KR101201487B1 - Test apparatus of light emitting diode module - Google Patents
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Abstract
본 발명은 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있도록 이루어진 엘이디 검사장치에 관한 것이다.
이를 위하여 본 발명은 단수 또는 복수 개의 엘이디 소자들과, 상기 엘이디 소자들에 전원을 공급하기 위한 접속단자를 갖는 엘이디 모듈을 검사함에 있어서, 상기 엘이디 모듈이 안착되는 안착부와, 상기 엘이디 모듈에서 발광되는 빛이 하부로 향하도록 하는 안내홀이 형성된 고정유닛, 상기 고정유닛의 하부에 배치되어, 상기 안내홀과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈의 빛이 관통되도록 하기 위한 투명안내부를 가지며, 상기 고정유닛을 지지하는 케이스, 상기 케이스의 내부에 설치되며, 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 측정하여 상기 엘이디의 점등여부 또는 광 특성을 측정하기 위한 측정유닛, 상기 엘이디 모듈의 접속단자에 접촉되어 상기 엘이디 모듈에 전원을 공급하기 위한 이동전극을 갖는 전원공급유닛 그리고 상기 측정유닛과 상기 전원공급유닛을 제어하기 위한 제어유닛을 포함하는 엘이디 검사장치를 제공한다.The present invention relates to an LED inspection device made to shorten the LED inspection time.
To this end, the present invention in the inspection of the LED module having a single or a plurality of LED elements, and the connection terminal for supplying power to the LED elements, the seating portion on which the LED module is seated, and the light emitting from the LED module A fixed unit having a guide hole for directing the light downward, the fixing unit is disposed below the fixing unit, and has a transparent guide unit for allowing the light of the LED module to penetrate at a position opposite to the guide hole; Case is installed in the case, the inside of the case, the measuring unit for measuring the light flowing through the transparent guide to measure whether the LED is lit or optical characteristics, the LED in contact with the connection terminal of the LED module A power supply unit having a moving electrode for supplying power to the module and the measuring unit And it provides an LED inspection device comprising a control unit for controlling the power supply unit.
Description
본 발명은 엘이디 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있도록 이루어진 엘이디 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an LED inspection device, and more particularly, to an LED inspection device made to shorten the LED inspection time.
광원으로 사용되는 발광다이오드, 즉 엘이디(LED: Light Eimitting Diode)는 전기신호를 적외선 또는 빛으로 변환시켜 신호를 보내고 받는데 사용되는 반도체 소자를 의미한다.A light emitting diode used as a light source, or LED, refers to a semiconductor device used to send and receive signals by converting electrical signals into infrared or light.
이러한, 엘이디는 발광효율이 높고 저전류에서 고출력을 얻을수 있으며, 응답속도가 빠르고 펄스동작 고주파에 의한 변조가 가능하다.Such LEDs have high luminous efficiency and high output at low current, fast response speed, and can be modulated by high frequency pulse operation.
또한, 엘이디는 광출력을 전류제어로 용이하게 변화시킬 수 있으며 다양한 색상연출이 가능한 친환경적인 광원에 해당한다.In addition, LED is an environmentally friendly light source that can easily change the light output by the current control and can produce a variety of colors.
이와 같은, 엘이디의 장점들로 인하여 엘이디는 전자제품류와 가정용 가전제품, 리모컨, 자동차, 전광판, 각종 자동화기기, 신호등, 조명기구 등에 많이 사용된다.Due to the advantages of the LED, the LED is widely used in electronics, home appliances, remote controls, automobiles, electronic signs, various automation devices, traffic lights, lighting fixtures, and the like.
이러한, 엘이디는 사용 용도에 따라 사용되기 전에 요구사양에 맞게 제작되었는지에 대한 검사가 이루어지게 된다.Such LEDs are checked to see if they are manufactured according to the requirements before being used according to the intended use.
여기서, 엘이디 검사는 각각의 엘이디가 제대로 점등되는지에 대한 점등여부를 확인하는 엘이디 점등검사와 엘이디의 광량과 색온도 등과 같은 광 특성을 분석하는 광 특성 검사가 이루어진다.Here, the LED inspection is made of an LED lighting test for checking whether each LED is lit properly and an optical characteristic test for analyzing optical characteristics such as the light quantity and color temperature of the LED.
한편, 엘이디 점등검사는 각각의 엘이디에 전원을 공급한 후, 각각의 엘이디가 제대로 점등되는지를 확인하여 점등상태의 불량여부를 검사하게 된다. On the other hand, the LED lighting test is to check whether each LED is lit properly after supplying power to each LED, and whether the lighting state is defective.
그러나, 종래의 엘이디 점등검사는 작업자가 수작업으로 엘이디에 전원을 공급하고, 육안으로 엘이디의 점등여부를 확인하였기 때문에 검사속도가 느릴 뿐만 아니라 검사정확도에 있어서도 한계가 있었다.However, in the conventional LED lighting test, the operator manually supplies power to the LED and visually checks whether the LED is lit. Therefore, the inspection speed is slow and there is a limit in the inspection accuracy.
한편, 엘이디의 광 특성을 검사하기 위해 대개 적분구가 사용된다.On the other hand, integrating spheres are usually used to examine the LED's optical properties.
여기서, 적분구는 내부가 높은 반사율을 가진 물질로 코팅된 중공의 기구로서 적분구 내부에 엘이디를 위치시킨 후 전원을 인가하여 엘이디로부터 발산되는 빛이 적분구의 내부 구면에 난반사가 이루어지도록 하여 엘이디의 광 특성을 측정하게 된다.Here, the integrating sphere is a hollow apparatus coated with a material having a high reflectance. The LED is placed inside the integrating sphere, and then the power is applied so that the light emitted from the LED is diffusely reflected on the inner sphere of the integrating sphere so that the light of the LED is The characteristic is measured.
이러한, 적분구를 이용한 엘이디 검사장치는 적분구의 내측에 엘이디가 구비되도록 이루어진 후 광 특성 검사가 이루어진다.The LED inspection apparatus using the integrating sphere is made so that the LED is provided on the inner side of the integrating sphere, and the optical characteristic inspection is performed.
구체적으로, 반구형태로 이루어진 2개의 적분구는 분리 결합을 통해 적분구의 내측에 엘이디를 위치시킨 후 광 특성 검사가 이루어진다.Specifically, the two integrating spheres having a hemispherical shape are optically inspected after placing the LED inside the integrating sphere through separation coupling.
이와 같은, 엘이디 검사장치는 적분구 내측에 엘이디를 위치시킨 후 광 특성 검사가 이루어지기에 엘이디의 광 특성 검사 시간이 오래 걸리는 문제가 있다.As described above, the LED inspection apparatus has a problem in that it takes a long time to inspect the LED's optical properties since the LEDs are placed after the LEDs are placed inside the integrating sphere.
이에, 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있는 엘이디 검사장치에 대한 다양한 연구개발이 이루어지고 있다.Thus, various research and development has been made for the LED inspection device that can reduce the LED inspection time.
상기와 같은 문제를 해결하기 위하여, 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 엘이디 검사 시간을 단축할 수 있도록 이루어진 엘이디 검사장치를 제공하는 것이다.In order to solve the above problems, the present invention is to provide an LED inspection device made to shorten the LED inspection time.
상기 해결하고자 하는 과제를 달성하기 위하여, 본 발명은 단수 또는 복수 개의 엘이디 소자들과, 상기 엘이디 소자들에 전원을 공급하기 위한 접속단자를 갖는 엘이디 모듈을 검사함에 있어서, 상기 엘이디 모듈이 안착되는 안착부와, 상기 엘이디 모듈에서 발광되는 빛이 하부로 향하도록 하는 안내홀이 형성된 고정유닛, 상기 고정유닛의 하부에 배치되어, 상기 안내홀과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈의 빛이 관통되도록 하기 위한 투명안내부를 가지며, 상기 고정유닛을 지지하는 케이스, 상기 케이스의 내부에 설치되며, 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 측정하여 상기 엘이디의 점등여부 또는 광 특성을 측정하기 위한 측정유닛, 상기 엘이디 모듈의 접속단자에 접촉되어 상기 엘이디 모듈에 전원을 공급하기 위한 이동전극을 갖는 전원공급유닛 그리고 상기 측정유닛과 상기 전원공급유닛을 제어하기 위한 제어유닛을 포함하는 엘이디 검사장치를 제공한다.In order to achieve the object to be solved, the present invention in the inspection of the LED module having a single or a plurality of LED elements, and a connection terminal for supplying power to the LED elements, the mounting of the LED module is seated And a fixing unit having a guide hole for directing light emitted from the LED module to a lower portion thereof, and disposed below the fixing unit to allow light of the LED module to penetrate at a position opposite to the guide hole. It has a transparent guide portion, the case for supporting the fixing unit, is installed inside the case, the measuring unit for measuring the light or the light characteristics of the LED by measuring the light flowing through the transparent guide portion, the LED module A moving electrode for supplying power to the LED module in contact with a connection terminal of the Source supply unit and the LED provides a testing device comprising a control unit for controlling said measurement unit and the power supply unit.
그리고, 상기 측정유닛은 상기 엘이디 모듈의 광특성 검사를 위하여 상기 투명안내부와 기밀하게 접촉되며, 상기 엘이디 모듈로부터 발산되는 빛이 골고루 확산되도록 구성된 적분구, 상기 적분구의 일측에 설치되며 상기 엘이디 모듈의 광 특성을 측정하는 분광기 그리고 상기 적분구 내부에 설치되어 상기 엘이디 모듈의 빛을 상기 분광기로 안내하기 위한 배플을 포함한다.In addition, the measuring unit is in intimate contact with the transparent guide unit for the optical characteristics of the LED module, the integrating sphere configured to diffuse the light emitted from the LED module evenly, is installed on one side of the integrating sphere and the LED module It includes a spectroscope for measuring the optical characteristics of the and installed inside the integrating sphere and a baffle for guiding the light of the LED module to the spectrometer.
또한, 상기 측정유닛은 상기 엘이디 모듈의 점등여부를 검사하기 위하여 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 촬영하는 CCD카메라를 포함한다.In addition, the measuring unit includes a CCD camera for photographing the light flowing through the transparent guide to check whether the LED module is lit.
또한, 상기 접속단자는 제1 접속단자 및 제2 접속단자를 포함하고, 상기 이동전극은 상하로 이동되면서 상기 제1 접속단자와 접촉되는 제1 이동전극과, 좌우로 이동되면서 상기 제2 접속단자와 접촉되는 제2 이동전극을 포함한다.In addition, the connection terminal includes a first connection terminal and a second connection terminal, the moving electrode is moved up and down, the first moving electrode in contact with the first connection terminal, and the left and right while the second connection terminal It includes a second moving electrode in contact with the.
또한, 상기 전원공급유닛은 상기 제1 이동전극과 결합되어 이동되는 제1 유닛본체, 상기 제1 유닛본체를 상하로 이동시키기 위한 제1 구동부, 상기 제2 이동전극과 결합된 제2 유닛본체 그리고 상기 제2 유닛본체를 좌우로 이동시키기 위한 제2 구동부를 포함한다.The power supply unit may include a first unit body coupled to the first moving electrode, a first driving unit for moving the first unit body up and down, a second unit body coupled to the second moving electrode, and It includes a second drive unit for moving the second unit body to the left and right.
한편, 상기 전원공급유닛은 상기 제1 이동전극 및 상기 제2 이동전극이 상기 접속단자와 접촉될 때 접촉력을 향상시키기 위하여 구비되는 제1 탄성부재 및 제2 탄성부재를 더 포함한다.On the other hand, the power supply unit further includes a first elastic member and a second elastic member provided to improve the contact force when the first moving electrode and the second moving electrode in contact with the connection terminal.
그리고, 상기 전원공급유닛의 작동 중에 상기 전원공급유닛으로 외부 물체가 접근하는 것을 감지하여 상기 전원공급유닛의 동작이 정지되도록 제어하기 위한 안전센서를 더 포함한다.The apparatus may further include a safety sensor for controlling an operation of the power supply unit to be stopped by detecting that an external object approaches the power supply unit during operation of the power supply unit.
상기에서 설명한 본 발명에 따른 엘이디 검사장치의 효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effect of the LED inspection device according to the present invention described above are as follows.
첫째, 엘이디와 적분구 사이에는 투명안내부가 구비되고 엘이디 모듈은 투명안내부를 통해 적분구의 내측으로 빛이 발산되도록 이루어져 엘이디 모듈의 광 특성을 측정할 수 있으므로 엘이디 검사 시간이 단축될 수 있다.First, the transparent guide portion is provided between the LED and the integrating sphere, and the LED module is configured to emit light to the inside of the integrating sphere through the transparent guide so that the LED inspection time can be shortened.
다시 말해서, 본 발명에 따른 엘이디 검사장치는 엘이디 모듈을 적분구의 내측에 위치시켜 엘이디 모듈에 대한 광 특성 검사가 이루어지는 것이 아니라 적분구의 외측에 엘이디 모듈을 위치시켜 엘이디 모듈의 광 특성 검사가 이루어질 수 있기에 엘이디 모듈의 광 특성 검사 시간을 단축할 수 있다.In other words, in the LED inspection apparatus according to the present invention, the LED module is positioned inside the integrating sphere so that the optical characteristics of the LED module are not inspected, but the LED module is positioned outside the integrating sphere so that the optical characteristics of the LED module can be inspected. The optical characteristic inspection time of the LED module can be shortened.
이에, 엘이디 모듈의 제품 생산성을 향상시킬 수 있다.Thus, product productivity of the LED module can be improved.
둘째, 엘이디 검사장치에는 CCD 카메라가 구비되며 CCD 카메라는 엘이디 모듈로부터 발산되는 빛에 대해 촬상이 이루어져 점등상태를 확인할 수 있으므로 종전의 육안으로 엘이디의 점등여부를 확인하는 것보다 검사 정확도를 높일 수 있다.Second, the LED inspection device is equipped with a CCD camera and CCD camera can check the lighting state by imaging the light emitted from the LED module, so the inspection accuracy can be improved than checking whether the LED is lit by the naked eye. .
셋째, 엘이디 검사장치는 전원공급유닛의 이동을 통해 엘이디 모듈에 전원 공급이 이루어져 엘이디 모듈의 검사가 이루어질 수 있기에 엘이디 검사장치의 구조가 단순하며 조작이 간편하다.Third, the LED inspection device is a power supply to the LED module through the movement of the power supply unit can be made to inspect the LED module, so the structure of the LED inspection device is simple and easy to operate.
이에, 엘이디 검사장치의 초기 설치비가 저렴하고, 엘이디 검사 시간이 단축될수 있다.Therefore, the initial installation cost of the LED inspection device is low, the LED inspection time can be shortened.
도 1은 본 발명의 엘이디 검사장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 도 1의 A-A 개략 단면도이다.
도 3은 본 발명의 전원공급유닛에 대한 정면도이다.
도 4a는 본 발명의 전원공급유닛의 상하 작동에 대한 작동 상태도이다.
도 4b는 본 발명의 전원공급유닛의 좌우 작동에 대한 작동 상태도이다.
도 5는 본 발명의 전원공급유닛의 요부에 대한 부분 확대도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 검사장치의 개략 단면도이다.1 is a perspective view of the LED inspection device of the present invention.
2 is a schematic cross-sectional view of AA of the present invention.
3 is a front view of the power supply unit of the present invention.
Figure 4a is an operating state diagram for the vertical operation of the power supply unit of the present invention.
Figure 4b is an operating state diagram for the left and right operation of the power supply unit of the present invention.
5 is a partially enlarged view of the main portion of the power supply unit of the present invention.
6 is a schematic cross-sectional view of the LED inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
상술한 과제를 구체적으로 실현할 수 있는 본 발명의 바람직한 실시예들을 첨부한 도면을 참고하여 설명한다.With reference to the accompanying drawings, preferred embodiments of the present invention that can specifically realize the above-described problem will be described.
도 1은 본 발명의 엘이디 검사장치의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 도 1의 A-A 개략 단면도이며, 도 3은 본 발명의 전원공급유닛에 대한 정면도이고, 도 4a는 본 발명의 전원공급유닛의 상하 작동에 대한 작동 상태도이며, 도 4b는 본 발명의 전원공급유닛의 좌우 작동에 대한 작동 상태도이고, 도 5는 본 발명의 전원공급유닛의 요부에 대한 부분 확대도이다.1 is a perspective view of the LED inspection apparatus of the present invention, Figure 2 is a schematic cross-sectional view of AA of Figure 1 of the present invention, Figure 3 is a front view of the power supply unit of the present invention, Figure 4a is a power supply unit of the present invention 4 is an operation state diagram for the left and right operation of the power supply unit of the present invention, Figure 5 is a partial enlarged view of the main portion of the power supply unit of the present invention.
도 1 내지 도 5에서 보는 바와 같이 엘이디 검사장치(1000)는 고정유닛(100), 케이스(200), 투명안내부(300), 측정유닛(400), 전원공급유닛(500), 제어유닛(600) 및 판정유닛(700)이 포함되어 이루어진다.1 to 5, the
이러한, 상기 고정유닛(100)에는 엘이디 모듈(10)이 안착되도록 안착부(110)가 형성되고 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 상기 측정유닛(400)으로 안내되도록 하는 안내홀(111)이 형성된다.The
여기서, 상기 엘이디 모듈(10)은 복수개의 엘이디 소자(미도시)들과 상기 엘이디 소자들에 전원을 공급하기 위한 접속단자를 포함한다. 여기서, 상기 접속단자는 제1 접속단자(11)와 제2 접속단자(12)를 포함하여 이루어진다.Here, the
그리고, 상기 엘이디 모듈(10)에 전원이 인가되면 상기 제1 접속단자(11) 및 제2 접속단자(12)는 복수개의 상기 엘이디 소자로 전원을 공급하게 되어 상기 엘이디 소자는 빛을 발산하게 된다.When power is applied to the
한편, 상기 안착부(110)는 빛이 발산되는 방향의 상기 엘이디 모듈(10)의 바닥부와 대응되는 형상으로 이루어져 상기 엘이디 모듈(10)을 안착하게 된다.On the other hand, the
그리고, 상기 엘이디 모듈(10)과 접촉이 이루어지는 상기 안착부(110)에는 고무와 같은 탄성재질이 구비됨이 바람직하다.In addition, the
이는, 상기 엘이디 모듈(10)이 상기 안착부(110)에 안착됨에 있어 상기 엘이디 모듈(10)에 스크래치가 발생되는 것을 방지하기 위해서이다.This is to prevent the scratch from occurring in the
이러한, 상기 안착부(110)는 상기 엘이디 모듈(10)에 전원을 인가하는 상기 전원공급유닛(500)과 엘이디 모듈(10)의 접촉이 수월하게 이루어질 수 있도록 상기 엘이디 모듈(10)의 위치 가이드 역할을 하게 된다.The
그리고, 상기 고정유닛(100)에는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 확대되어 상기 측정유닛(400)로 전달되도록 상기 안내홀(111)이 형성된다.In addition, the
여기서, 상기 안내홀(111)은 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 하부로 갈수록 확대되도록 이루어진다.Here, the
이는, 상기 안내홀(111)은 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 상기 측정유닛(400)으로 전달되도록 하기 위함이다.This is for the
그리고, 상기 케이스(200)는 상기 고정유닛(100)의 하부에 배치되어 상기 고정유닛(100)을 지지하도록 이루어진다.In addition, the
또한, 상기 케이스(200)에는 상기 안내홀(111)과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 관통되도록 이루어진 상기 투명안내부(300)가 구비된다.In addition, the
이러한, 상기 투명안내부(300)는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛을 상기 측정유닛(400)으로 빛이 전달되도록 이루어진다.The
그리고, 상기 케이스(200)의 내부에는 상기 측정유닛(400)이 구비된다.In addition, the
여기서, 상기 케이스(200)는 상기 측정유닛(400)의 외부에 형성되어 상기 측정유닛(400)를 외부로부터 보호하도록 이루어진다.Here, the
그리고, 상기 케이스(200)에는 바퀴부(210)가 형성되어 상기 엘이디 검사장치(1000)의 이동이 수월하도록 이루어진다.And, the
한편, 상기 측정유닛(400)은 적분구(410)와 분광기(420)가 포함되어 이루어진다.Meanwhile, the
또한, 상기 적분구(410)는 몸체부(411), 반사 코팅층(412) 및 배플(413)이 포함되어 이루어진다.In addition, the integrating
여기서, 상기 몸체부(411)는 상기 적분구(410)의 외형을 형성하며 상기 투명안내부(300)로부터 유입되는 빛이 상기 몸체부(411)의 내부로 안내되도록 하는 제1개구부(414)와 상기 분광기(420)와 결합되는 제2개구부(415)가 형성된다.Here, the
그리고, 상기 몸체부(411)에는 상기 제1개구부(414)가 형성되어 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 상기 투명안내부(300)를 통해 상기 몸체부(411)의 내부로 안내되도록 이루어진다.In addition, the
이때, 상기 제1개구부(414)는 상기 투명안내부(300)와 접촉되어 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛이 상기 몸체부(411)의 내부로 안내되도록 한다.At this time, the
한편, 상기 제2개구부(415)에는 광의 특성을 검사하는 상기 분광기(420)가 결합된다.On the other hand, the
그리고, 상기 몸체부(411)의 내측면에는 고 반사율을 갖는 물질로 이루어진 상기 반사 코팅층(412)이 구비된다.In addition, the inner surface of the
여기서, 상기 반사 코팅층(412)은 상기 제1개구부(414)로부터 유입되는 빛이 상기 몸체부(411)의 내부 구면에서 난반사가 이루어지도록 하여 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛에 대해 상기 적분구(410)의 내부에서 빛이 확산 되도록 하는 역할을 하게 된다.Here, the
그리고, 상기 몸체부(411)의 내부에는 상기 배플(413)이 결합된다.The
여기서, 상기 배플(413)은 상기 반사 코팅층(412)에 의해 난반사가 이루어진 상기 엘이디 모듈(10)의 빛을 상기 제2개구부(415)로 안내하는 역할을 하게 된다.Here, the
이는, 상기 배플(413)이 상기 반사 코팅층(412)에 의해 난반사가 이루어진 빛을 상기 분광기(420)로 빛을 모아줌으로써 광 특성 검사시간이 단축되도록 하기 위함이다.This is because the
한편, 상기 배플(413)에는 상기 반사 코팅층(412)의 반사물질이 덮여짐으로써 상기 적분구(410) 내부에서 골고루 확산된 빛이 제2개구부(415)로 안내 되도록 함이 바람직하다.On the other hand, the
이러한, 상기 적분구(410)는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛을 상기 제1개구부(414)를 통해 상기 몸체부(411)의 내부로 빛이 안내되도록 하고, 상기 몸체부(411)의 내부로 안내된 빛은 상기 반사 코팅층(412)에 의해 난반사가 이루어져 상기 배플(413)을 통해 상기 제2개구부(415)로 보내져 상기 분광기(420)에서 상기 엘이디 모듈(10)에 대한 광 특성 검사가 이루어지게 된다.The integrating
이와 같이, 상기 적분구(410)로부터 전달되는 빛을 수용하는 상기 분광기(420)는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛에 대해 다양한 광 특성 검사가 이루어진다.As such, the
예를 들면, 상기 분광기(420)는 색좌표, 반측폭, 중심파장, 색온도, 연색지수 및 주파장 등의 파장정보와 광량 정보 등의 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발생되는 빛에 대해 다양한 광 측정이 이루어진다.For example, the
한편, 상기 분광기(420)는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 측정된 데이터 값을 상기 판정유닛(700)으로 전송하게 된다.On the other hand, the
여기서, 상기 판정유닛(700)은 상기 분광기(420)로부터 전달된 데이터 값을 통해 상기 엘이디 모듈(10)의 불량 여부를 판정하게 된다.Here, the
그리고, 상기 판정유닛(700)은 상기 엘이디 모듈(10)의 불량 여부에 따른 판정 결과를 작업자에게 보여줌으로써 작업자는 상기 엘이디 모듈(10)의 불량 여부를 알 수 있게 된다.In addition, the
이러한, 상기 엘이디 검사장치(1000)는 작업자가 상기 제어유닛(600)을 통해 상기 전원공급유닛(500)을 제어함으로써 상기 고정유닛(100)에 안착된 상기 엘이디 모듈(10)에 전원이 인가되도록 하여 상기 엘이디 모듈(10)의 광 특성을 검사하게 된다.The
여기서, 상기 제어유닛(600)은 상기 케이스(200)에 설치되어 작업자는 상기 전원공급유닛(500)을 제어하게 된다.Here, the
그리고, 상기 전원공급유닛(500)은 제1 유닛본체(510), 제1 구동부(520), 제1 이동전극(530), 제1 연결부(540), 제2 유닛본체(550), 제2 구동부(560), 제2 이동전극(570) 및 제2 연결부(580)가 포함되어 이루어진다.The
이러한, 상기 제1 구동부(520)는 상기 케이스(200)에 결합된 지지프레임(220)과 결합되어 상기 전원공급유닛(500)이 상기 고정유닛(100)의 상측에 위치되도록 이루어진다.The
그리고, 상기 제1 구동부(520)는 상기 제1 유닛본체(510)를 상하로 이동시키게 된다.In addition, the
여기서, 상기 제1 유닛본체(510)에는 상기 제1 연결부(540)가 결합되며 상기 제1 구동부(520)의 작동에 의해 상기 제1 연결부(540)는 길이가 가변되어 상기 제1 유닛본체(510)가 상하로 이동하게 된다.Here, the
이때, 상기 제1 구동부(520)는 유압실린더로 이루어져 상기 제1 연결부(540)의 길이 조정을 통해 상기 제1 유닛본체(510)가 상하로 이동되도록 이루어짐이 바람직하다.At this time, the
한편, 상기 제1 구동부(520)는 유압실린더 방식에 한정되지 않으며 다양한 방법에 의해 상기 제1 유닛본체(510)를 상하 이동시킬 수도 있다.On the other hand, the
그리고, 상기 제1 유닛본체(510)의 하측에는 상기 제1 이동전극(530)이 구비된다.The first moving
여기서, 상기 제1 이동전극(530)은 상기 제1 유닛본체(510)의 상하 이동에 따라 상기 제1 유닛본체(510)와 함께 상하로 이동된다.Here, the first moving
한편, 상기 제1 이동전극(530)에는 상기 제1 탄성부재(591)가 구비된다.The first moving
여기서, 상기 제1 탄성부재(591)는 상기 제1 이동전극(530)이 상기 안착부(110)에 안착된 상기 엘이디 모듈(10)의 제1 접속단자(11)와 접촉됨에 있어 상기 제1 탄성부재(591)의 탄성력에 의해 상기 제1 이동전극(530)과 제1 접속단자(11)의 접촉력이 향상되도록 이루어진다.Here, the first
그리고, 상기 제2 구동부(560)는 상기 제1 유닛본체(510)의 내측에 구비되며 상기 제2 유닛본체(550)를 좌우로 이동시키게 된다.In addition, the
여기서, 상기 제2 유닛본체(550)는 상기 제1 유닛본체(510)를 기준으로 양측으로 한쌍을 이루며 마주보도록 이루어진다.Here, the
이는, 상기 제2 이동전극(570)이 상기 제2 접속단자(12)에 접촉됨에 있어 접촉불량이 발생되지 않도록 하기 위함이다.This is to prevent contact failure when the second moving
이러한, 상기 제2 유닛본체(550)는 좌측 유닛본체(551)와 우측 유닛본체(552)가 포함되어 이루어진다.The
그리고, 상기 제2 유닛본체(550)는 상기 제2 구동부(560)의 작동에 의해 상기 제1 유닛본체(510)를 기준으로 양측으로 벌려지고 오므려지도록 이루어진다.In addition, the
그리고, 상기 제2 유닛본체(550)에는 상기 제2 연결부(580)가 결합되며 상기 제2 구동부(560)의 작동에 의해 상기 제2 연결부(580)는 상기 제2 유닛본체(550)를 이동시키게 된다.In addition, the
이러한, 상기 제2 연결부(580)는 상기 좌측 유닛본체(551)에 결합되는 좌측 연결부(581)와 상기 우측 유닛본체(552)에 결합되는 우측 연결부(582)가 포함되어 이루어진다.The
여기서, 상기 좌측 연결부(581)와 우측 연결부(582)에는 기어가 형성되고 상기 좌측 연결부(581)와 우측 연결부(582) 사이에는 기어가 형성된 상기 제2 구동부(560)가 구비되어 상기 제2 구동부(560)의 회전 방향에 따라 상기 제2 유닛본체(550)는 상기 제1 유닛본체(510)를 기준으로 벌려지고 오므려지도록 이루어진다.Here, a gear is formed at the
이러한, 상기 제2 유닛본체(550)의 이동방법은 상술된 방법에 한정되지 않으며 다양한 방법에 의해 상기 제2 유닛본체(550)를 대칭적으로 좌우로 이동시킬 수도 있다.The movement method of the
한편, 상기 제어유닛(600)은 상기 전원공급유닛(500)의 이동을 제어하고, 상기 제1 이동전극(530)과 제2 이동전극(570)으로 전원을 제어하여 상기 엘이디 모듈(10)의 제1 접속단자(11) 및 제2 접속단자(12)로 전원을 공급하게 된다.On the other hand, the
이때, 상기 제어유닛(600)은 상기 제1 이동전극(530)으로 (+) 또는 (-) 전극을 공급하며, 상기 제2 이동전극(570)으로는 상기 제1 이동전극(530)과 반대되는 전극을 공급함으로써 상기 엘이디 모듈(10)로 전원이 공급될 수 있다.In this case, the
여기서, 상기 제1 이동전극(530)과 제2 이동전극(570)에는 전선(미도시)이 연결되며 상기 제어유닛(600)의 작동에 의해 상기 전선(미도시)으로 전원 공급이 이루어지게 된다.Here, a wire (not shown) is connected to the first moving
그리고, 상기 제1 이동전극(530)에는 상기 제1 탄성부재(591)가 구비되어 상기 제1 이동전극(530)이 하강하여 상기 제1 접속단자(11)에 접촉될 경우에 상기 제1 탄성부재(591)는 상기 제1 이동전극(530)을 탄성력에 의해 밀쳐내도록 이루어짐으로써 상기 제1 이동전극(530)과 상기 제1 접속단자(11)는 접촉력이 향상될 수 있다.The first moving
또한, 상기 제2 이동전극(570)에도 상기 제2 탄성부재(592)가 구비됨으로써 상기 제1 이동전극(530)과 동일하게 상기 제2 이동전극(570)과 상기 제2 접속단자(12)는 접촉력이 향상될 수 있다. 즉, 상기 좌측 유닛본체(551) 및 상기 우측 유닛본체(552)가 상기 제1 탄성부재(592)를 가압하여 상기 제2 이동전극(570)이 상기 제2 접속단자(12)에 밀착되도록 하게 된다.In addition, since the second
그리고, 상기 전원공급유닛(500)의 외측에는 상기 전원공급유닛(500)을 보호하도록 커버부(900)가 구비된다.In addition, a
한편, 상기 케이스(200)에는 안전센서(800)가 결합된다.Meanwhile, the
여기서, 상기 안전센서(800)는 상기 전원공급유닛(500)이 작동됨에 있어 상기 전원공급유닛(500)으로 외부 물체가 접근하는 것을 감지하며 상기 전원공급유닛(500)이 작동중인 경우에 상기 안전센서(800)에 의해 외부 물체 접근이 확인되면 상기 전원공급유닛(500)은 작동이 중지되도록 이루어진다.Here, the
이는, 상기 전원공급유닛(500)의 작동중에 발생될 수 있는 사고를 미연에 방지하기 위함이다.This is to prevent an accident that may occur during the operation of the
이와 같은, 상기 엘이디 검사장치(1000)의 작업 과정을 살펴보면 작업자는 상기 엘이디 모듈(10)을 상기 안착부(110)에 안착시킨다.Looking at the working process of the
다음으로, 상기 제어유닛(600)을 통해 상기 제1 이동전극(530)을 하강시켜 상기 제1 이동전극(530)이 상기 제1 접속단자(11)에 접촉되도록 이루어진다.Next, the first moving
이때, 상기 제어유닛(600)은 상기 제1 이동전극(530)이 상기 제1 접속단자(11)에 접촉될 경우에 소리 또는 표시를 통해 작업자에게 상기 제1 이동전극(530)과 상기 제1 접속단자(11)의 접촉을 알리게 된다.In this case, when the first moving
다음으로, 상기 제어유닛(600)을 통해 상기 제2 이동전극(570)을 상기 제2 접속단자(12)방향으로 오므려지도록 하여 상기 제2 이동전극(570)이 상기 제2 접속단자(12)에 접촉되도록 이루어진다.Next, the second moving
이때, 상기 제어유닛(600)은 상기 제2 이동전극(570)이 상기 제2접속단자(12)에 접촉될 경우에 소리 또는 표시를 통해 작업자에게 상기 제2 이동전극(570)과 상기 제2 접속단자(12)의 접촉을 알리게 된다.In this case, when the second moving
다음으로, 상기 제어유닛(600)을 통해 상기 제1 이동전극(530)과 제2 이동전극(570)으로 전원을 공급하여 상기 안착부(110)에 안착된 상기 엘이디 모듈(10)로 전원을 공급하여 상기 엘이디 모듈(10)에 구비되는 상기 엘이디 소자들은 빛을 발산하게 된다.Next, power is supplied to the
다음으로, 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛은 상기 투명안내부(300)를 통해 상기 적분구(410)의 내부로 이동되고 상기 적분구(410)의 내부로 이동된 빛은 상기 배플(413)을 통해 상기 분광기(420)로 전달되어 광 특성에 대한 검사가 이루어진다.Next, the light emitted from the
다음으로, 상기 분광기(420)를 통해 검사된 데이터 값은 상기 판정유닛(700)으로 전달되어 상기 엘이디 모듈(10)의 불량 여부를 판정하게 되며 판정 결과는 상기 판정유닛(700)을 통해 작업자에게 보여줌으로써 작업자는 상기 엘이디 모듈(10)의 불량 여부를 알 수 있게 된다.Next, the data value inspected through the
다음으로, 상기 엘이디 모듈(10)에 대한 판정 결과가 나오게 되면 상기 제어유닛(600)은 상기 제1 이동전극(530)과 제2 이동전극(570)으로 보내지는 전원을 차단하게 되며 상기 제1 이동전극(530)은 상기 제1 접속단자(11)로부터 상측으로 이동되도록 하고 상기 제2 이동전극(570)은 상기 제2 접속단자(12)로부터 벌려지도록 하여 작업자는 상기 엘이디 모듈(10)을 상기 엘이디 검사장치(1000)로부터 분리시킬 수 있다.Next, when the determination result for the
이와 같은, 상기 엘이디 검사장치(1000)는 상기 엘이디 모듈(10)을 상기 적분구(410)의 내측에 위치시켜 상기 엘이디 모듈(10)에 대한 광 특성 검사가 이루어지는 것이 아니라 상기 적분구(410)의 외측에 상기 엘이디 모듈(10)을 위치시켜 상기 엘이디 모듈(10)의 광 특성 검사가 이루어질 수 있기에 상기 엘이디 모듈(10)의 광 특성 검사 시간을 단축할 수 있다.As such, the
이에, 상기 엘이디 모듈(10)의 광 특성 검사시간이 단축되므로써 상기 엘이디 모듈(10) 제품의 생산성을 향상시킬 수 있다.As a result, the optical characteristic inspection time of the
그리고, 상기 전원공급유닛(500)의 이동을 통해 상기 엘이디 모듈(10)에 전원을 공급하여 상기 엘이디 모듈(10)의 광 특성 검사가 이루어지기에 상기 엘이디 검사장치(1000)의 구조가 단순하도록 이루어져 상기 엘이디 검사장치(1000)의 초기 설치 비용을 줄일 수 있다.In addition, the structure of the
본 실시예에서 사용되는 엘이디 모듈에 배치된 엘이디 소자에서 발광되는 빛이 하부로 향하는 형태로 배치되는 경우에는 상기 엘이디 모듈의 형상이 원형형상이던 다각형의 형상이든 이에 한정되지 않는다. When the light emitted from the LED elements disposed in the LED module used in the present embodiment is disposed in a downward direction, the shape of the LED module is not limited to a circular or polygonal shape.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 엘이디 검사장치의 개략 단면도이다.6 is a schematic cross-sectional view of the LED inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
도 6에서 보는 바와 같이 또 다른 실시예에 따른 엘이디 검사장치(1100)는 전술된 실시예와의 동일한 구조로 이루어지며 측정유닛이 CCD 카메라(450)로 이루어지는 차이가 있다.As shown in FIG. 6, the
여기서, 상기 엘이디 검사장치(1100)는 전술된 실시예와 동일한 작동 과정을 통해 엘이디 모듈(10)로 전원을 인가하게 된다.Here, the
그리고, 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛은 투명안내부(300)를 통해 케이스(200)의 내측으로 빛이 안내된다.Then, the light emitted from the
여기서, 상기 CCD 카메라(450)는 상기 케이스(200)의 내부 하측에 지지된다.Here, the
이러한, 상기 CCD 카메라(450)는 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛에 대해 촬상이 이루어져 상기 엘이디 모듈(10)로부터 발산되는 빛에 대한 점등 여부를 검사하게 된다.The
구체적으로, 상기 CCD 카메라(450)는 상기 엘이디 모듈(10)에서 발광되는 빛을 촬영하여 상기 엘이디 모듈(10)에 구비된 엘이디 소자들의 개수를 측정하게 된다. 이를 바탕으로 상기 엘이디 모듈(10)에 구비된 모든 엘이디 소자들이 제대로 발광되고 있는지를 검사하게 된다. In detail, the
예를 들어, 상기 엘이디 모듈(10)에 구비된 엘이디 소자들의 개수와 촬영된 영상에서의 엘이디 소자들의 개수가 일치하지 않으면 상기 엘이디 모듈(10)은 불량 상태로 판정된다. 이때, 촬영된 영상에서 엘이디 소자들의 개수를 셀 때는 상기 촬영된 영상에서의 광량 등을 바탕으로 설정된 기준치 이상의 값을 가지는 엘이디 소자들의 개수를 넘버링하는 방법으로 수행된다.For example, if the number of LED elements included in the
그리고, 상기 CCD 카메라(450)로부터 검사된 점등 여부 데이터 값은 판정유닛(700)으로 전달되어 상기 엘이디 모듈(10)의 점등 검사에 대한 불량 여부가 표시된다.In addition, the lighting data value checked from the
이와 같이, 또 다른 실시예에 따른 상기 엘이디 검사장치(1100)는 상기 엘이디 모듈(10)에 대한 점등 검사가 이루어질 수 있다.As such, the
또한, 본 실시예에서 사용되는 엘이디 모듈에 배치된 엘이디 소자에서 발광되는 빛이 하부로 향하는 형태로 배치되는 경우에는 상기 엘이디 모듈의 형상이 원형형상이던 다각형의 형상이든 이에 한정되지 않는다.In addition, when the light emitted from the LED elements disposed in the LED module used in the present embodiment is disposed in a downward direction, the shape of the LED module is not limited to the shape of a polygon having a circular shape.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정한 바람직한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형의 실시가 가능하고 이러한 변형은 본 발명의 범위에 속한다.As described above, the present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and various changes and modifications may be made by those skilled in the art without departing from the scope of the present invention as claimed in the claims. And such variations are within the scope of the present invention.
<도면 주요부분에 대한 부호의 설명>
100: 고정유닛 110: 안착부
200: 케이스 300: 투명안내부
400: 측정유닛 410: 적분구
420: 분광기 500: 전원공급유닛
530: 제1 이동전극 570: 제2 이동전극
591: 제1 탄성부재 592: 제2 탄성부재
600: 제어유닛 700: 판정유닛
800: 안전센서 1000: 엘이디 검사장치<Description of Symbols for Main Parts of Drawing>
100: fixed unit 110: seating portion
200: case 300: transparent guide
400: measuring unit 410: integrating sphere
420: spectrometer 500: power supply unit
530: first moving electrode 570: second moving electrode
591: first elastic member 592: second elastic member
600: control unit 700: judgment unit
800: safety sensor 1000: LED inspection device
Claims (7)
상기 엘이디 모듈이 안착되는 안착부와, 상기 엘이디 모듈에서 발광되는 빛이 하부로 향하도록 하는 안내홀이 형성된 고정유닛;
상기 고정유닛의 하부에 배치되어, 상기 안내홀과 대향되는 위치에서 상기 엘이디 모듈의 빛이 관통되도록 하기 위한 투명안내부를 가지며, 상기 고정유닛을 지지하는 케이스;
상기 케이스의 내부에 설치되며, 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 측정하여 상기 엘이디의 점등여부 또는 광 특성을 측정하기 위한 측정유닛;
상기 엘이디 모듈의 접속단자에 접촉되어 상기 엘이디 모듈에 전원을 공급하기 위한 이동전극을 갖는 전원공급유닛; 그리고
상기 측정유닛과 상기 전원공급유닛을 제어하기 위한 제어유닛을 포함하는 엘이디 검사장치.In inspecting an LED module having one or more LED elements and a connection terminal for supplying power to the LED elements,
A fixing unit having a seating portion on which the LED module is seated, and a guide hole for directing light emitted from the LED module downward;
A case disposed below the fixing unit and having a transparent guide part for allowing light of the LED module to penetrate at a position opposite to the guide hole and supporting the fixing unit;
A measuring unit installed inside the case and measuring light flowing through the transparent guide part to measure whether the LED is turned on or optical characteristics;
A power supply unit in contact with a connection terminal of the LED module and having a moving electrode for supplying power to the LED module; And
LED testing device including a control unit for controlling the measuring unit and the power supply unit.
상기 투명안내부와 접촉되며, 상기 엘이디 모듈로부터 발산되는 빛을 확산시켜주는 적분구;
상기 적분구의 일측에 설치되며 상기 엘이디 모듈의 광 특성을 측정하는 분광기; 그리고
상기 적분구 내부에 설치되어 상기 엘이디 모듈의 빛을 상기 분광기로 안내하기 위한 배플을 포함하는 엘이디 검사장치.The method of claim 1, wherein the measuring unit
An integrating sphere in contact with the transparent guide unit and diffusing light emitted from the LED module;
A spectrometer installed at one side of the integrating sphere and measuring optical characteristics of the LED module; And
The LED inspection apparatus is installed in the integrating sphere and comprises a baffle for guiding the light of the LED module to the spectrometer.
상기 측정유닛은 상기 엘이디 모듈의 점등여부를 검사하기 위하여 상기 투명안내부를 통하여 유입되는 빛을 촬영하는 CCD카메라를 포함하는 엘이디 검사장치. The method of claim 1,
The measuring unit LED inspection apparatus including a CCD camera for photographing the light flowing through the transparent guide to check whether the LED module is lit.
상기 제1 이동전극과 결합되어 이동되는 제1 유닛본체;
상기 제1 유닛본체를 상하로 이동시키기 위한 제1 구동부;
상기 제2 이동전극과 결합된 제2 유닛본체; 그리고
상기 제2 유닛본체를 좌우로 이동시키기 위한 제2 구동부를 포함하는 엘이디 검사장치.The method of claim 4, wherein the power supply unit
A first unit body coupled to the first moving electrode and moving;
A first driver for moving the first unit body up and down;
A second unit body coupled to the second moving electrode; And
LED inspection apparatus including a second drive unit for moving the second unit body to the left and right.
상기 전원공급유닛은 상기 제1 이동전극 및 상기 제2 이동전극이 상기 제1 접속단자 및 제2 접속단자와 접촉될 때 접촉력을 향상시키기 위하여 구비되는 제1 탄성부재 및 제2 탄성부재를 더 포함하는 엘이디 검사장치. 5. The method of claim 4,
The power supply unit further includes a first elastic member and a second elastic member provided to improve contact force when the first moving electrode and the second moving electrode are in contact with the first connection terminal and the second connection terminal. LED inspection device.
상기 전원공급유닛의 작동 중에 상기 전원공급유닛으로 외부 물체가 접근하는 것을 감지하여 상기 전원공급유닛의 동작이 정지되도록 제어하기 위한 안전센서를 더 포함하는 엘이디 검사장치The method of claim 1,
LED inspection apparatus further comprises a safety sensor for controlling the operation of the power supply unit is stopped by detecting the approach of the external object to the power supply unit during the operation of the power supply unit.
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