KR101232475B1 - Glass frit for photosensitive conductive paste - Google Patents

Glass frit for photosensitive conductive paste Download PDF

Info

Publication number
KR101232475B1
KR101232475B1 KR1020107016319A KR20107016319A KR101232475B1 KR 101232475 B1 KR101232475 B1 KR 101232475B1 KR 1020107016319 A KR1020107016319 A KR 1020107016319A KR 20107016319 A KR20107016319 A KR 20107016319A KR 101232475 B1 KR101232475 B1 KR 101232475B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
conductive paste
photosensitive
glass
glass frit
sio
Prior art date
Application number
KR1020107016319A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20100094591A (en
Inventor
가즈히로 니시카와
고지 도미나가
Original Assignee
샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드 filed Critical 샌트랄 글래스 컴퍼니 리미티드
Publication of KR20100094591A publication Critical patent/KR20100094591A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101232475B1 publication Critical patent/KR101232475B1/en

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/22Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising metals or alloys
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/04Glass compositions containing silica
    • C03C3/062Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight
    • C03C3/064Glass compositions containing silica with less than 40% silica by weight containing boron
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C3/00Glass compositions
    • C03C3/12Silica-free oxide glass compositions
    • C03C3/16Silica-free oxide glass compositions containing phosphorus
    • C03C3/21Silica-free oxide glass compositions containing phosphorus containing titanium, zirconium, vanadium, tungsten or molybdenum
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/04Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing zinc
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/02Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form
    • C03C8/08Frit compositions, i.e. in a powdered or comminuted form containing phosphorus
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C8/00Enamels; Glazes; Fusion seal compositions being frit compositions having non-frit additions
    • C03C8/14Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions
    • C03C8/18Glass frit mixtures having non-frit additions, e.g. opacifiers, colorants, mill-additions containing free metals
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/0047Photosensitive materials characterised by additives for obtaining a metallic or ceramic pattern, e.g. by firing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)

Abstract

연화점이 480~540℃이고, 굴절률이 1.5~1.7의 범위 내에 있으며, 도전성 분말 및 감광성 유기성분을 필수성분으로 하는 감광성 도전 페이스트 중에 5~50 질량% 함유되는, 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿(glass frit)이 개시되어 있다.Glass frit for photosensitive conductive paste, having a softening point of 480 to 540 ° C., having a refractive index in the range of 1.5 to 1.7, and containing 5 to 50% by mass in a photosensitive conductive paste containing conductive powder and a photosensitive organic component as essential components. ) Is disclosed.

Description

감광성 도전 페이스트용 유리 프릿{Glass frit for photosensitive conductive paste}Glass frit for photosensitive conductive paste

본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널, 플라즈마 어드레스 액정표시 패널, 기타 전기·전자회로에 있어서의 고정세 패턴 형성에 사용되는 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to glass frits for photosensitive conductive pastes used for forming high-definition patterns in plasma display panels, plasma address liquid crystal display panels, and other electrical and electronic circuits.

[발명의 배경][Background of invention]

최근, 회로재료와 디스플레이에 있어서, 소형화, 고밀도화, 고정세화, 고신뢰성의 요구가 높아지고 있고, 그에 따라, 패턴 가공기술도 기술향상이 요망되고 있다. 특히, 도체 회로 패턴의 미세화는 소형화, 고밀도화에는 불가결한 요구로서 각종 방법이 제안되어 있다.In recent years, the demand for miniaturization, high density, high definition, and high reliability has increased in circuit materials and displays, and accordingly, there is a demand for technological improvement in pattern processing technology. In particular, various methods have been proposed as miniaturization of conductor circuit patterns, which are indispensable for miniaturization and high density.

예를 들면, 플라즈마 디스플레이 패널(PDP)은, 액정 패널에 비해 고속의 표시가 가능하며, 또한 대형화가 용이한 것으로부터, OA기기 및 정보 표시장치 등의 분야에 침투하고 있다. 또한, 고품위 텔레비전의 분야 등에서의 진전이 매우 기대되고 있다. For example, plasma display panels (PDPs) are capable of high-speed display compared to liquid crystal panels, and are easy to enlarge in size, and thus have penetrated into fields such as OA devices and information display devices. In addition, progress in the field of high quality television and the like is very expected.

이러한 용도의 확대에 수반하여, PDP는 미세하고 다수의 표시 셀을 갖는 컬러 PDP가 주목되고 있다. PDP는 전면 유리 기판과 배면 유리 기판 사이에 구비된 방전공간 내에서 대항하는 애노드 및 캐소드 전극 간에 플라즈마 방전을 발생시켜, 상기 방전공간 내에 봉입되어 있는 가스로부터 발광시킴으로써 표시를 행하는 것이다. 이 경우, 유리 기판 상의 애노드 및 캐소드 전극은, 복수 개의 선상 전극을 평행하게 배치하여, 서로의 전극이 근소한 간극을 매개로 대항하며, 또한 서로의 선상 전극이 교차하는 방향을 향하도록 겹쳐서 구성된다. PDP 중에서, 형광체에 의한 컬러 표시에 적합한 3전극구조의 면방전형 PDP는, 서로 평행하게 인접한 한쌍의 표시전극으로 되는 복수의 전극쌍과, 각 전극쌍과 직교하는 복수의 어드레스 전극을 갖는다. With the expansion of this use, the color PDP which has a fine PDP and many display cells attracts attention. The PDP displays plasma by generating plasma discharge between opposing anode and cathode electrodes in a discharge space provided between the front glass substrate and the rear glass substrate and emitting light from a gas enclosed in the discharge space. In this case, the anode and the cathode electrodes on the glass substrate are arranged so that a plurality of linear electrodes are arranged in parallel, so that the electrodes of each other face each other through a slight gap, and overlap each other so as to face in the direction in which the mutual linear electrodes cross. Among the PDPs, the surface discharge type PDP having a three-electrode structure suitable for color display by phosphors has a plurality of electrode pairs that are a pair of display electrodes adjacent to each other in parallel and a plurality of address electrodes orthogonal to each electrode pair.

상기 어드레스 전극은, 통상 스크린 인쇄법으로 어드레스 전극에 대응하는 마스크 패턴을 가진 인쇄 마스크를 사용하여, 유리 기판 상에 은 페이스트 등의 도전 페이스트를 인쇄한 후 소성하여 형성된다. 그러나, 스크린 인쇄법에서는, 마스크 패턴 정도(精度), 스퀴즈 경도, 인쇄 속도, 분산성 등의 최적화를 도모해도 전극 패턴의 폭을 100 ㎛ 이하로 좁게 할 수 없어, 파인패턴화에는 한계가 있었다. 또한, 스크린 인쇄에 의한 방법에서는, 인쇄 마스크의 정도는, 마스크 제판의 정도에 의존하기 때문에 인쇄 마스크가 커지면 마스크 패턴의 치수 오차가 커져 버린다. 이 때문에 30인치 이상의 대면적의 PDP의 경우에, 고정세 PDP 제작이 점점 기술적으로 곤란해지고 있다.The address electrode is formed by printing a conductive paste such as silver paste on a glass substrate and firing the same using a printing mask having a mask pattern corresponding to the address electrode by screen printing. However, in the screen printing method, even if the optimization of the mask pattern accuracy, squeeze hardness, printing speed, dispersibility, etc., the width | variety of an electrode pattern could not be narrowed to 100 micrometers or less, and fine patterning had a limit. Moreover, in the screen printing method, since the degree of a printing mask depends on the degree of mask making, a dimension error of a mask pattern will become large when a printing mask becomes large. For this reason, in the case of a large area PDP of 30 inches or more, production of a high-definition PDP is becoming increasingly difficult technically.

또한, PDP에는 투과형과 반사형이 있는데, 반사형에서는 배면 유리의 발광층측에 어드레스 전극 및 절연층의 격벽(리브)이 설치되고, 그 뒤에 형광체가 형성되어 있다. 어드레스 전극을 도전 페이스트로 인쇄하고, 건조시킨 후, 격벽용 인쇄 마스크에 의해 절연 유리 페이스트를 소정의 높이, 폭에 따라 다르나, 소성 전의 높이 200 ㎛의 격벽에서는, 15회 이상 겹쳐서 인쇄한다. 그 후, 도전 페이스트 및 절연 페이스트를 일괄 소성하여 어드레스 전극 및 격벽을 형성한다. 그러나, 대형의 PDP가 되면 될수록 유리 기판의 일단을 기준으로 하여, 격벽용 위치 맞춤을 행하면, 유리 기판의 타단에서는, 이미 도전 페이스트의 패턴 피치(인쇄 마스크의 치수 정도(精度)에 의존함)와 격벽용 인쇄 마스크의 패턴 피치가 누적되는 것으로부터, 어드레스 전극과 격벽 사이에 커다란 위치 어긋남이 생겨 버린다. 이 때문에 고정세 전극 패턴이 얻어지지 않아, 대형화도 매우 제한되게 되어, 문제점의 해결이 필요해져 있다.In the PDP, there are a transmissive type and a reflective type. In the reflective type, an address electrode and a partition wall (rib) of an insulating layer are provided on the light emitting layer side of the back glass, and a phosphor is formed thereafter. After printing an address electrode with an electrically conductive paste and drying, an insulating glass paste is printed according to a predetermined height and width by a barrier printing mask, but is overlaid and printed 15 times in a barrier rib having a height of 200 µm before firing. Thereafter, the conductive paste and the insulating paste are baked together to form an address electrode and a partition wall. However, the larger the size of the PDP is, the more the PDP is aligned with respect to one end of the glass substrate. At the other end of the glass substrate, the pattern pitch of the conductive paste (depending on the precision of the printing mask) and Since the pattern pitch of the partition printing mask accumulates, a large position shift occurs between the address electrode and the partition wall. For this reason, a high-definition electrode pattern cannot be obtained, and the enlargement becomes very limited, and the problem needs to be solved.

이들 스크린 인쇄의 결점을 개량하는 방법으로서, 절연 페이스트를 소성 후, 도전 페이스트를 인쇄하고, 소성하여 전극형상의 개량을 도모한 것과, 애노드의 전극 형성에 포토리소그래피 기술을 사용한 것 및 포토레지스트를 사용한 포토리소그래피 기술에 의한 도전 페이스트가 제안되어 있다(특허문헌 1~3 참조).As a method of improving the shortcomings of these screen printings, after the insulating paste is fired, the conductive paste is printed and fired to improve the electrode shape, the photolithography technique is used for forming the anode electrode, and the photoresist is used. The electrically conductive paste by photolithography technique is proposed (refer patent documents 1-3).

특허문헌 1: 일본국 특허공개 평1-206538호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Application Laid-open No. Hei 1-206538

특허문헌 2: 일본국 특허공개 평1-296534호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-296534

특허문헌 3: 일본국 특허공개 소63-205255호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-205255

[발명의 개요]SUMMARY OF THE INVENTION [

그러나, 기존 기술의 것은, 최근 요구되고 있는 보다 미세한 패턴 형성에 더하여 저저항과 대형화를 동시에 만족하는 기술로서는, 충분하지 않았다.However, the existing technology is not sufficient as a technology that satisfies low resistance and enlargement at the same time in addition to the finer pattern formation which is recently required.

보다 미세한 패턴 형성에 있어서, 포토리소그래피 기술이 필요하고, 이를 위해서는 전극으로서의 도전성 이외에, 감광성이 요구되나, 페이스트의 유기성분과 유리성분의 굴절률이 상이하면, 양 계면에서 난반사를 일으켜, 정세한 패턴이 얻어지지 않는다.In finer pattern formation, a photolithography technique is required. For this purpose, in addition to electroconductivity as an electrode, photosensitivity is required, but when the refractive indices of the organic and glass components of the paste are different, diffuse reflection occurs at both interfaces, and a fine pattern is obtained. I do not lose.

또한, 저저항을 추구하면 페이스트 중의 도전성 분말을 많게 하면 좋다고 생각되나, 유리 기판과의 부착강도를 올리기 위해서는, 페이스트 중의 유리성분이 필요하여, 이 양과 성분은 매우 중요하다. 기판과의 접착에는 열팽창계수를 기판에 일치시키고, 또한 열화온도는 낮을 필요도 있다.In addition, when low resistance is pursued, it is considered that the conductive powder in the paste may be increased. However, in order to increase the adhesion strength with the glass substrate, the glass component in the paste is required, and this amount and component are very important. For adhesion with the substrate, the thermal expansion coefficient must be matched to the substrate, and the deterioration temperature also needs to be low.

또한, 미세한 패턴을 정도(精度)좋게 제작할 수 있도록 하기 위해서는, 프릿의 입경도 중요하나, 이 직경은 작으면 좋은 것이 아니라, 유리의 성분과 접착성·소결성의 균형이 필요해진다.In addition, in order to be able to produce a fine pattern with high accuracy, the particle size of the frit is also important, but this diameter is not good, but the balance of adhesiveness and sintering of the glass component is necessary.

이와 같이, 도전성 페이스트에 요구되는 조성과 성질은, 회로재료와 디스플레이의 진보에 따라 끊임없이 변화하고 있어, 그것을 만족시키는 페이스트 재료에는 새로운 성능이 요구되는 것이 현재 상황이다.As such, the composition and properties required for the conductive paste are constantly changing with advances in circuit materials and displays, and the current situation is that new performance is required for paste materials that satisfy them.

본 발명에 의하면, 연화점이 480~540℃이고, 굴절률이 1.5~1.7의 범위 내에 있으며, 도전성 분말 및 감광성 유기성분을 필수성분으로 하는 감광성 도전 페이스트 중에 5~50 질량% 함유되는, 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿이 제공된다.According to this invention, softening point is 480-540 degreeC, refractive index exists in the range of 1.5-1.7, and 5-50 mass% is contained in the photosensitive electrically conductive paste which has electroconductive powder and the photosensitive organic component as an essential component for the photosensitive electrically conductive paste Glass frit is provided.

상기 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿에서는, 30℃~300℃에 있어서의 열팽창계수가 95×10-7/℃~115×10-7/℃여도 된다.In the photosensitive conductive paste for the glass frit, the thermal expansion coefficient of the 30 ℃ ~ 300 ℃ 95 × 10 -7 / ℃ ~ 115 × 10 or may be -7 / ℃.

[상세한 설명][details]

감광성 도전 페이스트용 유리 프릿에 있어서, 포토리소그래피법에 의해 고정세의 패턴 해상도가 얻어지고, 또한, 저저항을 갖는 전극 패턴을 형성할 수 있으며, 추가적으로, 유리 프릿과 유기성분의 반응에 따른 페이스트의 증점을 억제할 수 있는 유리 프릿을 제공할 수 있다.In the glass frit for photosensitive conductive paste, a high-definition pattern resolution can be obtained by the photolithography method, and an electrode pattern having low resistance can be formed, and in addition, the paste according to the reaction of the glass frit and the organic component can be formed. A glass frit can be provided which can suppress the thickening.

본 발명은 도전 페이스트에 감광성을 부여하고, 여기에 포토리소그래피 기술을 사용하여, 미세하고 저저항의 전극을 효율적으로 형성할 수 있도록 하는 것이다.The present invention imparts photosensitivity to a conductive paste and uses photolithography technology to enable formation of fine and low resistance electrodes efficiently.

사용되는 도전성 분말은, 도전성을 갖는 분말이면 되나, 바람직하게는 Ag, Au, Pd, Ni, Cu, Al 및 Pt의 군으로부터 선택되는 1종 이상을 포함하는 것으로, 유리 기판 상에 600℃ 이하의 온도에서 소부(燒付)할 수 있는 저저항의 도전성 분말이 사용된다.The conductive powder to be used may be a powder having conductivity, but is preferably one or more selected from the group of Ag, Au, Pd, Ni, Cu, Al, and Pt, and is 600 ° C. or less on a glass substrate. Low resistance electroconductive powder which can be baked at temperature is used.

본 발명에 있어서, 유리 프릿은 도전성 분말을 유리 기판 상에 강고하게 소부하는 것이 가능하고, 또한 도전성 분말을 소결하기 위한 소결 보조제의 효과와 도체 저항을 낮추는 효과가 있다.In the present invention, the glass frit is capable of firmly baking the conductive powder on the glass substrate, and has the effect of lowering the effect of the sintering aid for sintering the conductive powder and the conductor resistance.

본 발명의 감광성 도전 페이스트는, 질량%로 SiO2를 0~9, B2O3를 50~55, Al2O3를 12~20, ZnO를 0~12, MgO, CaO, SrO, BaO 중, 적어도 1종 이상을 5~17, Li2O, Na2O, K2O 중, 적어도 1종 이상을 10~20, P2O5를 0~10, ZrO2를 0~3 포함하는 유리 프릿을 5~50 질량 함유하는 것이 바람직하다. 이 범위이면 500~600℃에서 도체막을 유리 기판 상에 강고하게 소부할 수 있는 유리 프릿이 얻어진다.In the photosensitive conductive paste of the present invention, SiO 2 is 0 to 9, B 2 O 3 is 50 to 55, Al 2 O 3 is 12 to 20, ZnO is 0 to 12, MgO, CaO, SrO, and BaO in mass%. the, at least one or more 5 ~ 17, Li 2 O, Na 2 O, K 2 O of the glass including at least one or more 10 ~ 20, P 2 O 5 to the 0 ~ 10, ZrO 2 0 ~ 3 It is preferable to contain 5-50 mass of frit. If it is this range, the glass frit which can firmly bake a conductor film on a glass substrate at 500-600 degreeC is obtained.

SiO2는 유리형성 성분으로, 다른 유리형성 성분인 B2O3와 공존시킴으로써, 안정한 유리를 형성할 수 있는 것으로, 9%(질량%, 이하에 있어서도 동일하다)까지 함유할 수 있다. 9%보다 많아지면 내열온도가 증가하여, 600℃ 이하에서 유리 기판 상에 소부가 어려워진다.SiO 2 is a glass forming component, which can form stable glass by coexisting with B 2 O 3 , which is another glass forming component, and may contain up to 9% (mass%, which is the same also below). If it exceeds 9%, heat resistance temperature will increase and baking will become difficult on a glass substrate below 600 degreeC.

B2O3는 SiO2와 동일한 유리형성 성분으로, 유리 용융을 용이하게 하여, 도전 페이스트의 전기절연성, 강도, 열팽창계수 등의 전기, 기계 및 열적 특성을 손상시키지 않도록 소부온도를 500~600℃의 범위 내로 제어하기 위해 배합된다. 유리 중에 50~55%로 함유시키는 것이 바람직하다. 50% 미만에서는 유리의 유동성이 불충분해져, 소결성이 손상되어 밀착강도가 저하되는 한편, 55%를 초과하면 유리의 연화점이 지나치게 높아져, 소결성이 손상된다. 보다 바람직하게는 50~53%의 범위이다.B 2 O 3 is the same glass-forming component as SiO 2, and facilitates glass melting, so that the baking temperature is 500 to 600 ° C. so as not to damage the electrical, mechanical and thermal properties such as electrical insulation, strength, and coefficient of thermal expansion of the conductive paste. It is formulated to control in the range of. It is preferable to make it contain in 50 to 55% in glass. If it is less than 50%, the fluidity of glass will become inadequate, sinterability will be impaired and adhesive strength will fall, while if it exceeds 55%, the softening point of glass will become high too much and sinterability will be impaired. More preferably, it is 50 to 53% of range.

ZnO는 유리의 연화점을 낮추고, 열팽창계수를 적절한 범위로 조정하는 것으로, 유리 중에 12%까지 함유할 수 있다. 12%를 초과하면 페이스트 중의 감광성 성분과 반응하여 단시간에 페이스트의 점도가 상승하게 된다. 보다 바람직하게는 0~6%의 범위이다.ZnO lowers the softening point of the glass and adjusts the thermal expansion coefficient to an appropriate range, and may contain up to 12% in the glass. When it exceeds 12%, the viscosity of the paste rises in a short time by reacting with the photosensitive component in the paste. More preferably, it is 0 to 6% of range.

Al2O3는 유리에 적절한 유동성을 부여하고, 또한, 유리의 내화학성을 높이는 작용이 있어, 12~20% 함유시킨다. 12% 미만에서는 유리의 내화학성이 불충분해지고, 유리 중의 알칼리 이온의 용출량이 많아져 페이스트의 점도가 상승하게 된다. 20%를 초과하면 유리의 유동성이 악화되어, 소결성이 손상된다. 보다 바람직하게는 13~17%의 범위이다.Al 2 O 3 imparts adequate fluidity to the glass, and also has a function of increasing the chemical resistance of the glass, and the content is 12 to 20%. If it is less than 12%, the chemical resistance of glass will become inadequate, and the elution amount of the alkali ion in glass will increase, and the viscosity of a paste will rise. If it exceeds 20%, the flowability of the glass deteriorates, and the sintering property is impaired. More preferably, it is 13 to 17% of range.

MgO, CaO, SrO, BaO는 유리에 적절히 유동성을 부여하여, 유리의 내화학성을 높이는 효과가 있어, 이들의 적어도 1종류 이상을 5~17% 함유시킨다. 5% 미만에서는 유리의 내화학성이 불충분해지고, 유리 중의 알칼리 이온의 용출량이 많아져 페이스트의 점도가 상승하게 되는 한편, 17%를 초과하면 유리의 열팽창계수가 지나치게 높아진다.MgO, CaO, SrO, and BaO impart fluidity to the glass as appropriate, and have an effect of increasing the chemical resistance of the glass, and contain at least one or more of these at least 5 to 17%. If it is less than 5%, the chemical resistance of the glass will be insufficient, the amount of alkali ions in the glass will increase, and the viscosity of the paste will rise, while if it exceeds 17%, the coefficient of thermal expansion of the glass will be too high.

R2O(Li2O, Na2O, K2O)는 유리의 연화점을 낮추고, 적절히 유동성을 부여하며, 열팽창계수를 적절한 범위로 조정하는 것으로, 이들의 적어도 1종류 이상을 10~20%의 범위에서 함유시키는 것이 바람직하다. 10% 미만에서는 상기 작용을 발휘할 수 없는 한편, 20%를 초과하면 열팽창계수를 과도하게 상승시키는 동시에, 유리 중의 알칼리 이온의 용출량이 많아져 페이스트의 점도가 상승하게 된다.R 2 O (Li 2 O, Na 2 O, K 2 O) is to lower the softening point of the glass, to impart fluidity appropriately, and to adjust the coefficient of thermal expansion to an appropriate range. It is preferable to contain in the range of. If it is less than 10%, the above effect cannot be exhibited, while if it exceeds 20%, the coefficient of thermal expansion is excessively increased, and the amount of alkali ions in the glass is increased, resulting in an increase in the viscosity of the paste.

또한, Li2O/K2O의 질량비를 0.2~0.5, Na2O/K2O의 질량비를 0.6~1.5로 함으로써, 유리 중의 알칼리 이온의 용출량을 억제할 수 있다. 이 범위를 일탈하면 유리 중의 알칼리 이온의 용출량이 많아져 페이스트의 점도가 상승하게 된다.Further, it is possible to suppress the elution of alkali ions in the glass, by the mass ratio of the mass ratio of Li 2 O / K 2 O 0.2 ~ 0.5, Na 2 O / K 2 O of 0.6 to 1.5. Departing from this range increases the amount of alkali ions eluted in the glass, and the viscosity of the paste rises.

P2O5는 유리형성 성분으로, 다른 유리형성 성분인 SiO2와 공존시킴으로써, 안정한 유리를 형성하는 동시에 내화학성을 높일 수 있는 것으로, 0~10% 함유시킨다. 10%를 초과하면 연화점이 높아지고, 유동성이 불충분해지며, 소결성이 손상된다. 또한, SiO2와의 공존량은 SiO2+P2O5를 2~10%로 하는 것이 바람직하다. 2% 미만에서는 유리의 형성이 불안정해지는 한편, 10%를 초과하면 유리의 유동성이 저하되어, 치밀한 소결체를 얻는 것이 곤란해진다.P 2 O 5 is a glass forming component, and coexists with SiO 2 , which is another glass forming component, to form stable glass and increase chemical resistance, and is contained in an amount of 0 to 10%. If it exceeds 10%, the softening point becomes high, the fluidity is insufficient, and the sintering property is impaired. In addition, the amount of co-existence with the SiO 2 is preferably an SiO 2 + P 2 O 5 from 2 to 10%. If it is less than 2%, the formation of the glass becomes unstable, while if it exceeds 10%, the flowability of the glass is lowered, and it becomes difficult to obtain a dense sintered body.

ZrO2는 유리의 내화학성을 높이는 효과가 있어, 0~3%의 범위에서 함유시킨다. 보다 바람직하게는, 0.1~3%의 범위이다.ZrO 2 has the effect of improving the chemical resistance of the glass and is contained in the range of 0 to 3%. More preferably, it is 0.1 to 3% of range.

유리 프릿의 입자경은, 최대입자경을 8 ㎛ 이하로 한다. 8 ㎛를 초과하면 감광성 도전 페이스트를 고밀도화, 고정세화하여 형성했을 때에 국소적인 도전 저항의 상승을 초래하는 문제가 발생한다. 바람직하게는 2~6 ㎛의 범위이다. 평균입자경은 감광성 도전 페이스트의 소결성 및 유리 기판과의 접착성을 좌우하는 중요한 요소로, 0.5~3 ㎛의 범위로 한다. 0.5 ㎛ 미만에서는 유리 중의 알칼리 이온의 용출량이 많아져 페이스트의 점도가 상승하게 되는 한편, 3 ㎛를 초과하면 유리 기판과의 접착성이 저하된다. 바람직하게는 0.5~2 ㎛의 범위이다.The particle diameter of the glass frit sets the maximum particle diameter to 8 µm or less. When it exceeds 8 micrometers, when the photosensitive electrically conductive paste is formed by high density and high definition, the problem which raises a local electrically conductive resistance arises. Preferably it is the range of 2-6 micrometers. An average particle diameter is an important factor which determines the sinterability of the photosensitive electrically conductive paste and adhesiveness with a glass substrate, and is made into the range of 0.5-3 micrometers. If it is less than 0.5 micrometer, the elution amount of the alkali ion in glass will increase and the viscosity of a paste will rise, and if it exceeds 3 micrometers, adhesiveness with a glass substrate will fall. Preferably it is the range of 0.5-2 micrometers.

감광성 도전 페이스트 중의 유리 프릿 함유량으로서는, 5~50 질량%인 것이 바람직하다. 유리 프릿은 전기 절연성이기 때문에 함유량이 50 질량%를 초과하면 전극의 저항이 증대하기 때문에 바람직하지 않다. 5 질량% 이하에서는, 전극막과 유리 기판의 강고한 접착강도가 얻어지기 어렵다.As glass frit content in the photosensitive electrically conductive paste, it is preferable that it is 5-50 mass%. Since glass frit is electrically insulating, when content exceeds 50 mass%, since the resistance of an electrode increases, it is unpreferable. At 5 mass% or less, the strong adhesive strength of an electrode film and a glass substrate is hard to be obtained.

패턴 형성성의 용이함으로부터, 유리 프릿의 굴절률은 1.5~1.7의 범위에 있는 것이 바람직하다. 일반적으로 절연체로서 사용되는 유리는, 1.5~1.9 정도의 굴절률을 가지고 있다. 감광성 유리 페이스트법을 사용하는 경우에는, 유기성분의 평균 굴절률이 유리 분말의 평균 굴절률과 크게 상이한 경우는, 유리 분말과 감광성 유기성분의 계면에서의 반사·산란이 커져, 정세한 패턴이 얻어지지 않는다. 일반적인 유기성분의 굴절률은 1.45~1.7이기 때문에, 패턴 형성성을 향상시키기 위해서는, 유리 프릿과 유기성분의 굴절률을 정합시켜, 유리 프릿의 평균 굴절률을 1.5~1.7로 하는 것이 바람직하다. 추가적으로 패턴 형성성을 향상시키기 위해서는 1.5~1.6이 보다 바람직하다.From the ease of pattern formation, it is preferable that the refractive index of a glass frit exists in the range of 1.5-1.7. Generally, the glass used as an insulator has the refractive index of about 1.5-1.9. When using the photosensitive glass paste method, when the average refractive index of an organic component differs significantly from the average refractive index of a glass powder, reflection and scattering in the interface of a glass powder and a photosensitive organic component become large, and a fine pattern is not obtained. . Since the refractive index of a general organic component is 1.45-1.7, in order to improve pattern formation, it is preferable to match the refractive index of a glass frit and an organic component, and to make the average refractive index of a glass frit 1.5-1.7. In addition, in order to improve pattern formation property, 1.5-1.6 are more preferable.

[실시예 1~4 및 비교예 1~4][Examples 1-4 and Comparative Examples 1-4]

유리 프릿은, SiO2원으로서 미분 규사를, B2O3원으로서 붕산을, Al2O3원으로서 알루미나를, ZnO원으로서 아연화를, MgO원으로서 산화마그네슘을, CaO원으로서 탄산칼슘을, SrO원으로서 탄산스트론튬을, BaO원으로서 탄산바륨을, Li2O원으로서 탄산리튬을, Na2O원으로서 탄산나트륨을, K2O원으로서 탄산칼륨을, P2O5원으로서 인산붕소를, ZrO2원으로서 지르콘을 필요로 하였다. 이들을 목적하는 저융점 유리 조성이 되도록 조합(調合)한 후에, 백금 도가니에 투입하고, 전기가열로 내에서 1100~1200℃, 1~2시간에 걸쳐 가열용융하여 표 1의 실시예 1~4, 표 2의 비교예 1~4에 나타내는 조성의 유리를 얻었다.The glass frit contains finely divided silica as SiO 2 source, boric acid as B 2 O 3 source, alumina as Al 2 O 3 source, zincation as ZnO source, magnesium oxide as MgO source, calcium carbonate as CaO source, Strontium carbonate as SrO source, barium carbonate as BaO source, lithium carbonate as Li 2 O source, sodium carbonate as Na 2 O source, potassium carbonate as K 2 O source, boron phosphate as P 2 O 5 source, Zircon was required as ZrO 2 member. After combining these so as to have a desired low melting point glass composition, the mixture is put into a platinum crucible, and heated and melted in an electric heating furnace for 1100 to 1200 ° C. for 1 to 2 hours. Examples 1 to 4 in Table 1 The glass of the composition shown to the comparative examples 1-4 of Table 2 was obtained.

Figure 112010046943078-pct00001
Figure 112010046943078-pct00001

Figure 112010046943078-pct00002
Figure 112010046943078-pct00002

유리의 일부는 틀에 흘려넣고, 블록상으로 하여 열 물성(열팽창계수, 연화점, 굴절률) 측정용으로 제공하였다. 잔여의 유리는 급랭 쌍롤 성형기로 플레이크상으로 하여, 분쇄장치에서 평균입경 0.5~3 ㎛, 최대입경 8 ㎛ 미만의 분말상으로 정립하였다.A portion of the glass was poured into the mold and provided as a block for measuring thermal properties (thermal expansion coefficient, softening point, and refractive index). The remaining glass was formed into flakes by a quench twin roll forming machine, and was pulverized in a powder form with an average particle diameter of 0.5 to 3 µm and a maximum particle diameter of less than 8 µm in a pulverizer.

연화점은 리토르톤 점도계를 사용하여, 점도계수 η=107.6에 도달했을 때의 온도로 하였다. 또한, 열팽창계수는, 열팽창계를 사용하여 5℃/분으로 승온했을 때의 30~300℃에서의 신장량으로부터 구하였다. The softening point was taken as the temperature when the viscosity coefficient (eta) = 10 7.6 was reached using the littorton viscometer. In addition, the thermal expansion coefficient was calculated | required from the amount of elongation in 30-300 degreeC when heated up at 5 degree-C / min using a thermal expansion system.

(감광성 페이스트의 제작)(Production of Photosensitive Paste)

잔여의 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿을 감광성 화합물을 포함하는 유기성분에 분산하여, 감광성 페이스트를 얻었다.The remaining glass frit for photosensitive conductive paste was dispersed in an organic component containing a photosensitive compound to obtain a photosensitive paste.

얻어진 감광성 페이스트에 대해서, 분산 직후의 페이스트 점도[V1]와 5℃ 냉온실에 24시간 정치한 후의 페이스트 점도[V2]를 측정하여, [V2/V1]이 1.2 미만인 경우를 감광성 성분과의 반응이 없다고 판단하여 ◎, 1.2~1.5의 범위에 있는 경우를 감광성 성분과의 반응이 있지만, 실용상 문제는 없다고 판단하여 ○, 1.5를 초과하는 경우를 감광성 성분과의 반응이 있다고 판단하여 ×로 하였다.With respect to the obtained photosensitive paste, the paste viscosity [V1] immediately after dispersion and the paste viscosity [V2] after standing in the 5 ° C. cold room for 24 hours were measured, and the reaction with the photosensitive component showed that the case where [V2 / V1] was less than 1.2. It was judged that there was no reaction with the photosensitive component in the case where it was determined that there was no ◎ and in the range of 1.2 to 1.5, but it was judged that there was no problem in practical use.

또한, 소성막에 점착 테이프를 첩부(貼付)하고, 박리가 없는 것을 ○, 박리가 있는 것을 ×로 하여, 접착강도를 평가하였다.Moreover, the adhesive tape was affixed on the baking film, the thing with no peeling was made into (circle) and the thing with peeling was x, and adhesive strength was evaluated.

(결과)(result)

표 1에 있어서의 실시예 1~4에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 조성범위 내에 있어서는, 감광성 성분과의 반응에 의한 페이스트 점도의 상승이 억제되고 있어, 플라즈마 디스플레이 패널, 플라즈마 어드레스 액정표시 패널과 기타 전기·전자회로에 있어서의 고정세 패턴 형성에 사용되는 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿에 적합하게 사용할 수 있다.As shown in Examples 1-4 in Table 1, in the composition range of this invention, the raise of the paste viscosity by reaction with the photosensitive component is suppressed, and a plasma display panel, a plasma address liquid crystal display panel, etc. It can use suitably for the glass frit for photosensitive electrically conductive pastes used for the formation of the high-definition pattern in an electric / electronic circuit.

한편, 본 발명의 조성범위를 벗어나는 표 2에 있어서의 비교예 1~4는, 바람직한 물성값과 접착강도가 얻어지지 않고, 또한 감광성 성분과의 반응에 의한 페이스트 점도의 상승이 확인되어, 고정세 패턴 형성에 사용되는 감광성 페이스트로서 사용되는 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿으로서 적용할 수 없다.On the other hand, in Comparative Examples 1 to 4 in Table 2, which deviate from the composition range of the present invention, preferable physical property values and adhesive strength were not obtained, and an increase in paste viscosity due to reaction with the photosensitive component was confirmed, resulting in a high-definition pattern. It cannot be applied as a glass frit for photosensitive conductive paste used as the photosensitive paste used for formation.

Claims (12)

연화점이 480~540℃이고, 굴절률이 1.5~1.7의 범위 내에 있으며, 도전성 분말 및 감광성 유기성분을 필수성분으로 하는 감광성 도전 페이스트 중에 5~50 질량% 함유되며,
질량%로, SiO2를 0~9, B2O3를 50~55, Al2O3를 12~20, ZnO를 0~12, MgO, CaO, SrO, BaO로부터 선택되는 1종 이상을 5~17, Li2O, Na2O, K2O로부터 선택되는 1종 이상을 10~20, P2O5를 0~10, ZrO2를 0~3 포함하는, 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
Softening point is 480-540 degreeC, refractive index exists in the range of 1.5-1.7, 5-50 mass% is contained in the photosensitive electrically conductive paste which has an electroconductive powder and a photosensitive organic component as an essential component,
By mass%, 5 or more selected from 0 to 9 for SiO 2 , 50 to 55 for B 2 O 3 , 12 to 20 for Al 2 O 3 , 0 to 12 for ZnO, and MgO, CaO, SrO, and BaO. ~ 17, Li 2 O, Na 2 O, the glass frit for K 2 O comprises at least one member selected from 10 ~ 20, P 2 O 5 0 to 10, ZrO 2 0 to 3, a photosensitive conductive paste.
삭제delete 제1항에 있어서,
Li2O/K2O의 질량비가 0.2~0.5, Na2O/K2O의 질량비가 0.6~1.5인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method of claim 1,
Li 2 O / K 2 O weight ratio is 0.2 ~ 0.5, Na 2 O / K 2 O of the glass frit for a photosensitive conductive paste mass ratio of 0.6 ~ 1.5 in.
삭제delete 제1항 또는 제3항에 있어서,
30℃~300℃에 있어서의 열팽창계수가 95×10-7/℃~115×10-7/℃인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method according to claim 1 or 3,
The thermal expansion coefficient of the 30 ℃ ~ 300 ℃ 95 × 10 -7 / ℃ ~ 115 × 10 -7 / ℃ the glass frit for a photosensitive conductive paste.
제1항 또는 제3항에 있어서,
최대입자경이 8 ㎛ 이하, 평균입자경이 0.5 ㎛~3 ㎛인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method according to claim 1 or 3,
The glass frit for photosensitive electrically conductive paste whose largest particle diameter is 8 micrometers or less and average particle diameter is 0.5 micrometer-3 micrometers.
제5항에 있어서,
최대입자경이 8 ㎛ 이하, 평균입자경이 0.5 ㎛~3 ㎛인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method of claim 5,
The glass frit for photosensitive electrically conductive paste whose largest particle diameter is 8 micrometers or less and average particle diameter is 0.5 micrometer-3 micrometers.
제3항에 있어서,
SiO2와 P2O5의 합계가 2~10 질량%인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method of claim 3,
The photosensitive conductive paste, the glass frit for the total of SiO 2 and P 2 O 5 2 ~ 10% by weight.
제5항에 있어서,
SiO2와 P2O5의 합계가 2~10 질량%인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method of claim 5,
The photosensitive conductive paste, the glass frit for the total of SiO 2 and P 2 O 5 2 ~ 10% by weight.
제6항에 있어서,
SiO2와 P2O5의 합계가 2~10 질량%인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method according to claim 6,
The photosensitive conductive paste, the glass frit for the total of SiO 2 and P 2 O 5 2 ~ 10% by weight.
제7항에 있어서,
SiO2와 P2O5의 합계가 2~10 질량%인 감광성 도전 페이스트용 유리 프릿.
The method of claim 7, wherein
The photosensitive conductive paste, the glass frit for the total of SiO 2 and P 2 O 5 2 ~ 10% by weight.
(a) 도전성 분말과,
(b) 감광성 유기성분과,
(c) 연화점이 480~540℃이고, 굴절률이 1.5~1.7의 범위 내에 있는 유리 프릿을 5~50 질량% 포함하는 감광성 도전 페이스트로서,
상기 유리 프릿은
질량%로, SiO2를 0~9, B2O3를 50~55, Al2O3를 12~20, ZnO를 0~12, MgO, CaO, SrO, BaO로부터 선택되는 1종 이상을 5~17, Li2O, Na2O, K2O로부터 선택되는 1종 이상을 10~20, P2O5를 0~10, ZrO2를 0~3 포함하는 것을 특징으로 하는, 감광성 도전 페이스트.
(a) conductive powder,
(b) a photosensitive organic component,
(c) A photosensitive electrically conductive paste containing 5-50 mass% of glass frits whose softening point is 480-540 degreeC and whose refractive index exists in the range of 1.5-1.7,
The glass frit is
By mass%, 5 or more selected from 0 to 9 for SiO 2 , 50 to 55 for B 2 O 3 , 12 to 20 for Al 2 O 3 , 0 to 12 for ZnO, and MgO, CaO, SrO, and BaO. Photosensitive conductive paste, characterized in that 10 to 20, P 2 O 5 0 to 10, ZrO 2 0 to 3 at least one selected from ~ 17, Li 2 O, Na 2 O, K 2 O. .
KR1020107016319A 2007-12-26 2008-12-22 Glass frit for photosensitive conductive paste KR101232475B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JPJP-P-2007-333842 2007-12-26
JP2007333842A JP5286777B2 (en) 2007-12-26 2007-12-26 Photosensitive conductive paste
PCT/JP2008/073325 WO2009081907A1 (en) 2007-12-26 2008-12-22 Glass frit for photosensitive conductive paste

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100094591A KR20100094591A (en) 2010-08-26
KR101232475B1 true KR101232475B1 (en) 2013-02-12

Family

ID=40801208

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020107016319A KR101232475B1 (en) 2007-12-26 2008-12-22 Glass frit for photosensitive conductive paste

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5286777B2 (en)
KR (1) KR101232475B1 (en)
CN (1) CN101835721B (en)
WO (1) WO2009081907A1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6966950B2 (en) * 2018-01-23 2021-11-17 Agc株式会社 Glass, glass manufacturing methods, conductive pastes and solar cells

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002012442A (en) * 2000-06-23 2002-01-15 Asahi Glass Co Ltd Low fusing point glass
JP2005347258A (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Dongjin Semichem Co Ltd Lead-free silver paste composition for pdp address electrode, and pdp address electrode

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4411940B2 (en) * 2003-11-07 2010-02-10 東レ株式会社 Inorganic material paste, plasma display member and plasma display
JP2007039269A (en) * 2005-08-02 2007-02-15 Asahi Glass Co Ltd Glass for covering electrode, and plasma display device
JP4642593B2 (en) * 2005-08-11 2011-03-02 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin composition for forming functional pattern and method for forming functional pattern
JP2007230804A (en) * 2006-02-28 2007-09-13 Toray Ind Inc Inorganic material paste, method of manufacturing member for flat display and flat display
JP5104101B2 (en) * 2007-07-30 2012-12-19 Jsr株式会社 INORGANIC POWDER-CONTAINING RESIN COMPOSITION, PATTERN FORMING METHOD, AND METHOD FOR PRODUCING ELECTRODE FOR FLAT PANEL DISPLAY

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002012442A (en) * 2000-06-23 2002-01-15 Asahi Glass Co Ltd Low fusing point glass
JP2005347258A (en) * 2004-06-01 2005-12-15 Dongjin Semichem Co Ltd Lead-free silver paste composition for pdp address electrode, and pdp address electrode

Also Published As

Publication number Publication date
JP5286777B2 (en) 2013-09-11
CN101835721A (en) 2010-09-15
JP2009155149A (en) 2009-07-16
KR20100094591A (en) 2010-08-26
WO2009081907A1 (en) 2009-07-02
CN101835721B (en) 2012-10-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5018032B2 (en) Lead-free glass for electrode coating
JP4478818B2 (en) Low melting point glass composition
JP2008189532A (en) Acid-resistant lead-free glass composition and glass paste
JP2006282467A (en) Glass composition and glass paste composition
JP4791746B2 (en) Lead-free borosilicate glass frit and its glass paste
JP5594682B2 (en) Lead-free low melting point glass with acid resistance
JP2008030994A (en) Bismuth-based lead-free powdered glass
JP2004238247A (en) Glass ceramic composition and thick film glass paste composition
KR101232475B1 (en) Glass frit for photosensitive conductive paste
JP2007332009A (en) Lead-free insulating glass composition and lead-free insulating glass paste
JP2000226232A (en) Leadless low-melting glass composition
JP2004307329A (en) Insulating material for display tube
JP4151143B2 (en) Low melting point glass powder for electrode coating and plasma display device
WO2009157354A1 (en) Photosensitive conductive paste
KR20090092321A (en) Glass ceramic material for plasma display
JP2008050252A (en) Method for manufacturing glass substrate with partition wall
JP2004172250A (en) Thick-film resistor composition and thick-film resistor using the same, and method for manufacturing the same
JPH0725568B2 (en) Glass composition and insulator using the same
KR20050028543A (en) Non-pb glass composition with low melting temperature for plasma display panel
JP5717042B2 (en) Insulating layer forming material
JP5761545B2 (en) Insulating layer forming glass composition and insulating layer forming material
KR100295084B1 (en) Gas discharge display device
JP2005015280A (en) Lead-free low melting glass
JP2005047778A (en) Lead-free low melting point glass
JP2005219942A (en) Lead-free low melting point glass

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee