KR101466042B1 - 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 - Google Patents

Abstract

본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은, 반도체소자가 인입될 수 있도록 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되되 내벽 하측에는 상기 반도체소자가 안착될 수 있도록 안착턱이 마련된 관통홀과, 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되어 상기 관통홀의 좌우측에 각각 위치되는 한 쌍의 블록홀을 구비하는 고정블록; 상하로 이동 가능한 구조로 상기 블록홀 내측에 삽입되는 한 쌍의 승강블록; 길이방향 일측에 구비된 회전샤프트를 중심으로 상기 블록홀의 내벽에 회전 가능한 구조로 결합되어, 회전 방향에 따라 길이방향 타측이 상기 안착턱에 안착된 반도체소자의 상면에 밀착 또는 이격되고, 상기 회전샤프트가 구비된 지점 상측에 형성되는 슬라이드슬롯과, 상기 슬라이드슬롯을 관통한 후 상기 승강블록에 결합되는 슬라이드핀을 구비하는 래치; 상하방향으로 이동 가능한 구조로 상기 고정블록에 결합되며, 상기 승강블록이 상면에 안착되는 승강프레임; 상기 승강프레임의 하측에 위치되어 상승 시 상기 승강프레임을 상향으로 밀어 올리는 가압블록;을 포함하여 구성된다.

Description

반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈{Carrier module for semiconductor test handler}

본 발명은 테스트 핸들러 장비를 사용하여 반도체소자의 특성을 검사하기 위하여 테스트 트레이에 장착되어 반도체소자를 이송하는 캐리어 모듈에 관한 것으로, 더 상세하게는 반도체소자를 고정시키는 한 쌍의 래칫이 동시에 회전될 수 있고 래칫 회전을 위한 외력의 인가영역이 크게 확보되어 안정적인 동력 전달이 가능하도록 구성되는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈에 관한 것이다.

현재 생산되고 있는 대부분의 반도체소자는 제품으로 출시하기 전에, 반도체소자들의 리드 또는 볼 부분을 테스트 소켓의 커넥터에 접속시켜 전기적 특성 등의 여러 가지의 테스트를 수행하기 위하여 테스트 트레이에 일정간격으로 복수 개로 배열되어진 캐리어 모듈에 수납된 상태로 이동되면서 테스트 단계를 단계별로 거친 후에 이동되어 테스트를 완료하게 되는 것이다.

그러나 이러한 테스트 트레이에 복수 개로 배열되어진 캐리어 모듈에 수납된 반도체소자가 테스트 과정을 위하여 이동 중에 유동이 발생되어 유실이 되거나 유격이 발생되면서 정확한 테스트가 이루어지지 않게 되어 이러한 오판 별로 인하여 반도체소자의 불량률이 증가하게 되는 문제점이 있었다.

따라서 종래의 반도체소자의 수납을 위한 캐리어 모듈은 캐리어 몸체의 내부에 반도체소자가 수용되는 포켓이 일체로 형성되고 상기 포켓의 양측으로는 스프링에 탄지되는 버튼의 작동에 의하여 회동축을 중심으로 상하로 회동작동이 되는 래치가 설치된 구조로 되어 버튼에 의해 래치가 회동작동으로 열려져 포켓에 반도체소자가 안착되며 래치가 원위치 되어 반도체소자를 고정하여 외부 이탈을 방지토록 한 것이 제안되었다.

이러한 종래의 캐리어 모듈은 래치를 회전시키기 위해서는 래치 상측에 위치된 가압블록을 하향 이동시켜 상기 가압블록에 구비된 가압핀이 래치를 가압하도록 해야 하는데, 이때 상기 가압핀은 래치만을 가압하고 다른 부품과는 간섭되지 아니하도록 두께가 얇게 제작되는바, 래치를 가압하는 과정에서 상기 가압핀이 파손되는 현상이 발생될 수 있다. 또한, 한 쌍의 래치 간격 및 규격은 반도체소자의 크기에 따라 적절하게 설정되어야 하는데, 종래의 캐리어 모듈은 테스트하고자 하는 반도체소자의 종류가 변경되었을 때 반도체소자를 클램핑하는 래치뿐만 아니라 상기 래치를 가압하기 위한 가압블록까지도 교체해야 하므로, 반도체소자 테스트에 많은 비용이 소모된다는 문제점도 있다. 또한 종래의 캐리어 모듈은 래치를 회전시키기 위한 가압블록이 래치의 상측에 위치되므로, 래치 측으로 반도체소자를 투입시키거나 인출시키는 과정에서 상기 반도체소자가 가압블록에 간섭될 우려가 있다는 단점도 있다.

KR 10-1357396 B1

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 래치가 결합된 블록을 가압하여 래치가 회전되도록 함으로써 래치 회전에 따른 부품 파손을 방지할 수 있고, 테스트 대상 반도체소자의 규격이 변경되어 래치의 종류가 변경되더라도 상기 래치를 가압하기 위한 가압블록은 공용으로 사용할 수 있어 반도체소자 테스트 장치의 제조비용을 절감시킬 수 있으며, 반도체소자의 인입 및 인출이 용이해지도록 가압블록이 래치의 하측에 위치되는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈을 제공하는데 목적이 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은,

반도체소자가 인입될 수 있도록 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되되 내벽 하측에는 상기 반도체소자가 안착될 수 있도록 안착턱이 마련된 관통홀과, 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되어 상기 관통홀의 좌우측에 각각 위치되는 한 쌍의 블록홀을 구비하는 고정블록;

상하로 이동 가능한 구조로 상기 블록홀 내측에 삽입되는 한 쌍의 승강블록;

길이방향 일측에 구비된 회전샤프트를 중심으로 상기 블록홀의 내벽에 회전 가능한 구조로 결합되어, 회전 방향에 따라 길이방향 타측이 상기 안착턱에 안착된 반도체소자의 상면에 밀착 또는 이격되고, 상기 회전샤프트가 구비된 지점 상측에 형성되는 슬라이드슬롯과, 상기 슬라이드슬롯을 관통한 후 상기 승강블록에 결합되는 슬라이드핀을 구비하는 래치;

상하방향으로 이동 가능한 구조로 상기 고정블록에 결합되며, 상기 승강블록이 상면에 안착되는 승강프레임;

상기 승강프레임의 하측에 위치되되 사용자의 선택에 따라 승강하는 구조로 구성되어, 상승 시 상기 승강프레임을 상향으로 밀어 올리는 가압블록;

을 포함하여 구성된다.

상기 회전샤프트와 상기 슬라이드핀은 상호 평행하게 배열되고,

상기 슬라이드슬롯은, 상기 회전샤프트로부터 멀어지는 방향으로 연장되는 직선부와, 상기 직선부의 끝단으로부터 래치의 길이방향 타측을 향해 연장되되 가운데 부위가 상향으로 볼록하도록 만곡된 형상의 곡선부를 포함한다.

상기 블록홀의 상측에 위치되며 끝단이 하향으로 돌출되는 고정돌기와, 상기 승강블록으로부터 상향 돌출되는 승강돌기와, 상기 고정돌기와 승강돌기 사이에 위치되되 상기 고정돌기와 승강돌기가 길이방향 양단에 인입되어 상기 승강블록에 하향 탄성력을 인가하는 스프링을 더 포함한다.

상기 고정블록의 외측벽에는 상하로 길이를 갖는 슬라이드홈이 형성되고,

상기 승강프레임은, 상기 관통홀의 하단을 둘러싸는 사각틀 형상으로 형성되되, 외측단으로부터 상향 연장되어 끝단이 상기 슬라이드홈에 인입되는 슬라이드후크를 구비한다.

본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈를 이용하면, 래치가 결합된 블록을 이동시켜 래치가 회전되도록 함으로써 래치 회전에 따른 부품 파손을 방지할 수 있고, 테스트 대상 반도체소자의 규격이 변경되어 래치의 종류가 변경되더라도 상기 래치를 가압하기 위한 가압블록은 공용으로 사용할 수 있어 반도체소자 테스트 장치의 제조비용을 절감시킬 수 있으며, 가압블록이 래치의 하측에 위치되므로 반도체소자의 인입 및 인출이 용이해진다는 장점이 있다.

도 1은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 분해사시도이다.
도 2는 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 저면 분해사시도이다.
도 3은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 수직단면도이다.
도 4는 고정블록에 승강프레임이 결합되는 구조를 도시하는 분해사시도이다.
도 5는 스프링이 승강블록에 안착되는 구조를 도시하는 분해사시도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 작동상태를 도시하는 단면도이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 실시예를 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 분해사시도이고, 도 2는 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 저면 분해사시도이며, 도 3은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 수직단면도이다.

본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은 한 쌍의 래치로 반도체소자의 좌우측단을 고정시키기 위한 장치로서, 종래의 캐리어 모듈의 경우에는 상기 래치를 위에서 아래로 눌러 회전시키는 구조로 구성되는데 비해, 본 발명에 의한 캐리어 모듈은 래치의 하측에서 상향 가압하는 힘에 의해 상기 래치가 회전되도록 구성된다는 점에 구성상의 가장 큰 특징이 있다.

즉, 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은, 반도체소자(10)가 인입될 수 있도록 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성된 관통홀(110) 및 한 쌍의 블록홀(120)이 형성된 고정블록(100)과, 상하로 이동 가능한 구조로 상기 블록홀(120) 내측에 삽입되는 한 쌍의 승강블록(200)과, 상기 한 쌍의 승강블록(200)에 회전 가능한 구조로 구성되어 회전 방향에 따라 길이방향 타측이 상기 안착턱(112)에 안착된 반도체소자(10)의 상면에 밀착 또는 이격되는 한 쌍의 래치(300)와, 상하방향으로 이동 가능한 구조로 상기 고정블록(100)에 결합되며 상기 승강블록(200)이 상면에 안착되는 승강프레임(400)과, 상기 승강프레임(400)의 하측에 위치되되 사용자의 선택에 따라 승강하는 구조로 구성되어 상승 시 상기 승강프레임(400)을 상향으로 밀어 올리는 가압블록(500)을 포함하여 구성된다.

상기 관통홀(110)의 내벽 하측에는 상기 반도체소자(10)가 안착될 수 있도록 안착턱(112)이 돌출 형성되며, 래치(300)가 각각 장착되는 한 쌍의 블록홀(120)은 도 1에 도시된 바와 같이 관통홀(110)의 좌우측에 각각 위치된다. 한편 상기 래치(300)의 길이방향 일측(본 실시예에서는 바깥측)에는 전후방향으로 돌출되는 회전샤프트(310)가 구비되고, 상기 래치(300)의 상측(더 명확하게는 회전샤프트(310)가 구비된 지점 상측)에는 길이방향 타측(반도체소자(10)를 가압하여 고정시키는 측)을 향해 연장되는 슬라이드슬롯(320)이 형성되며, 상기 슬라이드슬롯(320)에는 슬라이드슬롯(320)의 길이방향으로 슬라이딩 가능하도록 슬라이드핀(330)이 삽입된다. 이때 슬라이드핀(330)의 길이방향 끝단은 승강블록(200)에 고정 결합되므로, 상기 승강블록(200)이 상승함에 따라 슬라이드핀(330) 역시 상승하면서 슬라이드슬롯(320)을 타고 이동하게 되고, 이에 따라 상기 래치(300)는 길이방향 타측이 상승하는 방향으로 회전하게 된다.

상기 가압블록(500)의 상면 좌우측에는 상향으로 돌출되는 한 쌍의 삽입바(510)가 형성되고, 상기 승강프레임(400)과 대응되는 지점에는 상향으로 돌출된 블록 형상의 가압부(520)가 형성된다. 가압블록(500)이 외력에 의해 상승될 때 상기 삽입바(510)는 고정블록(100)에 형성된 삽입홀(130)에 삽입되는바, 상기 가압블록(500)은 좌우로 흔들리지 않고 수직방향으로만 승강될 수 있게 된다.

이와 같이 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈은 래치(300)의 회전이 승강블록(200)의 회전에 의해 이루어지고, 상기 승강블록(200)은 승강프레임(400) 상에 안착되어 승강프레임(400)과 일체로 상승되며, 상기 승강프레임(400)을 밀어 올리는 가압블록(500)이 승강프레임(400)의 하측에 위치되는바, 상기 관통홀(110)을 통해 반도체소자(10)를 인입 및 인출시킬 때 상기 반도체소자(10)가 다른 구성요소에 간섭되는 현상이 발생되지 아니하게 된다는 장점이 있다.

또한 본 발명에 포함되는 한 쌍의 래치(300)는 각각 별도의 승강블록(200)의 상승에 의해 회전되지만, 상기 한 쌍의 승강블록(200)은 하나의 승강프레임(400)에 의해 승강되도록 구성되는바, 상기 한 쌍의 래치(300)가 보다 안정적으로 동시에 회전될 수 있다는 장점이 있다.

한편, 종래의 캐리어 모듈은 두께가 얇은 밀핀이 블록(래치가 장착된 블록) 내부로 삽입되어 래치를 직접 가압하여 회전시키도록 구성되는바, 상기 밀핀이 블록 틈새에 끼어 정상적으로 작동되지 아니할 뿐만 아니라 상기 밀핀이 부러지는 문제가 발생될 수 있다는 문제점이 있다. 그러나 본 발명에 의한 캐리어 모듈은 래치(300)를 직접 밀어 회전시키는 것이 아니라 승강블록(200)을 승강시켰을 때 슬라이드핀(330)이 슬라이드슬롯(320)을 따라 슬라이딩되는 현상을 이용하여 래치(300)를 회전시키도록 구성되는바, 두께가 얇은 밀핀이 필요치 아니하고, 이에 따라 고장의 우려가 매우 낮아진다는 장점이 있다.

도 4는 고정블록(100)에 승강프레임(400)이 결합되는 구조를 도시하는 분해사시도이고, 도 5는 스프링(210)이 승강블록(200)에 안착되는 구조를 도시하는 분해사시도이다.

본 발명에 포함되는 래치(300)가 안정적으로 회전되기 위해서는 슬라이드핀(330)이 결합된 승강블록(200)이 수직방향으로 일정하게 승강되어야 하는데, 상기 승강블록(200)은 승강프레임(400)에 의해 밀려 승강되도록 구성되는바, 상기 승강프레임(400) 역시 좌우로 흔들리지 아니하고 수직방향으로만 일정하게 승강되어야 한다. 따라서 상기 승강프레임(400)은 단순히 승강블록(200)이 상기 고정블록(100)의 외측벽에는 상하로 길이를 갖는 슬라이드홈(140)이 형성되고, 상기 승강프레임(400)은 도 4에 도시된 바와 같이 관통홀(110)의 하단을 둘러싸는 사각틀 형상으로 형성되되 외측단으로부터 상향 연장되어 끝단이 상기 슬라이드홈(140)에 인입되는 슬라이드후크(410)를 구비하도록 구성됨이 바람직하다.

이와 같이 고정블록(100)과 승강프레임(400)에 각각 슬라이드홈(140)과 슬라이드후크(410)가 구비되면, 상기 승강프레임(400)은 슬라이드후크(410)가 슬라이드홈(140)으로부터 탈거되지 아니하는 한 슬라이드홈(140)의 길이방향 즉, 수직방향으로만 안정적으로 승강될 수 있고, 이에 따라 승강블록(200)을 수직방향으로 안정적으로 밀어 올릴 수 있게 된다는 장점이 있다. 한편, 상기 승강프레임(400)이 두께가 얇은 사각틀 형상으로만 형성되면 승강블록(200)이 안정적으로 안착될 수 없는바, 상기 승강프레임(400) 중 승강블록(200)이 안착되는 부위에는 수평방향으로 연장되는 안착판(420)이 마련됨이 바람직하다.

가압블록(500)의 상향 가압에 의해 승강프레임(400) 및 승강블록(200)이 상승될 때 래치(300)는 안쪽 끝단이 상승하는 방향으로 회전되고, 상기 가압블록(500)이 아래로 내려가면 상기 승강프레임(400) 및 승강블록(200) 역시 아래로 내려가게 되는바 상기 래치(300)는 안쪽 끝단이 다시 하강하는 방향으로 회전하게 된다. 이때, 상기 승강블록(200)의 하강이 단순히 자중에 의해 이루어지도록 구성되면, 각 승강블록(200)이 좌우로 약간만 기울어지더라도 블록홀(120) 내벽에 끼어 정상적으로 하강되지 아니하게 될 우려가 있다.

따라서 본 발명에 포함되는 승강블록(200)은 단순히 자중에 의해 하강되는 것이 아니라, 별도의 탄성력에 의해 하강되도록 구성됨이 바람직하다. 즉, 상기 블록홀(120)의 상측에는 끝단이 하향으로 돌출되는 고정돌기(122)가 형성되고, 상기 승강블록(200)에는 상향 돌출되는 승강돌기(220)형성되며, 상기 고정돌기(122)와 승강돌기(220) 사이에는 코일 형상으로 감겨진 스프링(210)이 압축 장착된다. 상기 고정돌기(122)와 승강돌기(220)는 스프링(210)의 길이방향 양단에 인입되도록 장착되는바, 상기 고정돌기(122)와 승강돌기(220) 사이의 간격이 변경되더라도 상기 스프링(210)은 고정돌기(122)와 승강돌기(220) 사이로부터 탈거되지 아니하고 안정적으로 압축 및 복원이 가능하게 된다.

고정돌기(122)와 승강돌기(220) 사이에 압축 장착된 스프링(210)은 승강블록(200)에 하향 탄성력을 인가하게 되는바, 상기 승강블록(200)은 가압블록(500)의 상향 가압력이 해제되었을 때 스프링(210)의 탄성력에 의해 하강되므로, 승강 및 하강의 신뢰성이 매우 높아진다는 장점이 있다.

도 6 및 도 7은 본 발명에 의한 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈의 작동상태를 도시하는 단면도이다.

테스트 대상 반도체소자(10)는 관통홀(110)의 내벽 하단에 형성된 안착턱(112)에 안착되는데, 이때 한 쌍의 래치(300)가 오므려져 있으면 즉, 도 3에 도시된 바와 같이 내측 끝단이 안착턱(112)을 덮도록 회전되어 있으면, 상기 반도체소자(10)를 안착턱(112)에 안착시킬 수 없다. 따라서 반도체소자(10)를 안착턱(112)에 안착시키기 위해서는 한 쌍의 래치(300)가 벌어지도록 즉, 내측 끝단이 상향으로 들어 올려지도록 래치(300)를 회전시켜야 한다.

이와 같이 래치(300)의 내측 끝단이 상향으로 올려지도록 래치(300)를 회전시키고자 하는 경우에는, 도 3에 도시된 가압블록(500)을 상승시켜 승강프레임(400)을 위로 밀어 올린다. 이와 같이 승강프레임(400)이 위로 밀어 올려지면, 도 6에 도시된 바와 같이 승강프레임(400)의 안착판(도 5 참조)에 안착된 승강블록(200) 역시 상승하게 되고, 상기 승강블록(200)에 고정 결합된 슬라이드핀(330) 역시 승강블록(200)과 함께 상승하게 된다. 이때, 슬라이드핀(330)은 래치(300)의 슬라이드슬롯(320)을 관통하도록 장착되는데, 상기 래치(300)의 회전샤프트(310)는 고정블록(100)에 고정 결합되므로, 슬라이드핀(330)이 상승하더라도 래치(300)는 상승하지 못하게 된다. 이와 같이 래치(300)가 상승하지 못하게 되면, 상기 슬라이드핀(330)은 슬라이드슬롯(320)의 안쪽 끝단 측으로 슬라이딩되면서 래치(300)를 회전시키게 되는바, 상기 한 쌍의 래치(300)는 도 6에 도시된 바와 같이 상호 벌어지는 방향으로 회전되어 안착턱(112)을 개방시키게 된다. 이와 같이 안착턱(112)이 개방되면, 반도체소자(10)를 상기 안착턱(112) 상에 안정적으로 안착시킬 수 있게 된다.

이때, 상기 회전샤프트(310)와 상기 슬라이드핀(330)이 상호 엇갈리게 배열되면 래치(300)가 회전샤프트(310)를 중심으로 회전될 때 슬라이드핀(330)이 슬라이드슬롯(320)에 끼어 정상적으로 슬라이딩되지 못한 수 있으므로, 상기 회전샤프트(310)와 상기 슬라이드핀(330)은 본 실시예에 도시된 바와 같이 상호 평행하게 배열됨이 바람직하다.

또한, 도 3에 도시된 바와 같이 래치(300)의 슬라이드슬롯(320)이 가로방향을 향하고 있는 상태에서 승강블록(200)이 상승되면 슬라이드핀(330) 역시 상승하게 되는데, 상기 슬라이드슬롯(320)이 수평방향으로 연장되는 직선 형상으로 형성되면 슬라이드핀(330)의 이동방향과 슬라이드슬롯(320)의 길이방향이 직각을 이루게 되므로 상기 슬라이드핀(330)이 슬라이드슬롯(320)을 따라 슬라이딩되지 못하는 경우가 발생될 수 있다. 특히, 상기 슬라이드슬롯(320)이 안착턱(112)과 가까워질수록 아래를 향하도록 하향 경사지게 형성되면 슬라이드핀(330)의 이동방향과 슬라이드슬롯(320)의 연장방향이 반대를 향하므로 슬라이드핀(330)의 이동이 불가하게 된다.

따라서 상기 슬라이드슬롯(320)은 본 실시예에 도시된 바와 같이, 상기 래치(300)의 길이방향 일측으로부터 길이방향 타측을 향해 길게 연장되되, 가운데 부위가 상향으로 볼록하도록 만곡된 형상으로 형성됨이 바람직하다. 이와 같이 슬라이드슬롯(320)이 아크 형상으로 형성되면, 슬라이드핀(330)이 슬라이드슬롯(320)의 길이방향 일단(안착턱(112)과 가장 먼 측의 끝단)에 위치된 상태에서 상향 이동될 때 상기 슬라이드핀(330)이 안정적으로 슬라이드슬롯(320)을 따라 슬라이딩될 수 있으므로, 래치(300)의 회전이 정상적으로 이루어지게 된다.

물론, 슬라이드슬롯(320)이 안착턱(112)과 가까워질수록 위를 향하도록 상향 경사지게 직선으로 형성되더라도 슬라이드핀(330)이 슬라이드슬롯(320)을 따라 안정적으로 슬라이딩될 수 있지만, 이와 같은 경우 래치(300) 중 반도체소자(10)에 밀착되는 측의 높이가 증가되어야 하므로 도 6에 도시된 바와 같이 회전되었을 때 다른 부품에 간섭될 우려가 있다는 문제점이 있다. 따라서 상기 슬라이드슬롯(320)은 본 실시예에 도시된 바와 같이 가운데 부위가 상향으로 볼록하도록 만곡된 형상으로 형성됨이 바람직하다.

한편, 안착턱(112)에 반도체소자(10)가 안착된 이후에는 상기 래치(300)가 반도체소자(10)의 가장자리 상면을 하향 가압하여 고정시킬 수 있도록 원상태로 복귀되어야 한다. 이와 같이 래치(300)를 원상태로 복귀시키고자 하는 경우, 작업자는 승강프레임(400)을 상향 가압하던 가압블록(500)을 하강시킨다. 상기 가압블록(500)이 하강되어 승강프레임(400)에 인가되었던 외력이 해제되면, 상기 승강블록(200)은 압축되었던 스프링(210)의 복원탄성력에 의해 하강되고, 승강블록(200)에 결합된 슬라이드핀(330) 역시 하강되면서 슬라이드슬롯(320)의 길이방향 일측으로 슬라이딩되고, 이에 따라 래치(300)는 도 7에 도시된 바와 같이 반도체소자(10)의 가장자리 상면을 하향 가압하도록 즉, 원상태로 복귀되도록 회전된다.

이와 같이 래치(300)가 반도체소자(10)를 고정시키고 있는 상태에서는, 승강블록(200)이 상승되지 아니하는 한 상기 래치(300)는 반도체소자(10)로부터 이격되지 아니하는바, 반도체소자(10)의 고정이 보다 안정적으로 이루어질 수 있다는 장점이 있다.

도 8 및 도 9는 래치에 형성된 슬라이드슬롯을 따라 슬라이드핀이 슬라이딩되는 과정을 도시한다.

승강블록(200) 및 이에 결합되어 있는 슬라이드핀(330)이 승강됨에 따라 회동되는 래치(300)는 끝단이 내측을 향하도록 회전되었을 때 즉, 도 7에 도시된 바와 같이 반도체소자(10)의 가장자리 상면을 가압하도록 회전되었을 때에는, 승강블록(200) 및 이에 결합되어 있는 슬라이드핀(330)이 상승하지 아니하는 한 외력이 인가되더라도 들어 올려지지 아니하도록(더 명확하게는 반도체소자(10)의 가장자리 상면으로부터 이격되지 아니하도록) 고정된 상태를 유지하여야 한다.

따라서 상기 래치(300)에 형성된 슬라이드슬롯(320)은 단순히 원호 형상으로 형성되는 것이 아니라, 상기 회전샤프트(310)로부터 멀어지는 방향으로 연장되는 직선부(322)와, 상기 직선부(322)의 끝단으로부터 래치(300)의 끝단을 향해 연장되되 가운데 부위가 상향으로 볼록하도록 만곡된 형상의 곡선부(324)를 구비하도록 구성된다.

이와 같이 상기 슬라이드슬롯(320)이 직선부(322)와 곡선부(324)로 구분되도록 형성되면, 승강블록(200) 및 이에 결합되어 있는 슬라이드핀(330)이 최대한 하강되어 도 8에 도시된 바와 같이 상기 슬라이드핀(330)이 직선부(322)의 내측 끝단(회전샤프트(310)와 가까운 측의 끝단)에 위치되었을 때 상기 래치(300)는 회전되지 못하고 고정된 상태가 유지된다. 즉, 래치(300)의 끝단이 반도체소자(10)의 가장자리 상면을 가압하고 있는 상태에서는, 상기 래치(300)에 어떠한 회전력이 인가되더라도 상기 래치(300)는 회전되지 아니하는바, 상기 반도체소자(10)가 사용자의 의도에 반하여 탈거되는 현상이 발생되지 아니하게 된다.

한편, 도 8에 도시된 상태에서 승강블록(200) 및 이에 결합되어 있는 슬라이드핀(330)이 점진적으로 상승될 때, 도 9에 도시된 바와 같이 상기 슬라이드핀(330)이 직선부(322)와 곡선부(324)가 만나는 지점에 위치될 때까지는 상기 래치(300)가 회전되지 아니하고 고정된 상태를 유지하지만, 도 9에 도시된 상태보다 슬라이드핀(330)이 상승하면 상기 슬라이드핀(330)은 곡선부(324)를 타고 슬라이딩되는바 래치(300)는 반도체소자(10)의 가장자리 상면으로부터 이격되도록 회전된다. 이와 같이 슬라이드핀(330)이 상승함에 따라 래치(300)가 회전되는 작동과정에 대해서는 도 6 및 도 7을 참조하여 설명하였는바, 래치(300)의 회전에 대한 설명은 생략한다.

이상, 본 발명을 바람직한 실시예를 사용하여 상세히 설명하였으나, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의하여 해석되어야 할 것이다. 또한, 이 기술분야에서 통상의 지식을 습득한 자라면, 본 발명의 범위에서 벗어나지 않으면서도 많은 수정과 변형이 가능함을 이해하여야 할 것이다.

10 : 반도체소자 100 : 고정블록
110 : 관통홀 112 : 안착턱
120 : 블록홀 122 : 고정돌기
130 : 삽입홀 140 : 슬라이드홈
200 : 승강블록 210 : 스프링
220 : 승강돌기 300 : 래치
310 : 회전샤프트 320 : 슬라이드슬롯
330 : 슬라이드핀 400 : 승강프레임
410 : 슬라이드후크 500 : 가압블록
510 : 삽입바 520 : 가압부

Claims (4)

1. 반도체소자(10)가 인입될 수 있도록 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되되 내벽 하측에는 상기 반도체소자(10)가 안착될 수 있도록 안착턱(112)이 마련된 관통홀(110)과, 상하방향으로 길이를 갖는 관통공 형상으로 형성되어 상기 관통홀(110)의 좌우측에 각각 위치되는 한 쌍의 블록홀(120)을 구비하는 고정블록(100);
   상하로 이동 가능한 구조로 상기 블록홀(120) 내측에 삽입되는 한 쌍의 승강블록(200);
   하기 래치(300)의 길이방향 일측에 구비된 회전샤프트(310)를 중심으로 상기 블록홀(120)의 내벽에 회전 가능한 구조로 결합되어, 회전 방향에 따라 하기 래치(300)의 길이방향 타측이 상기 안착턱(112)에 안착된 반도체소자(10)의 상면에 밀착 또는 이격되고, 상기 회전샤프트(310)가 구비된 지점 상측에 형성되는 슬라이드슬롯(320)과, 상기 슬라이드슬롯(320)을 관통한 후 상기 승강블록(200)에 결합되는 슬라이드핀(330)을 구비하는 래치(300);
   상하방향으로 이동 가능한 구조로 상기 고정블록(100)에 결합되며, 상기 승강블록(200)이 상면에 안착되는 승강프레임(400);
   상기 승강프레임(400)의 하측에 위치되되 사용자의 선택에 따라 승강하는 구조로 구성되어, 상승 시 상기 승강프레임(400)을 상향으로 밀어 올리는 가압블록(500);
   을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
   
2. 제1항에 있어서,
   상기 회전샤프트(310)와 상기 슬라이드핀(330)은 상호 평행하게 배열되고,
   상기 슬라이드슬롯(320)은, 상기 회전샤프트(310)로부터 멀어지는 방향으로 연장되는 직선부(322)와, 상기 직선부(322)의 끝단으로부터 래치(300)의 길이방향 타측을 향해 연장되되 가운데 부위가 상향으로 볼록하도록 만곡된 형상의 곡선부(324)를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
   
3. 제1항에 있어서,
   상기 블록홀(120)의 상측에 위치되며 끝단이 하향으로 돌출되는 고정돌기(122)와, 상기 승강블록(200)으로부터 상향 돌출되는 승강돌기(220)와, 상기 고정돌기(122)와 승강돌기(220) 사이에 위치되되 상기 고정돌기(122)와 승강돌기(220)가 하기 스프링(210)의 길이방향 양단에 인입되어 상기 승강블록(200)에 하향 탄성력을 인가하는 스프링(210)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
   
4. 제1항에 있어서,
   상기 고정블록(100)의 외측벽에는 상하로 길이를 갖는 슬라이드홈(140)이 형성되고,
   상기 승강프레임(400)은, 상기 관통홀(110)의 하단을 둘러싸는 사각틀 형상으로 형성되되, 외측단으로부터 상향 연장되어 끝단이 상기 슬라이드홈(140)에 인입되는 슬라이드후크(410)를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.

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