KR100721149B1 - Apparatus for measuring light intensity of light emitting device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 발광소자 특히 측면발광다이오드로부터 발광하는 광량을 측정하기 위한 광량 측정 장치에 관한 것으로서, 측면발광다이오드의 정확하고 측정이 용이한 광량 측정 방법이 가능할 뿐만 아니라 구체적인 형상에 관계없이 다양한 발광소자에 대하여 연속적으로 신속하게 광량의 측정이 가능한 시스템을 구현할 수 있는 이점이 있다. The present invention relates to a light quantity measuring device for measuring the amount of light emitted from a light emitting device, in particular, a side light emitting diode, and not only enables accurate and easy light quantity measuring method of the side light emitting diode, but also to various light emitting devices regardless of a specific shape. There is an advantage to implement a system that can measure the amount of light continuously and rapidly.
이를 위하여 본 발명은, 발광소자로부터의 발광량을 측정하기 위한 광측정용 적분구; 상기 광측정용 적분구와 결합하기 위한 결합부와, 상기 발광소자가 장착되는 안착부와, 상기 결합부 및 안착부와 일체로 형성되며 상기 안착부에 장착된 발광소자로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부로 이루어진 광측정용 지그; 및 상기 광측정용 지그와 결합하며, 상기 광측정용 지그의 안착부에 장착된 발광소자에 전원을 공급하기 위한 제어부;를 포함한다.To this end, the present invention, the integrating sphere for measuring light for measuring the amount of light emitted from the light emitting element; The optical measuring unit is coupled to the optical measuring integrating sphere, the seating portion on which the light emitting element is mounted, and the light emitted from the light emitting element mounted on the mounting portion and integrally formed with the coupling portion and the seating portion. An optical measuring jig having a side portion formed of an inclined reflective surface for reflecting into the integrating sphere; And a control unit coupled to the optical measuring jig and supplying power to a light emitting device mounted on a seating part of the optical measuring jig.
발광소자, 다이오드, LED, 측면발광, 지그, 경사면 Light emitting element, diode, LED, side light emission, jig, slope
Description
도 1은 종래기술에 의한 상부발광방식의 LED의 광량 측정 방법을 나타낸 모식도,1 is a schematic diagram showing a light quantity measuring method of a top-emitting LED according to the prior art,
도 2는 종래기술에 의한 광량 측정 장치를 나타낸 도면,2 is a view showing a light quantity measuring device according to the prior art,
도 3은 상부발광을 하는 LED의 광량과 각변위(angular displacement)와의 관계를 나타낸 특성 그래프,3 is a characteristic graph showing the relationship between the amount of light and angular displacement of the LED to the top light emitting;
도 4는 측면발광을 하는 발광다이오드의 광량과 각변위와의 관계를 나타낸 특성 그래프,4 is a characteristic graph showing the relationship between the amount of light and the angular displacement of a light emitting diode having side light emission;
도 5는 본 발명의 일 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치를 나타낸 도면, 5 is a view showing a light quantity measuring device of a light emitting device according to an embodiment of the present invention;
도 6은 도 5에 도시된 광량 측정 장치에 사용되는 광측정용 지그를 나타낸 도면,FIG. 6 is a view illustrating a photo measuring jig used in the light quantity measuring device shown in FIG. 5; FIG.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치에 사용되는 광측정용 지그를 나타낸 도면,7 is a view showing a jig for measuring light used in the light amount measuring device of the light emitting device according to another embodiment of the present invention,
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 적용되는 발광소자 모듈을 나타낸 도면.8 is a view showing a light emitting device module applied to another embodiment of the present invention.
<본 발명의 주요 부호에 대한 설명><Description of Main Sign of the Present Invention>
10 : 발광소자 20 : 적분구10
30 : 발광측정용 지그 30: Jig for Luminescence Measurement
40, 50 : 제어부 60 : 발광소자 모듈40, 50: control unit 60: light emitting device module
본 발명은 발광소자의 광량 측정 장치에 관한 것으로서, 특히 측면발광다이오드에서 발광하는 광량을 측정하기 위한 광량 측정 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light quantity measuring apparatus of a light emitting device, and more particularly, to a light quantity measuring apparatus for measuring the amount of light emitted from a side light emitting diode.
발광 다이오드(Light Emitting Diode, 이하, LED라 한다)는 GaAs, AlGaAs, GaN, InGaInP 등의 화합물 반도체(compound semiconductor) 재료의 변경을 통해 발광원을 구성함으로서, 다양한 색의 빛을 구현할 수 있는 반도체 소자를 말한다.Light Emitting Diodes (hereinafter, referred to as LEDs) are semiconductor devices capable of realizing various colors of light by forming light emitting sources by changing compound semiconductor materials such as GaAs, AlGaAs, GaN, and InGaInP. Say.
최근 LED 소자는 비약적인 반도체 기술의 발전에 힘입어, 저휘도의 범용제품에서 탈피하여, 고휘도, 고품질의 제품 생산이 가능해졌다. 또한, 고특성의 청색(blue)과 백색(white) 다이오드의 구현이 현실화됨에 따라서, LED는 디스플레이, 차세대 조명원 등으로 그 응용가치가 확대되고 있다. 일예로서, 표면실장(Surface Mounting Device) 형태의 LED 소자 뿐만 아니라 대형의 렌즈가 구비된 파워 LED 소 자 등이 제품화되고 있다.In recent years, LED devices have been driven by the rapid development of semiconductor technology, so that they can escape from low-intensity general-purpose products and produce high-brightness and high-quality products. In addition, as the implementation of high-performance blue and white diodes becomes a reality, the application value of LEDs is being extended to displays, next-generation lighting sources, and the like. As an example, not only LED devices having a surface mounting device but also power LED devices having a large lens are commercialized.
이러한 LED 소자와 렌즈가 결합된 모듈은 발광 지향각의 차이에 따라서 크게 상부발광(TOP EMITTING) 방식의 LED와 측면발광(SIDE EMITTING) 방식의 LED로 나눌 수 있다. Modules in which the LED element and the lens are combined may be divided into LEDs having a top emission type and LEDs having a side emission type according to differences in emission directivity angles.
도 1은 종래의 일반적인 상부발광 방식의 LED의 광량 측정 방법을 나타낸 모식도이다. 이러한 방법을 사용한 LED 측정은 주로 칸델라[Cd] 단위로 측정이 이루어지고, 전체 광량을 측정하기 위하여 적분구를 이용한 것으로서 도 2과 같은 방법이 사용된다. 1 is a schematic diagram showing a light amount measuring method of a conventional LED of the conventional top emission method. LED measurement using this method is mainly measured in units of candela [Cd], and the method as shown in FIG. 2 is used as an integrating sphere to measure the total amount of light.
도 2에 도시된 바와 같은 종래기술에 의한 광량 측정 장치를 이용하여 LED(10)의 광량을 측정할 경우, 측정하고자 하는 LED의 지향각(θ)이 적분구(20) 입구 내부에서 정의되어야 광검출기(DETECTOR ; 70)에서 올바른 측정이 가능하며, 이러한 지향각(θ)은 상부발광을 하는 LED(10)의 광량의 50 % 이상이 도 3에 도시된 바와 같이 ±70°의 영역에 존재하므로, 측정에 별다른 어려움이 없었다. 여기서 도 3은 상부발광을 하는 LED의 상대광량(relative intensity)과 각변위(angular displacement)와의 관계를 나타낸 특성 그래프이다. When measuring the light quantity of the
그러나, 측면발광을 하는 LED에 있어서는, 도 4에 도시된 바와 같이, 광량의 50 % 이상이 60°내지 120° 및 -120°내지 -60°의 좁은 영역에 존재하므로 상술한 바와 같은 도 2에 도시된 광량 측정 장치를 사용할 경우 정확한 광량값이 검출되지 못하는 문제점이 있다. 여기서 도 4는 측면발광을 하는 LED의 상대광량과 각변위와의 관계를 나타낸 특성 그래프이다. However, in the side-emitting LED, as shown in Fig. 4, since 50% or more of the amount of light exists in a narrow region of 60 ° to 120 ° and -120 ° to -60 °, When using the illustrated light quantity measuring device there is a problem that the correct light quantity value is not detected. 4 is a characteristic graph showing the relationship between the relative light quantity and the angular displacement of the LED emitting side light.
한편, 측면발광을 하는 LED에 있어서 상술한 바와 같이 광량의 50 % 이상이 60°내지 120° 및 -120°내지 -60°의 좁은 영역에 존재하므로 기존의 상부발광 LED에서와 같이 기존의 광검출기를 LED의 수직상부에 위치시켜 측정하는 방법은 적용하기가 힘들며, 이를 해결하기 위하여 광검출기를 LED의 주변으로 어레이(array) 타입으로 배열하는 방법과 고정된 LED 주변으로 광검출기를 이동하며 측정하는 방법이 사용되고 있다. 그러나, 광검출기의 어레이 배열 방법은 측정기의 가격상승을 초래하고, LED 주변으로 광검출기를 이동하며 측정하는 방법은 측정시간이 길어진다는 문제점이 있다. On the other hand, in the LED emitting side light, as described above, more than 50% of the amount of light exists in a narrow region of 60 ° to 120 ° and -120 ° to -60 °, and thus, as in the conventional top emitting LED, It is difficult to apply the method to measure the position of LED at the top of the LED. To solve this problem, the photodetector is arranged in an array type around the LED and the photodetector is moved around the fixed LED. The method is used. However, the array arrangement method of the photodetector causes a rise in price of the measuring instrument, and the measuring method of moving the photodetector around the LED has a problem in that the measurement time is long.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 LED 특히 측면발광 LED의 정확하고 측정이 용이한 광량 측정 방법이 가능할 뿐만 아니라 LED의 형상에 관계없이 다양한 LED에 대하여 연속적으로 광량의 측정이 가능한 시스템을 구현하여 광량의 오차없이 신속하게 측정이 가능하도록 하여 LED 및 LED BLU(Back Light Uint) 양산에 적합한 발광소자 광량 측정방법을 제공하는 데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object of the present invention is not only to enable an accurate and easy light measurement method of LEDs, particularly side emitting LEDs, but also to continuously control the amount of light for various LEDs regardless of the shape of the LEDs. The present invention provides a light emitting device light quantity measuring method suitable for mass production of LED and LED BLU (Back Light Uint) by implementing a system capable of measuring to enable rapid measurement without error of light quantity.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치는, 발광소자로부터의 발광량을 측정하기 위한 광측정용 적분구; 상기 광측정용 적분구와 결합하기 위한 결합부와, 상기 발광소자가 장착되는 안착부와, 상 기 결합부 및 안착부와 일체로 형성되며 상기 하부플레이트의 안착부에 장착된 발광소자로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부로 이루어진 광측정용 지그; 및 상기 광측정용 지그와 결합하며, 상기 광측정용 지그의 안착부에 장착된 발광소자에 전원을 공급하기 위한 제어부;를 포함한다. The light quantity measuring device of a light emitting device according to an embodiment of the present invention for achieving the above object is an integrating sphere for measuring the light emission from the light emitting device; Coupling portion for coupling with the optical measuring integrating sphere, the seating portion on which the light emitting element is mounted, the light is formed from the light emitting element mounted integrally with the coupling portion and the seating portion mounted on the seating portion of the lower plate An optical measuring jig having a side portion formed of an inclined reflective surface to reflect the light into the optical measuring integrating sphere; And a control unit coupled to the optical measuring jig and supplying power to a light emitting device mounted on a seating part of the optical measuring jig.
또한, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치는, 발광소자로부터의 발광량을 측정하기 위한 광측정용 적분구; 상기 광측정용 적분구와 결합하기 위한 결합부와, 상기 발광소자가 장착되는 안착부와, 상기 결합부 및 안착부와 일체로 형성되며 상기 하부플레이트의 안착부에 장착된 발광소자로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부로 이루어진 광측정용 지그; 및 상기 광측정용 지그와 결합하며, 상기 광측정용 지그의 안착부로 발광소자를 공급하여 장착시키는 소자이송부와, 상기 소자이송부에 의하여 상기 광측정용 지그의 안착부에 장착된 발광소자에 전원을 공급하는 전원공급부로 이루어진 제어부;를 포함한다. In addition, the light quantity measuring device of the light emitting device according to another embodiment of the present invention for achieving the above object is an optical measuring integrating sphere for measuring the amount of light emitted from the light emitting device; Coupling portion for coupling with the optical measuring integrating sphere, the seating portion on which the light emitting element is mounted, and the light emitted from the light emitting element is formed integrally with the coupling portion and the seating portion mounted on the seating portion of the lower plate An optical measuring jig having a side portion formed of an inclined reflective surface to reflect into the optical measuring integrating sphere; And a device transfer part coupled to the optical measuring jig and supplying and mounting a light emitting device to the seating part of the optical measuring jig, and supplying power to the light emitting device mounted on the mounting part of the optical measuring jig by the device transferring part. It includes a control unit consisting of a power supply for supplying.
여기서, 상기 발광소자는 측면발광다이오드인 것이 바람직하다. Here, the light emitting device is preferably a side light emitting diode.
또한, 상기 광측정용 지그의 경사반사면은 상기 광측정용 적분구의 내부 반사물질과 동일한 재질로 형성된 것이 바람직하다. In addition, the inclined reflective surface of the jig for optical measurement is preferably formed of the same material as the internal reflective material of the integrating sphere for the optical measurement.
그리고, 상기 광측정용 지그는 철 또는 알루미늄의 금속재료로 이루어지고, 상기 광측정용 지그의 경사반사면은 BaSO4 물질로 코팅되어 있는 것이 바람직하다. The optical jig is made of a metal material of iron or aluminum, and the inclined reflective surface of the optical jig is coated with BaSO 4 material.
또한, 상기 광측정용 지그의 결합부와 상기 광측정용 적분구는 탈부착이 가능한 것이 바람직하다. In addition, it is preferable that the coupling portion of the optical measuring jig and the optical measuring integrating sphere are detachable.
아울러, 상기 광측정용 지그의 안착부로 발광소자를 공급하여 장착시키는 소자이송부는, 연속적인 발광소자의 공급이 가능하도록 다수의 발광소자가 어레이타입으로 장착되고 공통 단자가 형성된 발광소자 모듈을 이송시키는 것을 특징으로 한다. In addition, the device transfer unit for supplying and mounting the light emitting element to the seating portion of the optical measuring jig, a plurality of light emitting elements are mounted in an array type to enable the supply of a continuous light emitting element to transfer the light emitting element module having a common terminal It is characterized by.
이하, 본 발명의 실시예에 대하여 관련 도면을 참조하여 구체적으로 설명하도록 한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
실시예Example 1 One
도 5는 본 발명의 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치를 나타내고, 도 6은 상기 장치에 사용되는 광측정용 지그를 나타낸다. 5 shows an apparatus for measuring light quantity of a light emitting device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 6 shows an optical measuring jig used in the apparatus.
도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치는, 크게 발광소자(10)로부터의 발광량을 측정하기 위한 광측정용 적분구(20)와, 발광소자(10)에서 방사된 빛을 적분구 내부로 집속하여 주는 역할을 하는 광측정용 지그(30), 및 상기 광측정용 지그(30)와 결합하며 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 장착된 발광소자(10)에 전원을 공급하기 위한 제어부(40)를 포함한다.As shown in FIG. 5, an apparatus for measuring light quantity of a light emitting device according to an embodiment of the present invention includes an optical measuring integrating
본 실시예에 사용되는 발광소자(10)로서 SMD 타입의 LED로부터 대형의 렌즈 를 갖는 파워 LED까지 다양하게 적용될 수 있으나, 광량의 50 % 이상이 60°내지 120° 및 -120°내지 -60°의 좁은 영역에 존재하는 측면발광 LED에 적용할 경우 더욱 바람직하다. 아울러, 본 실시예에 적용되는 발광소자로서 LED에 반드시 한정되는 것은 아니고 측면발광하는 다양한 발광소자에 적용될 수 있음은 자명하다고 할 것이다. As the
적분구(Integrated Sphere; 20)는 내면에 고반사율을 갖는 물질로 코팅된 구형체로서, 상기 구형체 상에 내면에서 반사되는 발광소자로부터의 광으로부터 총 발광량을 측정하기 위한 광검출기(70)가 부착되어 있다. 또한, 상기 적분구(20)에는 발광소자로부터 발광하는 빛을 받아들이기 위한 홀(hole)과, 상기 홀 주위에는 후술하는 광측정용 지그(jig)와 결합하기 위한 돌출부가 형성되어 있다. 이러한 적분구는 발광소자에서 방사된 빛의 광학적 특성 중 피크 파장, 도미넌트 파장, CIE 색좌표, 총광량을 측정하기 위하여 빛을 집속하여 분광기로 보내주는 역할을 한다. The integrated
도 6에 도시된 바와 같이, 광측정용 지그(30)는 상기 광측정용 적분구(20)와 결합하기 위한 결합부(31)와, 상기 발광소자(10)가 장착되는 안착부(32)와, 상기 결합부(31)와 일체로 형성되며 상기 안착부(32)에 장착된 발광소자(10)로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구(20) 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부(33)로 이루어진다. 이러한 광측정용 지그(30)는 발광소자(10) 특히 측면발광소자에서 방사된 빛을 적분구(20) 내부로 반사하여 집속하는 역할을 한다. 이러한 역할은 상기 광측정용 지그의 측면부(33)가 경사면으로 형성되어 있으므로 가능하며, 상기 경사면은 실린더 형상의 이루어지고 그 측면이 소정의 각도로 기울어져 있어서 가능하다. 상기 측면부(33)의 경사면은 피측정대상인 발광소자의 종류에 따라 가변적으로 설치될 수도 있으며, 그 경사각에 따라 상기 광측정용 적분구 내부로 반사광이 집속되도록 하여 측면발광 LED와 같이 측면으로 발광하는 소자에 대하여도 정확한 광량 측정을 가능하게 한다. As shown in FIG. 6, the
또한, 상기 실린더 형상의 경사면으로 이루어진 측면부(33)는 그 내부가, 상기 광측정용 적분구의 내부 반사물질과 동일한 재질로 형성되거나, 상기 광측정용 적분구 내부로 광을 반사할 수 있는 재질인 철 또는 알루미늄 등의 금속으로 이루어지는 것이 바람직하다. 아울러 이러한 반사효율을 증대시키기 위한 물질인 알루미늄, 로듐, 은 및 BaSO4로 이루어진 그룹 중 적어도 어느 하나의 물질 또는 그 화합물로 내부 코팅될 수도 있다. In addition, the
한편, 상기 안착부(32)에 장착되는 발광소자에 전원을 공급할 수 있도록 하는 단자가 상기 지그(30)의 외부로 노출되어 있으며, 이러한 단자부에 후술하는 제어부(40)의 전원공급부가 전기적으로 접속하여 피시험용 발광소자에 소정의 전류를 인가하게 된다. On the other hand, a terminal for supplying power to the light emitting device mounted on the
또한, 상기 광측정용 지그(30)의 결합부(31)와 상기 광측정용 적분구(20)는, 상기 광측정용 지그(30)를 기타 일반적인 측정기와 병행하여 사용할 수 있도록 하기 위하여 탈부착이 가능한 방식으로 결합되는 것이 바람직하다. In addition, the
제어부(40)는, 상기 광측정용 지그(30)와 결합하는 홀더 형상으로 이루어지 며, 상기 홀더의 프레임에는 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 장착된 발광소자(10)의 단자부에 전원을 공급하기 위한 전원공급부가 형성되어 있다. The
실시예Example 2 2
이하, 본 발명의 다른 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치를 설명하기로 한다. 앞서 상술한 실시예에서는 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 단위 소자를 개별적으로 공급하여 측면 발광과 같은 소자에 대한 광량 측정 방법에 대하여 기술하였다. 이에 반하여 본 실시예는 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 연속적인 발광소자의 공급이 가능하도록 자동화하여 피시험소자에 대한 테스트 시간을 단축시켜 양산성을 증대시킬 수 있는 구성을 포함하고 있다. Hereinafter, an apparatus for measuring light quantity of a light emitting device according to another embodiment of the present invention will be described. In the above-described embodiment, the light quantity measuring method for the element such as side light emission was described by separately supplying the unit elements to the
본 실시예에 의한 발광소자의 광량 측정 장치는, 발광소자로부터의 발광량을 측정하기 위한 광측정용 적분구(20)와, 상기 광측정용 적분구(20)와 결합하기 위한 결합부(31)와, 상기 발광소자가 장착되는 안착부(32)와, 상기 결합부(31)와 일체로 형성되며 상기 안착부(32)에 장착된 발광소자로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구(20) 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부(33)로 이루어진 광측정용 지그(30)와, 상기 광측정용 지그(30)와 결합하며, 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)로 발광소자를 연속적으로 공급하여 장착시키는 소자이송부(51)와, 상기 소자이송부에 의하여 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 장착된 발광소자에 전원을 공급하는 전원공급부(52)로 이루어진 제어부(50)를 포함한다. The light quantity measuring device of the light emitting device according to the present embodiment includes an optical
여기서, 발광소자(10) 및 상기 발광소자로부터의 발광량을 측정하기 위한 광 측정용 적분구(20)의 구성은 앞서 설명한 실시예 1과 동일하므로 구체적인 설명은 생략하도록 한다. Here, since the configuration of the
도 7에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 의한 광측정용 지그(30)는 상기 광측정용 적분구(20)와 결합하기 위한 결합부(31)와, 상기 발광소자(10)가 결합하여 장착되는 안착부(32)와, 상기 결합부(31)와 일체로 형성되며 상기 안착부(32)에 장착된 발광소자(10)로부터 발광되는 빛을 상기 광측정용 적분구(20) 내부로 반사하기 위하여 경사반사면으로 형성된 측면부(33)로 이루어진다. 이러한 광측정용 지그(30)는, 앞서 설명한 바와 같이, 발광소자(10) 특히 측면발광소자에서 방사된 빛을 적분구(20) 내부로 집속하여 주는 역할을 한다. 이러한 역할은, 상기 광측정용 지그의 측면부(33)가 경사면으로 형성되어 있으므로 가능하며, 상기 경사면은 실린더 형상의 이루어지고 그 측면이 소정의 각도로 경사져 있으므로 가능하다. 즉, 상기 경사각에 따라 상기 광측정용 적분구 내부로 반사광이 집속되도록 하여 측면발광 LED와 같이 측면으로 발광하는 소자에 대하여도 정확한 광량 측정을 가능하게 한다. 또한, 상기 실린더 형상의 경사면으로 이루어진 측면부(33)는 앞서 설명한 바과 같이, 그 내부가, 상기 광측정용 적분구의 내부 반사물질과 동일한 재질로 형성되거나, 상기 광측정용 적분구 내부로 광을 반사할 수 있는 재질인 철 또는 알루미늄 등의 금속으로 이루어지는 것이 바람직하다. 아울러 이러한 반사효율을 증대시키기 위한 물질인 알루미늄, 로듐, 은 및 BaSO4로 이루어진 그룹 중 적어도 어느 하나의 물질 또는 그 화합물로 내부 코팅될 수도 있다. As shown in FIG. 7, the optical measuring
한편, 앞서 설명한 실시예에서는 단위체인 발광소자(10)가 상기 안착부(32)에 매뉴얼로 장착된 상태에서 상기 지그(30)의 외부로 노출된 단자와 전기적으로 접속하는 방식으로 구현되며, 따라서, 제어부(40)가 상기 광측정용 지그(30)와 결합하는 홀더 형상으로 이루어지며, 상기 홀더의 프레임에는 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 장착된 발광소자(10)의 단자부에 전원을 공급하기 위한 전원공급부가 형성되어 있는 구성으로 이루어졌다. Meanwhile, in the above-described embodiment, the
이에 반하여, 본 실시예에서는 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 연속적인 발광소자의 공급이 가능하도록 자동화하여 피시험소자에 대한 테스트 시간을 단축시켜 양산성을 증대시킬 수 있는 구성으로 이루어진다. 즉, 광측정용 지그(30)의 안착부(32)는 단위 LED가 하방향으로부터 결합하여 장착될 수 있도록 홀 형상으로 이루어져 있어 어레이 타입의 다수의 LED가 순차적으로 결합되어 연속적으로 광량 측정 시험이 수행된다. On the contrary, in the present embodiment, the light emitting device can be continuously supplied to the
이를 위하여, 본 실시예에 의한 제어부(50)는 상기 광측정용 지그(30)의 홀 형상 안착부(32)에 어레이 타입으로 형성된 발광소자 모듈(60)을 순차적으로 이송하여 공급하는 소자이송부(51)와, 상기 소자이송부(51)에 의하여 상기 광측정용 지그(30)의 안착부(32)에 장착된 발광소자 모듈(60)의 공통 단자(63)에 전원을 공급하는 전원공급부(52)를 포함한다. 도 8은 본 실시예에 적용되는 모듈 프레임(61) 상에 다수의 발광소자(62)와 공통 단자(63)가 형성된 발광소자 모듈(60)의 일례를 나타낸다. 이러한 구성에 의하여, 결국 LED의 형상에 관계없이 다양한 LED에 대하여 연속적으로 광량의 측정이 가능한 시스템을 구현하여 광량의 오차없이 신속하게 측정이 가능하도록 하여 LED 및 LED BLU 양산에 적합하게 된다. To this end, the
이상의 본 발명은 상기에 기술된 실시예들에 의해 한정되지 않고, 당업자들에 의해 다양한 변형 및 변경을 가져올 수 있으며, 이는 첨부된 특허청구범위에서 정의되는 본 발명의 취지와 범위에 포함되는 것으로 보아야 할 것이다. The present invention is not limited to the above-described embodiments, but can be variously modified and changed by those skilled in the art, which should be regarded as included in the spirit and scope of the present invention as defined in the appended claims. something to do.
상술한 바와 같이, 본 발명의 구성에 의하면 LED 특히 측면발광 LED의 정확하고 측정이 용이한 광량 측정 방법이 가능할 뿐만 아니라 LED의 형상에 관계없이 다양한 LED에 대하여 연속적으로 광량의 측정이 가능한 시스템을 구현하여 광량의 오차없이 신속하게 측정이 가능하도록 하여 LED 및 LED BLU 양산이 가능한 효과를 창출하게 된다. As described above, according to the configuration of the present invention, not only an accurate and easy light measurement method for LEDs, particularly side emitting LEDs, is possible, but also a system capable of continuously measuring a light amount for various LEDs regardless of the shape of the LED is realized. Therefore, it is possible to measure quickly without any error of light quantity, thus creating the effect of mass production of LED and LED BLU.
또한, 본 발명의 경사진 측면부에 의하여 반사율에 따른 물질 특성의 기초 데이터의 확보 및 상기 경사진 측면부의 기울기 변화에 따른 반사율 특성의 기초 데이터의 확보가 가능한 효과가 있다. In addition, it is possible to secure the basic data of the material characteristics according to the reflectance by the inclined side portion of the present invention and to secure the basic data of the reflectance characteristic according to the change in the slope of the inclined side portion.
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