KR101208573B1 - Optical condensing member and illumination unit, and optical inspection apparatus using the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치를 개시한 것으로서, 집광 부재를 이용하여 검사 대상물로 조사되는 광을 집광하는 것을 특징으로 가진다.The present invention discloses a light collecting member, an illumination unit, and an optical inspection apparatus using the same, and is characterized by condensing light irradiated onto an inspection object using the light collecting member.
이러한 특징에 의하면, 검사 대상물(인쇄 회로 기판)로 조사되는 광의 손실을 최소화하고, 기판에 형성된 패턴 경사면의 선명한 이미지 데이터를 획득할 수 있다.According to this feature, it is possible to minimize the loss of light irradiated onto the inspection object (printed circuit board) and to obtain clear image data of the patterned inclined surface formed on the substrate.
광학 검사, 기판 패턴, 조명 유닛, 집광 부재 Optical inspection, substrate pattern, lighting unit, light collecting member
Description
본 발명은 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광을 집광하는 집광 부재, 집광 부재를 이용하여 검사 대상물(인쇄 회로 기판)에 광을 조사하는 조명 유닛, 그리고 조명 유닛이 조사한 광을 이용하여 검사 대상물(인쇄 회로 기판)에 형성된 패턴을 촬상하고, 촬상된 영상 정보를 처리하여 검사 대상물에 형성된 패턴의 결함 유무를 검사하는 광학 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a light collecting member and an illumination unit, and an optical inspection apparatus using the same, and more particularly, a light collecting member for collecting light, an illumination unit for irradiating light to an inspection object (printed circuit board) using the light collecting member, The present invention relates to an optical inspection apparatus for imaging a pattern formed on an inspection object (printed circuit board) by using light irradiated by an illumination unit, and processing the captured image information to inspect the presence or absence of a defect in the pattern formed on the inspection object.
근래에 와서 액정 디스플레이 장치의 구동 집적 회로(LCD Driver IC), 메모리 및 LSI 등의 각종 반도체 집적 회로 및 초소형 제품 등에 사용되는 주요 재료의 하나인 인쇄 회로 기판은 필름, 테이프 등의 형태로 제조되고 있다.In recent years, printed circuit boards, which are one of the main materials used in various semiconductor integrated circuits such as LCD driver ICs, memory and LSIs, and micro products, have been manufactured in the form of films and tapes. .
이러한 인쇄 회로 기판 중에 TAB(Tape Automatic Bonding) 또는 COF(Chip On Film) 기판이라 통칭되는 인쇄 회로 기판이 많이 사용되고 있다. 이러한 필름/테이프 형태의 인쇄 회로 기판은 노광, 현상, 에칭 등의 제조 공정을 통하여 패턴이 형 성되는데, 이러한 패턴은 반도체 디바이스가 점점 초소형화 됨에 따라 극 미세화 되어, 작업자의 눈을 통한 패턴 결함 검사가 점점 불가능해지고 있는 실정이다. 따라서 인쇄 회로 기판의 패턴 결함을 정확하게 검출하는 것이 자동 광학 검사 장치의 핵심인 검사 신뢰성 향상에 중요한 요인이 된다.Among such printed circuit boards, printed circuit boards commonly referred to as tape automatic bonding (TAB) or chip on film (COF) substrates are used. The printed circuit board in the form of a film / tape is formed through a manufacturing process such as exposure, development, etching, etc., and the pattern is extremely miniaturized as the semiconductor device is increasingly miniaturized, thereby inspecting pattern defects through the eyes of an operator. Is becoming increasingly impossible. Therefore, accurate detection of pattern defects on a printed circuit board is an important factor in improving inspection reliability, which is the core of an automatic optical inspection device.
더욱이 필름, 테이프 형태의 인쇄 회로 기판 중 패턴 폭의 극 미세화가 이루어지고 있는 TAB, COF 기판의 검사에 있어서, 기존 조명 장치에서 발생하는 밝기의 한계, 및 검사 영역내의 광의 균일도는 매우 중요하다. 그러나 기존 조명 장치는 광원의 광이 검사 대상물 표면까지 도달하기 전에 광의 손실이 크게 발생되어, 결국 광의 손실 후에 남은 광의 양만이 렌즈를 통하여 이미지 센서로 전달되기 때문에 안정화된 이미지를 얻기가 어려웠다.Furthermore, in the inspection of TAB and COF substrates in which the pattern width is extremely miniaturized among printed circuit boards in the form of films and tapes, the limitation of the brightness generated in the existing lighting device and the uniformity of light in the inspection area are very important. However, it is difficult to obtain a stabilized image in the conventional lighting device because light loss is largely generated before the light of the light source reaches the surface of the object to be inspected, so that only the amount of light remaining after the light loss is transmitted to the image sensor through the lens.
본 발명은 검사 대상물(인쇄 회로 기판)로 조사되는 광의 손실을 최소화하여, 패턴 표면 전체적으로 보다 균일한 휘도를 얻어 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있는 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치를 제공하기 위한 것이다.The present invention provides a light collecting member, an illumination unit, and an optical inspection apparatus using the same, which minimizes the loss of light irradiated onto an inspection object (printed circuit board), thereby obtaining more uniform luminance on the entire surface of the pattern, thereby improving inspection reliability. It is for.
본 발명의 목적은 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The objects of the present invention are not limited thereto, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 조명 유닛은 광을 방출하는 광원; 입사되는 광의 방향에 따라 광을 반사하거나 투과시키는 광 분리 부재; 및 상기 광원으로부터 방출되고 상기 광 분리 부재에 의해 반사되는 광을 굴절시켜 조명 대상에 집광시키고, 상기 조명 대상으로부터 반사되는 광을 상기 광 분리 부재로 안내하는 집광 부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the lighting unit according to the present invention includes a light source for emitting light; A light separation member for reflecting or transmitting light according to the direction of incident light; And a light collecting member that refracts the light emitted from the light source and reflected by the light separation member to focus the illumination object, and guides the light reflected from the illumination object to the light separation member.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 조명 유닛에 있어서, 상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 형성되며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면과, 상기 제 1 면의 반대 면인 제 2 면 중 어느 일면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루도록 다수의 경사면들이 제공될 수 있다.In the illumination unit according to the present invention having the configuration as described above, the light collecting member is disposed away from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and the light passes through the central portion of the light collecting member. A hole is formed, and a plurality of inclined surfaces may be provided on one of the first surface of the light collecting member facing the optical separation member and the second surface opposite to the first surface to be symmetrical about the hole. have.
상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inside toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 향해 내측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined inward toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 중심으로 외측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined outward with respect to the hole.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재의 길이에 대응하는 길이를 가지며, 상기 경사면들은 상기 집광 부재의 길이 방향을 따라 길게 연장될 수 있다.The light collecting member may have a length corresponding to the length of the light separating member, and the inclined surfaces may extend in the length direction of the light collecting member.
상기 경사면들은 평면일 수 있으며, 또한 상기 경사면들은 곡면일 수 있다.The inclined surfaces may be flat, and the inclined surfaces may be curved.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면의 반대 면인 제 2 면이 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The light collecting member is spaced apart from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and a second surface that is opposite to the first surface of the light collecting member facing the light separating member is convex downward. It may be curved.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면의 반대 면인 제 2 면의 중심부는 평면이고, 상기 제 2 면의 주변부는 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The light collecting member may be spaced apart from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and a central portion of the second surface, which is an opposite surface to the first surface of the light collecting member facing the light separating member, may be flat. The periphery of the second surface may be a curved surface convex downward.
상기 집광 부재의 상기 제 1 면은 평면일 수 있다.The first surface of the light collecting member may be flat.
상기 광원과 상기 광 분리 부재의 사이에 위치하며, 상기 광원이 방출하는 광을 평행광으로 변환하는 평행광 변환 부재를 더 포함할 수 있다.The light source may further include a parallel light converting member positioned between the light separating member and converting light emitted from the light source into parallel light.
상기 평행광 변환 부재의 상기 광원을 향하는 면은 볼록한 모양의 곡면이고, 상기 평행광 변환 부재의 상기 광 분리 부재를 향하는 면은 평면일 수 있다.The surface facing the light source of the parallel light conversion member may be a convex curved surface, and the surface facing the light separation member of the parallel light conversion member may be a plane.
상기 광 분리 부재와 상기 평행광 변환 부재의 사이에 개재되고, 상기 평행광 변환 부재를 투과한 상기 평행광의 광 균일도가 증가되도록 상기 평행광을 확산 시키는 확산 부재를 더 포함할 수 있다.The light emitting device may further include a diffusion member interposed between the light separation member and the parallel light conversion member to diffuse the parallel light so that the light uniformity of the parallel light transmitted through the parallel light conversion member is increased.
상기 광 분리 부재는 빔 스프리터(Beam Spliter)일 수 있다.The light splitting member may be a beam splitter.
상기 광 분리 부재는 하프 미러(Half Mirror)일 수 있다.The light separating member may be a half mirror.
상기 광 분리 부재와 상기 확산 부재의 상기 평행광에 수직한 방향의 길이는 동일할 수 있다.The length of the light separation member and the direction perpendicular to the parallel light of the diffusion member may be the same.
상기 광원, 상기 평행광 변환 부재, 상기 확산 부재, 그리고 상기 광 분리 부재는 광축이 수평 방향을 향하도록 일렬로 배치되고, 상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치될 수 있다.The light source, the parallel light conversion member, the diffusion member, and the light separation member are arranged in a line so that an optical axis faces a horizontal direction, and the light collecting member is arranged in the direction in which the light separation member reflects light. Can be spaced apart from.
상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 조명 유닛은 제 1 방향을 따라 수평하게 일렬로 배치되고, 상기 제 1 방향에 수직한 제 2 방향을 따라 상하로 적층된 복수 개의 광원들; 길이 방향이 상기 제 1 방향을 향하고, 상기 제 1 및 제 2 방향에 수직한 제 3 방향으로 상기 광원들로부터 이격 배치되며, 입사되는 광의 방향에 따라 광을 반사하거나 투과시키는 광 분리 부재; 및 길이 방향이 상기 제 1 방향을 향하고, 상기 제 2 방향을 따라 상기 광 분리 부재의 아래에 이격 배치되며, 상기 광원들로부터 방출되고 상기 광 분리 부재에 의해 반사되는 광을 굴절시켜 조명 대상에 집광시키고, 상기 조명 대상으로부터 반사되는 광을 상기 광 분리 부재로 안내하는 집광 부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the lighting unit according to the present invention includes a plurality of light sources arranged in a horizontal line in a first direction and stacked vertically in a second direction perpendicular to the first direction; A light separation member having a longitudinal direction toward the first direction, spaced apart from the light sources in a third direction perpendicular to the first and second directions, and reflecting or transmitting light according to the direction of incident light; And a longitudinal direction facing the first direction and spaced apart below the light separation member along the second direction, and refracting the light emitted from the light sources and reflected by the light separation member to focus the illumination object. And a light collecting member for guiding the light reflected from the illumination object to the light separating member.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 조명 유닛에 있어서, 상기 광원들과 상기 광 분리 부재의 사이에 길이 방향이 상기 제 1 방향을 향하고 상기 제 2 방향을 따라 상하로 적층되며, 상기 광원들이 방출하는 광을 평행광으로 변환하는 평행광 변환 부재들을 더 포함할 수 있다.In the lighting unit according to the present invention having the configuration as described above, the longitudinal direction between the light source and the light separating member is stacked up and down along the second direction toward the first direction, the light source is The apparatus may further include parallel light converting members for converting the emitted light into parallel light.
상기 광 분리 부재와 상기 평행광 변환 부재들의 사이에 길이 방향이 상기 제 1 방향을 향하도록 개재되고, 상기 평행광 변환 부재들을 투과한 상기 평행광의 광 균일도가 증가되도록 상기 평행광을 확산시키는 확산 부재를 더 포함할 수 있다.A diffusion member interposed between the light separation member and the parallel light conversion members such that a longitudinal direction thereof faces the first direction, and diffusing the parallel light so that the light uniformity of the parallel light passing through the parallel light conversion members is increased; It may further include.
상기 광원, 상기 평행광 변환 부재들, 상기 확산 부재, 상기 광 분리 부재, 그리고 상기 집광 부재는 하우징에 수용되어 하나의 모듈 형태로 제공될 수 있다.The light source, the parallel light conversion members, the diffusion member, the light separation member, and the light collection member may be accommodated in a housing and provided in a module form.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지는 판 형상으로 제공되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 상기 제 1 방향을 따라 관통 형성되며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 상면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루고 상기 홀을 향해 내측으로 경사진 다수의 경사면들이 제공되고, 상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The light collecting member may be provided in a plate shape having a length corresponding to the light separating member, and a hole through which light passes may be formed through the first direction in a central portion of the light collecting member to face the light separating member. The upper surface of the light collecting member may be provided with a plurality of inclined surfaces symmetrical with respect to the hole and inclined inward toward the hole, and the inclination angle of the inclined surfaces may become smaller toward the inside toward the hole.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지는 판 형상으로 제공되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 상기 제 1 방향을 따라 관통 형성되며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 상면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루고 상기 홀을 중심으로 외측으로 경사진 다수의 경사면들이 제공되고, 상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The light collecting member may be provided in a plate shape having a length corresponding to the light separating member, and a hole through which light passes may be formed through the first direction in a central portion of the light collecting member to face the light separating member. The upper surface of the light collecting member may be provided with a plurality of inclined surfaces symmetrical with respect to the hole and inclined outwardly with respect to the hole, and the inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inside toward the hole.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지는 판 형상으로 제공되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 상기 제 1 방향을 따라 관통 형성되며, 상기 집광 부재의 하면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루고 상기 홀을 향해 내측으로 경사진 다수의 경사면들이 제공되고, 상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The light collecting member is provided in a plate shape having a length corresponding to the light separating member, and a hole through which light passes is formed in a central portion of the light collecting member along the first direction, and the hole is formed on a bottom surface of the light collecting member. A plurality of inclined surfaces symmetrically with respect to and inclined inwardly toward the hole are provided, and the inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inward toward the hole.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지는 판 형상으로 제공되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 상기 제 1 방향을 따라 관통 형성되며, 상기 집광 부재의 하면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루고 상기 홀을 중심으로 외측으로 경사진 다수의 경사면들이 제공되고, 상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The light collecting member is provided in a plate shape having a length corresponding to the light separating member, and a hole through which light passes is formed in a central portion of the light collecting member along the first direction, and the hole is formed on a bottom surface of the light collecting member. A plurality of inclined surfaces symmetrically with respect to the hole and inclined outwardly with respect to the hole may be provided, and the inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inside toward the hole.
상기 집광 렌즈는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면은 평면이고, 상기 제 1 면의 반대 면인 제 2 면이 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The condensing lens has a length corresponding to the light separating member, and the first surface of the light collecting member facing the light separating member is a flat surface, and a second surface that is opposite to the first surface is convex downward. Can be.
상기 집광 렌즈는 상기 광 분리 부재에 대응하는 길이를 가지며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면은 평면이고, 상기 제 1 면의 반대 면인 제 2 면의 중심부는 평면이고, 상기 제 2 면의 주변부는 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The condensing lens has a length corresponding to the light separating member, the first surface of the light collecting member facing the light separating member is flat, the central portion of the second surface opposite to the first surface is flat, and The perimeter of the second surface may be a curved surface convex downward.
상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 광학 검사 장치는 검사 대상물을 일 방향으로 이동시키는 이동 유닛; 상기 검사 대상물의 이동 경로 상부에 제공되고, 상기 이동 유닛에 의해 이동되는 상기 검사 대상물로 광을 조사하는 조명 유닛; 및 상기 조명 유닛의 광이 조사되는 상기 검사 대상물을 촬영하는 촬영 유닛을 포함하되, 상기 조명 유닛은 광을 방출하는 광원; 입사되는 광의 방향에 따라 광을 반사하거나 투과시키는 광 분리 부재; 및 상기 광원으로부터 방출되고 상기 광 분리 부재에 의해 반사되는 광을 굴절시켜 조명 대상에 집광시키고, 상기 조명 대상으로부터 반사되는 광을 상기 광 분리 부재로 안내하는 집광 부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the optical inspection device according to the present invention comprises a moving unit for moving the inspection object in one direction; An illumination unit provided above the movement path of the inspection object and irradiating light to the inspection object moved by the moving unit; And a photographing unit which photographs the inspection object to which the light of the illumination unit is irradiated, wherein the illumination unit includes a light source emitting light; A light separation member for reflecting or transmitting light according to the direction of incident light; And a light collecting member that refracts the light emitted from the light source and reflected by the light separation member to focus the illumination object, and guides the light reflected from the illumination object to the light separation member.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 광학 검사 장치에 있어서, 상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 집광 부재의 중심부에는 광이 통과하는 홀이 형성되며, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면과, 상기 제 1 면의 반대 면인 제 2 면 중 어느 일면에는 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루도록 다수의 경사면들이 제공될 수 있다.In the optical inspection apparatus according to the present invention having the configuration as described above, the light collecting member is disposed away from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and light passes through a central portion of the light collecting member. A hole is formed, and a plurality of inclined surfaces may be provided on one of the first surface of the light collecting member facing the light separation member and a second surface opposite to the first surface to be symmetrical about the hole. Can be.
상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.The inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inside toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 향해 내측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined inward toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 중심으로 외측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined outward with respect to the hole.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재의 길이에 대응하는 길이를 가지며, 상기 경사면들은 상기 집광 부재의 길이 방향을 따라 길게 연장될 수 있다.The light collecting member may have a length corresponding to the length of the light separating member, and the inclined surfaces may extend in the length direction of the light collecting member.
상기 경사면들은 평면일 수 있다.The inclined surfaces may be flat.
상기 경사면들은 곡면일 수 있다.The inclined surfaces may be curved.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분 리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면의 반대 면인 제 2 면이 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The light collecting member is spaced apart from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and a second surface that is opposite to the first surface of the light collecting member facing the light separating member is convex downward. It may be a curved surface of.
상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치되고, 상기 광 분리 부재와 마주보는 상기 집광 부재의 제 1 면의 반대 면인 제 2 면의 중심부는 평면이고, 상기 제 2 면의 주변부는 아래로 볼록한 모양의 곡면일 수 있다.The light collecting member may be spaced apart from the light separating member in a direction in which the light separating member reflects light, and a central portion of the second surface, which is an opposite surface to the first surface of the light collecting member facing the light separating member, may be flat. The periphery of the second surface may be a curved surface convex downward.
상기 집광 부재의 상기 제 1 면은 평면일 수 있다.The first surface of the light collecting member may be flat.
상기 광원과 상기 광 분리 부재의 사이에 위치하며, 상기 광원이 방출하는 광을 평행광으로 변환하는 평행광 변환 부재를 더 포함할 수 있다.The light source may further include a parallel light converting member positioned between the light separating member and converting light emitted from the light source into parallel light.
상기 평행광 변환 부재의 상기 광원을 향하는 면은 볼록한 모양의 곡면이고, 상기 평행광 변환 부재의 상기 광 분리 부재를 향하는 면은 평면일 수 있다.The surface facing the light source of the parallel light conversion member may be a convex curved surface, and the surface facing the light separation member of the parallel light conversion member may be a plane.
상기 광 분리 부재와 상기 평행광 변환 부재의 사이에 개재되고, 상기 평행광 변환 부재를 투과한 상기 평행광의 광 균일도가 증가되도록 상기 평행광을 확산시키는 확산 부재를 더 포함할 수 있다.The light emitting device may further include a diffusion member interposed between the light separation member and the parallel light conversion member to diffuse the parallel light so that the light uniformity of the parallel light transmitted through the parallel light conversion member is increased.
상기 광 분리 부재는 빔 스프리터(Beam Spliter)일 수 있다.The light splitting member may be a beam splitter.
상기 광 분리 부재는 하프 미러(Half Mirror)일 수 있다.The light separating member may be a half mirror.
상기 광 분리 부재와 상기 확산 부재의 상기 평행광에 수직한 방향의 길이는 동일할 수 있다.The length of the light separation member and the direction perpendicular to the parallel light of the diffusion member may be the same.
상기 광원, 상기 평행광 변환 부재, 상기 확산 부재, 상기 광 분리 부재, 그리고 상기 집광 부재는 하우징에 수용되어 하나의 모듈 형태로 제공될 수 있다.The light source, the parallel light conversion member, the diffusion member, the light separation member, and the light collecting member may be accommodated in a housing and provided in a module form.
상기 광원, 상기 평행광 변환 부재, 상기 확산 부재, 그리고 상기 광 분리 부재는 광축이 수평 방향을 향하도록 일렬로 배치되고, 상기 집광 부재는 상기 광 분리 부재가 광을 반사하는 방향으로 상기 광 분리 부재로부터 이격 배치될 수 있다.The light source, the parallel light conversion member, the diffusion member, and the light separation member are arranged in a line so that an optical axis faces a horizontal direction, and the light collecting member is arranged in the direction in which the light separation member reflects light. Can be spaced apart from.
상기 촬영 유닛은 라인 스캔(Line Scan) 카메라일 수 있다.The photographing unit may be a line scan camera.
상기한 과제를 달성하기 위하여 본 발명에 의한 집광 부재는 광이 통과하는 홀이 길이 방향을 따라 중심부에 형성된 판 형상으로 제공되며, 상면과 하면 중 어느 일면에 상기 홀을 중심으로 대칭을 이루도록 다수의 경사면들이 형성되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the light collecting member according to the present invention may be provided in a plate shape in which a hole through which light passes is formed in a central portion along a longitudinal direction, and a plurality of upper and lower surfaces may be symmetrical about the hole. It is characterized in that the inclined surfaces are formed.
상술한 바와 같은 구성을 가지는 본 발명에 의한 집광 부재에 있어서, 상기 경사면들의 경사각은 상기 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.In the light collecting member according to the present invention having the configuration as described above, the inclination angle of the inclined surfaces may be smaller toward the inside toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 향해 내측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined inward toward the hole.
상기 경사면들은 상기 홀을 중심으로 외측으로 경사지게 제공될 수 있다.The inclined surfaces may be provided to be inclined outward with respect to the hole.
상기 경사면들은 상기 집광 부재의 길이 방향을 따라 길게 연장될 수 있다.The inclined surfaces may extend in the longitudinal direction of the light collecting member.
상기 경사면들은 평면일 수 있다.The inclined surfaces may be flat.
본 발명에 의하면, 검사 대상물(인쇄 회로 기판)로 조사되는 광의 손실을 최소화할 수 있다.According to the present invention, it is possible to minimize the loss of light irradiated to the inspection object (printed circuit board).
그리고 본 발명에 의하면, 패턴의 경사면의 선명한 이미지 데이터를 획득할 수 있다.According to the present invention, clear image data of the inclined surface of the pattern can be obtained.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 따른 집광 부재와 조명 유닛, 그리고 이를 이용한 광학 검사 장치를 상세히 설명하기로 한다. 우선 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, a light collecting member, an illumination unit, and an optical inspection apparatus using the same according to exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the drawings, the same reference numerals are used to designate the same or similar components throughout the drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.
( 실시 예 )(Example)
도 1은 본 발명에 따른 광학 검사 장치를 개략적으로 보여주는 도면이고, 도 2는 도 1의 "A" 부분의 평면도이다.1 is a view schematically showing an optical inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a plan view of a portion “A” of FIG. 1.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 광학 검사 장치(1)는 이동 유닛(100), 조명 유닛(200), 그리고 촬영 유닛(300)을 포함한다. 광학 검사 장치(1)의 검사 대상물(10)은 필름(Film)이나 테이프(Tape) 타입의 플렉시블 인쇄 회로 기판일 수 있으며, 광학 검사 장치(1)는 플렉시블 인쇄 회로 기판에 형성된 패턴의 결함 여부를 검사한다.1 and 2, the
이동 유닛(100)은 검사 대상물(10)을 일 방향으로 이동시킨다. 조명 유닛(200)은 검사 대상물(10)의 이동 경로 상부에 제공되고, 이동 유닛(100)에 의해 이동되는 검사 대상물(10)에 광을 조사한다. 촬영 유닛(300)은 조명 유닛(200)의 광이 조사되는 검사 대상물(10)을 촬상하여, 검사 대상물(10)에 형성된 패턴의 이미지 데이터를 획득한다.The moving
이동 유닛(100)은 권출부(Feed Roller, 110), 안내 롤러들(120), 그리고 권취부(Winding Roller, 130)를 포함한다. 권출부(110)에는 검사 대상물(10)이 릴에 감겨져 있으며, 권출부(110)로부터 송출된 검사 대상물(10)은 안내 롤러들(120)을 거쳐 권취부(130)의 릴에 감겨진다. The moving
이동 유닛(100)은 검사 대상물(10)을 일정 거리만큼 이동시킨 후 정지시키는 스탭-바이-스탭(Step by Step) 방식으로 검사 대상물(10)을 이동시킬 수 있다. 검사 대상물(10)이 일시적으로 정지되어 있는 시간 동안, 조명 유닛(200)은 검사 대상물(10)의 이송 방향에 수직한 방향으로 이동하면서, 검사 대상물(10)에 광을 조사할 수 있다. 촬영 유닛(300) 또한 조명 유닛(200)과 함께 대상물(10)의 이송 방향에 수직한 방향으로 이동할 수 있으며, 조명 유닛(200)이 조사한 광을 이용하여 검사 대상물(10)에 형성된 패턴을 촬상한다. 이동 유닛(100)은 검사 대상물(10)을 일시적으로 정지시키지 않고 계속적으로 이동시킬 수 있으며, 이때 조명 유닛(200)과 촬영 유닛(300)은 복수 개가 제공될 수 있다.The moving
촬영 유닛(300)은 CCD 라인 센서와 같은 이미지 센서(미도시)와 렌즈(미도시됨)를 갖는 CCD 카메라로써, 검사 대상물(10)의 표면(패턴 등)을 촬영하여 검사 대상물(10)에 대한 영상 데이터를 획득한다. 획득된 영상 데이터는 영상 처리부(미도 시됨)로 제공된다. 도시하지 않았지만, 광학 검사 장치(1)는 촬영 유닛(300)으로부터 촬영된 이미지를 제공받는 영상 처리부(미도시)를 갖는 것은 당연하며, 영상 처리부(미도시)는 전형적인 컴퓨터 시스템(일명, 마이컴)으로 구비되어, 자동 광학 검사에 따른 제반 동작을 제어, 처리하게 된다. 예를 들면, 촬영 유닛(300)으로 라인 스캔(Line Scan) 카메라가 사용될 수 있다.The photographing
도 3은 도 1 및 도 2의 조명 유닛(200)의 구성을 보여주는 측단면도이다. 그리고 도 4는 도 3의 광 분리 부재와 집광 부재의 사시도이고, 도 5는 도 3의 집광 부재를 확대하여 보여주는 도면이다.3 is a side cross-sectional view illustrating a configuration of the
도 3 내지 도 5를 참조하면, 조명 유닛(200)은 하우징(210), 광원(220), 광 분리 부재(230), 평행광 변환 부재(240), 확산 부재(250), 그리고 집광 부재(260)를 포함한다. 광원(220), 광 분리 부재(230), 평행광 변환 부재(240), 확산 부재(250), 그리고 집광 부재(260)는 하우징(210)에 수용되어 하나의 모듈 형태로 제공될 수 있다.3 to 5, the
하우징(210)은 대체로 육면체 형상으로 제공될 수 있다. 하우징(210)은 사각형 형상의 상부 벽(214)과 하부 벽(216)을 가지고, 상부 벽(214)의 가장자리와 하부 벽(216)의 가장자리는 측벽(212)에 의해 연결된다. 광원(220), 평행광 변환 부재(240), 확산 부재(250), 그리고 광 분리 부재(230)는 광축이 수평 방향을 향하도록 하우징(210) 내에 일렬로 배치되고, 집광 부재(260)는 광 분리 부재(230)가 광을 반사하는 방향으로 광 분리 부재(230)로부터 이격 배치될 수 있다. 하우징(210) 의 상부 벽(214)에는 광 분리 부재(230)가 투과시키는 광이 통과하도록 홀(215)이 형성되고, 하우징(210)의 하부 벽(216)에는 집광 부재(260)가 투과시키는 광이 통과하도록 개구부(217)가 형성된다.The
광원(220)은 광을 방출한다. 광원(220)으로는 선형으로 배열된 다수의 발광다이오드(LED)가 사용될 수 있으며, 이외에도 선형 튜브 형광 램프, 할로겐 램프, 또는 메탈할라이드 램프가 광원(220)으로 사용될 수 있다.The
광 분리 부재(230)는 입사되는 광의 방향에 따라 광을 반사하거나 투과시킬 수 있다. 즉, 광 분리 부재(230)는 광원(220)으로부터 입사되는 광은 집광 부재(260)를 향하는 방향으로 반사하고, 집광 부재(260)로부터 입사되는 광은 상부 벽(214)의 홀(215)을 향하는 방향으로 투과시킬 수 있다. 광 분리 부재(230)로는 대각선 방향으로 미러(232)가 제공되는 빔 스프리터(Beam Spliter)가 사용될 수 있다.The
평행광 변환 부재(240)는 광원(220)과 광 분리 부재(230)의 사이에 위치하고, 광원(220)이 방출하는 광을 평행광으로 변환시킨다. 평행광 변환 부재(240)의 광원(220)을 향하는 면은 볼록한 모양의 곡면으로 제공될 수 있으며, 평행광 변환 부재(2400의 광 분리 부재(230)를 향하는 면은 평면으로 제공될 수 있다.The parallel
확산 부재(250)는 광 분리 부재(230)와 평행광 변환 부재(240)의 사이에 위치하고, 평행광 변환 부재(240)를 통과한 평행광의 광 균일도가 증가되도록 평행광을 확산시킨다. 도 3의 평면상에서 평행광에 수직한 방향을 따르는 확산 부재(250) 의 길이는 광 분리 부재(230)의 길이와 동일할 수 있다.The
집광 부재(260)는 광원(220)으로부터 방출되고 광 분리 부재(230)에 의해 반사되는 광을 굴절시켜 검사 대상물(조사 대상)에 집광시키고, 검사 대상물(조사 대상)로부터 반사되는 광을 광 분리 부재(230)로 안내한다.The
집광 부재(260)는 광 분리 부재(230)에 대응하는 길이를 가지는 판 형상으로 제공될 수 있다. 집광 부재(260)의 중심부에는 광이 통과하는 홀(264)이 길이 방향을 따라 관통 형성된다. 광 분리 부재(230)와 마주보는 집광 부재의 제 1 면(상면)에는 홀(264) 을 중심으로 대칭을 이루도록 다수의 경사면들(262)이 제공될 수 있다. 경사면들(262)은 집광 부재(260)의 길이 방향을 따라 길게 연장될 수 있으며, 경사면들(262)은 평면 또는 곡면으로 형성될 수 있다.The
경사면들(262)은 홀(264)을 향해 내측으로 경사지게 형성될 수 있으며, 경사면들(262)의 경사각은 홀(264)을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.(θ1>θ2>θ3>θ4) 경사면들(262)의 경사각이 홀(264)을 향해 내측으로 갈수록 작아지면, 광이 입사되는 부분의 두께가 작아져 광의 굴절율이 변화될 수 있다. 즉, 경사면들(262) 중 큰 경사각(θ1)을 가지는 외측 경사면에서의 광의 굴절각(φ1)이 작은 경사각(θ4)을 가지는 내측 경사면에서의 광의 굴절각(φ4)보다 커질 수 있다. 이와 같이 광의 굴절각이 집광 부재(260)의 외측으로부터 내측으로 가면서 작아지면(φ1>φ2>φ3>φ4), 집광 부재(260)의 제 1 면(상면)으로 입사되는 광이 집광 부재(260)를 투과 한 후 한 곳으로 모아질 수 있다. The
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 조명 유닛의 동작 상태를 보여주는 도면들이다. 도 6은 조명 유닛이 패턴(P)의 평면에 광을 조사하는 경우를 도시하고 있으며, 도 7은 조명 유닛이 패턴(P)의 에지 경사면에 광을 조사하는 경우를 도시하고 있다.6 and 7 are views showing an operating state of the lighting unit according to the present invention. FIG. 6 shows a case where the illumination unit irradiates light onto the plane of the pattern P, and FIG. 7 shows a case where the illumination unit irradiates light onto the edge inclined plane of the pattern P. FIG.
도 6 및 도 7을 참조하면, 광원(220)에서 방출된 광은 평행광 변환 부재(240)를 투과하면서 평행광으로 변환된다. 평행광은 확산 부재(250)를 투과하면서 광 균일도가 증가하도록 확산되고, 광 분리 부재(230)로 입사된다. 광 분리 부재(230)의 미러(232)는 입사된 광을 집광 부재(260)를 향하는 방향으로 반사하고, 반사광은 집광 부재(260)로 입사된다. 집광 부재(260)의 중심 영역으로 입사되는 광은 홀(264)을 통과하여 검사 대상물(10)에 형성된 패턴(P)에 조사된다. 집광 부재(260)의 주변 영역으로 입사되는 광은 경사면들(262)에 의해 굴절되어 검사 대상물(10)에 형성된 패턴(P)에 집광된다. 검사 대상물(10)의 패턴(P)에 조사된 광은 패턴(P)에 의해 반사된 후, 집광 부재(260)의 홀(264)을 통과하여 광 분리 부재(230)로 입사된다. 광 분리 부재(230)로 입사되는 광은 미러(232)를 투과하여 촬영 유닛(300)으로 유입된다.6 and 7, the light emitted from the
이와 같이, 광 분리 부재(230)의 아래에 집광 부재(260)를 구비하여, 광 분리 부재(230)에 의해 반사되는 광을 집광하여 검사 대상물(10)로 조사하면, 집광 부재(260)가 구비되지 않은 종래의 조명 유닛들과 달리, 광의 손실을 최소화할 수 있다. 또한, 손실이 최소화된 상태로 광이 검사 대상물에 조사되면, 보다 선명한 패턴의 이미지 데이터를 획득할 수 있다.As such, when the
도 7의 경우, 조명 유닛은 패턴(P)의 에지 경사면에 광을 조사한다. 집광 부재(260)가 구비되지 않은 종래의 조명 유닛의 경우, 조명 유닛의 광은 에지 경사면을 향해 수직하게 아래 방향으로 조사되어, 광이 에지 경사면에 의해 반사된 후 광 분리 부재로 향하지 않고 패턴의 외측으로 분산되므로, 패턴의 에지 경사면의 선명한 이미지를 획득할 수 없었다. 그러나 본 발명의 조명 유닛은 패턴(P)의 에지 경사면에 경사진 방향으로 광을 조사하여, 에지 경사면에 의해 반사된 광이 외측으로 분산되지 않고 광 분리 부재(230)로 입사되므로, 패턴의 에지 경사면의 선명한 이미지를 획득할 수 있다.In the case of FIG. 7, the illumination unit irradiates light to the edge inclined surface of the pattern P. FIG. In the conventional lighting unit without the
도 8 내지 도 12는 집광 부재의 다른 예를 보여주는 도면들이다.8 to 12 are views showing another example of the light collecting member.
도 8에 도시된 바와 같이, 집광 부재(260)의 제 1 면(상면)에 제공되는 경사면들(262_1)은 홀을 중심으로 외측으로 경사지게 제공될 수 있으며, 경사면들(262)의 경사각은 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.(θ1>θ2>θ3>θ4)As illustrated in FIG. 8, the inclined surfaces 262_1 provided on the first surface (upper surface) of the
도 9 및 도 10에 도시된 바와 같이, 경사면들(262_2,262_3)은 집광 부재(260)의 제 2 면(하면)에 제공될 수 있다. 경사면들(262_2)은 홀을 향해 내측으로 경사지게 제공될 수 있으며(도 9), 경사면들(262_3)은 홀을 중심으로 외측으로 경사지게 제공될 수도 있다.(도 10) 그리고, 경사면들(262_2,262_3)은 홀을 향해 내측으로 갈수록 작아질 수 있다.(θ1>θ2>θ3>θ4)9 and 10, the inclined surfaces 262_2 and 262_3 may be provided on the second surface (lower surface) of the
도 11에 도시된 바와 같이, 집광 부재(260')는 광 분리 부재와 마주보는 제 1 면(P1)이 평면을 이루고, 제 1 면(P1)의 반대 면인 제 2 면(S1)이 아래로 볼록한 모양의 곡면을 이루도록 제공될 수 있다.As shown in FIG. 11, in the
도 12에 도시된 바와 같이, 집광 부재(260")는 광 분리 부재와 마주보는 제 1 면(P1)과 제 1 면(P1)의 반대 면인 제 2 면의 중심부(P2)가 평면을 이루고, 제 2 면의 주변부(S1)가 아래로 볼록한 모양의 곡면을 이루도록 제공될 수 있다.As shown in FIG. 12, the
도 13은 조명 유닛의 다른 예를 보여주는 측단면도이다. 도 13에 도시된 조명 유닛은 도 3에 도시된 조명 유닛과 동일한 기능을 수행하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하고, 이하에서는 구성 요소들의 배치 구조상의 차이점에 대해서만 주로 설명한다.13 is a side sectional view showing another example of a lighting unit. Since the lighting unit shown in FIG. 13 performs the same function as the lighting unit shown in FIG. 3, a detailed description thereof will be omitted, and only the differences in the arrangement structure of the components will be described below.
도 13을 참조하면, 조명 유닛은 하우징(210), 광원(220-1,220-2,220-3), 광 분리 부재(230), 평행광 변환 부재(240-1,240-2,240-3), 확산 부재(250), 그리고 집광 부재(260)를 포함한다. 광원(220-1,220-2,220-3), 광 분리 부재(230), 평행광 변환 부재(240-1,240-2,240-3), 확산 부재(250), 그리고 집광 부재(260)는 하우징(210)에 수용되어 하나의 모듈 형태로 제공될 수 있다.Referring to FIG. 13, the lighting unit includes a
하우징(210)은 대체로 육면체 형상으로 제공될 수 있다. 하우징(210)은 사각형 형상의 상부 벽(214)과 하부 벽(216)을 가지고, 상부 벽(214)의 가장자리와 하 부 벽(216)의 가장자리는 측벽(212)에 의해 연결된다. 하우징(210)의 상부 벽(214)에는 광 분리 부재(230)가 투과시키는 광이 통과하도록 홀(215)이 형성되고, 하우징(210)의 하부 벽(216)에는 집광 부재(260)가 투과시키는 광이 통과하도록 개구부(217)가 형성된다.The
광원들(220-1,220-2,220-3)은 도 13의 평면에 수직한 제 1 방향을 따라 수평하게 복수 개가 일렬로 배치되고, 제 1 방향에 수직한 제 2 방향을 따라 상하로 적층될 수 있다. 광 분리 부재(230)는 길이 방향이 제 1 방향을 향하고, 제 1 및 제 2 방향에 수직한 제 3 방향으로 광원들(220-1,220-2,220-3)로부터 이격되도록 배치될 수 있다. 집광 부재(260)는 길이 방향이 제 1 방향을 향하고, 제 2 방향을 따라 광 분리 부재(230)의 아래에 이격 배치될 수 있다. 평행광 변환 부재들(240-1,240-2,240-3)은 광원들(220-1,220-2,220-3)과 광 분리 부재(230)의 사이에 길이 방향이 제 1 방향을 향하고 제 2 방향을 따라 상하로 적층될 수 있다. 확산 부재(250)는 광 분리 부재(230)와 평행광 변환 부재들(240-1,240-2,240-3)의 사이에 길이 방향이 제 1 방향을 향하도록 개재될 수 있다.The plurality of light sources 220-1, 220-2, and 220-3 may be arranged in a row in a horizontal line along a first direction perpendicular to the plane of FIG. 13, and may be stacked vertically along a second direction perpendicular to the first direction. . The
이상에서는, 광 분리 부재(230)로 빔 스프리터(Beam Spliter)가 사용된 경우를 예로 들어 설명하였다. 그러나, 광 분리 부재로는 빔 스프리터 이외에도, 도 14에 도시된 바와 같이 하프 미러(Half Mirror, 230')가 사용될 수도 있다.In the above, the case where the beam splitter is used as the
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으 로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시 예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시 예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the invention. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The protection scope of the present invention should be interpreted by the following claims, and all technical ideas within the equivalent scope should be interpreted as being included in the scope of the present invention.
이하에 설명된 도면들은 단지 예시의 목적을 위한 것이고, 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것이 아니다.The drawings described below are for illustrative purposes only and are not intended to limit the scope of the invention.
도 1은 본 발명에 따른 광학 검사 장치를 개략적으로 보여주는 도면이다.1 is a view schematically showing an optical inspection device according to the present invention.
도 2는 도 1의 "A" 부분의 평면도이다.FIG. 2 is a plan view of portion “A” of FIG. 1.
도 3은 도 1 및 도 2의 조명 유닛의 구성을 보여주는 측단면도이다.3 is a side cross-sectional view showing the configuration of the lighting unit of FIGS. 1 and 2.
도 4는 도 3의 광 분리 부재와 집광 부재의 사시도이다.4 is a perspective view of the light separating member and the light collecting member of FIG. 3.
도 5는 도 3의 집광 부재를 확대하여 보여주는 도면이다.5 is an enlarged view illustrating the light collecting member of FIG. 3.
도 6 및 도 7은 본 발명에 따른 조명 유닛의 동작 상태를 보여주는 도면들이다.6 and 7 are views showing an operating state of the lighting unit according to the present invention.
도 8 내지 도 12는 집광 부재의 다른 예를 보여주는 도면들이다.8 to 12 are views showing another example of the light collecting member.
도 13은 조명 유닛의 다른 예를 보여주는 측단면도이다.13 is a side sectional view showing another example of a lighting unit.
도 14는 조명 유닛의 또 다른 예를 보여주는 도면이다.14 is a view showing another example of a lighting unit.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >Description of the Related Art
1: 광학 검사 장치 100: 이동 유닛1: optical inspection device 100: moving unit
200: 조명 유닛 210: 하우징200: lighting unit 210: housing
220: 광원 230: 광 분리 부재220: light source 230: light separation member
240: 평행광 변환 부재 250: 확산 부재240: parallel light conversion member 250: diffusion member
260: 집광 부재 262: 경사면260: light collecting member 262: inclined surface
264: 홀 300: 촬영 유닛264: hall 300: shooting unit
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