KR101015901B1 - Ｐｃｂ 모듈용 테스트 소켓 - Google Patents

Ｐｃｂ 모듈용 테스트 소켓 Download PDF

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Abstract

본 발명은 PCB 모듈용 테스트 소켓에 관한 것으로서, PCB 모듈이 접촉하는 접촉핀의 길이를 단축시키고 설치를 견고하게 유지하여 주파수 특성이 향상되도록 하는 것을 목적으로 한다.
이를 실현하기 위한 본 발명은 PCB 모듈이 몸체에 삽입되도록 형성한 슬롯과, 상기 슬롯의 하부 양측에 형성된 다수의 핀 수용홈에 삽입되는 "S"자형 접촉핀과, 상기 몸체의 좌우에 설치되어 PCB 모듈을 인출할 수 있도록 하는 인출 레버와, 몸체의 저면에 설치되어 접촉핀들을 고정하는 고정대와, PCB 모듈에 테스트 신호를 인가하도록 "S"자형 접촉핀에 연결 설치한 테스트 보드를 포함하여 이루어지는 PCB 모듈용 테스트 소켓에 있어서, 상기 슬롯의 핀 수용홈에 지지대에서 길이를 단축시켜 U자형으로 형성한 PCB 접촉단자부와, 상기 지지대의 하단에서 내측방향으로 형성되는 받침판에 테스트 보드에 접촉하도록 하는 테스트 보드 접촉단자부를 포함하는 "U"자형 접촉핀이 삽입되는 것을 특징으로 한다.
PCB 모듈, 테스트, 접촉핀, 신호, 소켓

Description

ＰＣＢ 모듈용 테스트 소켓{TEST SOCKET FOR PCB MODULE}
본 발명은 PCB 모듈용 테스트 소켓에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, PCB 모듈이 접촉하는 접촉핀의 길이를 단축시키고 설치를 견고하게 유지하여 주파수 특성이 향상되도록 하는 PCB 모듈용 테스트 소켓에 관한 것이다.
일반적으로 PCB 모듈은, PCB에 특정 기능을 수행하도록 집적 회로가 고밀도로 실장된 것을 말하며, 이 PCB 모듈의 전기적인 테스트를 위하여 테스트 보드 상에 PCB 모듈의 고정 및 전기신호의 경로 역할을 하는 것이 테스트 소켓이다.
이러한 테스트 소켓에는, 도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, PCB 모듈(4)이 삽입되도록 몸체(6)에 슬롯(8)이 형성되어 있다. 상기 슬롯(8)에는 하부 양측에 형성된 핀 수용홈(10)에 "S"자형 접촉핀(12)들이 삽입되어 있다.
그리고 상기한 몸체(6) 좌우에는, PCB 모듈(4)을 인출할 수 있게 인출 레버(16)가 설치되어 있다. 또한, 몸체(6)의 저면에는 "S"자형 접촉핀(12)들을 고정하는 고정대(18)가 결합되어 있다.
상기한 "S"자형 접촉핀(12)들은, PCB 모듈(4)에 테스트 신호를 인가하도록 테스트 보드(20)가 연결 설치된다.
상기 "S"자형 접촉핀(12)들은, 각각 한 쌍씩 구성되며, 몸체(6)의 핀 수용홈(10) 내부에 간격을 두고 이격되고, 서로 마주하도록 삽입된다. 상기 "S"자형 접촉핀(12)은, 탄성력이 유지되도록 2회에 걸쳐 구부려져 있으며, PCB 모듈(4)과 접촉이 용이하도록 일측 끝단에 PCB 접촉단자부(22)가 형성되어 있다.
종래의 상기 "S"자형 접촉핀(12a)은, 핀 수용홈(10)에 밀착되고, 고정편(24)이 고정대(18)로 고정된다. 상기한 고정편(24)에는, 내측을 향해 수평으로 연장되어 구부려진 테스트 보드 접촉단자부(26)가 형성되어 테스트 보드(20)와 접촉이 용이하도록 하고 있다.
종래의 다른 "S"자형 접촉핀(12b)은, 도 3에 도시한 바와 같이, 핀 수용홈(10)의 조립돌기(28)에 조립홈(30)으로 조립홈편(32)이 삽입 설치되도록 되어 있다. 그리고 "S"자형 접촉핀(12b)에는, 조립홈편(32)에서 내측으로 경사지고, 끝이 구부려진 테스트 보드 접촉단자부(34)가 형성되어 있다.
한편, 테스트 소켓에는 테스트 보드(20)가 테스트 보드 접촉단자부(34)에 접촉 설치되도록 몸체(6)의 저면에 설치된다. 도 2에 도시한 바와 같이, 몸체(6)의 핀 수용홈(10)에 "S"자형 접촉핀(12)을 고정하도록 하부에 결합되는 고정대(18)에는, "S"자형 접촉핀(12)의 고정편(24)을 고정하도록 고정턱(36)이 형성되어 있다.
도 1 내지 도 3에 도시한 바와 같이, 테스트 소켓의 슬롯(8)에 테스트 할 PCB 모듈(4)을 삽입한다. 상기 PCB 모듈(4)은, 슬롯(8)의 핀 수용홈(10)에 마주보도록 삽입된 한 쌍의 "S"자형 접촉핀(12)들의 사이에 위치하여 "S"자형 접촉핀(12)들과 접촉한다.
상기한 "S"자형 접촉핀(12)들은, 구부러져 형성된 PCB 접촉단자부(22)가 탄성력을 유지한 상태에서 후퇴되어 양측으로 벌어졌다가 삽입되는 PCB 모듈(4)과 접촉하게 된다.
이어서, "S"자형 접촉핀(12)들의 테스트 보드 접촉단자부(26)(34)는, 테스트 보드(20)의 테스트 신호를 PCB 모듈(4)에 전달한다. 상기 PCB 모듈(4)은, 테스트 신호를 "S"자형 접촉핀(12)들을 통해 다시 테스트 보드(20)에 응답 신호를 전달하는 과정을 통해 테스트가 이루어진다.
그런데, 상기한 테스트 소켓은, PCB 모듈(4)의 삽입 시 "S"자형 접촉핀(12)의 테스트 보드 접촉단자부(26)(34)의 탄력둔화로 테스트 보드 접촉단자부(26)(34)와 테스트 보드(20)사이에서 유동 접촉 저항이 발생하는 문제점이 있다.
또한, 종래의 테스트 소켓은, 테스트에 의한 PCB 모듈(4)의 반복적인 삽입에 의하여 "S"자형 접촉핀(12)에 형성된 PCB 접촉단자부(22)의 탄성력이 둔화되어 PCB 모듈(4)과 접촉불량이 발생하게 되는 문제점이 있다.
또한, 두께가 다른 PCB 모듈(4)의 반복적인 삽입에 의하여 "S"자형 접촉핀(12)이 쉽게 파손될 우려가 있다.
또한, "S"자형 접촉핀(12b)에 조립홈편(32)을 형성함에 따라 핀 수용홈(10)의 조립돌기(28)에 대한 조립이 불편하고, 조립돌기(28)의 마모시 이탈 우려가 있는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 본 발명의 목적은, PCB 모듈이 접촉하는 "U"자형 접촉핀의 PCB 접촉단자부 길이를 짧게 하여 신호의 이동 경로를 단축함으로써 주파수특성을 향상시키는데 있다.
본 발명의 다른 목적은, PCB 접촉단자부의 단순화에 의한 내구성 향상을 통해 PCB 모듈과의 접촉성을 향상시키는데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은, "U"자형 접촉핀의 테스트 보드 접촉단자부를 접촉성 향상구조로 개선하여 테스트 보드에 대한 접촉성을 향상시키는데 있다.
상기한 기술적 과제를 달성하기 위하여 본 발명의 PCB 모듈용 테스트 소켓은, PCB 모듈이 몸체에 삽입되도록 형성한 슬롯과, 상기 슬롯의 하부 양측에 형성된 다수의 핀 수용홈에 삽입되는 접촉핀과, 상기 몸체의 좌우에 설치되어 PCB 모듈을 인출할 수 있도록 하는 인출 레버와, 몸체의 저면에 설치되어 상기 접촉핀들을 고정하는 고정대와, PCB 모듈에 테스트 신호를 인가하도록 상기 접촉핀에 연결 설치한 테스트 보드를 포함하여 이루어지는 PCB 모듈용 테스트 소켓에 있어서, 상기 접촉핀은, 핀끝과 접촉탑부로 이루어져 PCB와 접촉하는 PCB 접촉단자부와; 상기 PCB 접촉단자부의 하부에서 일정 곡률로 구부려져 탄성을 갖도록 형성되는 하단지지부와; 상기 하단지지부와 연결되고 핀 수용홈의 측벽홈에 삽입되어 고정대의 받침턱으로 지지되는 지지대와; 상기 지지대의 하단에서 연장 형성되어 고정대로 고정되는 받침판과; 상기 받침판의 하부에서 아래로 연장된 연장부와 상기 연장부에서 수평으로 절곡된 수평접촉부로 이루어져 테스트 보드와 연결되는 테스트 보드 접촉단자부를 포함하고, 상기 접촉핀의 PCB 접촉단자부는 몸체의 돌출부에 의해 지지되고, 상기 지지대는 핀 수용홈의 측벽홈에 삽입되고 고정대의 받침턱으로 지지되며, 상기 받침판은 몸체의 고정대에 의해 지지되고, 상기 테스트 보드 접촉단자부의 수평접촉부는 테스트 보드에 조립 지지됨으로써, 접촉핀의 하단지지부가 탄성을 유지하면서 접촉핀의 상부, 측부 및 하부가 몸체 및 테스트 보드에 안정적으로 고정되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 테스트 보드 접촉단자부는, 지지대의 하단에서 일정 높이를 갖는 위치에서 연장 형성되는 경사부와, 상기 경사부에서 지지대를 향해 끝이 구부려진 곡률접촉부에 의하여 "C"자 형태로 형성되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 "U"자형 접촉핀은, 신호의 이동거리를 단축하여 주파수특성이 향상되도록 "S"자형 접촉핀 대비 지지대에서 PCB 접촉단자부까지의 길이를 짧게 형성하는 것을 특징으로 한다.
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본 발명에 의하면 "U"자형 접촉핀의 지지대에 PCB 접촉단자부까지의 길이를 짧게 형성함으로써 신호의 이동거리가 단축되어 주파수특성이 향상되는 효과가 있다.
또한, 종래의 "S"자형 접촉핀에 형성된 돌기들을 삭제하면서 PCB 접촉단자부를 "U"자 형태로 접촉핀을 형성함에 따라 제조원가가 줄어 조립성과, 생산성을 향상할 수 있는 효과가 있다.
또한, "U"자형 접촉핀의 완충을 통해 접촉시켜 PCB 모듈의 콘택 불량을 줄일 수 있는 효과가 있다.
이하, 본 발명의 바람직한 일 실시예를 첨부한 도면에 의하여 더욱 상세하게 설명한다 (종래와 동일한 구성부분에 대한 부호는 동일하게 부여한다).
본 발명에 따르면 PCB 모듈용 테스트 소켓에는, 도 4 및 도 5에 도시한 바와 같이, 몸체(6)에 슬롯(8)이 형성되어 있다. 슬롯(8)은, PCB 모듈(4)이 삽입되며, 테스트 신호가 인가된다.
상기한 슬롯(8)에는, 하부 양측에 다수의 핀 수용홈(40)을 형성하고 있다. 상기 핀 수용홈(40)에는, PCB 모듈(4)에 대한 접촉이 용이하도록 다수의 "U" 자형 접촉핀(42)이 삽입되어 있다.
또한, 상기 몸체(6)에는, 좌우에 PCB 모듈(4)을 인출할 수 있도록 인출 레버(16)가 설치되어 있다. 상기 인출 레버(16)를 누르면 슬롯(8)에서 PCB 모듈(4)이 분리된다.
상기 몸체(6)의 저면에는, "U" 자형 접촉핀(42)들을 고정하는 고정대(18)가 나사로 체결된다. 상기 "U" 자형 접촉핀(42)에는, PCB 모듈(4)에 테스트 신호를 인가하는 테스트 보드(20)가 연결 설치되어 있다.
상기 "U" 자형 접촉핀(42)은, 도 5 및 도 6에 도시한 바와 같이, 슬롯(8)에 형성되는 핀 수용홈(40)의 측벽홈(44)에 조립되는 지지대(46)가 형성되어 있다. 상기한 지지대(46)는, 핀 수용홈(40)의 벽면과 접촉되어 PCB 모듈(4) 삽입 시, 핀 수용홈(40)의 벽면에 대하여 "U" 자형 접촉핀(42)이 지지되도록 한다.
상기 지지대(46)는, 핀 수용홈(40) 및 고정대(18)의 받침턱(48)에 밀착 고정되도록 전체 동일한 폭으로 형성된다.
또한, 상기 지지대(46)에는, 하부에서 일정 곡률로 구부러진 하단지지부(50)가 형성되어 있다. 상기 하단지지부(50)는, 탄성력을 갖도록 "U"자형으로 구부러져 있고, 상단에는, PCB 모듈(4)에 대한 접촉이 용이하도록 하는 PCB 접촉단자부(52)가 형성되어 있다.
상기 PCB 접촉단자부(52)는, 핀 수용홈(40)의 입구에 걸리도록 핀끝(54)이 절곡되어 있으며, 핀끝(54)의 아래에 PCB 모듈(4)이 접촉하는 접촉탑부(56)가 돌출 되어 있다.
이와 같은 PCB 접촉단자부(52)는, PCB 모듈(4)의 삽입 시 양측으로 벌어짐과 동시에 PCB 모듈(4)의 양측을 압박할 수 있도록 PCB 모듈(4)의 폭보다 작게 형성된다.
그리고 상기 지지대(46)의 하단에는, 몸체(6)의 저면에 나사로 결합되는 고정대(18)로 견고하게 고정되도록 일측으로 연장되는 받침판(58)이 형성되어 있다. 이를 위해 고정대(18)에는, 지지대(46)를 밑에서 용이하게 받칠 수 있도록 지지대(46)가 닿는 부분에 받침턱(48)이 형성되어 있다.
이러한 상기 받침판(58)에는, 테스트 보드(20)에 접촉이 용이하도록 테스트 보드 접촉단자부(60)가 형성되어 있다.
즉, 도 6에 도시한 바와 같이, 상기한 테스트 보드 접촉단자부(60a)는, 받침판(58)에서 연장부(62)로 테스트 보드(20)까지 연장되고, 연장부(62)에 수평접촉 부(64)를 형성하여 접촉이 용이하도록 하고 있다.
한편, 도 7에 도시한 바와 같이, "U" 자형 접촉핀(14)에 형성되는 테스트 보드 접촉단자부(60b)는, 테스트 보드 접촉단자부(60a)의 다른 실시예이다.
상기한 테스트 보드 접촉단자부(60b)에는, 지지대(46)의 하단에서 일정 높이를 갖는 위치에서 연장되는 경사부(66)가 형성되어 있다. 그리고 상기 경사부(66)는, 지지대(46)를 향해 끝이 구부려진 곡률접촉부(68)가 형성되어 있다. 상기한 테스트 보드 접촉단자부(60b)는, 테스트 보드(20)와의 접촉이 정확히 유지되도록 지지대(46)의 하부에 "C"자 형태로 형성한 것이다.
그리고 "U" 자형 접촉핀(42)에서 하단지지부(50)를 "U"자형으로 길이를 짧게 구부려 형성한 이유는, PCB 모듈(4)의 삽입 시 완충 작용이 유지되도록 하고, PCB 모듈(4)에서 테스트 보드(20)까지 신호의 이동거리를 단축시켜 주파수 특성이 향상되도록 한 것이다.
이하, 상기한 바와 같이 이루어지는 본 발명의 작용을 설명한다.
먼저, 테스트 할 PCB 모듈(4)을 PCB 모듈용 테스트 소켓의 슬롯(8)에 삽입한다. 이에 따라 PCB 모듈(4)은, "U" 자형 접촉핀(42)들 사이에 삽입되어 접촉 상태가 된다.
이때 "U" 자형 접촉핀(42)에 형성되고 있는 PCB 접촉단자부(52)는, 핀 수용홈(40)의 벽면에 지지대(46)로 지지되면서 보유한 탄성력으로 PCB 모듈(4)과 접촉을 유지한다.
상기한 PCB 모듈(4)의 삽입으로 테스트 보드(20)는, "U" 자형 접촉핀(42)을 통해 전기적으로 연결된 PCB 모듈(4)에 테스트신호를 전달한다. 이와 같이 테스트 신호를 받은 PCB 모듈(4)은, 그 응답 신호를 "U" 자형 접촉핀(42)을 통해 다시 테스트 보드(20)에 전달하여 테스트가 이루어지도록 한다.
이와 같이 PCB 모듈용 테스트 소켓은, PCB 모듈(4)의 테스트에 필요한 테스트 신호를 안정적으로 정확히 전달한다. 그리고 테스트 소켓은, PCB 모듈(4)에 대한 테스트 신호에 대한 통신을 신속하고 정확히 유지한다.
또한, 테스트 소켓은, PCB 모듈(4)의 테스트를 위한 삽입 시 유동 접촉 저항을 "U" 자형 접촉핀(42)이 완충 작용을 통해 방지한다. 그리고 상기 "U" 자형 접촉핀(42)의 테스트 보드 접촉단자부(60)를 통해서는 테스트 보드(20)와의 접속을 정확히 유지한다.
본 발명은 상기에 설명되고 도면에 예시된 것에 의해 한정되는 것은 아니며, 다음에 기재되는 청구범위 내에서 더 많은 변형 및 변용예가 가능한 것임은 물론이다.
본 발명은 PCB 모듈용 테스트 소켓 내에 설치되는 "U"자형 접촉핀을 단순한 형태로 개선하여 주파수 특성을 향상하면서 조립성과 원가절감이 이루어지도록 한 것으로, 전자부품 산업분야에 널리 이용될 수 있다.
도 1은, 종래의 테스트 소켓을 나타낸 도면.
도 2는, 도 1의 테스트 소켓에 대한 접촉핀의 조립예를 도시한 도면.
도 3은, 도 1의 테스트 소켓에 대한 다른 접촉핀의 조립예를 도시한 도면.
도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 소켓을 나타낸 도면.
도 5는, 도 4의 테스트 소켓에 대한 접촉핀의 조립을 도시한 도면.
도 6은, 도 5에 나타낸 접촉핀을 도시한 사시도.
도 7은, 도 6에 나타낸 접촉핀의 다른 실시예를 도시한 도면.
도 8은, 본 발명의 테스트 소켓에 PCB 모듈이 삽입된 상태를 도시한 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
4:PCB 모듈(Module) 6:몸체
8:슬롯(Slot) 16:인출 레버(Lever)
18:고정대 20:테스트 보드(Test Board)
40:핀 수용홈 42:접촉핀(Pin)
46:지지대 48:받침턱
50:하단지지부 52:PCB 접촉단자부
54:핀(Pin)끝 56:접촉탑(Top)부
58:받침판 60:테스트 보드 접촉단자부
62:연장부 64:수평접촉부
66:경사부 68:곡률접촉부

Claims (6)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. PCB 모듈(4)이 몸체(6)에 삽입되도록 형성한 슬롯(8)과, 상기 슬롯(8)의 하부 양측에 형성된 다수의 핀 수용홈(40)에 삽입되는 접촉핀(42)과, 상기 몸체(6)의 좌우에 설치되어 PCB 모듈(4)을 인출할 수 있도록 하는 인출 레버와, 몸체의 저면에 설치되어 상기 접촉핀(42)들을 고정하는 고정대(18)와, PCB 모듈(4)에 테스트 신호를 인가하도록 상기 접촉핀(42)에 연결 설치한 테스트 보드(20)를 포함하여 이루어지는 PCB 모듈용 테스트 소켓에 있어서,
    상기 접촉핀(42)은,
    핀끝(54)과 접촉탑부(56)로 이루어져 PCB와 접촉하는 PCB 접촉단자부(52)와;
    상기 PCB 접촉단자부(52)의 하부에서 일정 곡률로 구부려져 탄성을 갖도록 형성되는 하단지지부(50)와;
    상기 하단지지부(50)와 연결되고 핀 수용홈(40)의 측벽홈(44)에 삽입되어 고정대(18)의 받침턱(48)으로 지지되는 지지대(46)와;
    상기 지지대(46)의 하단에서 연장 형성되어 고정대(18)로 고정되는 받침판(58)과;
    상기 받침판(58)의 하부에서 아래로 연장된 연장부(62)와 상기 연장부(62)에서 수평으로 절곡된 수평접촉부(64)로 이루어져 테스트 보드(20)와 연결되는 테스트 보드 접촉단자부(60)를 포함하고,
    상기 접촉핀(42)의 PCB 접촉단자부(52)는 몸체(6)의 돌출부에 의해 지지되고, 상기 지지대(46)는 핀 수용홈(40)의 측벽홈(44)에 삽입되고 고정대(18)의 받침턱(48)으로 지지되며, 상기 받침판(58)은 몸체(6)의 고정대(18)에 의해 지지되고, 상기 테스트 보드 접촉단자부(60)의 수평접촉부(64)는 테스트 보드(20)에 조립 지지됨으로써, 접촉핀(42)의 하단지지부(50)가 탄성을 유지하면서 접촉핀(42)의 상부, 측부 및 하부가 몸체(6) 및 테스트 보드(20)에 안정적으로 고정되는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 소켓.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 테스트 보드 접촉단자부(60b)는, 지지대(46)의 하단에서 일정 높이를 갖는 위치에서 연장 형성되는 경사부(66)와, 상기 경사부(66)에서 지지대(46)를 향해 끝이 구부려진 곡률접촉부(68)에 의하여 "C"자 형태로 형성되는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 소켓.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 접촉핀(42)은, 신호의 이동거리를 단축하여 주파수특성이 향상되도록 "S"자형 접촉핀 대비 지지대(46)에서 PCB 접촉단자부(52)까지의 길이를 짧게 형성하는 것을 특징으로 하는 PCB 모듈용 테스트 소켓.
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