KR100996266B1 - Ssd 테스트용 지그 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 SSD 테스트용 지그에 관한 것으로, SSD의 접속단자가 접속되는 SSD커넥터가 상방돌출된 소켓; 중앙부에 소켓장착홀이 형성되어, 상기 소켓이 장착되는 하우징; 및 상기 SSD의 접속단자가 상기 SSD커넥터에 접속 시 상기 SSD의 양측을 각각 가이드하고, 상기 SSD의 이젝팅 시 상기 SSD에 상방배출력을 제공하는 한 쌍의 블록조립체;를 포함하는 SSD 테스트용 지그에 있어서, 상기 하우징은, 양측 상면에 각각 형성된 홈부;를 포함하여 구성되고, 상기 블록조립체는, 상기 하우징의 양측 상면에 장착되되, 상기 홈부와 연통되어 하면 내부로 형성된 잔공부, 상기 잔공부와 연통되어 상방으로 연장형성된 한 쌍의 연장홀이 구비된 가이드블록; 상기 홈부 및 잔공부 상에서 상하슬라이딩 가능하게 설치되되, 양측면에 연장편이 형성되고, 상기 SSD의 코너부가 안착되는 안착홈이 형성된 슬라이더; 및 상기 각 연장홀에 삽입되어 상하슬라이딩 가능한 한 쌍의 작동링크, 일단부가 상기 각 작동링크의 하단에 힌지연결되고 타단부가 상기 슬라이더의 연장편의 하면에 각각 당접되며 중심부를 기준으로 1축회전가능하게 설치되는 한 쌍의 레버링크를 포함하는 이젝팅모듈;을 포함하여 구성된다.
SSD, 테스트, 지그, 이젝팅, 소켓

Description

SSD 테스트용 지그{A jig for testing Solid State Drive}
본 발명은 SSD 테스트용 지그에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 SSD를 지그에 로딩/언로딩시키는 오토핸들러와 본원발명의 이젝팅모듈이 서로 연계작동하여, 지그에 장착된 SSD의 언로딩 시 상기 SSD의 외부에 흡집이 발생하여 상품성을 상실하는 것을 방지할 수 있도록 하는 SSD 테스트용 지그에 관한 것이다.
종래의 PC 저장장치의 일예로 HDD(Hard Disk Drive)가 있는데, 상기 HDD는 느린 부팅속도, 높은 소비전력, 내구성, 중량 등에 단점들이 지적되어 왔다. 특히, 플래터(Platter)가 회전하며 헤드가 정보를 읽는 물리적인 구조로 인하여 CPU나 램에 비하여 데이터 처리속도가 느리고, 기계적인 전력소모가 크다.
상술한 문제점을 해결하기 위해서 부팅 및 데이터 처리속도가 빠르고 안정성이 높은 플래시메모리가 차세대 PC 저장장치로 사용되고 있으며, 대표적인 차세대 PC 저장장치로서 낸드 플래시 메모리가 고집적된 SSD(Solid State Drive)가 주목을 받고 있다.
SSD란 종래의 HDD에서 사용되던 모터와 기계적 구동장치를 없앤 비휘발성 메모리 기반의 저장장치로서, 움직이는 부분이 없이 솔리드 상태의 드라이브이기 때 문에 시크 타임(Seek Time), 지연시간(Latency), 기타 기계적 구동시간을 줄임으로써 고속의 읽기/쓰기 속도가 가능하고, 지연 시간 및 기계적 마찰로 인한 오류를 줄여 신뢰성을 향상시킬 수 있는 장점이 있다. 또한, 데이터 작동시에 열과 소음이 거의 발생하기 않고, 특히, 외부 충격에 강하여 노트북 PC에 매우 적합한 저장장치로 평가되고 있다.
도 1에 도시된 SSD는 케이스가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 접속단자(5)로 구성된다.
상기 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 접속단자(5)는 각각 인쇄회로기판(1)에 실장되며, 이들을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다.
SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 접속단자(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 접속단자(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 접속단자(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자에 연결된다.
상술한 바와 같이 구성된 SSD는 출하 전에 SSD의 이상 유무를 확인하기 위해 접속단자(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)을 통해 검사단계를 거치게 되는데, 종래의 SSD 테스트장치는 오토핸들러를 이용하여 자동으로 검사할 수 없어 SSD의 번인(burn in) 테스트나 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스터에 SSD를 장착하여 테스트를 실시하였다.
종래와 같이 SSD의 테스트를 수작업을 이용하여 실시하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있다.
상기 종래 기술에 따른 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 목적은, SSD를 지그에 로딩/언로딩시키는 오토핸들러와 본원발명의 이젝팅모듈이 서로 연계작동하여, 지그에 장착된 SSD의 언로딩 시 상기 SSD의 외부에 흡집이 발생하여 상품성을 상실하는 것을 방지하고, 또한, 본원발명의 이젝팅모듈이 오토핸들러와 서로 연계작동함에 따라 상기 SSD의 로딩뿐만 아니라 언로딩까지 안정적으로 작동할 수 있는 SSD 테스트용 지그를 제공함에 있다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 SSD 테스트용 지그는, SSD의 접속단자가 접속되는 SSD커넥터가 상방돌출된 소켓; 중앙부에 소켓장착홀이 형성되어, 상기 소켓이 장착되는 하우징; 및 상기 SSD의 접속단자가 상기 SSD커넥터에 접속 시 상기 SSD의 양측을 각각 가이드하고, 상기 SSD의 이젝팅 시 상기 SSD에 상방배출력을 제공하는 한 쌍의 블록조립체;를 포함하는 SSD 테스트용 지그에 있어서, 상기 하우징은, 양측 상면에 각각 형성된 홈부;를 포함하여 구성되고, 상기 블록조립체는, 상기 하우징의 양측 상면에 장착되되, 상기 홈부와 연통되어 하면 내부로 형성된 잔공부, 상기 잔공부와 연통되어 상방으로 연장형성된 한 쌍의 연장홀이 구비된 가이드블록; 상기 홈부 및 잔공부 상에서 상하슬라이딩 가능하게 설치되되, 양측면에 연장편이 형성되고, 상기 SSD의 코너부가 안착되는 안착홈이 형성된 슬라이더; 및 상기 각 연장홀에 삽입되어 상하슬라이딩 가능한 한 쌍의 작동링크, 일단 부가 상기 각 작동링크의 하단에 힌지연결되고 타단부가 상기 슬라이더의 연장편의 하면에 각각 당접되며 중심부를 기준으로 1축회전가능하게 설치되는 한 쌍의 레버링크를 포함하는 이젝팅모듈;을 포함하여 구성될 수 있다.
바람직하게, 상기 작동링크는 하단부가 상기 레버링크의 일단부와 힌지결합되는 연장바 및 상기 연장바의 상단부를 감싸도록 결합되어 상기 연장바의 측면과 제1단차부를 형성하는 바헤드를 포함하여 구성되고, 상기 연장홀의 내부에는 제2단차부가 형성되며, 상기 제1단차부와 상기 제2단차부의 사이에 상기 작동링크의 상방복원력을 제공하는 탄성스프링;이 개재되어 구성될 수 있다.
여기서, 상기 연장바에는 장방홈이 형성되고, 상기 연장홀에는 상기 연장바의 상방이동량을 제한하는 제1정렬핀 및 상기 연장바의 하방이동량을 제한하는 제2정렬핀이 상기 장방홈을 관통하여 고정설치될 수 있다.
바람직하게, 상기 소켓의 하면에는, 상기 소켓의 하면내부로 형성된 커넥터홈, 상기 커넥터홈의 저면에서 외측으로 돌출형성된 숫돌출부, 상기 숫돌출부의 일측면에 상기 SSD커넥터와 전기적으로 연결되도록 마련된 접촉부, 상기 숫돌출부의 타측면에 마련된 다수의 록킹홈을 포함하여 구성된 범용커넥터;가 구비될 수 있다.
상술한 바와 같은 본 발명은, SSD를 지그에 로딩/언로딩시키는 오토핸들러와 본원발명의 이젝팅모듈이 서로 연계작동하여, 지그에 장착된 SSD의 언로딩 시 상기 SSD의 외부에 흡집이 발생하여 상품성을 상실하는 것을 방지할 수 있다.
또한, 본원발명의 이젝팅모듈이 오토핸들러와 서로 연계작동함에 따라 상기 SSD의 로딩뿐만 아니라 언로딩까지 안정적으로 작동할 수 있다.
본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 후술하는 바람직한 실시예를 통하여 더욱 명백해질 것이다. 이하에서는 본 발명의 실시예를 통해 당업자가 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그에 SSD가 로딩된 상태를 보여주는 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그에 SSD가 언로딩된 상태를 보여주는 사시도이다.
본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그는, 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 크게, 소켓(100), 하우징(200), 블록조립체(300)를 포함하여 구성된다.
도 3에 도시된 바와 같이, SSD 테스트용 지그에 SSD(10)가 언로딩된 상태에서, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 소켓(100)의 SSD커넥터(110)에 접속되도록 결합되며, 이때, 상기 소켓(100)은 하우징(200)의 중앙부에 형성된 소켓장착홀(200h)에 하방에서 상방을 향해 끼워져 고정조립된다.
따라서, 소켓(100)의 SSD커넥터(110)가 하우징(200)의 상면측으로 돌출되도록 위치되고, 이렇게 하우징(200)의 상면측으로 돌출된 소켓(100)의 SSD커넥터(110)에 SSD(10)의 접속단자(10a), 즉, SSD(10)의 하면에 마련된 접속단자(10a)가 끼워져 전기적으로 접속하게 된다.
이때, 상기 하우징(200)의 양측 상면에는 블록조립체(300)가 각각 한 쌍으로 조립되며, 상기 블록조립체(300)는 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 상기 SSD커넥 터(110)에 접속 시 상기 SSD(10)의 양측을 각각 가이드하고, 상기 SSD(10)의 이젝팅 시 상기 SSD(10)에 상방배출력을 제공하게 된다.
상술한 바와 같이, 상기 소켓(100)은 SSD(10)의 접속단자(10a)가 접속되는 SSD커넥터(110)가 상방돌출되어 형성되고, 상기 하우징(200)은 중앙부에 소켓장착홀(200h)이 형성되어 상기 소켓(100)이 장착되며, 상기 블록조립체(300)는 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 상기 SSD커넥터(110)에 접속 시 상기 SSD(10)의 양측을 각각 가이드하고 상기 SSD(10)의 이젝팅 시 상기 SSD(10)에 상방배출력을 제공한다.
먼저, 소켓(100)과 하우징(200)에 대하여 설명하도록 한다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 분해사시도이고, 도 8 및 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 소켓의 하면을 보여주는 사시도이며, 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 소켓에 장착된 컨택핀을 보여주는 단면도이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 소켓(100)은 SSD(10)의 접속단자(10a)가 접속되는 SSD커넥터(110)가 상방을 향해 돌출되어 구비된다.
이러한 SSD커넥터(110)는 SSD(10)의 접속단자(10a)가 용이하게 삽입되어 전기적으로 접촉될 수 있도록 홈이 형성되고, 이 홈의 내부 일측면에 전기적으로 접속가능한 다수의 컨텍핀(도 10의 CP)의 일단이 마련되어 있다.
따라서, 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 상기 소켓(100)의 SSD커넥터(110) 에 삽압된 후 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 상기 컨텍핀(CP)의 "접촉점"에서 전기적으로 접속됨에 따라 상기 소켓(100)의 하면에 연결케이블을 통해 접속된 검사장치(미도시)와 상기 SSD(10)가 서로 접속되어 테스트를 위한 데이터를 주고 받을 수 있게 된다.
한편, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 소켓(100)의 하면에는 범용 S-ATA 케이블과 접속가능한 범용커넥터(120)가 구비된다. 상세하게, 상기 범용커넥터(120)는 상기 소켓(100)의 하면 내부로 형성된 커넥터홈(122), 상기 커넥터홈(122)의 저면에서 외측(하방)으로 돌출형성된 숫돌출부(124), 상기 숫돌출부(124)의 일측면에 상기 SSD커넥터(110)와 전기적으로 연결되도록 마련된 접촉부(126), 상기 숫돌출부(124)의 타측면에 마련된 다수의 록킹홈(128)을 포함하여 구성된다. 따라서, 상기 SSD커넥터(110)와 상기 접촉부(126)를 전기적으로 연결하는 컨텍핀(CP)에 의해서 SSD커넥터(110)에 접속된 SSD(10)와 검사장치가 범용 S-ATA 케이블과 같은 수단을 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있게 된다. 또한, 범용커넥터(120)는 시중에서 쉽게 구할 수 있고 널리 사용되는 S-ATA 케이블과 접속하여 검사장치(미도시)와 용이하게 접속할 수 있다는 이점이 있다.
상술한 바와 같이 구성된 소켓(100)에 따르면, SSD(10)의 하부에 마련된 접속단자(10a)와 검사장치(미도시)가 컨텍핀(CP)을 통해 서로 전기적으로 접속가능하게 된다.
도 4에 도시된 바와 같이, 상기 하우징(200)의 중앙부에는 소켓장착홀(200h)이 형성되고, 이 소켓장착홀(200h)에 상술한 소켓(100)이 하방에서 상방을 향해 조 립되어 고정된다.
이러한 하우징(200)은 양측 상면에 각각 홈부(210)가 형성되어 있고, 이러한 홈부(210)는 후술하게 될 블록조립체(300)와 연동하기 위한 것으로, 블록조립체(300)에 대한 설명 시 함께하도록 한다.
한편, 상기 하우징(200)의 양측 상면에 형성된 홈부(210)에 대응하는 위치에는 블록조립체(300)가 장착된다.
상술한 바와 같이 구성된 하우징(200)에 따르면, 중앙부에 형성된 소켓장착홀(200h)을 통해 소켓(100)이 장착되고, 로딩 시 SSD(10)의 가이드 및 이젝팅 시 SSD(10)의 상방배출력을 제공하는 블록조립체(300)가 양측 상면에 장착될 수 있도록 기저면(基底面)을 제공하게 된다.
다음으로, 블록조립체(300)에 대하여 설명하도록 한다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 블록조립체의 분해사시도이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 슬라이더 및 이젝팅모듈을 보여주는 사시도이며, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 이젝팅모듈의 작동을 보여주는 정면도이다.
도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 블록조립체(300)는 상기 SSD(10)의 접속단자(10a)가 상기 SSD커넥터(110)에 접속 시 상기 SSD(10)의 양측을 각각 가이드하여 수직하게 삽입될 수 있도록 하고, 상기 SSD(10)의 이젝팅 시 상기 SSD(10)가 수직상방으로 배출될 수 있도록 상기 SSD(10)에 상방배출력을 제공하는 부분이다.
상기 블록조립체(300)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 크게, 가이드블록(310), 슬라이더(320), 이젝팅모듈(330)을 포함하여 구성된다.
상기 가이드블록(310)은 상술한 하우징(200)의 양측 상면에 장착되되, 상세하게는, 상기 하우징(200)의 양측 상면에 형성된 홈부(210)와 연통되어 상기 가이드블록(310)의 하면 내부로 잔공부(312)가 형성되고, 상기 잔공부(312)와 연통되어 상방으로 연장형성된 한 쌍의 연장홀(314)이 상면을 관통하여 구비된다.
상기 슬라이더(320)는 상기 하우징(200)의 양측 상면에 형성된 홈부(210) 및 상기 가이드블록(310)의 하면 내부로 형성된 잔공부(312) 상에서 상하슬라이딩 가능하게 설치되되, 양측면에 연장편(322)이 형성되고, 상기 SSD(10)의 코너부가 안착되는 안착홈(324)이 형성된다.
상기 이젝팅모듈(330)은 상기 가이드블록(310)에 형성된 연장홀(314)에 삽입되어 상하방향으로 슬라이딩이동이 가능한 한 쌍의 작동링크(332), 일단부가 상기 각 작동링크(332)의 하단에 회동가능하게 힌지연결되고 타단부가 상기 슬라이더(320)의 연장편(322)의 하면에 각각 당접되며 중심부를 기준으로 1축회전가능하게 설치되는 한 쌍의 레버링크(334)를 포함하여 구성된다.
한편, 상기 작동링크(332)는 하단부가 상기 레버링크(334)의 일단부와 힌지결합되는 연장바(332a) 및 상기 연장바(332a)의 상단부를 감싸도록 결합되어 상기 연장바(332a)의 측면과 제1단차부(S1)를 형성하는 바헤드(332b)를 포함하여 구성된다. 또한, 상기 연장홀(314)의 내부에는 제2단차부(S2)가 형성되며, 상기 제1단차 부(S1)와 상기 제2단차부(S2)의 사이에 상기 작동링크(332)의 상방복원력을 제공하는 탄성스프링(336)이 개재되어 설치된다.
상술한 바와 같이 구성된 가이드블록(310), 슬라이더(320), 이젝팅모듈(330)의 결합관계에 대하여 더욱 상세하게 설명하도록 한다.
상기 연장바(332a)는 단면이 대략 사각형상으로 형성되고, 하단부가 소정각도록 절곡된 형상으로 형성되며, 양측면을 관통하도록 소정길이로 장방홈(332a-h)이 형성되어 있고, 상기 연장바(332a)의 상부에는 한 쌍의 제1결합홀(332ah1)이 형성되어 있다.
상기 바헤드(332b)는 상기 연장바(332a)의 상단부를 감싸도록 결합되는데, 상세하게는, 상기 연장바(332a)의 양측면을 감싸는 "ㄷ" 자형으로 형성된다. 한편, 상기 바헤드(332b)는 외주면이 라운딩을 갖도록 형성되어, 상기 연장바(332a)의 양측면과 상기 바헤드(332b) 간의 높이 차이로 인한 제1단차부(S1)를 형성하게 된다.
또한, 상기 바헤드(332b)에는 상기 한 쌍의 제1결합홀(332h1)과 대응하는 제2결합홀(332h1)이 형성되어 있으며, 상기 바헤드(332b)가 상기 연장바(332a)의 상단부를 감싼 상태에서 상기 제1결합홀(332h1) 및 제2결합홀(332h1)을 결합핀(P)이 관통하여 삽입됨에 따라 견고하게 조립된다.
상술한 바와 같이 연장바(332a)와 바헤드(332b)가 조립되어 구성되는 작동링크(332)는 가이드블록(310)에 형성된 연장홀(314) 상에 끼워져 결합되어 상하 방향으로 슬라이딩 이동하게 된다.
한편, 상기 연장바(332a)의 하단부에는 상기 제3결합홀(332ah1)이 형성되고, 이 제3결합홀(332ah1)에는 회동핀(333)이 삽입고정된다. 이러한 회동핀(333)은 레버링크(334)의 일단부에 형성된 슬릿홀(334h1)에 끼워지고, 상기 작동링크(332)가 상기 연장홀(314) 상에서 상하 방향으로 슬라이딩함에 따라 상기 레버링크(334)의 일단부를 상하 방향으로 회동시키게 된다.
이때, 상기 레버링크(334)는 중심부에 중심홀(334h2)이 형성되고, 이 중심홀(334h2)에 축핀(P3)이 삽입고정되며, 이 축핀(P3)이 가이드블록(310)의 제3홀(h3)에 끼워져 회동가능하게 설치됨에 따라 상기 작동링크(332)와 연동되어 레버링크(334)의 일단부가 상하방향으로 회동 시 레버링크(334)의 타단부가 일단부와 서로 반대방향으로 회동하게 된다.
한편, 상기 연장바(332a)에는 형성된 장방홈(332a-h)과 대응되도록, 상기 연장홀(314)에는 상기 연장바(332a)의 상방이동량을 제한하는 제1정렬핀(P1) 및 상기 연장바(332a)의 하방이동량을 제한하는 제2정렬핀(P2)이 상기 장방홈(332a-h)을 관통하여 고정설치된다.
즉, 도 5에 도시된 바와 같이, 가이드블록(310)에 형성된 제1홀(h1)을 통해 상기 제1정렬핀(P1)이 삽입됨과 동시에 상기 장방홈(332a-h)이 관통되고, 가이드블록(310)에 형성된 제2홀(h2)을 통해 상기 제2정렬핀(P2)이 삽입됨과 동시에 상기 장방홈(332a-h)이 관통되며, 도 7과 같이, 제1정렬핀(P1) 및 제2정렬핀(P2)은 장방홈(332a-h)을 관통하여 고정설치된다.
상술한 바와 같이 구성된 이젝팅모듈(330)은, 도 6에 도시된 바와 같이, 레버링크(334)의 타단부가 상기 슬라이더(320)의 연장편(322)의 하면에 당접하도록 구성되고, 상기 작동링크(332)가 하방으로 슬라이딩 이동됨에 따라 상기 레버링크(334)의 일단부가 하방으로 회동됨과 동시에 상기 레버링크(334)의 타단부가 상방으로 회동되어, 상기 슬라이더(320)의 연장편(322)의 하면을 상방으로 가압하여 상기 슬라이더(320)가 상방으로 슬라이딩 이동하게 한다.
즉, 도 7의 (a)에 도시된 바와 같이, 제1단차부(S1)와 제2단차부(S2)의 사이에 개재된 탄성스프링(336)에 의해 상기 작동링크(332)가 상방으로 탄성적으로 지지된 상태에서, 오토핸들러의 일부분(미도시)이 상기 작동링크(332)의 상단을 하방으로 가압하게 되면, 도 7의 (b)에 도시된 바와 같이, 제1단차부(S1)와 제2단차부(S2)의 사이에 개재된 탄성스프링(336)은 압축되어 복원력을 갖게 되고, 상기 작동링크(332)는 "a"방향으로 슬라이딩 이동하게 되며, 상기 레버링크(334)의 일단부는 "b"방향으로 회동하게 되며, 상기 레버링크(334)의 타단부는 "c"방향으로 회동하게 된다.
따라서, 상기 레버링크(334)의 타단부과 당접한 슬라이더(320)의 연장편(322)이 상방으로 가압되어 슬라이더(320)가 상방으로 슬라이딩 이동하게 되고, 슬라이더(320)의 안착홈(324)에 코너부가 안착된 SSD(10)도 슬라이더(320)와 함께 상방으로 슬라이딩 이동하게 되며, 이때, 소켓(100)의 SSD커넥터(110)에 삽입되어 접속된 SSD(10)의 접속단자(10a)가 빠져서 배출되어 언로딩될 수 있다.
한편, SSD(10)의 언로딩 후 상기 오토핸들러의 일부분(미도시)이 상기 작동링크(332)의 상단을 하방으로 가압하는 가압력이 해제되면, 상기 탄성스프링(336)이 갖는 복원력에 의해 상기 작동링크(332)가 상방으로 슬라이딩 이동하게 되어 원 래의 위치로 복원되고, 이에 따라 레버링크(334)의 일단부가 상방으로 회동되고, 레버링크(334)의 타단부가 하방으로 회동되며, 슬라이더(320)는 자중에 의해 원래의 위치로 복원된다.
본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 중심으로 기술되었지만 당업자라면 이러한 기재로부터 본 발명의 범주를 벗어남이 없이 많은 다양하고 자명한 변형이 가능하다는 것은 명백하다. 따라서 본 발명의 범주는 이러한 많은 변형예들을 포함하도록 기술된 특허청구범위에 의해서 해석돼야 한다.
도 1은 베어 상태의 SSD를 보여주는 평면도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그에 SSD가 로딩된 상태를 보여주는 사시도.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그에 SSD가 언로딩된 상태를 보여주는 사시도.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 분해사시도.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 블록조립체의 분해사시도.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 슬라이더 및 이젝팅모듈을 보여주는 사시도.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 중 이젝팅모듈의 작동을 보여주는 정면도.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 소켓의 하면을 보여주는 사시도.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 SSD 테스트용 지그의 구성 소켓에 장착된 컨택핀을 보여주는 단면도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10:SSD 10a:접속단자
100:소켓 110:SSD커넥터
120:범용커넥터 122:커넥터홈
124:숫돌출부 126:접촉부
128:록킹홈 200:하우징
200h:소켓장착홀 210:홈부
300:블록조립체 310:가이드블록
312:잔공부 314:연장홀
320:슬라이더 322:연장편
324:안착홈 330:이젝팅모듈
332:작동링크 332a:연장바
332a-h:장방홈 332b:바헤드
334:레버링크 336:탄성스프링
S1:제1단차부 S2:제2단차부
P1:제1정렬핀 P2:제2정렬핀

Claims (4)

  1. SSD의 접속단자가 접속되는 SSD커넥터가 상방돌출된 소켓; 중앙부에 소켓장착홀이 형성되어, 상기 소켓이 장착되는 하우징; 및 상기 SSD의 접속단자가 상기 SSD커넥터에 접속 시 상기 SSD의 양측을 각각 가이드하고, 상기 SSD의 이젝팅 시 상기 SSD에 상방배출력을 제공하는 한 쌍의 블록조립체;를 포함하는 SSD 테스트용 지그에 있어서,
    상기 하우징은, 양측 상면에 각각 형성된 홈부;를 포함하여 구성되고,
    상기 블록조립체는, 상기 하우징의 양측 상면에 장착되되, 상기 홈부와 연통되어 하면 내부로 형성된 잔공부, 상기 잔공부와 연통되어 상방으로 연장형성된 한 쌍의 연장홀이 구비된 가이드블록; 상기 홈부 및 잔공부 상에서 상하슬라이딩 가능하게 설치되되, 양측면에 연장편이 형성되고, 상기 SSD의 코너부가 안착되는 안착홈이 형성된 슬라이더; 및 상기 각 연장홀에 삽입되어 상하슬라이딩 가능한 한 쌍의 작동링크, 일단부가 상기 각 작동링크의 하단에 힌지연결되고 타단부가 상기 슬라이더의 연장편의 하면에 각각 당접되며 중심부를 기준으로 1축회전가능하게 설치되는 한 쌍의 레버링크를 포함하는 이젝팅모듈;을 포함하는 것을 특징으로 하는 SSD 테스트용 지그.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 작동링크는 하단부가 상기 레버링크의 일단부와 힌지결합되는 연장바 및 상기 연장바의 상단부를 감싸도록 결합되어 상기 연장바의 측면과 제1단차부를 형성하는 바헤드를 포함하여 구성되고, 상기 연장홀의 내부에는 제2단차부가 형성되며, 상기 제1단차부와 상기 제2단차부의 사이에 상기 작동링크의 상방복원력을 제공하는 탄성스프링;이 개재된 것을 특징으로 하는 SSD 테스트용 지그.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 연장바에는 장방홈이 형성되고, 상기 연장홀에는 상기 연장바의 상방이동량을 제한하는 제1정렬핀 및 상기 연장바의 하방이동량을 제한하는 제2정렬핀이 상기 장방홈을 관통하여 고정설치된 것을 특징으로 하는 SSD 테스트용 지그.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 소켓의 하면에는, 상기 소켓의 하면 내부로 형성된 커넥터홈, 상기 커넥터홈의 저면에서 외측으로 돌출형성된 숫돌출부, 상기 숫돌출부의 일측면에 상기 SSD커넥터와 전기적으로 연결되도록 마련된 접촉부, 상기 숫돌출부의 타측면에 마련된 다수의 록킹홈을 포함하여 구성된 범용커넥터;가 구비된 것을 특징으로 하는 SSD 테스트용 지그.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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