KR101058088B1 - Testing apparatus of display module - Google Patents

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KR101058088B1
KR101058088B1 KR1020110017868A KR20110017868A KR101058088B1 KR 101058088 B1 KR101058088 B1 KR 101058088B1 KR 1020110017868 A KR1020110017868 A KR 1020110017868A KR 20110017868 A KR20110017868 A KR 20110017868A KR 101058088 B1 KR101058088 B1 KR 101058088B1
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display module
aging test
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pattern signal
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구현우
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위드시스템 주식회사
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Abstract

PURPOSE: A display module aging test device is provided to mount a plurality of display modules, thereby simultaneously testing several display modules and efficiently using the space of an aging test chamber. CONSTITUTION: A display module aging test device(100) includes module mounting units(110), a communication unit(120), a signal unit(130), a controller(140), and a model interface unit(150). The module mounting units mount display modules. The signal unit generates a pattern signal by an image file or a moving picture file which is received from the communication unit. The controller controls pattern signal generation of the signal unit and output to the display modules by a control command from the communication unit.

Description

디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치{TESTING APPARATUS OF DISPLAY MODULE}Display module aging test device {TESTING APPARATUS OF DISPLAY MODULE}

본 발명은 에이징 테스트(aging test) 장치에 관한 것으로서, 좀 더 구체적으로는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an aging test apparatus, and more particularly, to a display module aging test apparatus.

디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는 채임버(chamber) 내에서 장시간 디스플레이 모듈을 재생하여 다양한 온도 및 습도에 적응하는 지 여부를 테스트한다.The display module aging test apparatus tests whether the display module adapts to various temperatures and humidity by regenerating the display module for a long time in a chamber.

종래의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는 대개 신호기 하나에 하나의 디스플레이 모듈이 연결되도록 구성되며, 이때, 각 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는 각각의 디스플레이 모듈에 인터페이싱되도록 구성된다.Conventional display module aging test apparatus is usually configured such that one display module is connected to one signal, wherein each display module aging test apparatus is configured to interface to each display module.

채임버에는 양산되는 디스플레이 모듈이 에이징 테스트를 위해서 수시로 추가 유입되는데, 다양한 디스플레이 모듈들이 각각의 모델별 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에 장착되어 테스트된다.In the chamber, a mass-produced display module is additionally introduced for an aging test from time to time. Various display modules are mounted on the display module aging test device for each model and tested.

이처럼 종래에는 하나의 디스플레이 모듈이 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에 장착되어야 하므로, 채임버의 공간을 많이 차지하게 된다. 또한, 양산 시 테스트 해야 할 수많은 디스플레이 모듈을 각각의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에 장착해야 하므로 불편할 뿐만 아니라, 채임버 내에서 직접 동작 제어되어야 하므로, 매우 불편하다는 단점이 있다.As such, in the related art, one display module should be mounted on one display module aging test apparatus, thus occupying a lot of space of the chamber. In addition, since a large number of display modules to be tested at the time of mass production must be mounted on each display module aging test apparatus, it is not only inconvenient, but also needs to be controlled directly in the chamber.

본 발명의 목적은 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide a display module aging test apparatus.

상술한 본 발명의 목적에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는, 복수의 디스플레이 모듈을 각각 장착하기 위한 복수의 모듈 장착부와, 에이징 테스트 채임버 외부에 존재하는 사용자 컴퓨터로부터 이미지 파일 또는 동영상 파일을 수신하거나 사용자의 제어 명령을 수신하는 통신부와, 상기 통신부에서 수신된 이미지 파일 또는 동영상 파일로부터 패턴 신호를 생성하여 상기 모듈 장착부에 장착된 디스플레이 모듈로 출력하는 신호부와, 상기 통신부에서 수신된 제어 명령에 따라 상기 신호부가 패턴 신호를 생성하여 상기 디스플레이 모듈로 출력하도록 제어하는 제어부를 포함하도록 구성될 수 있다. 여기에서, 상기 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는 상기 에이징 테스트 채임버의 안팎으로 이동하기 용이하도록 이동 가능한 하나의 PCB(printed circuit board) 상에 구성될 수 있다. 그리고 상기 통신부는 RS485 통신 방식에 따라 상기 제어 명령을 수신하고, 근거리 통신망(local area network, LAN) 방식에 따라 상기 이미지 파일 또는 동영상 파일을 수신하도록 구성될 수 있다. 그리고 상기 복수의 모듈 장착부에 각각 다른 모델의 디스플레이 모듈이 장착될 수 있도록 하기 위한 모델별 인터페이스부를 더 포함하도록 구성될 수 있다. 그리고 상기 모델별 인터페이스부는 상기 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치로부터 착탈 가능하도록 구성되는 것이 바람직하다. 그리고 상기 신호부는 통상의 이미지 패턴 신호 또는 RGB 테스트를 위한 RGB 패턴 신호를 생성하여 출력하도록 구성될 수 있다. 그리고 상기 신호부는 통상의 이미지 패턴 신호 또는 RGB 테스트를 위한 RGB 패턴 신호를 생성하여 출력하도록 구성되는 것이 바람직하다. 그리고 상기 신호부는 통상의 이미지 패턴 신호 또는 RGB 테스트를 위한 RGB 패턴 신호를 생성하여 출력하도록 구성될 수 있다. The display module aging test apparatus according to the above object of the present invention includes a plurality of module mounting portions for mounting a plurality of display modules, and an image file or a video file from a user computer existing outside the aging test chamber, or A communication unit for receiving a control command of the communication unit, a signal unit for generating a pattern signal from an image file or a video file received from the communication unit and outputting the pattern signal to a display module mounted in the module mounting unit, and according to the control command received from the communication unit. The signal unit may be configured to include a controller for controlling to generate a pattern signal and output the pattern signal to the display module. Here, the display module aging test apparatus may be configured on a printed circuit board (PCB) which is movable to facilitate moving in and out of the aging test chamber. The communication unit may be configured to receive the control command according to an RS485 communication method and to receive the image file or a video file according to a local area network (LAN) method. The display module may further include a model-specific interface unit for mounting a display module of a different model to each of the plurality of module mounting units. The interface unit for each model may be configured to be detachable from the display module aging test apparatus. The signal unit may be configured to generate and output a normal image pattern signal or an RGB pattern signal for RGB test. The signal unit may be configured to generate and output an ordinary image pattern signal or an RGB pattern signal for RGB testing. The signal unit may be configured to generate and output a normal image pattern signal or an RGB pattern signal for RGB test.

상기와 같은 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에 따르면, 상술한 본 발명의 목적에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치는, 하나의 PCB 기판 상에 구현됨으로써, 에이징 테스트 채임버 내외로 이동이 용이하게 하는 효과가 있다. 또한, 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에서 복수의 디스플레이 모듈이 장착되도록 구성됨으로써, 동시에 여러 대의 디스플레이 모듈을 테스트하고 에이징 테스트 채임버의 공간을 짜임새 있게 활용할 수 있는 효과가 있다. 한편, 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치에서 여러 모델이 동시에 장착될 수 있도록 하는 인터페이스 구성에 의해, 여러 모델의 디스플레이 모듈을 동시에 테스트할 수 있는 효과가 있다.According to the display module aging test apparatus as described above, the display module aging test apparatus according to the above object of the present invention is implemented on one PCB substrate, thereby making it easy to move into and out of the aging test chamber. In addition, by configuring a plurality of display modules in one display module aging test apparatus, it is possible to test a plurality of display modules at the same time and utilize the space of the aging test chamber in a textured manner. On the other hand, the interface configuration that allows multiple models to be mounted at the same time in one display module aging test device, there is an effect that can test several models of the display module at the same time.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치의 블록 구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치의 실물 예시도이다.
1 is a block diagram of a display module aging test apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an exemplary diagram of a display module aging test apparatus according to an exemplary embodiment.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, it should be understood to include all modifications, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing.

제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.The terms first, second, A, B, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as the second component, and similarly, the second component may also be referred to as the first component. And / or < / RTI > includes any combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.When a component is said to be "connected" or "connected" to another component, it may be directly connected to or connected to that other component, but it may be understood that another component may exist in between. Should be. On the other hand, when a component is said to be "directly connected" or "directly connected" to another component, it should be understood that there is no other component in between.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular example embodiments only and is not intended to be limiting of the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, the terms "comprise" or "have" are intended to indicate that there is a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification, and one or more other features. It is to be understood that the present invention does not exclude the possibility of the presence or the addition of numbers, steps, operations, components, components, or a combination thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. Terms such as those defined in the commonly used dictionaries should be construed as having meanings consistent with the meanings in the context of the related art and shall not be construed in ideal or excessively formal meanings unless expressly defined in this application. Do not.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치의 블록 구성도이다.1 is a block diagram of a display module aging test apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)(이하, '디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치')는 모듈 장착부(110), 통신부(120), 신호부(130), 제어부(140) 및 모델별 인터페이스부(150)를 포함하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 1, the display module aging test apparatus 100 (hereinafter, the “display module aging test apparatus”) according to an embodiment of the present invention includes a module mounting unit 110, a communication unit 120, and a signal unit 130. The controller 140 may include a controller 140 and a model-specific interface unit 150.

디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)는 복수의 디스플레이 모듈이 장착될 수 있는 이동 가능한 하나의 PCB 기판 상에 구현됨으로써, 에이징 테스트 채임버 내외로 이동이 용이할 뿐만 아니라 에이징 테스트 채임버의 공간 활용률이 높아진다. 또한, 여러 모델의 디스플레이 모듈도 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)에서 테스트 가능하도록 구성된다. 이하, 세부적인 구성에 대하여 설명한다.Since the display module aging test apparatus 100 is implemented on a movable PCB substrate on which a plurality of display modules can be mounted, the display module aging test apparatus 100 can be easily moved in and out of the aging test chamber and the space utilization rate of the aging test chamber is increased. . In addition, the display modules of various models are also configured to be testable in one display module aging test apparatus 100. Hereinafter, the detailed structure is demonstrated.

모듈 장착부(110)는 복수의 디스플레이 모듈(200)을 각각 장착하기 위한 구성으로서, 복수 개가 구비된다. 모듈 장착부(110)는 디스플레이 모듈(200)이 각각 장착되도록 하는 일종의 지그로 구성될 수 있다. 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)에 하나의 디스플레이 모듈만 장착 가능하도록 구성되었으나, 본 발명에서는 복수 개, 예를 들면 10 개까지 동시에 장착 가능하도록 구성될 수 있다. 이로 인해, 에이징 테스트 채임버 내의 공간 활용률이 높아지며, 사용자의 편의성도 증대된다.The module mounting unit 110 is a configuration for mounting each of the plurality of display modules 200, and a plurality of module mounting units 110 are provided. The module mounting unit 110 may be configured as a kind of jig for mounting the display module 200, respectively. Although only one display module is configured to be mounted on the display module aging test apparatus 100, in the present invention, a plurality of display modules may be mounted at the same time. This increases the space utilization in the aging test chamber and increases the user's convenience.

통신부(120)는 에이징 테스트 채임버 외부에 존재하는 사용자 컴퓨터(미도시)로부터 이미지 파일 또는 동영상 파일을 수신하거나 사용자의 제어 명령을 수신하도록 구성될 수 있다. 여기에서, 통신부(120)는 RS485 통신 방식에 따라 제어 명령을 수신하고, 근거리 통신망(local area network, LAN) 방식에 따라 이미지 파일 또는 동영상 파일을 수신하도록 구성될 수 있다. 통신부(120)는 사용자 컴퓨터(미도시)를 이용하여 사용자가 에이징 테스트 채임버 밖에서도 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)를 원격 제어할 수 있도록 하기 위한 구성이다. RS485 통신 방식은 무선 직렬 통신 방식으로서, 이미지나 동영상을 다음 이미지나 동영상으로 변경하여 출력하는 등의 간단한 사용자 제어 명령을 전송하는 데 이용하기 위한 통신 방식이다. 기존에는 대개의 경우 에이징 테스트 채임버 내에서 조작이 이루어졌으나, 본 발명에서는 에이징 테스트 채임버 밖에서도 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)의 온/오프는 물론 거의 모든 동작을 제어할 수 있도록 구성될 수 있다.The communicator 120 may be configured to receive an image file or a video file from a user computer (not shown) existing outside the aging test chamber or to receive a user's control command. Here, the communication unit 120 may be configured to receive a control command according to the RS485 communication method, and to receive an image file or a video file according to a local area network (LAN) method. The communication unit 120 is a component for allowing a user to remotely control the display module aging test apparatus 100 using an user computer (not shown) outside the aging test chamber. The RS485 communication method is a wireless serial communication method, which is used to transmit a simple user control command such as changing an image or a video to the next image or a video and outputting the same. Conventionally, in most cases, the operation is made in the aging test chamber, but in the present invention, the display module may be configured to control almost all operations as well as on / off of the aging test apparatus 100 outside the aging test chamber. have.

신호부(130)는 통신부(120)에서 수신된 이미지 파일 또는 동영상 파일로부터 패턴 신호를 생성하여 모듈 장착부(110)에 장착된 디스플레이 모듈(200)로 출력하도록 구성될 수 있다. 신호부(130)는 하나이며, 병렬로 연결된 복수의 모듈 장착부(110)를 통해 동일한 패턴 신호를 각 디스플레이 모듈(200)로 출력한다. 신호부(130)는 보통의 이미지나 동영상을 위한 패턴 신호뿐만 아니라 RGB 테스트를 위한 패턴 신호도 출력한다.The signal unit 130 may be configured to generate a pattern signal from an image file or a video file received by the communication unit 120 and output the pattern signal to the display module 200 mounted on the module mounting unit 110. The signal unit 130 is one, and outputs the same pattern signal to each display module 200 through the plurality of module mounting units 110 connected in parallel. The signal unit 130 outputs a pattern signal for RGB test as well as a pattern signal for a normal image or video.

제어부(140)는 통신부(120)에서 수신된 제어 명령에 따라 신호부(130)가 패턴 신호를 생성하여 디스플레이 모듈(200)로 출력하도록 제어하는 것으로 구성될 수 있다.The controller 140 may be configured to control the signal unit 130 to generate a pattern signal and output the pattern signal to the display module 200 according to the control command received from the communication unit 120.

모델별 인터페이스부(150)는 복수의 모듈 장착부(110)에 각각 다른 모델의 디스플레이 모듈(200)이 장착될 수 있도록 하기 위한 구성이다. 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)에는 다양한 모델의 디스플레이 모듈(200)이 장착될 수 있도록 구성된다. 각 디스플레이 모듈(200)은 다양한 개수의 핀 등과 같이 서로 인터페이스 부분이 다르게 구성되어 있으므로, 이러한 다양한 모델의 디스플레이 모듈(200)이 장착될 수 있도록 하기 위해서는 별도의 모델별 인터페이스부(150)가 필요하다. 이러한 모델별 인터페이스부(150)는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)로부터 착탈 가능하도록 구성되는 것이 바람직하다.The interface unit 150 for each model is configured to allow the display modules 200 of different models to be mounted on the plurality of module mounting units 110, respectively. One display module aging test apparatus 100 is configured to be equipped with a display module 200 of various models. Since each display module 200 is configured with different interface parts such as various numbers of pins, a separate model-specific interface unit 150 is required to be able to mount the display module 200 of various models. . The model-specific interface unit 150 may be configured to be detachable from the display module aging test apparatus 100.

한편, 이러한 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)는 에이징 테스트 채임버의 안팎으로 이동하기 용이하도록 이동 가능한 하나의 PCB(printed circuit board) 상에 구성되는 것이 바람직하다. 이에, 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)에 다양한 디스플레이 모듈(200)을 장착하여 수시로 에이징 테스트 채임버에 넣을 수 있으므로 편의성이 보장된다.On the other hand, the display module aging test apparatus 100 is preferably configured on a single printed circuit board (PCB) that is movable to move easily in and out of the aging test chamber. Accordingly, the display module 200 may be mounted on the display module aging test apparatus 100 so that the display module 200 may be put into the aging test chamber at any time, thereby ensuring convenience.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치의 실물 예시도이다.FIG. 2 is an exemplary diagram of a display module aging test apparatus according to an exemplary embodiment.

도 2를 참조하면, 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100) 본체와 이에 착탈 가능하도록 구성되는 모델별 인터페이스부(150)가 도시되어 있다. 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)는 하나의 PCB 상에 구현되고 손쉽게 들고 이동 가능하도록 구성된다. 또한, 하나의 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치(100)에는 10 개의 모듈 장착부(110)가 구성되어 있음을 알 수 있다. 그리고 모델별 인터페이스부(150)는 본체로부터 분리 장착 가능하도록 구성되며, 통상의 이미지 또는 동영상에 대한 패턴 신호를 위한 모델별 인터페이스부(150)와 RGB 이미지에 대한 패턴 신호를 위한 모델별 인터페이스부(150)가 각각 구비되도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 2, a display module aging test apparatus 100 main body and a model-specific interface unit 150 configured to be detachable thereto are illustrated. The display module aging test apparatus 100 is implemented on one PCB and is configured to be easily lifted and moved. In addition, it can be seen that one display module aging test apparatus 100 includes ten module mounting units 110. In addition, the model-specific interface unit 150 is configured to be detachably mounted from the main body, the model-specific interface unit 150 for pattern signals for RGB images and the model-specific interface unit for pattern signals for RGB images ( 150 may be configured to be provided respectively.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although described with reference to the embodiments above, those skilled in the art will understand that the present invention can be variously modified and changed without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. Could be.

Claims (8)

복수의 디스플레이 모듈을 각각 장착하기 위한 복수의 모듈 장착부;
에이징 테스트 채임버 외부에 존재하는 사용자 컴퓨터로부터 근거리 통신망(local area network, LAN) 방식에 따라 이미지 파일 또는 동영상 파일을 수신하거나 RS485 통신 방식에 따라 사용자의 제어 명령을 수신하는 통신부;
상기 통신부에서 수신된 이미지 파일 또는 동영상 파일로부터 패턴 신호를 생성하여 상기 모듈 장착부에 장착된 디스플레이 모듈로 출력하는 신호부 및
상기 통신부에서 수신된 제어 명령에 따라 상기 신호부가 패턴 신호를 생성하여 상기 디스플레이 모듈로 출력하도록 제어하는 제어부를 포함하고,
상기 에이징 테스트 채임버의 안팎으로 이동하기 용이하도록 이동 가능한 하나의 PCB(printed circuit board) 상에 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치.
A plurality of module mounting units for mounting the plurality of display modules, respectively;
A communication unit which receives an image file or a video file from a user computer outside the aging test chamber according to a local area network (LAN) method or receives a user's control command according to an RS485 communication method;
A signal unit for generating a pattern signal from an image file or a video file received by the communication unit and outputting the pattern signal to a display module mounted in the module mounting unit;
And a controller configured to control the signal unit to generate a pattern signal and output the pattern signal according to the control command received from the communication unit.
And a printed circuit board (PCB) which is movable to move in and out of the aging test chamber.
삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 복수의 모듈 장착부에 각각 다른 모델의 디스플레이 모듈이 장착될 수 있도록 하기 위한 모델별 인터페이스부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치.
The method of claim 1,
The display module aging test apparatus, characterized in that further comprising a model-specific interface for allowing the display module of the different model to be mounted on the plurality of module mounting portion, respectively.
제4항에 있어서, 상기 모델별 인터페이스부는,
상기 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치로부터 착탈 가능하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치.
The method of claim 4, wherein the interface unit for each model,
And a display module aging test apparatus detachable from the display module aging test apparatus.
제5항에 있어서, 상기 신호부는,
통상의 이미지 패턴 신호 또는 RGB 테스트를 위한 RGB 패턴 신호를 생성하여 출력하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치.
The method of claim 5, wherein the signal unit,
Display module aging test apparatus, characterized in that for generating and outputting a normal image pattern signal or RGB pattern signal for RGB testing.
삭제delete 삭제delete
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013085142A1 (en) * 2011-12-09 2013-06-13 주식회사 지엔티시스템즈 Display module test apparatus having jig mounted with mipi bridge module
KR101898884B1 (en) * 2018-06-15 2018-09-14 정성길 Testing apparatus of a display module
CN110187199A (en) * 2019-04-16 2019-08-30 昆山国显光电有限公司 The ageing processing device and ageing method of display panel

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100518472B1 (en) 1996-12-19 2005-12-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Driving signal generator of matrix display device
KR100829206B1 (en) * 2006-12-13 2008-05-13 세메스 주식회사 Apparatus system for manufacturing flat panel display and the method of the same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100518472B1 (en) 1996-12-19 2005-12-08 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 Driving signal generator of matrix display device
KR100829206B1 (en) * 2006-12-13 2008-05-13 세메스 주식회사 Apparatus system for manufacturing flat panel display and the method of the same

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013085142A1 (en) * 2011-12-09 2013-06-13 주식회사 지엔티시스템즈 Display module test apparatus having jig mounted with mipi bridge module
KR101898884B1 (en) * 2018-06-15 2018-09-14 정성길 Testing apparatus of a display module
CN110187199A (en) * 2019-04-16 2019-08-30 昆山国显光电有限公司 The ageing processing device and ageing method of display panel
CN110187199B (en) * 2019-04-16 2022-03-25 昆山国显光电有限公司 Aging treatment equipment and aging treatment method for display panel

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