KR101310075B1 - 싱글-폴리 mtp메모리 - Google Patents

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Abstract

본 발명에서는 싱글 폴리 MTP 셀을 이용하여 PMIC(Power Management Integrated Circuit)용 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)를 설계하였다. 저면적의 메모리를 설계하기 위해 V10V 선택회로와 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)선택회로를 제안하였으며, logic 회로를 단순화한 워드라인 구동부(Word-Line Driver)를 제안하였다. 삭제 모드(erase mode)와 프로그램 모드(program mode)에 모두 필요한 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)와 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)전압은 7단계 VPP(Boosted Voltage)챠지 펌프의 내부 펌핑 노드 전압을 선택해주므로 추가적인 챠지 펌프없이 한 개의 제1 챠지 펌프부로만 구현하므로 레이아웃 면적을 줄였다.

Description

싱글-폴리 MTP메모리{Single-Poly Multi-Time Programmable memory}
본 발명에서는 MTP 메모리 설계에 관한 것으로, 특히 저면적의 메모리를 설계하기 위해 디코딩 로직 회로를 단순화한 워드라인 구동회로(Word-Line Driver)를 설계하였다. 그리고 삭제 모드(erase mode)와 프로그램 모드(program mode)에 모두 필요한 제2 출력전압(=10V)과 제3 출력전압(=5V)은 7단계 교차 결합 챠지 펌프의 내부 펌핑 노드 전압을 선택한다. 그러므로 추가적인 직류-직류 변환기 없이 한 개의 직류-직류 변환부로만 구현하는 회로를 포함한 싱글-폴리 MTP 메모리에 관한 것이다.
MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)는 아날로그 트리밍 용도로 사용된다. 공정이 단순하고 가격 경쟁력(Cost Effectiveness)이 있기 때문에 많은 PMIC 칩에 사용되고 있다. PMIC(Power Management IC)는 휴대전화기, 노트북 PC, TV와 모니터 등의 정보기기에서 입력전원을 받아서 시스템에서 요구하는 안정적이고 효율적인 전원으로 변환하여 공급하는 칩이다. PMIC(Power Management IC)칩에 사용되는 NVM 셀(Non-Volatile Memory cell)은 싱글-폴리 EEPROM, 더블-폴리 EEPROM, 플래쉬와 SONOS(Silicon-Oxide-Nitride-Oxide-Silicon)셀(cell)이 사용되고 있다
일반적으로 PMIC 칩에서 수 Kb 이상의 NVM 메모리는 비트 셀 사이즈가 수 ㎛2로 정도의 더블-폴리 EEPROM, 플래쉬와 SONOS cell이 사용된다. 또한, BCD 공정에 5~8개의 엑스트라 마스크 레이어가 필요하다. 그리고 수 Kb 이하의 NVM 메모리는 비트 셀 사이즈가 수 십 ㎛2 이상의 싱글-폴리 EEPROM인 MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)이 사용된다. 대부분 한 개 또는 두 개의 마스크 레이어가 추가된다. 그리고 원가 절감을 위하여 저면적 설계가 요구된다. 하나의 MTP(Multi-Time Programmable)IP로 표 1의 노트북 PC, 휴대전화기, 모니터등의 응용기기에 대응하기 위해서는 2.5V~5.5V의 동작전압 범위를 갖는 넓은 작동범위의 전압을 갖는 회로설계가 요구된다.
MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)에 사용되는 MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)은 도 1에서 보는 바와 같이 싱글-폴리 EEPROM으로 BN(Buried N)확산과 FG(Floating Gate)사이의 BN(Buried N)커패시터, 감지 트랜지스터(sense Transistor)와 선택 트랜지스터(select Transistor)로 구성되어 있다. 도 1는 MTP(Multi-Time Programmable)셀의 회로도를 보여주고 있다. 도 1의 플로팅 게이트에 전자를 방출시키는 동작은 삭제 모드(erase mode)이고, 플로팅 게이트에서 전자를 주입하는 동작은 프로그램 모드(program mode)이다. EEPROM 셀(cell)의 삭제와 프로그램은 플로팅 게이트 아래의 터널 옥사이드를 통해서 FN-터널링(Fowler-Nordheim tunneling)에 의해 이루어진다. MTP(Multi-Time Programmable)의 쓰기 모드(write mode)는 항상 삭제 모드(erase mode)이후 프로그램 모드(program mode)가 이루어져야 한다.
도 2는 본 발명에 따른 MTP(Multi-Time Programmable)셀의 동작모드에 따른 노드별 바이어스 전압 조건을 나타내는 것이다. 삭제 모드에서는 선택된 셀의 워드라인(WL)에 0V, 비트라인(BL)에 15V를 인가하여 FN-터널링에 의해 플로팅 게이트 노드에 있는 전자를 방출 시킨다. 그리고 프로그램 모드에서는 선택된 셀의 워드라인에 18.5V, BL에 0V를 인가하여 FN-터널링에 의해 플로팅 게이트 노드로 전자를 주입한다. 소스 라인(SL)은 쓰기 모드(write mode)에서 모두 플로팅(floating)상태이고, 읽기 모드(read mode)에서는 0V이다.
선택된 워드라인(WL)은 삭제 모드(erase mode), 프로그램 모드(program mode)와 읽기 모드(read mode)에서 각각 0V, 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)과 같이 각기 다른 전압을 제공하는 방법을 사용한다. 반면 선택되지 않은 워드라인은 삭제 모드(erase mode), 프로그램 모드(program mode)와 읽기 모드(read mode)에서 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V), 0V의 전압을 출력하는 방법을 사용한다. 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)과 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)는 데이터 방해(data disturb)를 방지하기 위한 전압으로 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)는 선택되지 않은 셀(cell)이 삭제되는 것을 방지하기 위한 전압이고, 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)는 선택되지 않은 셀(cell)이 프로그램 되는 것을 방지하기 위한 전압이다.
도 3에서 보는 바와 같이 삭제된 셀(cell)의 문턱전압(Threshold Voltage)는 1.9V 이하이고, 프로그램 된 셀(cell)의 문턱전압은 5.0V 이상이다. 읽기 모드에서는 워드라인에 3.3V의 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)을 인가한다. 삭제된 셀은 BL에 0V를 출력하는 반면, 프로그램 된 셀은 전원(VDD)을 출력한다. MTP(Multi-Time Programmable)IP 설계에서 필요한 전압은 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V), 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V), VDD가 필요하다. 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V)는 프로그램 모드에서 18.5V, 삭제 모드에서 15V이다.
기존의 EEPROM 회로는 워드라인 구동부(Word-Line driver)2개 마다 하나의 행 주소 디코더(row address decoder)를 공유한다. 그리고 각각의 워드라인 구동부(Word-Line driver)에서 마지막 주소 디코딩(final address decoding)을 하는 회로를 사용하였다. 이 경우 CMOS 로직 회로가 차지하는 면적이 큰 단점이 있다. 그리고 제1 출력전압(VPP, Boosted Voltage)전압을 발생하는 포지티브 챠지 펌프(positive charge pump)회로의 내부 펌핑 노드 전압을 이용하여 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V)보다 낮은 전압을 공급해주는 선택회로가 개시되었다. 이 경우는 2 펌핑 노드 전압을 선택해주는 HW 스위칭(HW Switching)회로가 차지하는 레이아웃 면적이 커지는 문제점이 있었다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는, MTP 메모리 설계에서 저면적의 MTP(Multi-Time Programmable)IP를 설계하기 위해 디코딩 로직 회로를 단순화한 워드라인 구동부(Word-Line Driver)를 설계하고, 동작 모드에 따라 필요한 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)및 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)은 7단계의 제1 챠지 펌프부와 2단계의 제2 챠지 펌프부에 의해 공급하여 여분의 챠지 펌프(extra charge pump)에 해당하는 면적을 줄이는 싱글-폴리 MTP 메모리를 제공하는데 있다.
상기 기술적 과제를 이루기 위한 본 발명에 따른 싱글-폴리 MTP 메모리는 데이터 입력의 프로그램 데이터를 지정된 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)셀 어레이에 프로그램하기 위한 데이터 입력 버퍼와 데이터 쓰기 스위치부, 상기 데이터 입력 버퍼와 데이터 쓰기 스위치부와 연결되고 여러 개의 전압을 공급하는 직류-직류 변환부, 상기 직류-직류 변환부와 연결되고 어드레스에 따라 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)셀 어레이에 전압을 공급하는 워드라인 구동부, 상기 데이터 입력 버퍼와 데이터 쓰기 스위치부 블럭, 상기 워드라인 구동부 및 데이터 읽기 스위치와 데이터-버스 감지앰프부 블럭에 연결된 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)셀 어레이, 상기 워드라인 구동부 와 데이터 읽기 스위치와 데이터-버스 감지앰프부 블럭에 연결되고 동작 모드에 따라 제어 신호를 발생시키는 제어 로직부 및 상기 제어 로직부와 연결되고 MTP(Multi-Time Programmable)셀의 데이터를 읽어내기 위한 상기 읽기 데이터 스위치와 데이터-버스 감지앰프부를 포함하고, 상기 직류-직류변환부에서 여러 개의 전압을 7단계 제1 챠지 펌프의 내부 펌핑 노드 전압을 이용하여 한 개의 제1 챠지 펌프부로만 구현하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 싱글-폴리 MTP 메모리는 저면적의 MTP(Multi-Time Programmable)IP를 설계하기 위해 디코딩 로직 회로를 단순화한 워드라인 구동부(Word-Line Driver)를 설계하였고, 동작 모드에 따라 필요한 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)및 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)은 7단계의 제1 챠지 펌프부와 2단계의 제2 챠지 펌프부에 의해 공급해 줄 수 있으므로 여분의 챠지 펌프(extra charge pump)에 해당하는 면적을 줄일 수 있는 장점이 있다.
도 1은 종래기술에 따른 MTP(Multi-Time Programmable)셀의 회로도를 나타내는 도면이다.
도 2는 종래기술에 따른 MTP(Multi-Time Programmable)셀의 동작모드에 따른 노드별 바이어스 전압 조건을 나타내는 것이다.
도 3은 종래기술에 따른 삭제와 program된 셀(cell)의 문턱전압이다.
도 4은 본 발명에 따른 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)의 블럭도를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 워드라인 구동부(Word-Line driver)를 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명에 따른 동작 모드별 스위칭 전원공급기의 출력 전압을 나타낸 것이다.
도 7는 본 발명에 따른 데이터-버스 감지앰프부를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명에 따른 동작 모드별 직류-직류 변환부의 전압이다.
도 9는 본 발명에 따른 제안된 직류-직류 변환부의 블록 다이어그램을 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명에 따른 7단계의 제1 챠지 펌프부를 나타내는 도면이다.
도 11은 본 발명에 따른 직류-직류 변환부의 프리챠징 회로 중 프리챠징 회로를 나타내는 도면이다.
도 12는 본 발명에 따른 제1 선택회로를 나타내는 도면이다.
도 13은 본 발명에 따른 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)레이아웃 이미지를 나타내는 도면이다.
이하에서는 본 발명의 구체적인 실시 예를 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다.
도 4은 본 발명에 따른 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)의 블럭도를 나타내는 도면이다.
MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)는 32 행(rows)× 8 열(columns)의 메모리 셀 어레이(Memory cell array)(305), 어드레스 A[4:0]에 따라 32개의 행 중에 하나를 선택하여 워드라인노드에 전압을 공급하는 워드라인 구동부(304), MTP 셀(Multi-Time Programmable cell의 데이터를 읽어내기 위한 데이터-버스 감지앰프부(Data-Bus Sense Amplifier, 307), 데이터 입력의 프로그램 데이터(program data)를 지정된 MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)에 프로그램하기 위한 데이터 쓰기 스위치부(write Data Switch, 303)로 구성되어 있다.
데이터 쓰기 스위치부(write Data Switch, 303)는 데이터 입력 버퍼(buffer)를 포함하고, 데이터-버스 감지앰프부(Data-Bus Sense Amplifier, 307)는 데이터 읽기 스위치(Read Data Switch)를 포함한다.
그리고 동작 모드에 따라 제어 신호를 발생시키는 제어 로직부(306)가 있다.
입력 제어 신호(Input control signal)는 데이터 읽기(Read), 데이터 지우기(Erase), 프로그램 신호(Program)가 있다. 한편 직류-직류 변환부(302)는 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V), 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)을 공급한다. 삭제 모드(Erase mode)와 프로그램 모드(program mode)에 모두 필요한 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)과 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)은 7단계의 챠지 펌프부의 내부 펌핑 노드 전압을 선택한다. 그러므로 본 발명에 따른 싱글-폴리 MTP 메모리는 추가적인 챠지 펌프없이 한 개의 제1 챠지 펌프부로만 구현하므로 레이아웃 면적을 줄일 수 있다.
본 발명에 따른 싱글-폴리 MTP 메모리의 구동입력은 5개의 어드레스 A[4:0]에 의해 32 바이트(Byte)중의 한 바이트가 선택되며, 데이터 읽기와 쓰기는 바이트 단위로 수행된다.
도 5는 본 발명에 따른 워드라인 구동부(word line driver)를 나타내는 도면이다.
워드라인 구동부는 제1 구동입력과 제2 구동입력을 입력받는 낸드 게이트(503), 상기 낸드 게이트의 출력을 입력받는 제 1인버터(504), 제1 역제어신호를 입력받는 제 1단자, 제1 제어신호을 입력받는 제 2단자, 상기 제 1인버터의 출력을 입력받는 제 3단자 및 차동증폭기(505)의 입력과 연결된 제 4단자를 포함하는 제 1스위치(501), 제2 역제어신호를 입력받는 제 1단자, 제2 제어신호을 입력받는 제 2단자, 상기 낸드 게이트의 출력을 입력받는 제 3단자 및 차동증폭기(505)의 입력과 연결된 제 4단자를 포함하는 제 2스위치(502), 스위칭 전원 공급기의 제1 스위칭 전압을 전원으로 사용하고, 상기 제 1스위치와 상기 제 2스위치로부터 입력받는 상기 차동증폭기(505), 스위칭 전원 공급기의 제1 스위칭 전압을 연결되는 제 1단자, 상기 차동증폭기(505)의 출력을 입력받는 제 2단자, 스위칭 전원 공급기의 제2 스위칭 전압과 연결되는 제 3단자를 포함하는 제 2 인버터(506)를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 설계된 워드라인 구동부(word line driver)회로의 로우 디코딩 로직은 프리디코딩 입력된 제1 구동입력, 제2 구동입력을 디코딩 입력하였다. 제1 구동입력은 5개의 어드레스 A[4:0] 중 A4와 A3을 프리디코딩 입력한 것이고, 제2 구동입력는 5개의 어드레스 A[4:0] 중 A2, A1과 A0를 프리디코딩 입력한 것이다.
도 6은 본 발명에 따른 동작 모드별 스위칭 전원공급기의 출력 전압을 나타낸 것이다.
스위칭 전원 공급기(Switching power supply)에서 출력되는 제1 스위칭 전압은 삭제 모드(erase mode), 프로그램 모드(program mode)와 읽기 모드(read mode)에서 각각 10V, 18.5V와 3.3V의 전압을 공급한다. 도 5에서 보는 바와 같이 워드라인 구동회로는 전압 레벨 변환기 회로를 포함하고 있다. 전압 레벨 변환기 회로는 최대 18.5V의 높은 전압이 인가된다. 그러므로 높은 전압 트렌지스터를 사용하여 설계하였다.
스위칭 전원 공급기(Switching power supply)에서 출력되는 제2 스위칭 전압은 삭제 모드(erase mode), 프로그램 모드(program mode)와 읽기 모드(read mode)에서 각각 0V, 5V 및 0V 전압을 공급한다.
도 7는 본 발명에 따른 데이터-버스 감지앰프부를 나타내는 도면이다.
PMOS 트랜지스터인 MP1은 읽기 모드로 진입하면서 DB_LOADb(Data Bus LOAD bar)신호에 의해 데이터 버스라인을 전원(VDD)으로 올린다. 워드라인이 활성화되면서 MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)의 문턱전압이 5.0V 이상인 로직 '1'로 프로그램 된 셀에 연결된 데이터 버스라인 전압은 VDD를 유지하는 반면, MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)의 문턱전압이 1.9V 이하인 로직 ‘0’로 프로그램 된 셀은 온(On)된 MTP 셀(Multi-Time Programmable cell)에 의해 데이터 버스라인을 0V로 방전시킨다.
데이터 버스라인에 BL의 데이터가 충분히 올라가게 되면 도 7의 클럭 인버터에 의해 데이터 버스에 전압을 감지하여 출력 데이터 포트로 출력한다.
출력 데이터 버퍼는 SAENb(Sense Amplifier Enable bar)신호가 '로우(Low)'인 구간동안 데이터 버스의 읽기 데이터를 감지하여 출력한다. '하이(High)'인 구간동안은 도 7의 D-렛치(Latch)에 의해 감지된 데이터를 가두어둔다. 높은 임피던스를 갖는 PMOS 부하 트랜지스터 MP1은 '1'로 프로그램된 셀(cell)에 접근하는 경우 BL에 연결된 선택되지 않은 셀(cell)의 꺼진 누설전류에 의해 BL이 '로우(Low)'로 떨어지는 것을 방지하기 위해 BL과 데이터 버스라인을 '하이(High)'상태로 충분히 일시정지(hold)시켜 주어야 한다.
도 8은 본 발명에 따른 동작 모드별 직류-직류 변환부의 전압이다. MTP 메모리 설계에서 사용되어지는 전압은 직류-직류 변환부의 출력전압으로 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V), 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)이 있고, 직류-직류 변환부의 입력전압으로 전원(VDD)과 기준전압(VREG)이 있다. 그래서 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V), 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)의 전압을 만들기 위해서는 일반적으로 직류-직류 변환부가 사용된다.
도 9는 본 발명에 따른 제안된 직류-직류 변환부의 블록 다이어그램을 나타내는 도면이다.
직류-직류 변환부(900)는 기준전압 생성기(901), 기준전압 생성기(901)에서 발생하는 기준전압(VREF)과 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V)를 입력받는 제1 레벨 감지기(902), 제1 레벨 감지기(902)의 출력을 입력받는 제1 링 발진기(903), 상기 제1 링 발진기(903)의 출력을 입력받는 제1 제어 로직부(904), 상기 제1 제어 로직부(904)의 출력을 입력받는 제1 챠지 펌프부(905)및 상기 제1 챠지 펌프부(905)의 출력 중 제2 신호(V10V_PGM)와 제3 신호(V10V_ERS)를 입력받는 제1 선택 회로(906), 기준전압 생성기에서 발생하는 제4 신호(VREF_VRD)와 제2 챠지 펌프부의 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)을 입력받는 제2 레벨 감지기, 상기 제2 레벨감지기의 출력을 입력받는 제2 링 발진기, 상기 제2 링 발진기의 출력을 입력받는 제2 제어 로직부, 상기 제2 제어 로직부의 출력을 입력받는 제2 챠지 펌프부, 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)및 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)중 어느 하나의 출력라인에 한 개 이상 연결되어있는 각각의 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 한다
본 발명에서는 직류-직류 변환부를 제1 챠지 펌프부와 제2 챠지 펌프부만 이용하여 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V), 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)및 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)을 공급하는 직류-직류 변환부를 제안하였다. 직류-직류 변환부는 본 발명의 쓰기 모드(write mode)에 필요한 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V), 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)와 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)전압이 공급되어야 한다.
직류-직류 변환부에서 제2 챠지 펌프부는 기준전압(VREG)을 입력전압으로 사용하며, 2단계 교차 결합 챠지 펌프에 의해 3.3V의 증폭된 전압을 공급한다. 3.3V의 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)은 읽기 모드(read mode)시 선택된 워드라인 드라이버에 인가하는 데 필요하다.
본 발명의 제1 챠지 펌프부는 7단계의 제1 챠지 펌프부를 사용한다.
도 10은 본 발명에 따른 7단계의 제1 챠지 펌프부도(1000)를 나타내는 도면이다.
제1 챠지 펌프부(1000)는 상기 제1 제어 로직부의 출력을 받는 제1 챠지 펌프(1001), 제1 챠지 펌프(1001)의 출력에 연결된 제2 챠지 펌프(1002), 상기 제2 챠지 펌프(1002)의 출력에 연결된 제3 챠지 펌프(1003), 상기 제3 챠지 펌프(1003)의 출력에 연결된 제4 챠지 펌프(1004), 상기 제4 챠지 펌프(1004)의 출력에 연결된 제5 챠지 펌프(1005), 상기 제5 챠지 펌프(1005)의 출력에 연결된 제6 챠지 펌프(1006), 상기 제6 챠지 펌프(1006)의 출력에 연결된 제7 챠지 펌프(1007) 및 상기 7개의 각각의 챠지 펌프의 출력단에 각각의 다른 7개의 프리챠징 회로(1008)이 연결되는 것을 포함하고, 상기 제1 챠지 펌프(1001), 제2 챠지 펌프(1002)및 프리챠징 회로(1008)가 연결된 라인에서 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)를 출력하고, 상기 제3 챠지 펌프(1003), 제4 챠지 펌프(1004)및 프리챠징 회로(1008)가 연결된 라인에서 제2 신호(V10V_PGM)을 출력하고, 상기 제4 챠지 펌프(1004), 제5 챠지 펌프(1005)및 프리챠징 회로(1008)가 연결된 라인에서 제3 신호(V10V_ERS)를 출력하고, 상기 제7 챠지 펌프 및 프리챠징 회로(1008)가 연결된 라인에서 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V)를 출력하는 것을 특징으로 한다.
직류-직류 변환부에서 출력되는 전압 중 제1 출력전압(VPP, VPP=18.5V)는 7단계 교차 결합 챠지 펌프에 의해 공급된다. 그리고 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)과 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)는 7단계 교차 결합 챠지 펌프의 내부 펌핑 노드 전압을 선택하여 구현하였다.
먼저 제3 출력전압(V5V, V5V=5V)는 7단계 교차 결합 챠지 펌프 회로의 첫 번째 펌핑 노드의 출력 전압을 사용하였고, 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)은 제3 신호(V10V_ERS)와 제2 신호(V10V_PGM)를 쓰기 모드(write mode)에 따라 선택해주는 전원 스위칭 회로에 의해 스위칭 된다.
도 11은 본 발명에 따른 직류-직류 변환부의 프리챠징 회로 중 프리챠징 회로를 나타내는 도면이다.
도 11은 대기상태에서 제1 챠지 펌프부의 펌핑 단계별 출력전압인 출력 전압 노드 전압과 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)전압을 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)으로 프리챠징하는 회로를 보여주고 있다.
프리챠징는 제 1단자가 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)와 연결되고 제 2단자와 제 4단자가 출력 전압과 연결된 제 1스위치(1101), 제 1단자와 제 4단자가 출력 전압과 연결되고 제 2단자가 제 3스위치(1103)의 제 1단자와 연결되는 제 2스위치(1102), 제 1 단자가 상기 제 2 스위치(1102)의 상기 제 2단자와 연결되고 제 2 단자와 제 4단자는 그라운드와 연결되는 상기 제 3스위치(1103), 상기 제 2스위치(1102)와 상기 제 3스위치(1103)의 제 3단자는 제1 제어 로직부의 출력이 연결 되고, 상기 제 1스위치(1101)의 제 3단자는 상기 제 2스위치(1102)와 상기 제 3스위치(1103)가 연결된 라인에서 입력되는 것을 특징으로 한다.
도 12는 본 발명에 따른 제1 선택회로를 나타내는 도면이다.
챠지펌프의 노드전압인 제2 신호(V10V_PGM)와 제3 신호(V10V_ERS)을 이용하여 프로그램 모드에서는 turn-on된 MP0를 통해 제2 신호(V10V_PGM), 그리고 삭제 모드에서는 turn-on된 MP1를 통해 제3 신호(V10V_ERS)가 제2 출력전압(V10V, V10V=10V)에 공급되도록 하는 전원 스위칭 회로를 사용하였다. 제4 출력전압(VRD, VRD=3.3V)는 읽기 모드(read mode)에서 공급되어야 하는 전압이다.
제1 선택 회로는 프로그램 데이터를 입력받는 차동증폭기, 차동증폭기의 출력을 반전시키는 인버터, 제1 단자는 제2 신호를 공급받고, 제2 단자가 인버터의 출력으로 제어되며, 제4 단자가 제2 출력전압으로 출력되는 제4 스위치, 제1 단자가 제4 스위치의 제4 단자와 연결되고, 제2 단자가 차동증폭기의 출력으로 제어되며, 제4 단자에 제3 신호를 공급하는 제5 스위치, 제1 단자가 제4 스위치의 제1 단자와 공통으로 연결되고, 제2 단자가 제4 스위치의 제3 단자와 연결된 제6 스위치, 제1 단자가 제6 스위치의 제3 단자에 연결되고, 제2 단자가 제4 스위치의 제3 단자와 공통으로 연결되며, 제3 단자가 제6 스위치의 제4 단자와 연결되고, 제4 단자가 제4 스위치의 제4 단자와 연결되는 제7 스위치, 제1 단자가 제4 스위치의 제4 단자에 연결되고, 제2 단자가 제5 스위치의 제3 단자에 연결되는 제8 스위치, 제1 단자가 제8 스위치의 제3 단자에 연결되고 제2 단자가 제5 스위치의 제3 단자에 공통으로 연결되며, 제3 단자가 제8 스위치의 제4 단자에 연결되고, 제4 단자가 제5 스위치의 제4 단자와 공통으로 연결되는 제9 스위치 및 제4 스위치의 제4 단자와 연결되고 다른 일측은 접지전압에 연결된 캐패시터를 포함하는 것을 특징한다.
도 13은 본 발명에 따른 MTP 메모리(Multi-Time Programmable memory)레이아웃 이미지를 나타내는 일실시례이다.
이상에서는 본 발명에 대한 기술사상을 첨부 도면과 함께 서술하였지만 이는 본 발명의 바람직한 실시 예를 예시적으로 설명한 것이지 본 발명을 한정하는 것은 아니다. 또한 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 이라면 누구나 본 발명의 기술적 사상의 범주를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양한 변형 및 모방이 가능함은 명백한 사실이다.
302 : 직류-직류 변환부(DC-DC converter)
303 : 데이터 쓰기 스위치부(write Data Switch)
304 : 워드라인 구동부(Word-Line driver)
305 : 메모리셀 어레이(Memory cell array)
306 : 제어 로직부(Control Logic)
307 : 데이터-버스 감지앰프부(Read Data Switch and Data-Bus Sense Amplifier)

Claims (7)

  1. MTP 메모리 셀 어레이;
    프로그램 데이터를 지정된 상기 MTP 메모리셀 어레이에 프로그램하기 위한 데이터 쓰기 스위치부;
    어드레스에 따라 상기 MTP 메모리 셀 어레이 중 선택된 하나의 행에 워드라인 노드의 전압을 공급하는 워드라인 구동부;
    상기 워드라인 구동부와 상기 데이터 쓰기 스위치부에 여러 개의 전압을 공급하는 직류-직류 변환부;
    동작 모드에 따라 제어 신호를 상기 워드라인 구동부에 제공하는 제어 로직부; 및
    상기 제어 로직부와 연결되고 상기 MTP 메모리 셀 어레이의 데이터를 읽어내기 위한 데이터-버스 감지앰프부; 를 포함하고,
    상기 직류-직류 변환부는 직렬로 연결된 다단의 챠지 펌프들을 포함하며 상기 챠지펌프들 간의 펌핑노드들에서 상기 여러개의 전압을 공급하는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  2. 제1 항에 있어서, 상기 직류-직류 변환부는
    기준전압 생성기;
    상기 기준전압 생성기에서 발생하는 제1 신호를 받는 제1 레벨 감지기;
    상기 제1 레벨 감지기의 출력을 받는 제1 링 발진기;
    상기 제1 링 발진기의 출력을 받는 제1 제어 로직;
    상기 다단의 챠지 펌프를 포함하고
    상기 제1 제어 로직의 출력을 받아 상기 다단의 챠지 펌프에서 각각 다른 전압으로 변환하며, 각각의 변환된 전압은 제1 출력전압과 제3 출력전압, 제2 신호 및 제3 신호로 출력되는 제1 챠지 펌프부;
    상기 제1 챠지 펌프부의 상기 제2 신호와 상기 제3 신호를 받아 제2 출력전압을 출력하는 제1 선택 회로;
    상기 기준전압 생성기에서 발생하는 제4 신호를 받는 제2 레벨 감지기;
    상기 제2 레벨감지기의 출력을 받는 제2 링 발진기;
    상기 제2 링 발진기의 출력을 받는 제2 제어 로직;
    상기 다단의 챠지 펌프를 포함하며 상기 제2 제어 로직의 출력을 받아 제4 출력전압을 출력하는 제2 챠지 펌프부; 및
    상기 제1 출력전압 내지 상기 제4 출력전압을 출력하는 각각의 라인 중 적어도 어느 하나의 라인은 각각 하나의 캐패시터의 일측에 연결되며 각 캐패시터의 또 다른 일측은 접지전압에 연결되는 것을 포함하되,
    상기 제1 출력전압은 상기 제1 레벨 감지기로 피드백 되고, 상기 제4 출력전압은 상기 제2 레벨 감지기로 피드백 되며,
    상기 기준전압 생성기는 2 개의 기준전압을 생성하며 각각의 기준전압은 제1 신호 및 제4 신호로 출력되는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  3. 제2 항에 있어서, 상기 제1 챠지 펌프부는
    직렬로 연결된 제1 챠지 펌프 내지 제7 챠지 펌프; 및
    상기 제1 제어 로직의 출력으로 제어되는 상기 제1 챠지 펌프 내지 제7 챠지 펌프의 출력단에 각각 연결된 프리챠징 회로;를 포함하고,
    상기 제1 챠지 펌프의 출력단에서 상기 제3 출력전압을 출력하고,
    상기 제3 챠지 펌프의 출력단에서 상기 제2 신호를 출력하고,
    상기 제4 챠지 펌프의 출력단에서 상기 제3 신호를 출력하고,
    상기 제7 챠지 펌프의 출력단에서 상기 제1 출력전압을 출력하는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  4. 제3 항에 있어서, 상기 프리챠징 회로는
    제1 단자에 상기 직류-직류 변환부의 제4 출력전압을 공급하고 제2 단자와 제4 단자가 연결된 제1 스위치;
    제1 단자와 제3 단자가 상기 제1 스위치의 제4 단자와 공통으로 연결된 제2 스위치;
    제1 단자는 상기 제1 스위치의 제3 단자와 상기 제2 스위치의 제4 단자에 공통으로 연결되고 제3 단자와 제4 단자는 접지전압에 연결되는 상기 제3 스위치;
    상기 제2 스위치와 상기 제3 스위치의 제2 단자에 인가된 상기 제1 제어로직의 출력으로 제어되고,
    상기 제1 스위치의 제4 단자는 출력신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  5. 제2 항에 있어서, 상기 제1 선택 회로는
    프로그램 데이터를 입력받는 차동증폭기;
    상기 차동증폭기의 출력을 반전시키는 인버터;
    제1 단자는 상기 제2 신호를 공급받고, 제2 단자가 상기 인버터의 출력으로 제어되며, 제4 단자가 상기 제2 출력전압으로 출력되는 제4 스위치;
    제1 단자가 상기 제4 스위치의 제4 단자와 연결되고, 제2 단자가 상기 차동증폭기의 출력으로 제어되며, 제4 단자에 상기 제3 신호를 공급하는 제5 스위치;
    제1 단자가 상기 제4 스위치의 제1 단자와 공통으로 연결되고, 제2 단자가 상기 제4 스위치의 제3 단자와 연결된 제6 스위치;
    제1 단자가 상기 제6 스위치의 제3 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제4 스위치의 제3 단자와 공통으로 연결되며, 제3 단자가 상기 제6 스위치의 제4 단자와 연결되고, 제4 단자가 상기 제4 스위치의 제4 단자와 연결되는 제7 스위치;
    제1 단자가 상기 제4 스위치의 제4 단자에 연결되고, 제2 단자가 상기 제5 스위치의 제3 단자에 연결되는 제8 스위치;
    제1 단자가 상기 제8 스위치의 제3 단자에 연결되고 제2 단자가 상기 제5 스위치의 제3 단자에 공통으로 연결되며, 제3 단자가 상기 제8 스위치의 제4 단자에 연결되고, 제4 단자가 상기 제5 스위치의 제4 단자와 공통으로 연결되는 제9 스위치; 및
    상기 제4 스위치의 제4 단자와 연결되고 다른 일측은 접지전압에 연결된 캐패시터를 포함하는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  6. 제1 항에 있어서, 상기 워드라인 구동부는
    상기 어드레스 중 제4 및 제5 어드레스를 프리 디코딩 한 제1 구동입력과 상기 어드레스 중 제1 내지 제3 어드레스를 프리디코딩 한 제2 구동입력을 입력받는 낸드 게이트;
    상기 낸드 게이트의 출력을 반전시키는 제1 인버터;
    제1 역제어신호를 받는 제1 단자, 제1 제어신호를 받는 제2 단자, 상기 제1 인버터의 출력을 입력받는 제3 단자를 포함하는 제10스위치;
    제2 역제어신호를 받는 제1 단자, 제2 제어신호를 받는 제2 단자, 상기 낸드 게이트의 출력을 입력받는 제3 단자, 상기 제10 스위치의 제4 단자와 연결된 제4 단자를 포함하는 제11 스위치;
    제1 스위칭 전압을 전원으로 공급받고, 상기 제10스위치와 상기 제11 스위치의 4 단자로부터 출력신호를 입력받는 차동증폭기;
    상기 제1 스위칭 전압과 제2 스위칭 전압 사이에서 동작하며, 상기 차동증폭기의 출력 신호을 반전시켜 출력하는 제2 인버터를 포함하는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
  7. 제6 항에 있어서, 상기 제1 스위칭 전압과 제2 스위칭 전압은 사용자가 임의로 결정할 수 있는 것을 특징으로 하는 싱글-폴리 MTP 메모리
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9620594B2 (en) 2014-09-29 2017-04-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory device, memory cell and memory cell layout
US11017829B2 (en) 2019-04-02 2021-05-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Magnetic memory device including voltage generator connected to both word line driver and write driver

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200276104Y1 (ko) 2001-12-11 2002-07-13 채용웅 싱글폴리 플레쉬메모리 프로그래밍 장치
KR100636508B1 (ko) 2004-11-11 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 차지펌프 회로와 이를 이용한 직류 변환장치
KR20090069888A (ko) * 2007-12-26 2009-07-01 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 동작 방법
JP2011014190A (ja) 2009-07-01 2011-01-20 Sony Corp 不揮発性半導体メモリデバイスおよびそのデータ書き込み方法、ならびに、データ記憶装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200276104Y1 (ko) 2001-12-11 2002-07-13 채용웅 싱글폴리 플레쉬메모리 프로그래밍 장치
KR100636508B1 (ko) 2004-11-11 2006-10-18 삼성에스디아이 주식회사 차지펌프 회로와 이를 이용한 직류 변환장치
KR20090069888A (ko) * 2007-12-26 2009-07-01 삼성전자주식회사 플래시 메모리 장치 및 그것의 읽기 동작 방법
JP2011014190A (ja) 2009-07-01 2011-01-20 Sony Corp 不揮発性半導体メモリデバイスおよびそのデータ書き込み方法、ならびに、データ記憶装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9620594B2 (en) 2014-09-29 2017-04-11 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory device, memory cell and memory cell layout
KR101751603B1 (ko) * 2014-09-29 2017-06-27 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 메모리 디바이스, 메모리 셀 및 메모리 셀 레이아웃
US10163920B2 (en) 2014-09-29 2018-12-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory device and memory cell
US10553597B2 (en) 2014-09-29 2020-02-04 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Memory cell including a plurality of wells
US11017829B2 (en) 2019-04-02 2021-05-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Magnetic memory device including voltage generator connected to both word line driver and write driver

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