KR101179262B1

KR101179262B1 - 트리톤 위상반전마스크 제조방법

Info

Publication number: KR101179262B1
Application number: KR1020060059936A
Authority: KR
Inventors: 류진호
Original assignee: 에스케이하이닉스 주식회사
Priority date: 2006-06-29
Filing date: 2006-06-29
Publication date: 2012-09-03
Also published as: KR20080001468A

Abstract

본 발명의 트리톤 위상반전마스크(tritone PSM) 제조방법은, 투명기판 위에 위상반전막, 광차단막 및 레지스트막을 순차적으로 형성하는 단계와, 레지스트막을 패터닝하여 광차단막의 일부를 노출시키는 레지스트막패턴을 형성하는 단계와, 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 광차단막 및 위상반전막의 노출부분을 순차적으로 제거하여 위상반전막패턴 및 광차단막패턴을 형성하는 단계와, 레지스트막패턴을 리비전하여 광차단막의 일부를 노출시키는 단계와, 리비전된 레지스트막패턴에 의해 노출된 광차단막을 제거하여 위상반전막의 일부를 노출시키는 단계와, 그리고 리비전된 레지스트막패턴을 제거하는 단계를 포함한다.

트리톤 위상반전마스크, 레지스트 리비전, UV

Description

트리톤 위상반전마스크 제조방법{Method of manufacturing a tritone phase shift mask}

도 1 내지 도 6은 일반적인 위상반전마스크 제조방법을 설명하기 위하여 나타내 보인 단면도들이다.

도 7 내지 도 10은 본 발명에 따른 트리톤 위상반전마스크 제조방법을 설명하기 위하여 나타내 보인 단면도들이다.

본 발명은 포토마스크 제조방법에 관한 것으로서, 특히 트리톤(tritone) 위상반전마스크 제조방법에 관한 것이다.

먼저 도 1에 나타낸 바와 같이, 쿼츠(quartz)와 같은 투명기판(100) 위에 위상반전막(110), 광차단막(120) 및 제1 레지스트막(130)을 순차적으로 형성한다. 다음에 도 2에 나타낸 바와 같이, 통상의 전자빔 리소그라피를 이용하여 제1 레지스트막패턴(132)을 형성한다. 즉 전자빔 라이팅(writing)을 수행한 후 현상(develop) 을 수행하면 제1 레지스트막패턴(132)이 형성되는데, 이 제1 레지스트막패턴(132)은 광차단막(120)의 일부 표면을 노출시키는 개구부를 갖는다. 다음에 도 3에 나타낸 바와 같이, 제1 레지스트막패턴(132)을 이용한 식각으로 위상반전막패턴(112) 및 광차단막패턴(122)을 형성한다. 이후 제1 레지스트막패턴(132)을 제거한다. 다음에 도 4에 나타낸 바와 같이, 다시 전면에 제2 레지스트막(140)을 형성한다. 그리고 도 5에 나타낸 바와 같이, 일부 광차단막패턴(122)을 노출시키는 개구부를 갖는 제2 레지스트막패턴(142)을 형성한다. 다음에 도 6에 나타낸 바와 같이, 제2 레지스트막패턴(142)을 이용한 식각으로 제2 레지스트막패턴(142)에 의해 노출되는 광차단막패턴(122)을 제거하여 일부 위상반전막패턴(112)이 노출되도록 한다. 다음에 제2 레지스트막패턴(142)을 제거한다.

그런데 이와 같은 방법에 있어서, 제2 레지스트막패턴(142)을 이용해 광차단막패턴(122)의 노출부분을 제거하는 과정에서 발생되는 이물이 후속공정에서 장애물로 작용하는 문제가 발생되고 있다. 더욱이 이와 같은 이물의 제거를 위해 추가적인 세정공정과 검사공정 등이 요구되며, 이와 같은 추가적인 공정을 수행하더라도 여전히 이물에 의함 문제가 발생될 수 있다.

특히 패터닝된 메인영역에 위상반전의 효과와 광차단의 효과를 동시에 나타내는 트리톤(tritone) 위상반전마스크의 제조과정의 경우 일반적인 위상반전마스크의 제조과정보다 더 복잡하며, 특히 두 번의 전자빔 라이팅공정과 제2 레지스트막패턴 공정이 필수적으로 요구되고 있다. 이는 생산시간의 증가와 전자빔 장비 사용의 효율감소의 문제가 있으며, 또한 두 번째 전자빔 리소그라피 공정시 코팅불량에 의한 결함이 발생될 수 있고 얼라인(align)이 어렵다는 한계를 나타내고 있어 실용화가 용이하지 않고 있다.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 두 번째 레지스트막패턴 공정을 생략하여 생산시간을 절약하고 이물 발생을 억제할 수 있도록 하는 트리톤 위상반전마스크 제조방법을 제공하는 것이다.

상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 트리톤 위상반전마스크 제조방법은, 투명기판 위에 위상반전막, 광차단막 및 레지스트막을 순차적으로 형성하는 단계; 상기 레지스트막을 패터닝하여 상기 광차단막의 일부를 노출시키는 레지스트막패턴을 형성하는 단계; 상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 광차단막 및 위상반전막의 노출부분을 순차적으로 제거하여 위상반전막패턴 및 광차단막패턴을 형성하는 단계; 상기 레지스트막패턴을 리비전하여 상기 광차단막의 일부를 노출시키는 단계; 상기 리비전된 레지스트막패턴에 의해 노출된 광차단막을 제거하여 상기 위상반전막의 일부를 노출시키는 단계; 및 상기 리비전된 레지스트막패턴을 제거하는 단계를 포함한다.

상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 광차단막의 노출부분을 제거하는 단계는 습식식각방법을 사용하여 수행하는 것이 바람직하다.

상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 위상반전막의 노출부분을 제거하는 단계는 건식식각방법을 사용하여 수행하는 것이 바람직하다.

상기 레지스트막패턴의 리비전은 UV/O₃ 건식식각방법을 사용하여 수행하는 것이 바람직하다.

본 발명에 있어서, 상기 레지스트막패턴을 리비전시킨 후에 결과물에 대해 탈이온수 및 메가소닉 세정방법을 이용한 세정을 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다.

이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명의 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되어지는 것으로 해석되어져서는 안된다.

먼저 도 7을 참조하면, 쿼츠와 같은 투명기판(200) 위에 위상반전막(210), 광차단막(220) 및 레지스트막(230)을 순차적으로 형성한다. 이와 같은 구조는, 통상적으로 블랭크 마스크(blank mask)로서 제공되어질 수 있다. 위상반전막(210)은 MoSiN막으로 형성될 수 있고, 광차단막(230)은 Cr막으로 형성될 수 있다. 다음에 도면에서 화살표로 나타낸 바와 같이 전자빔 라이팅(e-beam writing)을 수행한다.

다음에 도 8을 참조하면, 전자빔 라이팅이 이루어진 레지스트막(도 7의 230)에 대해 현상공정을 수행하여 레지스트막패턴(232)을 형성한다. 이 레지스트막패턴(232)은 광차단막(도 7의 220)의 일부 표면을 노출시키는 개구부를 갖는다. 다음 에 레지스트막패턴(232)을 식각마스크로 한 식각을 수행하여 위상반전막패턴(212) 및 광차단막패턴(222)을 형성한다. 상기 식각은 두 단계로 나뉘어서 수행된다. 구체적으로 광차단막패턴(222)을 형성하기 위해서 먼저 습식식각을 수행한다. 습식식각에 의한 레지스트막패턴(232)의 손실은 거의 없으며, 이는 후속의 레지스트막패턴 리비전(revision)을 위한 것이다. 다음에 위상반전막패턴(212)을 형성하기 이하여 건식식각을 수행한다.

다음에 도 9를 참조하면, UV/O₃ 건식식각을 수행하여 레지스트막패턴 리비전을 수행하여 광차단막패턴(222)의 일부표면을 노출시키는 리비전된 레지스트막패턴(234)을 형성한다. 리비전된 레지스트막패턴(234)은, UV/O₃ 처리시간과 UV 챔버 내의 환경, 예컨대 습도, 대기조성, 조사거리 등을 정량적으로 조절함으로써 원하는 프로파일로 형성할 수 있다. 다음에 세정을 수행하여 후속의 광차단막패턴(222)에 대한 식각시 결함으로 작용할 이물을 제거한다. 이때 리비전된 레지스트막패턴(234)에 대한 영향이 있으면 안 되므로, 레지스트막패턴(234)에 영향을 줄 수 있는 SPM/SC-1 세정 대신에 탈이온수(DI Water)와 메가소닉(megasonic)을 이용한 세정방법을 이용한다.

다음에 도 10을 참조하면, 레지스트막패턴(도 9의 234)을 식각마스크로 한 식각으로 광차단막패턴(222)의 노출부분을 제거한다. 그러면 광차단막패턴(222)에 의해 하부의 위상반전막패턴(212)의 일부가 노출된다. 상기 식각을 수행한 후에는 리비전된 레지스트막패턴(도 9의 234)을 제거한다. 이와 같은 결과, 광차단영역(A) 에서는 광차단막패턴(222)이 배치되고, 위상반전영역(B)에서는 광차단막패턴(222) 없이 위상반전막패턴(212)이 노출되며, 그리고 광투과영역(C)에서는 투명기판(200) 표면이 노출되는 트리톤 위상반전마스크가 형성된다.

이후 통상의 세정공정을 수행한 후에 광물리적 특성들, 예컨대 CD(Critical Dimension), 위상반전, 투과율 등을 측정한 후에, 다시 세정하고 통상의 검사를 수행한다.

지금까지 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 트리톤 위상반전마스크 제조방법에 따르면 다음과 같은 이점들이 제공된다.

첫 번째로, 기존의 두 번째 레지스트공정이 생략됨에 따라 생산공정의 단순화와 생산시간의 단축을 통한 비용절감 및 생산효율이 증대된다. 또한 위상반전막패턴 형성에 영향을 끼칠 수 있는 결함 형성을 원천적으로 차단할 수 있으므로, 기존의 결함 제거를 위해 부가적으로 수행했던 세정/검사/리페서 공정의 수행횟수를 줄일 수 있다.

두 번째로, 패턴의 가장자리는 위상반전막패턴이 노출되도록 하고 가운데는 광차단막이 배치되도록 함으로써, 웨이퍼 노광시 도즈(dose) 조절을 통해 노광조건을 다양화할 수 있다.

그리고 세 번째로, 레지스트막패턴 리비전을 위해 UV/O₃ 처리를 수행함으로써, 마스크 전체영역에 균일하게 처리 효과를 가져올 수 있으며, 이를 통해 마스크 전체 영역에 레지스트막패턴 리비전 효과와 프로파일 변화를 오차 허용 범위에서 균일하게 조절할 수 있으며, 특히 처리조건 및 시간에 따른 레지스트막패턴 프로파일 및 리비전 효과를 조절할 수 있으므로 CD 조절 및 균일도 조절을 용이하게 할 수 있다.

이상 본 발명을 바람직한 실시예를 들어 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 여러 가지 변형이 가능함은 당연하다.

Claims

투명기판 위에 위상반전막, 광차단막 및 레지스트막을 순차적으로 형성하는 단계;

상기 레지스트막을 패터닝하여 상기 광차단막의 일부를 노출시키는 레지스트막패턴을 형성하는 단계;

상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 광차단막 및 위상반전막의 노출부분을 순차적으로 제거하여 위상반전막패턴 및 광차단막패턴을 형성하는 단계;

UV/O₃ 건식식각방법으로 상기 레지스트막패턴을 리비전하여 상기 광차단막의 일부를 노출시키는 단계;

상기 리비전된 레지스트막패턴에 의해 노출된 광차단막을 제거하여 상기 위상반전막의 일부를 노출시키는 단계; 및

상기 리비전된 레지스트막패턴을 제거하는 단계를 포함하는 트리톤 위상반전마스크 제조방법.
청구항 2은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제1항에 있어서,

상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 광차단막의 노출부분을 제거하는 단계는 습식식각방법을 사용하여 수행하는 트리톤 위상반전마스크 제조방법.
청구항 3은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제1항에 있어서,

상기 레지스트막패턴을 식각마스크로 한 식각으로 상기 위상반전막의 노출부분을 제거하는 단계는 건식식각방법을 사용하여 수행하는 트리톤 위상반전마스크 제조방법.
삭제
청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.

제1항에 있어서,

상기 레지스트막패턴을 리비전시킨 후에 결과물에 대해 탈이온수 및 메가소닉 세정방법을 이용한 세정을 수행하는 단계를 더 포함하는 트리톤 위상반전마스크 제조방법.