KR101436006B1 - 탭홀 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 탭홀 검사 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 탭홀을 스캔하는 검사부(100), 상기 검사부(100)로부터 전달받은 스캔 결과값을 이용하여, 상기 탭홀의 결함 여부를 판단하는 제어부(200) 및 상기 제어부(200)로부터 전달받은 상기 탭홀의 결함 판단값을 출력하는 출력부(300)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 탭홀 검사 시스템에 관한 것이다.

Description

탭홀 검사 시스템 {Tap hole inspection system}
본 발명은 탭홀 검사 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 탭홀에 코어가 지나며서, 실시간으로 탭홀에 대한 결함 여부를 스캔하여 정확하게 검사할 수 있는 탬홀 검사 시스템 및 그 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로 탭 가공이라 함은 대상물의 바닥면이나, 벽면 등에 수나사를 체결하기 위한 암나사홀, 즉, 탭홀을 형성하는 작업을 의미한다.
이러한 탭홀은 보통 탭이라고 하는 비교적 지름이 작은 구멍 내주면에 암나사를 깎는 공구를 통해 형성되며, 이렇게 가공된 탭홀은 홀의 내부를 육안으로 확인할 수 없기 때문에 탭 가공에 대한 불량 여부를 확인하기 위해서는 별도의 검사 장치를 이용하여 탭 가공의 불량 여부를 확인하고 있다.
종래의 탭 가공 불량 여부 검사 장치는 기어박스를 통해 회전 모터의 회전력을 전달받고, 그 하단부에 표준 나사부가 마련된 검사부를 탭 가공된 탭홀 내부로 삽입 회전시켜서 탭 내부의 불량 확인할 수 있도록 하였다.
그러나, 이러한 과정에서 검사부를 탭홀의 정중앙으로 진입 및 이탈을 해야하지만, 검사부나 탭홀이 한쪽으로 치우쳐지는 경우가 종종 발생하며, 이러한 경우에는 나사산에 의해서 검사부 표면이 손상되는 단점이 있다.
한국 등록 특허 제10-0947885호("나사산 검사 장치 및 그 검사 방법", 이하 선행문헌 1)에서는 회전 구동부에 구비된 모터의 정역회전에 의하여 나사산이 형성된 검사 대상 너트와 상기 나사산과 동일한 규격의 나사 게이지를 상호 결합 및 분리함으로써 상기 검사 대상 너트에 형성된 나사산의 권수를 측정할 수 있는 구조를 개시하고 있다. 그러나, 상기 선행문헌 1은 상술한 바와 같이, 정중앙으로 진입하지 못한 경우에, 발생할 수 있는 검사부 표면의 손상에 대한 대책은 전혀 나타나 있지 않은 실정이다.
한국등록특허 제0947885호 (등록일자 2010.03.09.)
본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 외부 충격에 강한 검사부를 이용하며, 상기 검사부가 상기 탭홀을 스캔하여, 상기 탭홀에서 나타날 수 있는 결함뿐만 아니라, 그 결합의 종류 또한 비교적 정확하게 판별할 수 있는 탭홀 검사 시스템을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템은, 탭홀을 스캔하는 검사부(100), 상기 검사부(100)로부터 전달받은 스캔 결과값을 이용하여, 상기 탭홀의 결함 여부를 판단하는 제어부(200) 및 상기 제어부(200)로부터 전달받은 상기 탭홀의 결함 판단값을 출력하는 출력부(300)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 검사부(100)는 상기 탭홀을 스캔하는 코어로 이루어지며, 상기 코어는 상기 코어의 앞단에 형성되며, 상기 탭홀의 표면에 와전류를 형성하고 상기 와전류의 변화량을 검출하는 코일을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 검사부(100)는 상기 검사부(100)에서 스캔하는 상기 탭홀에 따라서, 상기 코어의 직경 및 길이가 달라지는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 제어부(200)에서 판단하는 상기 탭홀의 결합은 챔버 가공, 탭 깊이 불량, 이중 탭, 중심축 오차, 기초경 크기 오차 및 탭홀 미가공 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 출력부(300)는 상기 검사부(100)의 코일을 통해서 측정된 데이터를 이용하며, 상기 데이터를 2차원 그래프로 나타내는 제 1 출력부(310) 및 상기 데이터를 시간축 그래프로 나타내는 제 2 출력부(320)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 구성에 의한 본 발명의 탭홀 검사 시스템은 외부 충격에 강한 검사부를 이용하며, 상기 검사부가 탭홀과 결합 또는, 분리되면서 상기 탭홀을 스캔할 수 있으며, 이를 통해서 탭홀에서 나타날 수 있는 결함을 용이하게 확인할 수 있는 장점이 있다.
또한, 확인된 결함에 대한 종류를 비교적 정확하게 판별할 수 있는 효과가 있다.
더불어, 상기 검사부에 복수 개의 코일을 구비하고 있는 경우, 상기 코일 사이의 거리를 1mm 미만으로 형성함으로써, 감도를 높일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템을 간략하게 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사부(100)를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 또다른 일 실시예에 따른 검사부(100)를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 6은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 7은 본 발명의 제 4 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 8은 본 발명의 제 5 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 9는 본 발명의 제 6 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
도 10은 본 발명의 제 7 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템의 결과부(300)에 대한 예시도이다.
이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템을 상세히 설명한다. 다음에 소개되는 도면들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 제시되는 도면들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 또한, 명세서 전반에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
이 때, 사용되는 기술 용어 및 과학 용어에 있어서 다른 정의가 없다면, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 통상적으로 이해하고 있는 의미를 가지며, 하기의 설명 및 첨부 도면에서 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템에 대해 간략하게 도시한 도면이다. 도 1을 참조로 하여 본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템에 대해서 상세히 설명한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템은 검사부(100), 제어부(200) 및 출력부(300)를 포함하여 이루어질 수 있다.
상기 검사부(100)는 탭홀을 검사하는 적어도 하나의 코어로 이루어질 수 있으며, 상기 검사부(100)가 상기 탭홀을 검사하기 위해서는, 탭홀에서 상기 검사부(100)의 코어가 빠져나가면서 스캔을 하여, 상기 탭홀의 결함 여부를 판단할 수 있다. 이는 본 발명의 일 실시예에 불과하며, 상기 코어가 상기 탭홀과 결합되면서 스캔하여, 상기 탭홀의 결합 여부를 판단할 수도 있다.
다시 말하자면, 상기 검사부(100)가 상기 탭홀과 분리 또는, 결합되면서 상기 탭홀을 스캔하고, 이를 통해서 상기 탭홀의 결함 여부 및 결합이 있을 경우에, 해당하는 결함을 비교적 정확하게 판단할 수 있다.
이 때, 상기 검사부(100)는 상기 탭홀에서 일정한 속도로 분리 또는, 결합되며, 상기 검사부(100)는 상기 탭홀 내부의 일정한 위치를 지정하여 위치 센서(Position Sensor)를 구비함으로써, 동일한 탭홀을 여러번 측정하는 경우에, 일정한 위치에서 센싱되는 신호를 이용하여, 상기 탭홀의 결함 여부를 판단할 수도 있다.
일 예를 들자면, 20mm 깊이의 탭홀의 결함 여부를 검사하는 경우, 상기 검사부(100)의 코어가 상기 탭홀과 분리되는 시간이 1초라 가정한다면, 다음으로 측정되는 탭홀에 대해서도 종전과 같은 시간인 1초 후에 탭홀을 검사하게 된다. 그러나, 정확하게 동일한 시간을 맞추기가 번거롭기 때문에, 엔코더 등의 위치 센서를 이용하여, 상기 위치 센서로부터 일정한 위치별 신호를 입력받아 탭홀의 결함 여부를 판단할 수 있다. 이 때, 상기 위치 센서의 위치 분해능, 즉, 인식할 수 있는 최소 측정치가 높을수록 좀 더 정확하고 매끄러운 신호 변화를 측정하여 수집할 수 있다.
이 때, 상기 검사부(100)의 코어는 코일이 감기는 자성체로써, 와전류 형성이 용이한 페라이트(Ferrite)가 사용되고 있다. 하지만, 페라이트를 사용한 상기 코어가 상기 탭홀의 정중앙으로 결합 및 분리가 이루어지지 않은 경우에는, 상기 탭홀의 나사산이 상기 코어에 의해서 손상되는 문제점이 발생될 수 있다.
이에 따라서, 본 발명의 일 실시예에 따른 상기 검사부(100), 즉, 코어는 페아리트가 아닌, 페라이트와 근접한 재질이면서 강도가 우수한 순철을 적용하여 상기 코어를 구성할 수 있다.
상기 코어는 상기 코어의 앞단에 상기 탭홀의 표면에 와전류를 형성하며, 상기 와전류의 변화량을 검출하는 코일을 더 포함하여 구성될 수 있으며, 상기 코어에 구성되는 상기 코일의 형태는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 앱솔루트 타입(Absolute Type)과 디퍼렌셜 타입(Differential Type)으로 이루어질 수 있다.
자세히 알아보자면, 상기 디퍼렌셜 타입은 도 2에 도시된 바와 같이, B 구간에 2 종류의 코일, 즉, 드라이브 코일(Drive-coil)과 2개의 픽업 코일(Pickup-coil)을 나란히 구성될 수 있으며, 상기 디퍼렌셜 타입은 상기 두 종류의 코일의 상대적인 변화를 검출하여 비교하는 방식이고,
상기 앱솔루트 타입은 하나의 코일의 절대적인 변화를 검출하는 방식으로써, 도 3에 도시된 바와 같이, B 구간에 상기 드라이브 코일과 상기 픽업 코일이 각각 구성될 수 있다.
이 때, 상기 앱솔루트 타입에서의 상기 드라이브 코일과 상기 픽업 코일은 상기 픽업 코일이 상기 드라이브 코일보다 앞단에 구성될 수 있으며, 이 때 상기 드라이브 코일과 상기 픽업 코일의 간격은 1mm 미만으로 형성될 수 있다. 상기 드라이브 코일과 상기 픽업 코일의 간격은 본 발명의 일 실시예에 불과하다.
상기 드라이브 코일과 상기 픽업 코일의 간격을 통해서, 감지되는 와전류의 감도를 높일 수 있다. 또한, 상기 드라이브 코일이 상기 픽업 코일보다 앞단에 구성될 수도 있다.
상기 코어에 형성되는 상기 드라이브 코일은 상기 탭홀의 표면에 와전류를 형성하고, 상기 픽업 코일은 상기 드라이브 코일에 의해서 상기 탭홀의 표면에 형성된 와전류의 변화량을 검출한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 상기 검사부(100)의 코어의 크기는 상기 검사부(100)에서 스캔하는 상기 탭홀에 따라서 상기 코어의 직경 및 길이가 달라질 수 있다.
자세히 알아보자면, 도 2 및 도 3에 도시된 A 구간의 경우, 상기 검사부(100)에서 검사하고자 하는, 즉, 스캔하는 상기 탭홀의 깊이에 따라서 달라지며, B 구간의 경우, 상기 코어에 형성되는 상기 코일의 구성에 따른 상기 코일의 턴수에 따라서 달라질 수 있다.
또한, C 구간의 경우, 상기 코어의 전체의 길이를 좌우하며, 상기 A 구간 및 B 구간의 길이에 따라서 유동적으로 형성되며, D 구간의 경우, 상기 검사부(100)에서 검사하고자 하는, 즉, 스캔하는 상기 탭홀의 직경에 따라서 달라질 수 있다.
다시 말하자면, 상기 검사부(100)의 코어는 상기 검사부(100)에서 스캔하는 상기 탭홀의 직경 및 길이에 따라서 유동적이며, 이를 통해서, 상기 제어부(200)에서 동일한 양상결과를 얻을 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 상기 코어의 크기는 ??8, 8mm로 이루어질 수 있으며, 상기 드라이브 코일의 턴 수는 30턴, 지름은 0.15mm 일 수 있다. 더불어, 상기 픽업 코일의 턴 수는 50턴, 지름은 0.11mm 일 수 있으며, 이는 본 발명의 일 실시예에 불과하다.
상기 제어부(200)는 상기 검사부(100)로부터 전달받은 스캔 결과값, 즉, 상기 코어를 이용하여 검출된 상기 탭홀의 와전류의 변화량을 이용하여 상기 탭홀의 결함 여부를 판단한다. 이 때, 상기 제어부(200)는 정상 탭홀 뿐 만 아니라, 챔버 가공, 탭 깊이 불량, 이중 탭, 중심축 오차, 기초경 크기 오차 및 탭 홀 미가공 중 적어도 어느 하나의 탭홀 결함을 판단할 수 있다.
상기 출력부(300)는 도 4 내지 도 10에 나타난 바와 같이, 상기 제어부(200)에서 판단한 상기 탭홀 결함 판단값을 사용자가 인식할 수 있도록 출력하며, 이를 통해서, 단순한 탭홀의 결함 유무가 아닌, 탭홀에 결함이 있는 경우, 해당하는 탭홀 결함을 비교적 정확하게 파악할 수 있다.
상기 출력부(300)는 제 1 출력부(310), 제 2 출력부(320)로 구성될 수 있으며, 상기 제 1 출력부(310)는 상기 검사부(100)의 코어에 형성되어 있는, 상기 드라이브 코일에서 측정된 데이터와 상기 픽업 코일에서 측정된 데이터를 이용하여, 2차원 그래프로 나타낸다. 이러한 2차원 그래프를 리사쥬(Lissajous) 그래프라 한다.
다시 말하자면, 보통 사인(sin)파 형태에서 피크와 원점을 샘플링하여 신호 성분을 분석하며, 여기서 피크 샘플링을 X, 원점 샘플링을 Y라 하고, 상기 X/Y 데이터를 리사쥬 도형법으로 표시하게 되는 것을 상기 리사쥬 그래프이다.
또한, 상기 제 2 출력부(320)는 상기 검사부(100)의 코어에 형성되어 있는 상기 드라이크 코일에서 측정된 데이터와 상기 픽업 코일에서 측정된 데이터를 이용하여, 시간축 그래프로 나타내며, 이러한 시간축 그래프는 A-Scan 그래프라 한다.
자세히 알아보자면, 상기 제어부(200)에서 판단한 결과값에 의해서 상기 탭홀에 결함이 발견되지 않은, 즉, 정상 탭홀의 경우에는, 도 4에 도시된 바와 같은 결과값을 출력한다. 정상 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 대한 변화량이 검출되지 않으므로, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프가 하나의 줄로 출력되며 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프 또한, 상기 픽업 코일로 상기 탭홀 표면의 와전류에 대한 변화량이 검출되지 않으므로, 하나의 줄로 출력된다.
상기 탭홀이 챔버 가공된 경우에는, 도 5에 도시된 바와 같은 결과값을 출력한다. 챔버 가공된 상기 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 변화가 있으므로, 이를 상기 픽업 코일에서 검출하게 된다. 따라서, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프가 각기 다른 모양의 두 줄로 출력되며, 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프도 상기 픽업 코일에서 상기 탭홀 표면의 와전류 변화량을 검출하므로, 이에 따라 변형된 그래프가 출력된다. 상기 그래프의 초반에는 정상 탭홀과 동일한 그래프를 그리고 있으나, 챔버 가공이 된 후반부에는 그래프의 변화가 검출된다.
상기 탭홀의 탭 깊이가 불량인 경우에는, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같은 결과값을 출력한다. 탭 깊이 불량의 상기 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 변화가 있으므로, 이를 상기 픽업 코일에서 검출하게 되며, 이에 따라서, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프가 각기 다른 모양의 두 줄로 출력된다.
그러나, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 도 6의 리사쥬 그래프와 도 7의 리사쥬 그래프가 동일한 양상의 그래프로 출력될 수 있다. 이에 따라서, 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프를 통해서 정확하게 탭 깊이 불량을 판단할 수 있다. 즉, 상기 A-Scan 그래프는 상기 픽업 코일에서 검출된 상기 탭홀 표면의 와전류 변화량을 시간축 그래프로 나타낸 것이므로, 도 6의 탭 시작 위치와, 도 7의 탭 시작 위치가 다름을 정확히 판단할 수 있으며, 이에 따라, 서로 다른 그래프로 출력될 수 있다.
상기 탭홀의 기초경 중심축 오차에 결함이 존재하는 경우에는, 도 8에 도시된 바와 같은 결과값을 상기 출력부(300)에서 나타낸다. 기초경 중심축 오차를 갖고 있는 상기 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 변화가 있으므로, 이를 상기 픽업 코일에서 검출하게 되며, 이에 따라서, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프 및 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프이 출력되며, 출력된 결과값에 따르면, 그래프의 변화 양상은 비슷하나, 형성되는 레벨값이 다른 것을 확인할 수 있다.
상기 탭홀이 미가공된 결함이 존재하는 경우에는, 도 9에 도시된 바와 같은 결과값을 상기 출력부(300)에서 나타낸다. 미가공에 따른 상기 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 변화가 있으므로, 이를 상기 픽업 코일에서 검출하게 되며, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프 및 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프가 출력되며, 전반적인 그래프 양상이 도 4에 도시되어 있는 정상 탭홀의 그래프와 전혀 다르게 출력된다.
상기 탭홀의 기초경 크기 오차가 존재하는 경우에는, 도 10에 도시된 바와 같은 결과값을 상기 출력부(300)에서 나타낸다. 기초경 크기 오차에 따른 사이 탭홀은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류에 변화가 있으므로, 이를 상기 픽업 코일에서 검출하게 되며, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프 및 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프가 도 10과 같이 출력된다. 기초경 크기 오차를 갖고 있는 상기 탭홀의 스캔 결과 그래프 또한, 탭홀이 미가공된 결함과 마찬가지로, 전반적인 그래프 양상이 도 4에 도시되어 있는 정상 탭홀의 그래프와 전혀 다르게 출력된다.
즉, 상기 제 1 출력부(310)에서의 리사쥬 그래프는 정상 탭홀과 비교된 결함 그래프가 표시되며, 상기 제 2 출력부(320)에서의 A-Scan 그래프는 정상 탭홀 그래프와 결함 탭홀의 그래프가 별개의 색으로 표시된다. 또한, 상기 리사쥬 그래프의 변화 양상으로 결함 종류를 비교적 정확하게 판단할 수 있으며, 탭 깊이 불량에 해당하는 결함의 경우에는, 좀 더 정확하게 판단하기 위해서 상기 A-Scan 그래프를 통해서 판단할 수 있다.
다시 말하자면, 본 발명의 일 실시예에 따른 탭홀 검사 시스템은, 상기 코어를 상기 탭홀에 위치시킨 후, 상기 탭홀의 결함 여부 판단을 시작할 수 있다. 상기 코어가 상기 탭홀과 분리 또는 결합되면서, 상기 코어에 구비되어 있는 상기 드라이브 코일과 픽업 코일을 통해서 검출되는 상기 탭홀 표면의 와전류를 이용하여 그래프를 출력할 수 있다. 즉, 다시 말하자면, 상기 드라이브 코일은 상기 탭홀 표면에 와전류를 형성할 수 있으며, 상기 픽업 코일은 상기 드라이브 코일을 통해서 형성된 상기 탭홀 표면의 와전류 변화량을 검출할 수 있다. 상기 드라이브 코일과 픽업 코일이 서로 인접하게 위치함으로써, 거리로 인한 오차를 줄일 수 있다.
아울러, 출력되는 그래프는 리사쥬 그래프와 A-Scan 그래프로 나타날 수 있으며, 상기 리사쥬 그래프는 상기 드라이브 코일에서 측정된 데이터와 상기 픽업 코일에서 측정된 데이터를 이용하여, 2차원으로 나타낸 그래프이며,
상기 A-Scan 그래프는 상기 리사쥬 그래프를 시간축으로 나타낸 그래프이다.
이에 따라, 상기 리사쥬 그래프를 통해서, 구별하기 어려운 상기 탭홀의 결함에 대해서도, 상기 A-Scan 그래프를 통해서 정확하게 판단할 수 있다.
이상과 같이 본 발명에서는 구체적인 구성 소자 등과 같은 특정 사항들과 한 정된 실시예 도면에 의해 설명되었으나 이는 본발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것 일 뿐, 본 발명은 상기의 일 실시예에 한정되는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.
따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 아니 되며, 후술되는 특허 청구 범위뿐 아니라 이 특허 청구 범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.
100 : 검사부
200 : 제어부
300 : 출력부

Claims (5)

  1. 순철 재질로 형성되고, 탭홀 내벽과 일정 거리 이격되면서 상기 탭홀과 결합 또는, 분리되어 상기 탭홀 내부를 스캔하는 코어와,
    상기 탭홀 내부의 일정 위치에 구비되는 위치 센서(position sensor)를 포함하는 검사부(100);
    상기 검사부(100)로부터 전달받은 스캔 결과값을 이용하여, 상기 탭홀의 결함 여부를 판단하는 제어부(200); 및
    상기 제어부(200)로부터 전달받은 상기 탭홀의 결함 판단값을 출력하는 출력부(300);
    를 포함하여 구성되며,
    상기 검사부(100)의 코어는
    상기 코어의 앞단에 형성되어 상기 탭홀 내부의 표면에 와전류를 형성하고 형성된 상기 와전류의 변화량을 검출하는 코일을 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 탭홀 검사 시스템.
  2. 삭제
  3. 제 1항에 있어서,
    상기 검사부(100)는
    상기 검사부(100)에서 스캔하는 상기 탭홀에 따라서,
    상기 코어의 직경 및 길이가 달라지는 것을 특징으로 하는 탭홀 검사 시스템.
  4. 제 1항에 있어서,
    상기 제어부(200)에서 판단하는 상기 탭홀의 결합은
    챔버 가공, 탭 깊이 불량, 이중 탭, 중심축 오차, 기초경 크기 오차 및 탭홀 미가공 중 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 탭홀 검사 시스템.
  5. 제 1항에 있어서,
    상기 출력부(300)는
    상기 검사부(100)의 코일을 통해서 측정된 데이터를 이용하며,
    상기 데이터를 2차원 그래프로 나타내는 제 1 출력부(310); 및
    상기 데이터를 시간축 그래프로 나타내는 제 2 출력부(320);
    를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 탭홀 검사 시스템.
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한국동력기계공학회지 제15권 제4호 *
한국동력기계공학회지 제15권 제4호*

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