JP2007026640A - Hpmosを用いた不揮発性メモリ装置のワードラインデコーダ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ワードラインデコーダは、不揮発性メモリ装置の駆動電圧が低くなりつつ発生する漏れ電流問題を防止するために、デプレショントランジスタのスレショルド電圧を下げた。また、VPP電圧を従来に比べて低く設定しても、セルフブーストを通じて従来のようなブロックワードライン信号の電圧レベルが得られる。
【選択図】図3
Description
302 第2インバータ
303 NMOSトランジスタ
304 第1デプレショントランジスタ
305 第2デプレショントランジスタ
307 HVNMOSトランジスタ
306 HPMOSトランジスタ
600 デコーディング部
601、603 第2及び第3HVNMOSトランジスタ
N1 第1ノード
N2 第2ノードN2
N3 第3ノードN3
N4 第4ノードN4
N5 第5ノードN5
N6 第6ノードN6
BLKi ブロック選択信号
BLKWL ブロックワードライン駆動信号
VDD 電源電圧
Claims (17)
- 不揮発性メモリ装置のブロックワードライン駆動信号を発生させるワードラインデコーダにおいて、
ブロック選択信号を入力し、これを反転して第1ノードに出力する第1インバータと、
前記第1ノードの信号を入力され、これを反転して第2ノードに出力する第2インバータと、
そのゲートが電源電圧に連結され、前記第2ノードと第3ノードとの間に直列に連結され、前記第2ノードの信号を前記第3ノードに伝達する第1及び第2トランジスタと、
前記第3ノードと第4ノードとの間に連結され、そのゲートが前記第3ノードに連結される第3トランジスタと、
高電圧端子と第5ノードとの間に連結され、高電圧がソースに連結され、そのゲートが前記第3ノードに連結される第4トランジスタと、
前記第5ノードと前記第3ノードとの間に連結され、ゲートが前記第1ノードに連結された第5トランジスタと、を備えることを特徴とするワードラインデコーダ。 - 前記第1及び第2トランジスタのうち1つのトランジスタは、デプレションNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第1及び第2トランジスタのうち他の1つのトランジスタは、NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項2に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第3トランジスタは、NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第4トランジスタは、デプレションNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第4トランジスタのスレショルド電圧は、前記ワードラインデコーダの駆動電圧より低く設定されることを特徴とする請求項5に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第5トランジスタは、PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項1に記載のワードラインデコーダ。
- 前記VPPレベルは、前記ブロックワードライン駆動信号のイネーブル電圧と実質的に同じ電圧に設定されることを特徴とする請求項1に記載のワードラインデコーダ。
- 不揮発性メモリ装置のブロックワードライン駆動信号を発生させるワードラインデコーダにおいて、
ブロック選択信号を入力し、これを反転して第1ノードに出力する第1インバータと、
前記第1ノードの信号を入力され、これを反転して第2ノードに出力する第2インバータと、
そのゲートが電源電圧に連結され、前記第2ノードと第3ノードとの間に直列に連結され、前記第2ノードの信号を前記第3ノードに伝達する第1及び第2トランジスタと、
前記第3ノードと第4ノードとの間に連結され、そのゲートが前記第3ノードに連結される第3トランジスタと、
高電圧端子と第5ノードとの間に連結され、高電圧がソースに連結され、そのゲートが前記第3ノードに連結される第4トランジスタと、
前記第5ノードと前記第3ノードとの間に連結され、ゲートが前記第1ノードに連結された第5トランジスタと、
前記高電圧端子と前記第4ノードとの間に連結され、ゲートが前記第4ノードに連結される第6トランジスタと、
前記第5ノードとグラウンドとの間に連結され、ゲートには、グラウンド選択信号が印加される第7トランジスタと、を備えることを特徴とするワードラインデコーダ。 - 前記第1及び第2トランジスタのうち1つのトランジスタは、デプレションNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第1及び第2トランジスタのうち他の1つのトランジスタは、NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項10に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第3トランジスタは、NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第4トランジスタは、デプレションNMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第4トランジスタのスレショルド電圧は、前記ワードラインデコーダの駆動電圧より低く設定されることを特徴とする請求項13に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第5トランジスタは、PMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
- 前記VPPレベルは、前記ブロックワードライン駆動信号のイネーブル電圧と実質的に同じ電圧に設定されることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
- 前記第6トランジスタ及び前記第7トランジスタは、NMOSトランジスタであることを特徴とする請求項9に記載のワードラインデコーダ。
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Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
JP2009266351A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
JP2013246844A (ja) * | 2012-05-24 | 2013-12-09 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
Families Citing this family (11)
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---|---|---|---|---|
ITMI20051578A1 (it) * | 2005-08-12 | 2007-02-13 | St Microelectronics Srl | Circuito decodificatore di riga per memorie non volatili programmabili e cancellabili elettricamente |
CN102319647A (zh) * | 2011-09-19 | 2012-01-18 | 中国烟草总公司郑州烟草研究院 | 一种小流量双流体定量雾化喷嘴装置 |
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US8395434B1 (en) * | 2011-10-05 | 2013-03-12 | Sandisk Technologies Inc. | Level shifter with negative voltage capability |
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CN103177758B (zh) * | 2011-12-22 | 2016-01-20 | 华邦电子股份有限公司 | 半导体存储装置 |
KR102381046B1 (ko) * | 2015-10-26 | 2022-03-31 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 |
JP2017228325A (ja) * | 2016-06-20 | 2017-12-28 | ウィンボンド エレクトロニクス コーポレーション | 不揮発性半導体記憶装置 |
US10395733B2 (en) * | 2017-12-21 | 2019-08-27 | Macronix International Co., Ltd. | Forming structure and method for integrated circuit memory |
US10748620B2 (en) * | 2018-03-22 | 2020-08-18 | Micron Technology, Inc. | Memory block select circuitry including voltage bootstrapping control |
IT201900001947A1 (it) * | 2019-02-11 | 2020-08-11 | Sk Hynix Inc | Struttura di decodificatore per una architettura di memoria |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000285690A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路のレイアウトパターン |
JP2002063795A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-02-28 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR0146536B1 (ko) * | 1995-05-25 | 1998-11-02 | 김광호 | 반도체 메모리의 워드라인 제어회로 |
KR100237624B1 (ko) * | 1996-10-30 | 2000-01-15 | 김영환 | 반도체 메모리장치의 로우 디코더 |
JP2001319490A (ja) * | 2000-05-12 | 2001-11-16 | Mitsubishi Electric Corp | 高電圧スイッチ回路および当該高電圧スイッチ回路を備える半導体記憶装置 |
KR100381962B1 (ko) * | 2000-08-07 | 2003-05-01 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치의 로우 디코더 |
KR100672151B1 (ko) * | 2005-03-22 | 2007-01-19 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000285690A (ja) * | 1999-01-29 | 2000-10-13 | Toshiba Corp | 半導体集積回路及び半導体集積回路のレイアウトパターン |
JP2002063795A (ja) * | 2000-06-09 | 2002-02-28 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009266351A (ja) * | 2008-04-28 | 2009-11-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置、及びその制御方法 |
JP2013246844A (ja) * | 2012-05-24 | 2013-12-09 | Toshiba Corp | 不揮発性半導体記憶装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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