KR101046481B1

KR101046481B1 - 신호 검출 장치

Info

Publication number: KR101046481B1
Application number: KR1020090023640A
Authority: KR
Inventors: 최영완; 김두근; 정인일
Original assignee: 서울대학교산학협력단; 중앙대학교 산학협력단
Priority date: 2009-03-19
Filing date: 2009-03-19
Publication date: 2011-07-04
Also published as: KR20100104919A

Abstract

본 발명의 실시예에 따른 신호 검출 장치는 광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부, 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부 및 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함한다. 장치의 전체적인 크기를 줄이고 노이즈를 감소시킬 수 있다.

광선, 검출기, 증폭기.

Description

신호 검출 장치{Device of Detecting Signal}

본 발명은 고에너지 광선의 검출에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 광선의 입사에 따른 신호를 검출하고 처리하는 장치에 관련된다.

고에너지 광선 검출 기술은 각종 물리적 현상의 연구나 질병 진단용 의료 영상 기술 또는 핵 시설 감시 및 안전을 위한 기술에 다양하게 응용된다.

도 1은 종래 기술에 따른 고에너지 광선 검출에 사용되는 신호 검출 장치를 나타낸다. 도 1을 참조하면 기존의 신호 검출 장치는 신호 검출부(100)와 신호 처리 회로가 내장된 신호 처리용 칩(120)이 다른 기판(110)에 따로 떨어진 채로 연결선(130)에 의해 연결되어 있는 구조이다. 신호 검출부(100)는 입사된 광선으로부터 전기적 신호를 발생시키고, 신호 처리용 칩(120)은 전기적 신호를 다른 형태의 신호로 변환하여 출력한다.

따라서 신호 검출부(100)와 신호 처리용 칩(120)이 서로 떨어져 있을수록 노이즈가 증가하게 된다. 따라서 신호 처리에 어려움이 생기고, 증폭 시 노이즈가 함께 증폭되는 등의 문제가 생긴다. 그리고 광선의 입사에 따른 신호의 발생 위치를 정확하게 측정하기 어려운 문제도 있다.

또한, 기존의 검출 장치는 신호 검출부(100)가 수십 채널 이상으로 구성되어있고 이에 따른 많은 수의 검출 회로가 별도로 필요하기 때문에 검출 시스템의 크기가 매우 크고 다채널의 연결에 따라 잡음이 더해져 성능이 열화 되었다.

집적된 신호 검출 회로와 검출기를 일체화 한 신호 검출 장치를 제공함으로써, 신호 검출 장치가 포함되는 고에너지 광선 검출을 위한 시스템의 크기를 최소화하고자 한다.

또한 광선이 입사된 후 일정 형태의 신호로 처리 및 증폭되기까지의 경로를 짧게 하여 신호의 출력 과정에서 발생하는 잡음을 최소화할 수 있는 신호 검출 장치를 제공하고자 한다.

본 발명의 일 양태에 따른 신호 검출 장치는 광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부, 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부 및 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함한다.

본 발명의 실시예에 따르면 신호 발생 후 처리 및 출력까지의 연결 경로를 단축함으로써 신호의 정확도를 높이고 노이즈를 줄일 수 있다. 또한 검출기와 신호 처리 회로를 동일 기판 상에 일체화하여 집적시킴으로써 신호 검출 장치가 사용되 는 시스템의 크기를 줄일 수 있다.

이하 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하도록 한다. 도면상에서 도시되는 본 발명의 실시예에 따른 신호 검출 장치와 그 구성 유닛들은 설명과 이해의 편의를 위해, 실제보다 다소 과장되거나 단순화되어 도시될 수 있다.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검출 장치의 블록 구성도이다.

본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검출 장치는 신호 입력부(210), 신호 처리부(220) 및 신호 출력부를 포함한다.

신호 입력부(210)는 광선이 입사되면 이에 따른 전기적 신호를 발생시켜 신호 처리부(220)로 출력한다. 여기서 광선은 고에너지 광선으로서, 감마선(Gamma-ray) 또는 엑스선(X-ray)일 수 있다. 전류 형태의 신호의 발생 형태나 입력 형태에는 다양한 방법이 있을 수 있는데, 예컨대 고에너지 광선의 입사에 의해 컴프턴 이펙트(Compton effect)가 발생되고, 이에 따라 전류가 발생될 수 있다. 즉, 고에너지 광선의 입사와 컴프턴 이펙트에 의해 전류가 발생되면, 이 전류가 입력 신호로 검출되고, 입력 신호는 이후 신호 처리부(220)로 전달된다.

신호 입력부(210)는 이후 설명할 복수의 신호 입력판을 포함할 수 있다. 그리고 신호 입력판의 형태나 배열 형식에 따라 본 발명의 실시예가 달라질 수 있다. 즉 신호 입력부(210)는 광선을 입사받으면 이에 따라 발생하는 전류를 이용하여, 전류 형태의 입력 신호를 생성할 수 있다.

신호 입력부(210)는 전술한 바와 같이 복수의 신호 입력판을 포함하는데, 입력 신호가 생성된 위치는 복수의 신호 입력판 중 어느 신호 입력판이 광선이 입사된 지점 또는 전류가 발생된 지점에 가장 가까이 있었는지를 이용하여 추출될 수 있다.

신호 처리부(220)는 광선이 입사된 지점, 즉 전류 또는 입력 신호가 생성된 지점에 상응하는 위치 정보를 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 생성할 수 있다. 신호 처리부(220)는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는데, 신호 처리 회로는 각각의 상기 신호 입력판으로부터 입력받은 입력 신호를 변환하여 전압 형태의 처리 신호를 생성한다. 즉 신호 처리부(220)는 신호 입력부(210)가 입력한 전류 형태의 입력 신호를 전압 형태로 변환한다.

하나의 신호 입력판 또는 한 쌍의 신호 입력판에 하나의 신호 처리 회로가 대응되도록 마련될 수 있다. 여기서 하나의 신호 검출을 위해 예컨대 행방향, 열방향의 신호 입력판이 각각 하나씩 필요한 경우, 한 쌍의 신호 입력판에 하나의 신호 처리 회로가 대응된다.

그리고 신호 출력부(230)는 복수의 전극을 포함하며, 전극을 통해 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력할 수 있다.

여기서 신호 처리부(220)는 증폭기를 더 포함할 수 있다. 증폭기를 포함하는 경우, 신호 입력부(210)에서 신호 처리부까지 연결되어야 하는 거리가 길수록 노이즈가 섞이게 될 가능성이 높아지고, 더불어 증폭기에 의하여 입력 신호와 노이즈가 함께 증폭된다. 이에 따라 원래의 신호를 이용하기가 더욱 어려워진다. 그리고 신 호 처리부에서 신호 출력부까지의 거리가 먼 경우에도 연결 과정에서 노이즈로 인한 간섭이 심화되기가 쉬운 것은 마찬가지이다.

따라서 본 발명의 실시예에서는 신호 입력부(210), 신호 처리부(220) 및 신호 출력부(230)가 동일한 기판에 실장되는 경우를 예로 들어 설명하도록 한다. 특히 신호 출력부(230)의 전극들은 신호 처리부(220) 또는 증폭기에 직접 접촉됨으로써 상호 연결될 수 있다.

신호 입력부(210), 신호 처리부(220), 신호 출력부(230)가 일체화 되어 동일한 기판에 집적됨으로써 장치 전체의 부피가 줄어들 수 있고, 신호가 전달되는 경로를 단축시켜 노이즈도 줄어들게 된다.

신호 출력부(230)는 복수의 전극을 포함하는데, 전극에 관하여서는 후술하도록 한다. 신호 입력부(210)를 통해 입력된 신호는 신호 처리부(220)를 거쳐 전극을 통해 신호 검출 장치의 외부로 전달된다. 각각의 전극 또한, 하나의 신호 입력판마다 대응되게 마련되어 각 신호 입력판에 입사되어 처리된 신호들은 각각의 전극에 의해 따로 출력될 수 있다. 이러한 경우, 결과적으로 하나의 신호 입력판에 대하여 신호 처리 회로와 전극이 각각 하나씩 대응 및 연결된다.

이하 도 3 및 도 4 내지 도 5를 참조하여 일 실시예에 따른 신호 검출 장치를 설명하고, 도 6 및 도 7을 참조하여 다른 실시예에 따른 신호 검출 장치를 설명하도록 한다. 두 가지 실시예는 신호 입력부(210)의 형태와 신호 출력부(230)의 위치 및 연결 방식에 따라 차이점을 가지게 된다.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검출 장치의 신호 입력부의 일 예를 나타낸 도면이다.

도 3에 도시된 실시예에 따르면 막대형의 신호 입력판(310, 320)들이 2개의 층에 각각 평행하게 배열됨으로써 2차원적인 신호 입력부가 형성된다. 신호 입력판(310, 320)이 놓여진 길이 방향과 배열 방향에 따라 서로 다른 2개의 층으로 이루어진다.

여기서는 신호 입력부의 제1층에는 길이 방향이 열 방향으로 놓여진 신호 입력판(310)이 행방향으로 배열되며, 제2층에는 길이 방향이 행 방향으로 놓여진 신호 입력판(320)이 열방향으로 배열된다.

이 경우, 광선이 신호 검출 장치에 입사되면 P 지점(300)에서 소정의 이벤트가 일어나고, 이에 따라 입력 신호가 발생된다. 여기서 소정의 이벤트는 컴프턴 이펙트로 예시될 수 있다. 그러면 P 지점(300)에서 가장 가까운 신호 입력판들(310, 320)이 광선의 입사에 따른 입력 신호를 검출한다. P 지점(300)에 상응하는 신호 입력판은 제1층의 m번째 신호 입력판(310)과, 제2층의 n번째 신호 입력판(310)이다. 그러면 이들 신호 입력판(310, 320)들의 식별 정보 등에 의하여 광선이 입사된 지점의 위치 정보는 (m,n)의 형태로 생성될 수 있다.

제1층의 m번째 신호 입력판(310)에서 생성된 신호와 제2층의 n번째 신호 입력판(320)에서 생성된 신호는 서로 합쳐진 후 신호 처리부에 의해 처리되고 증폭될 수도 있으나, 각각의 경로를 통해 처리 및 증폭된 후 합쳐져서 출력되고, 두 신호가 합쳐짐에 따라 광선의 입사 위치에 대한 하나의 위치 정보가 생성될 수 있다.

도 4는 도 3에 도시된 신호 입력부가 포함된 신호 검출 장치의 일면을, 도 5는 다른 일면을 도시한 도면이다.

도 4 및 도 5에는 복수의 신호 입력판(310, 320)으로 형성된 신호 입력부 외에도 신호 처리부 및 신호 출력부가 포함된 신호 검출 장치가 도시되어 있다. 여기서 신호 처리부는 복수의 신호 처리 회로(410, 510)로, 신호 출력부는 복수의 전극(420, 520)으로 도시되어 있다. 또한 복수의 신호 입력판(310, 320), 신호 처리 회로(410, 510), 전극(420, 520)들은 하나의 기판(400)에 형성되어있다. 도 3의 제1층의 신호 입력판 및 이에 상응한 신호 처리 회로들과 전극들이 도 4에 도시되어 있고, 도 3의 제2층의 신호 입력판 및 이에 상응한 신호 처리 회로들과 전극들은 도 5에 도시되어 있다. 따라서 여기에서는 각각의 신호 입력판들이 하나의 신호 처리 회로 및 하나의 전극과 대응되는 경우가 예시된다.

그러나 다른 실시예에서는 하나의 광선이 입사되어 하나의 신호가 검출되는 경우, 그로 인한 처리신호는 신호 입력판이 복수개일지라도 하나의 전극을 통해 출력될 수 있다.

여기서 설명과 이해의 편의를 위해 신호 처리 회로와 전극의 형태를 단순화하여 드러나게 도시하였으나, 실제로 신호 처리 회로는 기판의 위로 드러나지 않을 수 있으며, 신호 처리 회로와 기판의 형태는 도시된 것과는 다를 수 있다.

신호 입력판(310, 320)으로 광선이 입사됨으로써 검출된 입력 신호는 그 신호 입력판에 상응하는 신호 처리 회로(410, 420)를 거치면서 신호 입력판 각각의 식별 정보로부터 생성된 광선이 입사된 지점의 위치 정보와 함께 처리되어 각각의 전극(510, 520)을 통해 출력될 수 있다. 여기서 광선이 입사된 지점은 도 3에서 도시된 P 지점(도 3의 300 참조)인 경우, 광선이 입사된 지점 또는 입력 신호가 검출되는 지점의 위치 정보는 (m,n)이 될 수 있다.

전류 형태의 입력 신호가 검출되면 입력 신호는 신호 처리부를 거치면서 전압 형태의 처리 신호로 변환되고 그 위치 정보 또한 산출된다. 처리 신호 및 위치 정보는 앞서 설명한 바와 같이, 전극(510, 520)은 신호 입력판(310, 320) 및 신호 처리 회로(410. 420)와 하나씩 대응될 수 있다. 도 4를 참조하여 설명하는 실시예와 같이 복수의 신호 입력판(310, 320)을 통해 하나의 신호를 검출하는 경우를 설명하면 다음과 같다. 복수의 신호 입력판(310, 320)에 서로 다른 신호 처리 회로(410, 420)가 각각 연결되고, 또한 신호 처리 회로에는 서로 다른 전극(510, 520)이 연결되어 신호를 각각 출력시킬 수 있다. 또는 다른 실시예에서는 복수의 신호 입력판에 상응하는 신호 처리 회로 및/또는 전극이 각각 하나씩일 수도 있다.

그리고 신호 처리부는 입력 신호 또는 처리 신호를 증폭시킬 수 있다. 하나의 신호 입력판을 통해 검출 또는 입력받은 신호는 그 신호 입력판에 상응하는 증폭기에 의해 증폭된다. 즉 본 발명의 실시예에 따른 신호 검출 장치는 ‘신호 검출 -> 신호 증폭 -> 신호 변환’의 순서로 신호를 처리하거나, ‘신호 검출 -> 신호 변환 -> 신호 증폭’의 순서로 신호를 처리할 수 있다.

도 4 및 도 5에서 설명하는 것과 같이 하나의 신호 검출을 위해 두 개의 신호 입력판(310, 320)을 사용하는 경우, 제1층의 신호 입력판(310)을 통해 검출 또 는 입력된 입력 신호는 이에 상응하는 신호 처리 회로(410)를 거쳐 전극(510)을 통해 출력되고, 제2층의 신호 입력판(320)을 통해 검출 또는 입력된 입력 신호는 이에 상응하는 신호 처리 회로(420)를 거쳐 전극(520)을 통해 각각 출력될 수 있다. 또는 처리된 신호는 하나의 전극(510 또는 520)을 통해 출력될 수도 있다.

두 신호 입력판(310, 320)에 의해 검출되고, 위치 정보가 산출된 처리 신호는 하나의 신호 처리 회로(410 또는 420) 또는 두 신호 입력판(310, 320)에 상응하는 각각의 신호 처리 회로(410, 420)를 거쳐 전극을 통해 출력된다.

도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 입력부를 나타낸 도면이다.

도 6 및 도 7에 도시된 실시예에 따른 신호 입력부에는 신호 입력판(600)이 격자 형태로 배열되어 있다. 도 6은 신호 검출 장치의 정면을 도시하되 신호 입력부 및 신호 처리부에 연결되는 신호 출력부가 보이도록 가상으로 층을 나누에 도시한 도면이다. 따라서 도 6을 참조하면 신호 출력부에 포함된 복수의 전극(620)들이 신호 입력판(600) 및 신호 처리 회로(610)와 분리되어 있는 것으로 보여지나, 실제로는 신호 입력판(600)과 신호 처리 회로(610) 및 전극(620)은 하나의 기판에 실장되거나 서로 결합 또는 전기적으로 연결되어 있다.

또한 도 7은 신호 검출 장치의 단면이 나타나게 도시한 입체 도면이다. 신호 입력판(600)과 신호 처리 회로(610)의 위치나 배열, 전극(620)의 연결 상태를 알아보기 쉽게 표현하기 위해 도 7을 참조하여 설명하도록 한다.

도 6과 도 7 역시 설명과 이해의 편의를 위해 본 발명의 실시예에 따른 신호 검출 장치와 그 구성 유닛들을 실제보다 다소 과장하거나 단순화하여 도시할 수 있으며, 도면에 표현된 형태는 실제 구현된 신호 검출 장치의 이미지와는 다를 수 있다.

신호 입력부의 신호 입력판들은 기판(700)에 격자 형태로 배열될 수 있다. 이러한 경우 도 3 내지 도 5에 도시된 실시예에 따른 신호 입력부와는 달리 하나의 층으로 된 신호 입력판만으로도 광선이 입사된 위치를 파악할 수 있다.

신호 입력판들은 각각 서로 다른 식별 정보를 가지게 된다. 식별 정보는 앞서 설명한 바와 같이, 광선이 입사된 위치 또는 입력 신호가 검출된 위치를 산출하기 위해 사용된다. 가로 세로 각각 k개, 즉 전체 k*k개의 신호 입력판이 마련되어 있는 경우를 가정할 때, 식별 정보 또는 위치 정보를 좌표의 형태로 나타낸다면 식별 정보 또는 위치 정보는 (1,1), (1,2), ... ,(m,n), ... , (k,k)로 예시될 수 있다.

광선은 신호 입력부의 신호 입력판(600)들 중 어느 하나의 신호 입력판(600)에 입사된다. 즉 광선이 입사된 지점에 해당되는 신호 입력판(600)에서 광선의 입사에 따른 입력 신호가 검출된다.

신호 입력판(600)들은 해당 신호 입력판에 상응하는 각각의 신호 처리 회로(610)와 연결된다. 도 6이나 도 7에서는 신호 입력판(600)과 신호 처리 회로(610)가 접촉되어 있는 것으로 도시되어 있으나, 신호 입력판(600)과 신호 처리 회로(600)가 하나의 기판 상에서 또는 가까운 위치에서 전기적으로 연결되는 한 반드시 접촉되어야 할 필요는 없다. 이는 신호 입력부와 신호 처리부가 멀리 연결됨으로 인해 노이즈가 커지는 것을 방지하기 위함임은 이미 설명한 바와 같다.

해당 신호 입력판(600)에 상응하는 신호 처리 회로(610)가 신호 입력판(600)에서 검출된 입력 신호를 전달받아 처리한다. 여기서의 신호 처리는, 신호 입력판(600)들의 식별 정보를 이용한 위치 정보의 산출 및/또는 전류 형태의 신호를 전압 형태로 변환하는 것 등이 포함될 수 있다. 그리고 신호 처리부는 신호 처리 회로(610)와 별개로 증폭기(미도시)를 포함하거나, 신호 처리 회로(600)가 신호의 증폭 기능을 수행할 수 있다. 따라서 입력 신호는 신호 처리부에 의해 처리 및 증폭된다.

즉 일 예에 따르면 신호 입력부의 각 신호 입력판(600)들은 금속판으로 형성될 수 있는데, 이 경우 고에너지 광선이 입사됨으로써 전자의 이동이 유발된다. 이에 따라 입력 신호는 전류의 형태로 검출된다. 그러면 전류 형태로 검출된 입력 신호를 신호 처리 회로(610)가 전압 형태의 신호로 변환한다. 이와 같은 과정에 의해, 신호 처리부를 거치면서 생성된 신호를 이하에서는 처리 신호라 지칭하도록 한다.

처리 신호는 각 신호 처리 회로(610)에 연결된 전극(620)을 통해 출력된다. 복수의 전극(620)이 복수의 신호 입력판(600) 및 신호 처리 회로(610)에 상응하여 마련된다. 도 6 및 도 7에서는 각 전극(620)이 신호 처리 회로(610)에 각각 연결된 경우를 예시하였다.

특히 도 7을 참조하면 전극(620)은 신호 처리 회로(610)에 직접 접촉되어 있 는 것으로 도시되어 있다. 그러나 하나의 기판 안에 신호 입력판(600)이나 신호 처리 회로(610)와 전극이 함께 실장되거나 이들 구성 요소가 직접적으로 접촉되게 하는 것은 신호의 입출력 과정에서 노이즈가 발생되는 것를 최소화하기 위한 일 예를 가정한 것일 뿐이다.

전극(620)을 통해, 검출된 신호의 위치 정보와 처리 신호가 신호 검출 장치의 외부로 출력될 수 있다. 이 경우 검출된 신호가 다른 장치로 출력되기 전, 광선이 입사된 위치에서 바로 신호의 변환 및 증폭이 이루어지므로 신호에 노이즈가 섞이게 될 가능성이 낮아진다.

이상 본 발명에 대하여 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시켜 실시할 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 상술한 실시예에 한정되지 않고, 본 발명은 이하의 특허청구범위의 범위 내의 모든 실시예들을 포함한다고 할 것이다.

도 1은 종래 기술에 따른 고에너지 광선 검출을 위한 신호 검출 장치를 나타낸 도면.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검출 장치의 블록 구성도.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 검출 장치의 신호 입력부의 일 예를 나타낸 도면.

도 4는 도 3에 도시된 신호 입력부가 포함된 신호 검출 장치의 제1층을 나타낸 도면.

도 5는 도 3에 도시된 신호 입력부가 포함된 신호 검출 장치의 제2층을 나타낸 도면.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 입력부를 나타낸 도면.

도 7은 신호 검출 장치의 단면이 나타나게 도시한 입체 도면.

Claims

광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부;

상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부; 및

상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함하되,

상기 신호 입력부는 상기 신호 입력판이 행방향으로 배열된 제1층과 상기 신호 입력판이 열방향으로 배열된 제2층의 두 개의 층을 포함하며

상기 신호 처리부는 상기 제1층 및 상기 제2층에서 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 두 개의 상기 신호 입력판의 상기 식별 정보로부터 상기 광선이 입사된 지점의 상기 위치 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 입력 신호는 전류 형태로 생성되며, 상기 신호 처리부는 상기 입력 신호를 전압 형태의 신호로 변환하여 상기 처리 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 입력부와 상기 신호 처리부 및 상기 신호 출력부는 같은 기판 상에 실장되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

각각의 상기 전극은 상기 신호 입력판에 하나씩 대응되며,

상기 처리 신호는 상기 광선이 입력된 상기 신호 입력판에 상응하는 상기 전극을 통해 출력되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며,

하나의 상기 신호 입력판에 하나의 상기 신호 처리 회로, 하나의 상기 증폭기가 대응되고, 변환 및 증폭된 상기 처리 신호는 상기 신호 출력부의 상기 전극을 통해 출력되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 출력부는 상기 신호 처리부와 직접 접촉됨으로써 전기적으로 연결되며, 접촉된 지점을 통해 상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 받는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
삭제
광선이 입사되면 상기 광선이 입사된 지점에서 입력 신호를 검출하는 복수의 신호 입력판을 포함하는 신호 입력부;

상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 식별 정보를 이용하여 상기 광선의 입사된 위치의 위치 정보를 생성하고, 상기 입력 신호를 이용하여 처리 신호를 생성하는 복수의 신호 처리 회로를 포함하는 신호 처리부; 및

상기 위치 정보 및 상기 처리 신호를 출력하는 복수의 전극을 포함하는 신호 출력부를 포함하되,

복수의 상기 신호 입력판은 격자 형태로 배열되며

상기 신호 처리부는 상기 광선이 입사된 지점에 상응하는 상기 신호 입력판의 상기 식별 정보로부터 상기 광선이 입사된 지점의 상기 위치 정보를 산출하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제8항에 있어서,

상기 신호 입력부, 상기 신호 처리부 및 상기 신호 출력부는 동일한 기판에 집적되며, 상기 신호 출력부는 상기 신호 입력부 및 상기 신호 처리부의 하층에 실장되어 상기 신호 처리부와 전기적 연결을 위해 직접 접촉되는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 처리부는 상기 신호 입력부에서 고에너지 광선의 입사에 따른 컴프턴 이펙트(Compton Effect)에 의해 발생되는 상기 입력 신호를 전압 형태의 상기 처리 신호로 변환하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며 상기 증폭기는 상기 처리 신호를 증폭하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.
제1항에 있어서,

상기 신호 처리부는 증폭기를 더 포함하며 상기 증폭기는 상기 입력 신호를 증폭하는 것을 특징으로 하는 신호 검출 장치.