, 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)는 투명 또는 반투명 재질로 이루어지므로, 조광장치(230)의 빔 방출노즐(231)을 통해 투사되는 패턴 광이 중심부(S2)에 투사될 때, 중심부(S2)에 투사된 패턴 광은 제2촬상장치(250)에 의해 촬상될 수 있다.
한편, 조광장치(230)에서 패턴 광이 투사되는 영역에는 렌즈 이송부(220)가 마련된다. 렌즈 이송부(220)는 이송 벨트(221) 및 모터(미도시)에 의해 회동하여 이송 벨트(221)를 구동하는 이송 롤러(225)를 구비할 수 있다. 이송 벨트(221)에는 광각렌즈(L1, L2)를 고정하는 스토퍼(미도시)가 마련되고, 스토퍼에 의해 고정되는 광각렌즈(L1, L2)는 이송 벨트의 움직임에 따라 순차로 빔 방출노즐(231)에 위치될 수 있다. 즉, 렌즈 이송부(220)는 광각렌즈(L1, L2)를 테스트할 때마다 자동으로 빔 방출노즐(231) 전방에 위치되도록 하며, 테스트가 종료된 광각렌즈(예컨대 L1)는 d1 방향으로 배출하고, 테스트가 요구되는 광각렌즈(예컨대 L2)가 빔 방출노즐(231)에 위치되도록 할 수 있다.
렌즈불량 판단장치(260)는 제1촬상장치(240)와 제2촬상장치(250)의 촬상 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 생성된 테스트 영상과 미리 준비된 기준 영상을 비교하여 광각렌즈(L1, L2)의 불량 여부를 판단한다.
렌즈불량 판단장치(260)는 제1촬상장치(240)와 제2촬상장치(250)의 영상이 동일한 크기가 되도록 리사이징 후, 제1촬상장치(240)와 제2촬상장치(250)의 영상이 결합되도록 할 수 있다. 기준 영상은 패턴 반사구(210)의 내측 면을 따라 인쇄된 것과 유사한 형태를 가질 수 있다. 기준 영상은 도 3에 도시된 영상이 제1촬상장치(240)에서 촬상되었을 때의 형태일 수 있으나, 도 3에 도시된 형태로 한정되는 것은 아니다.
도 4는 본 발명의 제2실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치에 대한 개념도를 도시한다.
도 4를 참조하면, 실시예에 따른 광각렌즈 테스트 장치는 패턴 반사구(310), 렌즈 이송부(320), 제1촬상장치(340), 제2촬상장치(350), 렌즈불량 판단장치(360)를 포함하여 구성될 수 있다.
패턴 반사구(310)는 내측이 비어있는 반구 형상이며, 내측 면은 불투명 재질이거나 또는 반투명 재질로 형성되어 패턴 광이 표시되도록 한다.
패턴 반사구(310)는 조광장치(330)에서 투사되는 패턴 광이 표시되도록 하며, 통상적으로는 이 상태에서 테스트 패턴과 패턴 광을 육안으로 비교하여 광각렌즈(L1, L2)에 대한 불량 여부를 판단한다. 그러나, 본 실시예에서는 패턴 반사구(310)의 내측 면에 투사되는 패턴 광을 한 쌍의 촬상장치(제1촬상장치(340) 및 제2촬상장치(350))가 촬상하도록 하며, 촬상된 영상을 이용하여 자동으로 광각 렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 점에서 차이점을 갖는다.
제1촬상장치(340)와 제2촬상장치(350)는 조광장치(330)와 이웃하게 배치되며, 조광장치(330)에서 패턴 반사구(310) 내측 면으로 투사하는 패턴 광을 촬상한다. 이때, 제1촬상장치(340)와 제2촬상장치(350)는 각각 패턴 반사구(310)의 제1영역(Area1)과 제2영역(Area2)을 각각 촬상하는데, 촬상되는 영역 중 일부 겹치는 중첩 영역(S3)이 생성된다. 중첩 영역(S3)은 제1영역(Area1)과 제2영역(Area2)의 영상을 결합할 때, 렌즈불량 판단장치(360)가 참조하는 영역으로, 중첩 영역(S3)의 영상을 이용하여 제1영역(Area1)과 제2영역(Area1)을 하나의 영상으로 연결할 수 있다.
렌즈 이송부(320)는 테스트 대상 광각렌즈(L1, L2)를 빔 방출노즐(331)로 이송할 수 있다. 렌즈 이송부(320)는 앞서, 도 2를 통해 설명된 것과 동일하므로, 중복되는 설명은 생략하며, 렌즈 이송부(320)(도 4에서는 이송 벨트(321), 이송 롤러(325))에 대한 설명은 도 2를 통해 설명된 것을 준용하도록 한다.
렌즈불량 판단장치(360)는 제1촬상장치(340)와 제2촬상장치(350)에서 촬상된 영상을 중첩 영역(S3)을 참조하여 하나로 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 테스트 영상을 미리 준비된 기준 영상과 비교하여 광각렌즈(L1, L2)의 불량 여부를 판단할 수 있다. 여기서, 기준 영상은 도 3을 통해 설명한 바와 동일하다.
도 5는 제1실시예와 제2실시예에 따른 렌즈 이송부의 일 예에 대한 참조도면을 도시한다.
실시예에 따른 렌즈 이송부(220)는 이송 벨트(221), 위치판단 홀(221a ∼ 221f) 및 스토퍼(222 내지 224)를 포함하여 구성될 수 있다.
위치판단 홀(221a ∼ 221f)은 미리 정해진 간격마다 이송 벨트(221) 상에 형성되며, 천공 홀의 형태를 가질 수 있다. 위치판단 홀(221a ∼ 221f)은 광각렌즈(L1, L2, L3)의 양측에 한 쌍이 마련되며, 광 검출모듈(270)은 광각렌즈(L1, L2, L3)의 양측에 마련되는 위치판단 홀(221a ∼ 221f)을 검출하여 광각렌즈(L1, L2, L3)가 빔 방출노즐(231) 전방에 위치하는가를 판단할 수 있다. 광 검출모듈(270)은 위치판단 홀(221a ∼ 221f)을 향해 광을 투사하는 광 방출부(271) 및 광 방출부(271)에서 투사된 광을 수신하는 광 수신부(272)를 포함하여 구성된다. 이에 따라, 광 검출모듈(270)은 광각렌즈(L2) 진입에 따라 위치판단 홀(221c)을 검출하고, 광각렌즈(예컨대 L2)에 의해 광 방출부(271)에서 투사된 광이 가려질 때, 미 검출되며, 광각렌즈(예컨대 L2)의 이동에 의해 위치판단 홀(221d)이 검출될 경우, 광각렌즈(예컨대 L2)가 빔 방출노즐(231)의 전방에 위치한 것으로 판단할 수 있다. 즉, 광 검출모듈(270)은 검출(221c) - 미검출(L2) - 검출(221d)의 단계를 이용하여 광각렌즈(L2)가 빔 방출노즐(271)의 전방에 위치하였음을 판단할 수 있는데, 이때, 광각렌즈(L2)에 의해 위치판단 홀(221c)과 위치판단 홀(221d) 사이의 거리가 크게 이격되는 것을 이용하여 광각렌즈(L2)가 광 검출모듈(270)을 지나는 것을 파악할 수 있다. 예컨대, 위치판단 홀(221b)과 위치판단 홀(221c) 사이의 거리는 짧으므로 두 개의 위치판단 홀(221b, 221c)이 순차로 검출되는 시간이 t1이고 광각렌즈(L2)로 인해 위치판단 홀(221c)과 위치판단 홀(221d)이 순차로 검출되는 시간이 t2라고 가정할 때, t1 < t2이며, 이를 토대로 광각렌즈(예커대 L2)의 이동 여부를 판단할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈불량 판단장치의 블록개념도를 도시한다. 도 6에 대한 설명은 도 2 내지 도 5를 함께 참조하여 설명하도록 한다.
도 6을 참조하면, 실시예에 따른 렌즈불량 판단장치는 패턴 결합모듈(261), 패턴 매칭모듈(262), 렌즈이송 제어모듈(263) 및 데이터베이스(264)를 포함하여 구성될 수 있다.
패턴 결합모듈(261)은 제1촬상장치(240) 및 제2촬상장치(250)에서 촬상된 영상을 결합하여 하나의 테스트 영상을 구성할 수 있다. 도 2를 통해 설명된 제1실시예에서는 제1촬상장치(240)가 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)를 제외한 나머지 영역을 촬상하고, 제2촬상장치(250)가 패턴 반사구(210)의 중심부(S2)를 촬상하는데, 이 경우, 패턴 결합모듈(261)은 중심부(S2)에 대한 제2촬상장치(250)의 영상과 중심부(S2)를 제외한 제1촬상장치(240)의 영상을 결합하여 단일 테스트 영상을 생성할 수 있다. 다른 한편, 도 4의 제2실시예에 대해서는, 패턴 결합모듈(261)은 중첩 영역(S3)을 참조하여 제1촬상장치(340)와 제2촬상장치(350)의 영상을 하나로 결합하여 테스트 영상을 생성할 수 있다. 이때, 중첩 영역은 제1촬상장치(340)의 영상과 제2촬상장치(350)의 영상에 대해 동일한 영역이므로, 동일 영역을 비교 및 결합할 수 있으며, 이를 통해 제1촬상장치(340)의 영상과 제2촬상장치(350)의 영상을 하나로 결합한 테스트 영상을 생성할 수 있다.
패턴 매칭모듈(262)은 패턴 결합모듈(261)에서 생성된 테스트 영상과 미리 준비된 기준 영상을 패턴 매칭하여 양자간 패턴 일치율을 판단하며, 패턴 일치율이 기준치(예컨대 90%) 이상일 경우 테스트 대상 광각렌즈를 정상으로 판정하고 반대의 경우 불량으로 판정할 수 있다. 기준 영상과 테스트 영상은 전술한 도 3에 도시된 형태의 영상일 수 있으며, 기본적으로, 기준 영상과 테스트 영상은 동일한 패턴을 갖는다.
렌즈이송 제어모듈(263)은 조광장치(230)에서 광을 투사하는 빔 방출노즐(231)의 전방으로 광각렌즈(L1, L2)가 이송되도록 제어한다. 렌즈이송 제어모듈(263)은 이송 롤러(225)를 구동하여 광각렌즈(L1, L2)가 빔 방출노즐(231)의 전방에 위치하도록 제어한다. 이를 위해, 렌즈이송 제어모듈(263)은 광 검출모듈(270)을 통해 이송 벨트(221)에 형성되는 위치판단 홀(221a ∼ 221f)의 검출 결과를 참조하여 광각렌즈(L1, L2)가 정 위치(빔 방출노즐(231) 전방)에 배치되었는가를 판단할 수 있다. 광각렌즈(L1, L2)의 양측방에는 한 쌍의 위치판단 홀이 배치될 수 있는데, 도 5를 참조하면 광각렌즈(L1)의 좌우 측에는 한 쌍의 위치판단 홀(221a, 221b)이 배치되고, 광각렌즈(L2)의 좌우 측에는 한 쌍의 위치판단 홀(221c, 221d)이 배치되며, 광각렌즈(L3)의 좌우 측에는 한 쌍의 위치판단 홀(221e, 221f)이 배치됨을 볼 수 있다. 이처럼, 광각렌즈(L1, L2, L3)는 한 쌍의 위치판단 홀과 함께 배치되며, 위치판단 홀 - 광각렌즈 - 위치판단 홀의 검출 순서에 따라, 광각렌즈가 빔 방출노즐(231)과 정 위치를 이루는 것을 판단할 수 있는 것이다.
이때, 광각렌즈(L1 L2, L3)는 스토퍼(222, 223, 224)에 의해 이송 벨트(221) 상에 고정되며, 이송 벨트(221)에 고정된 상태에서 광각렌즈 면이 빔 방출노즐(231)과 대면하도록 고정할 수 있다. 스토퍼(222, 223, 224)는 탄성 재질의 금속 또는 플라스틱으로 형성함으로써, 광각렌즈(L1, L2, L3)의 장착 및 탈착을 용이하게 할 수 있다.
데이터베이스(264)는 패턴 매칭모듈(262)에서 기준 영상을 구비하며, 패턴 매칭모듈(262)의 불량 판정 결과 및 판정 결과에 따른 로그(Log) 정보를 구비할 수 있다. 데이터베이스(264)에 기록된 불량 판정결과 및 그에 대한 로그 정보는 추후, 광각렌즈의 불량률 및 불량 부위에 대한 정보를 산출할 수 있다.
여기서, 도 6의 실시예는 도 2에 도시된 제1실시예를 중심으로 설명되고, 그에 맞는 참조부호를 부여하였다. 그러나, 도 6의 실시예는 도 4에 도시된 제2실시예에 대해서도 동일하게 적용될 수 있음은 물론이며, 본 출원인이 부여한 참조부호에 의해 제1실시예에 한정되는 것으로 이해되어서는 안 될 것이다.
210 : 패턴 반사구 220 : 렌즈 이송부
230 : 조광장치 240 : 제1촬상장치
250 : 제2촬상장치 260 : 렌즈불량 판단장치

Claims (10)

  1. 내부가 비어있는 반구 형상의 패턴 반사구;
    상기 패턴 반사구의 내측 면을 향해 패턴 광을 투사하는 빔 방출노즐을 구비하는 조광장치;
    상기 빔 방출노즐로 광각렌즈를 이송하는 렌즈 이송부;
    상기 조광장치와 이웃하게 배치되며 각각 상기 패턴 반사구의 일 영역과 타 영역을 촬상하는 제1촬상장치 및 제2촬상장치; 및
    상기 제1촬상장치와 상기 제2촬상장치의 촬상 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 이를 상기 패턴 광에 대한 기준 영상과 비교하여 상기 광각렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 렌즈불량 판단장치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 렌즈 이송부는,
    미리 정해진 간격마다 위치판단 홀이 형성되는 이송 벨트;
    상기 이송 벨트에 부착되며, 일 측은 상기 광각렌즈와 상기 이송 벨트가 접하는 면에서 상기 광각렌즈의 양쪽 둘레 면을 따라 돌출되는 탄성 판재로 구성되며, 상기 광각렌즈의 렌즈 면이 상기 빔 방출노즐과 대면하도록 고정하는 스토퍼; 및
    모터 회전에 의해 회동하여 상기 이송 벨트를 구동하는 이송 롤러;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 위치판단 홀에 광을 투사하는 광 방출부 및 상기 투사된 광을 수신하는 광 수신부로 구성되어 상기 위치판단 홀을 검출하는 광 검출모듈을 구비하며,
    상기 렌즈불량 판단장치는,
    상기 광 검출모듈을 통해 검출된 상기 위치판단 홀이 미리 정해진 기준 위치에 도달하도록 상기 이송 롤러를 제어하여 상기 광각 렌즈의 렌즈 면이 상기 빔 방출노즐과 대면하도록 상기 광각 렌즈의 위치를 보정하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 위치판단 홀은,
    상기 광각렌즈의 둘레 면과 이웃하게 배치되며, 상기 둘레면 양측에 한 쌍이 마련되는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 렌즈불량 판단장치는,
    상기 테스트 영상과 상기 기준 영상에 대한 패턴 매칭을 통해 상기 광각렌즈의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  6. 내부가 비어있는 반구 형상을 가지며, 중심부는 투명재질로 형성되는 패턴 반사구;
    상기 패턴 반사구의 내측 면을 향해 패턴 광을 투사하는 빔 방출노즐을 구비하는 조광장치;
    상기 빔 방출노즐로 광각렌즈를 이송하는 렌즈 이송부;
    상기 조광장치의 후면에 배치되며, 상기 패턴 반사구의 내 측면을 따라 표시되는 영상 중 상기 중심부를 제외한 나머지 영상을 획득하는 제1촬상장치;
    상기 패턴 반사구의 외측면 중심부를 촬상하는 제2촬상장치; 및
    상기 제1촬상장치 및 상기 제2촬상장치의 영상을 결합하여 테스트 영상을 생성하고, 이를 미리 준비된 기준 영상과 비교하여 상기 광각렌즈에 대한 불량 여부를 판단하는 렌즈불량 판단장치;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 렌즈 이송부는,
    미리 정해진 간격마다 위치판단 홀이 형성되는 이송 벨트;
    상기 이송 벨트에 부착되며, 일 측은 상기 광각렌즈와 상기 이송 벨트가 접하는 면에서 상기 광각렌즈의 양쪽 둘레 면을 따라 돌출되는 탄성 판재로 구성되며, 상기 광각렌즈의 렌즈 면이 상기 빔 방출노즐과 대면하도록 고정하는 스토퍼; 및
    모터 회전에 의해 회동하여 상기 이송 벨트를 구동하는 이송 롤러;를 포함하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 위치판단 홀에 광을 투사하는 광 방출부 및 상기 투사된 광을 수신하는 광 수신부로 구성되어 상기 위치판단 홀을 검출하는 광 검출모듈을 구비하며,
    상기 렌즈불량 판단장치는,
    상기 광 검출모듈을 통해 검출된 상기 위치판단 홀이 미리 정해진 기준 위치에 도달하도록 상기 이송 롤러를 제어하여 상기 광각 렌즈의 렌즈 면이 상기 빔 방출노즐과 대면하도록 상기 광각 렌즈의 위치를 보정하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 위치판단 홀은,
    상기 광각렌즈의 둘레 면과 이웃하게 배치되며, 상기 둘레면 양측에 한 쌍이 마련되는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 렌즈불량 판단장치는,
    상기 테스트 영상과 상기 기준 영상에 대한 패턴 매칭을 통해 상기 광각렌즈의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 광각렌즈 테스트 장치.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111521376A (zh) * 2020-04-30 2020-08-11 平湖康达智精密技术有限公司 高像质内对焦式广角镜头研发用性能检测设备
WO2020226540A1 (en) * 2019-05-06 2020-11-12 Saab Ab A method, computer program product, device and system for determining if an optical component of an electro-optical sensor system needs replacing

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006125980A (ja) 2004-10-28 2006-05-18 Fujinon Corp 魚眼レンズ検査装置
KR100924117B1 (ko) 2009-07-15 2009-10-29 김대봉 렌즈 검사 장치
JP2010107210A (ja) 2008-10-28 2010-05-13 Hitachi Maxell Ltd レンズの検査方法、レンズの製造方法、及びレンズ検査装置
JP2010281626A (ja) 2009-06-03 2010-12-16 Opto Device Corporation Co Ltd 光学特性検査装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006125980A (ja) 2004-10-28 2006-05-18 Fujinon Corp 魚眼レンズ検査装置
JP2010107210A (ja) 2008-10-28 2010-05-13 Hitachi Maxell Ltd レンズの検査方法、レンズの製造方法、及びレンズ検査装置
JP2010281626A (ja) 2009-06-03 2010-12-16 Opto Device Corporation Co Ltd 光学特性検査装置
KR100924117B1 (ko) 2009-07-15 2009-10-29 김대봉 렌즈 검사 장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2020226540A1 (en) * 2019-05-06 2020-11-12 Saab Ab A method, computer program product, device and system for determining if an optical component of an electro-optical sensor system needs replacing
US11499887B2 (en) 2019-05-06 2022-11-15 Saab Ab Method, computer program product, device and system for determining if an optical component of an electro-optical sensor system needs replacing
CN111521376A (zh) * 2020-04-30 2020-08-11 平湖康达智精密技术有限公司 高像质内对焦式广角镜头研发用性能检测设备

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