KR100944070B1 - Electric inspection apparatus for printed circuit board, inspection jig, and method for confirming placement of inspection jig - Google Patents

Electric inspection apparatus for printed circuit board, inspection jig, and method for confirming placement of inspection jig Download PDF

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KR100944070B1 KR1020060102706A KR20060102706A KR100944070B1 KR 100944070 B1 KR100944070 B1 KR 100944070B1 KR 1020060102706 A KR1020060102706 A KR 1020060102706A KR 20060102706 A KR20060102706 A KR 20060102706A KR 100944070 B1 KR100944070 B1 KR 100944070B1
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도루 이시이
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야마하 파인 테크 가부시키가이샤
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Abstract

장치의 소형화나 저비용화를 도모할 수 있는 동시에 조정 작업이 불필요해지는 프린트 기판의 전기 검사 장치, 검사 지그 및 검사 지그의 고정 확인 방법을 제공하는 것이다. It is to provide an electric inspection device, an inspection jig, and an inspection jig fixing method for a printed circuit board, which can be miniaturized and reduced in cost, and at the same time that adjustment work is unnecessary.

플렉시블 기판(32)이 부착된 접속용 블록(24)에 프로브 블록(23)을 고정하고, 프로브 블록(23)에, 선단부가 검사용 프로브(14)로 구성되는 검사용 배선(14a)이 부착된 검사 지그(12)를 부착하였다. 또한, 접속용 블록(24)에 고정부측 확인용 배선(36) 등을 설치하고, 검사 지그(12)에 검사 지그측 확인용 배선(15) 등과, 접속용 배선(18, 19)을 설치하였다. 그리고, 프로브 블록(23)에 검사 지그(12)를 적정 상태로 부착했을 때에, 고정부측 확인용 배선(36) 등, 검사 지그측 확인용 배선(15) 등 및 접속용 배선(18) 등이 전기적으로 접속되도록 하였다. 또한, 고정부측 확인용 배선(36) 등은 접속용 블록(24)의 하면(24c)의 네 모서리에 설치한 네 개의 배선으로 구성하였다. The probe block 23 is fixed to the connection block 24 with the flexible substrate 32 attached thereto, and the test wiring 14a having the tip portion of the test probe 14 attached to the probe block 23 is attached thereto. Attached inspection jig 12 was attached. In addition, the fixing part side confirmation wiring 36 etc. were provided in the connection block 24, and the inspection jig side confirmation wiring 15 etc. and the connection wirings 18 and 19 were provided in the inspection jig 12. As shown in FIG. . When the inspection jig 12 is attached to the probe block 23 in an appropriate state, the inspection jig side confirmation wiring 15, the connection wire 18, etc. It was to be electrically connected. In addition, the fixed part side confirmation wiring 36 was comprised from four wirings provided in the four corners of the lower surface 24c of the connection block 24. As shown in FIG.

Description

프린트 기판의 전기 검사 장치, 검사 지그 및 검사 지그의 고정 확인 방법{ELECTRIC INSPECTION APPARATUS FOR PRINTED CIRCUIT BOARD, INSPECTION JIG, AND METHOD FOR CONFIRMING PLACEMENT OF INSPECTION JIG}ELECTRIC INSPECTION APPARATUS FOR PRINTED CIRCUIT BOARD, INSPECTION JIG, AND METHOD FOR CONFIRMING PLACEMENT OF INSPECTION JIG}

도 1은 본 발명의 일 실시형태에 따른 전기 검사 장치의 요부를 도시한 개략 구성도이다. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic block diagram which shows the principal part of the electrical inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention.

도 2는 헤드부에 검사 지그를 부착한 상태를 도시한 일부 절결 단면도이다. 2 is a partially cutaway sectional view showing a state in which an inspection jig is attached to a head part.

도 3은 전기 검사 장치의 요부의 개략을 도시한 분해 사시도이다. 3 is an exploded perspective view showing an outline of main parts of the electrical inspection apparatus.

도 4는 검사 지그의 전극부와 헤드부의 전기 접촉자를 접촉시키는 상태를 도시한 일부 절결 단면도이다. 4 is a partially cutaway sectional view showing a state in which an electrical contact of the electrode portion of the inspection jig and the head portion is brought into contact with each other.

도 5는 접속용 블록과 프로브 블록을 부착한 상태를 도시한 단면도이다. 5 is a cross-sectional view illustrating a state in which a connection block and a probe block are attached.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명> <Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10 : 전기 검사 장치, 11 : 프린트 기판, 10: electrical inspection device, 11: printed circuit board,

11a… 전기적 접점, 12 : 검사 지그, 11a... Electrical contacts, 12: inspection jig,

12a : 상면, 12b, 24c : 하면, 12a: upper surface, 12b, 24c: lower surface,

13 : 검사 장치 본체, 14 : 검사 프로브, 13: inspection device body, 14: inspection probe,

14a : 검사용 배선, 14b : 전극부, 14a: inspection wiring, 14b: electrode portion,

15, 16, 17 : 검사 지그측 확인용 배선, 15, 16, 17: check jig side confirmation wiring,

15a, 15b, 16a, 16b, 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b, 36a, 36b, 37a, 37b, 38a, 38b, 39a, 39b : 단부, 15a, 15b, 16a, 16b, 17a, 17b, 18a, 18b, 19a, 19b, 36a, 36b, 37a, 37b, 38a, 38b, 39a, 39b: end,

18, 19 : 접속용 배선, 23 : 프로브 블록, 18, 19: connection wiring, 23: probe block,

24 : 접속용 블록, 25, 26 : 전기 접촉자, 24: connection block, 25, 26: electrical contactor,

32 : 플렉시블 기판, 32a : 패드부, 32: flexible substrate, 32a: pad portion,

32b : 배선부, 35 : 전기적 접점, 32b: wiring section, 35: electrical contact,

36, 37, 38, 39 : 고정부측 확인용 배선. 36, 37, 38, 39: Confirmation wiring on the fixed part side.

본 발명은 검사 회로를 갖는 고정부와, 검사용 프로브를 갖는 검사 지그를 구비한 프린트 기판의 전기 검사 장치, 검사 지그 및 검사 지그의 고정 확인 방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electric inspection device for a printed board, an inspection jig, and a method for fixing and fixing an inspection jig having a fixing portion having an inspection circuit and an inspection jig having an inspection probe.

종래부터, 예컨대, 전극 패턴을 갖는 프린트 기판의 회선을 전기 도통의 유무에 의해 검사하는 것이 행해지고 있고, 이 경우, 프린트 기판에 설치한 전기적 접점에 전기 검사 장치의 접촉 단자를 접촉시켜 검사를 행하고 있다(예컨대, 특허문헌 1). 이러한 전기 검사 장치에서는, 다수의 접촉 단자가 이동 가능한 검사 지그에 부착되어 있고, 그 각 접촉 단자에 배선이 접속되어 있다. 그리고, 배선의 타단은 장치 본체측의 고정부에 설치되어 접촉 단자로부터 보내지는 검출 신호를 계측하는 계측부에 접속되어 있다. 또한, 이러한 전기 검사 장치에서는 검사 지그 를 고정부에 부착할 때에, 검사 지그와 고정부를 정확한 위치에 위치 결정하는 것이 필요하고, 일반적으로 이 검사 지그의 고정부에 대한 부착 상태가 적정한지 여부의 확인이 센서 등의 검출 장치를 이용하여 행해지고 있다. Conventionally, for example, inspection of the line of the printed circuit board which has an electrode pattern by the presence or absence of electrical conduction is performed, and in this case, an inspection is made by contacting the contact terminal of an electrical inspection apparatus with the electrical contact provided in the printed circuit board. (For example, patent document 1). In such an electrical inspection apparatus, many contact terminals are attached to the movable inspection jig, and the wiring is connected to each contact terminal. The other end of the wiring is connected to a measurement unit that is provided in the fixed portion on the apparatus main body side and measures the detection signal sent from the contact terminal. In addition, in such an electrical inspection apparatus, when attaching the inspection jig to the fixed portion, it is necessary to position the inspection jig and the fixed portion at the correct position. Confirmation is performed using detection apparatuses, such as a sensor.

[특허문헌 1] 일본 공개특허공보 2004-219337호[Patent Document 1] Japanese Unexamined Patent Publication No. 2004-219337

그러나, 전술한 종래의 전기 검사 장치에서는, 장치 본체측의 고정부에 검출 장치를 부착하기 위해 고정부의 크기가 커진다는 문제나, 검출 장치를 설치하기 위해 비용이 비싸진다는 문제가 있다. 또한, 검출 장치의 위치를 조정하기 위한 작업이 필요해진다는 문제도 있다. However, in the above-described conventional electrical inspection apparatus, there is a problem that the size of the fixing portion becomes large for attaching the detection apparatus to the fixing portion on the apparatus main body side, or that the cost is high for installing the detection apparatus. Moreover, there also exists a problem that the operation | work for adjusting the position of a detection apparatus becomes necessary.

본 발명은, 전술한 문제에 대처하기 위해서 이루어진 것으로, 그 목적은 장치의 소형화나 저비용화를 도모할 수 있는 동시에 조정 작업이 불필요해지는 프린트 기판의 전기 검사 장치, 검사 지그 및 검사 지그의 고정 확인 방법을 제공하는 것이다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to address the above-described problems, and its object is to reduce the size and cost of the apparatus, and to fix the electric inspection apparatus, inspection jig, and inspection jig of the printed circuit board, which require no adjustment work. To provide.

전술한 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 따른 프린트 기판의 전기 검사 장치의 구성상의 특징은, 장치 본체측에 접속된 검사 회로의 단자가 노출하는 피장착면을 갖는 고정부와, 선단부가 검사용 프로브로 구성되는 검사용 배선의 기단부를 노출시킨 상태로 피부착면에 장착되는 장착면과 검사용 프로브가 노출하는 검사 측면을 갖는 검사 지그를 구비하고, 고정부에 검사 지그를 장착함으로써 검사 회로와 검사용 배선을 접속하고, 검사용 프로브를 프린트 기판의 접점에 접촉시킴으로써, 프린트 기판의 전기 검사를 행하는 프린트 기판의 전기 검사 장치로서, 고정부의 피장착면에서의 소정 부분에 양단부를 노출하여 형성된 복수의 고정부측 확인용 배선과, 소정의 고정부측 확인용 배선의 단부와 다른 고정부측 배선의 단부에 대응하도록 하여 검사 지그의 장착면에 양단부를 노출시켜 형성된 고정부측 확인용 배선보다도 하나 적은 복수의 검사 지그측 확인용 배선과, 검사 지그의 장착면에서의 복수의 고정부측 확인용 배선의 단부에 대응하는 부분 중의 검사 지그측 확인용 배선의 단부 이외의 부분과 검사용 배선 중의 소정의 검사용 배선의 단부를 각각 접속하는 두 개의 접속용 배선을 구비하고, 고정부에 검사 지그를 적정 상태로 장착했을 때에, 복수의 고정부측 확인용 배선, 복수의 검사 지그측 확인용 배선 및 접속용 배선이 전기적으로 접속되고, 상기 접속용 배선의 단부가 상기 검사 회로의 단자에 접속되는 것에 있다. In order to achieve the above object, a structural feature of the electrical inspection apparatus for a printed circuit board according to the present invention includes a fixed portion having a mounting surface exposed by a terminal of an inspection circuit connected to the apparatus main body side, and a distal end portion for inspection. An inspection jig having an inspection surface having a mounting surface mounted on the skin attachment surface and an inspection side exposed by the inspection probe with the proximal end of the inspection wiring composed of the probe exposed; An electrical inspection apparatus of a printed circuit board which performs inspection of the printed circuit board by connecting the inspection wiring and bringing the inspection probe into contact with the contacts of the printed circuit board, wherein the end surface is formed by exposing both ends to a predetermined portion of the surface to be mounted. The inspection is performed so as to correspond to the end portions of the plurality of fixing portion side confirmation wirings and predetermined end portions of the fixed portion side confirmation wirings and other fixing portion side wirings. Among the portions corresponding to the end portions of the plurality of inspection jig side confirmation wirings and the plurality of fixing part side confirmation wirings on the mounting surface of the inspection jig, which are one less than the fixing part side confirmation wiring formed by exposing both ends to the mounting surface of the yarn jig. When the inspection jig side is equipped with two connection wirings which respectively connect parts other than the end of the inspection wiring and the end of the predetermined inspection wiring in the inspection wiring, and when the inspection jig is attached to the fixed part in an appropriate state, The fixed part side confirmation wiring, the some test jig side confirmation wiring, and the connection wiring are electrically connected, and the edge part of the said connection wiring is connected to the terminal of the said test circuit.

전술한 바와 같이 구성한 본 발명의 프린트 기판의 전기 검사 장치에 의하면, 고정부에 검사 지그를 적정 상태로 장착했을 때에는, 복수의 고정부측 확인용 배선, 복수의 검사 지그측 확인용 배선 및 접속용 배선이 전기적으로 접속된다. 이 때문에, 검사 지그가 고정부에 적정 상태로 장착되어 있으면, 전기적 도통에 의해 검사 지그가 적정 위치에 있는 것 및 적정한 도통 상태가 되고 있는 것을 확인할 수 있다. 이 때문에, 센서 등의 검출 장치가 불필요해지는 동시에, 검출 장치의 조정 작업도 불필요해진다. 또한, 검출 장치를 설치하지 않아도 되기 때문에, 고정부의 소형화를 도모할 수 있다. According to the electrical inspection apparatus of the printed circuit board of the present invention configured as described above, when the inspection jig is properly mounted on the fixing portion, the plurality of fixing portion side confirmation wirings, the plurality of inspection jig side confirmation wirings, and the connection wiring Is electrically connected. For this reason, when the test jig is attached to the fixed part in an appropriate state, it can be confirmed that the test jig is in the proper position and is in the proper conduction state by electrical conduction. For this reason, the detection apparatus, such as a sensor, becomes unnecessary and the adjustment work of a detection apparatus becomes unnecessary. In addition, since the detection device does not have to be provided, the fixing part can be miniaturized.

또한, 본 발명에 따른 프린트 기판의 전기 검사 장치의 다른 구성상의 특징은, 고정부와 검사 지그 사이에 검사 회로의 단자와 검사용 배선의 단부를 접속하 는 도통용 접속부 및 복수의 고정부측 확인용 배선의 각 단부와 복수의 검사 지그측 확인용 배선의 각 단부 사이를 접속하는 확인용 접속부를 구비한 접속 부재를 설치한 것에 있다. 이것에 의하면, 고정부와 검사 지그 사이에 접속 부재를 설치하는 경우라도, 검사 지그가 고정부에 대하여 적정 상태로 장착되어 있는지 여부의 확인이 가능하다. Moreover, the other structural characteristic of the electrical inspection apparatus of the printed circuit board which concerns on this invention is the conduction connection part which connects the terminal of an inspection circuit and the edge of an inspection wiring between a fixed part and an inspection jig, and the some fixed part side confirmation The connection member provided with the confirmation connection part which connects between each edge part of wiring and each edge part of several inspection jig side confirmation wiring is provided. According to this, even when a connection member is provided between the fixed part and the inspection jig, it is possible to confirm whether or not the inspection jig is mounted in a proper state with respect to the fixed part.

또한, 본 발명에 따른 프린트 기판의 전기 검사 장치의 또 다른 구성상의 특징은, 복수의 고정부측 확인용 배선을 고정부의 피장착면에서의 네 모서리에 설치한 네 개의 배선으로 구성한 것에 있다. 이것에 의하면, 검사 지그와 고정부의 도통 상태를 확인하기 위한 기준 위치가 고정부의 네 구석이 되기 때문에, 검사 지그와 고정부의 대략 전체에 걸쳐 장착 상태가 적정한지 여부의 확인을 행할 수 있게 되어, 보다 정밀도가 좋은 위치의 확인이 가능해진다. Moreover, the other structural characteristic of the electrical inspection apparatus of the printed circuit board which concerns on this invention consists of four wirings provided in the four corners in the mounting surface of the fixed part of several fixed part side confirmation wiring. According to this, since the reference position for confirming the conduction state of a test jig and a fixed part becomes four corners of a fixed part, it can confirm whether the mounting state is appropriate over approximately the whole of a test jig and a fixed part. Thus, it is possible to confirm the position with higher accuracy.

또한, 본 발명에 따른 검사 지그의 고정 확인 방법의 구성상의 특징은, 장치 본체측에 접속된 검사 회로의 단자를 고정부의 피장착면으로부터 노출시키고, 검사 지그의 장착면에 선단부가 검사용 프로브로 구성되는 검사용 배선의 기단부를 노출시키는 동시에, 검사 지그의 검사 측면에 검사용 프로브를 노출시키고, 고정부에 검사 지그를 장착함으로써 검사 회로와 검사용 배선을 접속하고, 검사용 프로브를 프린트 기판의 접점에 접촉시킴으로써 행해지는 프린트 기판의 전기 검사에서의 검사 지그의 고정 확인 방법으로서, 고정부에 피장착면에서의 소정 부분에 양단부를 노출시킨 상태로 복수의 고정부측 확인용 배선을 형성하고, 검사 지그에 복수의 고정부측 확인용 배선 중의 상이한 고정부측 확인용 배선의 단부 사이를 접속할 수 있는 복수의 검사 지그측 확인용 배선을 형성하는 동시에, 검사 지그측 확인용 배선과 검사용 배선을 접속하는 접속용 배선을 형성하고, 고정부에 검사 지그를 적정 상태로 장착했을 때에, 복수의 고정부측 확인용 배선, 복수의 검사 지그측 확인용 배선 및 접속용 배선이 전기적으로 접속되고, 또한 상기 접속용 배선의 단부가 상기 검사 회로의 단자에 접속되며, 이 전기적 접속에 의해 검사 지그의 고정을 확인하는 것에 있다. Moreover, the structural feature of the fixing confirmation method of the test jig which concerns on this invention exposes the terminal of the test circuit connected to the apparatus main body side from the mounting surface of a fixed part, and the front-end | tip is a probe for test | inspection on the mounting surface of a test jig. By exposing the proximal end of the inspection wiring consisting of the same, exposing the inspection probe to the inspection side of the inspection jig, and attaching the inspection jig to the fixed portion, the inspection circuit and the inspection wiring are connected, and the inspection probe is connected to the printed board. A method for confirming the inspection jig in the electrical inspection of a printed circuit board which is made by contacting a contact with a contact, wherein a plurality of fixing part side confirmation wirings are formed in a state in which both ends are exposed at a predetermined portion on the surface to be fixed, A plurality of which can be connected to the inspection jig between the ends of the different fixing unit side confirmation wiring in the plurality of fixing unit side confirmation wiring Four jig side confirmation wirings are formed, and a connection jig for connecting the inspection jig side confirmation wirings and the inspection wires is formed, and when the inspection jig is mounted in a fixed state, The wiring, the plurality of inspection jig side confirmation wirings, and the connection wiring are electrically connected, and the end of the connection wiring is connected to the terminal of the inspection circuit, and the fixing of the inspection jig is confirmed by this electrical connection. have.

전술한 바와 같이 구성한 본 발명의 검사 지그의 고정 확인 방법에 의하면, 고정부에 검사 지그를 장착하는 것 만으로, 검사 지그가 고정부에 적정 상태로 고정되어 있는지 여부의 확인을 행할 수 있다. 이 때문에, 특히 센서 등의 검출 장치를 설치하지 않고 검사 지그의 고정을 확인할 수 있다. According to the fixing confirmation method of the inspection jig of this invention comprised as mentioned above, only by attaching an inspection jig to a fixed part, it can confirm whether an inspection jig is fixed to a fixed part in a suitable state. For this reason, fixing of a test jig can be confirmed especially without providing detection apparatuses, such as a sensor.

이하, 본 발명의 일 실시형태를 도면을 이용하여 자세히 설명한다. 도 1은 이 실시형태에 따른 프린트 기판의 전기 검사 장치(10)의 요부를 도시하고 있다. 이 전기 검사 장치(10)는 검사 대상물인 프린트 기판(11)에 설치된 전극 패턴(도시하지 않음)이 적정히 도통 또는 절연하고 있는지 여부를 검사하기 위한 검사 장치이다. 그리고, 이 전기 검사 장치(10)는 프린트 기판(11)을 설치하기 위한 설치 장치(도시하지 않음)와, 이동 장치(도시하지 않음)에 부착되어 이동 장치의 구동에 의해 프린트 기판(11)의 표면을 따라 이동하는 검사 지그(12)와, 전기 검사 장치(10)가 구비하는 각 장치를 제어하기 위한 제어 장치를 포함하는 검사 장치 본체(13)와, 검사 장치 본체(13)와 검사 지그(12)를 접속하는 접속 구조(20)로 구성되어 있다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, one Embodiment of this invention is described in detail using drawing. 1 shows the main part of an electrical inspection device 10 of a printed board according to this embodiment. This electrical inspection apparatus 10 is an inspection apparatus for inspecting whether the electrode pattern (not shown) provided in the printed circuit board 11 which is an inspection object is conducting or insulating suitably. The electrical inspection device 10 is attached to an installation device (not shown) for installing the printed board 11 and a moving device (not shown) to drive the moving device. The inspection apparatus main body 13 including the inspection jig 12 which moves along the surface, the control apparatus for controlling each apparatus with which the electrical inspection apparatus 10 is equipped, the inspection apparatus main body 13, and the inspection jig ( It consists of the connection structure 20 which connects 12).

또한, 프린트 기판(11)의 표면에는 전극 패턴과 그 전극 패턴에 도통하는 복 수의 전기적 접점(11a)이 설치되어 있고, 이 프린트 기판(11)은 텐션을 가하여 평면형상으로 뻗어진 상태로 네 구석을 파지되어 설치 장치의 소정의 설치 위치에 고정되어 있다. 그리고, 검사 지그(12)는 이동 장치의 구동에 의해서, 프린트 기판(11)의 상면에서의 좌우 방향, 전후 방향, 프린트 기판(11)의 상하면에 직교하는 방향 및 프린트 기판(11)의 상하면에 직교하는 소정의 축의 축 둘레의 방향에 각각 이동 가능 또는 회전 가능하게 되어 있다. In addition, an electrode pattern and a plurality of electrical contacts 11a conducting to the electrode pattern are provided on the surface of the printed board 11, and the printed board 11 is stretched in a planar shape by applying tension. The corner is gripped and fixed to a predetermined mounting position of the mounting apparatus. Then, the inspection jig 12 is driven to the left and right direction, the front and rear direction in the upper surface of the printed board 11, the direction orthogonal to the upper and lower surfaces of the printed board 11, and the upper and lower surfaces of the printed board 11 by driving the moving device. It is movable or rotatable in the direction around the axis of the predetermined axis orthogonal, respectively.

이 검사 지그(12)는 직사각형으로 형성되어 있고, 도 2 및 도 3에 도시한 바와 같이, 검사 지그(12)의 하부에는 복수의 검사 프로브(14)가 간격을 유지하여 부착되고, 검사 프로브(14)의 상부는 검사 지그(12)를 상하로 관통하는 검사용 배선(14a)에 접속 또는, 검사용 배선(14a)과 일체적으로 형성되어 있다. 그리고, 검사용 배선(14a)의 상단부는 전극부(14b)로서, 검사 지그(12)의 상면(12a)에, 간격을 유지하여 배치되어 있다. 이 검사 지그(12)의 상면(12a)은 본 발명의 장착면을 구성한다. The inspection jig 12 is formed in a rectangle, and as shown in FIGS. 2 and 3, a plurality of inspection probes 14 are attached to the lower portion of the inspection jig 12 at intervals, and the inspection probe ( The upper part of 14 is connected to the inspection wiring 14a which penetrates the inspection jig 12 up and down, or is integrally formed with the inspection wiring 14a. And the upper end part of the test wiring 14a is arrange | positioned on the upper surface 12a of the test jig 12 as the electrode part 14b, maintaining the space | interval. The upper surface 12a of the inspection jig 12 constitutes the mounting surface of the present invention.

또한, 검사 프로브(14)는 가는 바늘형상으로 형성되어 있고, 각 검사 프로브(14)의 하단부는 검사 지그(12)의 하면(12b)으로부터 아래쪽을 향하여 약간 돌출하여 있다. 이 검사 프로브(14)는 검사 지그(12)의 이동에 의해서 프린트 기판(11)의 전기적 접점(11a)에 접촉한다. 한편, 검사 지그(12)의 하면(12b)은 본 발명의 검사 측면을 구성한다. 그리고, 검사 프로브(14)가 전기적 접점(11a)에 접촉했을 때에 각 검사 프로브(14) 사이가 통전되고, 그 전기 저항값의 대소에 의해서 프린트 기판(11)의 전극 패턴이 적정히 도통하고 있는지 여부가 판정된다. 이 경우, 검출 신호가 검사 프로브(14)로부터 전극부(14b) 및 접속 구조(20)를 통해 검사 장치 본체(13)에 송신된다. Moreover, the test probe 14 is formed in the shape of a thin needle, and the lower end part of each test probe 14 projects slightly downward from the lower surface 12b of the test jig 12. The inspection probe 14 contacts the electrical contact 11a of the printed board 11 by the movement of the inspection jig 12. On the other hand, the lower surface 12b of the inspection jig 12 constitutes the inspection side of the present invention. And when the test probe 14 contacts the electrical contact 11a, between each test probe 14 is energized, and is the electrode pattern of the printed circuit board 11 conducting appropriately according to the magnitude of the electric resistance value? It is determined whether or not. In this case, the detection signal is transmitted from the inspection probe 14 to the inspection apparatus main body 13 through the electrode portion 14b and the connection structure 20.

또한, 미리 양품의 프린트 기판(11)의 전기 저항값을 바탕으로 하여 검사 판정 임계값이 설정되어 있고, 검출한 전기 저항값의 검사 판정 임계값에 대한 비율로 검사한 프린트 기판(11)의 양부의 판정이 행해진다. 이 때, 전기 검사가 도통 검사인 경우에는, 검출한 전기 저항값이 검사 판정 임계값에 대하여 소정 비율 이하이면 양품이라고 판정하고, 소정 비율 이상이면 불량품이라고 판정한다. 또한, 전기 검사가 절연 검사인 경우에는, 검출한 전기 저항값이 검사 판정 임계값에 대하여 소정 비율 이상이면 양품이라고 판정하고, 소정 비율 이하이면 불량품이라고 판정한다. Moreover, the inspection determination threshold value is set previously based on the electrical resistance value of the good quality printed circuit board 11, and both parts of the printed circuit board 11 which test | inspected by the ratio with respect to the inspection determination threshold value of the detected electrical resistance value are carried out. Is determined. At this time, when the electrical inspection is a conduction inspection, it is determined that the detected electrical resistance value is good quality if it is less than or equal to a predetermined ratio with respect to the inspection determination threshold value, and when it is more than or equal to a predetermined ratio, it is determined that it is defective. In addition, when the electrical inspection is an insulation inspection, it is determined that the detected electrical resistance value is a good product if it is equal to or more than a predetermined ratio with respect to the inspection determination threshold value, and when it is below a predetermined ratio, it is determined that it is defective.

또한, 검사 지그(12)의 상면(12a)에 설치된 전극부(14b)는, 도 3에 도시한 바와 같이, 소정 수의 그룹마다 분할되어 배치되어 있다. 한편, 도 3은 검사 지그(12)와 접속 구조(20)를 분해한 상태를 모식적으로 나타낸 것이고, 상세한 것은 다른 도면과 다르다. 또한, 도 3의 상태에서의 검사 지그(12)의 안측과 좌우 양측의 각 가장자리부를 따른 부분에는, 각각 양단부가 검사 지그(12)의 상면(12a)의 네 모서리에 노출한 검사 지그측 확인용 배선(15, 16, 17)이 설치되어 있다. Moreover, the electrode part 14b provided in the upper surface 12a of the test jig 12 is divided | segmented and arrange | positioned for every predetermined number of groups as shown in FIG. 3 shows the state which disassembled the inspection jig 12 and the connection structure 20 typically, and the detail differs from another figure. In addition, in the part along each edge part of the inner side and left and right sides of the inspection jig 12 in the state of FIG. 3, the inspection jig side confirmation which both ends exposed to four corners of the upper surface 12a of the inspection jig 12, respectively. The wirings 15, 16, and 17 are provided.

즉, 검사 지그측 확인용 배선(15)의 단부(15a, 15b)는, 도 3에서의 안측의 좌우로 연장되는 전극부(14b)의 열의 좌우 양측 부분에 노출하고 있다. 그리고, 검사 지그측 확인용 배선(16)의 단부(16a, 16b)는, 도 3에서의 좌측의 전후로 연장되는 전극부(14b)의 열의 안에서 두 번째인 전극부(14b)와 앞에서 두 번째인 전극 부(14b)의 좌측 부분에 노출하고, 검사 지그측 확인용 배선(17)의 단부(17a, 17b)는, 도 3에서의 우측의 전후로 연장되는 전극부(14b)의 열의 안에서 두 번째인 전극부(14b)와 앞에서 두 번째인 전극부(14b)의 우측 부분에 노출하고 있다. That is, the edge parts 15a and 15b of the inspection jig side confirmation wiring 15 are exposed to the left and right both sides of the column of the electrode part 14b extended to the left and right of the inner side in FIG. The end portions 16a and 16b of the inspection jig side confirmation wiring 16 are the second in the row of the electrode portions 14b extending forward and backward on the left side in FIG. The end portions 17a and 17b of the inspection jig side confirmation wiring 17 exposed to the left portion of the electrode portion 14b are second in the row of the electrode portions 14b extending back and forth on the right side in FIG. 3. It is exposed to the right part of the electrode part 14b and the electrode part 14b which is 2nd from the front.

또한, 검사 지그(12)의 전측의 가장자리부를 따른 부분에는 각각 한 쪽의 단부가 검사 지그(12)의 상면(12a)의 전측의 각부에 노출하고, 다른 쪽의 단부가 소정의 전극부(14b)에 접속된 접속용 배선(18, 19)이 설치되어 있다. 즉, 접속용 배선(18)의 한 쪽의 단부(18a)는, 전측의 좌우로 연장되는 전극부(14b)의 열의 좌측 부분에 노출하고, 다른 쪽의 단부(18b)는, 도 3의 바로 앞 좌측에 위치하는 전극부(14b)의 그룹의 전열 우단의 전극부(14b)에 접속되어 있다. 그리고, 접속용 배선(19)의 한 쪽의 단부(19a)는, 전측의 좌우로 연장되는 전극부(14b)의 열의 우측 부분에 노출하고, 다른 쪽의 단부(19b)는, 접속용 배선(18)의 다른 쪽의 단부가 접속된 전극부(14b)의 하나 안측의 전극부(14b)에 접속되어 있다. In addition, one end part is exposed to each part of the front side of the upper surface 12a of the test jig 12, and the other end part is predetermined electrode part 14b in the part along the front edge part of the test jig 12, respectively. Is connected to the wirings 18 and 19, respectively. That is, one end 18a of the connection wiring 18 is exposed to the left portion of the row of the electrode portions 14b extending left and right, and the other end 18b is immediately shown in FIG. 3. It is connected to the electrode part 14b of the heat transfer right end of the group of the electrode part 14b located in front left. One end portion 19a of the connection wiring 19 is exposed to the right side portion of the row of the electrode portions 14b extending left and right, and the other end portion 19b is connected to the connection wiring ( The other end of 18) is connected to an electrode portion 14b on one inner side of the connected electrode portion 14b.

이렇게 구성된 검사 지그(12)는, 도 2에 도시한 헤드부(21)에 착탈 가능한 상태로 부착되어 있다. 이 헤드부(21)는 접속 구조(20)의 일부를 구성하는 것으로, 검사 지그(12)가 부착되는 부착부(22)와, 본 발명의 접속 부재로서의 프로브 블록(23)와, 본 발명의 고정부로서의 접속용 블록(24)으로 구성되어 있다. 그리고, 부착부(22)는 간격을 유지한 상태로 대향하여 배치된 좌우 대칭의 측테두리부(22a, 22b)로 구성되어 있다. 검사 지그(12)는 측테두리부(22a, 22b) 사이에 밀어 넣음으로써 부착부(22)에 부착할 수 있다. The inspection jig 12 configured as described above is attached to the head portion 21 shown in FIG. 2 in a detachable state. The head portion 21 constitutes a part of the connection structure 20. The attachment portion 22 to which the inspection jig 12 is attached, the probe block 23 as the connection member of the present invention, and the present invention It is comprised by the block 24 for connection as a fixed part. And the attachment part 22 is comprised from the left-right symmetrical side edge part 22a, 22b arrange | positioned facing the state which kept the space | interval. The inspection jig 12 can be attached to the attachment part 22 by pushing in between the side edge parts 22a and 22b.

프로브 블록(23)은 내부에 본 발명의 도통용 접속부로서의 다수의 전기 접촉 자(25)와 본 발명의 확인용 접속부로서의 8개의 전기 접촉자(26)가 소정 간격을 유지한 상태로 부착된 블록체로 구성되어 있다. 전기 접촉자(25, 26)는 양단 부분에 수용 오목부가 형성된 막대 형상의 본체(25a, 26a)와, 스프링 부재를 통해 본체(25a, 26a)의 양단부로부터 진퇴 가능한 상태로 수용 오목부 내에 설치된 막대 형상의 접촉부(25b, 25c) 및 접촉부(26b, 26c)로 구성되어 있다. The probe block 23 is a block body attached therein with a plurality of electrical contacts 25 serving as a conductive connection part of the present invention and eight electrical contacts 26 serving as a confirming connection part of the present invention at a predetermined interval. Consists of. The electrical contacts 25 and 26 are rod-shaped main bodies 25a and 26a formed with receiving recesses at both ends thereof, and rod-shaped portions provided in the receiving recesses in a state capable of moving back and forth from both ends of the main bodies 25a and 26a through spring members. It consists of the contact part 25b, 25c and the contact part 26b, 26c.

프로브 블록(23)은, 이와 같이 구성된 복수의 전기 접촉자(25, 26)를 접촉부(25b, 26b)를 하면으로부터 돌출시키고 접촉부(25c, 26c)를 상면으로부터 돌출시킨 상태로 유지하고 있다. 또한, 전기 접촉자(25)는 검사 지그(12)의 전극부(14b)에 접촉할 수 있도록, 전극부(14b)와 동일한 배열로 배치되어 있다. 그리고, 전기 접촉자(26)는 검사 지그측 확인용 배선(15)의 단부(15a, 15b), 검사 지그측 확인용 배선(16)의 단부(16a, 16b), 검사 지그측 확인용 배선(17)의 단부(17a, 17b), 접속용 배선(18)의 단부(18a) 및 접속용 배선(19)의 단부(19a)에 접촉할 수 있도록 각 단부와 동일한 배열로 배치되어 있다. The probe block 23 keeps the electrical contacts 25 and 26 configured as described above protruding from the lower surface of the contact portions 25b and 26b and protruding the contact portions 25c and 26c from the upper surface. In addition, the electrical contacts 25 are arranged in the same arrangement as the electrode portions 14b so as to be in contact with the electrode portions 14b of the inspection jig 12. The electrical contact 26 includes end portions 15a and 15b of the inspection jig side confirmation wiring 15, end portions 16a and 16b of the inspection jig side confirmation wiring 16 and inspection jig side confirmation wiring 17. The ends 17a, 17b of (), the end 18a of the connection wiring 18, and the end 19a of the connection wiring 19 are arrange | positioned in the same arrangement as each end.

한편, 부착부(22)에는 에어 실린더(도시하지 않음)가 설치되어 있고, 에어 실린더의 구동에 의해서 부착부(22)는 프로브 블록(23)에 대하여 진퇴한다. 부착부(22)가 아래쪽에 위치하고 있는 경우에는 도 4에 도시한 상태가 되고, 부착부(22)가 위쪽에 위치한 경우에는 도 2에 도시한 상태가 된다. 그리고, 부착부(22)가 위쪽에 위치했을 때에, 검사 지그(12)의 전극부(14b)는 프로브 블록(23)의 전기 접촉자(25)에 접촉하고, 검사 지그(12)의 단부(15a, 15b, 16a, 16b, 17a, 17b, 18a, 19a)는, 프로브 블록(23)의 전기 접촉자(26)에 접촉한다. 또한, 도 5에 도시 한 바와 같이, 프로브 블록(23)의 양측에는 복수의 나사 삽입 관통 구멍(27)이 소정 간격을 유지하여 설치되어 있다. On the other hand, the attachment part 22 is provided with the air cylinder (not shown), and the attachment part 22 advances with respect to the probe block 23 by the drive of an air cylinder. When the attachment part 22 is located below, it will be in the state shown in FIG. 4, and when the attachment part 22 is located above, it will be in the state shown in FIG. And when the attachment part 22 is located upwards, the electrode part 14b of the test jig 12 contacts the electrical contact 25 of the probe block 23, and the edge part 15a of the test jig 12 is carried out. , 15b, 16a, 16b, 17a, 17b, 18a, 19a make contact with the electrical contact 26 of the probe block 23. As shown in FIG. 5, a plurality of screw insertion holes 27 are provided on both sides of the probe block 23 at predetermined intervals.

접속용 블록(24)은 하판(24a)과 상판(24b)으로 구성되어 있다. 그리고, 하판(24a)은 상하에 관통하는 복수의 슬릿(28)이 형성된 판체로 구성되어 있다. 이 슬릿(28)은 검사 지그(12)의 상면(12a)에 형성된 전극부(14b) 및 단부(15a) 등과 동일한 간격을 유지하여 동일한 배열로 설치되어 있다. 그리고, 하판(24a)의 양측에는 복수의 나사 구멍(29)이 간격을 유지하여 설치되어 있다. The connection block 24 is comprised from the lower board 24a and the upper board 24b. The lower plate 24a is formed of a plate body having a plurality of slits 28 penetrating up and down. The slits 28 are provided in the same arrangement with the same spacing between the electrode portions 14b and the end portions 15a and the like formed on the upper surface 12a of the inspection jig 12. A plurality of screw holes 29 are provided on both sides of the lower plate 24a with a gap therebetween.

상판(24b)은 평면에서 보아 하판(24a)의 외형과 대략 동일형의 판체로 구성되어 있고, 하판(24a)의 상면에 겹쳤을 때에, 하면에서의 슬릿(28)에 대향하는 부분이 공간부가 되도록 삽입 관통용 오목부(31)가 형성되어 있다. 이 삽입 관통용 오목부(31)는 겹친 상태의 하판(24a)과 상판(24b)의 한 쪽(도 5의 우측)이 개구하고, 그 밖의 부분은 폐색되어 있다. 이 삽입 관통용 오목부(31) 및 슬릿(28)을 동일 구조로 이루어지는 복수의 플렉시블 기판(32)의 일단측 부분이 삽입 관통하여 접속용 블록(24)의 하면(24c)에 고정되어 있다. 이 하면(24c)이 본 발명의 피장착면을 구성한다. The upper plate 24b is composed of a plate body of substantially the same shape as the outer shape of the lower plate 24a in plan view, and when the upper plate 24b overlaps the upper surface of the lower plate 24a, the portion facing the slit 28 at the lower surface thereof has a space portion. The insertion penetration recess 31 is formed as much as possible. In the insertion through recess 31, one of the lower plate 24a and the upper plate 24b in the overlapping state (open on the right side in FIG. 5) is opened, and the other part is closed. One end side portion of the plurality of flexible substrates 32 having the same structure is inserted through the insertion recessed portion 31 and the slit 28 and fixed to the bottom surface 24c of the connection block 24. This lower surface 24c constitutes a mounting surface of the present invention.

또한, 이 접속용 블록(24)의 하면(24c)에는 볼트(33)를 통해 프로브 블록(23)이 고정된다. 볼트(33)는 프로브 블록(23)의 나사 삽입 관통 구멍(27)을 삽입 관통하고, 하판(24a)의 나사 구멍(29)에 걸어 맞춤으로써 프로브 블록(23)을 접속용 블록(24)에 고정한다. 그 때, 접속용 블록(24)과 프로브 블록(23) 사이에는 스페이서(34)가 부착된다. 이 스페이서(34)의 중앙부에는 구멍부가 형성되어 있고, 볼트(33)는 이 구멍부 내를 삽입 관통하고 있다. In addition, the probe block 23 is fixed to the lower surface 24c of the connection block 24 via the bolt 33. The bolt 33 penetrates the threaded insertion hole 27 of the probe block 23 and engages the threaded hole 29 of the lower plate 24a to engage the probe block 23 with the connection block 24. Fix it. At that time, a spacer 34 is attached between the connection block 24 and the probe block 23. The hole part is formed in the center part of this spacer 34, and the bolt 33 penetrates the inside part of this hole part.

플렉시블 기판(32)은 접속용 블록(24)에 부착되는 패드부(32a)와, 띠형상의 배선부(32b)와, 검사 장치 본체(13)에 접속되는 랜드부(도시하지 않음)로 구성되어 있다. 그리고, 패드부(32a)의 표면에는 각각 검사 지그(12)의 전극부(14b)의 하나의 그룹과 동일한 배열로 배치된 전기적 접점(35)이 형성되어 있다. 이 전기적 접점(35)은 배선부(32b)에 설치된 본 발명의 검사 회로를 구성하는 각 배선의 단자 부분을 구성한다. The flexible substrate 32 is composed of a pad portion 32a attached to the connecting block 24, a strip-shaped wiring portion 32b, and a land portion (not shown) connected to the inspection apparatus main body 13. It is. On the surface of the pad portion 32a, electrical contacts 35 arranged in the same arrangement as one group of the electrode portions 14b of the inspection jig 12 are formed, respectively. This electrical contact 35 constitutes the terminal portion of each wiring constituting the inspection circuit of the present invention provided in the wiring portion 32b.

또한, 플렉시블 기판(32) 중의 접속용 블록(24)의 네 모서리에 위치하는 네 개의 플렉시블 기판(32)의 외부측의 각부에는, 각각 전후로 연장되는 길이가 짧은 고정부측 확인용 배선(36, 37, 38, 39)이, 양단부를 표면에 노출시킨 상태로 설치되어 있다. 고정부측 확인용 배선(36)의 단부(36a, 36b)는 검사 지그(12)의 검사 지그측 확인용 배선(15)의 단부(15a), 검사 지그측 확인용 배선(16)의 단부(16a)에 대응하고, 고정부측 확인용 배선(37)의 단부(37a, 37b)는, 검사 지그측 확인용 배선(16)의 단부(16b), 접속용 배선(18)의 단부(18a)에 대응하는 위치에 노출하고 있다. 또한, 고정부측 확인용 배선(38)의 단부(38a, 38b)는, 검사 지그측 확인용 배선(17)의 단부(17b), 접속용 배선(19)의 단부(19a)에 대응하고, 고정부측 확인용 배선(39)의 단부(39a, 39b)는, 검사 지그측 확인용 배선(15)의 단부(15b), 검사 지그측 확인용 배선(17)의 단부(17a)에 대응하는 위치에 노출하고 있다. In addition, in each of the outer side portions of the four flexible substrates 32 positioned at the four corners of the connection block 24 in the flexible substrate 32, the fixed portion side confirmation wirings 36 and 37 having a short length extending back and forth, respectively. , 38, 39 are provided in a state where both ends are exposed on the surface. The end parts 36a and 36b of the fixed part side confirmation wiring 36 are the end part 15a of the test jig side confirmation wiring 15 of the test jig 12, and the end 16a of the test jig side confirmation wiring 16. ), The end portions 37a and 37b of the fixing part side confirmation wiring 37 correspond to the end portion 16b of the inspection jig side confirmation wiring 16 and the end portion 18a of the connection wiring 18. Exposed to the position. The end portions 38a and 38b of the fixing portion side confirmation wiring 38 correspond to the end portion 17b of the inspection jig side confirmation wiring 17 and the end portion 19a of the connection wiring 19, End portions 39a and 39b of the positive side confirmation wiring 39 are positioned at positions corresponding to the end 15b of the inspection jig side confirmation wiring 15 and the end 17a of the inspection jig side confirmation wiring 17. Exposed

이와 같이 구성된 플렉시블 기판(32)의 패드부(32a)는 프로브 블록(23)과 접속용 블록(24)에 끼워진 상태로 고정된다. 또한, 랜드부의 표면에는 커넥터(41)가 부착되어 있고, 이 커넥터(41)를 통해 플렉시블 기판(32)은 검사 장치 본체(13)에 접속된다. 그리고, 검사 장치 본체(13)는 검사 프로브(14)로부터 보내져오는 검출 신호를 계측하는 회로로 이루어지는 계측부나, 제어 장치 등의 각 장치를 구비하고 있다. 계측부는 플렉시블 기판(32) 등으로 이루어지는 접속 구조(20)를 통해 검사 프로브(14)에 검사 신호를 출력하는 동시에, 검사 프로브(14)를 통해 프린트 기판(11)을 통과한 후에 되돌아오는 검출 신호를 입력한다. The pad portion 32a of the flexible substrate 32 configured as described above is fixed in a state of being fitted to the probe block 23 and the connection block 24. Moreover, the connector 41 is attached to the surface of a land part, and the flexible board 32 is connected to the test | inspection apparatus main body 13 through this connector 41. As shown in FIG. And the test | inspection apparatus main body 13 is equipped with each apparatus, such as a measuring part which consists of a circuit which measures the detection signal sent from the test | inspection probe 14, a control apparatus, etc. The measurement unit outputs the inspection signal to the inspection probe 14 through the connection structure 20 made of the flexible substrate 32 and the like, and the detection signal returned after passing through the printed substrate 11 through the inspection probe 14. Enter.

제어 장치는 CPU, ROM 및 RAM을 구비하고 있고, ROM에는 설치 장치나 이동 장치를 작동시키기 위한 프로그램 등의 각종 프로그램이 기억되어 있다. 또한, RAM에는 전술한 검출 신호 등, 전기 검사를 행하기 위해서 필요한 각종의 데이터가 재기록 가능하게 기억되어 있다. CPU는 ROM 및 RAM이 기억하는 각종의 프로그램이나 데이터에 의거하여 전기 검사 장치(10)를 제어하는 동시에, 계측부가 계측한 계측 결과로부터 검사 결과의 판정을 행한다. 또한, 이 전기 검사 장치(10)는 조작자가 각 조작을 행하기 위한 조작 패널이나, 검사 결과를 표시하기 위한 표시 패널도 구비하고 있다. The control device includes a CPU, a ROM, and a RAM, and various programs such as a program for operating the installation device and the mobile device are stored in the ROM. In addition, the RAM stores various types of data necessary for performing an electrical inspection such as the above-described detection signals so as to be rewritable. The CPU controls the electric inspection device 10 based on various programs and data stored in the ROM and RAM, and determines the inspection result from the measurement result measured by the measurement unit. Moreover, this electrical inspection apparatus 10 is equipped with the operation panel for an operator to perform each operation, and the display panel for displaying an inspection result.

이 구성에 있어서, 전기 검사 장치(10)를 이용하여 프린트 기판(11)의 도통검사를 행하는 경우에는, 우선, 소정의 플렉시블 기판(32)의 패드부(32a)를 접속용 블록(24)에 부착하는 동시에, 접속용 블록(24)에 프로브 블록(23)을 부착하여, 플렉시블 기판(32)의 패드부(32a)를 고정한다. 이어서, 플렉시블 기판(32)의 랜드부를 커넥터(41)를 통해 검사 장치 본체(13)에 접속한다. 다음에, 헤드부(21)의 부착부(22)에 검사 지그(12)를 끼워넣어 부착한다. In this configuration, when conducting conduction inspection of the printed circuit board 11 using the electrical inspection device 10, first, the pad portion 32a of the predetermined flexible substrate 32 is connected to the connection block 24. At the same time, the probe block 23 is attached to the connection block 24 to fix the pad portion 32a of the flexible substrate 32. Next, the land portion of the flexible substrate 32 is connected to the inspection apparatus main body 13 through the connector 41. Next, the inspection jig 12 is inserted and attached to the attachment portion 22 of the head portion 21.

이 때, 검사 지그(12)가 적정 상태로 프로브 블록(23)에 장착되어 있으면 고정부측 확인용 배선(36, 37, 38, 39), 전기 접촉자(26), 검사 지그측 확인용 배선(15, 16, 17) 및 접속용 배선(18, 19)이 연통하고, 접속용 배선(18, 19)에 접속된 전극부(18b, 19b)를 통해 검사 장치 본체(13)에 접속된 회로가 형성된다. 이 때문에, 검사 장치 본체(13)의 계측부가 측정하는 저항값이 소정값 이하이면, 상기 회로는 적정 상태로 도통하고 있고, 검사 지그(12)는 프로브 블록(23) 및 접속용 블록(24)에 대하여 올바른 위치에 위치 결정되어 있는 것을 확인할 수 있다. 그리고, 검사 지그(12)의 고정이 확인되면, 프린트 기판(11)을 설치 장치에 설치한다. At this time, if the inspection jig 12 is attached to the probe block 23 in a proper state, the fixing part side confirmation wirings 36, 37, 38, 39, the electrical contactor 26, and the inspection jig side confirmation wiring 15 , 16, 17 and connection wirings 18, 19 communicate with each other, and a circuit connected to the inspection apparatus main body 13 via electrode portions 18b, 19b connected to the connection wirings 18, 19 is formed. do. For this reason, when the resistance value measured by the measurement part of the test | inspection apparatus main body 13 is below a predetermined value, the said circuit is conducting in a suitable state, and the test jig 12 is the probe block 23 and the connection block 24. It can be confirmed that it is positioned at the correct position with respect to. When the fixing of the inspection jig 12 is confirmed, the printed circuit board 11 is attached to the mounting apparatus.

이어서, 이동 장치를 구동시킴으로써 헤드부(21)를 이동시켜 검사 지그(12)를 프린트 기판(11)의 소정의 전기적 접점(11a)의 위쪽에 이동시킨다. 다음에, 검사 지그(12)를 헤드부(21)와 함께 하강시켜 검사 프로브(14)를 전기적 접점(11a)에 접촉시킨다. 이 상태로 프린트 기판(11)의 전극 패턴의 전기 검사가 행해진다. 또한, 프린트 기판(11)에서의 다음의 검사 부분의 전기 검사를 행하는 경우에는, 재차 각 이동 장치를 구동시킴으로써 헤드부(21)를 상승시키는 동시에, 다음의 검사 위치에 이동시킨다. 그리고, 검사 지그(12)를 하강시켜 그 부분의 전기 검사를 행한다. 그리고, 전술한 조작을 순차 되풀이해감으로써 프린트 기판(11)에서의 모든 전기적 접점(11a)의 검사를 행한다. Subsequently, the head 21 is moved by driving the moving device to move the inspection jig 12 above the predetermined electrical contact 11a of the printed board 11. Next, the test jig 12 is lowered together with the head 21 to bring the test probe 14 into contact with the electrical contact 11a. In this state, the electrical inspection of the electrode pattern of the printed circuit board 11 is performed. In addition, when performing the electrical inspection of the next test | inspection part in the printed board 11, the head part 21 is raised by driving each moving apparatus again, and it moves to the next test | inspection position. Then, the inspection jig 12 is lowered to perform electrical inspection of the portion. Then, all the electrical contacts 11a on the printed circuit board 11 are inspected by sequentially repeating the above-described operation.

이와 같이, 본 실시형태에 따른 전기 검사 장치(10)에서는, 접속용 블록(24)에 고정된 프로브 블록(23)에 검사 지그(12)를 적정 상태로 장착했을 때에, 고정부 측 확인용 배선(36, 37, 38, 39), 검사 지그측 확인용 배선(15, 16, 17) 및 접속용 배선(18, 19)이 전기적으로 접속된다. 이 때문에, 전기적 도통의 유무에 의해 센서나 스위치 등의 검출 장치를 이용하지 않고 검사 지그(12)가 적정 위치에 있는 것 및 적정한 도통 상태가 되고 있는 것을 확인할 수 있다. 또한, 고정부측 확인용 배선(36, 37, 38, 39)을 접속용 블록(24)의 하면(24c)에서의 네 모서리에 설치했기 때문에, 검사 지그(12)와 접속용 블록(24)의 도통 상태를 확인하기 위한 위치가 접속용 블록(24)의 네 구석을 포함하는 대략 전체에 걸치기 때문에, 보다 정밀도가 좋은 위치의 확인이 가능해진다. Thus, in the electrical inspection apparatus 10 which concerns on this embodiment, when the inspection jig 12 is attached to the probe block 23 fixed to the connection block 24 in an appropriate state, the wiring part for confirmation of a fixed part side (36, 37, 38, 39), the inspection jig side confirmation wirings 15, 16, 17 and the connection wirings 18, 19 are electrically connected. For this reason, it can be confirmed that the inspection jig 12 is in an appropriate position and is in an appropriate conduction state without using a detection device such as a sensor or a switch by the presence or absence of electrical conduction. Moreover, since the fixing part side confirmation wiring 36, 37, 38, 39 was provided in the four corners in the lower surface 24c of the connection block 24, the inspection jig 12 and the connection block 24 of Since the position for confirming the conduction state covers almost the whole including four corners of the connection block 24, it is possible to confirm the position with higher precision.

또한, 본 발명에 따른 전기 검사 장치(10)는 전술한 실시형태에 한정하는 것이 아니고, 적절하게 변경하여 실시할 수 있다. 예컨대, 전술한 실시형태에서는 프로브 블록(23)을 설치하고 있지만, 이 프로브 블록(23)은 생략하여 접속용 블록(24)에 검사 지그(12)를 장착하도록 할 수도 있다. 또한, 이 프로브 블록(23)을 설치하는 동시에, 또 다른 접속 부재를 설치할 수도 있다. 또한, 고정부측 확인용 배선, 검사 지그측 확인용 배선 및 접속용 배선의 설치 위치, 길이, 수 등에 관해서도 적절하게 변경할 수 있다. 또한, 전기 검사 장치(10)를 구성하는 그 이외의 부분의 구성에 관해서도 적절하게 변경할 수 있다. In addition, the electrical inspection apparatus 10 which concerns on this invention is not limited to embodiment mentioned above, It can change suitably and can implement. For example, although the probe block 23 is provided in embodiment mentioned above, this probe block 23 can also be abbreviate | omitted and the inspection jig 12 can be attached to the connection block 24. FIG. In addition, while providing this probe block 23, you may provide another connection member. Moreover, the installation position, length, number, etc. of the fixing part side confirmation wiring, the inspection jig side confirmation wiring, and the connection wiring can also be changed suitably. In addition, the structure of the other part which comprises the electrical inspection apparatus 10 can also be changed suitably.

Claims (5)

장치 본체측에 접속된 검사 회로의 단자가 노출하는 피장착면을 갖는 고정부와, 선단부가 검사용 프로브로 구성되는 검사용 배선의 기단부를 노출시킨 상태로 상기 피장착면에 장착되는 장착면과 상기 검사용 프로브가 노출하는 검사 측면을 갖는 검사 지그를 구비하고, 상기 고정부에 상기 검사 지그를 장착함으로써 상기 검사 회로와 상기 검사용 배선을 접속하고, 상기 검사용 프로브를 프린트 기판의 접점에 접촉시킴으로써 상기 프린트 기판의 전기 검사를 행하는 프린트 기판의 전기 검사 장치로서,A fixing part having a mounting surface exposed by the terminals of the inspection circuit connected to the apparatus main body side, and a mounting surface mounted to the mounting surface with the tip end exposing the proximal end of the inspection wiring constituted by the inspection probe; An inspection jig having an inspection side exposed by the inspection probe, and by attaching the inspection jig to the fixing portion, the inspection circuit and the inspection wiring are connected, and the inspection probe is brought into contact with a contact of a printed board. As an electrical inspection apparatus of a printed circuit board which performs the electrical inspection of the said printed circuit board, 상기 고정부의 피장착면에 양단부를 노출하여 형성된 2 이상의 고정부측 확인용 배선과,Two or more fixing part side confirmation wires formed by exposing both ends on the surface to be mounted of the fixing part; 고정부측 확인용 배선의 단부와 다른 고정부측 확인용 배선의 단부에 대응하도록 하여 상기 검사 지그의 장착면에 양단부를 노출시켜 형성된 상기 고정부측 확인용 배선보다도 하나 적은 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선과,Two or more inspection jig side confirmation wires which are one less than the fixed part side confirmation wire formed by exposing both ends on the mounting surface of the inspection jig so as to correspond to an end of the fixed part side confirmation wire and another end of the fixed part side confirmation wire; , 상기 검사 지그의 장착면에서의 2 이상의 고정부측 확인용 배선의 단부에 대응하는 부분 중의 상기 검사 지그측 확인용 배선의 단부 이외의 부분과 상기 검사용 배선의 단부를 각각 접속하는 2개의 접속용 배선을 구비하고,Two connection wirings respectively connecting portions other than the end of the inspection jig side confirmation wiring and the end of the inspection wiring in a portion corresponding to an end of two or more fixing part side confirmation wirings on the mounting surface of the inspection jig. And 상기 고정부에 상기 검사 지그를 적정 상태로 장착했을 때에, 상기 2 이상의 고정부측 확인용 배선, 상기 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선 및 상기 접속용 배선이 전기적으로 접속되고, 상기 접속용 배선의 단부가 상기 검사 회로의 단자에 접속되는 것을 특징으로 하는 프린트 기판의 전기 검사 장치.When the inspection jig is attached to the fixing unit in a proper state, the two or more fixing unit side confirmation wirings, the two or more inspection jig side confirmation wirings, and the connection wiring are electrically connected, and an end of the connection wiring is provided. Is connected to a terminal of the inspection circuit. 청구항 1에 있어서, 상기 고정부와 상기 검사 지그 사이에 상기 검사 회로의 단자와 상기 검사용 배선의 단부를 접속하는 도통용 접속부 및 상기 2 이상의 고정부측 확인용 배선의 각 단부와 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선의 각 단부 사이를 접속하는 확인용 접속부를 구비한 접속 부재를 설치한 프린트 기판의 전기 검사 장치.The conducting connection part which connects the terminal of the said test circuit and the edge part of the said test wiring between the said fixed part and the said test jig, and each end of the said 2 or more fixed part side confirmation wiring, and 2 or more test jig sides. The electrical inspection apparatus of the printed circuit board provided with the connection member provided with the connection part for confirmation which connects between each edge part of the confirmation wiring. 청구항 1 또는 청구항 2에 있어서, 상기 2 이상의 고정부측 확인용 배선을, 상기 고정부의 피장착면에서의 네 모서리에 설치한 4개의 배선으로 구성한 프린트 기판의 전기 검사 장치.The electrical inspection device of a printed circuit board according to claim 1 or 2, wherein the two or more fixing part side confirmation wirings are formed of four wirings provided at four corners of the mounting surface of the fixing part. 청구항 1 또는 청구항 2에 기재된 프린트 기판의 전기 검사 장치가 구비하는 검사 지그로서, 상기 장착면에 양단부를 노출시켜 형성된 상기 고정부측 확인용 배선보다도 하나 적은 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선과, 상기 장착면에서의 상기 고정부측 확인용 배선의 2개의 단부에 대응하는 부분과 상기 검사용 배선의 단부를 각각 접속하는 2개의 접속용 배선을 구비한 검사 지그.An inspection jig provided in the electrical inspection apparatus of the printed circuit board of Claim 1 or 2, Comprising: Two or more test jig side confirmation wiring which is one less than the said fixed part side confirmation wiring formed by exposing both ends to the said mounting surface, The said mounting An inspection jig provided with two connection wirings respectively connecting portions corresponding to two ends of the fixing portion side confirmation wiring on the surface, and ends of the inspection wiring. 장치 본체측에 접속된 검사 회로의 단자를 고정부의 피장착면으로부터 노출시키고, 검사 지그의 장착면에 선단부가 검사용 프로브로 구성되는 검사용 배선의 기단부를 노출시키는 동시에, 상기 검사 지그의 검사 측면에 상기 검사용 프로브를 노출시키고, 상기 고정부에 상기 검사 지그를 장착함으로써 상기 검사 회로와 상기 검사용 배선을 접속하고, 상기 검사용 프로브를 프린트 기판의 접점에 접촉시킴으로써 행해지는 프린트 기판의 전기 검사에서의 검사 지그의 고정 확인 방법으로서,The terminal of the inspection circuit connected to the apparatus main body side is exposed from the mounting surface of the fixed portion, and the proximal end of the inspection wiring composed of the inspection probe is exposed on the mounting surface of the inspection jig, and the inspection of the inspection jig is performed. By exposing the inspection probe to a side surface, and attaching the inspection jig to the fixing portion, the inspection circuit and the inspection wiring are connected, and the electrical inspection of the printed circuit board is performed by contacting the inspection probe with a contact point of the printed board. As a fixed confirmation method of the inspection jig in the inspection, 상기 고정부에 상기 피장착면에 양단부를 노출시킨 상태로 2 이상의 고정부측 확인용 배선을 형성하는 단계,Forming at least two fixing part side confirming wires in a state in which both ends are exposed on the surface to be mounted on the fixing part; 상기 검사 지그에 상기 2 이상의 고정부측 확인용 배선 중의 상이한 고정부측 확인용 배선의 단부 사이를 접속할 수 있는 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선을 형성하는 동시에, 상기 검사 지그측 확인용 배선과 상기 검사용 배선을 접속하는 접속용 배선을 형성하는 단계, 및Two or more inspection jig side confirmation wirings which can be connected to the inspection jig between end portions of different fixing part side confirmation wirings of the two or more fixed part side confirmation wirings, and the inspection jig side confirmation wiring and the inspection Forming a connection wiring for connecting the wiring, and 상기 고정부에 상기 검사 지그를 적정 상태로 장착했을 때에, 상기 2 이상의 고정부측 확인용 배선, 상기 2 이상의 검사 지그측 확인용 배선 및 상기 접속용 배선이 전기적으로 접속되고, 또한 상기 접속용 배선의 단부가 상기 검사 회로의 단자에 접속되며, 이 전기적 접속에 의해 검사 지그의 고정을 확인하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 검사 지그의 고정 확인 방법.When the inspection jig is attached to the fixing unit in an appropriate state, the two or more fixing unit side confirmation wirings, the two or more inspection jig side confirmation wirings, and the connection wiring are electrically connected to each other. And an end of which is connected to a terminal of the inspection circuit, wherein the fixing of the inspection jig is confirmed by the electrical connection.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6259254B2 (en) 2013-10-18 2018-01-10 株式会社日本マイクロニクス Inspection apparatus and inspection method
CN103760388B (en) * 2013-12-31 2017-02-15 昆山鼎鑫电子有限公司 Four-wire test fixture and test method thereof
KR20230125518A (en) 2022-02-21 2023-08-29 주식회사 코엠에스 A bare board testing apparatus and method

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04278476A (en) * 1991-03-05 1992-10-05 Corp Of Herumesu:Kk Adapter for printed board test
US5578930A (en) 1995-03-16 1996-11-26 Teradyne, Inc. Manufacturing defect analyzer with improved fault coverage
KR19990017113A (en) * 1997-08-21 1999-03-15 구자홍 Printed circuit board inspection device and method
JP2004301538A (en) 2003-03-28 2004-10-28 Hioki Ee Corp Substrate inspection apparatus

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04278476A (en) * 1991-03-05 1992-10-05 Corp Of Herumesu:Kk Adapter for printed board test
US5578930A (en) 1995-03-16 1996-11-26 Teradyne, Inc. Manufacturing defect analyzer with improved fault coverage
KR19990017113A (en) * 1997-08-21 1999-03-15 구자홍 Printed circuit board inspection device and method
JP2004301538A (en) 2003-03-28 2004-10-28 Hioki Ee Corp Substrate inspection apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200451134Y1 (en) 2010-05-18 2010-11-29 주식회사 플렉스컴 Jig for circuti test of Flexible Printed Circuit Board

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