KR101069741B1 - 테스트 핸들러의 캐리어 모듈 - Google Patents

Abstract

본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 그 중앙에 반도체 소자(200)를 수용하기 위한 공간부(210)와, 상기 공간부(210)의 양측에 수용부(220)를 갖는 캐리어 인서트 몸체(250)와; 그 일측에 래치 고정핀(230)을 끼우기 위한 래치 고정홀(232)이 형성되고, 그 타측에 세로방향으로 장공(242)이 형성되며, 그 상부 일측에 래치의 역전을 방지하기 위한 역전 방지턱(260)이 형성되는 적어도 한 개 이상의 래치(300)와; 그 일측에 버튼 고정핀(240)을 끼우기 위한 버튼 고정홀(252)이 형성되고, 그 타측에 탄성부재(310)를 삽설하기 위한 적어도 한 개 이상의 홈(272)이 형성되며, 상기 홈(272)에 설치되며 탄성력을 제공하기 위한 적어도 한 개 이상의 탄성부재(310)를 구비한 버튼(350)으로 이루어진다.

핸들러, 캐리어, 모듈, 래치, 버튼, 방지턱

Description

테스트 핸들러의 캐리어 모듈{Carrier module for test handler}

본 발명은 테스트 핸들러의 캐리어 모듈에 관한 것으로, 더 상세하게는 생산 완료된 반도체 소자의 성능을 테스트 할 때 반도체 소자의 저면에 형성된 리드나 볼 등을 손상시키지 않으면서 반도체 소자를 정확하게 파지하고 해지할 수 있는 테스트 핸들러의 캐리어 모듈에 관한 것이다.

일반적으로 생산 공정에서 생산 완료된 1개 또는 여러 개의 소자를 핸들러의 테스트부로 이송시켜 소자의 리드나 볼을 테스트부에 설치된 컨넥터에 전기적으로 접속시킴으로서 소자의 특성이 테스터에 의해 판별되고, 그 테스트 결과에 따라 소자는 양품과 불량품으로 선별되어 양품의 소자는 출하되고 불량품은 폐기 처분된다.

도 1a는 종래의 테스트 핸들러에 사용되는 캐리어 모듈을 보여주는 사시도이고, 도 1b 내지 도 1d는 종래의 테스트 핸들러에 사용되는 다양한 종류의 소자를 고정시키는 상태를 보여주는 일부 사시도이다.

트레이(11)는 사각형의 프레임(12)에 다수의 상(소정의 틀 모양)(13)이 평행하게 등 간격으로 형성되어 있고, 이 상(13)은 양측 상(13)과 대향하는 프레임(12) 의 시작부(12a,12b)에 각각 다수의 부착편(14)에 따라 각각 캐리어 수납부(15)에 각각 1개의 아이씨 캐리어(16)가 수납되어 있으며, 그 아이씨 캐리어(16)는 각각 2개씩 부착편(14)에 패스너(17)에 의해 고정되어 있다.

각각의 아이씨 캐리어(16)의 외형은 동일 형상으로 일정한 간격을 두고 이루어져 있고, 아이씨 캐리어(16)에 아이씨 소자(18)가 수납된다. 그 아이씨 캐리어(16)의 아이씨 수용부(19)의 형상은 이렇게 수용되는 아이씨 소자(18)의 형상에 대응하여 결정되게 된다. 여기서, 아이씨 수용부(19)는 사각형 요부가 형성되어 있다.

아이씨 캐리어(16)의 양단부에는 각각 부착편(14)의 부착용 구멍(21)과, 안내핀 삽입공(22)이 형성되어 있다.

아이씨 캐리어(16)가 취부된 트레이(11)는 아이씨 캐리어 이송장치(도시하지 않음)의 가운데를 지나가고 그 중간에 아이씨 소자(18)를 아이씨 캐리어(16)에 수용 취부시키고, 다음 소정의 시험온도를 인가하게 된다.

그 후, 그 아이씨 소자에 대응하는 시험이 행해지고, 그 시험 결과에 따라 아이씨 소자(18)를 취출용 트레이에 수용시킨다.

아이씨 캐리어(16)내의 아이씨 소자(18)의 위치에서 이탈되지 않도록 하고, 종래에 있어서 도 1b 및 도 1d에 도시된 바와 같이 하나의 대응된 래치(23)가 아이씨 캐리어(16)의 바디(27)에 설치되어 있다.

종래의 래치(23)는 아이씨 수용부(19)의 저면으로부터 대응된 래치(23)가 상방향 바디(27)와 일체로 돌출되고, 아이씨 캐리어(16)의 바디(27)를 구성하는 수지 재의 탄성을 이용하고, 아이씨 소자(18)를 아이씨 수용부(19)에 수용하며, 또한, 아이씨 수용부(19)로부터 취출되고, 아이씨 소자(18)를 흡착하는 아이씨 흡착패드(24)와 동시에 이동하는 래치 해제기구(25)에 2개의 래치(23)간격을 넓게 설치한 후, 아이씨 소자(18)를 수용하거나 취출한다. 래치 해제기구(25)를 래치(23)로부터 분리하고, 래치(23)는 상기 탄성력에 의해 원상태로 복귀하게 되며, 수용된 아이씨 소자(18)의 상면을 양측으로 고정시킨 상태를 나타낸다.

종래의 다른 실시예인 도 1d에 도시되어 있는 바와 같이, 아이씨 수용부(19) 측벽에 대응하여 설치된 래치(23)의 일단이 일체로 형성되고, 수용된 아이씨 소자(18)의 상면을 양측면에 그 단부가 움직일 수 있도록 대향하여 설치하고, 또한 아이씨 소자(18)의 상면과 대향하는 제어편(26)이 구비되어 있다.

상기 종래의 캐리어 모듈은 다양한 두께와 크기의 소자에 대하여는 각각의 소자에 적합한 별도의 캐리어 모듈이 필요하므로 각 소자에 적합한 캐리어 모듈을 교체하기 위하여 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.

그리고, 소자와 래치간의 접촉시 래치에 의해 소자가 긁힘 또는 파손 등이 유발되어 제품의 신뢰성을 저하시키는 문제점도 있었다.

따라서, 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 이와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 다양한 두께와 크기를 갖는 소자에 적합하도록 구성하여 소자의 크기에 따른 캐리어 모듈의 교체시간을 줄일 수 있는 테스트 핸들러의 캐리어 모듈을 제공하는 점에 있다.

본 발명의 다른 목적은 캐리어 인서트 몸체 및 래치의 구성을 간단하게 구성하여 효율적으로 반도체 소자를 파지/해제 할 수 있는 테스트 핸들러의 캐리어 모듈을 제공하는 점에 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 래치에 역전 방지턱을 형성하여 래치의 역전을 방지하여 래치의 안정된 개방 및 해제가 용이한 테스트 핸들러의 캐리어 모듈을 제공하는 점에 있다.

본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 그 중앙에 반도체 소자를 수용하기 위한 공간부와, 상기 공간부의 양측에 수용부를 갖는 캐리어 인서트 몸체와; 그 일측에 래치 고정핀을 끼우기 위한 래치 고정홀이 형성되고, 그 타측에 세로방향으로 장공이 형성되며, 그 상부 일측에 래치의 역전을 방지하기 위한 역전 방지턱이 형성되는 적어도 한 개 이상의 래치와; 그 일측에 버튼 고정핀을 끼우기 위한 버튼 고정홀이 형성되고, 그 타측에 탄성부재를 삽설하기 위한 적어도 한 개 이상의 홈이 형성되며, 상기 홈에 설치되며 탄성력을 제공하기 위한 적어도 한 개 이상의 탄성부재를 구비한 버튼으로 이루어지는 점에 있다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 다양한 두께와 크기를 갖는 반도체 소자를 용이하게 체결하여 테스트 후 해제할 수 있으므로 전체적인 작업시간이 절약되고 이로 인해 작업효율이 상승되는 이점이 있 다.

또한, 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 래치의 구조와 버튼의 구조를 변경하여 반도체 소자를 안정되게 파지하고 해지할 수 있으므로 반도체 소자의 파손을 줄일 수 있고 아울러 원가절감을 할 수 있는 이점이 있다.

(실시예)

본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈을 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 한다.

먼저, 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 크게 캐리어 인서트 몸체(250)와, 래치(300) 및 버튼(350)으로 구성된다.

캐리어 인서트 몸체(250)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 그 중앙에 반도체 소자(200)를 수용하기 위한 공간부(210)와, 상기 공간부(210)의 양측에 수용부(220)가 형성된다. 여기서, 도 3은 도 2에 도시된 캐리어 모듈의 A-A선 단면도이다.

상기 공간부(210)는 주로 사각 형태의 반도체 소자(200)를 수용하기 위하여 직사각형의 형태로 형성하는 것이 바람직하다. 그리고, 상기 공간부(210)의 양측에는 세로방향으로 직사각형 형태로 이루어진 수용부(220)가 형성되고, 상기 수용부(220)에는 후술하는 래치(300) 및 버튼(350)등이 수용되게 된다.

래치(300)는 도 3, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 그 일측에 래치 고정핀(230)을 끼우기 위한 래치 고정홀(232)이 형성되고, 그 타측에 세로방향으로 장공(242)이 형성되며, 그 상부 일측에 래치의 역전을 방지하기 위한 역전 방지턱(260)이 형성된다. 그리고, 래치(300)의 상부에는 역전 방지턱(260)과 연장되게 평탄면(280)이 더 형성되며, 평탄면(280)은 버튼(350)의 삽입부(330)에 삽설되어 안착되도록 구성되어 있다. 상기 역전 방지턱(260)의 일측에는 가이드부(288)가 형성되고, 역전 방지턱(260)의 타측에는 거의 평면 형태인 평탄면(280)이 형성된다. 그리고, 상기 평탄면(280)과 대향되는 면에는 아치부(284)가 형성되고, 상기 아치부(284)는 래치(300)의 내측으로 들어갈수록 더 움푹하게 형성되어 있다.

상기 역전 방지턱(260)은 래치의 역전을 방지하기 위하여 역전 방지턱(260)의 높이(d1)가 래치 하부의 높이(d2) 보다 더 작게 형성되는 것이 바람직하다. 여기서는 d1은 0.3~0.4mm 이고, d2는 0.55~0.7mm가 바람직하지만, d1은 0.4mm이고 d2는 0.6mm를 적용하였다.

버튼(350)은 도 3, 도 4a 및 도 4b에 도시된 바와 같이, 그 일측에 버튼 고정핀(240)을 끼우기 위한 버튼 고정홀(252)이 형성되고, 그 타측에 탄성부재(310)를 삽설하기 위한 적어도 한 개 이상의 홈(272)이 형성된다. 그리고, 상기 홈(272)에는 버튼(350)의 이동시 탄성력을 제공하기 위하여 적어도 한 개 이상의 탄성부재(310)를 설치하게 된다. 상기 홈(272)과 탄성부재(310)는 사용자의 요구에 따라 도 4a에서와 같이 한 개를 설치할 수도 있고, 도 4b에서와 같이 복수개를 설치할 수도 있다.

이제, 상기와 같이 구성된 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈의 동작관계에 대하여 도 3 내지 도 5를 참조하여 설명하기로 한다.

먼저, 반도체 소자(200)를 래치(300)에 의해 파지한 상태로부터 설명하기로 한다. 반도체 소자(200)가 래치(300)에 의해 파지되면 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 반도체 소자(200)에 대하여 래치(300)가 거의 수평상태를 유지한 상태에서 파지하게 된다. 또한, 반도체 소자(200)가 래치(300)에 의해 파지되면, 래치(300)의 평탄면(280)이 버튼(350)의 삽입부(330)에 밀착되게 삽입되고, 래치(300)의 역전방지턱(260)이 버튼(300)에 의해 적절히 눌려지게 된다. 그리고, 버튼(300)은 버튼(300)의 상부에 설치된 적어도 한 개 이상의 탄성부재(310)에 의해 적절히 탄성력을 받도록 눌려지게 된다.

이와 같은 상태에서 버튼(350)의 하부를 도 5에 도시된 화살표 방향으로 구동원(도시되지 않음)이 누르게 되면, 버튼 고정핀(240)이 래치(300)를 밀면서 래치(300)의 아치부(284)를 따라서 이동하게 된다. 버튼 고정핀(240)이 계속해서 래치(300)를 밀게 되면, 래치(300)의 역전방지턱(260)에 대하여 버튼 고정핀(240)이 버튼(350)의 아치부(284)를 누르는 힘이 점차 증가됨에 따라 래치(300)는 시계방향으로 회전되면서 버튼(350)으로부터 해제된다. 이와 같이 래치(300)는 도 5에 도시된 바와 같이, 반도체 소자(200)를 픽커(도시되지 않음)나 다른 흡착수단에 의해 파지한 상태에서 래치(300)의 가이드부(288)가 수직으로 세워진 상태가 되면 반도체 소자(200)를 해지하게 된다.

한편, 도 5와 같은 상태에서, 다시 래치(300)가 반시계 방향으로 회전하게 되면 버튼 고정핀(240)은 도 3에 도시된 화살표 방향으로 수용부(220)내에서 자유 낙하를 하게 된다. 이때, 래치(300)는 버튼(350)의 삽입부(330)를 따라 회전하다가 버튼(350)이 래치(300)의 평탄면(280)에 안착이 되면 회전을 멈추게 된다. 즉, 버튼(350)이 래치(300)의 역전 방지턱(260)을 넘어서 평탄면(280)에 긴밀하게 안착되면서 래치(300)가 반도체 소자(200)를 다시 파지하게 된다.

본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈은 반도체 소자를 테스트하는 테스트 핸들러 분야에 적용되고, 아울러 반도체 소자나 기타 부품을 파지(그립)하는 반도체 장치분야에 널리 적용가능하다.

도1a 내지 도1d는 종래의 캐리어 모듈을 나타낸 단면도.

도2는 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈의 상면도,

도3은 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈의 래치를 폐쇄한 상태를 나타낸 단면도,

도4a 및 도 4b는 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈의 요부인 래치와, 버튼을 분리하여 나타낸 각각 다른 실시예들의 사시도,

도5는 본 발명의 테스트 핸들러의 캐리어 모듈의 래치를 개방한 상태를 나타낸 단면도.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *

200: 반도체 소자 210: 공간부

220: 수용부 250: 캐리어 인서트 몸체

260: 역전 방지턱 280: 평탄면

300: 래치 310: 탄성부재

350: 버튼

Claims (7)

1. 중앙에 반도체 소자(200)를 수용하기 위한 공간부(210)와, 상기 공간부(210)의 양측에 수용부(220)를 갖는 캐리어 인서트 몸체(250)와;

   일측에 래치 고정핀(230)을 끼우기 위한 래치 고정홀(232)이 형성되고, 타측에 세로방향으로 장공(242)이 형성되며, 상부 일측에 래치의 역전을 방지하기 위한 역전 방지턱(260)이 형성되는 적어도 한 개 이상의 래치(300)와;

   일측에 버튼 고정핀(240)을 끼우기 위한 버튼 고정홀(252)이 형성되고, 타측에 탄성부재(310)를 삽설하기 위한 적어도 한 개 이상의 홈(272)이 형성되며, 상기 홈(272)에 설치되며 탄성력을 제공하기 위한 적어도 한 개 이상의 탄성부재(310)를 구비한 버튼(350)으로 이루어지고,

   상기 래치(300)의 역전 방지턱(260)은 높이(d1)가 래치 하부의 높이(d2) 보다 더 작게 형성되며, 상기 버튼(350)의 버튼 고정핀(240)은 래치(300)를 승강/하강시키도록 래치(300)의 아치부(284)를 따라서 이동가능하며 하강시에는 수용부(220)내에서 자유 낙하되도록 구성되며, 래치(300)는 버튼 고정핀(240)의 이동에 따라 래치(300)를 개방/폐쇄할 수 있게 구성되는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 캐리어 모듈.
2. 삭제
3. 제1항에 있어서, 상기 래치(300)는 상부에 역전 방지턱(260)과 연장되게 평탄면(280)이 더 형성되며, 상기 평탄면(280)은 버튼(350)의 삽입부(330)에 삽설되어 안착되는 것을 특징으로 하는 테스트 핸들러의 캐리어 모듈.
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