KR101438697B1 - Mounting state examination method of Chip mounter - Google Patents

Mounting state examination method of Chip mounter Download PDF

Info

Publication number
KR101438697B1
KR101438697B1 KR1020080113370A KR20080113370A KR101438697B1 KR 101438697 B1 KR101438697 B1 KR 101438697B1 KR 1020080113370 A KR1020080113370 A KR 1020080113370A KR 20080113370 A KR20080113370 A KR 20080113370A KR 101438697 B1 KR101438697 B1 KR 101438697B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
component
substrate
mounting
type
mounting accuracy
Prior art date
Application number
KR1020080113370A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20100054437A (en
Inventor
윤형진
조운현
Original Assignee
삼성테크윈 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성테크윈 주식회사 filed Critical 삼성테크윈 주식회사
Priority to KR1020080113370A priority Critical patent/KR101438697B1/en
Publication of KR20100054437A publication Critical patent/KR20100054437A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101438697B1 publication Critical patent/KR101438697B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/0002Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004Industrial image inspection
    • G06T7/001Industrial image inspection using an image reference approach
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/046Surface mounting

Abstract

본 발명에 따른 부품실장기의 장착정확도 검사방법은, 상기 부품실장기의 제어부 조작을 통해 기판 검사모드를 실행하는 단계; 상기 부품실장기의 가동을 중지시킨 상태에서, 상기 인식카메라가 공급된 기판위치로 이동하여 영상을 획득하고, 상기 획득된 영상을 분석하여 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장된 부품의 장착정확도를 검사하는 단계; 상기 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장된 부품의 장착정확도에 문제가 없으면 상기 부품실장기의 가동을 진행하고, 상기 오차가 있으면 문제의 유형을 판단하는 단계; 및 상기 문제의 유형이 자체보정이 가능한 오차인 경우, 이에 대한 보정 값을 상기 제어부에 입력하여 다음 공급될 기판 또는 부품에 적용하는 단계;를 포함한다.According to the present invention, there is provided a mounting accuracy inspection method for a component sealant, comprising: executing a substrate inspection mode through operation of a control unit of the component sealant; Wherein the recognition camera moves to a substrate position to which the recognition camera is supplied in a state in which the operation of the component body is stopped and analyzes the acquired image to determine the placement state of the substrate or the mounting accuracy of the components mounted on the substrate Checking; The method comprising the steps of: (a) advancing operation of the component body if there is no problem in the placement of the substrate or the mounting accuracy of components mounted on the substrate; And if the type of the problem is an error that can be corrected by itself, inputting the correction value to the control unit and applying the corrected value to the next substrate or component to be supplied.

부품실장기, 부품, 실장, 인식, 카메라, 조명부, 장착, 검사 Parts, mounting, recognition, camera, lighting, mounting, inspection

Description

부품실장기의 장착정확도 검사방법{Mounting state examination method of Chip mounter}Technical Field [0001] The present invention relates to a mounting state examination method of a chip mounter,

본 발명은 기판 검사장치에 관한 것으로, 특히 부품실장기 자체에서 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 검사할 수 있어 효율적인 부품실장기의 장착정확도 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate inspecting apparatus, and more particularly, to a mounting accuracy checking method of an effective component inspecting apparatus, by which it is possible to inspect the placement state of a substrate or the mounting accuracy of components mounted on a substrate in a component body itself.

일반적으로 부품실장기(칩마운터)는 기판(PCB)에 반도체 패키지 등의 부품을 장착하는 작업을 수행하는 장치이다. 상기 부품실장기에서 부품을 실장 하기 이전에 부품이 기판의 정확한 위치로 실장 될 수 있도록 판단하는 과정이 선행되어야 한다.In general, a component chip (chip mounter) is a device for mounting a component such as a semiconductor package on a substrate (PCB). The process of determining that the part can be mounted at the correct position of the substrate before mounting the part in the component body should be preceded.

이와 같이, 부품이 기판의 정확한 위치에 실장 되기 위해서는, 부품 공급 부로부터 공급된 부품을 기판상에 실장하기 이전에 흡착노즐에 픽업된 부품의 흡착상태 및 중심위치 등이 정확히 확인되어야 한다. 이를 위해 부품인식 과정을 진행한다.Thus, in order for the component to be mounted on the precise position of the substrate, the pickup state and the center position of the picked-up component must be accurately confirmed before mounting the component supplied from the component supply unit onto the substrate. To do this, proceed with the component recognition process.

이러한, 부품 인식 과정에서는 부품을 촬영하기 위한 인식카메라와, 부품에 빛을 조사하기 위한 광원과, 상기 광원에서 조사되는 밝기 값을 제어하기 위한 제 어부 등을 통해 이루어진다. 따라서, 상기 인식카메라에 의해 촬영된 부품의 영상을 분석함으로써, 부품이 기판상에 정확하게 실장 될 수 있도록 한다.In the component recognizing process, a recognition camera for photographing a component, a light source for irradiating light to the component, and a control unit for controlling the brightness value irradiated by the light source are provided. Therefore, the image of the part photographed by the recognition camera is analyzed, so that the part can be accurately mounted on the substrate.

한편, 상기 실장과정과 별개로 기판 검사장비를 이용하여 인쇄회로기판을 검사하는 공정이 개별적으로 진행된다.Meanwhile, the process of inspecting the printed circuit board using the substrate inspection equipment separately from the mounting process is performed separately.

종래의 기판 검사장비 SMT(Surface Mount Technology)는, 장비 등에 의해 인쇄회로기판상에 표면 실장 된 각종 부품들의 장착위치 불량 여부 및 납땜 불량 여부 등을 검사하는 장비로써, 표면 실장 된 인쇄회로기판의 생산수율을 파악하는 기능과, 제품의 불량원인을 미리 제거하는 기능과, 검사도중 부품의 불량이 확인될 경우 이 부품을 신속히 수리할 수 있도록 하는 기능이 있다.Conventional substrate inspection equipment SMT (Surface Mount Technology) is a device that inspects whether various parts surface-mounted on a printed circuit board by equipment or the like are defective in mounting position and whether solder is defective or not. There is a function to grasp the yield, a function to remove the cause of the defect in advance, and a function to promptly repair the part if a defect of the part is confirmed during the inspection.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 기판 검사장비(1)는 검사대상 기판과 동일한 가상의 투명기판(2) 또는 해당 기판을 인식카메라(3)로 촬영한다. 이후 획득된 영상을 통해 가상의 투명기판(2) 또는 해당 기판의 외형패턴 또는 기준이 되는 피두셜 마크 등을 분석한다.As shown in FIG. 1, the conventional substrate inspecting apparatus 1 photographs a virtual transparent substrate 2, which is the same as the substrate to be inspected, or the substrate with the recognizing camera 3. Then, the virtual transparent substrate 2 or the external pattern of the substrate or a reference mark serving as a reference is analyzed through the obtained image.

다음으로, 분석을 통해 얻어진 결과를 통하여, 투명기판의 위치, 배치상태 및 부품의 장착정확도 등에 대한 오차를 알아낼 수 있다. 즉 컴퓨터의 모니터를 통해 영상을 확인함과 동시에 오차에 대한 보정 값 등을 알아낼 수 있다.Next, through the results obtained through the analysis, it is possible to find an error with respect to the position and arrangement state of the transparent substrate and the mounting accuracy of the component. In other words, the image can be checked through a computer monitor and the correction value for the error can be found.

그러나 상기 종래의 장착정확도 검사장치(1)는, 부품실장기와 개별적인 장비로 사용되는 것으로, 기판의 장착단계에서 발생할 수 있는 오차 및 보정 값만을 표시하여 검사결과를 알려주는 정도에 그친다. 때문에 적극적인 조치가 불가능하다는 문제점이 있다.However, the above-described conventional mounting accuracy inspection apparatus 1 is used as a component mounting apparatus and an individual apparatus, and only displays errors and correction values that may occur in the mounting stage of the substrate to inform the inspection results. Therefore, there is a problem that active measures are impossible.

즉, 실장 위치로 공급된 기판의 배치상태 또는, 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도에 문제가 발생하였을 경우, 부품실장기의 라인을 정지시킨 상태에서 기판을 검사한 후 라인을 다시 재가동해야하는 번거로움이 있다.That is, when a problem arises in the placement state of the substrate supplied to the mounting position or in the mounting accuracy of the components mounted on the substrate, it is necessary to inspect the substrate in a state in which the line of the component body long- There is.

특히, 여러 대의 부품실장기가 하나의 실장 라인을 이루는 경우에는, 모든 부품실장기를 정지시킨 상태에서 각 부품실장기마다 개별적으로 검사해야만 하며, 문제에 대한 보정치도 각 부품실장기마다 개별적으로 적용해야 하는 어려움이 있다.Particularly, when several component mounting machines constitute one mounting line, all component mounting machines must be checked separately for each component body in a state of being stopped, and the correction value for the problem must also be applied to each component body individually There is a difficulty.

이에 따라, 보정치 적용 후에 모든 장비를 재가동해야 하는 일련의 과정들이 매우 번거로워 검사의 효율성이 떨어진다. 이는 기판 검사공정에 많은 시간을 소비하게 되어 부품 실장 공정에서의 생산성이 저하되는 요인이 된다.Therefore, the process of restarting all the equipment after applying the correction value becomes very cumbersome, which reduces the efficiency of the inspection. This consumes a lot of time in the substrate inspecting process, which is a factor of deteriorating the productivity in the component mounting process.

따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 부품실장기의 라인 가동중에 부품실장기 자체에서 실장위치로 공급된 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도 검사를 할 수 있고, 자체보정 가능한 문제의 유형에 대해서는 제어부 입력방식으로 오차 값을 바로 보정 할 수 있도록 함으로써 즉각적인 조치가 가능한 부품실장기의 부품의 장착정확도 검사방법을 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, the present invention has been made keeping in mind the above problems occurring in the prior art, and it is an object of the present invention to provide a method of inspecting mounting accuracy of a component mounted on a substrate, And to provide a method of inspecting the mounting accuracy of a component in a component body capable of immediately correcting the error value by directly correcting the error value by a control unit input method with respect to a type of self-calibrating problem.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 부품실장기의 제어부 조작을 통해 기판 검사모드를 실행하는 단계(S100); 상기 부품실장기의 가동을 중지시킨 상태에서, 상기 부품실장기의 픽업 헤드 내에 인식카메라가 공급된 기판위치로 이동하여 영상을 획득하고, 상기 획득된 영상을 분석하여 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 검사하는 단계(S200); 상기 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 상기 장착정확도에 문제가 없으면 상기 부품실장기의 가동을 진행하고, 상기 장착정확도에 오차가 있으면 문제의 유형을 판단하는 단계(S300); 및 상기 문제의 유형이 자체보정이 가능한 오차인 경우, 이에 대한 보정 값을 제어부에 입력하여 다음 공급될 기판 또는 부품에 적용하는 단계(S400);를 포함하되, 상기 단계들(100, 200, 300, 400)은 상기 부품실장기의 라인 가동 중에 수행되고, 상기 단계(200)는 상기 기판의 위치 변화에 대응해서 상기 부품의 장착 불량 여부를 확인하는 것을 특징으로 한다.In order to accomplish the above object, the present invention provides a method of manufacturing a semiconductor device, comprising: (S100) executing a substrate inspection mode through operation of a controller of a component body; The image pickup device moves to a position of a substrate to which a recognition camera is supplied in a pick-up head of the component body in a state in which the operation of the component body is stopped, and acquires an image, analyzes the obtained image, (S200) of mounting accuracy of a component mounted on the PCB; (S300), if there is no problem in the placement state of the board or the mounting accuracy of the components mounted on the board, proceeding with operation of the component body and judging the type of the problem if there is an error in the mounting accuracy; And a step (S400) of inputting a correction value for the type of the problem to the control unit (S400), when the type of the problem is an error that can be corrected by itself, , 400 are performed during line operation of the component body, and the step (200) is characterized by confirming whether or not the component is improperly mounted in accordance with a change in the position of the substrate.

여기서, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형이 X축 및 Y축의 변위 등과 같이 자체 보정이 가능한 오차인 경우 제어부 입력 방식으로 자체보정하는 것이 바람직하다.In the step S400 of applying the correction value, if the type of the problem is an error that can be corrected by itself, such as displacement of the X axis and the Y axis, it is preferable that the correction is performed by the controller input method.

그리고 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 자체보정의 정확도를 확인하기 위하여, 상기 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 재검사하는 단계(S410, S410')를 포함하는 것이 바람직하다.In step S400 of applying the correction value, steps S410 and S410 'of re-inspecting the placement state of the substrate or the placement accuracy of the components mounted on the substrate to check the accuracy of the self correction .

또한, 상기 장착정확도를 재검사하는 단계(S410, S410')는 2~3회 반복 실시하는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that the step of re-inspecting the mounting accuracy (S410, S410 ') is repeated 2 to 3 times.

한편, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형이 상기 부품실장기의 장치이상인 경우 상기 문제의 유형을 알려주는 단계(S420); 및 상기 문제의 유형에 따라 조치를 따로 실시하는 단계(S430);를 포함하는 것이 바람직하다.In the step S400 of applying the correction value, if the type of the problem is equal to or greater than the device of the component part, step S420 of informing the type of the problem; And performing the action separately according to the type of the problem (S430).

그리고 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형 및 조치사항에 대한 이력 정보를 저장하는 단계(S440)를 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the step S400 of applying the correction value may further include a step S440 of storing history information on the type of the problem and the action to be taken.

또한, 상기 장착정확도를 검사하는 단계(S200)에는, 상기 기판 또는 상기 기판상에 실장된 부품의 초점거리 및 렌즈 화각(FOV)을 확보하기 위해 상기 인식카메라의 촬영거리를 조절하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.In addition, the step of checking the mounting accuracy (S200) may further include adjusting a photographing distance of the recognition camera to secure a focal distance and a lens view angle (FOV) of the substrate or a component mounted on the substrate .

이상에서 설명한 바와 같이, 부품실장기의 라인 가동중에 기판 및 부품의 장착정확도를 검사할 수 있도록 함으로써, 부품의 부품실장 과정에서 정체되는 시간을 줄일 수 있어 생산성이 향상되는 장점이 있다.As described above, since the mounting accuracy of the board and the parts can be inspected during the line operation of the component body, the time for stagnation in the component mounting process of the parts can be shortened and the productivity can be improved.

또한, 자체보정이 가능한 정도의 문제 유형에 대해서는, 제어부 입력 방식을 통해 오차 값을 즉각적으로 보정 할 수 있어 빈번히 발생하는 문제들에 대한 조치 를 즉각적으로 실시할 수 있는 장점이 있다.In addition, the error value can be immediately corrected through the control unit input method for the problem type that can be self-calibrated, so that the user can immediately take measures against frequently occurring problems.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 부품실장기의 장착정확도를 검사방법의 부품실장기의 픽업 헤드를 도시한 정면도이고, 도 3은 도 2에 따른 측면도이며, 도 4는 본 발명에 따른 부품실장기위 장착정확도를 검사방법의 검사단계를 도시한 도면이다.Fig. 2 is a front view showing a pick-up head of a component body of a method of inspecting mounting accuracy of a component body according to the present invention, Fig. 3 is a side view according to Fig. 2, Fig. 7 is a diagram showing inspection steps of a method for checking the mounting accuracy.

도시된 바와 같이, 본 발명은 기판 검사모드를 실행하는 단계(S100), 장착정확도를 검사하는 단계(S200), 문제의 유형을 판단하는 단계(S300) 및 보정 값을 적용하는 단계(S400)를 포함한다.As shown in the drawing, the present invention includes a step S100 of executing a substrate inspection mode, a step S200 of checking a mounting accuracy, a step S300 of determining a type of a problem, and a step S400 of applying a correction value .

상기 부품실장기(미도시)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 실장 라인을 따라 이동하는 픽업 헤드(100)와, 상기 픽업 헤드(100)에 수직으로 설치되어 승·하강할 수 있는 다수의 스핀들(110)과, 상기 스핀들(110)의 하단에 선택적으로 연결되어 부품을 픽업하기 위한 흡착노즐(111) 등이 구성된다.As shown in FIGS. 1 and 2, the component chassis (not shown) includes a pickup head 100 moving along a mounting line, a pickup head 100 installed vertically to the pickup head 100, A plurality of spindles 110 and a suction nozzle 111 selectively connected to the lower end of the spindle 110 to pick up the components.

또한, 상기 픽업 헤드(100)에는 하부로 공급되는 기판을 촬영하기 위한 인식카메라(120)와, 빛을 조사하기 위한 다수의 광원(LED 또는 할로겐 램프 등) 등이 구비될 수 있다.In addition, the pickup head 100 may include a recognition camera 120 for photographing a substrate supplied to the lower part, and a plurality of light sources (LED, halogen lamp, etc.) for irradiating light.

즉, 상기 인식카메라(120)를 통해 촬영된 기판의 영상을 분석함으로써, 공급된 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도 등을 정확하게 분석 할 수 있다. 예를 들어, 기판 및 부품의 X축 및 Y축 변위 등과 같은 오차 등과 같은 장착상태에 대한 문제들을 알아낼 수 있다.That is, by analyzing the image of the substrate photographed through the recognition camera 120, it is possible to accurately analyze the arrangement state of the supplied substrate or the mounting accuracy of the components mounted on the substrate. For example, problems with mounting conditions, such as errors in the X and Y axis displacements of the substrate and part, can be found.

여기서, 기판 및 부품을 검사하기 위해서는, 상기 기판 및 부품 촬영 면이 일정 표식으로 형성되는 기준 피두셜 마크(Fiducial mark) 등을 통해 판단하거나, 부품의 크기 모양 또는 리드의 개수 및 모양 등 전체적인 외형패턴(전체적인 형상)을 통해 판단할 수도 있다.Here, in order to inspect the board and the parts, it is possible to determine the board and the part by using a reference fiducial mark or the like formed by the board and the photographing surface of the part are formed with a predetermined mark, (Overall shape).

이하, 본 발명의 각 단계들을 도 4를 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, each step of the present invention will be described in detail with reference to FIG.

먼저, 기판 검사모드를 실행하는 단계(S100)에서는, 부품실장기의 제어부 조작을 통해 기판 검사모드를 실행하는 과정을 진행한다.First, in the step S100 of executing the substrate inspection mode, the process of executing the substrate inspection mode is performed through the operation of the control unit of the component body.

상기 기판 검사모드를 실행하는 단계(S100)에서는, 실장 스테이지에 배치된 기판 또는 기판상에 실장 된 부품을 인식카메라(120)로 촬영하여 기판의 배치상태 또는 부품의 장착정확도 등을 분석한다.In the step S100 of executing the substrate inspection mode, the substrate placed on the mounting stage or the components mounted on the substrate is photographed by the recognition camera 120 to analyze the placement state of the substrate or the mounting accuracy of the components.

즉, 픽업 헤드(100)에 장착된 부품의 흡착상태 등을 하부의 인식카메라로 촬영하여 공급적합성을 판단하는 일반모드에서, 부품을 실장하기 위해 공급 배치되는 기판 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 확인할 수 있는 기판검사모드로 변경하는 과정이다.In other words, in a general mode in which the pickup state of a component mounted on the pick-up head 100 is photographed by a lower recognition camera to determine the suitability of supply, mounting of a component mounted on a substrate or a substrate for mounting the component It is a process of changing to the board inspection mode which can check the accuracy.

다음으로, 검사하는 단계(S200)는, 상기 부품실장기의 가동을 중지시킨 상태에서, 상기 인식카메라가 공급된 기판위치로 이동하여 영상을 획득하고, 상기 획득된 영상을 분석하는 과정을 진행한다. Next, in the inspection step S200, the operation moves to the substrate position where the recognition camera is supplied in the state where the operation of the component body is stopped, the image is acquired, and the acquired image is analyzed .

상기 검사하는 단계(S200)는, 인식카메라(120)를 이동시켜 해당 기판 또는 기판상에 실장 된 해당 부품의 영상을 획득한다. 이때 제어부는 부품의 영상을 분석 하여 기판의 틀어짐, 위치변경 등과 부품의 장착위치 불량 여부(X축 및 Y축 변위 오차 값), 납땜 불량 여부 등이 있는지 여부를 판단한다.In the inspecting step S200, the recognition camera 120 is moved to acquire an image of a corresponding component mounted on the substrate or the substrate. At this time, the control unit analyzes the image of the component to determine whether the substrate is misaligned, the position is changed, whether the mounting position of the component is defective (X axis and Y axis displacement error value), whether soldering is bad or not.

여기서, 상기 검사하는 단계(S200)에는, 기판 또는 기판상에 실장 된 부품의 초점거리 및 렌즈 화각(FOV)을 확보하기 위해 상기 인식카메라의 촬영거리를 조절하는 단계(미도시)를 더 포함하는 것이 바람직하다.The inspection step S200 may further include a step of adjusting a photographing distance of the recognition camera to secure a focal length and a lens view angle (FOV) of the component mounted on the substrate or the substrate .

즉, 상기 인식카메라(120)가 상하로 승강하는 구조를 가지도록 함으로써, 부품 장작정확성 검사시 하방에 배치된 기판상의 부품들 중 크기가 작거나 두께가 얇은 부품들에 대해서는, 인식카메라(120)가 하강하여 근접 촬영할 수 있도록 할 수 있다. 반면, 크기가 크거나 두꺼운 부품들에 대해서는 인식카메라(120)가 승강하여 일정거리를 가지는 상태에서 부품을 촬영할 수 있게 된다.That is, when the recognition camera 120 has a structure in which the recognition camera 120 is vertically moved up and down, when the recognition accuracy of the parts is low, So that it can be taken close-up. On the other hand, the recognition camera 120 can ascend and descend for a component having a large size or a large size so that the component can be photographed with a certain distance.

따라서, 부품의 형상, 크기 및 두께 등 다양한 조건들에 따라 달라져야 하는 렌즈의 초점거리 및 렌즈 화각 등을 조절하면서 촬영할 수 있다.Therefore, it is possible to take a photograph while adjusting the focal length of the lens and the angle of view of the lens which should be varied according to various conditions such as the shape, size and thickness of the parts.

전술된 바와 같이, 상기 검사하는 단계(S200)에서의 검사방법은, 상기 기판 및 부품 촬영 면이 일정 표식으로 형성되는 기준 피두셜 마크(Fiducial mark) 등을 통해 판단하거나, 부품의 크기 모양 또는 리드의 개수 및 모양 등 전체적인 외형패턴(전체적인 형상)을 통해 판단할 수도 있다.As described above, the inspection method in the inspecting step (S200) may be performed by judging through the reference fiducial mark or the like formed by the substrate and the part photographing surface of the predetermined mark, (Overall shape), such as the number and the shape of the parts.

다음으로, 문제의 유형을 판단하는 단계(S300)는, 상기 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도에 문제가 없으면 상기 부품실장기의 가동 을 진행하고, 상기 오차가 있으면, 문제의 유형을 판단하는 과정을 진행한다.Next, in the step S300 of determining the type of the problem, if there is no problem in the placement state of the substrate or the mounting accuracy of the components mounted on the substrate, the operation of the component yarn is continued, and if there is the error, The process of determining the type of the user is performed.

상기 문제의 유형을 판단하는 단계(S300)는, 장착정확도의 문제 유형이 자체적으로 보정 할 수 없는 장치들의 이상인 경우, 부품 공급라인의 가동을 중지시킨 상태에서 제작사 또는 엔지니어의 점검을 통해 적절한 조치를 취하는 것이 바람직하다. The step of determining the type of the problem (S300), if the problem type of the mounting accuracy is more than the devices that can not be calibrated by itself, is to stop the operation of the parts supply line and check the manufacturer or engineer .

즉, 부품실장기의 스핀들(110)이 노후화되어 휘어지거나, 스프링의 장력저하 및 파손 등과 같은 장치 자체의 문제들은, 보정 값을 적용하는 방식으로 조치할 수 없으므로 상기와 같이 개별적으로 조치하는 것이 바람직하다.That is, problems of the apparatus itself such as deflection of the spindle 110 of the component body due to obsolescence, tension of the spring, breakage of the spring, etc. can not be corrected in a manner of applying a correction value. Do.

반면, 상기 문제의 유형이 기판의 배치상태 불량 또는 부품의 장착위치 불량(X축 및 Y축의 변위와 같은 오차) 등과 같이 자체적으로 보정이 가능한 문제의 유형인 경우 문제 해결을 위한 다음 단계로 진행한다.On the other hand, if the type of the problem is a type of problem that can be corrected by itself, such as a defective placement of the substrate or a defective mounting position of the component (error such as displacement of the X axis and Y axis) .

다음으로, 보정 값을 적용하는 단계(S400)는, 상기 문제의 유형이 자체보정이 가능한 오차인 경우, 이에 대한 보정 값을 상기 제어부에 입력함으로써, 다음 공급될 기판 및 부품들에 대해서는 보정 값이 적용된 상태로 공급될 수 있도록 한다.Next, in step S400 of applying the correction value, if the type of the problem is an error that can be corrected by itself, a correction value for the type of the problem is input to the control unit, So that it can be supplied in an applied state.

즉, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형이 자체보정이 가능한 오차인 경우, 이에 대한 보정 값을 상기 제어부에 입력함으로써, 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 즉각적으로 보정할 수 있다.That is, in the step of applying the correction value (S400), if the type of the problem is an error that can be corrected by itself, by inputting the correction value to the control unit, the arrangement state of the substrate, The mounting accuracy can be corrected immediately.

또한, 기판의 배치상태 불량 또는 부품의 장착위치 불량(X축 및 Y축의 변위 와 같은 오차) 등과 같이 자체적으로 보정이 가능한 문제의 유형을 제어부 입력 방식으로 보정 값을 적용하여 조치할 수 있다.In addition, it is possible to apply the correction value to the type of the problem that can be corrected by itself, such as the defective arrangement of the substrate or the defective mounting position of the component (error such as the displacement of the X axis and the Y axis).

한편, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 자체보정의 정확도를 확인하기 위하여, 상기 기판의 배치상태 또는 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 재검사하는 단계(S410, S410')를 포함할 수 있다.In the step S400 of applying the correction value, a step S410 or S410 'of re-examining the mounting state of the substrate or the mounting accuracy of the components mounted on the substrate is performed to confirm the accuracy of the self correction can do.

상기 재검사하는 단계(S410, S410')의 반복 횟수는 2~3회 인 것이 바람직하나, 실장공정의 유형에 따라 사용자가 임의로 선택하여 설정할 수 있다.It is preferable that the number of repetitions of the re-inspecting steps (S410, S410 ') is 2 to 3 times, but the user can arbitrarily select and set it according to the type of the mounting process.

이와 같이, 재검사하는 단계(S410, S410')를 실시하는 이유는, 부품의 장착 오차에 대한 보정을 하였더라도, 주위 환경적인 영향에 의해 보정 조치 이후에도 약간의 오차가 발생할 수 있기 때문이다. The reason for carrying out the reinspection steps (S410 and S410 ') is as described above, even if the mounting error of the component is corrected, a slight error may occur even after the corrective action due to environmental influences.

한편, 기판 또는 부품에 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 문제의 유형이 부품실장기의 장치이상인 경우 문제의 유형을 알려주는 단계(S420)와, 상기 문제의 유형별 조치를 따로 실시하는 단계(S430);를 포함할 수 있다.In the step S400 of applying the correction value to the substrate or the component, a step S420 of notifying the type of the problem in the case where the type of the problem is equal to or greater than the device in the component realization stage, (S430).

즉, 재검사하는 단계(S410, S410')를 통해서도 오차가 보정되지 않으면, 사용자는 자체보정이 불가능한 문제유형으로 판단하여 전술된 바와 같이 부품실장기의 제작사 또는 엔지니어의 점검을 통해 해결할 수 있다.That is, if the error is not corrected also through the re-inspecting steps (S410 and S410 '), the user can determine that the problem type is a problem that can not be corrected by himself or herself, and can be resolved by checking the manufacturer or the engineer of the component real part as described above.

뿐만 아니라, 자체보정이 가능한 문제의 유형과, 자체보정이 불가능한 문제의 유형 및 조치사항 등에 대한 이력 정보를 저장하는 단계(S440)를 더 포함하는 것이 바람직하다. In addition, it is preferable to further include a step S440 of storing history information on the type of the self-calibrating problem, the type of the self calibrating non-calibrating problem, and the action items.

즉, 상기 이력 정보를 저장하는 단계(S440)를 통해 얻어진 정보를 이용함으 로써, 이후에 발생하는 문제의 유형에 대해서는 더욱 신속하게 조치할 수 있다.That is, by using the information obtained through the step of storing the history information (S440), it is possible to more quickly deal with the types of problems that occur later.

결과적으로, 본 발명은 부품실장기의 라인 가동중에 기판 및 부품의 장착정확도를 검사할 수 있어, 부품의 부품실장 과정에서 정체되는 시간을 줄일 수 있어 생산성이 향상되는 장점이 있다. 또한, 자체보정이 가능한 정도의 문제 유형에 대해서는, 제어부 입력 방식을 통해 오차 값을 즉각적으로 보정 할 수 있어 빈번히 발생하는 문제들에 대한 조치를 즉각적으로 실시할 수 있는 장점이 있다.As a result, the present invention is capable of checking the mounting accuracy of the board and the parts during line operation of the component body, and it is possible to reduce the stagnation time in the component mounting process of the parts, thereby improving the productivity. In addition, the error value can be immediately corrected through the control unit input method for the problem type that can be self-calibrated, so that the user can immediately take measures against frequently occurring problems.

이상에서 본 발명에 따른 부품실장기의 장착정확도 검사방법에 대한 기술사상을 첨부도면과 함께 서술하였지만, 이는 본 발명의 가장 양호한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다.While the present invention has been described with reference to the accompanying drawings, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary,

따라서, 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자이면 누구나 본 발명의 기술사상의 범위를 이탈하지 않는 범위 내에서 치수 및 모양 그리고 구조 등의 다양한 변형 및 모방할 수 있음은 명백한 사실이며 이러한 변형 및 모방은 본 발명의 기술 사상의 범위에 포함된다.Accordingly, it is a matter of course that various changes and modifications can be made in the form of dimensions, shapes and structures without departing from the technical scope of the present invention by those skilled in the art, Are included in the technical scope of the present invention.

도 1은 종래의 부품실장기의 장착정확도를 검사하기 위한 장치를 도시한 사시도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view showing an apparatus for checking mounting accuracy of a conventional component body. FIG.

도 2는 본 발명에 따른 부품실장기의 장착정확도를 검사방법의 부품실장기의 픽업 헤드를 도시한 정면도.2 is a front view showing a pick-up head of a component body of a method of inspecting mounting accuracy of a component body according to the present invention.

도 3은 도 2에 따른 측면도.Figure 3 is a side view according to Figure 2;

도 4는 본 발명에 따른 부품실장기위 장착정확도를 검사방법의 검사단계를 도시한 도면.4 is a diagram showing steps of inspecting a method of inspecting the accuracy of mounting on a component body according to the present invention.

< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >Description of the Related Art

100: 픽업 헤드 110: 스핀들100: pickup head 110: spindle

120: 인식카메라120: Recognition camera

Claims (7)

부품실장기의 제어부 조작을 통해 기판 검사모드를 실행하는 단계(S100);A step (S100) of executing a substrate inspection mode through operation of a control unit of a component real time; 상기 부품실장기의 가동을 중지시킨 상태에서, 상기 부품실장기의 픽업 헤드 내에 인식카메라가 공급된 기판위치로 이동하여 영상을 획득하고, 상기 획득된 영상을 분석하여 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 검사하는 단계(S200);The image pickup device moves to a position of a substrate to which a recognition camera is supplied in a pick-up head of the component body in a state in which the operation of the component body is stopped, and acquires an image, analyzes the obtained image, (S200) of mounting accuracy of a component mounted on the PCB; 상기 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 상기 장착정확도에 문제가 없으면 상기 부품실장기의 가동을 진행하고, 상기 장착정확도에 오차가 있으면 문제의 유형을 판단하는 단계(S300); 및 (S300), if there is no problem in the placement state of the board or the mounting accuracy of the components mounted on the board, proceeding with operation of the component body and judging the type of the problem if there is an error in the mounting accuracy; And 상기 문제의 유형이 자체보정이 가능한 오차인 경우, 이에 대한 보정 값을 제어부에 입력하여 다음 공급될 기판 또는 부품에 적용하는 단계(S400);를 포함하되,If the type of the problem is an error that can be corrected by itself, inputting the correction value to the control unit (S400), and applying the correction value to the substrate or component to be supplied next time (S400) 상기 단계들(S100, S200, S300, S400)은 상기 부품실장기의 라인 가동 중에 수행되고, 상기 단계(S200)는 상기 기판의 위치 변화에 대응해서 상기 부품의 장착 불량 여부를 확인하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.The steps (S100, S200, S300, S400) are performed during line operation of the component body, and the step (S200) checks whether the mounting of the component is poor or not in accordance with the change of the position of the board Method of inspecting the mounting accuracy of components. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형이 X축 및 Y축의 변위 등과 같이 자체 보정이 가능한 오차인 경우 제어부 입력 방식으로 자체보정하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.In the step of applying the correction value (S400), if the type of the problem is an error that can be corrected by self-correction such as displacement of the X-axis and Y-axis, Way. 제2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 자체보정의 정확도를 확인하기 위하여, 상기 기판의 배치상태 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 장착정확도를 재검사하는 단계(S410, S410')를 포함하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.In step S400 of applying the correction value, step S410 and step S410 'of re-inspecting the placement state of the substrate or the placement accuracy of the components mounted on the substrate in order to check the accuracy of the self correction And the mounting accuracy of the component body is checked. 제3항에 있어서,The method of claim 3, 상기 장착정확도를 재검사하는 단계(S410, S410')는 2~3회 반복 실시하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.And the step of re-inspecting the mounting accuracy (S410, S410 ') is repeated two to three times. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형이 상기 부품실장기의 장치이상인 경우 상기 문제의 유형을 알려주는 단계(S420); 및In the step S400 of applying the correction value, if the type of the problem is equal to or greater than the device of the component realization stage, the type of the problem is notified S420; And 상기 문제의 유형에 따라 조치를 따로 실시하는 단계(S430);를 포함하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.(S430) of performing an action according to the type of the problem (S430). 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 보정 값을 적용하는 단계(S400)에서는, 상기 문제의 유형 및 조치사항에 대한 이력 정보를 저장하는 단계(S440)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.The method of claim 4, wherein the step (S400) of applying the correction value further comprises a step S440 of storing history information on the type of the problem and the action to be taken. 청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.Claim 7 has been abandoned due to the setting registration fee. 제1항에 있어서,The method according to claim 1, 상기 장착정확도를 검사하는 단계(S200)에는, 상기 기판 또는 상기 기판상에 실장 된 부품의 초점거리 및 렌즈 화각(FOV)을 확보하기 위해 상기 인식카메라의 촬영거리를 조절하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 부품실장기의 장착정확도 검사방법.The step of checking the mounting accuracy (S200) further includes adjusting a photographing distance of the recognition camera to secure a focal distance and a lens viewing angle (FOV) of the board or a component mounted on the board A method of inspecting the mounting accuracy of a component seal.
KR1020080113370A 2008-11-14 2008-11-14 Mounting state examination method of Chip mounter KR101438697B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080113370A KR101438697B1 (en) 2008-11-14 2008-11-14 Mounting state examination method of Chip mounter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080113370A KR101438697B1 (en) 2008-11-14 2008-11-14 Mounting state examination method of Chip mounter

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100054437A KR20100054437A (en) 2010-05-25
KR101438697B1 true KR101438697B1 (en) 2014-11-04

Family

ID=42279164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080113370A KR101438697B1 (en) 2008-11-14 2008-11-14 Mounting state examination method of Chip mounter

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101438697B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102510457B1 (en) 2016-02-17 2023-03-14 한화정밀기계 주식회사 Apparatus and method for surface mounting
KR102309174B1 (en) * 2020-04-01 2021-10-06 (주) 인텍플러스 System and method for checking mounting state of picker mounts

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002134899A (en) 2000-10-25 2002-05-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting system and method therefor
JP2007019139A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Feedback correction method and unit, part mounting method and device, and part mounting system
JP2008218672A (en) 2007-03-02 2008-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Component mounting system
JP2008270696A (en) * 2006-07-14 2008-11-06 Juki Corp Component mounting position correcting method and component mounting apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002134899A (en) 2000-10-25 2002-05-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting system and method therefor
JP2007019139A (en) * 2005-07-06 2007-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd Feedback correction method and unit, part mounting method and device, and part mounting system
JP2008270696A (en) * 2006-07-14 2008-11-06 Juki Corp Component mounting position correcting method and component mounting apparatus
JP2008218672A (en) 2007-03-02 2008-09-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd Component mounting system

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100054437A (en) 2010-05-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4426585B2 (en) Pick and place machine with image acquisition device
KR101369700B1 (en) Thin-film pattern forming apparatus, thin-film pattern forming method, and adjusting method of the apparatus
TWI490478B (en) Substrate inspection device
JP6144841B2 (en) Substrate inspection method and substrate inspection system using the same
JP4536280B2 (en) Component mounter, mounting inspection method
JP6224348B2 (en) Judgment device, surface mounter
JP4622912B2 (en) Method and apparatus for recognizing center position of recognition object
WO2014184855A1 (en) Component mounting machine
JP2008078399A (en) Component recognition method, component recognition apparatus, surface mounting apparatus, and component inspection apparatus
KR101438697B1 (en) Mounting state examination method of Chip mounter
JP5144599B2 (en) Mounting method of electronic parts
US20120218402A1 (en) Component placement process and apparatus
KR101120129B1 (en) Method of adjusting work position automatically by reference value and automatic apparatus for the same
GB2351347A (en) Inspecting printing state of pattern eg on a printed circuit board
KR100998999B1 (en) Method and device for aligning a substrate and a printing screen during solder paste printing
JP2003060398A (en) Method and apparatus for mounting component
JP6476294B2 (en) Insertion component positioning inspection method, insert component mounting method, insert component positioning inspection apparatus, and insert component mounting apparatus
KR102510457B1 (en) Apparatus and method for surface mounting
JP4622913B2 (en) How to recognize the position of the recognition target
KR100567798B1 (en) Apparatus for Setting Vision Inspector in Surface Mounting Device And Method for Setting the Same
KR101510398B1 (en) Installation badness cause analytical method
JP6616981B2 (en) Ball inspection repair device
TWI784051B (en) Semiconductor device attaching method
JP4260606B2 (en) Article recognition method, parts transfer method, article recognition apparatus, surface mounter equipped with the article recognition apparatus, parts testing apparatus, dispenser, mounting board inspection apparatus, and printed board inspection apparatus
KR101132781B1 (en) Board inspecting method and board manufacturing method having the board inspecting method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180829

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190827

Year of fee payment: 6