KR101110785B1 - 프로그램 가능한 내구력을 가진 플래시 메모리 - Google Patents
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- 비휘발성 메모리; 및논리적으로 어드레싱가능한 메모리를 포함하는 데이터 오퍼레이션에 대하여 물리적 메모리의 복수의 블록을 할당함으로써 물리적 메모리를 구성하도록 동작하는 컨트롤러;를 포함하고,물리적 메모리의 복수의 블록의 각 블록은, 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 원하는 크기와 동일한 물리적 메모리의 크기를 갖도록 할당되고, 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 특정 위치에 대한 기록 오퍼레이션에 대한 각각의 요청은, 각각의 요청에 대하여, 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 특정 위치에 대하여 이전에 기록되지 않았던 물리적 메모리의 복수의 블록의 메모리 블록에 데이터를 한번 기록함으로써 처리되고,상기 컨트롤러는, 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 특정 위치에 대한 제1 기록 요청 오퍼레이션이 물리적 메모리의 복수의 블록의 제1 블록 내의 제1 위치에 데이터를 기록함으로써 처리되고, 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 특정 위치에 대한 각각의 후속 기록 요청 오퍼레이션이 블록들 중 하나의 블록, 즉, 마지막 블록을 제외한 모든 블록이 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 특정 위치에 대한 데이터를 가지고 기록될 때까지 물리적 메모리의 복수의 블록 중 상이한 블록 내의 제1 위치에 데이터를 기록함으로써 처리되도록, 물리적 메모리를 구성하기 위해 더 동작하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 53 항에 있어서, 상기 컨트롤러는, 상기 논리적으로 어드레싱 가능한 메모리의 상기 특정 위치에 대하여 이전에 기록되지 않았던 마지막 하나의 메모리 블록만 남았을 때, 이전에 기록된 메모리 블록으로부터의 데이터가 상기 마지막 메모리 블록에 기록되고, 상기 이전에 기록된 메모리 블록의 상기 위치가 기록 오퍼레이션에 대한 새로운 요청을 받아들이기 위해 삭제되도록, 물리적 메모리를 구성하도록 더 동작하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 53 항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 물리적 메모리의 블록에 대한 유효 내구력을 특정하도록 더 동작하고, 그로인해 상기 유효 내구력은 상기 물리적 메모리와 연관된 원래의 내구력을 능가하고, 상기 할당된 복수의 블록의 전체 개수는 상기 원래의 내구력에 대한 상기 유효 내구력의 비율에 비례하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 53 항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 특정 위치를 각각의 기록 오퍼레이션 후에 상기 물리적 메모리의 블록 내의 위치에 맵핑시키도록 더 동작하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 55 항에 있어서, 상기 유효 내구력에 대한 값을 수신하는 인터페이스를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 53 항에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 비휘발성 메모리의 상이한 부분에 대하여 상이한 유효 내구력을 설정하도록 더 동작하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 55 항에 있어서, 상기 특정된 유효 내구력을 달성하기 위해 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 크기가 감소되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 제 55 항에 있어서, 상기 특정된 유효 내구력을 달성하기 위해 상기 물리적 메모리의 크기가 증가되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 시스템.
- 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법으로서,(a) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 원하는 크기를 식별하는 단계;(b) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 타겟 영역에 대한 유효 내구력을 특정하는 단계;(c) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리를 포함하는 데이터 오퍼레이션에 대하여 물리적 메모리의 복수의 블록을 할당함으로써 물리적 메모리를 구성하는 단계;(d) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 제1 특정 위치에 대한 제1 기록 오퍼레이션에서, 물리적 메모리의 복수의 블록의 제1 블록 내의 제1 위치에 데이터를 기록하는 단계;(e) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치에 대한 각각의 후속 기록 오퍼레이션에서, 각각의 이러한 기록 오퍼레이션에 대하여, 블록들 중 하나의 블록, 즉, 마지막 블록을 제외한 모든 블록이 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치에 대한 데이터를 가지고 기록될 때까지, 물리적 메모리의 복수의 블록 중 상이한 블록 내의 제1 위치에 데이터를 기록하고, 그리고 그러한 경우에, 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치에 대하여 이전에 기록된 물리적 메모리의 복수의 블록의 각각의 위치로부터 데이터를 상기 마지막 블록으로 복사하는 단계; 및(f) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치에 대하여 이전에 기록된 메모리 블록의 상기 제1 위치를 삭제하고, 그런 다음 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치에 대하여 요구되는 만큼 (d) 내지 (f) 단계를 반복하는 단계를 포함하고,상기 유효 내구력은 상기 물리적 메모리의 복수의 블록에 대한 원래의 내구력을 능가하고,물리적 메모리의 복수의 블록의 각 블록은, 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 원하는 크기에 내구력 배수를 곱한 것과 동일한 물리적 메모리의 크기를 갖도록 할당되는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법.
- 제 61 항에 있어서, 상기 할당된 복수의 블록의 전체 개수는 상기 원래의 내구력에 대한 유효 내구력의 비율과 비례하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법.
- 제 61 항에 있어서,각각의 기록 오퍼레이션 후, 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 제1 특정 위치를 물리적 메모리의 블록 내의 제1 위치에 맵핑하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법.
- 제 61 항에 있어서,(g) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상이한 특정 위치에 대한 제1 기록 오퍼레이션에서, 물리적 메모리의 복수의 블록의 제1 블록 내의 상이한 위치에 데이터를 기록하는 단계;(h) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 상이한 특정 위치에 대한 각각의 후속 기록 오퍼레이션에서, 각각의 이러한 기록 오퍼레이션에 대하여, 블록들 중 하나의 블록, 즉, 마지막 블록을 제외한 모든 블록이 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 상이한 특정 위치에 대한 데이터를 가지고 기록될 때까지, 물리적 메모리의 복수의 블록 중 상이한 블록 내의 상이한 위치에 데이터를 기록하고, 그리고 그러한 경우에, 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 상이한 특정 위치에 대하여 이전에 기록된 물리적 메모리의 복수의 블록의 각각의 위치로부터 데이터를 상기 마지막 블록으로 복사하는 단계; 및(i) 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 상이한 특정 위치에 대하여 이전에 기록된 메모리 블록의 상기 상이한 위치를 삭제하고, 그런 다음 상기 논리적으로 어드레싱가능한 메모리의 상기 상이한 특정 위치에 대하여 요구되는 만큼 단계 (g) 내지 (i)를 반복하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법.
- 제 62 항에 있어서, 상기 특정하는 단계는 상기 유효 내구력을 특정하는 외부 커맨드를 수신하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 비휘발성 메모리 디바이스의 동작 방법.
- 제 61 항의 방법을 수행하기 위한 실행가능한 명령어를 구비한 컴퓨터 판독가능한 매체.
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PL363945A1 (en) * | 2003-12-08 | 2005-06-13 | Advanced Digital Broadcast Polska Spółka z o.o. | Software method for eeprom memory emulation |
CN101484882B (zh) * | 2005-12-09 | 2013-10-02 | 晟碟以色列有限公司 | 闪存管理方法 |
US7623378B1 (en) * | 2006-05-02 | 2009-11-24 | Lattice Semiconductor Corporation | Selective programming of non-volatile memory facilitated by security fuses |
JP5019567B2 (ja) * | 2006-08-04 | 2012-09-05 | ソニーモバイルコミュニケーションズ株式会社 | メモリ管理方法および携帯端末装置 |
US8122220B1 (en) | 2006-12-20 | 2012-02-21 | Marvell International Ltd. | Memory usage in imaging devices |
US7646636B2 (en) | 2007-02-16 | 2010-01-12 | Mosaid Technologies Incorporated | Non-volatile memory with dynamic multi-mode operation |
US7774525B2 (en) * | 2007-03-13 | 2010-08-10 | Dell Products L.P. | Zoned initialization of a solid state drive |
US20090013148A1 (en) * | 2007-07-03 | 2009-01-08 | Micron Technology, Inc. | Block addressing for parallel memory arrays |
JP2009230205A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Toshiba Corp | メモリシステム |
US8484432B2 (en) * | 2008-03-11 | 2013-07-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Memory system |
JP2009244962A (ja) * | 2008-03-28 | 2009-10-22 | Toshiba Corp | メモリシステム |
US20100057976A1 (en) * | 2008-08-26 | 2010-03-04 | Menahem Lasser | Multiple performance mode memory system |
US8447913B2 (en) * | 2008-09-16 | 2013-05-21 | International Business Machines Corporation | Method to monitor read/write status of flash memory devices |
US8244959B2 (en) * | 2008-11-10 | 2012-08-14 | Atmel Rousset S.A.S. | Software adapted wear leveling |
JP5346626B2 (ja) * | 2009-03-09 | 2013-11-20 | キヤノン株式会社 | 管理装置及び管理方法及びプログラム |
US8341501B2 (en) * | 2009-04-30 | 2012-12-25 | International Business Machines Corporation | Adaptive endurance coding of non-volatile memories |
JP2010287049A (ja) * | 2009-06-11 | 2010-12-24 | Toshiba Corp | メモリシステムおよびメモリシステムの管理方法 |
US8201020B2 (en) * | 2009-11-12 | 2012-06-12 | International Business Machines Corporation | Method apparatus and system for a redundant and fault tolerant solid state disk |
US8176235B2 (en) * | 2009-12-04 | 2012-05-08 | International Business Machines Corporation | Non-volatile memories with enhanced write performance and endurance |
US8176234B2 (en) * | 2009-12-04 | 2012-05-08 | International Business Machines Corporation | Multi-write coding of non-volatile memories |
US8769374B2 (en) | 2010-10-13 | 2014-07-01 | International Business Machines Corporation | Multi-write endurance and error control coding of non-volatile memories |
US8516213B2 (en) | 2010-11-24 | 2013-08-20 | Freescale Semiconductor, Inc. | Method and apparatus for EEPROM emulation for preventing data loss in the event of a flash block failure |
US8464137B2 (en) | 2010-12-03 | 2013-06-11 | International Business Machines Corporation | Probabilistic multi-tier error correction in not-and (NAND) flash memory |
US20120159040A1 (en) * | 2010-12-15 | 2012-06-21 | Dhaval Parikh | Auxiliary Interface for Non-Volatile Memory System |
US20120185638A1 (en) * | 2011-01-14 | 2012-07-19 | Daniel Schreiber | Method and system for cache endurance management |
US9501392B1 (en) * | 2011-05-12 | 2016-11-22 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Management of a non-volatile memory module |
FR2977047B1 (fr) * | 2011-06-22 | 2013-08-16 | Starchip | Procede de gestion de l'endurance de memoires non volatiles. |
JP4988054B2 (ja) * | 2011-08-12 | 2012-08-01 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
US9037779B2 (en) | 2011-12-19 | 2015-05-19 | Sandisk Technologies Inc. | Systems and methods for performing variable flash wear leveling |
US9218881B2 (en) | 2012-10-23 | 2015-12-22 | Sandisk Technologies Inc. | Flash memory blocks with extended data retention |
US9569354B2 (en) * | 2013-08-02 | 2017-02-14 | Infineon Technologies Ag | System and method to emulate an electrically erasable programmable read-only memory |
US9753649B2 (en) * | 2014-10-27 | 2017-09-05 | Sandisk Technologies Llc | Tracking intermix of writes and un-map commands across power cycles |
US11086775B2 (en) | 2014-12-11 | 2021-08-10 | Toshiba Memory Corporation | Information processing device, non-transitory computer readable recording medium, and information processing system |
US9977734B2 (en) * | 2014-12-11 | 2018-05-22 | Toshiba Memory Corporation | Information processing device, non-transitory computer readable recording medium, and information processing system |
KR102396053B1 (ko) | 2015-04-20 | 2022-05-10 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리 장치 및 그것의 동작 방법 |
US10346039B2 (en) | 2015-04-21 | 2019-07-09 | Toshiba Memory Corporation | Memory system |
US10445232B2 (en) | 2015-07-14 | 2019-10-15 | Western Digital Technologies, Inc. | Determining control states for address mapping in non-volatile memories |
US10445251B2 (en) | 2015-07-14 | 2019-10-15 | Western Digital Technologies, Inc. | Wear leveling in non-volatile memories |
US10452533B2 (en) | 2015-07-14 | 2019-10-22 | Western Digital Technologies, Inc. | Access network for address mapping in non-volatile memories |
US9921969B2 (en) | 2015-07-14 | 2018-03-20 | Western Digital Technologies, Inc. | Generation of random address mapping in non-volatile memories using local and global interleaving |
US10452560B2 (en) | 2015-07-14 | 2019-10-22 | Western Digital Technologies, Inc. | Wear leveling in non-volatile memories |
JP6403162B2 (ja) * | 2015-07-23 | 2018-10-10 | 東芝メモリ株式会社 | メモリシステム |
US10643700B2 (en) | 2015-10-29 | 2020-05-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting write parameters based on a write count |
CN107346211B (zh) * | 2016-05-06 | 2020-03-31 | 合肥兆芯电子有限公司 | 映射表加载方法、存储器控制电路单元与存储器储存装置 |
US10489064B2 (en) * | 2016-10-03 | 2019-11-26 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems, methods, and devices for user configurable wear leveling of non-volatile memory |
US10613790B1 (en) * | 2016-12-30 | 2020-04-07 | EMC IP Holding Company LLC | Mitigating flash wear when performing storage tiering |
EP3612922A1 (en) * | 2017-06-12 | 2020-02-26 | Pure Storage, Inc. | Accessible fast durable storage integrated into a bulk storage device |
KR102545167B1 (ko) * | 2017-11-23 | 2023-06-19 | 삼성전자주식회사 | 키-밸류 스토리지 장치 및 상기 키-밸류 스토리지 장치의 동작 방법 |
US10585795B2 (en) * | 2018-05-31 | 2020-03-10 | Micron Technology, Inc. | Data relocation in memory having two portions of data |
US10713158B2 (en) | 2018-06-28 | 2020-07-14 | Western Digital Technologies, Inc. | Non-volatile storage system with dynamic allocation of applications to memory based on usage monitoring |
JP6545876B2 (ja) * | 2018-08-27 | 2019-07-17 | 東芝メモリ株式会社 | メモリシステム |
US10795576B2 (en) * | 2018-11-01 | 2020-10-06 | Micron Technology, Inc. | Data relocation in memory |
JP6716757B2 (ja) * | 2019-06-19 | 2020-07-01 | キオクシア株式会社 | メモリシステムおよび制御方法 |
US11416161B2 (en) * | 2019-06-28 | 2022-08-16 | Western Digital Technologies, Inc. | Zone formation for zoned namespaces |
US11379031B2 (en) * | 2020-06-30 | 2022-07-05 | Western Digital Technologies, Inc. | Power-endurance modes for data center solid-state drives |
US11782634B2 (en) * | 2020-09-28 | 2023-10-10 | EMC IP Holding Company LLC | Dynamic use of non-volatile ram as memory and storage on a storage system |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6341085B1 (en) * | 1991-11-26 | 2002-01-22 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6400634B1 (en) * | 1997-12-23 | 2002-06-04 | Macronix International Co., Ltd. | Technique for increasing endurance of integrated circuit memory |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63181190A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-26 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 情報記憶方法 |
US6347051B2 (en) * | 1991-11-26 | 2002-02-12 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US5345413A (en) * | 1993-04-01 | 1994-09-06 | Microchip Technology Incorporated | Default fuse condition for memory device after final test |
US5367484A (en) * | 1993-04-01 | 1994-11-22 | Microchip Technology Incorporated | Programmable high endurance block for EEPROM device |
JP3494676B2 (ja) * | 1993-09-06 | 2004-02-09 | 富士フイルムマイクロデバイス株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置とデータ書換/読出方法 |
JPH07211089A (ja) * | 1994-01-11 | 1995-08-11 | Tamura Electric Works Ltd | メモリ書込制御方式 |
JP3507132B2 (ja) * | 1994-06-29 | 2004-03-15 | 株式会社日立製作所 | フラッシュメモリを用いた記憶装置およびその記憶制御方法 |
JPH1063582A (ja) * | 1996-08-26 | 1998-03-06 | Jatco Corp | 車両用制御装置 |
US5793684A (en) * | 1997-07-10 | 1998-08-11 | Microchip Technology Incorporated | Memory device having selectable redundancy for high endurance and reliability and method therefor |
US5937425A (en) * | 1997-10-16 | 1999-08-10 | M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. | Flash file system optimized for page-mode flash technologies |
JP2001051909A (ja) * | 1999-08-05 | 2001-02-23 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 携帯型通信端末機 |
US6950336B2 (en) * | 2000-05-03 | 2005-09-27 | Emosyn America, Inc. | Method and apparatus for emulating an electrically erasable programmable read only memory (EEPROM) using non-volatile floating gate memory cells |
TWI240864B (en) * | 2001-06-13 | 2005-10-01 | Hitachi Ltd | Memory device |
JP4019306B2 (ja) * | 2001-11-08 | 2007-12-12 | 株式会社Ihi | Eepromへの記録方法 |
US20030163633A1 (en) * | 2002-02-27 | 2003-08-28 | Aasheim Jered Donald | System and method for achieving uniform wear levels in a flash memory device |
JP2004071033A (ja) * | 2002-08-05 | 2004-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | フラッシュメモリのデータ記録法 |
US6985992B1 (en) * | 2002-10-28 | 2006-01-10 | Sandisk Corporation | Wear-leveling in non-volatile storage systems |
JP4218406B2 (ja) * | 2003-04-25 | 2009-02-04 | 富士フイルム株式会社 | 情報記録再生方法 |
US7188228B1 (en) * | 2003-10-01 | 2007-03-06 | Sandisk Corporation | Hybrid mapping implementation within a non-volatile memory system |
US7082490B2 (en) * | 2003-10-20 | 2006-07-25 | Atmel Corporation | Method and system for enhancing the endurance of memory cells |
US7631138B2 (en) * | 2003-12-30 | 2009-12-08 | Sandisk Corporation | Adaptive mode switching of flash memory address mapping based on host usage characteristics |
-
2005
- 2005-11-14 US US11/271,880 patent/US20060282610A1/en not_active Abandoned
-
2006
- 2006-06-06 EP EP06756197.7A patent/EP1891529B1/en not_active Not-in-force
- 2006-06-06 KR KR1020077030016A patent/KR101110785B1/ko active IP Right Grant
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6341085B1 (en) * | 1991-11-26 | 2002-01-22 | Hitachi, Ltd. | Storage device employing a flash memory |
US6400634B1 (en) * | 1997-12-23 | 2002-06-04 | Macronix International Co., Ltd. | Technique for increasing endurance of integrated circuit memory |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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