KR101194320B1 - Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same - Google Patents

Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same Download PDF

Info

Publication number
KR101194320B1
KR101194320B1 KR1020090047492A KR20090047492A KR101194320B1 KR 101194320 B1 KR101194320 B1 KR 101194320B1 KR 1020090047492 A KR1020090047492 A KR 1020090047492A KR 20090047492 A KR20090047492 A KR 20090047492A KR 101194320 B1 KR101194320 B1 KR 101194320B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
copper foil
layer
copper
zinc
foil laminated
Prior art date
Application number
KR1020090047492A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20090125000A (en
Inventor
신이치 오바타
Original Assignee
미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤 filed Critical 미쓰이 긴조꾸 고교 가부시키가이샤
Publication of KR20090125000A publication Critical patent/KR20090125000A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101194320B1 publication Critical patent/KR101194320B1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B15/00Layered products comprising a layer of metal
    • B32B15/04Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material
    • B32B15/08Layered products comprising a layer of metal comprising metal as the main or only constituent of a layer, which is next to another layer of the same or of a different material of synthetic resin
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B32LAYERED PRODUCTS
    • B32BLAYERED PRODUCTS, i.e. PRODUCTS BUILT-UP OF STRATA OF FLAT OR NON-FLAT, e.g. CELLULAR OR HONEYCOMB, FORM
    • B32B2457/00Electrical equipment
    • B32B2457/08PCBs, i.e. printed circuit boards

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Laminated Bodies (AREA)

Abstract

본 발명은, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 처리해도 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않는 플렉서블 프린트 배선판, 이 현상의 발생 방지가 가능한 동박의 제공을 목적으로 한다.An object of this invention is to provide the flexible printed wiring board which does not produce the undercut phenomenon in the bottom part of a wiring circuit even if it processes with the etching liquid containing sulfuric acid and hydrogen peroxide, and the copper foil which can prevent this phenomenon.

상기 목적을 달성하기 위하여, 동층과 절연 수지층을 접합시킨 프린트 배선판 제조용의 동박 적층판의 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고, 또한 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 특징을 가지는 동박 적층판을 채용한다. 또한, 이 동박 적층판의 제조에, 동박(2)의 표면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함하고, 또한 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 표면 처리층(3)을 구비한 표면 처리 동박(1)을 채용한다.In order to achieve the above object, a transition metal other than zinc capable of having a zinc component and up to three types of ion valences at an interface between the copper layer and the insulated resin layer of the copper foil laminate for manufacturing a printed wiring board in which the copper layer and the insulated resin layer are bonded together. The copper foil laminated board which has the surface treatment layer containing a component, and the surface roughness (Rzjis) of the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer is 2.5 micrometers or less is employ | adopted. In addition, in the manufacture of this copper foil laminated sheet, the surface of copper foil 2 contains the transition metal component other than zinc which can have a zinc component and three or less types of ion valences, and the surface roughness (Rzjis) is 2.5 micrometers or less The surface-treated copper foil 1 provided with the processing layer 3 is employ | adopted.

Description

동박 적층판, 그 동박 적층판의 제조에 이용하는 표면 처리 동박 및 그 동박 적층판을 이용하여 얻어지는 프린트 배선판{Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same}Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same}

본 발명은, 동박 적층판, 그 동박 적층판의 제조에 이용하는 표면 처리 동박 및 그 동박 적층판을 이용하여 얻어지는 프린트 배선판에 관한 것이다. 특히, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배선판의 제조에 이용하는 동박 적층판에 관한 것이다.This invention relates to the copper foil laminated board, the surface-treated copper foil used for manufacture of this copper foil laminated board, and the printed wiring board obtained using this copper foil laminated board. In particular, it is related with the copper foil laminated board used for manufacture of a printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide.

최근, 산업용 전자?전기 기기에 한정되지 않고 민생용 전자?전기 기기에도 정보 처리 기능이 부가된 것이 많으며, 이와 같은 제품에는 CPU, LSI 등의 IC 부품의 탑재가 당연해지고 있다. 정보 처리 기능을 구비한 기기의 대표로서는 휴대 전화, 휴대형 음악 플레이어 등이 있으며, 소형이고 또한 고기능일 것이 요구된다. 그 결과, LSI 등을 탑재하는 패키지 기판 등 이들 기기에 장착되는 프린트 배선판에는 경박단소화(輕薄短小化)의 요구가 높아지고 있다. 따라서, 프린트 배선판의 제조에 있어서 다종다양한 가공 공법을 채용한 것이 제안되고 있으며, 각각의 공법 에 적합한 동박 적층판이 개발되고 있다. 특히, 경박단소화에 대한 대응으로 적합한 프린트 배선판으로서는, 굴곡성이 우수하여 한정된 좁은 케이스 내로의 수납이 용이한 플렉서블 프린트 배선판(Flexible Printed Circuit: 이하 ‘FPC’라고 칭한다.)이 많은 기기에 채용되고 있다.In recent years, not only industrial electronic and electrical equipment but also many consumer electronic and electrical equipment have added an information processing function, and such products are naturally equipped with IC components such as CPU and LSI. Representatives of equipment having an information processing function include mobile phones, portable music players, and the like, and are required to be small and highly functional. As a result, the demand for light and thin reduction is increasing in printed wiring boards mounted on these devices such as package substrates on which LSIs and the like are mounted. Therefore, what employ | adopted various processing methods in manufacture of a printed wiring board is proposed, and the copper foil laminated board suitable for each construction method is developed. In particular, a flexible printed wiring board (Flexible 단 Printed Circuit: hereinafter referred to as 'FPC'), which is excellent in flexibility and easily accommodated in a limited narrow case, has been adopted as a printed wiring board suitable for light and short reduction. .

그런데, 한층 더 경박단소화를 목적으로 하여 프린트 배선판을 소형화, 다층화하면, 배선 회로 피치의 협소화에 의해 무전해 도금(무전해 동도금, 무전해 금도금 등)이 배선 회로 사이에 석출되는, 소위 ‘동 잔류’나 ‘금 잔류’라고 칭하는 ‘도금 잔류 현상’이 발생하기 쉬워진다. 그리고, 프린트 배선판의 배선 회로 피치가 좁아질수록 이 도금 잔류 현상이 발생하기 쉬워져 배선 회로간의 금속 성분을 제거하는 리페어 작업은 곤란해진다. 특히, TCP 등의 프린트 배선판의 제조에는 FPC 중에서도 접합제층을 마련하지 않는 2층 플렉서블 동박 적층판(Flexible Copper Clad Laminate: 이하 ‘FCCL’이라고 칭한다.)을 이용하는데, 얇은 절연층을 이용하기 때문에 리페어 작업은 거의 불가능하다. 이와 같이 리페어 작업을 할 수 없는 제품은 불량품으로서 폐기 대상이 될 확률도 높아 자원 낭비가 되므로 바람직하지 않다. 이 ‘도금 잔류 현상’의 발생을 방지하는 대책으로서, 배선 회로 형성 후의 배선 사이에 금속 성분이나 이온성 무기 성분을 잔류시키지 않는 것이 효과적이라고 일컬어져 왔다.By the way, when the printed wiring board is miniaturized and multilayered for the purpose of further miniaturization and thinning, so-called 'copper', in which electroless plating (electroless copper plating, electroless gold plating, etc.) is deposited between the wiring circuits by narrowing the wiring circuit pitch, A 'plating residual phenomenon' called 'residual' or 'gold residual' is likely to occur. As the wiring circuit pitch of the printed wiring board becomes narrower, this plating residual phenomenon tends to occur, and the repair work for removing metal components between the wiring circuits becomes difficult. In particular, in the manufacture of printed wiring boards such as TCP, a two-layer flexible copper clad laminate (hereinafter referred to as 'FCCL'), which does not provide a bonding agent layer among FPCs, is used. Is almost impossible. Such a product that cannot be repaired is not preferable because it is a waste product and is likely to be disposed of as a waste. As a countermeasure against the occurrence of this "plating residual phenomenon", it has been said that it is effective not to leave a metal component or an ionic inorganic component between wirings after wiring circuit formation.

또한, 상기 2층 FCCL을 이용하여 복수의 배선 회로층을 구비한 다층 FPC를 제조하는 경우도 있다. 이 다층 FPC의 제조 공정에서는 폴리이미드 등의 절연 수지 기재를 이용한 FCCL에 배선 회로를 형성하고, 본딩 시트를 개재하여 빌드업함으로 써 다층화하고, 비아홀 등의 층간 도통 수단을 형성하여 복수의 배선 회로층 사이를 전기적으로 접속한다. 그런데, FPC의 절연 수지층을 구성하는 폴리이미드 수지, 아라미드 수지 등은 일반적으로 내열성은 우수하지만, 내(耐)약품성, 특히 알칼리성의 약품에 대한 내약품성이 부족한 경우가 있어 프린트 배선판의 가공 공정이 제약을 받는 경우가 있다. 이 때문에, 다층화 적층하기 위한 전(前) 처리, 비아홀 형성 전의 소프트 에칭에는, 황산과 과산화수소를 포함하고, 염소 등의 강산 이온을 포함하지 않는 수용액을 이용하는 경우가 많다.Moreover, the multilayer FPC provided with the some wiring circuit layer may be manufactured using the said two-layer FCCL. In the manufacturing process of this multilayer FPC, a wiring circuit is formed in FCCL using insulating resin base materials, such as polyimide, multilayered by building up via a bonding sheet, and interlayer conduction means, such as a via hole, are formed and multiple wiring circuit layers Electrically connect between them. By the way, although polyimide resin, aramid resin, etc. which comprise the insulation resin layer of FPC are generally excellent in heat resistance, chemical resistance, especially chemical resistance with respect to alkaline chemicals, may be inadequate, and the process of a printed wiring board is performed. You may be constrained. Therefore, an aqueous solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide and not containing strong acid ions such as chlorine is often used for pretreatment for multilayer stacking and soft etching before via hole formation.

그래서, 상기 FPC의 문제점을 해결하기 위해서는, 구성 재료인 동박과 절연 수지층 구성 재료의 쌍방향에서 문제점을 해결하기 위한 어프로치가 필요하였다. 동박 분야에서 보면, 금속 성분 등이 잔류하지 않도록 에칭 특성의 개선을 도모하고, 절연 수지층과의 접합면의 로우 프로파일화, 조화(粗化) 처리 입자의 미세화, 녹 방지 성분 등에 관한 검토가 행해져 왔다.Therefore, in order to solve the problem of the said FPC, the approach for solving the problem in both directions of the copper foil which is a component material, and the insulated resin layer component material was needed. In the copper foil field, the etching characteristics are improved so that metal components and the like do not remain, and the low profile of the bonding surface with the insulating resin layer, the refinement of the roughened particles, the rust prevention component, and the like are examined. come.

예를 들어, 특허 문헌 1에는, 상술한 FPC의 제조를 시야에 넣은 동박에 관련된 기술이 개시되어 있다. 즉, 동박의 피접합면에 수지 기재를 적층하여 동박 적층판으로 했을 때, 동박과 수지 기재간의 박리 강도가 높게 유지됨과 함께, 내열성, 내화학약품성, 내습성이 뛰어나고, 또한 무전해 도금 시에 에칭에 의해 동박이 제거된 수지 기재면으로의 도금 금속의 석출이 일어나지 않는 무전해 도금 처리성이 뛰어난 동박을 제공하는 것을 목적으로 하여, 동박의 피접합면에 실란 커플링제, 규산염 및 티오디글리콜산으로 이루어지는 혼합물 피복층을 가지는 프린트 배선판용 동박의 제조 방법이 개시되어 있다. 그리고, 특허 문헌 1에 개시된 동박의 제조 방법에 따르면, 피접합면에 조화 처리층 및 녹 방지층을 마련하는 데 있어서, 녹 방지층으로서 니켈-몰리브덴-코발트 합금층 또는 인듐-아연 합금층과 크로메이트층으로 이루어지는 층을 형성하는 것이 개시되어 있다.For example, Patent Literature 1 discloses a technique related to a copper foil in which production of the above-described FPC is in view. That is, when the resin substrate is laminated on the surface to be bonded of the copper foil to form a copper foil laminated plate, the peel strength between the copper foil and the resin substrate is maintained high, and excellent in heat resistance, chemical resistance, and moisture resistance, and etching during electroless plating. A silane coupling agent, a silicate, and a thiodiglycolic acid are provided on the surface to be bonded of the copper foil for the purpose of providing a copper foil excellent in electroless plating processability in which precipitation of the plated metal to the resin base surface from which the copper foil has been removed is not caused. The manufacturing method of the copper foil for printed wiring boards which has the mixture coating layer which consists of these is disclosed. And according to the manufacturing method of the copper foil disclosed by patent document 1, in providing a roughening process layer and a rust prevention layer in a to-be-joined surface, it is made of a nickel- molybdenum-cobalt alloy layer, an indium zinc alloy layer, and a chromate layer as a rust prevention layer. Forming a layer which consists of is disclosed.

[특허 문헌 1] 일본 특허 공개 평10-138394호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-138394

그렇지만, 특허 문헌 1에 개시된 기술로 제조한 ‘녹 방지층에 몰리브덴 등을 포함한 복합 금속층을 개재하여 조화 처리 입자를 형성한 동박’을 접합시킨 FCCL을 이용해도, 도 2에 나타내는 바와 같은 비정상적인 언더 컷 현상(참조 부호 2에서 화살표로 가리킨 개소가 언더 컷 부분)이 발생하는 경향이 있다. 이와 같은 현상이 발생하면 외관상 양호한 회로폭의 배선 회로라고 해도 이 배선 회로와 절연 수지층과의 밀착성은 크게 열화되어 있어 쉽게 회로 박리를 일으키거나 반복된 굴곡 응력에 의해 쉽게 회로가 탈락하게 될 위험성이 증가한다.However, even when using FCCL in which "copper foil in which roughening particle | grains were formed through the composite metal layer containing molybdenum etc. via the antirust layer manufactured by the technique disclosed by patent document 1" was bonded, abnormal undercut phenomenon as shown in FIG. (The point indicated by the arrow at 2 is an undercut portion) tends to occur. When such a phenomenon occurs, even if the wiring circuit has a good circuit width in appearance, the adhesion between the wiring circuit and the insulating resin layer is greatly deteriorated, so that there is a danger that the circuit may be easily peeled off or the circuit may be easily dropped by repeated bending stress. Increases.

이 때문에, FPC 업계에서는 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 처리해도 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않는 FCCL, 및 이 현상의 발생이 방지 가능한 동박에 대한 요구가 있었다.For this reason, there has been a demand in the FPC industry for FCCL, in which the undercut phenomenon does not occur at the bottom of the wiring circuit even if treated with an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide, and a copper foil which can prevent the occurrence of this phenomenon.

그래서, 본 발명자는 연구를 거듭한 결과, 이하에 기술하는 특성을 가지는 동박 적층판을 이용하여 프린트 배선판을 제조하면 미세 배선의 형성이 가능하고, 또한 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 처리해도 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않는데 이르렀다.Therefore, as a result of repeated studies, the inventors of the present invention have shown that if a printed wiring board is manufactured using a copper foil laminate having the characteristics described below, fine wiring can be formed, and the bottom of the wiring circuit can be treated with an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide. The undercut phenomenon did not occur in the part.

본 발명에 따른 동박 적층판: 본 발명에 따른 동박 적층판은, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배선판의 제조에 이용하는 동박 적층판으로서, 이 동박 적층판은 동층과 절연 수지층이 접합 된 것이고, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수(價數)를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고, 또한, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 것이다.Copper foil laminated board which concerns on this invention: The copper foil laminated board which concerns on this invention is a copper foil laminated board used for manufacture of a printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide, This copper foil laminated board is a copper layer and an insulating resin layer It is bonded and provided with the surface treatment layer containing the zinc component and transition metal components other than zinc which can have three or less types of ion valence in the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer, and the said The surface roughness (Rzjis) of the interface of a copper layer and the said insulated resin layer is 2.5 micrometers or less, It is characterized by the above-mentioned.

본 발명에 따른 동박 적층판은, 상기 표면 처리층이, 아연과 상기 전이 금속 성분의 합계의 질량 두께가 40㎎/㎡ 이상의 두께인 것이 바람직하다.In the copper foil laminate according to the present invention, the surface treatment layer preferably has a mass thickness of 40 mg / m 2 or more in terms of the total thickness of zinc and the transition metal component.

본 발명에 따른 동박 적층판은, 상기 동층의 절연 수지 기재와의 접합면에 조화 처리를 하는 것이 바람직하다.It is preferable that the copper foil laminated board which concerns on this invention gives a roughening process to the bonding surface with the insulated resin base material of the said copper layer.

본 발명에 따른 동박 적층판은, 상기 절연 수지 기재에 가요성을 가지는 수지 필름을 이용하여 플렉서블 동박 적층판으로 하는 것이 바람직하다.It is preferable to make the copper foil laminated board which concerns on this invention into a flexible copper foil laminated board using the resin film which has flexibility to the said insulated resin base material.

본 발명에 따른 표면 처리 동박: 본 발명에 따른 표면 처리 동박은, 상술한 동박 적층판의 제조에 이용하는 표면 처리 동박으로서, 절연 수지 기재와의 접합면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고, 또한, 이 절연 수지 기재와의 접합면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 것을 특징으로 하는 것이다.Surface-treated copper foil which concerns on this invention: The surface-treated copper foil which concerns on this invention is a surface-treated copper foil used for manufacture of the copper foil laminated board mentioned above, and can have a zinc component and three or less types of ion valence in the bonding surface with an insulated resin base material. It is provided with the surface treatment layer containing the transition metal component other than the presence of zinc, and surface roughness (Rzjis) of the bonding surface with this insulating resin base material is 2.5 micrometers or less, It is characterized by the above-mentioned.

본 발명에 따른 표면 처리 동박은, 상기 표면 처리 동박의 절연 수지 기재와의 접합면에 조화 처리를 하는 것이 바람직하다.It is preferable that the surface-treated copper foil which concerns on this invention gives a roughening process to the bonding surface with the insulated resin base material of the said surface-treated copper foil.

본 발명에 따른 프린트 배선판: 본 발명에 따른 프린트 배선판은, 상술한 동박 적층판을 이용하여 에칭 가공 등을 하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 것이다.Printed wiring board which concerns on this invention: The printed wiring board which concerns on this invention is obtained by carrying out an etching process etc. using the copper foil laminated board mentioned above, It is characterized by the above-mentioned.

또한, 본 발명에 따른 프린트 배선판은, 상기 배선 회로를 황산 농도 10 ~ 30%, 과산화수소 농도 10 ~ 20%인 액온 30℃의 수용액에 30초간 침지한 후에 상기 배선과 상기 절연 수지 기재의 계면에 형성되는 언더 컷의 깊이가, 상기 배선의 끝면으로부터 3.0㎛ 이하인 특성을 가진다.Further, the printed wiring board according to the present invention is formed at the interface between the wiring and the insulating resin substrate after immersing the wiring circuit in an aqueous solution of 30 ° C. for 30 seconds having a sulfuric acid concentration of 10 to 30% and a hydrogen peroxide concentration of 10 to 20%. The undercut has a characteristic of being 3.0 µm or less from the end surface of the wiring.

본 발명에 따른 동박 적층판은, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배선판의 제조에서 이용하는 것이다. 이 동박 적층판은, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고, 또한 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 것을 특징으로 한다. 이 결과, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 처리해도 언더 컷 현상이 발생하지 않게 되므로, 프린트 배선판의 제조 공정에서 얻어진 배선 회로와 절연 수지층의 사이에서 양호한 밀착성을 발휘한다. 또한, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)의 프로파일이 낮으므로, FPC에 요구되는 미세 피치 회로의 형성이 용이해진다. 따라서, 프린트 배선판의 제조에 적합한 동박 적층판 및 그 동박 적층판을 가공하여 얻어지는 프린트 배선판을 얻을 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 동박 적층판이 구비하는 층 구성은, 본 발명에 따른 표면 처리 동박을 이용함으로써 용이하게 제조 가능하다.The copper foil laminated board which concerns on this invention is used for manufacture of a printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide. This copper foil laminated sheet is equipped with the surface treatment layer containing the zinc component and transition metal components other than zinc which may have three or less types of ion valence at the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer, and the said copper layer and the said insulating water The surface roughness Rzjis of the interface of the layer is 2.5 µm or less. As a result, an undercut phenomenon does not occur even if it processes with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide, and it exhibits favorable adhesiveness between the wiring circuit obtained by the manufacturing process of a printed wiring board, and an insulating resin layer. Moreover, since the profile of the surface roughness Rzjis of the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer is low, formation of the fine pitch circuit required for FPC becomes easy. Therefore, the printed wiring board obtained by processing the copper foil laminated board suitable for manufacture of a printed wiring board, and this copper foil laminated board can be obtained. In addition, the layer structure with which the copper foil laminated board which concerns on this invention is equipped can be manufactured easily by using the surface-treated copper foil which concerns on this invention.

본 발명에 따른 동박 적층판의 형태: 본 발명에 따른 동박 적층판은, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배 선판의 제조에 이용하는 동박 적층판이다. 본 발명에 따른 동박 적층판은, 동층과 절연 수지층이 접합된 층 구성을 기본적으로 가지고, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비한 것을 제1의 특징으로 한다. 또한, 본 발명에 따른 동박 적층판은, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 것을 제2의 특징으로 한다.Form of copper foil laminated board which concerns on this invention: The copper foil laminated board which concerns on this invention is a copper foil laminated board used for manufacture of a printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide. The copper foil laminated sheet which concerns on this invention has the laminated constitution which the copper layer and the insulated resin layer bonded together, and is a transition other than zinc which can have a zinc component and three or less types of ion valence at the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer. A first feature is to include a surface treatment layer containing a metal component. Moreover, the copper foil laminated board which concerns on this invention is a 2nd characteristic that surface roughness (Rzjis) of the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer is 2.5 micrometers or less.

먼저, 제1의 특징에 관하여 설명한다. 제1의 특징은, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 ‘아연 성분’과 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’을 포함한 표면 처리층을 구비한 것이다. 여기에서는 표면 처리층에 ‘아연 성분’을 필수 성분으로 하고 있다. 이는, 설령 아연 이외의 다른 금속 성분인 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’이 동과의 합금화가 곤란한 금속 성분이라도 아연과 동이 합금화하기 쉬운 성질을 가지므로, ‘아연 성분’과 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’을 포함한 표면 처리층과 동층의 양호한 밀착성을 얻을 수 있기 때문이다. 또한, 아연 성분은 프린트 배선판으로서의 내열 특성을 향상시키기 위하여 필요한 성분이기 때문이다.First, the first feature will be described. The 1st characteristic is that the surface treatment layer containing a "zinc component" and "a transition metal component other than zinc which may have three or less types of ion valences" is provided in the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer. Here, a zinc component is an essential component in a surface treatment layer. This is because even if a metal component other than zinc, a transition metal component other than zinc capable of having three or less ionic valences, is difficult to alloy with copper, zinc and copper tend to be alloyed. This is because good adhesion between the surface treatment layer and the same layer including the zinc component 'and the' transition metal component other than zinc capable of having three or less kinds of ion valences' can be obtained. This is because the zinc component is a component necessary for improving the heat resistance characteristics of the printed wiring board.

그리고, 아연 이외의 성분은 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’이다. 일반적으로, 수용액 중에 있어서의 금속과 금속 이온 사이의 거동이라면, 이온화 경향으로부터 일정한 추측은 가능하다. 그런데, 동박 적층판을 프린트 배선판으로 가공할 때에 접촉하는 각종 용액은 금속 성분을 용 해시키는 산화력을 가진 것이 많다. 동박 적층판이 이와 같은 용액(묽은 황산, 묽은 염산 등)과 접촉했을 때에는 금속동은 산화되면서 동이온이 되어 용해된다.In addition, components other than zinc are "transition metal components other than zinc which can have three or less types of ion valences." Generally, as long as the behavior between the metal and the metal ions in the aqueous solution, constant estimation is possible from the ionization tendency. By the way, the various solutions which come into contact when processing a copper foil laminated board with a printed wiring board have many oxidizing powers which melt | dissolve a metal component. When the copper foil laminate comes into contact with such a solution (dilute sulfuric acid, dilute hydrochloric acid, etc.), the metal copper is oxidized while being oxidized and dissolved.

이와 같은 용해 반응 모델에서는 표면 처리층이 ‘3종류가 넘는 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분(이하, 간단히 ‘다가수(多價數) 금속’이라고 칭한다.)’을 포함하고 있으며, 이에 대하여 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용하면 산소 공급원이 되는 과산화수소수가 존재하기 때문에, 다가수 금속 자신과 그 복수의 산화물 사이에서 이온 가수의 변화를 수반하는 불가역 반응이 일어나기 쉽다. 그 결과, 배선 회로의 처리에 이용하는 에칭액의 산화 환원 전위의 변화에 따라 표면 처리층내의 다가수 금속 성분의 산화 환원 상태가 변화하게 되어, 아연과 동의 용출 전 산화 상태도 영향을 받게 된다. 그 결과, 표면 처리층과 동층간의 전위차 변동이 커져 동층이 우선적으로 용해되는 현상이 생겨 언더 컷 현상이 나타나는 것으로 생각된다.In such a dissolution reaction model, the surface treatment layer contains a transition metal component other than zinc which may have more than three kinds of ionic valences (hereinafter, simply referred to as 'polyhydric metal'). On the other hand, when an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide is used, hydrogen peroxide water serving as an oxygen source exists, so that an irreversible reaction involving a change in the ion valence between the polyvalent metal itself and the plurality of oxides is likely to occur. As a result, the redox state of the polyvalent metal component in the surface treatment layer changes with the change of the redox potential of the etching solution used for the processing of the wiring circuit, and the oxidation state before zinc and copper dissolution are also affected. As a result, it is thought that the variation of the potential difference between the surface treatment layer and the copper layer becomes large and the copper layer preferentially dissolves, resulting in an undercut phenomenon.

이에 대하여, 표면 처리층에 포함되는 금속이 가질 수 있는 이온 가수가 3종류 이내(예를 들어, 용출되는 금속 이온이 1가, 2가, 3가 중 어느 하나인 경우)이면, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용해도 상기 금속 성분과 그 산화물과의 사이에서의 이온 가수의 변화를 수반하는 불가역 반응이 일어나기 어려워 상술한 바와 같은 현상은 나타나지 않으며, 염화제2철 동에칭액이나 염화제2동 에칭액 등을 이용한 일반적인 동에칭시와 마찬가지의 거동을 나타내기 때문에 안정적인 배선 회로의 형상이 얻어짐과 동시에 언더 컷 현상이 일어나기 어려워진다. 여기서 말하는 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’이 란, 니켈, 크롬, 철, 백금, 망간, 동 등이다. 이것들 중에서도 보다 바람직하게, ‘2종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’을 이용하는 것이 바람직하다. 2종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 구체적으로 말하면, 1가 이온 또는 2가 이온을 형성하는 동, 2가 이온 또는 3가 이온을 형성하는 철, 2가 이온만 형성하는 니켈이다. 한편, 이상에서 기술한 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’이 에칭액 중에 용출되어 공존해도 배선 회로를 형성할 때의 동에칭에 악영향은 없다.In contrast, when the metal contained in the surface treatment layer has three or less ionic valences (for example, when the eluted metal ions are any of monovalent, divalent, and trivalent), sulfuric acid and hydrogen peroxide may be used. Even if the etchant included is used, irreversible reactions involving the change of the ion valence between the metal component and the oxide thereof are unlikely to occur, and thus, the above-described phenomenon does not occur. Since the same behavior as in the case of general copper etching using the PSA is obtained, the shape of the stable wiring circuit is obtained and the undercut phenomenon is less likely to occur. The term "transition metal component other than zinc which may have three or less types of ionic valences" is nickel, chromium, iron, platinum, manganese, copper, or the like. Among these, it is preferable to use the "transition metal component other than zinc which can have two or less types of ion valences." Specifically, the transition metal component other than zinc that may have two or less kinds of ionic valences forms only copper, divalent or trivalent ions forming monovalent ions or divalent ions, and only bivalent ions. It is nickel. On the other hand, even if the above-mentioned "transition metal component other than zinc which can have three or less types of ion valences" elutes and coexists in etching liquid, there is no adverse effect on copper etching at the time of forming a wiring circuit.

여기서, 도 1에는, 이하에 기술하는 본 발명에 따른 표면 처리 동박을 이용하여 동박 적층판을 제조하고, 이것을 이용한 프린트 배선판의 제조시 배선 회로의 형성 후에 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용하여 마이크로 에칭을 행한 결과, 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않았을 때의 동층(2), 표면 처리층(3), 절연 수지 기재(5)의 단면에서 바라본 층 구성을 나타내고 있다. 이는, 본 발명에 따른 표면 처리 동박을 이용하여 동박 적층판을 제조하고, 이것을 이용하여 프린트 배선판을 제조한 경우이다. 그리고, 도 2에는, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용하여 마이크로 에칭을 행한 결과, 배선 회로(동층(2))의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생했을 때의 단면에서 언더 컷 부분(6)의 모습을 나타내고 있다. 이는, 몰리브덴을 함유한 표면 처리층을 구비한 표면 처리 동박을 이용하여 동박 적층판을 제조하고, 이것을 이용하여 프린트 배선판을 제조한 경우이며, 몰리브덴은 3종류가 넘는 이온 가수를 가질 수 있는 전이 금속 성분이다. 도 1과 도 2를 비교함으로써, 표면 처리층에 포함되는 금속이 가질 수 있는 이온 가수가 3종류 이내(예를 들어, 용출되는 금속 이온이 1가, 2가, 3가 중 어느 하나인 경우)이면, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용한 마이크로 에칭에서 언더 컷 현상이 발생하지 않음을 이해할 수 있다.Here, in FIG. 1, the copper foil laminated board is manufactured using the surface-treated copper foil which concerns on this invention described below, and micro etching is performed using the etching liquid containing sulfuric acid and hydrogen peroxide after formation of a wiring circuit at the time of manufacture of a printed wiring board using the same. As a result, the layer structure seen from the cross section of the copper layer 2, the surface treatment layer 3, and the insulated resin base material 5 when the undercut phenomenon did not generate | occur | produce in the bottom part of a wiring circuit is shown. This is a case where the copper foil laminated board is manufactured using the surface-treated copper foil which concerns on this invention, and the printed wiring board was manufactured using this. In FIG. 2, as a result of micro-etching using an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide, the undercut portion 6 is formed in a cross section when an undercut phenomenon occurs at the bottom of the wiring circuit (copper layer 2). It is showing. This is the case where a copper foil laminated board is manufactured using the surface-treated copper foil provided with the surface treatment layer containing molybdenum, and the printed wiring board was manufactured using this, and molybdenum has a transition metal component which may have more than three types of ion valences. to be. By comparing FIG. 1 with FIG. 2, three or more ion valences which the metal contained in a surface treatment layer may have (for example, when the eluted metal ion is any of monovalent, divalent, and trivalent) On the back side, it can be understood that the undercut phenomenon does not occur in the micro etching using the etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide.

상술한 본 발명에 따른 동박 적층판의 표면 처리층은, ‘아연 성분’과 ‘3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분’의 합계의 질량 두께가 40㎎/㎡ 이상의 두께인 것이 바람직하다. 질량 두께가 40㎎/㎡ 미만인 경우에는, 이 표면 처리층에 의한 계면의 피복이 불충분한 부분이 존재하는 경향이 강해져 동층과 절연 수지 기재간의 밀착성, 내열성, 내약품성에 장소적인 편차가 생기기 때문에 바람직하지 않다. 여기서, 질량 두께 40㎎/㎡를 하한값으로 한 이유에 대하여 설명한다. 이 질량 두께는, 완전히 평평한 이상적인 평면을 두께 약 40Å의 표면 처리층으로 피복할 수 있는 양이다. 그리고, 40Å의 두께로 이상적인 평면을 피복하는 합금 성분량은, 이상적인 평면의 표면적을 기준으로 하여 거의 평활한 표면 위에 형상 편차가 작은 미세한 조화 처리 입자가 존재하는 조화 처리면이라도, 그 표면적비가 2 전후이면 조화 처리 입자가 가지는 오버행 부분을 포함하여 거의 빠짐없이 피복하기에 충분한 양이기 때문이다.As for the surface treatment layer of the copper foil laminated board which concerns on this invention mentioned above, the mass thickness of the sum total of a zinc component and the transition metal component other than zinc which may have three or less types of ion valences is 40 mg / m <2> or more thickness. It is preferable. In the case where the mass thickness is less than 40 mg / m 2, the tendency of insufficient coverage of the interface by the surface treatment layer is increased, which is preferable because a local variation occurs in the adhesion, heat resistance, and chemical resistance between the copper layer and the insulating resin substrate. Not. Here, the reason which made mass thickness 40 mg / m <2> the lower limit is demonstrated. This mass thickness is an amount which can coat | cover an ideal plane completely flat with the surface treatment layer of thickness about 40 GPa. The alloy component amount covering the ideal plane with a thickness of 40 kPa is roughly the roughened surface in which the finely roughened particles having a small shape deviation are present on the almost smooth surface based on the surface area of the ideal flat surface. It is because it is an amount sufficient to coat | cover almost without missing including the overhang part which a roughening process particle | grains have.

또한, 여기서 이 질량 두께에 상한을 마련하지는 않지만, 표면 처리층을 구성하는 금속의 종류에 따라서는 그 금속 성분이 다량으로 존재하면 배선 회로를 에칭으로 형성할 때에 용해가 곤란한 성분이 있다. 이와 같은 구성에서, 이용한 합금 성분이 에칭 잔여물 등이 되지 않게 하기 위하여 표면 처리층의 질량 두께는 80㎎/㎡ 이하로 하는 것이 바람직하다.In addition, although an upper limit is not provided in this mass thickness here, depending on the kind of metal which comprises a surface treatment layer, when the metal component exists in a large quantity, there exists a component which is difficult to melt | dissolve when forming a wiring circuit by etching. In such a configuration, the mass thickness of the surface treatment layer is preferably 80 mg / m 2 or less so that the used alloy component does not become an etching residue or the like.

이어서, 본 발명에 따른 동박 적층판의 제2의 특징인 ‘상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하인 것.’에 관하여 기술한다. 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛를 넘으면, 다층 FPC를 제조했을 때, 층간의 절연 신뢰성이 떨어지고 미세 피치 배선 회로의 형성이 곤란해진다. 이에 대하여, 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하이면, 국부적으로 커진 조화 처리 입자가 형성되어 있을 가능성이 거의 없어져 절연 수지층이 얇은 다층 FPC의 제조에 이용되어도 층간의 절연 신뢰성을 유지할 수 있다. 또한, FPC의 라인/스페이스가 25㎛/25㎛인 미세 피치 배선의 형성이 용이해진다.Next, it describes about the 2nd characteristic of the copper foil laminated board which concerns on this invention "surface roughness Rzjis of the interface of the said copper layer and the said insulating resin layer is 2.5 micrometers or less." If the surface roughness (Rzjis) of the interface exceeds 2.5 µm, when the multilayer FPC is manufactured, the insulation reliability between layers becomes poor and formation of a fine pitch wiring circuit becomes difficult. On the other hand, when the surface roughness Rzjis of the interface is 2.5 µm or less, there is little possibility that locally large roughened particles are formed, and insulation reliability between layers can be maintained even when the insulating resin layer is used for the manufacture of a thin multilayer FPC. . In addition, formation of fine pitch wirings in which the line / space of the FPC is 25 µm / 25 µm is facilitated.

그리고, 본 발명에 따른 동박 적층판의 동층은, 절연 수지 기재와의 접합면에 조화 처리를 하여 동층과 절연 수지층의 밀착성을 향상시키는 것도 바람직하다. 따라서, 본 발명에 따른 동박 적층판의 동층과 절연 수지층의 사이에 마련하는 조화 처리층은, 그 동박 적층판의 단면의 확산 저항을 측정했을 때, 미세 동 입자를 부착시키는 등을 하여 형성한 조화 처리층의 조화 처리층 저항값(RB1)과, 동층의 벌크 동층의 벌크층 저항값(RB2)이 다르고, RB1 < RB2의 관계를 가지는 것이 바람직하다. 이 관계를 가지는 것이 언더 컷 현상의 방지를 위하여 바람직하다.And it is also preferable that the copper layer of the copper foil laminated board which concerns on this invention improves adhesiveness of a copper layer and an insulated resin layer by roughening a joint surface with an insulated resin base material. Therefore, the roughening process layer provided between the copper layer and the insulated resin layer of the copper foil laminated board which concerns on this invention, when the diffusion resistance of the cross section of the copper foil laminated board was measured, adhere | attached fine copper particles, etc., and was formed. roughening layer resistance (R B1) and a bulk layer resistance of the bulk copper layer (R B2) of the same layer in a different layer, it is preferable that the relationship between the R B1 <R B2. It is preferable to have this relationship for the prevention of undercut phenomenon.

도 3에, 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않았을 때에 사용한 동박 적층판의 단면의 확산 저항 측정 결과를 나타낸다. 도 4에, 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생했을 때에 사용한 동박 적층판의 단면의 확산 저항 측정 결과를 나타낸다. 이들 도면에서 어둡게 보일수록 확산 저항 측정값이 높아져 있는 부분이며, 각 도면의 a)는 단면의 확산 저항상(像)이고 b)는 벌크동부의 평균값(≒2kΩ)을 기준으로 한 확산 저항상이다. 또한, 이들 도면의 상부는 동층과 절연 수지층 구성 재료의 접합 계면이고, 표층은 조화 처리한 조화 처리층이다. 여기서, 도 3과 도 4를 비교함으로써 알 수 있는 바와 같이, 도 3의 경우에는 동층의 절연 수지층 구성 재료의 접합면 근방(조화 처리층)의 색조가 밝고, 그 밖의 벌크 동층의 색조가 어두워져 있다. 이에 대하여, 도 4의 경우에는 동층과 절연 수지층 구성 재료의 접합 계면 근방의 조화 처리층의 색조와, 그 밖의 벌크 동층의 색조의 차이를 명확히 확인할 수 없는 상태이다. 또한, 도 3과 도 4의 동박 적층판의 동층과 절연 수지층 구성 재료의 접합 계면의 최표층(最表層)을 보면, 도 3에 비하여 도 4에서 고저항 영역이 현저하게 관찰되고 있다. 여기서, GHz 오더의 고주파 신호를 취급하는 배선 회로에서는 표피 효과에 의해 동박과 절연 수지 기재의 접합면측으로 신호가 흐르게 되기 때문에, 고주파 전송 특성을 개선하기 위해서는 동박 적층판의 동층의 절연 수지층 구성 재료와의 접합면의 저항이 낮을수록 바람직하다. 따라서, 이와 같은 관점에서 보아도 본 발명에 따른 동박 적층판이 조화 처리층 저항값(RB1) < 벌크층 저항값(RB2)의 관계를 가지는 것이 바람직하다.In FIG. 3, the result of the measurement of the diffusion resistance of the cross section of the copper foil laminated board used when the undercut phenomenon did not generate | occur | produce in the bottom part of a wiring circuit is shown. In FIG. 4, the result of the measurement of the diffusion resistance of the cross section of the copper foil laminated board used when the undercut phenomenon generate | occur | produced in the bottom part of a wiring circuit is shown. In these figures, the darker the diffusion resistance measurement is, the a) is the diffusion resistance phase of the cross section and b) is the diffusion resistance phase based on the average value of the bulk copper portion (≒ 2 kΩ). . In addition, the upper part of these figures is a joining interface of a copper layer and the insulated resin layer component material, and a surface layer is a roughening process layer which carried out the roughening process. Here, as can be seen by comparing FIG. 3 with FIG. 4, in the case of FIG. 3, the color tone of the vicinity of the bonding surface (harmonized layer) of the insulating resin layer constituent material of the copper layer is bright, and the color tone of the other bulk copper layer is dark. Lost In contrast, in the case of FIG. 4, the color tone of the roughened layer in the vicinity of the bonding interface between the copper layer and the insulating resin layer constituent material and the color tone of the other bulk copper layer cannot be clearly identified. Moreover, when looking at the outermost layer of the bonding interface of the copper layer of the copper foil laminated board of FIG. 3 and FIG. 4 and the insulated resin layer constituent material, the high resistance area is remarkably observed in FIG. 4 compared with FIG. Here, in the wiring circuit which handles the high frequency signal of GHz order, since a signal flows to the joining surface side of copper foil and an insulating resin base material by a skin effect, in order to improve a high frequency transmission characteristic, the insulating resin layer component material of the copper layer of a copper foil laminated board and The lower the resistance of the bonding surface is, the more preferable. Therefore, even from such a viewpoint, it is preferable that the copper foil laminated board which concerns on this invention has a relationship of roughening process layer resistance value RB1 <bulk layer resistance value RB2 .

본 발명에 따른 동박 적층판은, 상기 절연 수지 기재에 가요성을 가지는 수지 필름을 이용하여 플렉서블 동박 적층판으로 하는 것이 바람직하다. 여기서 말하는 가요성을 가지는 수지 필름이란, 폴리이미드 수지 필름, 아라미드 수지 필름, PET 수지 필름, 액정 폴리머 수지 필름 등이며, 필름 재질, 필름 두께 등에 특별한 한정은 없다.It is preferable to make the copper foil laminated board which concerns on this invention into a flexible copper foil laminated board using the resin film which has flexibility to the said insulated resin base material. The resin film which has flexibility here is a polyimide resin film, an aramid resin film, a PET resin film, a liquid crystal polymer resin film, etc., and there is no special limitation in a film material, a film thickness, etc.

본 발명에 따른 표면 처리 동박: 본 발명에 따른 표면 처리 동박은, 상술한 동박 적층판의 제조에 이용하는 표면 처리 동박이다. 따라서, 절연 수지 기재와의 접합면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고, 또한 이 절연 수지 기재와의 접합면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하일 필요가 있다. 이 표면 처리 동박을 절연 수지층 구성 재료에 접합시킴으로써, 상술한 본 발명에 따른 동박 적층판이 얻어진다. 따라서, 이 표면 처리 동박의 설명으로서 요구되는 ‘표면 처리층’및 ‘접합면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하’에 관한 설명은 중복되므로 여기에서의 설명은 생략한다. 이때의 본 발명에 따른 표면 처리 동박(1)은 동박(벌크 동층)(2)과 표면 처리층(3)으로 구성되어 있으며, 이 층 구성을 도 5에 모식 단면도로 나타내었다. 한편, 본 발명에 따른 표면 처리 동박의 경우, 절연 수지층 구성 재료와의 밀착성을 보다 향상시키는 수단으로서, 표면 처리층의 표면에 실란 커플링제 처리층을 더 마련하는 등 하여도 무방하다.Surface-treated copper foil which concerns on this invention: The surface-treated copper foil which concerns on this invention is surface-treated copper foil used for manufacture of the copper foil laminated board mentioned above. Therefore, the surface treatment layer containing the zinc component and the transition metal component other than zinc which may have three or less types of ion valences in the joint surface with an insulated resin base material, and also the surface roughness of the joint surface with this insulated resin base material (Rzjis) needs to be 2.5 micrometers or less. By bonding this surface-treated copper foil to the insulated resin layer constitution material, the copper foil laminated board which concerns on this invention mentioned above is obtained. Therefore, since description regarding the "surface treatment layer" and "surface roughness (Rzjis) of a joining surface is 2.5 micrometers or less" required as description of this surface-treated copper foil overlaps, description here is abbreviate | omitted. The surface-treated copper foil 1 which concerns on this invention at this time is comprised from the copper foil (bulk copper layer) 2 and the surface treatment layer 3, This layer structure was shown by the schematic cross section in FIG. On the other hand, in the case of the surface-treated copper foil which concerns on this invention, you may provide a silane coupling agent treatment layer further on the surface of a surface treatment layer as a means of further improving adhesiveness with the insulated resin layer constitution material.

그리고, 본 발명에 따른 표면 처리 동박은, 상기 표면 처리 동박의 절연 수지 기재와의 접합면에 조화 처리를 하는 것이 바람직하다. 본 발명에 따른 표면 처리 동박(1)의 경우, 동박(2)의 접합면에 조화 처리를 하여 조화 처리면(4)을 형성하고, 그 조화 처리면(4) 위에 표면 처리층(3)을 형성하여, 도 6에 나타낸 층 구성으로 하는 것이 통상적이다. 이 조화 처리면(4)의 형성에 조화 처리 입자를 부착시키는 기법을 이용하는 경우에는, 금속동으로 구성된 미세 동 입자를 이용하면 배선 회로를 형성할 때의 동에칭으로 조화 처리 입자의 에칭 제거가 가능하여 조화 처리 입자를 제거하기 위한 오버 에칭 시간을 크게 취할 필요가 없기 때문에, 배선 회로의 에칭 팩터가 양호해진다. 또한, 동박 적층판의 제조 공정에서 부가되는 열 이력에 의해 동벌크(동박측)와 미세 동 입자(조화 처리 입자)의 부착 계면에서 동의 상호 확산이 일어남으로써 동벌크에 대한 조화 처리 입자의 밀착성이 보다 견고해지므로 바람직하다.And it is preferable that the surface-treated copper foil which concerns on this invention gives a roughening process to the bonding surface with the insulated resin base material of the said surface-treated copper foil. In the case of the surface-treated copper foil 1 which concerns on this invention, the roughening process surface 4 is formed by roughening on the bonding surface of the copper foil 2, and the surface treatment layer 3 is made on the roughening process surface 4 It is common to form and to set it as the layer structure shown in FIG. In the case of using the technique of attaching the roughened particles to the formation of the roughened surface 4, when the fine copper particles made of metal copper are used, etching removal of the roughened particles is possible by copper etching when forming the wiring circuit. Since it is not necessary to take large over-etching time for removing roughened particles, the etching factor of the wiring circuit becomes good. In addition, the mutual diffusion of copper occurs at the adhesion interface between copper bulk (copper foil side) and fine copper particles (harmonized particles) due to the heat history added in the manufacturing process of the copper foil laminated plate, so that the adhesion of the roughened particles to copper bulk is more enhanced. It is preferable because it becomes solid.

본 발명에 따른 프린트 배선판의 형태: 본 발명에 따른 프린트 배선판은, 상술한 동박 적층판을 이용하여 에칭 가공 등을 하여 얻어지는 것을 특징으로 하는 것이다. 전술한 바와 같이, 다층 프린트 배선판의 제조 공정에서 배선 회로가 각종 약품에 침지되어도 배선 단면에 언더 컷이 발생하지 않고, 전기 특성과 접속 신뢰성이 뛰어난 프린트 배선판이다.Form of printed wiring board which concerns on this invention: The printed wiring board which concerns on this invention is obtained by performing an etching process etc. using the above-mentioned copper foil laminated board, It is characterized by the above-mentioned. As mentioned above, even if a wiring circuit is immersed in various chemicals in the manufacturing process of a multilayer printed wiring board, undercut does not generate | occur | produce in the wiring cross section, and it is a printed wiring board excellent in electrical characteristics and connection reliability.

또한, 본 발명에 따른 프린트 배선판은, 상기 배선 회로를 황산 농도 10% ~ 30%, 과산화수소 농도 10% ~ 20%인 액온 30℃의 수용액에 30초간 침지한 후에 상기 배선과 상기 절연 수지 기재의 계면에 형성되는 언더 컷의 깊이가, 상기 배선의 끝면으로부터 3.0㎛ 이하라는 특성을 가진다. 즉, 플래시 에칭, 마이크로 에칭, 동회로 에칭 시에 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용해도 언더 컷 현상이 발생하지 않게 된다. 따라서, 프린트 배선판 중에서도 미세 피치 회로의 형성이 요구되는 플렉서블 프린트 배선판의 용도에 적합하다.In addition, the printed wiring board according to the present invention is an interface between the wiring and the insulating resin substrate after immersing the wiring circuit in an aqueous solution of 30 ° C. having a sulfuric acid concentration of 10% to 30% and a hydrogen peroxide concentration of 10% to 20% for 30 seconds. The depth of the undercut formed in the film is 3.0 µm or less from the end surface of the wiring. That is, undercutting does not occur even when an etching solution containing sulfuric acid and hydrogen peroxide is used during flash etching, micro etching, and copper circuit etching. Therefore, it is suitable for the use of the flexible printed wiring board which requires formation of a fine pitch circuit among printed wiring boards.

본 발명에 따른 동박 적층판은, 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배 선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배선판의 제조에서 이용하는 것이다. 이 동박 적층판을 이용함으로써, 플래시 에칭, 마이크로 에칭, 동회로 에칭에 황산과 과산화수소를 포함한 에칭액을 이용해도 언더 컷 현상이 발생하지 않게 된다. 또한, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)의 프로파일이 낮으므로, FPC에 요구되는 미세 피치 회로의 형성이 용이해진다. 특히, 본 발명에 따른 동박 적층판은, 플렉서블 프린트 배선판에 요구되는 요구 특성을 만족하는 것이다. 또한, 본 발명에 따른 동박 적층판은, 본 발명에 따른 표면 처리 동박을 이용함으로써, 절연 수지층을 구성하는 수지 시트, 프리프레그 등과 적층 가공함으로써 용이하게 제조 가능하다.The copper foil laminated sheet which concerns on this invention is used in manufacture of the printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching liquid containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide. By using this copper foil laminated sheet, undercut phenomenon does not occur even if etching liquid containing sulfuric acid and hydrogen peroxide is used for flash etching, micro etching, and copper circuit etching. Moreover, since the profile of the surface roughness Rzjis of the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer is low, formation of the fine pitch circuit required for FPC becomes easy. In particular, the copper foil laminate according to the present invention satisfies the required properties required for the flexible printed wiring board. Moreover, the copper foil laminated board which concerns on this invention can be manufactured easily by laminating | processing with the resin sheet, prepreg, etc. which comprise an insulating resin layer by using the surface-treated copper foil which concerns on this invention.

도 1은 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않았을 때의 단면에서 바라본 모습을 나타내는 광학 현미경 관찰상이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is an optical microscope observation image which shows the state seen from the cross section when undercut phenomenon does not generate | occur | produce in the bottom part of a wiring circuit.

도 2는 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생했을 때의 단면에서 바라본 모습을 나타내는 광학 현미경 관찰상이다.It is an optical microscope observation image which shows the state seen from the cross section when the undercut phenomenon generate | occur | produces in the bottom part of a wiring circuit.

도 3은 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생하지 않았을 때에 사용한 표면 처리 동박의 벌크 동층의 단면의 확산 저항 측정 결과이다.It is a result of the measurement of the diffusion resistance of the cross section of the bulk copper layer of the surface-treated copper foil used when the undercut phenomenon did not generate | occur | produce in the bottom part of a wiring circuit.

도 4는 배선 회로의 바닥부에 언더 컷 현상이 발생했을 때에 사용한 표면 처리 동박의 벌크 동층의 단면의 확산 저항 측정 결과이다.It is the result of the measurement of the diffusion resistance of the cross section of the bulk copper layer of the surface-treated copper foil used when the undercut phenomenon generate | occur | produced in the bottom part of a wiring circuit.

도 5는 본 발명에 따른 표면 처리 동박의 층 구성을 설명하기 위한 모식 단면도이다.It is a schematic cross section for demonstrating the laminated constitution of the surface-treated copper foil which concerns on this invention.

도 6은 본 발명에 따른 조화 처리층을 포함한 표면 처리 동박의 층 구성을 설명하기 위한 모식 단면도이다.It is a schematic cross section for demonstrating the laminated constitution of the surface-treated copper foil containing the roughening process layer which concerns on this invention.

[부호의 설명][Description of Symbols]

1…표면 처리 동박One… Surface treatment copper foil

2…동박(벌크 동층)2… Copper foil (bulk copper floor)

3…표면 처리층3 ... Surface treatment layer

4…조화 처리층(조화 처리 입자, 미세 동 입자)4… Roughened layer (harmonized particles, fine copper particles)

5…절연 수지층5 ... Insulation resin layer

6…언더 컷 부분6... Under cut part

Claims (8)

황산과 과산화수소를 포함한 에칭액으로 배선 회로를 제조하는 공정을 포함하는 프린트 배선판의 제조에 이용하는 동박 적층판으로서,As a copper foil laminated board used for manufacture of a printed wiring board containing the process of manufacturing a wiring circuit with the etching solution containing a sulfuric acid and hydrogen peroxide, 상기 동박 적층판은 동층과 절연 수지층이 접합된 것이고,The said copper foil laminated board is a thing in which the copper layer and the insulated resin layer were joined, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고,A surface treatment layer containing a zinc component and a transition metal component other than zinc which may have three or less kinds of ion valences at an interface between the copper layer and the insulated resin layer, 상기 동층과 상기 절연 수지층의 계면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하이며,The surface roughness (Rzjis) of the interface of the said copper layer and the said insulated resin layer is 2.5 micrometers or less, 또한, 상기 동층은 상기 동층과 상기 절연 수지 기재와의 접합면에 조화(粗化) 처리되었으며, 상기 조화 처리된 조화 처리층 저항값(RB1) < 벌크 동층의 벌크층 저항값(RB2)의 관계를 갖는 것을 특징으로 하는 동박 적층판.In addition, the copper layer was roughened on the bonding surface between the copper layer and the insulating resin substrate, and the roughened treatment layer resistance value (R B1 ) <bulk layer resistance value of the bulk copper layer (R B2 ) The copper foil laminated sheet characterized by having a relationship. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 표면 처리층은, 아연과 상기 전이 금속 성분의 합계의 질량 두께가 40㎎/㎡ 이상의 두께인 동박 적층판.The said surface treatment layer is a copper foil laminated board whose mass thickness of the sum total of zinc and the said transition metal component is 40 mg / m <2> or more. 삭제delete 제1항 내지 제2항 중 어느 한 항에 있어서,The method according to any one of claims 1 to 2, 상기 절연 수지층에 가요성을 가지는 수지 필름을 이용하여 얻어지는 플렉서블 동박 적층판인 동박 적층판.The copper foil laminated board which is a flexible copper foil laminated board obtained using the resin film which has flexibility to the said insulated resin layer. 제1항 내지 제2항 중 어느 한 항에 기재된 동박 적층판의 제조에 이용하는 표면 처리 동박으로서,As a surface-treated copper foil used for manufacture of the copper foil laminated board of any one of Claims 1-2, 절연 수지 기재와의 접합면에 아연 성분과 3종류 이하의 이온 가수를 가질 수 있는 아연 이외의 전이 금속 성분을 포함한 표면 처리층을 구비하고,A surface treatment layer containing a zinc component and a transition metal component other than zinc which may have three or less kinds of ionic valences at a bonding surface with the insulating resin substrate, 상기 절연 수지 기재와의 접합면의 표면 거칠기(Rzjis)가 2.5㎛ 이하이며,The surface roughness (Rzjis) of the bonding surface with the said insulated resin base material is 2.5 micrometers or less, 또한, 상기 표면 처리 동박은 상기 표면 처리 동박의 절연 수지 기재와의 접합면에 조화(粗化) 처리되었으며, 상기 조화 처리된 조화 처리층 저항값(RB1) < 벌크 동층의 벌크층 저항값(RB2)의 관계를 갖는 것을 특징으로 하는 표면 처리 동박.In addition, the said surface-treated copper foil was roughened on the bonding surface with the insulated resin base material of the said surface-treated copper foil, and the said roughened process layer resistance value R B1 <bulk layer resistance value of a bulk copper layer ( It has a relationship of R B2 ), The surface-treated copper foil characterized by the above-mentioned. 삭제delete 제4항에 기재된 동박 적층판을 이용하여 배선 회로를 형성한 것을 특징으로 하는 프린트 배선판.The wiring circuit was formed using the copper foil laminated board of Claim 4. The printed wiring board characterized by the above-mentioned. 제7항에 있어서,The method of claim 7, wherein 상기 배선 회로를 황산 농도 10 ~ 30%, 과산화수소 농도 10 ~ 20%인 액온 30℃의 수용액에 30초간 침지한 후에 상기 배선과 상기 절연 수지 기재의 계면에 형성되는 언더 컷의 깊이가, 상기 배선의 끝면으로부터 3.0㎛ 이하인 프린트 배선판.The depth of the undercut formed at the interface between the wiring and the insulating resin substrate after immersing the wiring circuit in an aqueous solution at 30 ° C. with a sulfuric acid concentration of 10 to 30% and a hydrogen peroxide concentration of 10 to 20% for 30 seconds is increased. The printed wiring board which is 3.0 micrometers or less from an end surface.
KR1020090047492A 2008-05-30 2009-05-29 Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same KR101194320B1 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008143599A JP5474316B2 (en) 2008-05-30 2008-05-30 Copper-clad laminate, surface-treated copper foil used for manufacturing the copper-clad laminate, and printed wiring board obtained using the copper-clad laminate
JPJP-P-2008-143599 2008-05-30

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090125000A KR20090125000A (en) 2009-12-03
KR101194320B1 true KR101194320B1 (en) 2012-10-24

Family

ID=41409096

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090047492A KR101194320B1 (en) 2008-05-30 2009-05-29 Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5474316B2 (en)
KR (1) KR101194320B1 (en)
CN (1) CN101594736B (en)
TW (1) TWI420991B (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103002663B (en) * 2011-09-09 2015-07-15 深南电路有限公司 Printed circuit board processing method
JP5559288B2 (en) * 2012-11-13 2014-07-23 メック株式会社 Printed wiring board manufacturing method and surface treatment apparatus
JP2015134953A (en) * 2014-01-17 2015-07-27 Jx日鉱日石金属株式会社 Surface-treated copper foil, copper foil with carrier, printed wiring board, printed circuit board, copper-clad laminate, and method for producing printed wiring board

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004189981A (en) * 2002-12-13 2004-07-08 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Thermoplastic polyimide resin material and laminated body, and manufacturing method of printed wiring board

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6086894A (en) * 1983-10-19 1985-05-16 古河サーキットフォイル株式会社 Copper foil for printed circuit and method of producing same
KR930006103B1 (en) * 1991-03-11 1993-07-07 덕산금속 주식회사 Printed circuit for electrolysis copper foil & method
JP3292774B2 (en) * 1994-02-15 2002-06-17 三井金属鉱業株式会社 Copper foil for printed wiring board and method for producing the same
JP3769084B2 (en) * 1996-11-12 2006-04-19 日本電解株式会社 Copper foil for printed wiring board and method for producing the same
EP1168900A1 (en) * 1999-03-03 2002-01-02 Daiwa Co., Ltd. Method of manufacturing multilayer wiring board
JP2003051673A (en) * 2001-08-06 2003-02-21 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Printed wiring board copper foil and copper-plated laminated board using the same
JP3949676B2 (en) * 2003-07-22 2007-07-25 三井金属鉱業株式会社 Copper foil with ultrathin adhesive layer and method for producing the copper foil with ultrathin adhesive layer
JP4172704B2 (en) * 2003-07-31 2008-10-29 日鉱金属株式会社 Surface-treated copper foil and substrate using the same
JP4570070B2 (en) * 2004-03-16 2010-10-27 三井金属鉱業株式会社 Electrolytic copper foil with carrier foil provided with resin layer for forming insulating layer, copper-clad laminate, printed wiring board, method for producing multilayer copper-clad laminate, and method for producing printed wiring board
JP2006103189A (en) * 2004-10-06 2006-04-20 Furukawa Circuit Foil Kk Surface-treated copper foil and circuit board
JP2007081214A (en) * 2005-09-15 2007-03-29 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd Method of manufacturing printed circuit board
JP4912909B2 (en) * 2006-03-30 2012-04-11 新日鐵化学株式会社 Manufacturing method of flexible printed wiring board

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004189981A (en) * 2002-12-13 2004-07-08 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Thermoplastic polyimide resin material and laminated body, and manufacturing method of printed wiring board

Also Published As

Publication number Publication date
TW201010539A (en) 2010-03-01
TWI420991B (en) 2013-12-21
JP2009286071A (en) 2009-12-10
KR20090125000A (en) 2009-12-03
CN101594736A (en) 2009-12-02
JP5474316B2 (en) 2014-04-16
CN101594736B (en) 2013-04-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100937291B1 (en) Method of manufacturing printed wiring board
US7681310B2 (en) Method for fabricating double-sided wiring board
JP5242710B2 (en) Roughening copper foil, copper clad laminate and printed wiring board
KR101188147B1 (en) Copper foil for printed circuit board and copper clad laminate plate for printed circuit board
US20070111401A1 (en) Printed wiring board, its manufacturing method, and circuit device
CN101500375B (en) Electroconductive layer, laminate using the same, and producing processes thereof
KR101318871B1 (en) Surface-treated copper foil and copper-clad laminate
WO2007058147A1 (en) Printed wiring board, method for manufacturing same and use of same
KR20080014623A (en) Wiring board and method for manufacturing the same
WO2013168646A1 (en) Surface-treated copper foil and laminate using same, copper foil, printed wiring board, electronic device, and process for producing printed wiring board
KR20110003267A (en) Flexible copper foil laminated plate and flexible printed circuit board for cof, and manufacturing methods thereof
JP4958045B2 (en) Surface-treated copper foil for producing flexible copper-clad laminate and flexible copper-clad laminate obtained using the surface-treated copper foil
JP2009004423A (en) Copper foil with carrier foil
JP2012112009A (en) Copper foil, and method for producing copper foil
JP4217786B2 (en) Ultra-thin copper foil with carrier and wiring board using ultra-thin copper foil with carrier
US11690178B2 (en) Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
KR101194320B1 (en) Copper clad laminate, surface treated copper foil used for manufacturing the same, and printed wiring board manufactured using the same
JP5064035B2 (en) Manufacturing method of laminate for COF substrate
KR20060052481A (en) Copper-clad laminate for cof and carrier tape for cof
JP2009099831A (en) Method of manufacturing wiring board
KR20040015332A (en) Process for producing high temperature heat resisting carrier foil clad electrolytic copper foil and high temperature heat resisting carrier foil clad electrolytic copper foil obtained by the process
KR20100009598A (en) Process for producing printed wiring board and printed wiring board produced by the production process
TW201942422A (en) Surface-treated copper foil, copper-cladded laminate, and manufacturing method for printed wiring board
JP5467009B2 (en) RESIST-FORMED WIRING BOARD AND ELECTRONIC CIRCUIT MANUFACTURING METHOD
JP2007317900A (en) Wiring circuit board and manufacturing method therefor

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20150917

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160921

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170920

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181004

Year of fee payment: 7