KR100999565B1 - 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더 - Google Patents

솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더 Download PDF

Info

Publication number
KR100999565B1
KR100999565B1 KR1020090015570A KR20090015570A KR100999565B1 KR 100999565 B1 KR100999565 B1 KR 100999565B1 KR 1020090015570 A KR1020090015570 A KR 1020090015570A KR 20090015570 A KR20090015570 A KR 20090015570A KR 100999565 B1 KR100999565 B1 KR 100999565B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
gender
block
guide
ssd
slide block
Prior art date
Application number
KR1020090015570A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100096612A (ko
Inventor
유장열
Original Assignee
신종희
(주)마이크로컨텍솔루션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 신종희, (주)마이크로컨텍솔루션 filed Critical 신종희
Priority to KR1020090015570A priority Critical patent/KR100999565B1/ko
Publication of KR20100096612A publication Critical patent/KR20100096612A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100999565B1 publication Critical patent/KR100999565B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)

Abstract

본 발명은 케이스가 없는 PCB 타입 제품의 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk, SSD)를 테스트하기 위해 테스터기와 연결하는 젠더를 구비한 가변형 테스트 젠더로 SSD를 테스트하기 위해 가변형 테스트 젠더에 수용하면서 장착하여 테스터기와 연결 후 테스트 하는 것으로 SSD 제품의 폭 넓이에 따라 가변형 테스트 젠더의 슬라이드블럭을 가변시켜 다양한 SSD를 장착시킬 수 있는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더를 제공하는 데 있다.
솔리드 스테이트 디스크, SSD, 젠더, 테스터기, 테스트, PCB, 커넥터

Description

솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더{Variableness style test Gender to test solid state disk}
본 발명은 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더에 관한 것으로 더욱 상세하게는 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk, SSD)를 테스트하기 위해 테스터기와 연결하는 젠더를 구비한 가변형 테스트 젠더에 SSD를 테스트하기 위해 SSD 제품의 폭 넓이에 따라 가변형 테스트 젠더의 슬라이드블럭을 가변시켜 다양한 SSD를 장착시킬 수 있는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더에 관한 것이다.
일반적으로 케이스가 없는 PCB 타입 제품의 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk, SSD)를 테스트하는 SSD 테스터기는 도 1에 도시한 바와 같이 1개의 종류의 SSD 제품밖에 적용 못하는 일체형 테스터기(10)로 SSD 제품의 폭과 같은 변경이 되면 매번 SSD 제품에 맞는 SSD 일체형 테스터기(10)를 신규 제작하여야 하여 제작하는 비용과 시간에 대한 손실이 발생하는 문제점이 있다.
그리고, 일체형 테스터기(10)로 분리가 불가능하여 테스트 하는 젠더의 불량 에 있어서 일체형 테스터기를 폐기해야야 함에 비용 손실이 큰 문제점이 있다.
또한, 기존의 SSD 일체형 테스터기(10)는 1.8인치에서 2.5인치로 연결하는 젠더를 사용하고 있으나 2.5인치 커넥터를 사용함에 크기 변화에 따른 대응이 어려우며, 비용에서 문제점이 발생한다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 원가 절감과 다양한 종류의 SSD 제품에 적용하기 위하여 가변형 테스트 젠더의 프레임부와 젠더블럭을 탈부착 가능하도록 하면서 프레임부에서 슬라이드블럭의 간격 조절에 의해 다양한 SSD 제품 사이즈에 대한 대응이 가능하며, Interface PCB부로 구성된 젠더블럭은 SSD 사이즈에 맞쳐진 슬라이드블럭의 변화에 맞추어 제작되어 결합이 가능하게 하여 탈부착의 용이성과 이탈 방지를 위한 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더를 제공함을 목적으로 한다.
이러한 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 가변형 테스트 젠더는 SD를 테스트하기 위해 수용하면서 장착하는 것으로 'ㅂ'형상의 일측 사각형상의 모서리측 각각에 가이드홈을 형성하면서, 타측의 양측에는 길이방향으로 돌출되어 내부에 홈 공간을 형성한 가이드 존으로 구성된 프레임부와 상기 프레임부의 가이드홈 에서 양측으로 수직하게 각각 결합되어 내측부로 유동되는 간격조절이 가능한 것으로 일측부에 가이드존과 같은 방향으로 돌출된 가이드 돌출부를 형성한 슬라이드블럭과 상기 프레임부의 가이드 존의 내부 홈 공간으로 유입되어 슬라이드블럭의 가이드 돌출부와 결합을 이루면서 탈부착이 가능하도록 끼움부와 후크부의 구조를 가지면서 SSD를 테스트 연결하는 젠더를 구비한 젠더블럭로 이루어진 구조이다.
이때, 상기 프레임부는 'ㅂ'형상으로 SSD가 유입되는 일측에 상하, 좌우 모서리측에서 내측방향으로 향하는 소정의 두께로 길이방향으로 길게 통공된 가이드홈과 상기 프레임부 타측의 양측에는 길이방향으로 길게 돌출되면서 내부로 젠더블럭이 진입할 수 있는 소정의 홈 공간을 형성한 진입로의 내부로 진입한 젠더블럭을 이탈 방지하는 핀돌기를 형성한 가이드존로 이루어지 구조이다.
또한, 상기 슬라이드블럭의 저면 양단에 나사홈으로 구성된 핀홈이 형성되며, 슬라이드블럭이 안착된 프레임부 하단으로 가이드홈의 상하 양측에 각각 삽입되면서 핀홈에 조립되어 가이드홈을 따라 이동하도록 가이드하는 슬라이드블럭의 저면 양단에 조립되는 슬라이드핀나사와 상기 프레임부의 SSD가 유입되는 측으로 SSD가 원할한 진입을 돕기 위해 길이방향으로 이동을 유도하는 슬라이드홈과 상기 프레임부의 가이드존 측에서 가이드존과 같은 방향으로 소정의 길이로 돌출된 가이드돌출부로 구성된 구조이다.
그리고, 상기 젠더블럭의 끼움부는 'ㄷ'형상의 양측에서 길이방향으로 돌출되게 형성되면서 전방에 슬라이드블럭의 가이드돌출부를 내입할 수 있는 소정의 공간을 형성한 수납공간부와 상기 젠더블럭의 후크부는 끼움부의 외측 양단에 탄성편 으로 형성된 것으로 끼움부와 같은 방향으로 돌출되어 경사면을 형성하면서 걸림홈으로 연이어지게 형성한 구조이다.
상기와 같은 본 발명에 따르면, 가변형 테스트 젠더의 프레임부와 젠더블럭을 탈부착 가능하도록 하면서 프레임부에서 슬라이드블럭의 간격 조절에 의해 다양한 SSD 제품 사이즈에 대한 대응이 가능하여 가변형 테스트 젠더로 다양한 SSD를 수용하여 테스트가 가능함으로써 원가 절감과 탈부착의 용이성과 이탈 방지를 위한 효과가 있다.
또한, 가변형 테스트 젠더에 다양한 SSD가 사용 가능하여 교체작업에 대한 시간 손실이 적으며, 프레임부에 탈부착되는 젠더블럭에 대한 사이즈 별 구성만으로 비용이 절감되는 효과가 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, SSD를 테스트하기 위해 수용하면서 장착하는 것으로 'ㅂ'형상의 일측 사각형상의 모서리측 각각에 가이드홈을 형성하면서, 타측의 양측에는 길이방향으로 돌출되어 내부에 홈 공간을 형성한 가이드 존으로 구성된 프레임부와;
상기 프레임부의 가이드홈에서 양측으로 수직하게 각각 결합되어 내측부로 유동되는 간격조절이 가능한 것으로 일측부에 가이드존과 같은 방향으로 돌출된 가 이드 돌출부를 형성한 슬라이드블럭과;
상기 프레임부의 가이드 존의 내부 홈 공간으로 유입되어 슬라이드블럭의 가이드 돌출부와 결합을 이루면서 탈부착이 가능하도록 끼움부와 후크부의 구조를 가지면서 SSD를 테스트 연결하는 젠더를 구비한 젠더블럭;으로 구성되어 가변형 테스트 젠더로 이루어진 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더를 제공함으로써 달성하였다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시 예를 첨부한 도면에 의하여 더욱 상세하게 설명한다.
이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 하나의 실시 예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
도 2는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 분해사시도이며, 도 3은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 SSD 결합을 나타낸 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 결합 조립된 가변형 테스트 젠더를 나타낸 도면이다.
도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 가변형 테스트 젠더(200)는 케이스가 없는 PCB 타입 제품의 다양한 종류의 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk, SSD)(20) 제품에 적용하기 위하여 가변형 테스트 젠더(200)에 구성된 SSD(20)를 수용하여 장착하는 프레임부(120)와 테스트 연결하는 젠더(160)를 구비한 젠더블럭(170)을 탈부착 가능하도록 하면서 프레임부(120)에서 슬라이드블럭(130)의 간격 조절에 의해 다양한 SSD(20) 제품 사이즈에 대한 대응이 가능한 것이다.
또한, 상기 가변형 테스트 젠더(200)에 구성된 젠더블럭(170)은 프레임부(120)와 슬라이드블럭(130)의 간격에 맞추어 제작되어 SSD(20)의 사이즈에 따라 결합이 가능한 것이다.
이러한, 상기 가변형 테스트 젠더(200)의 프레임부(120)는 SSD(20)를 테스트하기 위해 수용하면서 장착하는 것으로 'ㅂ'형상의 일측 사각형상의 모서리측 각각에 소정의 두께로 가이드홈(102)을 형성하면서, 타측의 양측에는 길이방향으로 돌출되어 내부에 홈 공간을 형성한 가이드존(110)으로구성된 것이다.
아울러, 상기 프레임부(120)에는 도 5에 도시한 바와 같이 SSD(20)가 유입되는 일측에 상하, 좌우 모서리측에서 내측방향으로 향하는 소정의 두께로 길이방향으로 길게 통공된 가이드홈(102)이 구성된다.
상기 가이드홈(102)은 프레임부(120)의 일측에서 사각형태의 모서리에 각각 소정의 길이로 통공을 형성하여 나란히 위치한 것이다.
그리고, 상기 프레임부(120)의 타측에 위치하여 사각형태로 모서리에 위치한 가이드홈(102)의 일측에서 연장되게 돌출되는 것으로 양측에 길이방향으로 길게 돌출되면서 내부로 젠더블럭(170)이 진입할 수 있는 소정의 홈 공간을 형성한 진입로의 내부로 진입한 젠더블럭(170)을 이탈 방지하는 것으로 상기 진입로의 내부 공간에 핀돌기(112)를 형성한 가이드존(110)으로 구성된 것이다.
한편, 상기 프레임부(120)와 결합되어 탈부착이 가능한 슬라이드블럭(130)은 프레임부(120)의 가이드홈(102)에서 양측으로 수직하게 각각 결합되어 내측부로 유동되는 간격조절이 가능한 것으로 일측부에 가이드존(110)과 같은 방향으로 돌출된 가이드 돌출부(132)를 형성한 것이다.
즉, 상기 슬라이드블럭(130)은 도 6에 도시한 바와 같이 막대형상을 하면서 프레임부(120)의 양측에 각각 장착되어 프레임부(120)의 가이드홈(102)을 따라 양측에서 좌우 움직임을 가지는 것이다.
이때, 상기 슬라이드블럭(130)의 저면 양단에 나사홈으로 구성된 핀홈(134)이 형성되며, 슬라이드블럭(130)이 안착된 프레임부(120) 하단으로 가이드홈(102)의 상하 양측에 각각 슬라이드핀나사(136)가 삽입되면서 핀홈(134)에 조립되어 가이드홈(102)을 따라 이동하도록 가이드하는 슬라이드블럭(130)의 저면 양단에서 조립되어 가이드홈(102)을 따라 이동하도록 가이드하는 것이다.
그리고, 상기 슬라이드블록(130)이 프레임부(120)에 장착되어 프레임부(120)의 SSD(20)가 유입되는 측으로 SSD(20)가 원할한 진입을 돕기 위해 슬라이드블록(130)의 길이방향으로 이동 공간을 마련하여 SSD(20)의 이동을 유도하는 슬라이드홈(138)이 형성된다.
또한, 상기 프레임부(120)의 가이드존(110) 측에서 가이드존(110)과 같은 방향으로 소정의 두께를 가져 소정의 길이로 돌출된 가이드 돌출부(132)가 구성된다.
이같이, 상기 슬라이드블럭(130)은 프레임부(120)의 일측 네모서리에 형성된 가이드홈(102)에서 상하로 위치한 가이드홈(102) 양측에 각각 슬라이드블럭(130)의 핀홈(134)에 슬라이드핀나사(136)가 저면에서 삽입되면서 프레임부(120)의 양측에 각각 슬라이드블록(130)이 결합되어 프레임부(120)의 양측에 위치한 슬라이드블럭(130)이 가이드홈을 따라 내측방향으로 간격 조절이 가능하게 유동되는 것이다.
이것은, 상기 프레임부(120)에서 슬라이드블럭(130)이 직선왕복 움직임을 가져 프레임부(120)와 슬라이드블럭(130)에 장착되는 SSD(20)의 사이즈(Size)에 따라 대응할 수 있게 하는 것이다.
아울러, 상기 프레임부(120)에 슬라이드블럭(130)이 조립된 상태에서 프레임부(120)의 가이드존(110)의 내부 홈 공간으로 SSD(20)를 테스트 연결하는 젠더(160)를 구비한 젠더블럭(170)이 유입되어 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)와 결합을 이루는 것으로 상기 젠더블럭(170)은 탈부착이 가능하도록 끼움부(140)와 후크부(150)의 구조를 가지는 것이다.
여기서, 상기 SSD(20)를 테스트 연결하는 젠더블럭(170)의 젠더(160)는 회로보드(Inter PCB)에 직접 1.8인치 커넥터(162)에서 2.5인치 PAD(164)로 연결하는 젠더로 구성된 것이다.
이때, 기존 사용 되고 있는 Inter PCB는 1.8”2.5” Connector를 적용 비용 과 SSD의 사이즈(Size)변화에 대응 하기 위해 2.5 Connector를 제거하고, 상기 젠더블럭의 젠더 Inter PCB에 직접 2.5 Connector를 대응 할 수 있도록 2.5인치 PAD(1640를 형성하여 비용 절감을 한다.
아울러, 상기 젠더블럭(170)의 끼움부(140)는 도 7에 도시한 바와 같이 'ㄷ'형상의 양측에서 길이방향으로 돌출되게 형성되면서 전방에 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)를 내입할 수 있는 소정의 공간을 형성한 수납공간부(142)이 존재한다.
상기 젠더블럭(170)의 후크부(150)는 끼움부(140)의 외측 양단에 탄성편으로 형성된 것으로 끼움부(140)와 같은 방향으로 돌출되어 경사면을 형성하면서 걸림홈(152)으로 연이어지게 형성한 것이다.
아울러, 도 8은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 젠더블럭이 일측으로 조립되는 것을 나타낸 도면이고, 도 9는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 프레임바에 젠더블럭의 결합방식을 나타낸 도면이다.
상기 도면에 도시된 바와 같이, 상기 젠더블럭(170)은 프레임부(120)에서 탈부착이 가능한 것으로 끼움부(140)가 프레임부(120)의 가이드존(110) 내부공간으로 진입하여 이동하면서 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)를 수납공간부(142)로 내입하여 안착함과 동시에 후크부(150)의 걸림홈(152)이 가이드존(110)의 핀돌기(112)에 끼워져 안착되어 고정되는 것이다.
이와 같이, 상기 프레임부(120) 위에서 양측으로 이동이 가능한 슬라이드블 럭(130)이 각각 조립되면서 프레임부(120)의 일측으로 탈부착이 가능한 젠더블럭(170)이 조립을 이루어 가변형 테스트 젠더(200)가 구성되는 것이다.
이렇게 조립된 가변형 테스트 젠더(200)에서 상기 프레임부(120)에 결합된 젠더블럭(170)을 분해시 결합 반대 방향으로 잡아당기면 후크부(150)의 걸림홈(152)이 핀돌기(112)에서 이탈되어 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 분리되는 것이다.
또한, 상기 가변형 테스트 젠더(200)의 슬라이드블럭(130)은 도 10에 도시한 바와 같이 프레임부(120)의 일측으로 유입된 SSD(20)의 폭 넓이에 따라 가이드홈(102)에서 좌우 이동을 갖는 슬라이드블럭(130)이 선택적으로 간격 조절하여 SSD(20)의 진입 이동을 유도하면서 고정하게 된다.
아울러, 상기 프레임부(120)에 유입되는 SSD(20)의 폭 넓이에 따라 이동하는 슬라이드블럭(130)이 간격 폭에 맞도록 이동하고, 상기 슬라이드블럭(130)의 간격 폭에 맞도록 변경 제작된 끼움부(140)와 위치변경없이 외측 양단에 형성된 후크부(150)를 구성한 젠더블럭(170)으로 교체가 가능한 것으로 SSD(20)의 폭 변경에 따른 젠더블럭(170)만의 교체로 대응되는 것이다.
이같이, 상기 SSD(20)의 크기 변화에 대응할 수 있는 가변형 테스트 젠더(200)로 케이스가 없는 PCB 타입 제품의 솔리드 스테이트 디스크(Solid State Disk, SSD)(20)를 테스트하기 위해 SSD(20) 제품의 폭 넓이에 따라 가변형 테스트 젠더(200)의 슬라이드블럭(130)을 가변시켜 다양한 SSD(20)를 장착시킬 수 있게 된다.
아울러, 도 11은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 다른 실시예의 젠더블럭의 결합방식을 나타낸 도면이다.
상기 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명의 가변형 테스트 젠더(200)의 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 탈부착이 가능하도록 하는 다른 실시예로 프레임부(120)에 형성된 가이드존(110)의 소정 부분이 개방된 통공(186)을 형성하고, 상기 프레임부(120)에 결합되는 젠더블럭(170)의 끼움부(140) 외측 양단에서 길이방향으로 돌출되어 기울기를 가진 경사면을 이루는 누름판(182)에서 연이어져 절벽으로 형성된 걸림턱(184)으로 구성된 누름후크부(180)로 이루어지게 한다.
그리고, 상기 젠더블럭(170)의 누름후크부((180)가 프레임부(120)의 가이드존(110)에 진입하여 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)를 끼움부(140)의 수납공간부(142)로 내입하여 안착함과 동시에 후크부(150)의 걸림턱(184)이 가이드존(110)의 통공(186)에 걸려 결합 고정되는 것이다.
다음으로, 상기 프레임부(120)에 결합된 젠더블럭(170)을 분해시 프레임부(120)의 가이드존(110)에 내입되어 양측 통공(186)에 걸려있는 누름후크부(180)의 누름판(182)을 내측방향으로 누름에 의해 누름판(182)의 걸림턱(184)이 가이드존(110)의 통공(186)에서 이탈되어 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 분리되는 것이다.
이와 같이, 본 발명의 가변형 테스트 젠더(200)의 프레임부(120)와 젠더블럭(170)을 탈부착 가능하도록 하면서 프레임부(120)에서 슬라이드블럭(130)의 간격 조절에 의해 다양한 SSD(20) 제품 사이즈에 대한 대응이 가능하여 가변형 테스트 젠더(200)로 다양한 SSD(20)를 수용하여 테스트가 가능함으로써 원가 절감과 탈부착의 용이성과 이탈 방지가 가능하며, 가변형 테스트 젠더(200)에 다양한 SSD(20)가 사용 가능하여 교체작업에 대한 시간 손실이 적으며, 프레임부(120)에 탈부착되는 젠더블럭(170)에 대한 사이즈 별 구성만으로 비용이 절감된다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
도 1은 종래의 SSD 일체형 테스터기를 나타낸 도면.
도 2는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 분해사시도.
도 3은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 SSD 결합을 나타낸 도면.
도 4는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 SSD 결합 조립된 가변형 테스트 젠더를 나타낸 도면.
도 5는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 프레임부를 나타낸 도면.
도 6은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 슬라이드블럭을 나타낸 도면.
도 7은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 젠더블럭을 나타낸 도면.
도 8은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 젠더블럭이 일측으로 조립되는 것을 나타낸 도면.
도 9는 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 프레임바에 젠더블럭의 결합방식을 나타낸 도면.
도 10은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 슬라이드블럭의 이동에 따라 조립되는 젠더블럭을 나타낸 도면.
도 11은 본 발명에 따른 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더의 다른 실시예의 젠더블럭의 결합방식을 나타낸 도면.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*
20:SSD 102:가이드홈
110:가이드존 112:핀돌기
120:프레임부 130:슬라이드블럭
132:가이드 돌출부 134:핀홈
136:슬라이드핀나사 138:슬라이드홈
140:끼움부 142:수납공간부
150:후크부 152:걸림홈
160:젠더 162:1.8인치 커넥터
164:2.5인치PAD 170:젠더블럭
180:누름후크부 182:누름판
184:걸림턱 186:통공

Claims (13)

  1. SSD(20)를 테스트하기 위해 수용하면서 장착하는 것으로 'ㅂ'형상의 일측 사각형상의 모서리측 각각에 가이드홈(102)을 형성하면서, 타측의 양측에는 길이방향으로 돌출되어 내부에 홈 공간을 형성한 가이드 존(110)으로 구성된 프레임부(120)와;
    상기 프레임부(120)의 가이드홈(110)에서 양측으로 수직하게 각각 결합되어 내측부로 유동되는 간격조절이 가능한 것으로 일측부에 가이드존(110)과 같은 방향으로 돌출된 가이드 돌출부(132)를 형성한 슬라이드블럭(130)과;
    상기 프레임부(120)의 가이드 존(110) 내부 홈 공간으로 유입되어 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)와 결합을 이루면서 탈부착이 가능하도록 끼움부(140)와 후크부(150)의 구조를 가지면서 SSD(20)를 테스트 연결하는 젠더(160)를 구비한 젠더블럭(170);으로 구성되어 가변형 테스트 젠더(200)로 이루어진 것을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  2. 제1항에 있어서, 상기 프레임부(120)는 'ㅂ'형상으로 SSD(20)가 유입되는 일측에 상하, 좌우 모서리측에서 내측방향으로 향하는 소정의 두께로 길이방향으로 길게 통공된 가이드홈(102)과;
    상기 프레임부(120) 타측의 양측에는 길이방향으로 길게 돌출되면서 내부로 젠더블럭(170)이 진입할 수 있는 소정의 홈 공간을 형성한 진입로의 내부로 진입한 젠더블럭(170)을 이탈 방지하는 핀돌기(112)를 형성한 가이드존(110);으로 구성되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  3. 제1항에 있어서, 상기 슬라이드블럭(130)의 저면 양단에 나사홈으로 구성된 핀홈(134)이 형성되며, 슬라이드블럭(130)이 안착된 프레임부(120) 하단으로 가이드홈(102)의 상하 양측에 각각 삽입되면서 핀홈(134)에 조립되어 가이드홈(102)을 따라 이동하도록 가이드하는 슬라이드블럭(130)의 저면 양단에서 조립되는 슬라이드핀나사(136)와;
    상기 프레임부(120)의 SSD(20)가 유입되는 측으로 SSD(20)가 원할한 진입을 돕기 위해 길이방향으로 이동을 유도하는 슬라이드홈(138)과;
    상기 프레임부(120)의 가이드존(110) 측에서 가이드존(110)과 같은 방향으로 소정의 길이로 돌출된 가이드 돌출부(132);로 구성된 것으로 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  4. 제3항에 있어서, 상기 슬라이드블럭(130)은 프레임부(120)의 일측 네모서리 에 형성된 가이드홈(102)에서 상하로 위치한 가이드홈(102) 양측에 각각 슬라이드블럭(130)의 핀홈(134)에 슬라이드핀나사(136)가 저면에서 삽입되면서 프레임부(120)의 양측에 각각 슬라이드블록(130)이 결합되어 프레임부(120)의 양측에 위치한 슬라이드블럭(130)이 가이드홈(102)을 따라 내측방향으로 간격 조절이 가능하게 유동되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  5. 제1항에 있어서, 상기 젠더블럭(170)의 끼움부(140)는 'ㄷ'형상의 양측에서 길이방향으로 돌출되게 형성되면서 전방에 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)를 내입할 수 있는 소정의 공간을 형성한 수납공간부(142)와;
    상기 젠더블럭(170)의 후크부(160)는 끼움부(140)의 외측 양단에 탄성편으로 형성된 것으로 끼움부(140)와 같은 방향으로 돌출되어 경사면을 형성하면서 걸림홈(152)으로 연이어지게 형성한 것으로 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  6. 제5항에 있어서, 상기 젠더블럭(170)은 프레임부(110)에서 탈부착이 가능한 것으로 끼움부(140)가 프레임부(120)의 가이드존(110) 내부공간으로 진입하여 이동하면서 슬라이드블럭(130)의 가이드돌출부(32)를 수납공간부(142)로 내입하여 안착 함과 동시에 후크부(150)의 걸림홈(152)이 가이드존(110)의 핀돌기(112)에 끼워져 안착되어 고정되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  7. 제6항에 있어서, 상기 프레임부(120)에 결합된 젠더블럭(170)을 분해시 결합 반대 방향으로 잡아당기면 후크부(150)의 걸림홈(152)이 핀돌기(112)에서 이탈되어 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 분리되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  8. 제4항에 있어서, 상기 슬라이드블럭(130)은 프레임부(120)에 유입된 SSD(20)의 폭 넓이에 따라 가이드홈(102)에서 좌우 이동을 갖는 슬라이드블럭(130)이 선택적으로 간격 조절하여 SSD(20)의 진입 이동을 유도하면서 고정하는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  9. 제8항에 있어서, 상기 프레임부(120)에 유입되는 SSD(20)의 폭 넓이에 따라 이동하는 슬라이드블럭(130)이 간격 폭에 맞도록 이동하고, 상기 슬라이드블럭(130)의 간격 폭에 맞도록 변경 제작된 끼움부(140)와 위치변경없이 외측 양단에 형성된 후크부(150)를 구성한 젠더블럭(170)으로 교체가 가능한 것으로 SSD(20)의 폭 변경에 따른 젠더블럭(170)만의 교체로 대응되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  10. 제1항에 있어서, 상기 SSD(20)를 테스트 연결하는 젠더블럭(170)의 젠더(160)는 회로보드(Inter PCB)에 직접 1.8인치 커넥터(162)에서 2.5인치 PAD(164)로 연결하는 젠더(160)로 구성된 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  11. 제1항에 있어서, 상기 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 탈부착이 가능하도록 프레임부(170)에 형성된 가이드존(110)의 소정 부분이 개방된 통공을 형성하고, 상기 프레임부(170)에 결합되는 젠더블럭(170)의 끼움부(140) 외측 양단에서 길이방향으로 돌출되어 기울기를 가진 경사면을 이루는 누름판(182)에서 연이어져 절벽으로 형성된 걸림턱(184)으로 구성된 누름후크부(180)로 이루어지는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  12. 제11항에 있어서, 상기 젠더블럭(170)의 누름후크부(180)가 프레임부(120)의 가이드존(110)에 진입하여 슬라이드블럭(130)의 가이드 돌출부(132)를 끼움부(140)의 수납공간부(142)로 내입하여 안착함과 동시에 누름후크부(180)의 걸림턱(184)이 가이드존(110)의 통공(186)에 걸려 결합 고정되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
  13. 제12항에 있어서, 상기 프레임부(120)에 결합된 젠더블럭(170)을 분해시 프레임부(120)의 가이드존(110)에 내입되어 양측 통공(186)에 걸려있는 누름후크부(180)의 누름판(182)을 내측방향으로 누름에 의해 누름판(182)의 걸림턱(184)이 가이드존(110)의 통공(186)에서 이탈되어 프레임부(120)에서 젠더블럭(170)이 분리되는 것을 포함함을 특징으로 하는 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더.
KR1020090015570A 2009-02-25 2009-02-25 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더 KR100999565B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090015570A KR100999565B1 (ko) 2009-02-25 2009-02-25 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020090015570A KR100999565B1 (ko) 2009-02-25 2009-02-25 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100096612A KR20100096612A (ko) 2010-09-02
KR100999565B1 true KR100999565B1 (ko) 2010-12-08

Family

ID=43004119

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020090015570A KR100999565B1 (ko) 2009-02-25 2009-02-25 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100999565B1 (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140011438A (ko) * 2012-07-12 2014-01-28 삼성전자주식회사 반도체 디바이스 테스트 소켓 및 그를 구비한 테스트 설비
US10978818B2 (en) 2019-07-23 2021-04-13 SK Hynix Inc. Electronic device fastener
US11132034B2 (en) 2019-11-19 2021-09-28 SK Hynix Inc. Electronic device fastener
US11540410B2 (en) 2019-12-20 2022-12-27 SK Hynix Inc. Fastening system for single or multiple electronic device installations

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101677709B1 (ko) * 2015-08-31 2016-11-21 (주)마이크로컨텍솔루션 Ssd 테스트용 젠더 구조
KR101987912B1 (ko) * 2018-07-30 2019-06-12 주식회사 마이크로컨텍솔루션 더미 젠더
KR102091155B1 (ko) 2018-10-25 2020-03-19 주식회사 마이크로컨텍솔루션 젠더 장치
CN109411010A (zh) * 2018-12-03 2019-03-01 苏州欧康诺电子科技股份有限公司 Ssd测试用的转接结构
KR200490761Y1 (ko) * 2019-01-16 2020-02-11 제이제이티솔루션 주식회사 Ssd 테스트 장비용 도킹 어셈블리 및 이를 포함하는 ssd 테스트 장비
KR102154506B1 (ko) * 2019-02-13 2020-09-10 주식회사 오킨스전자 Ｓｓｄ 테스트 범용 젠더
KR102291036B1 (ko) 2020-04-24 2021-08-20 (주)마이크로컨텍솔루션 가변 젠더 장치
KR102309452B1 (ko) * 2021-01-11 2021-10-07 밸류플러스테크놀러지 주식회사 Ssd 테스트용 멀티 인터페이스 장치
KR102650190B1 (ko) 2021-03-11 2024-03-22 (주)마이크로컨텍솔루션 젠더 장치
KR102673337B1 (ko) * 2021-09-10 2024-06-10 (주)마이크로컨텍솔루션 Ssd 테스트용 젠더

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100705658B1 (ko) 2005-12-27 2007-04-09 (주) 인텍플러스 메모리 모듈 핸들러의 간격 조절장치
KR200443263Y1 (ko) 2008-09-17 2009-02-05 주식회사 엑시콘 솔리드 스테이트 드라이브 테스트용 탑재 장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100705658B1 (ko) 2005-12-27 2007-04-09 (주) 인텍플러스 메모리 모듈 핸들러의 간격 조절장치
KR200443263Y1 (ko) 2008-09-17 2009-02-05 주식회사 엑시콘 솔리드 스테이트 드라이브 테스트용 탑재 장치

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140011438A (ko) * 2012-07-12 2014-01-28 삼성전자주식회사 반도체 디바이스 테스트 소켓 및 그를 구비한 테스트 설비
US9360499B2 (en) 2012-07-12 2016-06-07 Samsung Electronics Co., Ltd. Socket for testing a semiconductor device and test equipment including the same
US10978818B2 (en) 2019-07-23 2021-04-13 SK Hynix Inc. Electronic device fastener
US11132034B2 (en) 2019-11-19 2021-09-28 SK Hynix Inc. Electronic device fastener
US11540410B2 (en) 2019-12-20 2022-12-27 SK Hynix Inc. Fastening system for single or multiple electronic device installations

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100096612A (ko) 2010-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100999565B1 (ko) 솔리드 스테이트 디스크를 테스트하기 위한 가변형 테스트 젠더
WO2016101584A1 (zh) Led模组安装机构
CN102736671A (zh) 电子装置
CN104039094A (zh) 电子设备机箱
CN107113995B (zh) 互锁托架单元
JPH04297093A (ja) 制御装置のベースユニット
JP7367204B2 (ja) ガイドレール固定構成
TW201715795A (zh) 電子元件座
US20140146502A1 (en) Circuit board mounting apparatus
TW201524316A (zh) 電路板固定結構及使用該電路板固定結構的電子裝置
KR101600273B1 (ko) 미닫이 문짝의 거치용 브래킷
TWM517444U (zh) 電子元件座
KR100781735B1 (ko) 낚싯대용 릴 시트
JP4621005B2 (ja) 机等におけるデスクトップパネル及び幕板の取付装置
TWM470481U (zh) 推移卡扣結構及應用其之顯示裝置
TW202116137A (zh) 機櫃及其滑軌套件
CN209540431U (zh) 一种连接装置及连接组件
US9442536B1 (en) Computer case
TWM558514U (zh) 電子裝置的快速拆裝式固定結構
JP4750404B2 (ja) 机等における配線装置
US8851459B2 (en) Elastic device structure
AU2015100397A4 (en) Design method for screwdriver
KR20170090660A (ko) 방범 방충용 도어의 방충망 고정 장치
KR200268946Y1 (ko) 정보통신기기용 셸프의 블랭크판넬 고정구조
CN108110485B (zh) 一种预端接模块

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131202

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141202

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151202

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20161202

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171204

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181203

Year of fee payment: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191202

Year of fee payment: 10