KR100924491B1 - Device for inspecting a Solar Cell and Method of the Same - Google Patents

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KR100924491B1
KR100924491B1 KR1020090026401A KR20090026401A KR100924491B1 KR 100924491 B1 KR100924491 B1 KR 100924491B1 KR 1020090026401 A KR1020090026401 A KR 1020090026401A KR 20090026401 A KR20090026401 A KR 20090026401A KR 100924491 B1 KR100924491 B1 KR 100924491B1
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solar
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한진희
박길원
박창용
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(주) 엠브이텍
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Abstract

PURPOSE: A device for inspecting a solar cell and method of the same is provided to prevent the occurrence of the poorly-made article by performing the ink scan and marking display on the solar cell. CONSTITUTION: The power supply unit(100) approves one selected in the solar module(200) of the forward current and reverse voltage. The EL imaging camera part(300) generates the EL image and takes a photograph the EL light emitted from the solar module by the approval of a current or a voltage. Communication terminal units(400,500) grasp the defect present of the solar module by analyzing the received EL image. The communication terminal unit controls the marking. If a forward current is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes the same EL images to inspect external split, internal split and brightness deterioration. If a backward current is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes the same EL images to inspect the short and the junction break-down or the hot spotting state.

Description

솔라 셀 검사 장치 및 그 방법{Device for inspecting a Solar Cell and Method of the Same}Device for inspecting a Solar Cell and Method of the Same

본 발명은 솔라 셀 검사 기술에 관한 것으로, 특히 다수의 솔라 셀이 인라인화된 솔라 모듈을 대상으로 밀폐된 공간 내에서 솔라 모듈의 결함 상태를 검사하는 솔라 셀 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solar cell inspection technology, and more particularly, to a solar cell inspection apparatus and method for inspecting a defect state of a solar module in an enclosed space for a solar module in which a plurality of solar cells are inlined.

일반적으로, 솔라 셀은 태양의 에너지를 직접 전기 에너지로 바꾸는 장치이다. 전지라는 이름이 붙어있지만 건전지 등의 전지와는 다르다. 태양전지는 방송위성뿐 아니라 휴대용 전자계산기, 전자시계, 옥외시계, 무인등대, 텔레비전·라디오 중계소에 이르기까지 그 응용범위가 점점 넓어지고 있다. 재료는 실리콘, 칼륨 등이다. 태양광을 에너지원으로 하고 있기 때문에 연료의 보급이 불필요하며 통신위성, 방송위성 등의 전원으로서 사용되고 있다.In general, solar cells are devices that convert the sun's energy directly into electrical energy. The battery is named, but it is different from batteries such as batteries. Solar cells are widely used in not only broadcasting satellites but also portable electronic calculators, electronic clocks, outdoor clocks, unmanned light towers, and television and radio relay stations. The material is silicon, potassium and the like. Since solar light is used as an energy source, fuel supply is unnecessary and is used as a power source for communication satellites and broadcasting satellites.

기존의 솔라 셀 검사는 솔라 셀에 빛을 조사하여, 전류-전압의 특성을 분석하는 방법을 주로 사용하였으나, 솔라 셀의 수명과 밀접하게 관계된 각종 결함들 즉, 외부 크랙, 내부 크랙, 휘도 저하, 전극불량, 쇼트, 접합 항복 또는 열점 중 일부분만이 검사됨에 의해 미세 결함을 검사하지 못하는 문제점이 있었다.Conventional solar cell inspection mainly uses a method of analyzing the current-voltage characteristics by irradiating light to the solar cell, but various defects that are closely related to the lifetime of the solar cell, that is, external crack, internal crack, luminance deterioration, Since only a part of the electrode defect, the short, the junction yield or the hot spot was inspected, there was a problem that the micro defects could not be inspected.

특히, 외관상 보이지는 않으나 진행성으로 인해 적층 공정시 전체 솔라 모듈에 심각한 오류를 유발시키는 내부 크랙에 대한 결함은 종래의 솔라 셀 검사 방법을 사용해선 전혀 발견하지 못해 추후 솔라 모듈의 전 공정이 진행되고 나서야 비로소 인지된 까닭으로 말미암아 출고된 솔라 모듈 전체를 버려야만 하다는 심각한 문제점을 안고 있었으며, 더욱 심각한 것은 지금도 빈번하게 일어나고 있으며 앞으로도 더 큰 피해가 예상된다는 점에서 더 이상 간과해선 않된다는 필요성이 요구되고 있다 하겠다.In particular, defects on internal cracks, which are not visible in appearance but cause a serious error in the entire solar module during the lamination process due to their progress, are not found at all using the conventional solar cell inspection method. It was only recognized that there was a serious problem of having to discard the entire solar module, and even more serious things are happening now and more damage is expected in the future. .

본 발명의 솔라 셀 검사 장치 및 그 방법은 앞서 본 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 제 1 목적은 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 솔라 모듈에 인가됨에 의해 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광으로부터 EL 이미지를 얻어내고, EL 이미지의 분석을 통해 솔라 모듈의 결함 확인 후 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀에 잉크 주사 및 마킹 표시함으로써, 솔라 모듈에 기구성된 적어도 하나 이상의 불량 솔라 셀을 적층 공정 들어가기 전에 수리하여 불량 제품 유출의 원천적인 문제를 해결하기 위함이다.The solar cell inspection apparatus and method thereof of the present invention have been devised to solve the problems of the prior art. A first object of the present invention is to provide a solar cell inspection apparatus by selecting one of a forward current and a reverse voltage from a solar module. Obtaining an EL image from the emitted EL light, and analyzing and analyzing the EL image, then checking and marking the at least one solar cell that is recognized as defective after identifying defects in the solar module, thereby at least one or more defective solar cells instrumented to the solar module. This is to solve the original problem of defective product leakage by repairing before entering the lamination process.

또한, 본 발명의 제 2 목적은 적어도 하나 이상의 불량 솔라 셀에 결함 위치를 정확히 찾아내어 지속적으로 발생될 수 있는 결함에 대한 발생 요인을 차단하여 다수의 솔라 셀을 포함하는 솔라 모듈 제품의 질을 향상시켜 질 좋은 솔라 모듈 양산을 통한 산업 발전에 이바지 및 수익 창출을 기대하기 위함이다.In addition, the second object of the present invention is to accurately locate defects in at least one or more defective solar cells and to block the occurrence factors for defects that can be continuously generated to improve the quality of solar module products including a plurality of solar cells. It is to expect to contribute to industry development and profit generation through mass production of high quality solar module.

상기의 과제를 달성하기 위한 본 발명은 다음과 같은 구성을 포함한다.The present invention for achieving the above object includes the following configuration.

즉, 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 장치는, 다수의 솔라 셀이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈을 형성하고, 상기 솔라 모듈의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사하는 장치로, 상기 솔라 모듈에 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가시키는 전원 공급부; 상기 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 상기 솔라 모듈에 인가됨을 확인함에 따라, 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광을 촬영하여 EL 이미지를 생성시키는 EL 이미지 생성 카메라부; 및 상기 수신된 EL 이미지를 분석하여 상기 솔라 모듈의 결함 존재 여부를 파악하고, 상기 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀 중 적어도 하나가 불량인 것으로 인식할 경우, 상기 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀이 마킹 표시되도록 제어하는 통신 단말기부를 포함하며, 상기 순방향 전류가 상기 솔라 모듈에 인가될 경우, 상기 통신 단말기부는 상기 다수의 솔라 셀 수와 동일한 EL 이미지를 각각 분석하여 상기 다수의 솔라 셀에 대한 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량 상태를 검사하거나, 상기 역방향 전압이 상기 솔라 모듈에 인가할 경우, 상기 통신 단말기부는 상기 EL 이미지 각각을 분석하여 상기 다수의 솔라 셀에 대한 쇼트, 접합 항복 또는 열점 상태를 검사하는 것을 특징으로 한다.That is, in the solar cell inspection apparatus according to the embodiment of the present invention, a plurality of solar cells are bundled into a plurality of rows and columns to form an inlined solar module, and an apparatus for inspecting a defect state of the solar module in an enclosed space. A power supply for applying a selected one of a forward current and a reverse voltage to the solar module; An EL image generating camera unit for photographing the EL light emitted from the solar module to generate an EL image, when the selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the solar module; And analyzing the received EL image to determine whether a defect exists in the solar module, and when recognizing that at least one of a plurality of solar cells mechanically configured in the solar module is defective, the at least one solar cell that is recognized as defective And a communication terminal unit for controlling the marking to be displayed. When the forward current is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes an EL image equal to the number of the plurality of solar cells, respectively, and analyzes the inside of the plurality of solar cells. When checking for cleavage, external cleavage, deterioration of luminance, or electrode failure, or when the reverse voltage is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes each of the EL images and performs a short, junction breakdown, or It is characterized by checking the hot spot condition.

또한, 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 방법은, 다수의 솔라 셀이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈로 형성됨에 따라, 상기 솔라 모듈의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사하는 방법으로, 상기 솔라 모듈에 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 인가되는 단계; 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광이 촬영됨에 따라, EL 이미지가 생성되고 난 후 외부로 송출되는 단계; 상기 순방향 전류가 상기 솔라 모듈에 인가된 경우, 상기 수신된 EL 이미지의 분석을 통해 상기 솔라 모듈이 상기 다수의 솔라 셀을 대상으로 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량 상태를 검사받는 단계; 상기 역방향 전압이 상기 솔라 모듈에 인가될 경우, 상기 수신된 EL 이미지의 분석을 통해 상기 솔라 모듈이 상기 다수의 솔라 셀을 대상으로 쇼트, 접합 항복 또는 열점 상태를 검사받는 단계; 상기 수신된 EL 이미지의 분석에 의해 상기 솔라 모듈의 결함 존재 여부가 파악되는 단계; 및 상기 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀 중 적어도 하나가 불량으로 인식될 경우, 상기 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀이 잉크 주사에 의해 마킹 표시되는 단계;를 포함한다.In addition, in the solar cell inspection method according to an embodiment of the present invention, as a plurality of solar cells are formed into an inlined solar module, which is bundled into a plurality of rows and columns, the defect state of the solar module is inspected in a closed space. A method comprising applying a selected one of a forward current and a reverse voltage to the solar module; As the EL light emitted from the solar module is photographed, an EL image is generated and then sent out; When the forward current is applied to the solar module, inspecting the solar module for internal cleavage, external cleavage, deterioration of luminance, or electrode failure through the analysis of the received EL image; When the reverse voltage is applied to the solar module, inspecting the solar module for a short, junction breakdown or hot spot condition through the analysis of the received EL image; Determining whether a defect exists in the solar module by analyzing the received EL image; And when at least one of the plurality of solar cells mechanically configured in the solar module is recognized as defective, marking the at least one solar cell which is recognized as defective by ink scanning.

본 발명의 솔라 셀 검사 장치 및 그 방법은 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 솔라 모듈에 인가됨에 의해 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광으로부터 EL 이미지를 얻어내고, EL 이미지의 분석을 통해 솔라 모듈의 결함 확인 후 불 량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀에 잉크 주사 및 마킹 표시함으로써, 솔라 모듈에 기구성된 적어도 하나 이상의 불량 솔라 셀을 적층 공정 들어가기 전에 수리하여 불량 제품 유출의 원천적인 문제를 해결하는 제 1 효과를 주며, 적어도 하나 이상의 불량 솔라 셀에 결함 위치를 정확히 찾아내어 지속적으로 발생될 수 있는 결함에 대한 발생 요인을 차단하여 다수의 솔라 셀을 포함하는 솔라 모듈 제품의 질을 향상시켜 질 좋은 솔라 모듈 양산을 통한 산업 발전에 이바지 및 수익 창출을 기대할 수 있는 제 2 효과를 준다.The solar cell inspection apparatus and method thereof of the present invention obtain an EL image from the EL light emitted from the solar module by applying a selected one of the forward current and the reverse voltage to the solar module, and analyze the EL image to determine the defect of the solar module. The first effect of repairing at least one defective solar cell mechanically incorporated into the solar module before entering the lamination process by solving ink scanning and marking on at least one solar cell which is recognized as defective after confirmation, thereby solving the original problem of defective product leakage. Accurately locates defects in at least one defective solar cell and blocks the occurrence of defects that can occur continuously, thereby improving the quality of solar module products including multiple solar cells. Has a second effect that can contribute to the development of the industry .

[실시예]EXAMPLE

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 장치를 도시한 도면이다.1 is a view showing a solar cell inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1를 참조하면, 솔라 셀 검사 장치(1000)는 전원 공급부(100), 솔라 모듈(200), EL 이미지 생성 카메라부(300), 통신 단말기부(400, 500)를 비롯하여 발열 도체판(210), 잉크젯 마킹부(310) 및 디스플레이부(410)를 포함하는 장치로, 다수의 솔라 셀(220)이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈(200)을 형성하고, 솔라 모듈(200)의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사한다.Referring to FIG. 1, the solar cell inspection apparatus 1000 may include a power supply unit 100, a solar module 200, an EL image generating camera unit 300, a communication terminal unit 400 and 500, and a heating conductor plate 210. ), The inkjet marking unit 310 and the display unit 410, a plurality of solar cells 220 are bundled into a plurality of rows and columns to form an inlined solar module 200, the solar module 200 ) Check for defects in the enclosed space.

솔라 셀 검사 장치(1000)는 다음과 같은 프로세싱을 통해 솔라 모듈(200)의 결함 상태를 검사한다. 간략히 설명하자면, 10*6개의 솔라 셀(220)로 기구성된 솔 라 모듈(200)이 장치 내로 진입하면, 전원 공급부(100)는 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가하며, 5대의 EL 이미지 생성 카메라부(300)는 좌우 시프트 동작을 통해 10*1개의 솔라 셀(220)로부터 EL 이미지를 우선적으로 생성한다. The solar cell inspection apparatus 1000 inspects a defect state of the solar module 200 through the following processing. In brief, when the solar module 200, which is composed of 10 * 6 solar cells 220, enters the device, the power supply 100 applies one selected from the forward current and the reverse voltage, and the five EL images The generation camera unit 300 preferentially generates the EL image from the 10 * 1 solar cells 220 through the left and right shift operation.

솔라 셀 검사 장치(1000)는 솔라 모듈(200)을 상하 시프트시켜 6회 반복을 통해 10*6개의 솔라 셀(220)로부터 10*6개의 EL 이미지를 모두 생성시켜 통신 단말기부(400, 500)에 전달하고, 통신 단말기부(400, 500)는 이로부터 수신된 EL 이미지를 분석하여 적어도 하나의 불량 솔라 셀(220)을 인식한다. The solar cell inspecting apparatus 1000 vertically shifts the solar module 200 to generate all 10 * 6 EL images from the 10 * 6 solar cells 220 through six iterations to communicate terminal units 400 and 500. And the communication terminal unit 400, 500 analyzes the EL image received therefrom and recognizes at least one defective solar cell 220.

[표 1]은 솔라 셀 검사 장치(1000)의 전처리 과정에서 소요되는 시간을 나타낸 것으로, 프로세싱에 대한 이해를 돕는데 필요한 표라 하겠다.[Table 1] shows the time required for the pre-processing of the solar cell inspection apparatus 1000, and it will be a table necessary to help understanding the processing.

솔라 모듈 상하 시프트 동작 시간Solar module up / down shift operation time 홀수편 솔라 셀 검사 by 순방향 전류Odd piece solar cell inspection by forward current 홀수편 솔라 셀 검사 by 역방향 전압Odd piece solar cell inspection by reverse voltage EL 이미지 생성 카메라 좌우 시프트 동작 시간EL Image Generation Camera Left and Right Shift Operation Time 짝수편 솔라 셀 검사 by 순방향 전류Even-Side Solar Cell Inspection by Forward Current 홀수편 솔라 셀 검사 by 역방향 전압Odd piece solar cell inspection by reverse voltage 2sec*6=12sec2sec * 6 = 12sec 2sec*6=12sec2sec * 6 = 12sec 1sec*6=6sec1sec * 6 = 6sec 1sec*6=6sec1sec * 6 = 6sec 2sec*6=12sec2sec * 6 = 12sec 1sec*6=6sec1sec * 6 = 6sec 12+12+6+6+12+6=54sec12 + 12 + 6 + 6 + 12 + 6 = 54sec

본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 장치(1000)의 세부 장치에 대해 좀 더 구체적으로 설명하자면 다음과 같다.The detailed apparatus of the solar cell inspection apparatus 1000 according to an embodiment of the present invention will be described in more detail as follows.

솔라 모듈(200)은 발열 도체판(210) 상에 기마련된 상단에 안착되고, 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가받아 솔라 모듈(200)로부터 EL(Electro-Luminescence) 광을 방출시킨다.The solar module 200 is mounted on the upper end of the heating conductor plate 210 and receives one selected from a forward current and a reverse voltage to emit EL (Electro-Luminescence) light from the solar module 200.

도 2에서 보여지는 바와 같이, 전원 공급부(100)는 M*Z개의 솔라 셀(220)을 포함하는 솔라 모듈(200)에 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가시킨다.As shown in FIG. 2, the power supply unit 100 applies a selected one of a forward current and a reverse voltage to a solar module 200 including M * Z solar cells 220.

전원 공급부(100)는 제곱 센치미터당 10 내지 40mA의 순방향 전류를 솔라 모듈(200)에 인가하거나, -12 내지 -5V의 역방향 전압을 솔라 모듈(200)에 인가한다.The power supply unit 100 applies a forward current of 10 to 40 mA per square centimeter to the solar module 200, or applies a reverse voltage of −12 to −5 V to the solar module 200.

즉, 전원 공급부(100)가 순방향 전류를 M*Z개의 솔라 셀(220)로 구성된 솔라 모듈(200)에 인가할 경우, 이하에 설명될 통신 단말기부(400, 500)는 EL 이미지 생성 카메라부(300)의 좌우 시프트 동작하며 촬영 실시된 다수의 홀수 행 또는 다수의 홀수 열에 해당하는 M*Z/2개의 EL 이미지 각각을 분석하여 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량에 대해 검사하게 된다①.That is, when the power supply unit 100 applies the forward current to the solar module 200 composed of M * Z solar cells 220, the communication terminal 400, 500 to be described below is an EL image generating camera unit. Each of the M * Z / 2 EL images corresponding to the plurality of odd rows or odd columns taken by the left and right shift operation of 300 is analyzed to check for internal cleavage, external cleavage, luminance degradation, or electrode failure. ①.

전원 공급부(100)가 역방향 전압을 M*Z개의 솔라 셀(220)로 구성된 솔라 모듈(200)에 인가할 경우, 통신 단말기부(400, 500)는 EL 이미지 생성 카메라부(300)의 좌우 시프트 동작하며 촬영 실시된 다수의 홀수 행 또는 다수의 홀수 열에 해당하는 M*Z/2개의 EL 이미지 각각을 분석하여 쇼트, 접합 항복 또는 열점에 대해 검사하게 된다②.When the power supply unit 100 applies the reverse voltage to the solar module 200 composed of M * Z solar cells 220, the communication terminal units 400 and 500 shift left and right of the EL image generating camera unit 300. In operation, each M * Z / 2 EL image corresponding to a plurality of odd-numbered rows or a plurality of odd-numbered columns is analyzed and inspected for short, junction yield, or hot spot ②.

또한, 전원 공급부(100)가 순방향 전류를 M*Z개의 솔라 셀(220)로 구성된 솔라 모듈(200)에 인가할 경우, 통신 단말기부(400, 500)는 EL 이미지 생성 카메라부(300)의 좌우 시프트 동작하며 촬영 실시된 다수의 짝수 행 또는 다수의 짝수 열에 해당하는 M*Z/2개의 EL 이미지 각각을 분석하여 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량에 대해 검사하게 된다①'.In addition, when the power supply unit 100 applies a forward current to the solar module 200 composed of M * Z solar cells 220, the communication terminal unit 400, 500 is connected to the EL image generating camera unit 300. The M * Z / 2 EL images corresponding to a plurality of even rows or even columns taken by the left-right shift operation are analyzed to check for internal cleavage, external cleavage, deterioration of luminance, or poor electrode ① '.

전원 공급부(100)가 역방향 전압을 M*Z개의 솔라 셀(220)로 구성된 솔라 모듈(200)에 인가할 경우, 통신 단말기부(400, 500)는 EL 이미지 생성 카메라부(300)의 좌우 시프트 동작하며 촬영 실시된 다수의 짝수 행 또는 다수의 짝수 열에 해당하는 M*Z/2개의 EL 이미지 각각을 분석하여 쇼트, 접합 항복 또는 열점에 대해 검사하게 된다②'.When the power supply unit 100 applies the reverse voltage to the solar module 200 composed of M * Z solar cells 220, the communication terminal units 400 and 500 shift left and right of the EL image generating camera unit 300. In operation, M * Z / 2 EL images corresponding to a plurality of even rows or a plurality of even columns, which are photographed, are analyzed and inspected for short, junction yield, or hot spot ② '.

결과적으로, EL 이미지 생성 카메라부(300)는 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 솔라 모듈(200)에 인가됨을 확인함에 따라, 솔라 모듈(200)로부터 방출되는 EL 광을 촬영하여 EL 이미지를 생성시킨다.As a result, the EL image generating camera unit 300 confirms that the selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the solar module 200, thereby photographing the EL light emitted from the solar module 200 to generate an EL image. Let's do it.

또한, EL 이미지가 통신 단말기부(400, 500)에 수신되면, 전원 공급부(100)가 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나 외 다른 하나를 인가함에 따라, EL 이미지 생성 카메라부(300)는 솔라 모듈(200)로부터 방출되는 다른 EL 광을 촬영하여 다른 EL 이미지를 생성한다.In addition, when the EL image is received by the communication terminal units 400 and 500, the EL image generating camera unit 300 is configured as a solar module as the power supply unit 100 applies another one selected from the forward current and the reverse voltage. Different EL light emitted from 200 is taken to generate another EL image.

EL 이미지 생성 카메라부(300)는 Cooled-Si-CCD 카메라 또는 InGaAs CCD 카메라 중 선택된 하나를 다수개 포함하며, 솔라 모듈(200)에 기구성된 다수의 솔라 셀(220)로부터 각각 방출되는 다수의 EL 광을 촬영하여 다수의 EL 이미지를 생성시킨다.The EL image generating camera unit 300 includes a plurality of selected ones of a Cooled-Si-CCD camera or an InGaAs CCD camera, and a plurality of ELs respectively emitted from the plurality of solar cells 220 mechanically configured in the solar module 200. Photograph the light to create multiple EL images.

Cooled-Si-CCD 카메라는 다수의 솔라 셀(220)을 포함하는 솔라 모듈(200)의 결함 상태를 검사하는 장치로, 1344*1024 픽셀 또는 2048*2048 픽셀의 고해상도를 가지며 InGaAs 카메라에 비해 노출 시간이 길 뿐만 아니라 10% @1000nm 보다 낮은 응답성과 저민감도로 인해 가격이 비싼 특징을 가지고 있다.The Cooled-Si-CCD camera is a device that inspects the defect state of the solar module 200 including the plurality of solar cells 220. The Cooled-Si-CCD camera has a high resolution of 1344 * 1024 pixels or 2048 * 2048 pixels and an exposure time compared to an InGaAs camera. In addition to this route, it is expensive due to its low responsiveness and low sensitivity than 10% @ 1000nm.

InGaAs 카메라는 Cooled-Si-CCD 카메라와 마찬가지로 다수의 솔라 셀(220)을 포함하는 솔라 모듈(200)의 결함 상태를 검사하는 장치로, 320*255 픽셀 또는 640*512 픽셀의 저해상도를 가지며, Cooled-Si-CCD 카메라에 비해 노출 시간이 짧다.InGaAs camera is a device that checks the defect status of the solar module 200 including a plurality of solar cells 220, like the Cooled-Si-CCD camera, and has a low resolution of 320 * 255 pixels or 640 * 512 pixels and is cooled. -Shorter exposure time than Si-CCD camera.

또한, InGaAs 카메라는 900 내지 1700 nm 응답성과 민감도로 인해 가격이 매우 비싼 특징을 가지고 있다. 그 밖에도, Back Thinned Si-CCD 카메라 또는 EMCCD 카메라는 Cooled-Si-CCD 카메라 또는 InGaAs 카메라를 대체할 수 있는 용도로도 사용 가능하며, Cooled-Si-CCD 카메라 또는 InGaAs 카메라에서 나타나는 여럿 기능적특징을 모두 가지고 있어, 솔라 모듈(200)로부터 방출되는 EL 광을 촬영하는데 사용 용이성이 크다 할 것이다.InGaAs cameras are also very expensive due to their 900-1700 nm responsiveness and sensitivity. In addition, Back Thinned Si-CCD cameras or EMCCD cameras can be used as a replacement for Cooled-Si-CCD cameras or InGaAs cameras, and all of the functional features found in Cooled-Si-CCD cameras or InGaAs cameras. It will have a great ease of use for shooting the EL light emitted from the solar module 200.

추가 설명으로, EL 이미지 생성 카메라부(300)는 다수의 솔라 셀(220)로부터 EL 이미지를 획득할 수 있도록 1100nm의 응답성과, 외부 크랙, 내부 크랙을 검출할 수 있는 정도의 고해상도, 짧은 노출 시간, 고감도성, 고화질성, 설치 편의성, 인터페이스의 간소성 또는 적절한 가격을 기준으로 하여 선정한다.As a further description, the EL image generating camera unit 300 has a responsiveness of 1100 nm, high resolution enough to detect external cracks, and internal cracks so as to acquire EL images from the plurality of solar cells 220. Selection is based on high sensitivity, high image quality, ease of installation, simplicity of interface or appropriate price.

통신 단말기부(400, 500)는 EL 이미지 생성 카메라부(300)로부터 수신된 EL 이미지를 분석하여 솔라 모듈(200)의 결함 존재 여부를 확인하고, 솔라 모듈(200)에 기구성된 다수의 솔라 셀(220) 중 적어도 하나가 불량인 것으로 인식할 경우, 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀(220)이 마킹 표시되도록 제어한다.The communication terminal units 400 and 500 analyze the EL image received from the EL image generating camera unit 300 to determine whether a defect exists in the solar module 200, and the plurality of solar cells that are mechanically formed in the solar module 200. When it is recognized that at least one of the 220 is defective, the at least one solar cell 220 recognized as defective is controlled to be marked.

통신 단말기부(400, 500)는 다수의 검사용 통신 단말기(400)와 제어용 통신 단말기(500)를 포함하며, 다수의 검사용 통신 단말기(400)는 수신된 EL 이미지를 분석하여 솔라 모듈(200)의 결함 존재 여부를 확인하고, 솔라 모듈(200)에 가구성된 다수의 솔라 셀(220) 중 적어도 하나를 불량으로 인식한다.The communication terminal units 400 and 500 include a plurality of inspection communication terminals 400 and a control communication terminal 500, and the plurality of inspection communication terminals 400 analyze the received EL images and perform solar module 200. ), And identifies at least one of the plurality of solar cells 220 furnished in the solar module 200 as defective.

제어용 통신 단말기(500)는 다수의 검사용 통신 단말기(400)의 신호 처리 및 데이터 통신을 제어하며, 전원 공급부(100)의 전원 공급, EL 이미지 생성 카메라부(300)의 좌우 시프트 동작 또는 솔라 모듈(200)의 상하 시프트 동작을 제어한다.The control communication terminal 500 controls the signal processing and data communication of the plurality of inspection communication terminals 400, the power supply of the power supply unit 100, the left and right shift operation of the EL image generating camera unit 300 or the solar module The up / down shift operation of 200 is controlled.

또한, 제어용 통신 단말기(500)는 도 3에서 보여지는 바와 같이 잉크젯 마킹부(310)의 잉크 주사 동작 및 마킹 표시 동작을 제어한다.In addition, the control communication terminal 500 controls the ink scanning operation and the marking display operation of the inkjet marking unit 310 as shown in FIG. 3.

잉크젯 마킹부(310)는 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀(220)의 일표면에 잉크를 주사하여 마킹 표시하는 장치로, Z순차대로 잉크 분사시키는 M개의 헤더를 이용하여 M*Z개의 솔라 셀(220)로 기구성된 솔라 모듈(200) 전체 중 통신 단말기부(400, 500)에 의해 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀(220)에만 잉크를 분사시켜 마킹 표시한다.The inkjet marking unit 310 is a device for scanning and marking ink on one surface of at least one solar cell 220 which is recognized as a defect. The inkjet marking unit 310 uses M * Z solar cells by using M headers which spray ink in Z order. The ink is sprayed to at least one solar cell 220 that is recognized as defective by the communication terminal units 400 and 500 among all of the solar modules 200 that are mechanically configured as 220 to display the marking.

이로부터 마킹 표시된 솔라 모듈(200)은 별개의 수리 공정을 통해 내부에 존재하는 적어도 하나의 불량 제품인 솔라 셀(220)을 대상으로 수리 작업을 실시하며, 정상 제품인 솔라 모듈(200)은 적층 공정으로 넘어가 제품 완성을 위한 적층 작업을 실시한다. The solar module 200 marked therefrom performs repair work on the solar cell 220 which is at least one defective product existing therein through a separate repair process, and the solar module 200 which is a normal product is a lamination process. Go ahead and do lamination to finish the product.

디스플레이부(410)는 통신 단말기부(400, 500)에 수신된 EL 이미지를 형성화시켜 보여주며, 통신 단말기부(400, 500)의 다수의 검사용 통신 단말기(400)와 제어용 통신 단말기(500)에 의해 분석되는 EL 이미지를 캡쳐하여 영상 화면상에 그대로 재연시켜 준다.The display unit 410 forms EL images received in the communication terminal units 400 and 500, and displays a plurality of test communication terminals 400 and control communication terminals 500 of the communication terminal units 400 and 500. Captures the EL image analyzed by) and reproduces it on the video screen as it is.

도 4는 통신 단말기부(400, 500)가 EL 이미지 생성 카메라부(300)로부터 전달된 EL 이미지 분석 후 솔라 모듈(200)의 결함 존재 여부를 확인함에 따라, 솔라 모듈(200)에 기구성된 다수의 솔라 셀(220) 중 적어도 하나가 불량으로 인식된 경우에 나타나는 결함 상태를 보여주는 사진이다.4 illustrates a plurality of mechanisms configured in the solar module 200 as the communication terminal 400 or 500 confirms whether a defect exists in the solar module 200 after analyzing the EL image transmitted from the EL image generating camera unit 300. The photo shows a defect state that appears when at least one of the solar cells 220 is recognized as defective.

즉, 도 4에 보여지는 정상 솔라 셀(220)은 도 5의 불량 솔라 셀에서 나타나는 것과는 다르게 외부 쪼개짐(221), 내부 쪼개짐(222) 또는 전극 불량(223)과 같은 결함을 전혀 발견할 수 없다.That is, unlike the normal solar cell 220 shown in FIG. 4, the defects such as the external cleavage 221, the internal cleavage 222, or the electrode failure 223 are not found at all. .

도 5의 불량 솔라 셀은 통신 단말기부(400, 500)에 수신된 EL 이미지를 분석함에 따라, 그 내부에 나타나는 외부 쪼개짐(221), 내부 쪼개짐(222) 또는 전극 불량(223)과 같은 결함 요인을 보여주는 사진으로, 솔라 셀 검사 장치(1000)는 전원 공급부(100)로부터 제공되는 순방향 전류를 솔라 모듈(200)에 인가할 경우, 솔라 모듈(200)로부터 방출되는 EL 광을 EL 이미지 생성 카메라부(300)의 촬영으로 얻어낸 EL 이미지를 통신 단말기부(400, 500)의 분석에 의거하여 검출해 낸 검사 결과이다.As the defective solar cell of FIG. 5 analyzes EL images received by the communication terminal units 400 and 500, defect factors such as an external cleavage 221, an internal cleavage 222, or an electrode defect 223 appear therein. As the photo shows, the solar cell inspection apparatus 1000 applies the EL light emitted from the solar module 200 to the EL image generating camera unit when the forward current provided from the power supply unit 100 is applied to the solar module 200. It is an inspection result which detected the EL image obtained by imaging | photography of 300 based on the analysis of the communication terminal parts 400 and 500. FIG.

도 6 역시, 불량 솔라 셀은 통신 단말기부(400, 500)에 수신된 EL 이미지를 분석하여 찾아낸 결함 요인을 보여주는 사진으로, 도 5에서 나타나지 않는 휘도 저하(224)에 대한 결함을 더 보여주기 위해 제시된 사진이다.6, the defective solar cell is a photograph showing a defect factor found by analyzing the EL image received by the communication terminal 400, 500. In order to further illustrate a defect for the luminance deterioration 224 not shown in FIG. 5. The picture presented.

즉, 도 5와 도 6에서 보여지는 결함 요인인 외부 쪼개짐(221), 내부 쪼개짐(222), 전극 불량(223) 또는 휘도 저하(224)는 전원 공급부(100)에 의해 제공되는 순방향 전류가 솔라 모듈(200)에 인가됨에 따라 EL 이미지 분석을 통해 구해진 검사 결과이다.That is, the external cleavage 221, the internal cleavage 222, the electrode failure 223, or the luminance deterioration 224, which are the defect factors shown in FIGS. 5 and 6, have a forward current provided by the power supply 100. It is a test result obtained through EL image analysis as applied to the module 200.

도 7은 도 5와 도 6에서 나타나는 결함 요인 중 외부 쪼개짐(221) 또는 내부 쪼개짐(222)을 나타낸 사진으로, 소위 외부 쪼개짐(221) 또는 내부 쪼개짐(222)을 통칭하여 크랙(Crack)이라고 호칭한다. FIG. 7 is a photograph showing the external cleavage 221 or the internal cleavage 222 among the defect factors shown in FIGS. 5 and 6. The so-called external cleavage 221 or the internal cleavage 222 is collectively called a crack. do.

본 발명의 실시예에 따른 EL 이미지 분석에 의해 기검사된 크랙은 솔라 모듈(200)의 제조 공정상 또는 솔라 모듈(200)의 조립 공정상 문제로 인해 솔라 셀의 내부 또는 외부가 유리 조각처럼 깨지는 현상이다. 크랙은 진행성 결함의 일종으로 EL 이미지에서는 얇은 실선의 형태로 얻어지는 불량 영역이다.The cracks inspected by EL image analysis according to an embodiment of the present invention are broken inside or outside of the solar cell due to a problem in the manufacturing process of the solar module 200 or an assembly process of the solar module 200. It is a phenomenon. A crack is a kind of progressive defect and is a defective area obtained in the form of a thin solid line in an EL image.

크랙 결함은 최초 백색영역에서 흑색영역으로 바뀌고, 다시 흑색영역에서 백색영역으로 영상 변화가 일어나는 원인이 된다. 크랙에 관한 진행성이 연속적으로 5mm 이상일 경우 크랙 결함인 것으로 판단된다.The crack defect is changed from the first white area to the black area, which causes a change in the image from the black area to the white area. If the progression of the crack is continuously 5 mm or more, it is determined that the crack is a defect.

특히, 내부 쪼개짐(222)은 본 발명의 솔라 셀 검사 장치(1000)를 통해 유관으로 검사 가능하다는 점에서 가장 큰 장점이 있다 하겠다.In particular, the internal cleavage 222 has the greatest advantage in that it can be inspected by the associated duct through the solar cell inspection apparatus 1000 of the present invention.

도 8은 도 5와 도 6에서 나타나는 결함 요인 중 전극 불량(223)을 나타낸 사진으로, 솔라 셀의 전극선과 인접하면서 일정 영역의 밝기가 기준 밝기보다 어두울 경우 전극 불량(223)인 것으로 판단된다.FIG. 8 is a photograph showing an electrode defect 223 among the defect factors shown in FIGS. 5 and 6. When the brightness of a predetermined region is darker than the reference brightness while adjacent to the electrode line of the solar cell, the electrode defect 223 is determined.

다시 말해, 솔라 셀의 전극선과 인접한 영역을 시작으로 솔라 셀의 패턴 방향과 수평 방향으로 이동하면서 영상의 밝기가 기준 밝기보다 어두우면서 그 시작이 전극선과 인접할 경우 전극 불량(223)인 것으로 판단된다.In other words, when the brightness of the image is darker than the reference brightness and the start is adjacent to the electrode line while moving in the horizontal direction and the pattern direction of the solar cell, starting from an area adjacent to the electrode line of the solar cell, it is determined that the electrode is defective 223. .

도 9는 도 5와 도 6에서 나타나는 결함 요인 중 휘도 저하(224)를 나타낸 사진으로, 휘도 저하(224)는 기측정된 영상 평균 휘도값보다 솔라 셀의 일정 영역에서 영상 휘도값이 작은 값으로 측정되어 검은 반점이나 검은 줄이 나타나는 것을 말하며, 크랙과 인접한 영역을 시작으로 크랙 라인을 주변으로 영상의 휘도값이 기준 휘도보다 어두운 경우 휘도 저하(224)인 것으로 판단된다.FIG. 9 is a photograph showing a decrease in luminance 224 among the defect factors shown in FIGS. 5 and 6, wherein the decrease in luminance 224 is a value in which an image luminance value is smaller in a predetermined region of a solar cell than a previously measured image average luminance value. It is measured that black spots or black lines appear. If the luminance value of the image is darker than the reference luminance starting from an area adjacent to the crack, the luminance is determined to be a luminance decrease 224.

도 10은 전원 공급부(100)에 의해 제공되는 역방향 전압이 솔라 모듈(200)에 인가됨에 따라 EL 이미지 분석을 통해 구해진 결과값에 해당하는 결함 요인을 나타낸 사진으로, 쇼트(225), 접합 항복(226) 또는 열점(227)과 같은 결함 요인을 보여주고 있다.FIG. 10 is a photograph showing a defect factor corresponding to a result obtained through EL image analysis as the reverse voltage provided by the power supply unit 100 is applied to the solar module 200. The short 225 and the junction breakdown ( 226 or hot spots 227.

즉, 쇼트(225)은 특정 영역의 저항 성분이 작아 흐르지 말아야 할 전류가 흐르게 되는 현상으로 솔라 셀 영역 내에 과전류가 일어나 포화현상에 따른 백색 픽셀이 존재하게 되고, 솔라 셀의 밝기 정도가 기준치 이상으로 뭉쳐져 도드라진 밝기 세기가 나타날 경우 쇼트(225)인 것으로 판단된다.That is, the short 225 is a phenomenon in which a current that should not flow due to a small resistance component flows in the solar cell region so that an overcurrent occurs in the solar cell region so that a white pixel due to saturation exists and the brightness of the solar cell is higher than the reference value. When the intensity of the aggregates appear, it is determined that the short (225).

접합 항복(226)은 일정 전압 이하에서 솔라 셀의 P-N 접합의 고유 성질을 잃고 역전류가 급격히 나타나는 현상을 말하며, 급격한 역전류로 인해 내부 열이 발생되어 기준치 이상의 밝기 세기가 순간적으로 발생된 후, 자신의 고유 밝기 세기를 잃어버리는 경우 접합 항복(226)인 것으로 판단된다.The junction breakdown 226 refers to a phenomenon in which a reverse current suddenly occurs and a reverse current suddenly appears when a solar cell loses the intrinsic property of a PN junction below a predetermined voltage. If it loses its inherent brightness intensity, it is determined to be a junction breakdown 226.

열점(227)은 솔라 셀 내부의 전기적 쇼트시 전원이 인가될 경우 과전류로 인하여 붉은 점 모양을 갖는 전극 불량 현상을 일컫는다. 일정 전압 이하에서 솔라 셀의 P-N 접합의 성질을 잃고 급격한 역전류의 발생으로 붉은 점 같은 모양이 나타나는 경우 열점(227)인 것으로 판단된다.The hot spot 227 refers to an electrode failure phenomenon having a red dot shape due to an overcurrent when power is applied during an electrical short inside the solar cell. If the solar cell loses the property of the P-N junction below a certain voltage and a red dot-like appearance occurs due to the rapid reverse current, it is determined that it is a hot spot 227.

[표 2]는 전원 공급부(100)로부터 제공되는 순방향 전류 또는 역방향 전압이 솔라 모듈에 인가되는 경우, 이로부터 인식되는 다수의 솔라 셀의 결함 상태를 보여주는 표이다.[Table 2] is a table showing a defect state of a plurality of solar cells recognized therefrom when a forward current or a reverse voltage provided from the power supply unit 100 is applied to the solar module.

검사 항목Inspection items 순방향 전류Forward current 역방향 전압Reverse voltage 외부 쪼개짐External cleavage OO XX 내부 쪼개짐Internal split OO XX 쇼트short XX OO 휘도 저하Lower brightness OO XX 전극 불량Electrode failure OO XX 접합 항복Junction Yield XX OO 열점Hotspot XX OO

[표 2]에서 알 수 있는 바와 같이, 순방향 전류가 인가될 경우, 다수의 솔라 셀은 외부 쪼개짐(221), 내부 쪼개짐(222), 전극 불량(223) 또는 휘도 저하(224)에 대한 결함을 검사할 수 있으며, 역방향 전압이 인가될 경우, 다수의 솔라 셀은 쇼트(225), 접합 항복(226) 또는 열점(227)에 대한 결함을 검사할 수 있다.As can be seen in Table 2, when a forward current is applied, a number of solar cells are defective for external cleavage 221, internal cleavage 222, electrode failure 223, or brightness degradation 224. If a reverse voltage is applied, multiple solar cells can check for defects on the short 225, junction breakdown 226 or hot spot 227.

도 11은 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 방법을 나타낸 순서도이다.11 is a flowchart illustrating a method for inspecting a solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 11를 참조하면, 솔라 셀 검사 방법은 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 솔라 모듈에 인가됨에 의해 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광으로부터 EL 이미지를 얻어내고, EL 이미지의 분석을 통해 솔라 모듈의 결함 확인 후 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀에 잉크 주사 및 마킹 표시하는 방법이다.Referring to FIG. 11, the solar cell inspection method obtains an EL image from an EL light emitted from the solar module by applying a selected one of a forward current and a reverse voltage to the solar module, and analyzes the defect of the solar module through analysis of the EL image. After checking, the ink scanning and marking method is performed on at least one solar cell which is recognized as a defect.

솔라 셀 검사 방법은 다수의 솔라 셀이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈로 형성됨에 따라, 솔라 모듈의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사하는 방법으로(S10), 먼저, 솔라 모듈이 기마련된 발열 도체판 상단에 안착될 경우 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 솔라 모듈에 인가된다(S20).The solar cell inspection method is a method of inspecting a defect state of a solar module in an enclosed space as a plurality of solar cells are formed into an inlined solar module, which is bundled into a plurality of rows and columns (S10). When it is seated on the top of the heat generating conductor plate is selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the solar module (S20).

순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 발열 도체판에 인가됨에 따라, EL 광이 솔라 모듈로부터 방출된다.As selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the heating conductor plate, EL light is emitted from the solar module.

또한, 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광이 촬영됨에 따라, 생성된 EL 이미지가 외부로 송출된다(S30, S40).Further, as the EL light emitted from the solar module is photographed, the generated EL image is sent out (S30, S40).

외부 송출된 EL 이미지가 수신된 후, 수신된 EL 이미지를 대상으로 EL 이미지 분석이 실시된다(S50).After the externally transmitted EL image is received, EL image analysis is performed on the received EL image (S50).

EL 이미지 분석은 기설정된 솔라 셀 검사 스펙트럼 알고리즘에 의해 물리적, 광학적, 전기적으로 면밀히 이루어지며, 솔라 셀의 조직 검사 및 결함 상태에 대한 정밀 검사가 실시된다.The EL image analysis is closely performed physically, optically, and electrically by a predetermined solar cell inspection spectral algorithm, and a histological examination of the solar cell and a detailed inspection of the defect state are performed.

여기서, 만약, EL 이미지가 수신 완료된 경우 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나 외 다른 하나가 인가될 시, 솔라 모듈로부터 방출되는 다른 EL 광이 촬영된 다음 다른 EL 이미지가 생성되어 외부 송출되는 것에 유의한다.Here, if the EL image has been received, when another one selected from the forward current and the reverse voltage is applied, it is noted that other EL light emitted from the solar module is photographed, and then another EL image is generated and transmitted externally. .

솔라 모듈의 결함 존재 여부가 수신된 EL 이미지의 분석에 의해 확인된다(S60).The presence or absence of a defect in the solar module is confirmed by analysis of the received EL image (S60).

일 예를 들어 상기 내용을 정리하자면, 순방향 전류가 N개의 솔라셀로 구성된 솔라 모듈에 인가될 경우, 기촬영된 다수의 홀수 행 또는 다수의 홀수 열에 해당하는 N/2개의 EL 이미지 각각이 분석되어 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량에 대한 결함 상태가 검사된다.For example, in the above description, when forward current is applied to a solar module composed of N cells, each of the N / 2 EL images corresponding to the plurality of odd-numbered rows or odd-numbered columns is analyzed. Defect conditions for internal cleavage, external cleavage, reduced brightness, or electrode failure are examined.

또한, 역방향 전압이 N개의 솔라셀로 구성된 솔라 모듈에 인가될 경우, 기촬영된 다수의 홀수 행 또는 다수의 홀수 열에 해당하는 N/2개의 EL 이미지 각각이 분석되어 쇼트, 접합 항복 또는 열점에 대한 결함 상태가 검사된다.In addition, when a reverse voltage is applied to a solar module consisting of N cells, each of the N / 2 EL images corresponding to the plurality of odd-numbered rows or odd-numbered columns is analyzed to detect short, junction breakdown, or hot spots. The fault condition is checked.

다른 일 예로, 순방향 전류가 N개의 솔라셀로 구성된 솔라 모듈에 인가될 경우, 기촬영된 다수의 짝수 행 또는 다수의 짝수 열에 해당하는 N/2개의 EL 이미지 각각이 분석되어 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량에 대한 결함 상태가 검사된다.As another example, when forward current is applied to a solar module consisting of N cells, each of the N / 2 EL images corresponding to the plurality of even rows or even columns that have been photographed is analyzed to have internal cleavage, external cleavage, The defect state for the brightness deterioration or the electrode failure is checked.

또한, 역방향 전압이 N개의 솔라셀로 구성된 솔라 모듈에 인가될 경우, 기촬영된 다수의 짝수 행 또는 다수의 짝수 열에 해당하는 N/2개의 EL 이미지 각각이 분석되어 쇼트, 접합 항복 또는 열점에 대한 결함 상태가 검사된다.In addition, when a reverse voltage is applied to a solar module consisting of N cells, each of the N / 2 EL images corresponding to a plurality of even rows or even columns that have been photographed is analyzed to detect a short, junction breakdown, or hot spot. The fault condition is checked.

결국, 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀 중 적어도 하나가 불량으로 인식될 경우(S70), 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀이 잉크 주사로 인해 마킹 표시된다(S80, S90).As a result, when at least one of the plurality of solar cells mechanically configured in the solar module is recognized as defective (S70), the at least one solar cell recognized as defective is marked and displayed by ink scanning (S80 and S90).

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.While the above has been described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be able to variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 장치를 도시한 도면이다.1 is a view showing a solar cell inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 실시예에 따른 M*Z개의 솔라 셀을 포함하는 솔라 모듈(200)로부터 방출되는 EL 광을 촬영하는 모습을 나타낸 도면이다.FIG. 2 is a diagram illustrating an image of EL light emitted from a solar module 200 including M * Z solar cells according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 솔라 모듈에 잉크 주사 및 마킹 표시하는 동작 과정을 나타낸 도면이다.3 is a diagram illustrating an operation process of scanning and marking ink on a solar module according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 실시예에 따른 정상 솔라 셀의 실제 모습을 보여주는 사진이다.4 is a photograph showing an actual state of a normal solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 5는 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 보여주는 제 1 사진이다.5 is a first picture showing an actual state of a defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 보여주는 제 2 사진이다.6 is a second picture showing the actual appearance of the defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 7은 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 좀 더 자세히보여주는 사진이다.7 is a photograph showing in more detail the actual appearance of the defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 8은 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 좀 더 자세히보여주는 다른 사진이다.8 is another picture showing in more detail the actual appearance of the defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 9는 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 좀 더 자세히보여주는 또 다른 사진이다.9 is another photograph showing in more detail the actual appearance of the defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 10은 본 발명의 실시예에 따른 불량 솔라 셀의 실제 모습을 보여주는 제 3 사진이다.10 is a third picture showing an actual state of a defective solar cell according to an embodiment of the present invention.

도 11은 본 발명의 실시예에 따른 솔라 셀 검사 방법을 나타낸 순서도이다.11 is a flowchart illustrating a method for inspecting a solar cell according to an embodiment of the present invention.

Claims (13)

다수의 솔라 셀이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈을 형성하고, 상기 솔라 모듈의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사하는 솔라 셀 검사 장치로,A solar cell inspection apparatus, in which a plurality of solar cells are bundled into a plurality of rows and columns to form an inlined solar module, and the defect state of the solar module is inspected in an enclosed space. 상기 솔라 모듈에 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가시키는 전원 공급부;A power supply unit applying a selected one of a forward current and a reverse voltage to the solar module; 상기 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 상기 솔라 모듈에 인가됨을 확인함에 따라, 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광을 촬영하여 EL 이미지를 생성시키는 EL 이미지 생성 카메라부; 및An EL image generating camera unit for photographing the EL light emitted from the solar module to generate an EL image, when the selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the solar module; And 상기 수신된 EL 이미지를 분석하여 상기 솔라 모듈의 결함 존재 여부를 파악하고, 상기 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀 중 적어도 하나가 불량인 것으로 인식할 경우, 상기 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀이 마킹 표시되도록 제어하는 통신 단말기부를 포함하며,When the received EL image is analyzed to determine whether a defect exists in the solar module, and when it is recognized that at least one of the plurality of solar cells mechanically configured in the solar module is defective, the at least one solar cell recognized as defective It includes a communication terminal for controlling to display the marking, 상기 순방향 전류가 상기 솔라 모듈에 인가될 경우, 상기 통신 단말기부는 상기 다수의 솔라 셀 수와 동일한 EL 이미지를 각각 분석하여 상기 다수의 솔라 셀에 대한 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량 상태를 검사하거나, 상기 역방향 전압이 상기 솔라 모듈에 인가할 경우, 상기 통신 단말기부는 상기 EL 이미지 각각을 분석하여 상기 다수의 솔라 셀에 대한 쇼트, 접합 항복 또는 열점 상태를 검사하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 장치.When the forward current is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes an EL image equal to the number of the solar cells, respectively, to determine internal cleavage, external cleavage, luminance deterioration, or electrode failure for the plurality of solar cells. Or when the reverse voltage is applied to the solar module, the communication terminal unit analyzes each of the EL images to check short, junction breakdown, or hot spot conditions for the plurality of solar cells. Device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 솔라 모듈이 기마련된 상단에 안착되게 하고, 상기 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나를 인가받아 상기 솔라 모듈로부터 EL 광을 방출시키는 발열 도체판을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 장치.And a heating conductor plate configured to allow the solar module to be seated on an upper end of the solar module, and to emit EL light from the solar module by receiving a selected one of the forward current and the reverse voltage. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀의 일표면에 잉크를 주사하여 마킹 표시하는 잉크젯 마킹부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 장치.And an inkjet marking unit which scans and marks ink on one surface of the at least one solar cell which is recognized as defective. 제 1 항에 있어서, 상기 통신 단말기부는,The method of claim 1, wherein the communication terminal unit, 상기 수신된 EL 이미지 분석을 통해 상기 다수의 솔라 셀에 대한 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하, 쇼트, 접합 항복, 열점, 또는 전극 불량 상태를 검사함으로써 상기 솔라 모듈의 결함 존재 여부를 확인하는 다수의 검사용 통신 단말기; 및A plurality of solar modules verifying the presence of defects in the solar module by examining internal cleavage, external cleavage, luminance deterioration, short, junction breakdown, hot spot, or electrode failure status for the plurality of solar cells through the received EL image analysis. Inspection communication terminal; And 상기 다수의 검사용 통신 단말기의 검사 과정을 모니터링하며, 상기 전원 공급부의 전원 인가, 상기 마킹 표시 동작, 상기 EL 이미지 생성 카메라부의 좌우 시프트 동작 또는 상기 솔라 모듈의 상하 시프트 동작을 제어하는 제어용 통신 단말기를 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 장치.A control communication terminal for monitoring the inspection process of the plurality of communication communication terminals for controlling the power supply of the power supply, the marking display operation, the left and right shift operation of the EL image generating camera unit or the vertical shift operation of the solar module. Solar cell inspection apparatus comprising a. 삭제delete 삭제delete 삭제delete 제 1 항에 있어서, 상기 EL 이미지 생성 카메라부는,The method of claim 1, wherein the EL image generating camera unit, Cooled-Si-CCD 카메라, InGaAs CCD 카메라, Back Thinned Si-CCD 카메라 또는 EMCCD 카메라 중 선택된 하나를 다수개 포함하며, 상기 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀로부터 각각 방출되는 다수의 EL 광을 촬영하여 다수의 EL 이미지를 생성시키는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 장치.It includes a plurality of selected among the Cooled-Si-CCD camera, InGaAs CCD camera, Back Thinned Si-CCD camera, or EMCCD camera, by taking a plurality of EL light emitted from each of the plurality of solar cells instrumented in the solar module A solar cell inspection apparatus, characterized by generating a plurality of EL images. 다수의 솔라 셀이 다수의 행과 열로 묶여 인라인화된 솔라 모듈로 형성됨에 따라, 상기 솔라 모듈의 결함 상태를 밀폐된 공간 내에서 검사하는 솔라 셀 검사 방법으로,As a plurality of solar cells are formed into an inlined solar module, which is bundled into a plurality of rows and columns, a solar cell inspection method for inspecting a defect state of the solar module in an enclosed space. 상기 솔라 모듈에 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 인가되는 단계;Applying a selected one of a forward current and a reverse voltage to the solar module; 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 EL 광이 촬영됨에 따라, EL 이미지가 생성되고 난 후 외부로 송출되는 단계;As the EL light emitted from the solar module is photographed, an EL image is generated and then sent out; 상기 순방향 전류가 상기 솔라 모듈에 인가된 경우, 상기 수신된 EL 이미지의 분석을 통해 상기 솔라 모듈이 상기 다수의 솔라 셀을 대상으로 내부 쪼개짐, 외부 쪼개짐, 휘도 저하 또는 전극 불량 상태를 검사받는 단계;When the forward current is applied to the solar module, inspecting the solar module for internal cleavage, external cleavage, deterioration of luminance, or electrode failure through the analysis of the received EL image; 상기 역방향 전압이 상기 솔라 모듈에 인가될 경우, 상기 수신된 EL 이미지의 분석을 통해 상기 솔라 모듈이 상기 다수의 솔라 셀을 대상으로 쇼트, 접합 항복 또는 열점 상태를 검사받는 단계;When the reverse voltage is applied to the solar module, inspecting the solar module for a short, junction breakdown or hot spot condition through the analysis of the received EL image; 상기 수신된 EL 이미지의 분석에 의해 상기 솔라 모듈의 결함 존재 여부가 파악되는 단계; 및Determining whether a defect exists in the solar module by analyzing the received EL image; And 상기 솔라 모듈에 기구성된 다수의 솔라 셀 중 적어도 하나가 불량으로 인식될 경우, 상기 불량 인식된 적어도 하나의 솔라 셀이 잉크 주사에 의해 마킹 표시되는 단계;를 포함하는 솔라 셀 검사 방법.And if at least one of the plurality of solar cells mechanically configured in the solar module is recognized as defective, marking the at least one solar cell which is recognized as defective by ink scanning. 제 9 항에 있어서,The method of claim 9, 상기 솔라 모듈이 기마련된 발열 도체판 상단에 안착되는 단계; 및 The solar module is seated on top of the heat generating conductor plate prepared; And 상기 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나가 상기 발열 도체판에 인가됨에 따라, 상기 EL 광이 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 방법.And when the selected one of the forward current and the reverse voltage is applied to the heating conductor plate, the EL light is emitted from the solar module. 제 9 항에 있어서, The method of claim 9, 상기 EL 이미지의 수신 완료 후, 상기 순방향 전류 및 역방향 전압 중 선택된 하나 외 다른 하나가 인가되는 단계; 및After reception of the EL image, a step other than the selected one of the forward current and the reverse voltage is applied; And 상기 솔라 모듈로부터 방출되는 다른 EL 광이 촬영됨에 따라, 다른 EL 이미지가 생성되고 난 후 외부로 송출되는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 솔라 셀 검사 방법.And as another EL light emitted from the solar module is photographed, another EL image is generated and then transmitted to the outside. 삭제delete 삭제delete
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