KR101447612B1 - 멀티 디바이스 테스터 - Google Patents

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    • G01R31/318563—Multiple simultaneous testing of subparts

Abstract

본 발명은 피측정기기인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 브레드보드를 선택적으로 테스트하는 멀티 디바이스 테스터의 구성에 있어서, 상기 피측정기기의 종류에 따라서 결정되는 테스트 모드를 설정하는 설정부와; 상기 설정부에 의해서 설정된 테스트 모드에 공급하는 전원 공급부와; 상기 피측정기기로 부터 측정된 값을 디지털 신호로 변환하는 어댑터와; 상기 피측정기기를 측정을 위해서 위치시키는 측정보드와; 상기 설정부에 의하여 설정된 테스트 모드를 입력받아 상기 전원 공급부에 의하여 공급되는 전원에 의하여, 상기 테스트 모드가 상기 저항을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 저항측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 저항값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 커패시터를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 커패시터 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 커패시터값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전류를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전류 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전류값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전압을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전압 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전압값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 LED극성을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 LED극성 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 LED극성을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 브레드보드의 회로구성여부를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 브레드보드의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 브레드보드의 회로구성여부를 평가하여서, 상기 측정보드에서 측정된 측정값을 연산하는 연산부와; 상기 연산부에서 연산된 결과를 외부로 도출하는 LCD 플레이부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

멀티 디바이스 테스터 { Multi device tester }
본 발명은 교육용 멀티 디바이스 테스터에 관한 것으로서, 저항측정기, 커패시터 측정기, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 전류측정기, 전압측정기, 브레드보드 등의 이종의 전기기기들을 하나의 시스템에 의하여 정상동작여부를 판단하는 멀티 디바이스 테스터(Multi device tester)에 관한 것이다.
일반적으로, 과전류, 과전압 계전기 등의 계전기류는 인입되는 과전압, 과전류에 의하여 기기의 소손 및 화재발생들을 방지하기 위하여 사용되는 장치로 순시, 한시동작이 정확히 이루어져야 하기 때문에 신뢰성에 대한 시험이 많이 이루어지고 있다.
이와 같이 전기장치, 특히 디지털 전력량계, 계전기 등은 정확한 동작을 측정하기 위한 측정장치가 필요하다.
또한 이러한 전기장치들을 측정하기 위한 측정시스템은 전기기기에 측정에 필요한 정전압, 정전류를 공급하고, 측정대상의 전기기기에서 정전압 정전류에 반응하는 반응결과를 추출하고, 반응결과를 기준값과 비교하여 정상동작여부를 판단하는 구성을 이루고 있으나, 반응결과들이 서로 다른 신호방식들로 이루어지기 때문에 별도의 시스템을 구성하여야만 한다.
이와 같이 측정대상의 전기기기의 종류에 따라서 별도의 측정 시스템을 구성해야 되기 때문에 측정 시스템 구축비용이 고가로 된다.
또한 각 측정대상의 전기기기의 종류에 따라서 별도의 측정시스템이 구비되고, 별도의 매뉴얼에 의하여 측정이 이루어져야 하기 때문에 측정에 많은 인원이 필요하게 된다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명에 의한 멀티 디바이스 테스터의 구성을 통해서, 이종의 다양한 측정대상의 전기기기를 하나의 시스템으로 측정가능할 수 있도록 하는 멀티 디바이스 테스터의 구성을 제공하는 것에 있다.
상기와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 의하면, 피측정기기인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기,LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 브레드보드를 선택적으로 테스트하는 멀티 디바이스 테스터의 구성에 있어서: 상기 피측정기기의 종류에 따라서 결정되는 테스트 모드를 설정하는 설정부와; 상기 설정부에 의해서 설정된 테스트 모드에 공급하는 전원 공급부와; 상기 피측정기기로 부터 측정된 값을 디지털 신호로 변환하는 어댑터와; 상기 피측정기기를 측정을 위해서 위치시키는 측정보드와; 상기 설정부에 의하여 설정된 테스트 모드를 입력받아 상기 전원 공급부에 의하여 공급되는 전원에 의하여, 상기 테스트 모드가 상기 저항을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 저항측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 저항값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 커패시터를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 커패시터 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 커패시터값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전류를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전류 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전류값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전압을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전압 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전압값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 LED극성을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 LED극성 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 LED극성을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 브레드보드의 회로구성여부를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 브레드보드의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 브레드보드의 회로구성여부를 평가하여서, 상기 측정보드에서 측정된 측정값을 연산하는 연산부와; 상기 연산부에서 연산된 결과를 외부로 도출하는 LCD 플레이부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 전원공급부는, 직류 전원을 공급하는 직류 전원부와, 태양광 집열판을 통해서 빛에너지를 전기에너지로 변환시켜서 공급하는 태양광 전원부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 전원공급부는, 상기 직류 전원부와, 태양광 전원부를 선택적으로 사용하거나, 주전원 또는 보조전원의 형태로 사용할 수 있는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 측정보드에, 측정대상물인 저항, 캐패시터, LED의 양단부 및 양극성을 삽입시켜서 작동시킴으로써 측정값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 멀티 디바이스 테스터에 의할 때, 전류, 전압, 저항, 캐패시터의 용량, 다이오드 극성의 측정, LLED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 및 브레드보드로의 저항, 커패시턴스 측정을 한꺼번에 가능하게 한다는 장점이 있다.
LED 극성을 측정함에 있어서 기존에 프로브에 직접 접촉시켜서 하는 측정하는 방식이 아닌 홈에 브레드보드에 형성된 홈에 삽입하면 극성이 표시되어 LED에 불이 들어오는 방식이어서 측정이 아주 용이하다는 장점이 있다.
또한, 트랜지스터의 극성측정에 있어서도, LED 극성측정과 마찬가지로 측정보드에 형성된 홈에 삽입하면, 이미터, 베이스, 컬렉터 극성이 표시가되면, NPN과 PNP가 각각 구별되어서 측정된다.
한편, 브레드보드의 저항 및 커패시턴스의 측정에 있어서도, 기존 프로브 측정 방식이 아닌 브레드보드에 삽입하면 즉시 용량이 표시되어서 아주 편리하다.
브레드보드에 DC 5V의 전압이 인가되게 하여서, 간단한 회로를 구성할 수 있으며, 케이블을 연장하여 다른 브레드보드로 확장이 가능하도록 함으로써 확장성도 확보하였다는 장점이 있다.
상기와 같은 사용상의 편의성과 측정대상물의 다양성으로 인해 교육용 멀티 디바이스 테스터로서 활용성과 편리성 그리고 구입비용의 효율성이라는 면에서 장점이 탁훨하다.
도 1 은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전체 구성에 관한 시스템 블록도이다.
도 2 는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전원 공급부에 관한 구성도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 설정부에 관한 구성도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 어댑터와 연산부에 관한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 트랜지스터와 LED극성을 테스터 하는 것을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 커패시터와 저항을 측정하는 것을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전면부를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전원공급부를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 설정부를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 LCD 디스플레이부를 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 브레드보드를 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 트랜지스터와 LED극성을 테스터하는 회로를 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 태양광 전원부의 구성을 나타낸 회로를 도시한 도면이다.
이하에서는 본 발명의 구체적인 실시 예를 도면과 함께 상세히 설명하도록 한다. 그러나, 본 발명의 사상이 제시되는 실시 예에 제한된다고 할 수 없으며,또 다른 구성요소의 추가, 변경, 삭제 등에 의해서, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시 예를 용이하게 제안할 수 있다.
도 1 은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전체 구성에 관한 시스템 블록도이다.
도 2 는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전원 공급부에 관한 구성도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 설정부에 관한 구성도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 어댑터와 연산부에 관한 구성도이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 트랜지스터와 LED극성을 테스터 하는 것을 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 커패시터와 저항을 측정하는 것을 나타낸 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전면부를 나타낸 도면이다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 전원공급부를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 설정부를 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 LCD 디스플레이부를 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 브레드보드를 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 트랜지스터와 LED극성을 테스터하는 회로를 나타낸 도면이다.
도 13은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터의 태양광 전원부의 구성을 나타낸 회로를 도시한 도면이다.
각 도면을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 구성은, 피측정기기인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 브레드보드를 선택적으로 테스트하는 멀티 디바이스 테스터의 구성에 있어서, 상기 피측정기기의 종류에 따라서 결정되는 테스트 모드를 설정하는 설정부(100)와, 상기 설정부(100)에 의해서 설정된 테스트 모드에 공급하는 전원 공급부와; 상기 피측정기기로 부터 측정된 값을 디지털 신호로 변환하는 어댑터와, 상기 피측정기기를 측정을 위해서 위치시키는 측정보드(400)와, 상기 설정부(100)에 의하여 설정된 테스트 모드를 입력받아 상기 전원 공급부에 의하여 공급되는 전원에 의하여,
상기 테스트 모드가 상기 저항을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 저항측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 저항값을 평가하고,
상기 테스트 모드가 상기 커패시터를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 커패시터 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 커패시터값을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 전류를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전류 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전류값을 평가하고,
상기 테스트 모드가 상기 전압을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전압 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 전압값을 평가하고,
상기 테스트 모드가 상기 LED극성을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 LED극성 측정기의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 LED극성을 평가하고, 상기 테스트 모드가 상기 브레드보드의 회로구성여부를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 브레드보드의 신호를 입력받아 상기 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 브레드보드의 회로구성여부를 평가하여서, 상기 측정보드(400)에서 측정된 측정값을 연산하는 연산부(500)와, 상기 연산부(500)에서 연산된 결과를 외부로 도출하는 LCD 플레이부를 포함하역 구성된다.
그리고, 그리고, 상기 전원공급부(200)는, 직류 전원을 공급하는 직류 전원부와, 태양광 집열판을 통해서 빛에너지를 전기에너지로 변환시켜서 공급하는 태양광 전원부를 포함하여 구성된다.
그리고, 상기 전원공급부(200)는, 상기 직류 전원부와, 태양광 전원부를 선택적으로 사용하거나, 주전원 또는 보조전원의 형태로 사용할 수 있는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 측정보드(400)에, 측정대상물인 저항, 캐패시터, LED의 양단부 및 양극성을 삽입시켜서 작동시킴으로써 측정값을 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의한 멀티 디바이스 테스터(10)에 의할 때, 전류, 전압, 저항, 캐패시터의 용량, 다이오드 극성의 측정, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 및 브레드보드로의 저항, 커패시턴스 측정을 본 발명에 의한 멀티 디바이스 테스터(10)로 한꺼번에 가능하다.
LED 극성을 측정함에 있어서 기존에 프로브에 직접 접촉시켜서 하는 측정하는 방식이 아닌 홈에 브레드보드에 형성된 홈에 삽입하면 극성이 표시되어 LED에 불이 들어오는 방식이어서 측정이 용이하다.
또한, 트랜지스터의 극성판별측정에 있어서도, LED 극성측정과 마찬가지로 측정보드(400)에 형성된 홈에 삽입하면, 이미터, 베이스, 컬렉터 극성이 표시가되면, NPN과 PNP가 각각 구별되어서 측정된다.
한편, 브레드보드의 저항 및 커패시턴스의 측정에 있어서도, 기존 프로브 측정 방식이 아닌 브레드보드에 삽입하면 즉시 용량이 표시된다.
브레드보드에 DC 5V의 전압이 인가되게 하여서, 간단한 회로를 구성할 수 있으며, 케이블을 연장하여 다른 브레드보드로 확장이 가능하다.
도 2를 살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 전원공급부(200)에 관한 회로도를 나타낸 것이다.
전압공급원을 Sw1을 이용해서, 일반 DC 9V의 건전지와 같은 직류전원과, 태양광 전원중 어느 하나를 선택하여 구동할 수 있다. 전원의 종류를 선택한 후 7805(5V 정전압 레귤레이터) 사용하여 브레드보드의 전원은 5V 멀티미터의 사용 전압과 저항, 커패시터의 측정전압, 트랜지스터, LED 극성 테스터의 전압은 9V로 사용할 수 있다.
도 3을 살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 설정부(100)에서, 도면상의 Sw2의 로터리 스위치를 이용하여, 전압측정, 전류, 저항, 커패시터 값에 대한 측정을 선택하여 실시할 수 있다.
측정된 값은 상기 어댑터(300)로 전송되어 디지털 값으로 변환된다. 전압의 측정시에는 고정밀도 기준 전압으로 본 발명의 실시 예에서는 LH0070을 사용하여 기준전압을 제공하였다.
도 4를 살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 설정부(100)에서,
측정된 전압, 전류, 저항 및 커패시터의 측정값을 상기 어댑터(300)에서 디지털 값으로 변환시킨 후, 상기 연산부(500)에서 측정값을 연산하고 그 결과치를 상기 LCD 디스플레이부(600)에 표시한다.
상기 스위치의 입력으로 전압, 전류의 변환을 감지하게 된다. 상기 어댑터(300)에 사용된 TC7135는 이중적분형 컨버터로서 1/100μ의 분해능을 가지며, 노이즈에 강하다는 장점을 가지고 있다.
도 5를 살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 트랜지스터와 LED극성을 테스트 하는 것을 나타낸 도면이다.
도 5의 Sw3 푸시 스위치를 동작하면, 트랜지스터의 NPN형 혹은 PNP형 및 EBC의 핀을 테스트할 수 있고, Sw4 푸시 스위치 동작시키면 LED의 양부 테스트가 가능하다.
도 6을 살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 커패시터와 저항을 측정하는 것을 나타낸 도면이다.
기존의 저항의 양단부를 손으로 파지하여 측정하는 저항이나 커패시터를 Sw5를 사용자가 선택함으로서, 브레드보드에 단일 저항, 커패시터의 값 측정 및, 직병렬 회로를 통해 저항값 혹은 커패시터의 용량값의 측정이 가능하다.
외부전원(DC 9V의 직류전원 혹은 태양광 전원)을 전압 레귤레이터(Voltage regulator)를 거쳐서 5V로 만든 전원을 브레드보드의 주 전원으로 사용한다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 전면부를 나타낸 도면이다.
살펴보면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)의 한 실시 예의 실제 구성상태를 나타낸 도면이다.
그리고, 상기 멀티 디바이스 테스터(10)의 각 구성요소의 실제 구성회로는 도 8 내지 도 13에서 나타내고 있다.
요약하면, 본 발명의 실시 예에 따른 멀티 디바이스 테스터(10)와 같은 구성에 의할 때, 다양한 측정대상물인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기, LED극성측정기, 브레드보드를 본 발명의 실시 예에 의한 멀티 디바이스 테스터(10)로 동시에 측정이 가능하게 함으로써, 교육용 뿐만 아니라 연구소 및 기업체 등의 연구 및 테스트 하는 환경하에서 유용하게 활용가능할 것이다.
* 주요도면 부호에 관한 간단한 설명
10 멀티 디바이스 테스터 100 설정부
200 전원공급부 300 어댑터
400 측정보드 500 연산부
600 LCD 디스플레이부

Claims (4)

  1. 피측정기기인 저항측정기, 커패시터 측정기, 전류측정기, 전압측정기, LED판별부양기, 트랜지스터 극성판별측정, 브레드보드를 선택적으로 테스트하는 멀티 디바이스 테스터에 있어서:
    상기 피측정기기의 종류에 따라서 결정되는 테스트 모드를 설정하는 설정부와;
    상기 설정부에 의해서 설정된 테스트 모드에 공급하는 전원 공급부와;
    상기 피측정기기로 부터 측정된 값을 디지털 신호로 변환하는 어댑터와;
    상기 피측정기기를 측정을 위해서 위치시키는 측정보드와;
    상기 설정부에 의하여 설정된 테스트 모드를 입력받아 상기 전원 공급부에 의하여 공급되는 전원에 의하여,
    상기 테스트 모드가 저항을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 저항측정기의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 저항값을 평가하고,
    상기 테스트 모드가 커패시터를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 커패시터 측정기의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 커패시터 값을 평가하고,
    상기 테스트 모드가 전류를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전류 측정기의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 전류값을 평가하고,
    상기 테스트 모드가 전압을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 전압 측정기의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 전압값을 평가하고,
    상기 테스트 모드가 LED극성을 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 LED극성 측정기의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 LED극성을 평가하고,
    상기 테스트 모드가 상기 브레드보드의 회로구성여부를 테스트하는 모드인 경우 상기 전원 공급부의 전원에 반응하여 출력하는 상기 브레드보드의 신호를 입력받아 기준값과 비교한 후 차이값을 산출하고 산출된 차이값에 따라 상기 브레드보드의 회로구성여부를 평가하여서, 상기 측정보드에서 측정된 측정값을 연산하는 연산부와;
    상기 연산부에서 연산된 결과를 외부로 도출하는 LCD 플레이부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 멀티 디바이스 테스터.

  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 전원 공급부는,
    직류 전원을 공급하는 직류 전원부와,
    태양광 집열판을 통해서 빛에너지를 전기에너지로 변환시켜서 공급하는 태양광 전원부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 멀티 디바이스 테스터.

  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 전원 공급부는,
    상기 직류 전원부와, 태양광 전원부를 선택적으로 사용하거나, 주전원 또는보조전원의 형태로 사용할 수 있는 것을 특징으로 하는 멀티 디바이스 테스터.

  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정보드에, 측정대상물인 저항, 캐패시터, LED의 양단부 및 양극성을 삽입시켜서 작동시킴으로써 측정값을 측정하는 것을 특징으로 하는 멀티 디바이스 테스터.

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