KR101043023B1 - Test socket for mlcc - Google Patents

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KR101043023B1 KR1020100007664A KR20100007664A KR101043023B1 KR 101043023 B1 KR101043023 B1 KR 101043023B1 KR 1020100007664 A KR1020100007664 A KR 1020100007664A KR 20100007664 A KR20100007664 A KR 20100007664A KR 101043023 B1 KR101043023 B1 KR 101043023B1
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이채윤
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Abstract

PURPOSE: An inspecting socket for stacked ceramic capacitors is provided to prevent the deformation of coil springs regardless of time required for an inspecting process. CONSTITUTION: A socket body(100) forms a plurality of inserting holes in a vertical position. A plurality of probes(200) is combined with the inserting holes. A contact roller is rotatably installed at the bottom side, and an inspecting target is in contact with the contact roller. A cover(300) is combined with the upper side of the socket body. A trough hole is formed in the cover in order to protrude the upper side of the probes. Coil springs(400) are combined with the inserting holes and elastically support the probe. A connecting plate(500) installs a connecting terminal in connection with the probes and is combined with the upper side of the cover.

Description

적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓{test socket for MLCC }Test socket for multilayer ceramic capacitor

본 발명은 적층 세라믹 커패시터의 제조 과정에서 정상적으로 생산되었는지 여부를 검사하기 위한 검사 소켓에 관한 것으로서, 검사 소켓에 수직으로 작동되는 프로브를 내장하고는 구조를 채택하고, 상기 프로브를 정확한 위치에 결합시킬 수 있는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓에 관한 것이다.
The present invention relates to an inspection socket for inspecting whether the multilayer ceramic capacitor is normally produced in a manufacturing process, and includes a probe which is operated perpendicular to the inspection socket, adopts a structure, and couples the probe to the correct position. It relates to a test socket for a multilayer ceramic capacitor.

적층 세라믹 커패시터(MLCC: Multi-Layer Ceramic Capactor)는 산화티탄, 티탄산바륨, 스테아타이트 등 자기(ceramic) 유전체를 다층화하여 크기를 소형화하고, 양산용으로 규격화된 콘덴서(또는 커패시터). 휴대폰, 디지털 카메라, 컴퓨터 등 소형 디지털 기기의 필수 부품으로 소형이면서도 정전용량이 크며, 고주파 및 절연 특성이 우수하기 때문에 근래에 많은 분야에서 사용되고 있다.Multi-layer ceramic capacitors (MLCCs) are capacitors (or capacitors) standardized for mass production by miniaturizing the size of ceramic dielectrics such as titanium oxide, barium titanate, and steatite by multilayering them. It is an essential component of small digital devices such as mobile phones, digital cameras, and computers. It is used in many fields recently because of its small size, large capacitance, and excellent high frequency and insulation characteristics.

이러한 적층 세라믹 커패시터는 다량 생산 공정에서 정상적으로 생산되었는지 여부를 필연적으로 검사하여야 하며, 이러한 검사 과정에 이용되는 것이 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓이다.Such a multilayer ceramic capacitor must inevitably check whether it is normally produced in a large quantity production process, and a test socket for a multilayer ceramic capacitor is used for this inspection process.

도 1의 종래의 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓을 도시하는 사시도이고, 도 2는 도 1의 단면도이다.1 is a perspective view illustrating a conventional inspection socket for a multilayer ceramic capacitor, and FIG. 2 is a cross-sectional view of FIG. 1.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 종래의 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓(10)은 몸체(2)의 하부에 힌지(H)를 통해서 결합된 회동 부재(4)에는 접촉 롤러(3)가 회전축(3a)을 통해서 설치되고, 상기 접촉 롤러(3)가 검사 대상물에 접촉시 발생되는 압력을 탄성지지할 수 있도록 코일 스프링이 상기 몸체(2)의 내부에 내장된다.As shown in FIGS. 1 and 2, the inspection socket 10 for a multilayer ceramic capacitor according to the related art has a contact roller 3 connected to a rotation member 4 coupled to a lower portion of the body 2 through a hinge H. It is installed through (3a), the coil spring is embedded in the body (2) so that the contact roller (3) can elastically support the pressure generated when contacting the inspection object.

또한, 상기 회동 부재(4)에는 검사 기판에 연결되는 접속 단자(6)가 고정된다.In addition, a connecting terminal 6 connected to the inspection board is fixed to the rotation member 4.

이러한 검사 소켓(10)이 다수개가 수평으로 배치되어 하나의 소켓 어셈블리를 이루게 되며, 상기 접촉 롤러(3)가 하측으로 배치된 상태로 검사 기기에 장착된다.A plurality of such test sockets 10 are horizontally arranged to form one socket assembly, and the contact rollers 3 are mounted to the test apparatus with the contact rollers 3 arranged downward.

따라서, 일렬로 배치된 검사 대상물이 수평으로 이동되면서, 상기 접촉 롤러(4)를 통해서 전기적으로 접촉되어 정상 작동 여부를 테스트하게 된다.Therefore, while the test objects arranged in a line are moved horizontally, they are electrically contacted through the contact rollers 4 to test whether they normally operate.

이러한 종래의 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓은 코일 스프링이 수직으로 설치되지 아니하여 각 접촉 롤러(3)에 전달되는 탄성 지지력이 상이하고, 스프링 변형으로 인한 불량이 자주 발생하게 된다.In the conventional inspection socket for multilayer ceramic capacitors, the coil spring is not vertically installed, and thus the elastic support force transmitted to each contact roller 3 is different, and a defect due to spring deformation frequently occurs.

또한, 하나의 접속 단자(6)가 고장나면, 전체 검사 소켓 어셈블리를 교체하여야 하는 사용상의 문제점이 있었다.
In addition, if one connection terminal 6 fails, there is a problem in use that the entire inspection socket assembly needs to be replaced.

본 발명에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓은 수직으로 동작되는 프로브를 장착시켜서 내구성이 향상되고, 유지 보수가 쉬운 검사 소켓을 제공하는 데 그 목적이 있다.
An inspection socket for a multilayer ceramic capacitor according to the present invention has an object of providing an inspection socket which is improved in durability and easy to maintain by mounting a probe operated vertically.

본 발명에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓는 수직으로 관통형성된 다수 개의 삽입공이 형성된 소켓 몸체와, 상기 삽입공에 결합되며, 하단부에는 검사 대상물에 접촉되는 접촉 롤러가 회전 가능하게 설치된 다수 개의 프로브와, 상기 소켓 몸체의 상부면에 결합되며, 상기 프로브의 상부가 돌출되는 관통공이 형성된 커버와, 상기 프로브를 탄성 지지하도록 상기 삽입공에 결합되는 코일 스프링과, 상기 프로브와 연결되는 접속 단자가 설치되며, 상기 커버의 상부에 결합되는 연결판으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The inspection socket for a multilayer ceramic capacitor according to the present invention includes a socket body having a plurality of insertion holes vertically formed therethrough, coupled to the insertion hole, and a plurality of probes rotatably installed at a lower end thereof with a contact roller contacting an inspection object; A cover coupled to an upper surface of the socket body and having a through hole through which the upper part of the probe protrudes, a coil spring coupled to the insertion hole to elastically support the probe, and a connection terminal connected to the probe, It is characterized by consisting of a connecting plate coupled to the top of the cover.

여기서, 상기 프로브의 외주면에는 걸림턱이 형성되고, 상기 삽입공에는 상기 걸림턱에 대응되는 걸림홈이 형성됨을 특징으로 한다.Here, the locking jaw is formed on the outer peripheral surface of the probe, the insertion hole is characterized in that the locking groove corresponding to the locking jaw is formed.

그리고, 상기 프로브의 외주면에는 평면부가 형성되고, 상기 관통공은 상기 평면부에 대응되는 형태로 제작되어, 상기 프로브의 하단부의 설치된 접촉 롤러가 소켓에 수직방향으로 설치됨을 특징으로 한다.In addition, a flat portion is formed on an outer circumferential surface of the probe, and the through hole is formed in a shape corresponding to the flat portion, and a contact roller provided at a lower end of the probe is installed in a vertical direction to the socket.

마지막으로, 상기 접촉 롤러는 함유 소결 합금 재질의 회전축을 통해서 상기 프로브의 하단부에 설치됨을 특징으로 한다.
Finally, the contact roller is characterized in that installed on the lower end of the probe through the rotating shaft of the containing sintered alloy material.

본 발명에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓는 접촉 롤러가 설치된 프로브가 수직으로 설치되고, 이를 탄성지지 하는 코일 스프링이 결합되는 구조를 채택하여 장시간의 사용되더라도 스프링의 변형을 방지할 수 있는 장점이 있다.The inspection socket for the multilayer ceramic capacitor according to the present invention has an advantage in that a probe installed with a contact roller is vertically installed, and a coil spring supporting the elastic support is coupled to prevent the deformation of the spring even when used for a long time.

또한, 삽입공이 형성된 소켓 몸체에 프로브 및 코일 스프링을 결합시키고, 이를 커버를 통해서 고정시키는 구조를 채택하여 프로브의 교체가 용이하다는 장점이 있다.In addition, the combination of the probe and the coil spring to the socket body in which the insertion hole is formed, there is an advantage that it is easy to replace the probe by adopting a structure for fixing it through the cover.

그리고, 프로브에 평면부를 형성시키고, 이에 대응되도록 관통공을 형성시켜서 프로브가 정확한 위치에 설치될 수 있는 장점이 있다.
In addition, there is an advantage that the probe may be installed at the correct position by forming a flat part on the probe and forming a through hole corresponding thereto.

도 1의 종래의 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓을 도시하는 사시도.
도 2는 도 1의 단면도.
도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓를 도시하는 사시도.
도 4는 도 3의 정면도.
도 5는 도 3의 분해사시도.
도 6은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 프로브를 도시하는 분해사시도.
도 7은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓의 작동도.1 is a perspective view showing a conventional inspection socket for a multilayer ceramic capacitor.
2 is a sectional view of Fig. 1;
3 is a perspective view illustrating a test socket for a multilayer ceramic capacitor according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a front view of FIG. 3.
5 is an exploded perspective view of FIG. 3;
6 is an exploded perspective view showing a probe according to a preferred embodiment of the present invention.
7 is an operation of the test socket for a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조로 하여 본 발명 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓을 보다 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, the test socket for the multilayer ceramic capacitor of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓를 도시하는 사시도이고, 도 4는 도 3의 정면도이며, 도 5는 도 3의 분해사시도이다.3 is a perspective view illustrating a test socket for a multilayer ceramic capacitor according to an exemplary embodiment of the present invention, FIG. 4 is a front view of FIG. 3, and FIG. 5 is an exploded perspective view of FIG. 3.

본 발명에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓는 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이 종래의 검사 소켓과 같이 소켓 어셈블리가 여러 개 결합하는 방식이 아니라 달리 일체형의 소켓 몸체(100)에 각각의 프로브(200)를 결합하는 방식으로 제작된다.As shown in FIGS. 3 and 4, the test socket for the multilayer ceramic capacitor according to the present invention is not a manner in which a plurality of socket assemblies are coupled to each other as in the conventional test socket. ) Is made by combining them.

도 5에 도시된 바와 같이 수직으로 관통형성된 다수 개의 삽입공이 형성된 소켓 몸체(100)에 프로브(200)가 결합되는 형태로 제작되며, 구체적으로는 도 5에 도시된 바와 같이 상기 소켓 몸체(100)에는 수직으로 다수 개의 삽입공(102)이 형성되고, 상기 삽입공(102)에 프로브(200)이 결합된다.As shown in FIG. 5, the probe 200 is manufactured to be coupled to the socket body 100 having a plurality of vertically formed through holes formed therein. Specifically, the socket body 100 is illustrated in FIG. 5. There are a plurality of insertion holes 102 are formed vertically, the probe 200 is coupled to the insertion hole (102).

여기서, 상기 프로브(200)는 도체이며, 상기 소켓 몸체(100)는 부도체로 제작되어야 한다.Here, the probe 200 is a conductor, the socket body 100 should be made of a non-conductor.

상기 프로브(200)는 하단부에는 검사 대상물에 접촉되는 접촉 롤러(202)가 회전 가능하게 설치된다.The probe 200 has a contact roller 202 rotatably installed in contact with a test object at a lower end thereof.

여기서, 상기 접촉 롤러(202)는 함유 소결 합금 재질(oiless bearing)의 회전축(203)을 통해서 상기 프로브(200)의 하단부에 설치되는 것이 바람직하다.Here, the contact roller 202 is preferably installed at the lower end of the probe 200 through the rotating shaft 203 of the containing sintered alloy material (oiless bearing).

함유 소결 합금은 분말 야금에 의한 소결 합금으로 금속 분말을 금형에 넣고 가압/가열하여 성형한 후 윤활유 속에 담가 입자 사이의 공간에 윤활유를 스며들게 한 것이다.The containing sintered alloy is a sintered alloy made by powder metallurgy, which is formed by putting a metal powder into a mold and pressing / heating it, and then immersing the lubricating oil in the space between particles by immersing it in the lubricating oil.

종래의 검사 소켓에 설치되는 접촉 롤러가 회동 부재에 고정되는 것과 달리 본원 발명의 접촉 롤러는 수직으로 이동되는 프로브(200)에 설치되므로 보다 원활하게 회전될 수 있도록 이러한 재질로 제작되는 것이 바람직하다.Unlike the contact roller installed in the conventional inspection socket is fixed to the rotating member, the contact roller of the present invention is installed in the probe 200 to be moved vertically, it is preferable to be made of such a material so that it can be rotated more smoothly.

도 6은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 프로브를 도시하는 분해사시도이다.6 is an exploded perspective view showing a probe according to a preferred embodiment of the present invention.

도 6에 도시된 바와 같이 프로브(200)의 하단부에는 형성된 체결공(201)이 양측 돌출부에 형성되고, 상기 체결공(201)에 회전축(203)이 결합된다.As shown in FIG. 6, the fastening holes 201 formed at the lower ends of the probes 200 are formed at both protrusions, and the rotation shaft 203 is coupled to the fastening holes 201.

또한, 접촉 롤러(202)의 중심에는 회전축 삽입공(202a)가 형성되어, 상기 회전축(203)에 상기 회전축 삽입공(202a)에 결합된다.In addition, a rotation shaft insertion hole 202a is formed at the center of the contact roller 202, and is coupled to the rotation shaft insertion hole 202a on the rotation shaft 203.

다음으로, 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이 상기 소켓 몸체(100)의 상부면에는 커버(300)가 볼트(B)를 통해서 결합되며 상기 프로브(200)의 상부가 돌출되는 관통공(302)이 형성된다.Next, as shown in FIGS. 3 and 4, the cover 300 is coupled to the upper surface of the socket body 100 through the bolt B, and the through hole 302 protrudes from the upper portion of the probe 200. ) Is formed.

여기서, 상기 프로브(200)의 접촉 롤러(202)가 검사 대상물에 접촉시 발생되는 수직력을 탄성 지지할 수 있도록 도 5에 도시된 바와 같이 상기 삽입공(102)에는 코일 스프링(400)이 결합된다.Here, the coil spring 400 is coupled to the insertion hole 102 as shown in FIG. 5 so that the contact roller 202 of the probe 200 can elastically support the vertical force generated when the contact roller 202 is in contact with the inspection object. .

또한, 상기 커버(300)의 상부에는 상기 프로브(200)와 연결되는 접속 단자(502)가 설치된 연결판(500)이 볼트(B)를 통해서 결합되며, 상기 프로브(200)가 수직으로 이동될 수 있도록 상기 연결판(500)는 상기 프로브(200)의 상단부의 이동을 가이드할 수 있는 가이드 공(504)이 형성되는 것이 바람직하다.In addition, a connecting plate 500 provided with a connection terminal 502 connected to the probe 200 is coupled to the upper portion of the cover 300 through a bolt B, and the probe 200 may be moved vertically. It is preferable that the connecting plate 500 is formed with a guide hole 504 that can guide the movement of the upper end of the probe 200.

그리고, 도 7은 본 발명의 바람직한 일실시예에 따른 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓의 작동도이다.And, Figure 7 is an operation of the test socket for a multilayer ceramic capacitor according to an embodiment of the present invention.

도 7에 도시된 바와 같이 프로브(200)의 외주면에는 걸림턱(212)이 형성되고, 삽입공(102)에는 상기 걸림턱(212)에 대응되는 걸림홈(103)이 형성되어 프로브(200)가 수직 하방향으로 이동되는 것을 구속할 수 있다.As shown in FIG. 7, a locking jaw 212 is formed at an outer circumferential surface of the probe 200, and a locking groove 103 corresponding to the locking jaw 212 is formed at an insertion hole 102 to probe 200. Can be constrained to move vertically downward.

또한, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 상기 프로브(200)의 외주면에는 평면부(210)가 형성되며, 상기 커버(300)에 형성된 관통공은 상기 평면부에 대응되는 형태로 제작되어, 상기 프로브의 하단부의 설치된 접촉 롤러가 소켓에 수직방향으로 설치됨을 특징으로 한다.In addition, as shown in FIG. 5 and FIG. 6, the outer peripheral surface of the probe 200 is formed with a flat portion 210, the through hole formed in the cover 300 is manufactured in a form corresponding to the flat portion, The contact roller installed at the lower end of the probe is characterized in that installed in the vertical direction to the socket.

이러한 구성을 가진 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓의 구체적인 검사 태양에 대해 살펴보기로 한다.A specific inspection aspect of the inspection socket for the multilayer ceramic capacitor having such a configuration will be described.

적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓은 검사 기기에 수평으로 장착되며, 일렬로 배치된 검사 대상물이 수평 이동 컨베이어를 통해서 수평으로 이동되면, 상기 접촉 롤러(4)에 검사 대상물이 접촉된다.The inspection socket for the multilayer ceramic capacitor is mounted horizontally in the inspection device, and when the inspection objects arranged in a line are moved horizontally through the horizontal moving conveyor, the inspection objects are brought into contact with the contact roller 4.

여기서, 접촉 롤러(202)는 검사 대상물과의 마찰을 통해서 회전하게 되고, 상기 접촉 롤러(202)를 통해서 전달되는 수직력은 프로브(200)를 통해서 코일 스프링(400)에 전달되어 압축된다.Here, the contact roller 202 is rotated through friction with the inspection object, the vertical force transmitted through the contact roller 202 is transmitted to the coil spring 400 through the probe 200 is compressed.

또한, 검사 대상물은 상기 접촉롤러(202)와 프로브(200) 몸체 및 접속 단자를 통해서 검사용 회로 기판과 전기적으로 연결되어 검사 대상물의 정상 작동 여부를 테스트하게 된다.In addition, the test object is electrically connected to the test circuit board through the contact roller 202 and the probe 200 body and the connection terminal to test whether the test object is normally operated.

이상과 같이 본 발명은 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓을 제공하는 것을 기본적인 기술적인 사상으로 하고 있음을 알 수 있으며, 이와 같은 본 발명의 기본적인 사상의 범주내에서, 당업계의 통상의 지식을 가진자에게 있어서는 다른 많은 변형이 가능함은 물론이다.
As described above, it can be seen that the present invention provides a test socket for a multilayer ceramic capacitor as a basic technical idea, and within the scope of the basic idea of the present invention, to those skilled in the art. Of course, many other variations are possible.

100: 소켓 몸체
102: 삽입공
103: 걸림홈
200: 프로브
202: 접촉 롤러
203: 회전축
210: 평면부
212: 걸림턱
300: 커버
302: 관통공
400: 코일 스프링
500: 연결판
502: 접속 단자
504: 가이드 공100: socket body
102: insertion hole
103: locking groove
200: probe
202: contact roller
203: axis of rotation
210: flat part
212: jamming jaw
300: cover
302: through hole
400: coil spring
500: connecting plate
502: connection terminal
504: guide ball

Claims (4)

수직으로 관통형성된 다수 개의 삽입공이 형성된 소켓 몸체와;
상기 삽입공에 결합되며, 하단부에는 검사 대상물에 접촉되는 접촉 롤러가 회전 가능하게 설치된 다수 개의 프로브와;
상기 소켓 몸체의 상부면에 결합되며, 상기 프로브의 상부가 돌출되는 관통공이 형성된 커버와;
상기 프로브를 탄성 지지하도록 상기 삽입공에 결합되는 코일 스프링과;
상기 프로브와 연결되는 접속 단자가 설치되며, 상기 커버의 상부에 결합되는 연결판;으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓.
A socket body having a plurality of insertion holes vertically formed therethrough;
A plurality of probes coupled to the insertion hole and provided at a lower end thereof with a contact roller rotatably contacting the inspection object;
A cover coupled to an upper surface of the socket body and having a through hole protruding from an upper portion of the probe;
A coil spring coupled to the insertion hole to elastically support the probe;
Connection terminal connected to the probe is installed, the test socket for a multilayer ceramic capacitor, characterized in that consisting of; connecting plate coupled to the upper portion.
제 1 항에 있어서,
상기 프로브의 외주면에는 걸림턱이 형성되고, 상기 삽입공에는 상기 걸림턱에 대응되는 걸림홈이 형성됨을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓.
The method of claim 1,
A locking jaw is formed on an outer circumferential surface of the probe, and a locking groove corresponding to the locking jaw is formed in the insertion hole.
제 1 항에 있어서,
상기 프로브의 외주면에는 평면부가 형성되고,
상기 관통공은 상기 평면부에 대응되는 형태로 제작되어,
상기 프로브의 하단부의 설치된 접촉 롤러가 소켓에 수직방향으로 설치됨을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓.
The method of claim 1,
The outer peripheral surface of the probe is formed with a flat portion,
The through hole is manufactured in a form corresponding to the planar portion,
Inspection socket for a multilayer ceramic capacitor, characterized in that the contact roller installed in the lower end of the probe is installed in the vertical direction to the socket.
제 1 항에 있어서,
상기 접촉 롤러는,
함유 소결 합금 재질의 회전축을 통해서 상기 프로브의 하단부에 설치됨을 특징으로 하는 적층 세라믹 커패시터용 검사 소켓
The method of claim 1,
The contact roller,
Inspection socket for multilayer ceramic capacitors, characterized in that installed on the lower end of the probe through the rotating shaft of the containing sintered alloy material
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