KR101301537B1 - Display Module PCB inspection method - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법에 관한 것으로 더욱 구체적으로는 EEPROM VCC를 인가하는 단계와; DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와; 입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와; DATA 입력 확인에 따라서 불량 여부를 판정하는 단계와; 1.5초의 Delay Time를 주는 단계와; VIN을 ON하는 단계와; VDD를 ON하는 단계와; Signal을 ON하는 단계와; Back Light를 ON하는 단계와; ADC Board의 DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와; ADC Board의 입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와; 모니터에 출력되는 화상을 육안으로 확인하여 불량 여부를 판정하는 단계와; VIN을 Off하는 단계와; VDD를 Off하는 단계와; Signal을 Off하는 단계와; Back Light를 Off하는 단계로 구성함으로써, 최소 검사인력으로 디스플레이 모듈용 PCB의 검사를 수행할 수 있기 때문에 디스플레이 모듈용 PCB의 검사에 필요한 인건비를 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 디스플레이 모듈용 PCB의 검사에 소요되는 시간을 크게 단축함으로써 생산성이 크게 향상되는 효과가 있다.The present invention relates to a PCB inspection method for a display module, and more specifically, applying an EEPROM VCC; Inputting DATA using a DATA Writer; Checking whether the data is input correctly through the read / verity of the input data; Determining whether there is a failure according to the DATA input confirmation; Giving a delay time of 1.5 seconds; Turning on VIN; Turning on VDD; Turning on a signal; Turning on the back light; Inputting data using a data writer of the ADC board; Checking whether the data is input correctly through Read / Verity of the input data of the ADC board; Visually checking the image output to the monitor to determine whether it is defective; Turning off VIN; Turning off VDD; Turning off the signal; By configuring the back light to be off, the inspection of the PCB for the display module can be carried out with the minimum inspection force. Therefore, the labor cost required for the inspection of the display module PCB can be reduced. By greatly shortening the time required, the productivity is greatly improved.

Description

디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법 {Display Module PCB inspection method}Display module PCB inspection method for display module

본 발명은 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법에 관한 것으로 더욱 구체적으로는 전자부품이 표면 실장된 디스플레이 모듈용 PCB의 정상 작동 여부를 보다 신속하고 간편하게 검사할 수 있을 뿐만 아니라, 검사에 필요한 인력을 최소화함으로써 인건비 절감 효과를 얻을 수 있게 한 것이다.
The present invention relates to a method for inspecting a PCB for a display module. More specifically, it is possible to more quickly and simply inspect whether a display module PCB for which an electronic component is mounted is normally operated, and to minimize labor required for inspection. The savings can be achieved.

일반적으로 디스플레이 모듈용 PCB는 LCD TV나 PDP TV 또는 LCD 모니터와 같은 다양한 디스플레이의 제어를 위하여 각종 전자부품이 표면 실장 되는데, 전자부품이 표면 실장된 후 디스플레이 모듈용 PCB가 정상적으로 작동하는지의 여부를 확인하기 위하여 전기적 특성 검사와, 영상 신호 검사 등 다양한 검사를 실시하여 양품 판정을 받은 것만을 디스플레이 조립 라인으로 공급하게 된다.
In general, the display module PCB is surface-mounted to control various displays such as LCD TVs, PDP TVs or LCD monitors. After the electronic components are surface-mounted, check whether the PCB for the display module operates normally. To this end, various inspections such as electrical property inspections and video signal inspections are carried out to supply only those that have been judged good quality to the display assembly line.

그런데 종래에는 디스플레이 모듈용 PCB의 정상 작동 여부를 검사하기 위하여 ODC DATA 입력장비를 갖춘 작업대에서 한 명의 작업자가 디스플레이 모듈용 PCB에 ODC DATA를 입력한 후 입력이 완료된 디스플레이 모듈용 PCB를 적재박스에 일정 수량만큼 적재하는 ODC 입력 공정을 수행하게 된다.However, in the related art, in order to check the normal operation of the display module PCB, one worker inputs ODC DATA into the display module PCB at the workbench equipped with the ODC DATA input device, and then schedules the display module PCB in the loading box. ODC input process to load the quantity is performed.

그리하여 ODC DATA 입력이 완료된 디스플레이 모듈용 PCB가 일정 수량만큼 적재되면 ODC DATA 검사장비를 갖춘 작업대의 다른 작업자가 해당 적재박스를 가져가 적재박스에 담긴 디스플레이 모듈용 PCB를 하나씩 꺼낸 후 디스플레이 모듈용 PCB에 입력된 ODC DATA가 정상적으로 입력되었는지를 프로그램 구동을 통해서 확인하여 ODC DATA가 정상적으로 입력된 디스플레이 모듈용 PCB는 양품박스에 적재하고, ODC DATA가 정상적으로 입력되지 않은 디스플레이 모듈용 PCB는 수리품박스에 적재하여 별도의 수리공정으로 보내어지도록 구분하는 ODC 확인 공정을 수행하게 된다.Thus, when a certain quantity of the display module PCB has been loaded with ODC DATA input, another worker on the workbench equipped with the ODC DATA inspection equipment takes the corresponding loading box and takes out the display module PCBs contained in the loading box one by one and puts them on the display module PCB. Check whether the input ODC DATA is inputted normally through program operation, and load the PCB for display module in which ODC DATA is normally input into the good box, and load the PCB for display module in which ODC DATA is not normally input in the repair box. ODC check process to be sent to the repair process of the will be performed.

그리하여 ODC DATA가 정상적으로 입력된 디스플레이 모듈용 PCB가 담긴 양품박스는 디스플레이 성능검사 장비를 갖춘 작업대의 또 다른 작업자가 가져가 양품박스에 담긴 디스플레이 모듈용 PCB를 하나씩 꺼내어 디스플레이 성능검사 장비에 연결한 후 작업자가 육안으로 색상과 패턴신호를 검사하는 영상 신호 검사를 수행함과 동시에 전기적 특성 검사를 수행하여 양품인 디스플레이 모듈용 PCB는 양품박스에 적재하고, 영상 신호 검사와 정기적 특성 검사를 통과하지 못한 디스플레이 모듈용 PCB는 수리품박스에 적재하여 별도의 수리공정으로 보내어지도록 하는 성능 검사 공정을 수행하게 된다.
Thus, the product box containing the PCB for display module with ODC DATA input normally is taken by another worker on the workbench equipped with display performance test equipment, and the display module PCBs in the product box are taken out one by one and connected to the display performance test equipment. In addition to visual inspection of color and pattern signals with the naked eye, electrical characteristic inspections are performed at the same time, and the display module PCB, which is a good product, is loaded in a good box, and the display module does not pass the video signal inspection and periodic characteristic inspection. The PCB is loaded into a repair box and performs a performance test process to be sent to a separate repair process.

따라서 종래에는 디스플레이 모듈용 PCB의 정상 작동 여부를 검사하는데 여러 명의 검사인력이 필요로 함으로써 인건비 상승 요인이 될 뿐만 아니라, 공정간의 디스플레이 모듈용 PCB 이동에 따른 시간이 소요되고, 개별 검사 공정에도 많은 시간이 소요됨으로써 생산성이 떨어지는 문제점이 있었다.
Therefore, in the related art, it is not only a labor cost increase factor that requires several inspectors to inspect the normal operation of the display module PCB, but also a large amount of time due to the movement of the display module PCB between the processes and a lot of time for the individual inspection process. There was a problem that the productivity is lowered by this.

본 발명은 위와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위하여 안출한 것으로서 본 발명의 목적은 디스플레이 모듈용 PCB의 검사 과정을 연속적으로 처리할 수 있도록 함으로써 검사인력을 감축함과 동시에 생산성 향상 효과를 얻을 수 있게 한 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법을 제공하는 데 있다.
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to reduce the manpower and at the same time to improve the productivity by allowing to continuously process the inspection process of the display module PCB. To provide a PCB inspection method for a display module.

EEPROM VCC를 인가하는 단계와;Applying an EEPROM VCC;

DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와;Inputting DATA using a DATA Writer;

입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와;Checking whether the data is input correctly through the read / verity of the input data;

DATA 입력 확인에 따라서 불량 여부를 판정하는 단계와;Determining whether there is a failure according to the DATA input confirmation;

삭제delete

1.5초의 Delay Time를 주는 단계와;Giving a delay time of 1.5 seconds;

VIN을 ON하는 단계와;Turning on VIN;

VDD를 ON하는 단계와;Turning on VDD;

Signal을 ON하는 단계와;Turning on a signal;

Back Light를 ON하는 단계와;Turning on the back light;

ADC Board의 DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와;Inputting data using a data writer of the ADC board;

ADC Board의 입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와;Checking whether the data is input correctly through Read / Verity of the input data of the ADC board;

모니터에 출력되는 화상을 육안으로 확인하여 불량 여부를 판정하는 단계와;Visually checking the image output to the monitor to determine whether it is defective;

VIN을 Off하는 단계와;Turning off VIN;

VDD를 Off하는 단계와;Turning off VDD;

Signal을 Off하는 단계와;Turning off the signal;

Back Light를 Off하는 단계로 구성된다.
It consists of turning off the Back Light.

본 발명은 여러 단계로 구분되는 디스플레이 모듈용 PCB 검사를 연속적으로 처리할 수 있도록 함으로써 최소 검사인력으로 디스플레이 모듈용 PCB의 검사를 수행할 수 있기 때문에 디스플레이 모듈용 PCB의 검사에 필요한 인건비를 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 디스플레이 모듈용 PCB의 검사에 소요되는 시간을 크게 단축함으로써 생산성이 크게 향상되는 효과가 있다.
The present invention can reduce the labor cost required for the inspection of the display module PCB because the inspection of the display module PCB can be performed with a minimum inspection force by being able to continuously process the inspection of the PCB for display module divided into several stages. In addition, there is an effect that the productivity is greatly improved by significantly reducing the time required for inspection of the display module PCB.

도 1은 본 발명의 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법을 순차적으로 나타낸 플로우 차트1 is a flow chart sequentially showing a PCB inspection method for a display module of the present invention

이하, 본 발명을 첨부된 도면에 의하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.

첨부된 도면들 중에서 동일한 구성 요소들은 가능한 어느 도면에서든지 동일한 부호를 사용하고 있음을 유의해야 하며, 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지 기능 또는 공지 구성에 대한 상세한 설명은 생략하였음을 미리 밝혀두는 바이다.
It is to be noted that like elements in the accompanying drawings use the same reference numerals in any of the drawings, and detailed descriptions of well-known functions or known configurations that may unnecessarily obscure the gist of the present invention are omitted. Come on.

첨부도면 도 1은 본 발명의 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법을 순차적으로 나타낸 플로우 차트 도면으로서 도면에서 도시한 바와 같이 디스플레이 모듈용 PCB 검사하기 위해서는 먼저 디스플레이 모듈용 PCB의 DATA 입력용 접점부가 아래로 향하도록 하여 DATA Writer의 고정지그에 정확한 위치가 고정되도록 세팅하면, DATA Writer에서 돌출 형성된 접지핀이 디스플레이 모듈용 PCB의 DATA 입력용 접점부와 연접된다.1 is a flowchart illustrating a method for inspecting a PCB for a display module according to an embodiment of the present invention. In order to inspect the PCB for a display module as shown in the drawing, first, the data input contact point of the PCB for the display module is directed downward. When the correct position is fixed to the fixing jig of the data writer, the ground pin protruding from the data writer is connected with the contact point for data input of the PCB for display module.

이때, Start Switch를 선택하면, DATA Writer에서 돌출 형성된 접지핀과, 디스플레이 모듈용 PCB의 DATA 입력용 접점부의 압착이 이루어지면서 EEPROM VCC이 인가되는 단계를 거친 후 화면 구동을 위한 DATA의 입력이 이루어지게 된다.
At this time, if the start switch is selected, the ground pin protruding from the data writer and the contact point of the data input contact point of the display module PCB are pressed and the EEPROM VCC is applied. do.

그리하여 DATA의 입력이 완료되면, 입력된 DATA를 읽어서 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하여 DATA Read/Verity가 정상적으로 이루어지면, 해당 디스플레이 모듈용 PCB는 양품으로 판정하고, DATA Read/Verity가 정상적으로 이루어지지 않으면, 해당 디스플레이 모듈용 PCB는 불량품으로 판정하는 단계를 수행하게 된다.
Therefore, when the input of data is completed, read the inputted data to check if the data is input correctly and if the data read / verity is done normally, the display module PCB is judged as good quality, and if the data read / verity is not done normally In this case, the display module PCB performs a step of determining a defective product.

앙품으로 판정이 나면, 1.5초의 Delay Time를 주는 단계를 거친 후 VIN을 ON하는 단계와, VDD를 ON하는 단계와, Signal을 ON하는 단계와, Back Light를 ON하는 단계를 연속적으로 수행함으로써 디스플레이 구동 신호가 생성되어 모니터를 통해 영상 화면을 출력하게 된다.If it is determined that the product is defective, the display is driven by continuously turning on the VIN, turning on VDD, turning on the signal, and turning on the back light after passing the delay time of 1.5 seconds. The signal is generated to output the video screen through the monitor.

따라서 작업자는 모니터에서 출력된 이미지 패턴 화면 또는 일반 영상 화면을 육안으로 확인하여 영상 신호 검사와 정기적 특성 검사를 동시에 수행함으로써 디스플레이 모듈용 PCB의 정상 작동 유무를 확인한 후 디스플레이 모듈용 PCB의 불량 여부를 다시 판정하게 된다.
Therefore, the operator visually checks the image pattern screen or general video screen output from the monitor and performs the video signal inspection and the periodic characteristic test at the same time to confirm the normal operation of the display module PCB, and then check whether the PCB for the display module is defective again. It is determined.

그리하여 정상 판정이 된 디스플레이 모듈용 PCB는 VIN을 Off하는 단계와, VDD를 Off하는 단계와, Signal을 Off하는 단계와, Back Light를 Off하는 단계를 연속적으로 수행한 후 최종 배출됨으로써 디스플레이 모듈용 PCB에 대한 성능 검사가 완료되는데, 이러한 성능 검사 과정은 1~2명의 검사 인력으로도 모든 검사 과정의 완료가 가능하기 때문에 디스플레이 모듈용 PCB의 성능 검사에 필요한 인력을 최소화할 수 있게 된다.Thus, the display module PCB which has been determined to be normal is finally discharged after performing the steps of turning off VIN, turning off VDD, turning off signal, and turning off back light. The performance test is completed. This performance test process can be completed by one or two inspection personnel, thereby minimizing the manpower required for the performance inspection of the PCB for the display module.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였으나,본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형 실시나 응용이 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형 실시나 응용 예는 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해돼서는 안 될 것이다.
Although the above has been illustrated and described with respect to the preferred embodiments of the present invention, the present invention is not limited to the above-described specific embodiments, it is usually in the technical field to which the invention belongs without departing from the spirit of the invention claimed in the claims. Various modifications or applications may be made by those skilled in the art, and such modifications or applications should not be individually understood from the technical spirit or prospect of the present invention.

Claims (1)

EEPROM VCC를 인가하는 단계와; DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와; 입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와; DATA 입력 확인에 따라서 불량 여부를 판정하는 단계와; 1.5초의 Delay Time를 주는 단계와; VIN을 ON하는 단계와; VDD를 ON하는 단계와; Signal을 ON하는 단계와; Back Light를 ON하는 단계와; ADC Board의 DATA Writer를 이용해 DATA를 입력하는 단계와; ADC Board의 입력된 DATA의 Read/Verity를 통해 DATA 입력이 정확히 이루어졌는지 확인하는 단계와; 모니터에 출력되는 화상을 육안으로 확인하여 불량 여부를 판정하는 단계와; VIN을 Off하는 단계와; VDD를 Off하는 단계와; Signal을 Off하는 단계와; Back Light를 Off하는 단계로 구성되는 디스플레이 모듈용 PCB 검사 방법.
Applying an EEPROM VCC; Inputting DATA using a DATA Writer; Checking whether the data is input correctly through the read / verity of the input data; Determining whether there is a failure according to the DATA input confirmation; Giving a delay time of 1.5 seconds; Turning on VIN; Turning on VDD; Turning on a signal; Turning on the back light; Inputting data using a data writer of the ADC board; Checking whether the data is input correctly through Read / Verity of the input data of the ADC board; Visually checking the image output to the monitor to determine whether it is defective; Turning off VIN; Turning off VDD; Turning off the signal; PCB inspection method for display module consisting of the step of turning off the back light.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113552468B (en) * 2021-07-15 2024-04-09 苏州浚泰新能源设备有限公司 Quality detection and use method of PCB

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040020102A (en) * 2002-08-29 2004-03-09 (주)동아엘텍 An aging test apparatus for a LCD module
KR100831848B1 (en) 2007-10-18 2008-05-22 옥순봉 Apparatus and method for testing lcd control board
KR20100089146A (en) * 2009-02-03 2010-08-12 삼성전자주식회사 Test method of display pannel and test apparatus for performing the same
KR20110024260A (en) * 2009-09-01 2011-03-09 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for detecting liquid crystal display panel and method for detecting the same

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040020102A (en) * 2002-08-29 2004-03-09 (주)동아엘텍 An aging test apparatus for a LCD module
KR100831848B1 (en) 2007-10-18 2008-05-22 옥순봉 Apparatus and method for testing lcd control board
KR20100089146A (en) * 2009-02-03 2010-08-12 삼성전자주식회사 Test method of display pannel and test apparatus for performing the same
KR20110024260A (en) * 2009-09-01 2011-03-09 엘지디스플레이 주식회사 Apparatus for detecting liquid crystal display panel and method for detecting the same

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