KR102269689B1 - Probe assembly for electronic component inspection that is easy to maintain and electronic component inspection device using the same - Google Patents

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Abstract

An easy-maintenance probe assembly for electronic component inspection in accordance with an embodiment of the present invention comprises: a rotating contact roller that is in electrical contact with an electrode of an electronic component to be inspected and rotates; a shaft that is inserted into the center of the rotating contact roller so that the rotating contact roller is rotatable and transmits an electrical signal of the rotating contact roller; a roller guide holder that is coupled to the upper part of the shaft to guide the rotation of the rotating contact roller; a roller guide support that is rotatably hinged to the roller guide holder, presses and supports the shaft by the elastic force of a spring inserted into the roller guide holder, and presses one side to separate the shaft from the roller guide holder when replacing the shaft and the rotating contact roller. Therefore, the rotating contact roller and the shaft can be replaced with one touch.

Description

유지보수가 용이한 전자부품 검사용 프로브 조립체 및 이를 이용한 전자부품 검사장치{Probe assembly for electronic component inspection that is easy to maintain and electronic component inspection device using the same}Probe assembly for electronic component inspection that is easy to maintain and an electronic component inspection device using the same {Probe assembly for electronic component inspection that is easy to maintain and electronic component inspection device using the same}

본 발명은 프로브 조립체의 회전접촉롤러를 용이하게 교체할 수 있는 유지보수가 용이한 전자부품 검사용 프로브 조립체 및 이를 이용한 전자부품 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a probe assembly for inspecting electronic components that is easy to maintain and capable of easily replacing a rotating contact roller of a probe assembly, and an electronic component inspection apparatus using the same.

컴퓨터, 스마트폰을 비롯한 다양한 전자기기에는 수동소자와 능동소자를 비롯한 다양한 형태의 전자부품들이 실장되고 있다. 전자부품들은 전자기기 실장 전 불량품 선별을 위하여 전수 검사가 실시되고 있으며, 전자부품별로 저항(IR), 전기용량(Capacitance), 손실계수(Dissipation Factor) 등과 같은 전기적 특성을 측정하고 양품만을 선별하여 출하와 전자기기 실장이 이루어지고 있다.Various types of electronic components including passive elements and active elements are mounted in various electronic devices including computers and smart phones. All electronic components are inspected to select defective products before mounting, and electrical characteristics such as resistance (IR), capacitance, and dissipation factor are measured for each electronic component, and only good products are selected and shipped. and electronic devices are being mounted.

이와 같이 전자부품들의 전기적 특성을 측정, 검사하기 위해서는 주로 전자부품의 외부 전극에 검사 장비의 측정단자인 프로브 조립체를 접촉시켜 전자부품들의 전기적 특성을 측정하게 된다.In order to measure and inspect the electrical characteristics of electronic components as described above, the electrical characteristics of the electronic components are measured by contacting the probe assembly, which is a measurement terminal of the test equipment, to an external electrode of the electronic component.

프로브 조립체는 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉되며 회전하는 회전접촉롤러와 샤프트, 샤프트를 고정하는 롤러가이드와 롤러가이드홀더를 포함한다. 이러한 프로브 조립체에 일렬로 배치된 검사 대상물이 수평으로 이동하면서 회전접촉롤러에 전기적으로 접촉되어 정상 작동 여부를 테스트하게 된다.The probe assembly includes a rotating contact roller and a shaft that are in electrical contact with the electrode of the electronic component and rotate, and a roller guide and a roller guide holder for fixing the shaft. The inspection object arranged in a line on the probe assembly is electrically contacted with the rotating contact roller while moving horizontally to test whether it operates normally.

그런데 동일한 회전접촉롤러를 이용하여 반복적인 측정이 이루어지게 되면 회전접촉롤러의 내외경 및 샤프트 외경에 오염물질이 축적된다. 오염물질의 축적량이 증가할수록 측정단자와 전자부품 외부전극 간의 접촉저항이 증가하게 되며, 최종적으로는 전자부품과 접촉불량이 발생함에 따라 검사장비의 측정값에 오차가 발생하게 된다. However, if repeated measurements are made using the same rotating contact roller, contaminants are accumulated in the inner and outer diameters of the rotating contact roller and the shaft outer diameter. As the accumulation amount of contaminants increases, the contact resistance between the measurement terminal and the external electrode of the electronic component increases, and ultimately, an error occurs in the measurement value of the inspection equipment due to the occurrence of poor contact with the electronic component.

오차로 인해 더 이상 사용하기 어려운 회전접촉롤러는 유지보수를 위해 교체를 해야하는데, 종래 샤프트를 고정하고 있는 롤러가이드홀더의 볼트를 풀고 회전접촉롤러와 샤프트를 교체해야 해서 작업시간이 오래걸리는 문제가 있다.The rotating contact roller, which is no longer usable due to an error, needs to be replaced for maintenance. However, it takes a long time to work because it is necessary to loosen the bolt of the roller guide holder fixing the conventional shaft and replace the rotating contact roller and the shaft. have.

대한민국 등록특허 제10-1977978호Republic of Korea Patent No. 10-1977978 대한민국 등록특허 제10-1043023호Republic of Korea Patent No. 10-1043023

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 회전접촉롤러의 교체가 용이한 전자부품 검사용 프로브 조립체를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a probe assembly for electronic component inspection that is easy to replace a rotating contact roller.

본 발명의 일 측면에 따르면, 검사대상 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉되며 회전하는 회전접촉롤러; 상기 회전접촉롤러가 회전 가능하도록 상기 회전접촉롤러의 중심에 삽입되어 상기 회전접촉롤러의 전기신호를 전달하는 샤프트; 상기 샤프트의 상부에 결합하여 상기 회전접촉롤러의 회전을 가이드 하는 롤러가이드홀더; 및 상기 롤러가이드홀더에 중앙부가 회전가능하게 힌지결합하고, 상기 롤러가이드홀더 사이에 개재된 가압스프링의 탄성력에 의해 상기 샤프트를 가압하여 지지하며, 상기 샤프트와 회전접촉롤러 교체시 일측을 가압하여 상기 샤프트로부터 이격시키는 롤러가이드스프링;를 포함하는 프로브 조립체가 제공된다.According to an aspect of the present invention, a rotating contact roller that is in electrical contact with the electrode of the electronic component to be inspected and rotates; a shaft which is inserted into the center of the rotating contact roller so that the rotating contact roller is rotatable and transmits an electrical signal of the rotating contact roller; a roller guide holder coupled to the upper portion of the shaft to guide the rotation of the rotating contact roller; and a central portion rotatably hinged to the roller guide holder, presses and supports the shaft by the elastic force of a pressure spring interposed between the roller guide holders, and presses one side when replacing the shaft and the rotating contact roller. A probe assembly comprising a; roller guide spring spaced apart from the shaft is provided.

상기 롤러가이드스프링은 상기 롤러가이드홀더에 힌지결합하는 힌지결합부와, 상기 힌지결합부의 일측으로 연장되며 상기 롤러가이드홀더 사이에 개재된 가압스프링의 탄성력에 의해 압력이 가해지는 스프링지지부와, 상기 힌지결합부의 타측으로 연장되며 포크 형태로 마련되어 상기 샤프트의 하부 양측을 지지하는 포크지지부로 구성되되, 상기 스프링지지부를 가압하면 상기 힌지결합부를 중심으로 회전하여 상기 포크지지부가 상기 샤프트로부터 이격되는 것을 특징으로 한다.The roller guide spring includes a hinge coupling part hingedly coupled to the roller guide holder, a spring support part extending to one side of the hinge coupling part and applying pressure by the elastic force of the pressure spring interposed between the roller guide holders, and the hinge; It extends to the other side of the coupling part and is provided in the form of a fork and consists of a fork support part supporting the lower both sides of the shaft, and when the spring support part is pressed, it rotates around the hinge coupling part, and the fork support part is spaced apart from the shaft. do.

또한, 상기 회전접촉롤러는 상기 샤프트가 삽입되는 내륜은 카본으로 형성되고, 상기 내륜의 외측에 결합하여 검사대상 전자부품과 접촉하는 외륜은 금속으로 형성될 수 있다.In addition, in the rotary contact roller, an inner ring into which the shaft is inserted may be formed of carbon, and an outer ring coupled to the outer side of the inner ring and contacting the electronic component to be inspected may be formed of metal.

본 발명의 다른 측면에 따르면, 다수의 격벽에 의해 일정간격으로 구획된 공간이 마련되는 몸체; 상기 몸체의 상부에 결합하여 외부 검사기기에 전기신호를 전달하는 커넥트핀; 및 검사대상 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉되며 회전하는 회전접촉롤러와, 상기 회전접촉롤러가 회전 가능하도록 상기 회전접촉롤러의 중심에 삽입되어 상기 회전접촉롤러의 전기신호를 전달하는 샤프트와, 상기 샤프트의 상부에 결합하여 상기 회전접촉롤러의 회전을 가이드 하는 롤러가이드홀더와, 상기 롤러가이드홀더에 힌지결합하는 힌지결합부와 상기 힌지결합부의 일측으로 연장되며 상기 롤러가이드홀더 사이에 개재된 가압스프링의 탄성력에 의해 압력이 가해지는 스프링지지부와 상기 힌지결합부의 타측으로 연장되며 포크 형태로 마련되어 상기 샤프트의 하부 양측을 지지하는 포크지지부로 구성되는 프로브 조립체;를 포함하는 전자부품 검사장치가 제공될 수 있다.According to another aspect of the present invention, the body is provided with a space partitioned at regular intervals by a plurality of partition walls; a connect pin coupled to the upper portion of the body to transmit an electrical signal to an external inspection device; and a rotating contact roller that is in electrical contact with the electrode of the electronic component to be inspected and rotates, and a shaft inserted into the center of the rotating contact roller so that the rotating contact roller is rotatable to transmit an electrical signal of the rotating contact roller; A roller guide holder coupled to the upper part of the shaft to guide the rotation of the rotary contact roller, a hinge coupling part hingedly coupled to the roller guide holder, and a pressure spring extending to one side of the hinge coupling part and interposed between the roller guide holder An electronic component inspection device comprising a; a probe assembly comprising a spring support part to which pressure is applied by the elastic force of the and a fork support part extending to the other side of the hinge coupling part and provided in the form of a fork to support both lower sides of the shaft have.

본 발명은 샤프트를 스프링의 탄성력에 의해 지지하고 있는 롤러가이드스프링을 원터치 방식으로 해제하고 수명이 다한 샤프트와 회전접촉롤러를 용이하게 교체할 수 있어 교체 작업시간을 줄일 수 있다.The present invention can reduce the replacement work time by releasing the roller guide spring supporting the shaft by the elastic force of the spring in a one-touch method and easily replacing the shaft and the rotating contact roller that have reached the end of their lifespan.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 분해 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 일부 단면도이다.
도 4는 프로브 조립체의 사시도이다.
도 5는 프로브 조립체의 분해 분해 사시도이다.1 is a perspective view of an electronic component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view of an electronic component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a partial cross-sectional view of an electronic component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 is a perspective view of a probe assembly;
5 is an exploded perspective view of the probe assembly;

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. 이 과정에서 도면에 도시된 구성요소의 크기나 형상 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시될 수 있다. 또한, 본 발명의 구성 및 작용을 고려하여 특별히 정의된 용어들은 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 한다. 그리고 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 실시예를 용이하게 실시할 수 있을 것이나, 이 또한 본 발명의 범위 내에 속함은 물론이다.Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In this process, the size or shape of the components shown in the drawings may be exaggerated for clarity and convenience of explanation. In addition, terms specifically defined in consideration of the configuration and operation of the present invention may vary depending on the intention or custom of the user or operator. Definitions of these terms should be made based on the content throughout this specification. And the spirit of the present invention is not limited to the presented embodiment, and those skilled in the art who understand the spirit of the present invention will be able to easily implement other embodiments within the scope of the same idea, but this also falls within the scope of the present invention. Of course.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 분해 사시도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자부품 검사장치의 일부 단면도이고, 도 4는 프로브 조립체의 사시도이며, 도 5는 프로브 조립체의 분해 분해 사시도이다.1 is a perspective view of an electronic component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an exploded perspective view of an electronic component inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. It is a partial cross-sectional view of an electronic component inspection apparatus, FIG. 4 is a perspective view of the probe assembly, and FIG. 5 is an exploded perspective view of the probe assembly.

이들 도면을 참조하며, 본 발명에 따른 전자부품 검사장치는 몸체(10)와, 몸체(10)의 상부에 결합하는 커넥터핀(20)과 몸체(10)의 하부에 결합하는 프로브 조립체(30)를 포함한다.Referring to these drawings, the electronic component inspection device according to the present invention includes a body 10 , a connector pin 20 coupled to the upper portion of the body 10 , and a probe assembly 30 coupled to the lower portion of the body 10 . includes

몸체(10)는 부도체로 마련되며, 다수의 격벽(11)에 의해 일정간격으로 구획된 공간에 다수의 프로브 조립체(30)가 일정간격으로 삽입된다. The body 10 is provided as a non-conductor, and a plurality of probe assemblies 30 are inserted at regular intervals into a space partitioned at regular intervals by a plurality of partition walls 11 .

커넥터핀(20)은 프로브 조립체(30)의 수에 대응하여 마련되며, 프로브 조립체(30)로부터 전달되는 전기적 신호를 외부 검사기기에 전달한다.The connector pins 20 are provided corresponding to the number of probe assemblies 30 , and transmit electrical signals transmitted from the probe assemblies 30 to an external inspection device.

프로브 조립체(30)는 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉되며 회전하는 회전접촉롤러(31)와, 회전접촉롤러(31)의 회전중심에 삽입되는 샤프트(32)와, 회전접촉롤러(31)의 회전을 가이드하는 롤러가이드홀더(33)와, 샤프트(32)의 하부를 지지하는 롤러가이드지지대(34)을 포함한다. The probe assembly 30 includes a rotating contact roller 31 that is in electrical contact with an electrode of an electronic component and rotates, a shaft 32 inserted into the rotation center of the rotating contact roller 31, and a rotating contact roller 31 . It includes a roller guide holder 33 for guiding rotation, and a roller guide support 34 for supporting the lower portion of the shaft 32 .

회전접촉롤러(31)는 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉된다. 일렬로 배치된 검사 대상물이 수평 이동 컨베이어를 통해서 이동되면, 전자부품의 전극이 차례로 회전접촉롤러(31)에 접촉된다. 회전접촉롤러(31)는 검사 대상물과의 마찰을 통해서 회전한다. The rotating contact roller 31 is in electrical contact with the electrode of the electronic component. When the inspection objects arranged in a line are moved through the horizontal moving conveyor, the electrodes of the electronic component are in contact with the rotating contact roller 31 in turn. The rotating contact roller 31 rotates through friction with the object to be inspected.

샤프트(32)는 회전접촉롤러(31)가 회전 가능하도록 회전접촉롤러(31)의 중심에 삽입된다. 샤프트(32)는 은-구리(AgCu) 합금에 강도 보강을 위한 니켈(Ni)이 소량 첨가된 합금이 사용될 수 있다.The shaft 32 is inserted into the center of the rotation contact roller 31 so that the rotation contact roller 31 is rotatable. For the shaft 32 , an alloy in which a small amount of nickel (Ni) is added to a silver-copper (AgCu) alloy for strength reinforcement may be used.

롤러가이드홀더(33)는 일측에 샤프트(32)의 양 단부가 삽입되는 한 쌍의 샤프트삽입홈(331)이 형성된다. 샤프트삽입홈(331)은 샤프트(32)의 상부가 형상맞춤으로 삽입될 수 있도록 반원형홈 형태로 마련된다. 롤러가이드홀더(33)는 도체로서 샤프트(32)를 통해 전달되는 전기신호는 롤러가이드홀더(33)를 통해 커넥트핀(20)에 전달된다.A pair of shaft insertion grooves 331 into which both ends of the shaft 32 are inserted are formed on one side of the roller guide holder 33 . The shaft insertion groove 331 is provided in the form of a semi-circular groove so that the upper portion of the shaft 32 can be inserted in a shape-fitting manner. The roller guide holder 33 is a conductor, and an electrical signal transmitted through the shaft 32 is transmitted to the connect pin 20 through the roller guide holder 33 .

한편, 롤러가이드홀더(33)는 몸체의 격벽(11)에 힌지 결합된다. 롤러가이드홀더(33)의 전방에 관통공이 형서된 절연블록(35)이 결합되고, 절연블록(35)의 관통공과 격벽(11)에 형성된 힌지홀(111)에 힌지바(112)가 삽입된다. 롤러가이드홀더(33)의 후방은 걸림턱(332)이 형성되어 격벽(11)의 걸림홀(113)에 삽입된 걸림바(114)에 걸림턱(332)이 걸리어 지지된다. 롤러가이드홀더(33)와 몸체(10) 사이에는 롤러가이드스프링(12))이 개재된다. 이와 같은 구성에 의해 롤러가이드홀더(33)는 힌지바(36)를 기준으로 회동가능하게 몸체(10)에 결합하고, 롤러가이드스프링(12)은 롤러가이드홀더(33)를 가압하면서 롤러가이드홀더(33)에 가해지는 진동을 흡수한다.On the other hand, the roller guide holder 33 is hinged to the bulkhead 11 of the body. An insulating block 35 having a through hole in it is coupled to the front of the roller guide holder 33 , and a hinge bar 112 is inserted into the through hole of the insulating block 35 and the hinge hole 111 formed in the partition wall 11 . . At the rear of the roller guide holder 33 , a locking jaw 332 is formed, and the locking jaw 332 is caught and supported by the locking bar 114 inserted into the locking hole 113 of the partition wall 11 . A roller guide spring (12) is interposed between the roller guide holder (33) and the body (10). By this configuration, the roller guide holder 33 is rotatably coupled to the body 10 based on the hinge bar 36 , and the roller guide spring 12 presses the roller guide holder 33 while pressing the roller guide holder. (33) absorbs the vibration applied to it.

롤러가이드지지대(34)은 롤러가이드홀더(33)의 하부에서 샤프트(32)를 지지한다. 종래에 롤러가이드지지대는 볼트에 의해 롤러가이드홀더(33)에 체결되었기 때문에 회전접촉롤러(31)와 샤프트(32)를 교체하고자 할 때 볼트를 풀고 교체한 후 다시 볼트를 체결해야 해서 작업시간이 길어지는 문제가 있었다.The roller guide support 34 supports the shaft 32 under the roller guide holder 33 . Conventionally, since the roller guide support is fastened to the roller guide holder 33 by means of bolts, when you want to replace the rotating contact roller 31 and the shaft 32, you have to loosen the bolts and replace them and then fasten the bolts again, which reduces the working time. There was a problem with lengthening.

본 발명의 롤러가이드지지대(34)은 용이하게 회전접촉롤러(31)와 샤프트(32)를 교체할 수 있도록, 힌지결합부(341)와 스프링지지부(342)와 포크지지부(343)로 구성된다. The roller guide support 34 of the present invention consists of a hinge coupling part 341, a spring support part 342, and a fork support part 343 so that the rotation contact roller 31 and the shaft 32 can be easily replaced. .

힌지결합부(341)에는 관통홀이 형성되며, 롤러가이드홀더(33)에 형성된 힌지홀(333)에 힌지바(3411)에 의해 회전가능하게 결합된다. 스프링지지부(342)는 힌지결합부(341)의 일측에 마련되며, 롤러가이드홀더(33) 사이에 개재되는 가압스프링(3421)의 탄성력에 의해 스플링지지부(342)는 롤러가이드홀더(33)의 내측으로부터 가압된다. 포크지지부(343)는 힌지결합부(341)를 기준으로 스프링지지부(342)의 반대측에 마련되며, 포크 형태의 연장부가 형성되어 샤프트(32)의 하부 양측을 각각 지지하여 샤프트(32)가 회전하지 않도록 고정한다.A through hole is formed in the hinge coupling part 341 , and is rotatably coupled to the hinge hole 333 formed in the roller guide holder 33 by a hinge bar 3411 . The spring support portion 342 is provided on one side of the hinge coupling portion 341 , and the spring support portion 342 is provided on one side of the roller guide holder 33 by the elastic force of the pressure spring 3421 interposed between the roller guide holder 33 . is pressed from the inside of The fork support part 343 is provided on the opposite side of the spring support part 342 with respect to the hinge coupling part 341, and fork-shaped extension parts are formed to support both lower sides of the shaft 32, respectively, so that the shaft 32 rotates. Fix it so it doesn't happen.

이와 같은 구성에 의해 회전접촉롤러(31)와 샤프트(32)를 교체하고자 할 때 스프링지지부(342)를 외측에서 가압하면 스프링(3421)이 압축되며 롤러가이드지지대(34)가 힌지결합부(341)을 중심으로 회전하게 되고, 샤프트(32)를 가압하던 프크지지부(343)가 샤프트(32)로부터 이격되어 샤프트(32)와 회전접촉롤러(31)를 롤러가이드홀더(33)로부터 용이하게 분리할 수 있게 된다. 즉, 원터치 방식에 의해 롤러가이드지지대(34)를 샤프트(32)로부터 해제하고 회전접촉롤러(31)와 샤프트(32)를 교체할 수 있다.When the rotating contact roller 31 and the shaft 32 are to be replaced by this configuration, when the spring support part 342 is pressed from the outside, the spring 3421 is compressed, and the roller guide supporter 34 is connected to the hinge coupling part 341 . ) is rotated, and the shaft support part 343 that presses the shaft 32 is spaced apart from the shaft 32 so that the shaft 32 and the rotation contact roller 31 are easily removed from the roller guide holder 33 . can be separated. That is, the roller guide support 34 can be released from the shaft 32 by a one-touch method, and the rotation contact roller 31 and the shaft 32 can be replaced.

한편, 동일한 측정단자를 이용하여 반복적인 측정이 이루어지게 되면 회전접촉롤러(31)와 샤프트(32) 사이에 마모가 발생하게 된다. 마모 발생으로 오염물질의 축적이 가중되며, 축적량이 증대될수록 회전접촉롤러(31)의 전기선호가 샤프트(32)에 전달되지 않는 문제를 야기한다.On the other hand, if repeated measurements are made using the same measurement terminal, wear occurs between the rotating contact roller 31 and the shaft 32 . The accumulation of contaminants is increased due to the occurrence of wear, and as the accumulation amount increases, the electric preference of the rotating contact roller 31 is not transmitted to the shaft 32 .

이러한 문제를 해결하기 위해 본 발명은 회전접촉롤러(31)의 윤활성을 증대시켜 회전접촉롤러(31)와 샤프트의 마모를 최소화하고 접촉저항의 변화를 최소화하였다.In order to solve this problem, the present invention minimizes wear of the rotating contact roller 31 and the shaft by increasing the lubricity of the rotating contact roller 31, and minimizes the change in contact resistance.

본 발명의 일실시예에 따른 회전접촉롤러(31)는 샤프트(32)와 접촉하는 내륜(311)과 전자부품에 접촉하는 외륜(312)으로 형성된다. 내륜(311)은 외륜(312)의 내측에 억지끼워맞춤에 의해 결합될 수 있다.The rotary contact roller 31 according to an embodiment of the present invention is formed of an inner ring 311 in contact with the shaft 32 and an outer ring 312 in contact with the electronic component. The inner ring 311 may be coupled to the inside of the outer ring 312 by an interference fit.

내륜(311)은 카본(Carbon) 또는 카본-금속 혼합물로 형성될 수 있다. 카본은 무게가 매우 가벼운 소재로 부식에 강하고 금속과의 접촉시 윤활 성능이 우수하다. 카본의 전기 전도성은 금속보다는 떨어지지만 내아크성(Arc-resistivity)도 뛰어나 전자부품의 전기적 특성 중 고전압 하에서 저항(IR)을 측정하는데 아크 발생에 따른 산화물의 생성을 억제하고 내마모 성능에 의한 치수 공차를 유지함으로써 초기 접촉저항을 장시간 유지하여 회전접촉롤러의 수명을 크게 연장시킬 수 있다. The inner ring 311 may be formed of carbon or a carbon-metal mixture. Carbon is a very light material and has excellent corrosion resistance and excellent lubrication performance when in contact with metal. Carbon's electrical conductivity is lower than that of metal, but it also has excellent arc-resistivity. By maintaining the tolerance, the initial contact resistance can be maintained for a long time, and the lifespan of the rotating contact roller can be greatly extended.

내륜(311)의 카본분말과 혼합되는 금속은 전기 전도성이 우수한 은(Ag), 구리(Cu) 또는 은-구리(Ag-Cu) 합금 중에서 어느 하나가 사용될 수 있다. 다만, 금속의 종류는 이에 한정되는 것은 아니며, 카본보다 전도성이 높은 금속 또는 금속 합금이면 이에 제한되지 않고 선택될 수 있다. 카본-금속 혼합물은 카본분말과 금속분말을 혼합한 후 압축성형 또는 분말야금법에 의한 소결합금으로 결합시켜 제조할 수 있다.As the metal mixed with the carbon powder of the inner ring 311, any one of silver (Ag), copper (Cu), or silver-copper (Ag-Cu) alloy having excellent electrical conductivity may be used. However, the type of metal is not limited thereto, and any metal or metal alloy having higher conductivity than carbon may be selected without being limited thereto. The carbon-metal mixture can be prepared by mixing carbon powder and metal powder and then bonding them by compression molding or sintering gold by powder metallurgy.

회전접촉롤러(31)의 외륜(312)은 내륜(311) 보다 전기 전도성이 우수한 금속이 선택될 수 있다. 예를 들어, 베릴륨동(Be-Cu), 구리(Cu), 은(Ag), 은-구리 합금(Ag-Cu), 은-구리-니켈 합금(Ag-Cu-Ni), 탄소강, 스테인레스 중 어느 하나가 사용될 수 있다.For the outer ring 312 of the rotating contact roller 31 , a metal having superior electrical conductivity than the inner ring 311 may be selected. For example, among copper beryllium (Be-Cu), copper (Cu), silver (Ag), silver-copper alloy (Ag-Cu), silver-copper-nickel alloy (Ag-Cu-Ni), carbon steel, stainless steel Either one may be used.

회전접촉롤러(31)의 외륜(312)은 샤프트(32)와의 윤활에 관계없이 전기 전도성이 우수한 금속과 도금처리를 통해서 외륜(312)과 커넥터핀(20)으로 연결되는 경로를 통해 전기신호를 검사장비에서 충분히 수신할 수 있다.The outer ring 312 of the rotary contact roller 31 transmits an electrical signal through a path connected to the outer ring 312 and the connector pin 20 through metal and plating with excellent electrical conductivity regardless of lubrication with the shaft 32 . It can be sufficiently received by the inspection equipment.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 회전접촉롤러(31)는 샤프트(32)와 접촉하는 내륜(311)은 윤활성이 좋은 카본 또는 카본-금속 혼합물로 형성하여 마모와 부식을 방지하고, 전자부품과 접촉하는 외륜(312)은 전기 전도성이 우수한 금속 또는 금속합금만으로 형성하여 전기신호를 충분히 수신할 수 있도록 할 수 있다.As described above, in the rotary contact roller 31 of the present invention, the inner ring 311 in contact with the shaft 32 is formed of carbon or a carbon-metal mixture with good lubricity to prevent wear and corrosion, The contacting outer ring 312 may be formed of only a metal or a metal alloy having excellent electrical conductivity to sufficiently receive an electrical signal.

본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정 예 또는 변형 예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.The present invention is not limited to the described embodiments, and it is apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, it should be said that such modifications or variations are included in the claims of the present invention.

10: 몸체 20: 커넥터핀
30: 프로브 조립체 31: 회전접촉롤러
32: 샤프트 33: 롤러가이드홀더
34: 롤러가이드지지대 341: 힌지결합부
342: 스프링지지부 343: 포크지지부10: body 20: connector pin
30: probe assembly 31: rotary contact roller
32: shaft 33: roller guide holder
34: roller guide support 341: hinge coupling part
342: spring support 343: fork support

Claims (4)

검사대상 전자부품의 전극과 전기적으로 접촉되며 회전하는 회전접촉롤러;
상기 회전접촉롤러가 회전 가능하도록 상기 회전접촉롤러의 중심에 삽입되어 상기 회전접촉롤러의 전기신호를 전달하는 샤프트;
상기 샤프트의 상부에 결합하여 상기 회전접촉롤러의 회전을 가이드하는 롤러가이드홀더; 및
상기 롤러가이드홀더에 중앙부가 회전가능하게 힌지결합하고, 상기 롤러가이드홀더 사이에 개재된 가압스프링의 탄성력에 의해 상기 샤프트를 가압하여 지지하며, 상기 샤프트와 회전접촉롤러 교체시 일측을 가압하여 상기 샤프트로부터 이격시키는 롤러가이드지지대;를 포함하고,
상기 롤러가이드지지대은 상기 롤러가이드홀더에 힌지결합하는 힌지결합부와, 상기 힌지결합부의 일측으로 연장되며 상기 롤러가이드홀더에 개재된 가압스프링의 탄성력에 의해 압력이 가해지는 스프링지지부와, 상기 힌지결합부의 타측으로 연장되며 포크 형태로 마련되어 상기 샤프트의 하부 양측을 지지하는 포크지지부로 구성되되, 상기 스프링지지부를 가압하면 상기 힌지결합부를 중심으로 회전하여 상기 포크지지부가 상기 샤프트로부터 이격되는 것을 특징으로 하는 유지보수가 용이한 전자부품 검사용 프로브 조립체.A rotating contact roller that is in electrical contact with the electrode of the electronic component to be inspected and rotates;
a shaft which is inserted into the center of the rotating contact roller so that the rotating contact roller is rotatable and transmits an electrical signal of the rotating contact roller;
a roller guide holder coupled to the upper portion of the shaft to guide the rotation of the rotary contact roller; and
A central portion is rotatably hinged to the roller guide holder, and the shaft is pressed and supported by the elastic force of a pressure spring interposed between the roller guide holder, and one side is pressed when replacing the shaft and the rotating contact roller to the shaft. Including; roller guide support spaced apart from
The roller guide support includes a hinge coupling part hingedly coupled to the roller guide holder, a spring support part extending to one side of the hinge coupling part and applying pressure by the elastic force of a pressure spring interposed in the roller guide holder, and the hinge coupling part It extends to the other side and is provided in the form of a fork and consists of a fork support for supporting both lower sides of the shaft, and when the spring support is pressed, it rotates around the hinge coupling part, and the fork support part is spaced apart from the shaft. Easy maintenance probe assembly for electronic component inspection. 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 회전접촉롤러는 상기 샤프트가 삽입되는 내륜은 카본으로 형성되고, 상기 내륜의 외측에 결합하여 검사대상 전자부품과 접촉하는 외륜은 금속으로 형성된 유지보수가 용이한 전자부품 검사용 프로브 조립체.According to claim 1,
In the rotary contact roller, an inner ring into which the shaft is inserted is formed of carbon, and an outer ring that is coupled to the outer side of the inner ring and contacts the electronic component to be inspected is formed of metal. 삭제delete
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102429423B1 (en) * 2022-05-25 2022-08-04 주식회사 에너피아 Resistance measuring apparatus for only heating film

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59183277U (en) * 1983-05-23 1984-12-06 伊藤　登 Roller skates with replaceable wheels
JPS62152884A (en) * 1985-12-27 1987-07-07 Tokyo Electric Co Ltd Line printer
JP4159473B2 (en) * 2001-11-14 2008-10-01 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド Roller contact with conductive brush
KR101043023B1 (en) 2010-01-28 2011-06-21 리노공업주식회사 Test socket for mlcc
KR101771995B1 (en) * 2015-12-15 2017-08-28 한전케이피에스 주식회사 Eddy current probe apparatus for testing blade
KR101977978B1 (en) 2019-03-23 2019-08-28 김상길 Inspection device for electronic part
KR101977979B1 (en) * 2019-03-23 2019-09-03 성연우 Inspection device for electronic part
JP2019152778A (en) * 2018-03-05 2019-09-12 株式会社ブリヂストン Conductive roller

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59183277U (en) * 1983-05-23 1984-12-06 伊藤　登 Roller skates with replaceable wheels
JPS62152884A (en) * 1985-12-27 1987-07-07 Tokyo Electric Co Ltd Line printer
JP4159473B2 (en) * 2001-11-14 2008-10-01 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド Roller contact with conductive brush
KR101043023B1 (en) 2010-01-28 2011-06-21 리노공업주식회사 Test socket for mlcc
KR101771995B1 (en) * 2015-12-15 2017-08-28 한전케이피에스 주식회사 Eddy current probe apparatus for testing blade
JP2019152778A (en) * 2018-03-05 2019-09-12 株式会社ブリヂストン Conductive roller
KR101977978B1 (en) 2019-03-23 2019-08-28 김상길 Inspection device for electronic part
KR101977979B1 (en) * 2019-03-23 2019-09-03 성연우 Inspection device for electronic part

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102429423B1 (en) * 2022-05-25 2022-08-04 주식회사 에너피아 Resistance measuring apparatus for only heating film

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