KR20090080407A - Panel test device for flat panel display device - Google Patents

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KR20090080407A
KR20090080407A KR1020080006324A KR20080006324A KR20090080407A KR 20090080407 A KR20090080407 A KR 20090080407A KR 1020080006324 A KR1020080006324 A KR 1020080006324A KR 20080006324 A KR20080006324 A KR 20080006324A KR 20090080407 A KR20090080407 A KR 20090080407A
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panel
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Application number
KR1020080006324A
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Korean (ko)
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윤동구
박현숙
이준근
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윤동구
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Abstract

An apparatus for inspecting the panel of a flat panel display device is provided to perform the panel inspection by performing the line-scanning on the panel in a row or column direction. Testing parts(230-260) performs the line-scanning for an image outputted from a panel by the unit of the predetermined number of rows or columns, obtain images and then outputs an image signal corresponding to the obtained images. A control unit(220) controls the panel so as to output different images by the unit of the predetermined number of rows or columns, analyzes the image signal applied from the testing parts, and then determines whether the panel is defective.

Description

평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치{Panel test device for flat panel display device}Panel test device for flat panel display device

본 발명은 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치에 관한 것으로서, 특히 패널을 횡 또는 열 방향의 라인 단위로 스캐닝하여 패널 검사를 수행하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a panel inspecting apparatus of a flat panel display apparatus, and more particularly, to a panel inspecting apparatus of a flat panel display apparatus that performs panel inspection by scanning a panel by a line unit in a horizontal or column direction.

정보통신의 발달과 정보화 사회의 요구에 따라 공간 활용이 용이하고, 저전력을 소비하는 평판 디스플레이 장치(flat panel display device : FPD)가 각광을 받고 있다. 현재 주로 사용되는 평판 디스플레이 장치로는 LCD(Liquid Crystal Display), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electro Luminescence) 등이 있다.According to the development of information communication and the demand of the information society, a flat panel display device (FPD) that is easy to use space and consumes low power has been in the spotlight. Currently, flat panel display devices mainly used include liquid crystal displays (LCDs), plasma display panels (PDPs), and electroluminescence (EL).

평판 디스플레이 장치에 대한 기술의 발전과 대중화에 힘입어 최근의 평판 디스플레이 장치는 대화면화 및 박형화 되어가고 있다. 그러나 이러한 평판 디스플레이 장치의 변화에 비하여, 평판 디스플레이 장치의 검사 장치의 발전은 매우 더디게 진행되고 있다.Recently, with the development and popularization of flat panel display devices, flat panel display devices are becoming larger and thinner. However, the development of the inspection apparatus of the flat panel display device is much slower than the change of the flat panel display device.

평판 디스플레이 장치의 검사에는 여러 가지 검사가 있으나, 가장 중요한 검사는 패널 검사이다. 패널 검사는 패널(panel)에 불량 픽셀(pixel) 또는 스크래 치(scratch)가 존재하는지 확인하는 검사이다.There are various inspections for the flat panel display apparatus, but the most important inspection is the panel inspection. Panel inspection is an inspection that checks for the presence of bad pixels or scratches on a panel.

초기에 평판 디스플레이 장치의 패널 검사는 작업자가 육안으로 패널을 검사하는 육안 검사였다. 육안 검사는 목시 검사(Macro inspection)와 미세 검사(Micor inspection)로 구분되어 수행되며, 목시 검사는 작업자의 육안에 의존하여 검사하는 단순 검사이며, 미세 검사는 목시 검사에서 발견된 결함 부위를 현미경을 이용하여 자세하게 검사하는 정밀 검사이다. 육안 검사에서 미세 검사는 목시 검사에서 발견된 결함 부위에 대하여 실시하는 정밀 검사이며, 목시 검사는 작업자의 육안에 의존하므로, 결과적으로 육안 검사는 전적으로 작업자에 의존하여 수행되는 검사이다. 따라서 검사 결과의 신뢰성이 낮으며, 검사 시간이 매우 길다는 단점이 있었다. 이러한 육안 검사를 대체하여 평판 디스플레이 장치를 자동으로 검사하기 위하여 카메라를 이용하는 검사가 제안되었다.Initially, panel inspection of flat panel display devices was visual inspection where the operator visually inspected the panel. Visual inspection is divided into macro inspection and micro inspection. Visual inspection is a simple inspection that depends on the naked eye of the operator. It is a detailed inspection to examine in detail. In the visual inspection, the microscopic examination is a detailed inspection performed on the defect site found in the visual inspection, and since the visual inspection depends on the naked eyes of the operator, the visual inspection is a test performed entirely by the operator. Therefore, the reliability of the test results was low, there was a disadvantage that the test time is very long. An inspection using a camera has been proposed to replace the visual inspection and to automatically inspect the flat panel display device.

도1 은 기존의 카메라를 이용하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치를 나타내는 도면이며, 대략적인 구성만을 나타내었다.FIG. 1 is a view showing a panel inspection apparatus of a flat panel display apparatus using a conventional camera, and shows only an approximate configuration.

도1 에서 패널 검사 장치(20)는 적어도 하나의 카메라(cam), 적어도 하나의 램프(lamp), 백라이트부(21) 및 제어부(22)를 구비한다. 그리고 도시하지는 않았으나, 패널 검사 장치(20)로 검사할 패널(10)을 공급하거나, 검사된 패널(10)을 패널 검사 장치(20) 외부로 이송하는 패널 이송 수단(미도시) 및 패널 검사 장치(20)에서 패널 검사를 수행하는 동안 패널을 고정하기 위한 고정부(미도시)를 추가로 구비한다.In FIG. 1, the panel inspecting apparatus 20 includes at least one camera, at least one lamp, a backlight 21, and a controller 22. Although not shown, a panel conveying means (not shown) and a panel inspecting device supplying a panel 10 to be inspected by the panel inspecting apparatus 20 or transferring the inspected panel 10 to the outside of the panel inspecting apparatus 20. A fixing part (not shown) is further provided for fixing the panel while performing the panel inspection at 20.

패널(10)에는 검사가 수행되는 동안 제어부(22)의 제어에 의해 패널(10)을 구동하기 위한 테스트 구동부(미도시)가 구비된다. 일반적으로 평판 디스플레이 장치의 패널(10)은 복수개의 픽셀로 구성되는 픽셀 어레이로 구현되며, 픽셀 어레이의 복수개의 픽셀은 구동부에 의해 구동된다. 그러나 구동부는 대게 패널 검사 이후에 패널과 연결된다. 따라서 패널 검사를 수행하기 위해서 패널(10)은 테스트 구동부를 구비하고, 테스트 구동부는 패널 검사 시에 제어부와 연결되어 패널(10)의 픽셀 어레이를 구동한다. 상기한 바와 같이 패널(10)은 픽셀 어레이로 구성되므로, 테스트 구동부는 픽셀 어레이의 X 축 방향을 제어하기 위한 X 테스트 구동부(미도시)와 Y 축 방향을 제어하기 위한 Y 테스트 구동부(미도시)로 구성된다.The panel 10 is provided with a test driver (not shown) for driving the panel 10 under the control of the controller 22 while the inspection is performed. In general, the panel 10 of the flat panel display apparatus is implemented as a pixel array including a plurality of pixels, and the plurality of pixels of the pixel array are driven by a driver. However, the drive is usually connected to the panel after panel inspection. Therefore, in order to perform panel inspection, the panel 10 includes a test driver, and the test driver is connected to the controller during the panel inspection to drive the pixel array of the panel 10. As described above, since the panel 10 includes a pixel array, the test driver includes an X test driver (not shown) for controlling the X axis direction of the pixel array and a Y test driver (not shown) for controlling the Y axis direction. It consists of.

램프(lamp)는 패널(10)의 디스플레이 면에 빛을 조사 위한 조명 장치이며, 패널(10)에 먼지 등의 이물질이 존재하는지 여부를 판별하기 위하여 사용되며, 패널(10)의 디스플레이 면에 가급적 균일한 빛이 조사되도록 패널(10)의 크기에 대응하여 복수개로 구비된다.A lamp is a lighting device for irradiating light to the display surface of the panel 10, and is used to determine whether foreign matter such as dust is present on the panel 10, and preferably on the display surface of the panel 10. It is provided in plurality in correspondence with the size of the panel 10 so that uniform light is irradiated.

카메라(cam)는 패널(10)의 불량 여부를 판별하기 위하여 패널 이미지를 획득하는 장치이며, 램프(lamp)와 마찬가지로 패널(10)의 디스플레이 면 전체의 이미지를 획득하기 위하여 패널 크기에 대응하여 복수개로 구비될 수 있다.A camera is a device for acquiring a panel image to determine whether the panel 10 is defective or not, and like a lamp, a camera is provided in accordance with the panel size to acquire an image of the entire display surface of the panel 10. It may be provided as.

백라이트부(21)는 램프(lamp)와 같이 패널(10)에 빛을 조사하기 위한 복수개의 백라이트(bl)와 백라이트(bl)에 의해 발생하는 열을 패널 검사 장치(20) 외부로 방출하기 위한 복수개의 팬(fan)을 구비한다. 백라이트부(21)는 패널(10)의 후면에서 패널로 램프(lamp)보다 균일한 빛을 조사하기 위하여 일반적으로 많은 개수의 백라이트(bl)를 촘촘하게 구비한다. 그리고 많은 수의 백라이트(bl)에 의해 많은 열이 발생하게 되므로, 이 열을 방출하기 위해서 백라이트부(21)는 복수개의 팬(fan)을 구비한다.The backlight unit 21 may emit a plurality of backlights bl and a heat generated by the backlight bl to the outside of the panel inspecting device 20, such as a lamp. It has a plurality of fans. The backlight unit 21 generally includes a large number of backlights bl in order to irradiate light more uniformly to the panel from the back of the panel 10. Since a large number of heat is generated by the large number of backlights bl, the backlight unit 21 includes a plurality of fans to emit the heat.

제어부(22)는 패널 검사 장치가 자동으로 패널을 검사할 수 있도록 카메라(cam), 램프(lamp), 백라이트부(21), 패널 이송 수단 및 고정부 등을 제어한다. 그리고 카메라(cam)에 의해 전송된 이미지를 지정된 방법으로 분석하여 패널(10)에 불량 픽셀이나 스크래치의 존재 여부를 판별한다.The controller 22 controls a camera, a lamp, a backlight unit 21, a panel conveying means, a fixing unit, and the like so that the panel inspecting apparatus can automatically inspect the panel. And the image transmitted by the camera (cam) is analyzed by a specified method to determine the presence of defective pixels or scratches on the panel (10).

패널 이송 수단은 컨베이어 벨트(conveyor belt), 공기분사이동(air injection or air cushion), 가이드 레일(guide rail), 롤러(roller), 이동 스테이지(moving stage), 로봇 암(robot arm)과 같은 다양한 장치에 의해 구현될 수 있다.Panel conveying means can be used in various ways such as conveyor belts, air injection or air cushions, guide rails, rollers, moving stages, and robot arms. It can be implemented by the device.

도1 을 참조하여 카메라를 이용하는 패널 검사 장치의 동작을 설명하면, 패널 이송 수단은 검사할 패널(10)을 패널 검사 장치(20)로 공급하고, 고정부는 공급된 패널(10)이 검사가 수행되는 동안 움직이지 않도록 고정한다.Referring to Fig. 1, the operation of the panel inspecting apparatus using the camera will be described. The panel conveying means supplies the panel 10 to be inspected to the panel inspecting apparatus 20, and the fixing unit performs the inspection of the supplied panel 10. To prevent movement during

패널(10)이 고정부에 의해 고정되면, 제어부(22)는 먼저 램프(lamp)를 켜서 패널(10)의 디스플레이 면에 빛을 비추고 카메라(cam)로 패널(10)의 디스플레이 면을 촬영하여 제1 패널 이미지를 획득한다. 이때 테스트 구동부는 패널(10)을 구동하지 않는다.When the panel 10 is fixed by the fixing unit, the controller 22 first turns on a lamp to shine a light on the display surface of the panel 10, and photographs the display surface of the panel 10 with a camera. Obtain a first panel image. In this case, the test driver does not drive the panel 10.

이후 제어부(22)는 램프(lamp)를 끄고, 백 라이트부(21)의 백라이트(bl)를 켠 상태에서 테스트 구동부가 패널(10)을 구동하도록 한다. 테스트 구동부는 패널(10)이 디스플레이 면으로 여러 이미지를 출력하도록 하고, 카메라(cam)는 여러 가지 이미지를 출력하는 패널(10)의 디스플레이 면 전체를 각각 촬영하여 복수개의 제2 패널 이미지를 획득한다.Then, the controller 22 turns off the lamp and causes the test driver to drive the panel 10 while the backlight bl of the backlight unit 21 is turned on. The test driver causes the panel 10 to output various images to the display surface, and the camera captures a plurality of second panel images by capturing the entire display surface of the panel 10 for outputting various images. .

제어부(22)는 획득된 제1 패널 이미지 및 복수개의 제2 패널 이미지를 분석하여 패널(10) 상에 이물질이나 스크래치의 존재 여부 및 불량 픽셀의 존재 여부를 판별한다. 제1 패널 이미지 및 복수개의 제2 패널 이미지에서 모두 동일한 위치에 이상이 검출되면, 이것은 불량 픽셀이 아닌 먼지와 같은 이물질이나 스크래치에 의한 불량으로 판별한다. 그리고 제1 패널 이미지에는 정상으로 판별되었으나, 복수개의 제2 패널 이미지에서 이상이 검출되는 위치의 픽셀은 픽셀 자체의 불량으로 판별한다.The controller 22 analyzes the obtained first panel image and the plurality of second panel images to determine whether foreign substances or scratches are present on the panel 10 and whether there are defective pixels. If an abnormality is detected at the same position in both the first panel image and the plurality of second panel images, it is determined not as a defective pixel but as a defect due to a foreign material such as dust or scratch. Although it is determined that the first panel image is normal, the pixel at the position where the abnormality is detected in the plurality of second panel images is determined as the defective pixel itself.

여기서 복수개의 제2 패널 이미지를 획득하는 이유는 근래의 평판 디스플레이 장치의 패널(10)이 다양한 색상을 출력하기 때문이다. 현재 사용되는 평판 디스플레이 장치의 대부분은 칼라 디스플레이 장치이며, 칼라 디스플레이 장치의 패널(10)은 적어도 패널이 적색, 청색, 녹색의 3가지 색상을 정상적으로 출력할 수 있는지를 검사하여야 하며, 백색을 추가하여 4가지 색상에 대하여 정상적으로 출력하는지 여부를 검사하는 것이 일반적이다. 그러므로 복수개의 제2 패널 이미지에서 지정된 색상에 대한 제2 패널 이미지에서만 이상이 검출되면, 해당 위치의 픽셀이 이상이 검출된 색상에 대해서 불량으로 판별한다. 그러나 검사할 패널이 단일 색상을 출력하는 패널인 경우에는 하나의 제2 패널 이미지만으로 검사를 수행한다. The reason why the plurality of second panel images are acquired is that the panel 10 of the flat panel display apparatus of the present invention outputs various colors. Most of the flat panel display devices currently used are color display devices, and the panel 10 of the color display device should check whether the panel can output three colors of red, blue, and green at least. It is common to check whether the four colors are output normally. Therefore, when an abnormality is detected only in the second panel image for the designated color in the plurality of second panel images, the pixel at the corresponding position is determined as defective in the color in which the abnormality is detected. However, if the panel to be inspected is a panel that outputs a single color, the inspection is performed with only one second panel image.

제어부(22)에 의해 분석이 완료된 패널(10)은 패널 이송 수단에 의해 패널 검사 장치 외부로 이송된다. 이때 제어부(22)는 패널(10)이 정상인지 불량인지에 따라 패널(10)을 서로 다른 곳으로 이송도록 패널 이송 수단을 제어할 수 있다.The panel 10 whose analysis is completed by the control unit 22 is transferred to the outside of the panel inspection apparatus by the panel transfer means. In this case, the controller 22 may control the panel transport means to transport the panel 10 to different places depending on whether the panel 10 is normal or defective.

상기한 카메라를 이용하는 패널 검사 장치는 육안 검사를 대신하여 패널을 자동으로 검사하므로 검사 속도가 빠르다는 장점이 있다. 그러나 패널(10)의 디스플레이 면 전체를 한 번에 검사하기 때문에 복수개의 램프를 구비하더라도 램프(lamp)에 의해 조사되는 빛이 패널(10)의 디스플레이 면에 균일한 밝기로 조사되기 어렵다. 그리고 카메라(cam) 또한 도1 에 도시된 바와 같이 카메라(cam)에 구비되는 렌즈의 굴절에 의하여 패널(10) 디스플레이 면의 이미지를 균일하게 획득하기 어렵고, 패널(10)의 대형화 경향에 따라서 복수개의 카메라(cam)를 사용하더라도 초점거리가 정확히 맞지 않는 부분이 발생한다. 특히 패널(10)의 불량을 정밀하게 측정할 수 있는 수준의 해상도를 갖는 카메라를 구현하기 어렵다는 문제가 있다. 이는 카메라(cam)가 패널(10)의 디스플레이 면 전체의 이미지를 한 번에 획득하기 때문이다. 설령 패널의 불량을 검출하기에 충분한 수준의 해상도를 갖는 카메라를 구현한다 하더라도 매우 고가의 장치이므로 비용적인 손실이 발생한다. 뿐만 아니라 카메라(cam)에 의해 획득되는 제1 및 제2 패널 이미지는 패널(10) 전체의 이미지이므로 백라이트부(21)의 복수개의 백라이트(bl)가 모두 켜져 있어야만 한다. 이에 따라 백라이트부(21)를 냉각하기 위해 구비되는 팬(fan)의 개수 또한 많이 필요하여 전력 소비가 많을 뿐만 아니라, 복수개의 백라이트(bl) 중 하나의 백라이트만 이상이 있더라도 패널 검사 장치(20) 전체를 중지하고 패널을 교체해 주어야만 한다. 이러한 단점으로 인하여 현재는 카메라를 이용한 검사와 육안 검사가 병행하여 사용되고 있으며, 이는 시간적으로나 비용적으로 매우 큰 손실이다. 또한 패널의 제조 공정 중에 공정이 정상적으로 수행되었는지를 판별할 수 없다.The panel inspection apparatus using the camera has an advantage that the inspection speed is high because the panel is automatically inspected instead of the visual inspection. However, since the entire display surface of the panel 10 is inspected at one time, even if a plurality of lamps are provided, light irradiated by the lamp is hardly irradiated with uniform brightness on the display surface of the panel 10. In addition, as shown in FIG. 1, the camera cam is difficult to uniformly acquire an image on the display surface of the panel 10 due to the refraction of the lens provided in the camera. Even when two cameras are used, an area where the focal length is not correct occurs. In particular, there is a problem that it is difficult to implement a camera having a resolution that can accurately measure the defect of the panel 10. This is because the camera acquires an image of the entire display surface of the panel 10 at once. Even if a camera with a resolution sufficient to detect a panel defect is implemented, it is a very expensive device and thus a cost loss occurs. In addition, since the first and second panel images acquired by the camera are images of the entire panel 10, the plurality of backlights bl of the backlight unit 21 must be turned on. Accordingly, the number of fans provided to cool the backlight unit 21 is also large, which consumes a lot of power, and even if only one backlight of the plurality of backlights bl is abnormal, the panel inspection apparatus 20. The whole must be stopped and the panel replaced. Due to these shortcomings, a camera-based inspection and a visual inspection are used in parallel, which is a huge loss in time and cost. In addition, it is not possible to determine whether the process is normally performed during the manufacturing process of the panel.

본 발명의 목적은 행 또는 열 방향으로 패널을 라인 스캐닝하여 패널 검사를 수행하므로 패널의 각각의 픽셀에 대한 정확한 검사가 가능할 뿐만 아니라 패널 제조 공정 중 검사가 가능한 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a panel inspection apparatus for a flat panel display device that can inspect the pixels in a panel manufacturing process by performing a panel inspection by line scanning the panel in a row or column direction. have.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치는 패널 검사 시에 상기 패널 디스플레이 면에 근접하여 배치되는 적어도 하나의 이미지 센서부를 구비하여, 상기 패널로부터 출력되는 이미지를 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 라인 스캐닝하여 획득하고, 상기 획득된 이미지에 대응하는 이미지 신호를 출력하는 적어도 하나의 검사부, 상기 패널이 상기 적어도 하나의 검사부 각각에 대응하여 상기 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 서로 다른 이미지를 출력하도록 제어하고, 상기 검사부에서 인가되는 상기 이미지 신호를 분석하여 상기 패널의 불량 여부를 판별하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a panel inspecting apparatus of a flat panel display apparatus of the present invention includes at least one image sensor unit disposed in close proximity to a surface of the panel display at the time of inspecting a panel, so that a predetermined number of images outputted from the panel are designated. At least one inspection unit which is obtained by line scanning in units of rows or columns, and outputs an image signal corresponding to the obtained image, and wherein the panel is in units of the predetermined number of rows or columns corresponding to each of the at least one inspection unit And a controller configured to control outputting of different images and to determine whether the panel is defective by analyzing the image signal applied from the inspection unit.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이미지 센서부는 적어도 하나 이상의 라인으로 배치되어 상기 패널에서 상기 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 출력되는 상기 이미지를 수렴하여 출력하는 복수개 렌즈, 제1 제어 신호에 응답하여 상기 복수개의 렌즈에서 출력되는 상기 이미지를 축적하고, 상기 축적된 이미지에 대응하는 아날로그 이미지 신호를 각각 순차적으로 출력하는 복수개의 포토 셀을 구비하는 이미지 센서, 및 상기 제1 제어 신호를 출력하는 센서 제어부를 구비하는 것을 특징으로 한다.The image sensor unit of the present invention for achieving the above object is arranged in at least one or more lines in response to a first control signal, a plurality of lenses to converge and output the image output in the predetermined number of rows or columns unit in the panel An image sensor including a plurality of photo cells configured to accumulate the images output from the plurality of lenses and sequentially output analog image signals corresponding to the accumulated images, and a sensor to output the first control signal. And a control unit.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이미지 센서부는 상기 아날로그 이미지 신호와 상기 센서 제어부에서 추가로 출력되는 제2 제어 신호를 인가받고, 상기 아날로그 이미지 신호를 상기 제2 제어 신호에 의해 지정되는 비트 수의 디지털 이미지 신호로 변환하여 출력하는 적어도 하나의 A/D 컨버터를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The image sensor unit of the present invention for achieving the above object receives a second control signal additionally output from the analog image signal and the sensor control unit, and the analog image signal of the number of bits specified by the second control signal The apparatus may further include at least one A / D converter which converts the digital image signal to output the digital image signal.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이미지 센서부는 상기 이미지 센서부 자체의 정상 동작 여부를 검사하기 위한 빛을 방출하는 광원 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The image sensor unit of the present invention for achieving the above object is further characterized in that it further comprises a light source for emitting light for checking whether the image sensor unit itself operates normally.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이미지 센서부는 CIS(contact image sensor) 또는 적어도 하나의 라인 단위로 배치된 복수개의 카메라인 것을 특징으로 한다.The image sensor unit of the present invention for achieving the above object is characterized in that the CIS (contact image sensor) or a plurality of cameras arranged in at least one line unit.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 검사부는 복수개의 상기 이미지 센서부를 구비하는 경우, 상기 복수개의 이미지 센서부를 라인 단위로 교차하여 배치하되, 인접 라인의 상기 이미지 센서와 서로 중복 구간을 갖도록 배치하는 것을 특징으로 한다.When the inspection unit of the present invention for achieving the above object is provided with a plurality of the image sensor unit, the plurality of image sensor unit is arranged to cross each other in a line unit, it is arranged to have a overlap section with the image sensor of the adjacent line. It features.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 제어부는 상기 적어도 하나의 검사부 각각에서 출력되는 상기 이미지 신호 모두가 패널의 동일한 위치에 이상이 있는 것으로 분석되면 스크래치에 의한 불량으로 판정하고, 상기 이미지 신호 중 하나의 이미지 신호만이 이상이 있는 것으로 분석되면 해당 위치의 상기 픽셀이 불량인 것으로 판정하며, 상기 이미지 신호의 열 전체가 이상이 있는 것으로 분석되면 패널 내의 해당 열에 배치되는 배선 또는 상기 테스트 구동부 또는 백라이트의 불량으로 판정하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the control unit of the present invention determines that all of the image signals outputted from each of the at least one inspection unit are abnormal at the same position of the panel, and determine that the image is defective due to scratching. If only the image signal is analyzed as abnormal, the pixel at the corresponding position is determined to be defective. If the entire column of the image signal is analyzed as abnormal, the wiring or the test driver or backlight disposed in the corresponding column in the panel is defective. It is characterized by determining.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사 장치는 상기 적어도 하나의 검사부가 상기 패널로부터 출력되는 이미지를 획득하기 전에 상기 패널 디스플레이 면에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 에어 브러쉬를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object further comprises an airbrush for removing foreign matter that may be present on the panel display surface before the at least one inspection unit acquires an image output from the panel. It is characterized by.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사 장치는 상기 패널이 자체적으로 발광하지 못하는 경우에 상기 패널을 통과하여 상기 적어도 하나의 검사부로 빛을 조사하기 위한 백라이트부를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.Panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object is characterized in that it further comprises a backlight unit for irradiating light to the at least one inspection unit through the panel when the panel does not emit light by itself. .

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 백라이트부는 상기 패널의 후면에서 상기 패널로 빛을 조사하는 적어도 하나의 백라이트, 및 상기 백라이트에 의해 발생되는 열을 외부로 방출하기 위한 적어도 하나의 팬을 구비하는 것을 특징으로 한다.The backlight unit of the present invention for achieving the above object comprises at least one backlight for irradiating light from the rear of the panel to the panel, and at least one fan for dissipating heat generated by the backlight to the outside. It features.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 백라이트는 복수개씩 그룹 단위로 배치되고, 상기 그룹 중 지정된 소정 개수만이 활성화 되며, 상기 활성화된 백라이트에 이상이 발생하면 상기 제어부의 제어에 의해 활성화 되지 않은 백라이트가 활성화되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a plurality of backlights of the present invention are arranged in groups, and only a predetermined number of the groups are activated, and when an abnormality occurs in the activated backlight, the backlight that is not activated by the control of the controller is It is characterized in that it is activated.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 상기 패널 검사 장치는 검사가 수행될 패널을 검사 위치로 공급하는 패널 이송 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object is further characterized by further comprising a panel conveying means for supplying the panel to be inspected to the inspection position.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사 장치는 상기 패널 이송 수단에 의해 상기 패널이 이동하면서 라인 스캐닝을 수행하는 것을 특징으로 한다.The panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object is characterized in that the line scanning is performed while the panel is moved by the panel transport means.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사 장치는 적어도 하나의 검사부가 상기 패널의 디스플레이 면 위를 이동하면서 라인 스캐닝을 수행하도록 검사부 구동 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 한다.The panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object is characterized in that it further comprises an inspection unit driving means for performing line scanning while at least one inspection unit is moving on the display surface of the panel.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 패널 검사 장치는 제조 공정 중의 상기 패널을 라인 스캐닝하여 상기 패널의 이미지를 획득하고, 상기 획득된 이미지를 미리 저장된 이미지와 비교하여 상기 제조 공정 중의 패널의 정상 여부를 판정하는 것을 특징으로 한다.The panel inspection apparatus of the present invention for achieving the above object is line-scanned the panel during the manufacturing process to obtain an image of the panel, and comparing the obtained image with a pre-stored image to determine whether the panel is normal in the manufacturing process. It is characterized by determining.

따라서, 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치는 행 또는 열 방향으로 패널을 라인 스캐닝하여 패널 검사를 수행한다. 따라서 저해상도의 이미지 획득 장치를 이용하여도 매우 정확도 높은 검사를 수행할 수 있으므로 저비용, 저소모 전력으로도 패널의 각 픽셀의 정상 여부를 매우 정밀하게 판별할 수 있으며, 검사 시간을 줄일 수 있다. 뿐만 아니라 제조 공정 중의 패널 또한 검사할 수 있다.Therefore, the panel inspection apparatus of the flat panel display apparatus of the present invention performs the panel inspection by line scanning the panel in the row or column direction. As a result, inspection can be performed with high accuracy even by using a low resolution image acquisition device, and thus it is possible to accurately determine whether each pixel of the panel is normal even at low cost and low power consumption, and reduce inspection time. In addition, panels during the manufacturing process can also be inspected.

이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a panel inspecting apparatus of a flat panel display apparatus will be described with reference to the accompanying drawings.

도2 는 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.2 is a view showing an embodiment of a panel inspecting apparatus of a flat panel display of the present invention.

패널 검사 장치(200)에 의해 검사되는 패널(110)은 복수개의 픽셀로구성되는 픽셀 어레이로 구성되며, 검사 시에 패널을 구동하기 위한 X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)를 추가로 구비하고 있다. X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)는 패널(110)이 패널 검사 장치(200)에 공급되어 검사가 수행되는 동안 제어부(220)와 연결되며, 제어부(220)의 제어에 따라 패널(110)을 구동한다. 이때 X 테스트 구동부(111)는 패널(110)에 구비되는 복수개의 픽셀을 열(column) 단위로 제어 할 수 있으며, Y 테스트 구동부(112)는 패널(110)에 구비되는 복수개의 픽셀을 행(row) 단위로 제어 할 수 있다.The panel 110 inspected by the panel inspecting apparatus 200 is configured of a pixel array composed of a plurality of pixels, and further includes an X test driver 111 and a Y test driver 112 for driving the panel at the time of inspection. Equipped with. The X test driver 111 and the Y test driver 112 are connected to the controller 220 while the panel 110 is supplied to the panel inspection apparatus 200 and the inspection is performed, and the panel is controlled under the control of the controller 220. Drive 110. In this case, the X test driver 111 may control the plurality of pixels provided in the panel 110 in a column unit, and the Y test driver 112 may control the plurality of pixels provided in the panel 110. row) can be controlled in units.

패널 검사 장치(200)는 패널(110)의 후면에서 패널(110)로 빛을 조사하기 위한 백라이트부(210), 패널 검사 장치(200)를 제어하고 검사된 패널(110)에 불량 픽셀이나 스크래치의 존재 여부를 판별하는 제어부(220), 패널(110)의 백색 이미지 출력을 검사하는 W 검사부(230), 패널(110)의 적색 이미지 출력을 검사하는 R 검사부(240), 패널(110)의 녹색 이미지 출력을 검사하는 G 검사부(250), 패널(110)의 청색 이미지 출력을 검사하는 B 검사부(260), 패널(110)이 각각의 검사부(230 ~ 260)에 의해 검사되기 전에 패널(111)의 디스플레이 면에 있을 수 있는 먼지와 같은 이물질을 제거하기 위한 복수개의 에어 브러쉬(air brush)(abr) 및 검사될 패널(110)을 패널 검사 장치(200)에 공급하고, 검사된 패널(110)을 패널 검사 장 치(200)의 외부로 이송하는 이송 롤러(crol)를 구비한다.The panel inspecting apparatus 200 controls the backlight unit 210 and the panel inspecting apparatus 200 for irradiating light to the panel 110 from the back of the panel 110, and removes defective pixels or scratches from the inspected panel 110. Control unit 220 to determine the presence of the W, the W inspection unit 230 to inspect the white image output of the panel 110, the R inspection unit 240 to inspect the red image output of the panel 110, the panel 110 G inspection unit 250 for inspecting the green image output, B inspection unit 260 for inspecting the blue image output of the panel 110, and the panel 110 before the panel 110 is inspected by the respective inspection units 230 to 260. Supplies a plurality of air brushes (abr) and a panel 110 to be inspected to the panel inspection apparatus 200 to remove foreign substances such as dust that may be present on the display surface of the ) Is provided with a feed roller (crol) for transporting the outside of the panel inspection device (200).

복수개의 검사부(230 ~ 260)는 각각 복수개의 이미지 센서부(미도시)를 구비한다. 그리고 백라이트부(210)는 복수개의 백라이트(bl)와 팬(fan)을 구비한다. 복수개의 백라이트(bl)는 검사되는 패널(110)을 통과하여 각각의 검사부(230 ~ 260)에 조사되는 빛을 방출하기 위해 상기 복수개의 검사부(230 ~ 260) 각각에 대응하는 위치에 배치되고, 팬(fan)은 복수개의 백라이트(bl)에 의해 발생하는 열을 외부로 방출한다.Each of the inspection units 230 to 260 includes a plurality of image sensor units (not shown). In addition, the backlight unit 210 includes a plurality of backlights bl and a fan. The plurality of backlights bl are disposed at positions corresponding to each of the plurality of inspection units 230 to 260 to emit light irradiated to the inspection units 230 to 260 through the panel 110 to be inspected. The fan emits heat generated by the plurality of backlights bl to the outside.

제어부(220)는 패널(110)의 검사를 수행하기 위하여 패널 검사 장치(200)의 백라이트부(210), 복수개의 검사부(230 ~ 260), 복수개의 에어 브러쉬(abr) 및 이송 롤러(crol)를 제어한다.The control unit 220 performs a backlight unit 210, a plurality of inspection units 230 to 260, a plurality of air brushes abr and a transfer roller of the panel inspection apparatus 200 to perform the inspection of the panel 110. To control.

이송 롤러(crol)는 제어부(220)의 제어에 의해 검사될 패널(110)을 패널 검사 장치(200)로 공급한다. 그리고 이송 롤러(crol)에 의해 공급되는 패널(110)은 복수개의 검사부(230 ~ 260)와 백라이트(bl)의 사이를 지나면서 검사된다. 검사가 수행되는 동안 백라이트(bl)에서 방출되는 빛이 패널(110)을 통과하여 복수개의 검사부(230 ~ 260)에 조사될 수 있도록 이송 롤러(crol)의 롤러는 백라이트(bl)와 복수개의 검사부(230 ~ 260) 사이에는 배치되지 않아야 한다.The feed roller crol supplies the panel 110 to be inspected by the control of the controller 220 to the panel inspecting apparatus 200. The panel 110 supplied by the feed roller is inspected while passing between the plurality of inspection units 230 to 260 and the backlight bl. During the inspection, the roller of the transfer roller (crol) has a backlight (bl) and a plurality of inspection units so that the light emitted from the backlight (bl) can pass through the panel (110) and irradiate the plurality of inspection units (230-260). It should not be placed between 230-260.

패널 검사 장치(200)는 제어부(220)와 X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)를 연결하기 위한 구동부 연결 수단(미도시)을 추가로 구비하여, 이송 롤러(crol)가 패널(10)을 공급하는 동안 X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)는 제어부(220)와 연결된다.The panel inspection apparatus 200 further includes a driving unit connecting means (not shown) for connecting the control unit 220, the X test driving unit 111, and the Y test driving unit 112, so that the feed rollers may have a panel ( While supplying 10), the X test driver 111 and the Y test driver 112 are connected to the controller 220.

이송 롤러(crol)에 의해 패널(110)이 패널 검사 장치(200)를 통과하는 동안 제어부(220)는 백라이트부(210)의 백라이트(bl)와 팬(fan)을 켜고, 에어 브러쉬(abr)를 구동한다. 에어 브러쉬(abr)는 바람에 의해 패널(110) 디스플레이 면의 이물질을 제거하거나, 이물질이 패널(110)의 디스플레이 면에 내려앉지 않도록 한다.The control unit 220 turns on the backlight bl and the fan of the backlight unit 210 while the panel 110 passes through the panel inspection apparatus 200 by a conveying roller. The airbrush abr To drive. The air brush (abr) removes foreign matter on the display surface of the panel 110 by wind, or prevents foreign matter from falling on the display surface of the panel 110.

X 테스트 구동부(111) 및 Y 테스트 구동부(112)는 패널(110)이 디스플레이 면으로 검사 되어야 할 이미지를 출력하도록 한다. 도2 에서는 복수개의 검사부(230 ~ 260) 각각이 열 단위로 패널(110)을 검사하도록 배치되어 있으므로, X 테스트 구동부(111) 및 Y 테스트 구동부(112) 또한 패널(110)이 열 단위로 각각의 검사부(230 ~ 260)에 대응하는 이미지를 출력하도록 패널(110)을 구동한다. 즉 패널(110)은 W 검사부(230)에 대응하는 위치의 열이 백색의 이미지를 출력하고, R 검사부(240)에 대응하는 위치의 열이 적색의 이미지를 출력하고, G 검사부(250)에 대응하는 위치의 열이 녹색의 이미지를 출력하고, B 검사부(260)에 대응하는 위치의 열이 청색의 이미지를 출력한다. 여기서 각각의 색상의 이미지를 출력하는 열은 반드시 하나의 열이어야 할 필요는 없으며, 복수개의 열이나 행 단위로 동일한 색상의 이미지를 출력할 수도 있다. 또한 각각의 검사부(230 ~ 260)의 배치 순서는 바뀔 수 있으며, 상기한 바와 같이 검사되는 패널(110)이 출력 할 수 있는 색상에 따라 검사부(230 ~ 260)의 개수나 검사하는 이미지의 색상은 변경될 수 있다.The X test driver 111 and the Y test driver 112 cause the panel 110 to output an image to be inspected on the display surface. In FIG. 2, since each of the plurality of inspection units 230 to 260 is arranged to inspect the panel 110 in units of columns, the X test driver 111 and the Y test driver 112 and the panel 110 are arranged in units of columns, respectively. The panel 110 is driven to output an image corresponding to the inspection units 230 to 260 of FIG. That is, the panel 110 outputs an image of a white column at a position corresponding to the W inspection unit 230, and outputs an image of a red column at a position corresponding to the R inspection unit 240, and outputs the image to the G inspection unit 250. The column of the corresponding position outputs a green image, and the column of the position corresponding to the B inspection unit 260 outputs a blue image. Here, the column for outputting the image of each color does not necessarily have to be one column, and the image of the same color may be output in a plurality of columns or rows. In addition, the arrangement order of each inspection unit 230 to 260 may be changed, and the number of inspection units 230 to 260 or the color of the image to be inspected may be changed according to the color that the panel 110 to be inspected may output as described above. can be changed.

이송 롤러(crol)가 패널(110)을 패널 검사 장치(200)로 공급하는 동안 패널(110)은 각각의 검사부(230 ~ 260)에 의해 검사되어야 할 색상의 이미지를 출력 하고, 각각의 검사부(230 ~ 260)는 패널(110)의 디스플레이 면에서 출력되는 이미지를 감지하여 대응하는 이미지 신호를 제어부(220)로 출력한다. 이때 각각의 검사부(230)는 이미지 신호를 아날로그 신호 또는 디지털 신호로 출력할 수 있다.The panel 110 outputs an image of the color to be inspected by the respective inspection units 230 to 260 while the feed rollers supply the panel 110 to the panel inspection apparatus 200. 230 to 260 sense an image output from the display surface of the panel 110 and output a corresponding image signal to the controller 220. In this case, each inspection unit 230 may output an image signal as an analog signal or a digital signal.

제어부(220)는 각각의 검사부(230 ~ 260)에서 인가되는 이미지 신호를 분석하여 패널(110)에 불량 픽셀 및 스크래치의 존재 여부를 판별한다. 만일 복수개의 검사부(230 ~ 260)에서 인가된 이미지 신호를 분석한 결과, 모든 이미지 신호가 패널(110) 상의 동일한 위치에 이상을 나타내면, 이는 스크래치에 의한 불량일 가능성이 높다. 그리고 하나의 이미지 신호만이 이상을 나타내는 경우에는 이상을 나타낸 이미지 신호를 출력한 검사부가 검출하는 색상을 패널(110)이 정상적으로 출력하지 못한 것이므로 패널(110)의 해당 위치의 픽셀이 불량인 것으로 판별할 수 있다. 또한 하나의 이미지 신호만 이상을 나타내는 경우에도 해당 열 전체가 이상을 나타내면, 이는 패널(110) 내의 해당 열에 배치되는 배선에 이상이 있는 경우나 테스트 구동부(111, 112)의 이상일 수도 있으며, 백라이트(bl)의 불량일 가능성도 있다. 그러므로 열 전체가 이상으로 감지되면, 제어부(220)는 패널 검사를 중지하고 작업자가 백라이트(bl)의 정상 여부를 확인할 수 있도록 신호음이나, 경고등과 같은 신호를 출력할 수 있다.The controller 220 analyzes an image signal applied from each inspection unit 230 to 260 to determine whether there are defective pixels and scratches on the panel 110. If the image signals applied by the plurality of inspection units 230 to 260 are analyzed and all of the image signals show abnormalities at the same position on the panel 110, this is likely to be a defect due to scratching. If only one image signal indicates an abnormality, the panel 110 does not normally output the color detected by the inspection unit that outputs the image signal indicating the abnormality, and thus the pixel at the corresponding position of the panel 110 is determined to be defective. can do. In addition, even when only one image signal indicates an abnormality, if the entire column indicates an abnormality, this may be an abnormality in the wiring disposed in the corresponding column in the panel 110, or an abnormality of the test drivers 111 and 112, and the backlight ( bl) may be defective. Therefore, when the entire heat is detected as abnormal, the controller 220 may stop the panel inspection and output a signal such as a beep or warning light so that the operator can check whether the backlight bl is normal.

상기한 바와 같이 본 발명의 패널 검사 장치(200)는 카메라(cam)로 패널 디스플레이 면 전체의 이미지를 촬영하는 종래의 기술과 달리 패널의 디스플레이 면을 열 또는 행 단위로 라인 스캐닝하여 검사를 수행하므로 패널(110)의 디스플레이 면에 매우 가까운 거리(예를 들면 5mm 이내)에서 패널(110)의 이미지를 검사한다. 검사부(230 ~ 260)가 근거리에서 패널(110)의 이미지를 획득하므로 종래의 기술에 비하여 패널(110)의 이미지를 매우 정밀하게 획득하여 대응하는 이미지 신호를 발생할 수 있다. 또한 에어 브러쉬(abr)를 각각의 검사부(230 ~ 260)에 근접하게 배치하여 검사부(230 ~ 260)와 패널(110) 사이에 먼지와 같은 이물질이 유입될 가능성을 줄여서 검사 오류를 줄일 수 있다.As described above, the panel inspection apparatus 200 according to the present invention performs inspection by line scanning the display surface of the panel in units of columns or rows unlike the conventional technology of photographing an image of the entire panel display surface with a camera. The image of the panel 110 is inspected at a distance very close to the display surface of the panel 110 (eg, within 5 mm). Since the inspecting units 230 to 260 acquire an image of the panel 110 at a short range, the image of the panel 110 may be obtained with high precision compared to the conventional art, and thus a corresponding image signal may be generated. In addition, by placing the air brush (abr) in close proximity to each of the inspection unit 230 to 260, it is possible to reduce the inspection error by reducing the possibility of foreign matter, such as dust flows between the inspection unit 230 to 260 and the panel 110.

뿐만 아니라 백라이트(bl)를 각각의 검사부(230 ~ 260)에 대응하여 구비하므로 백라이트(bl)의 개수를 대폭 줄일 수 있으며, 백라이트(bl)의 개수가 줄어듦에 따라 팬(fan)의 개수 또한 줄일 수 있다. 그리고 패널(110)의 디스플레이 면 전체의 이미지를 한꺼번에 검사하지 않으므로 패널(110) 전체를 구동하지 않아도 된다. 따라서 전력 소모를 획기적으로 줄일 수 있다.In addition, since the backlights bl are provided corresponding to the respective inspection units 230 to 260, the number of backlights bl can be greatly reduced, and as the number of backlights bl is reduced, the number of fans is also reduced. Can be. In addition, since the image of the entire display surface of the panel 110 is not examined at once, the entire panel 110 may not be driven. Therefore, power consumption can be significantly reduced.

특히 종래의 기술에서는 패널(110)의 디스플레이 면을 한번에 검사하므로 필요로 하는 수준의 고해상도의 카메라를 구현하기도 어려울 뿐만 아니라 구현한다 할지라도 매우 고가이며 복수개의 카메라를 사용할 지라도 패널(110)의 모든 면에 대하여 동일한 조건의 초점을 맞추기 곤란한 문제점이 있었으나, 본 발명의 검사부(230 ~ 260)는 패널(110)의 디스플레이 면을 행 또는 열방향으로 라인 스캐닝하므로, 이미지 센서부를 구비하여 패널(110)에 근접하여 열 또는 행 단위로 패널(110)의 이미지를 획득한다. 따라서 카메라에 비하여 이미지 센서부의 단위 화소수가 낮아도 더욱 정확한 이미지를 획득할 수 있으며, 저비용으로 구현할 수 있다.In particular, in the conventional technology, since the display surface of the panel 110 is inspected at a time, it is not only difficult to implement a high resolution camera of a required level but also very expensive even if implemented, and all surfaces of the panel 110 are used even if a plurality of cameras are used. Although it was difficult to focus on the same conditions, the inspection units 230 to 260 of the present invention line scan the display surface of the panel 110 in a row or column direction, so that the panel 110 includes an image sensor unit. Closely obtain an image of the panel 110 in columns or rows. Therefore, even if the number of unit pixels in the image sensor unit is lower than that of the camera, more accurate images can be obtained and the cost can be realized at low cost.

도2 에서는 패널 이송 수단으로서 이송 롤러(crol)를 도시하였으나, 상기한 바와 같이 패널 이송 수단으로서 컨베이어 벨트, 가이드 레일와 같은 장치를 사용 할 수도 있음은 자명하다. 그러나 가이드 레일과 같이 패널의 양측면을 고정하여 이송하는 패널 이송 수단을 사용하고, 패널(110)의 크기가 매우 큰 경우에는 검사되는 패널의 디스플레이 면이 균일한 높이를 유지하지 못하고 가운데 영역이 양측면보다 낮아지게 될 수 있다. 패널의 디스플레이 면이 균일한 높이를 유지하지 못한 상태에서 패널을 검사하게 되면, 정상적인 패널일 지라도 디스플레이 면의 가운데 영역의 밝기가 양 측면보다 낮게 측정되어 불량으로 판정할 수 있다. 이러한 문제를 방지하기 위하여 복수개의 검사부(230 ~ 260) 각각은 복수개의 이미지 센서부가 패널의 디스플레이 면에서 균일한 높이를 유지할 수 있도록 각각의 이미지 센서부의 높이를 조절하는 높이 조절 수단을 구비할 수 있다.In FIG. 2, a conveying roller (crol) is shown as the panel conveying means, but as described above, it is obvious that a device such as a conveyor belt and a guide rail may be used as the panel conveying means. However, when using panel conveying means for fixing and transporting both sides of the panel, such as guide rails, and when the size of the panel 110 is very large, the display surface of the panel to be inspected does not maintain a uniform height and the center area is larger than both sides. Can be lowered. If the panel is inspected while the display surface of the panel does not maintain a uniform height, the brightness of the center area of the display surface may be measured lower than both sides, even if it is a normal panel, and thus it may be judged as defective. In order to prevent such a problem, each of the inspection units 230 to 260 may include height adjusting means for adjusting the height of each image sensor unit so that the plurality of image sensor units maintain a uniform height on the display surface of the panel. .

도3 은 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.3 is a view showing another embodiment of the panel inspection apparatus of the flat panel display device of the present invention.

도3 의 패널(110)은 도2 의 패널(110)과 동일하며, 또한 패널(110)이 패널 검사 장치(300)에 공급되어 검사가 수행되는 동안 제어부(320)와 연결되며, 제어부(320)의 제어에 따라 패널(110)을 구동하기 위한 X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)를 구비한다.The panel 110 of FIG. 3 is the same as the panel 110 of FIG. 2, and is also connected to the control unit 320 while the panel 110 is supplied to the panel inspection apparatus 300 and the inspection is performed. X test driver 111 and Y test driver 112 for driving the panel 110 according to the control of).

패널 검사 장치(300)는 도2 의 패널 검사 장치(200)와 유사하게 패널(110)에 빛을 조사하기 위한 백라이트부(310), 패널 검사 장치(200)를 제어하고 검사된 패널(110)에 불량 픽셀이나 스크래치의 존재 여부를 판별하는 제어부(320), 패널(110)의 출력 이미지를 검사하는 검사부(330), 패널(110)이 검사부(330)에 의해 검사되기 전에 패널(111)의 디스플레이 면에 있을 수 있는 먼지와 같은 이물질을 제거하기 위한 복수개의 에어 브러쉬(air brush)(abr)를 구비한다. The panel inspecting apparatus 300 controls the backlight unit 310 and the panel inspecting apparatus 200 for irradiating light to the panel 110, similar to the panel inspecting apparatus 200 of FIG. 2, and inspects the inspected panel 110. The control unit 320 determines whether a defective pixel or scratch is present in the display, the inspection unit 330 for inspecting the output image of the panel 110, and the panel 110 of the panel 111 before the panel 110 is inspected by the inspection unit 330. A plurality of air brushes (abr) are provided for removing foreign matter such as dust that may be present on the display surface.

도2 와 달리 도3 의 패널 검사 장치(300)는 검사가 수행되는 동안 패널(110)이 이동하지 않고, 검사부(330)가 이동하면서 패널(110)을 검사하도록 구성되어 있다. 이에 따라 검사부(330)를 이동할 수 있도록 검사 축 구동부(340)와 패널(360)을 고정하기 위한 패널 고정부(360)를 추가로 구비한다. 그리고 도2 에서는 패널 이송 수단으로 이송 롤러(crol)를 구비하였으나 도3 에서는 패널 이송 수단으로 이동 스테이지(350)를 구비한다. 이동 스테이지(350)는 검사되어야 하는 패널(110)의 디스플레이 면이 검사부(330)의 근거리(예를 들면 5mm 이하)에 위치하도록 패널을 이송한다.Unlike FIG. 2, the panel inspecting apparatus 300 of FIG. 3 is configured to inspect the panel 110 while the inspecting unit 330 moves without the panel 110 moving while the inspecting is performed. Accordingly, a panel fixing part 360 for fixing the inspection shaft driver 340 and the panel 360 may be further provided to move the inspecting part 330. In FIG. 2, a feed roller is provided as a panel conveying means, but in FIG. 3, a movement stage 350 is provided as a panel conveying means. The moving stage 350 transfers the panel such that the display surface of the panel 110 to be inspected is located at a short distance (for example, 5 mm or less) of the inspecting unit 330.

도3 의 패널 고정부(360)는 패널(110)의 측면을 고정하므로, 패널(10)의 크기가 큰 경우에 패널의 디스플레이 면의 높이가 일정하지 않을 수 있다. 따라서 도2 에서 설명한 바와 같이 검사부(330)는 복수개의 이미지 센서부(미도시)가 패널의 디스플레이 면과 균일한 높이를 유지할 수 있도록 높이 조절 수단을 추가로 구비할 수 있다.Since the panel fixing part 360 of FIG. 3 fixes the side surface of the panel 110, when the size of the panel 10 is large, the height of the display surface of the panel may not be constant. Therefore, as described with reference to FIG. 2, the inspection unit 330 may further include height adjustment means so that the plurality of image sensor units (not shown) maintain a uniform height with the display surface of the panel.

도2 에서는 고정된 위치의 복수개의 검사부(230 ~ 260)를 구비하였으며, 패널(110)이 이송 롤러(crol)에 의해 이송되는 동안 복수개의 검사부(230 ~ 260) 각각이 패널에서 출력되는 서로 다른 색상의 이미지를 획득하고 획득된 이미지에 대응하는 이미지 신호를 출력하였다. 그러나 도3 에서는 패널(110)이 패널 고정부(360)에 의해 고정되어 있으며, 하나의 검사부(330)가 패널(110) 디스플레이 면 위를 이동하면서 패널(110)을 검사한다. 따라서 검사부(330)는 패널(110) 디스플레 이 면을 검사할 색상의 수만큼 이동하면서 서로 다른 색상의 이미지를 획득하여 대응하는 이미지 신호를 출력한다. 즉 도2 에서와 같이 4가지 색상의 이미지를 획득해야하는 경우에 검사부(330)는 패널(110)의 디스플레이 면을 2번 왕복하며 이미지를 획득한다. 이 경우에 검사부(330)의 진행 방향은 단일 방향이 아니므로 에어 브러쉬(abr) 또한 검사부(330)의 양측으로 구비된다.In FIG. 2, a plurality of inspection units 230 to 260 of a fixed position are provided, and each of the inspection units 230 to 260 is outputted from the panel while the panel 110 is transferred by a feed roller. An image of color was acquired and an image signal corresponding to the obtained image was output. However, in FIG. 3, the panel 110 is fixed by the panel fixing part 360, and one inspection part 330 inspects the panel 110 while moving on the display surface of the panel 110. Therefore, the inspection unit 330 moves the display surface of the panel 110 by the number of colors to be inspected and acquires images of different colors to output corresponding image signals. That is, when it is necessary to acquire the image of the four colors as shown in Figure 2, the inspection unit 330 reciprocates the display surface of the panel 110 twice to acquire the image. In this case, since the advancing direction of the inspection unit 330 is not a single direction, the air brush abr is also provided at both sides of the inspection unit 330.

백라이트부(310)는 하나의 검사부(330)에 대응하여 하나의 백라이트(bl1)만을 구비할 수 있으나, 도3 에서는 3개의 백라이트(bl1, bl2, bl3)를 구비하였다. 3개의 백라이트(bl1, bl2, bl3) 중 하나의 백라이트(bl1)만이 켜져 있으며, 나머지 2개의 백라이트(bl2, bl3)는 백라이트(bl1)에 이상이 발생하였을 경우에 제어부(320)가 백라이트(bl)의 이상을 감지하여 자동으로 교체하기 위한 여분의 백라이트(bl2, bl3)이다.The backlight unit 310 may include only one backlight bl1 corresponding to one inspection unit 330, but three backlights bl1, bl2, and bl3 are provided in FIG. 3. When only one backlight bl1 of the three backlights bl1, bl2, and bl3 is turned on, and the remaining two backlights bl2 and bl3 have abnormalities in the backlight bl1, the controller 320 controls the backlight bl. ) Backlights (bl2, bl3) to detect abnormalities and replace automatically.

도3 을 참조로 하여 패널 검사 장치(300)의 동작을 설명하면, 먼저 이동 스테이지(350)는 제어부(320)의 제어에 의해 검사될 패널(110)의 디스플레이 면을 검사부(330)의 근거리에 위치하도록 패널(110)을 이송한다. 패널(110)이 이송되면 패널 고정부(360)는 패널을 고정하고, X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)는 제어부(320)와 구동부 연결 수단(미도시)에 의해 연결된다. 제어부는 백라이트(bl1)를 켜고, 에어 블러쉬(abr)를 구동한다. 그리고 검사 축 구동부(340)를 구동하여 검사부(330)를 이동시키면서 패널(110)에서 출력되는 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에 대응하는 이미지 신호를 아날로그 신호 또는 디지털 신호로 출력한다. 이와 동시에 제어부는 패널(110)이 검사되어야 하는 색상의 이미지를 출력하 도록 X 테스트 구동부(111)와 Y 테스트 구동부(112)를 제어한다. 도2 와 같이 백색, 적색, 녹색, 청색의 순서로 패널을 검사하는 경우, 검사부(330)는 검사축구동부(340)에 의하여 왕복 동작을 하는 동안 첫 번째로 패널(110)의 디스플레이 면을 지나며 패널(110)이 출력하는 백색 이미지를 획득하여 대응하는 이미지 신호를 출력하고, 두 번째로 적색의 이미지를, 세 번째로 녹색의 이미지를, 그리고 네 번째로 청색의 이미지를 순차적으로 획득하여 각각에 대응하는 이미지 신호를 출력한다.Referring to FIG. 3, the operation of the panel inspecting apparatus 300 will be described. First, the moving stage 350 moves the display surface of the panel 110 to be inspected by the control of the controller 320 at a short distance of the inspecting unit 330. The panel 110 is moved to be positioned. When the panel 110 is transferred, the panel fixing part 360 fixes the panel, and the X test driver 111 and the Y test driver 112 are connected by the controller 320 and a driver connecting means (not shown). The controller turns on the backlight bl1 and drives the air blush abr. In addition, the inspection axis driver 340 is driven to acquire the image output from the panel 110 while moving the inspection unit 330, and outputs an image signal corresponding to the obtained image as an analog signal or a digital signal. At the same time, the controller controls the X test driver 111 and the Y test driver 112 so that the panel 110 outputs an image of the color to be inspected. When the panel is inspected in the order of white, red, green, and blue as shown in FIG. 2, the inspection unit 330 first passes the display surface of the panel 110 during the reciprocating operation by the inspection shaft driver 340. The panel 110 acquires a white image output and outputs a corresponding image signal, secondly obtains a red image, thirdly a green image, and fourthly a blue image. Output the corresponding image signal.

제어부(320)는 검사부(330)에서 인가되는 이미지 신호를 분석하여 패널(110)에 불량 픽셀 및 스크래치의 존재 여부를 판별한다. 복수개의 이미지 신호를 분석한 결과, 모든 이미지 신호가 패널(110) 상의 동일한 위치에 이상을 나타내면, 이는 스크래치에 의한 불량으로 판정한다. 그리고 하나의 이미지 신호만 이상을 나타내고, 나머지 이미지 신호에서는 이상을 나타내지 않는 경우에는 이상을 나타낸 이미지 신호가 검출하는 색상을 패널(110)이 정상적으로 출력하지 못한 것이므로 해당 위치의 픽셀이 불량인 것으로 판별한다. 그리고 제어부(220)는 하나의 이미지 신호만이 이상을 나타내는 경우에도 해당 열 전체가 이상을 나타내면, 먼저 백라이트(bl)의 불량으로 간주하고 현재 켜져있는 백라이트(bl1)를 다른 백라이트(bl2, bl3)로 교체한다. 교체 후 다시 검사하여도 동일한 열에서 이상을 나타내면, 이는 패널(110) 내의 해당 열에 배치되는 배선에 이상이 있는 경우나 테스트 구동부(111, 112)의 이상으로 판별한다. 따라서 도3 에 도시된 패널 검사 장치(300)는 백라이트(bl1, bl2, bl3)의 이상으로 인하여 검사 작업이 중지될 필요가 없다.The controller 320 analyzes an image signal applied by the inspector 330 to determine whether there are defective pixels and scratches on the panel 110. As a result of analyzing a plurality of image signals, if all image signals show an abnormality at the same position on the panel 110, it is determined as a defect due to scratching. If only one image signal indicates an abnormality and the other image signal does not indicate any abnormality, the panel 110 does not normally output a color detected by the image signal indicating the abnormality, and thus, the pixel at the corresponding position is determined to be defective. . In addition, even if only one image signal indicates an abnormality, the controller 220 considers that the backlight bl is defective first and replaces the currently lit backlight bl1 with other backlights bl2 and bl3. Replace with If an error is shown in the same column even after the replacement and inspection again, it is determined that there is an abnormality in the wiring arranged in the corresponding column in the panel 110 or that the test drive units 111 and 112 are abnormal. Therefore, the panel inspection apparatus 300 shown in FIG. 3 does not need to be suspended due to abnormalities of the backlights bl1, bl2, and bl3.

상기에서는 패널 검사 장치(300)가 하나의 검사부(330)만을 구비하는 것으로 설명하였으나, 도2 와 마찬가지로 복수개의 검사부를 구비하고, 복수개의 검사부가 이동하도록 패널 검사 장치(300)를 구성할 수 있음은 자명하다. 그리고 복수개의 검사부가 이동하면서 패널(110)을 검사하는 경우에 하나의 검사부(330)만을 구비하는 경우보다 검사 시간을 단축할 수 있다.In the above description, the panel inspecting apparatus 300 includes only one inspecting unit 330, but the panel inspecting apparatus 300 may be configured to have a plurality of inspecting units and move the plurality of inspecting units as in FIG. 2. Is self-explanatory. In addition, when inspecting the panel 110 while moving the plurality of inspection units, the inspection time may be shorter than when only one inspection unit 330 is provided.

또한, 상기에서 패널 검사 장치(300)는 패널(110)이 이송되면 패널 고정부(360)는 패널을 고정하고, 이동 스테이지(350)가 검사되어야 하는 패널(110)의 디스플레이 면이 검사부(330)의 근거리(예를 들면 5mm 이하)에 위치하도록 패널을 이송하는 것으로 하였으나, 반대로 검사부(330)가 고정되어 있는 상태에서 이송된 패널을 고정하고 있는 패널 고정부(360)가 수직으로 이동하여 패널(110)의 디스플레이 면이 검사부(330)의 근거리에 위치하도록 구성할 수도 있다.In addition, when the panel inspection apparatus 300 moves the panel 110, the panel fixing unit 360 fixes the panel, and the display surface of the panel 110 on which the moving stage 350 is to be inspected is the inspection unit 330. The panel is transported so as to be located at a short distance (for example, 5 mm or less), but on the contrary, the panel fixing part 360 which fixes the transported panel while the inspection part 330 is fixed moves vertically. The display surface of the 110 may be configured to be located near the inspection unit 330.

한편, 도2 와 도3에서 각각의 검사부(230 ~ 260, 330)는 패널(110)의 상부에 위치하고, 백라이트부(210,310)는 패널(110)의 하부에 위치하는 것으로 하였으나, 검사부(230 ~ 260, 330)가 패널의 하부에 위치하고 패널(110)의 디스플레이 면이 아래로 향하도록 하며, 백라이트부(210, 310)가 패널(110)의 상부에 위치하여도 무방하다.Meanwhile, in FIGS. 2 and 3, the inspection units 230 to 260 and 330 are positioned at the upper portion of the panel 110, and the backlight units 210 and 310 are positioned at the lower portion of the panel 110. 260 and 330 may be positioned under the panel and the display surface of the panel 110 may face downward, and the backlight units 210 and 310 may be positioned above the panel 110.

그리고 도2 의 백라이트부(210) 또한 도3 의 백라이트부(310)와 같이 여분의 백라이트(bl2, bl3)를 구비하여 백라이트(bl)에 이상이 발생하였을 경우에 해당 백라이트를 교체할 수 있도록 구성할 수 있음은 자명하다.Also, the backlight unit 210 of FIG. 2 is also provided with extra backlights bl2 and bl3 like the backlight unit 310 of FIG. 3 so that the backlight can be replaced when an error occurs in the backlight bl. It can be obvious.

도3 에서는 백라이트부(310)가 1개의 백라이트(bl1)만을 켜서 사용하는 경우 를 예시하였으므로 발열량이 미약하여 팬(fan)을 구비하지 않는 것으로 도시하였으나, 사용 환경에 따라 팬(fan)을 구비할 수 있다.In FIG. 3, since the backlight unit 310 uses only one backlight bl1, the heat generation amount is weak and thus does not include a fan. However, the backlight unit 310 may include a fan according to an environment of use. Can be.

상기한 도2 및 도3 에서는 LCD의 패널(110)을 예로 들어 설명하였다. LCD의 패널(110)은 자체적으로 발광하지 못하므로 백라이트(bl)가 필요하였다. 그러나 PDP나 EL과 같은 평판 디스플레이 장치의 패널은 자체 발광을 하므로 백라이트(bl)를 구비하지 않아도 검사부(230 ~ 260, 330)는 패널(110)에서 출력되는 이미지를 획득할 수 있다.2 and 3 have been described taking the panel 110 of the LCD as an example. Since the panel 110 of the LCD does not emit light by itself, a backlight bl is required. However, since a panel of a flat panel display device such as a PDP or an EL emits light, the inspection units 230 to 260 and 330 may acquire an image output from the panel 110 even without the backlight bl.

도4 는 도2 및 도3 에 도시된 검사부의 구성을 나타내는 도면이고, 도5 는 도4 에 도시된 이미지 센서부의 구성을 나타내는 도면이다.4 is a diagram showing the configuration of the inspection unit shown in FIGS. 2 and 3, and FIG. 5 is a diagram showing the configuration of the image sensor unit shown in FIG.

도4 와 도5 를 참조하여 본 발명의 검사부(430)를 설명하면, 검사부(430)는 복수개의 이미지 센서부(ISS)를 구비한다. 각각의 이미지 센서부(ISS)는 패널의 디스플레이 면으로부터 빛의 형태로 출력되는 이미지를 이미지 센서(531)로 인가하는 복수개의 로드 렌즈(Rod lens)(lens), 로드 렌즈(lens)를 통해 인가된 빛에 의해 투영되는 이미지에 대응하여 아날로그 이미지 신호(ansg)를 출력하는 이미지 센서(531) 및 이미지 센서(531)에서 출력되는 아날로그 이미지 신호(ansg)를 차동 디지털 이미지 신호(disg, /disg)로 변환하여 출력하는 A/D 컨버터(533) 및 이미지 센서(531)와 A/D 컨버터(533)를 제어하기 위한 센서 제어부(532)를 구비한다.4 and 5, the inspection unit 430 of the present invention will be described. The inspection unit 430 includes a plurality of image sensor units ISS. Each image sensor unit ISS is applied through a plurality of rod lenses and lenses that apply an image output in the form of light from the display surface of the panel to the image sensor 531. The image sensor 531 outputting the analog image signal ansg in response to the image projected by the received light and the analog image signal ansg output from the image sensor 531 are differential digital image signals disg and / disg. A / D converter 533 and the sensor controller 532 for controlling the image sensor 531 and the A / D converter 533 to convert to the output.

검사부(430)는 패널 검사 시에 검사되지 않는 영역이 발생하지 않도록 복수개의 이미지 센서부(ISS)가 서로 일정 영역씩 중복되도록 중복 구간을 가지고 배치한다. 각각의 이미지 센서부(ISS)는 대응하는 위치의 이미지를 획득하고, 획득된 이미지에 대응하는 이미지 신호를 각각 출력하므로 검사부(430)는 복수개의 이미지 신호(mansg)를 출력하도록 구성된다. 검사부에서 출력되는 복수개의 이미지 신호(mansg)는 아날로그 이미지 신호일 수도 있고, 디지털 이미지 신호일 수도 있다. 그러나 복수개의 이미지 신호(mansg)가 아날로그 이미지 신호로서 제어부(220, 320)에 인가될지라도 제어부는 이미지 신호를 분석하기 위하여 디지털로 변환해야 한다. 또한 검사되는 패널(110)의 크기가 큰 경우에 복수개의 이미지 신호(mansg)가 아날로그 이미지 신호로 출력되면, 노이즈 또는 신호 왜곡(distortion)이 발생할 수 있으므로 검사부(430)는 복수개의 이미지 신호(mansg)를 디지털 이미지 신호로 출력하는 것이 바람직하다.The inspection unit 430 has a plurality of overlapping sections such that the plurality of image sensor units ISS overlap each other by a predetermined area so that an uninspected area does not occur during panel inspection. Since each image sensor unit ISS acquires an image of a corresponding position and outputs an image signal corresponding to the obtained image, the inspection unit 430 is configured to output a plurality of image signals mansg. The plurality of image signals mansg output from the inspection unit may be an analog image signal or a digital image signal. However, although a plurality of image signals mansg are applied to the controllers 220 and 320 as analog image signals, the controller must convert the image signals to digital in order to analyze the image signals. In addition, when a plurality of image signals mansg is output as an analog image signal when the size of the panel 110 to be inspected is large, noise or signal distortion may occur, so that the inspection unit 430 may include a plurality of image signals. ) Is preferably output as a digital image signal.

이미지 센서(531)는 복수개의 포토 셀(미도시)을 구비하며 각각의 포토 셀은 대응하는 로드 렌즈(lens)를 통해 인가되는 빛을 축적하고, 축적된 빛의 양에 대응하는 아날로그 이미지 신호(ansg)를 순차적으로 출력한다. 이때 센서 제어부(532)는 복수개의 포토 셀이 빛을 축적하는 시간을 조절하기 위하여 제1 제어 신호(ctrl1)를 이미지 센서로 출력한다. 제1 제어 신호(ctrl1)는 포토 셀의 셔터를 제어하기 위한 셔터 제어 신호로서 사용되며, 센서 제어부(532)는 A/D 컨버터(533)에서 출력되는 디지털 이미지 신호(disg)에 응답하여 제1 제어 신호(ctrl1)를 발생한다. 그러나 제1 제어 신호는 셔터 제어 신호가 아니라 복수개의 포토 셀의 아날로그 이미지 신호 출력 순서 및 타이밍을 조절하기 위한 신호일 수도 있다. 패널 검사 시에 패널(110)에서 출력되는 이미지는 대체적으로 균일한 이미지이므로 셔터 시간을 조절할 필요 없이 미리 정해 둘 수 있다. 따라서 이 경우에 복수 개에 포토 셀에서 출력되는 이미지 신호의 순서와 타이밍을 지정하는 것이 패널 검사 시에 더욱 중요하므로 제1 제어 신호는 아날로그 이미지 신호의 출력 순서 및 타이밍을 조절하기 위하여 사용된다. 또한 센서 제어부(532)는 A/D 컨버터(533)가 아날로그 이미지 신호(ansg)를 차동 디지털 이미지 신호(disg, /disg)로 변환할 때 변환 레벨을 조절하기 위하여 제2 제어 신호(ctrl2)를 A/D 컨버터(533)로 출력한다. A/D 컨버터(533)는 제2 제어 신호에 응답하여 아날로그 이미지 신호(ansg)를 소정 비트(예를 들면 4bit)의 차동 디지털 이미지 신호(disg, /disg)로 변환하여 출력한다. 여기서 A/D 컨버터(533)는 노이즈에 의한 손실을 방지하기 위하여 디지털 이미지 신호를 차동으로 출력하지만, 단일 디지털 신호로 출력 할 수도 있다. A/D 컨버터(533)는 이미지 센서(531)의 복수개의 포토 셀에서 순차적으로 인가되는 아날로그 이미지 신호(ansg)를 인가받아 차동 디지털 이미지 신호(disg)로 변환하여 출력한다. 따라서 각각의 이미지 센서부(ISS)에서는 직렬로 이미지 신호가 출력된다.The image sensor 531 includes a plurality of photo cells (not shown), each photo cell accumulates light applied through a corresponding rod lens, and an analog image signal corresponding to the accumulated amount of light ( output ansg) sequentially. In this case, the sensor controller 532 outputs a first control signal ctrl1 to the image sensor in order to adjust the time for accumulating light of the plurality of photo cells. The first control signal ctrl1 is used as a shutter control signal for controlling the shutter of the photo cell, and the sensor controller 532 responds to the first digital image signal disg output from the A / D converter 533. Generate a control signal (ctrl1). However, the first control signal may not be a shutter control signal but a signal for adjusting the output order and timing of the analog image signal of the plurality of photo cells. Since the image output from the panel 110 during the panel inspection is a substantially uniform image, it may be predetermined without adjusting the shutter time. Therefore, in this case, since the order and timing of the image signals output from the photocells are more important in the panel inspection, the first control signal is used to adjust the output order and timing of the analog image signal. In addition, the sensor controller 532 may control the second control signal ctrl2 to adjust the conversion level when the A / D converter 533 converts the analog image signal ansg into a differential digital image signal disg or / disg. Output to A / D converter 533. In response to the second control signal, the A / D converter 533 converts the analog image signal ansg into a differential digital image signal disg (/ disg) of a predetermined bit (for example, 4 bits) and outputs it. In this case, the A / D converter 533 differentially outputs the digital image signal in order to prevent loss due to noise, but may also output it as a single digital signal. The A / D converter 533 receives an analog image signal ansg sequentially applied from a plurality of photo cells of the image sensor 531 and converts the analog image signal ansg into a differential digital image signal disg. Therefore, each image sensor unit ISS outputs image signals in series.

검사부(430)는 복수개의 이미지 센서부(ISS)가 아니라 하나의 이미지 센서부(ISS)로 구현될 수도 있다. 검사부(430)가 하나의 이미지 센서부(ISS)로 구현되는 경우에 이미지 센서부(ISS)의 크기가 커져야하므로 제조 비용이 증가하며, 상기한 바와 같이 이미지 신호를 직렬로 전송하는 경우에는 제어부가 이미지 신호를 인가받는 시간이 오래 걸리게 되는 단점이 있다. 그러므로 패널 검사 시간을 단축하기 위해서는 이미지 센서부(ISS)가 복수개의 A/D 컨버터(533)를 구비하고, 각각의 A/D 컨버터(533)가 대응하는 포토 셀로부터 아날로그 이미지 신호(ansg)를 인가받아 디지털 이미지 신호(disg)를 출력도록 구성하면, 즉 복수개의 디지털 이미지 신 호를 병렬로 출력 하도록 구성하면 검사 시간을 단축할 수 있다.The inspection unit 430 may be implemented as one image sensor unit ISS instead of a plurality of image sensor units ISS. In the case where the inspection unit 430 is implemented as one image sensor unit ISS, the size of the image sensor unit ISS must be increased, thereby increasing the manufacturing cost. In the case of transmitting the image signals in series as described above, the control unit The disadvantage is that it takes a long time to receive the image signal. Therefore, in order to shorten the panel inspection time, the image sensor unit ISS includes a plurality of A / D converters 533, and each of the A / D converters 533 receives the analog image signal ansg from the corresponding photo cell. When the digital image signal disg is configured to be output, that is, a plurality of digital image signals are output in parallel, the inspection time can be shortened.

그리고 패널 검사 장치(200, 300)가 패널에 대한 검사를 수행하기 전에 검사부(230 ~ 260, 330) 자체의 정상 동작 여부를 확인할 필요가 있다. 백라이트(bl)를 구비한 패널 검사 장치는 백라이트에서 조사되는 빛으로 검사부의 정상 여부를 판별할 수도 있으나, 백라이트(bl)를 구비하지 않는 패널 검사 장치는 검사부(230 ~ 260, 330) 자체의 정상 동작 여부를 판별하기 위하여 빛을 출력하는 광원이 필요하다. 따라서 이미지 센서부(ISS)는 광원을 추가로 구비하여 검사부(230 ~ 260, 330)의 정상 동작 여부를 검증 할 수 있도록 한다.In addition, before the panel inspection apparatus 200 or 300 performs the inspection on the panel, it is necessary to check whether the inspection units 230 to 260 and 330 operate normally. The panel inspection apparatus having the backlight bl may determine whether the inspection unit is normal by the light irradiated from the backlight, but the panel inspection apparatus without the backlight bl may be normal to the inspection units 230 to 260 and 330 itself. A light source for outputting light is required to determine whether it is operating. Therefore, the image sensor unit ISS may further include a light source to verify whether the inspection units 230 to 260 and 330 operate normally.

상기한 이미지 센서부(ISS)와 유사한 구조를 가진 장치로서 팩스(fax), 스캐너(scanner) 등의 장치에 사용되는 CIS(contact image sensor)가 있으며, 이미지 센서부(ISS)로서 CIS를 사용할 수 있다. 또한 이미지 센서부는 복수개의 카메라를 행 또는 열 방향으로 나열하여 구현할 수도 있다. 그러나 본 발명의 패널 검사 장치는 패널을 행 또는 열 방향으로 라인 스캐닝하여 검사를 수행하므로, 도1 에 도시된 종래의 카메라를 이용하는 방법과 비교하여 카메라의 해상도가 낮아도 더욱 정확한 패널 검사를 수행 할 수 있다.As a device having a structure similar to the above-described image sensor unit (ISS), there is a contact image sensor (CIS) used in a device such as a fax or a scanner, and a CIS can be used as the image sensor unit (ISS). have. In addition, the image sensor unit may be implemented by arranging a plurality of cameras in a row or column direction. However, the panel inspection apparatus of the present invention performs the inspection by line scanning the panel in the row or column direction, so that the panel inspection can be performed more accurately even if the resolution of the camera is lower than that of the conventional camera shown in FIG. have.

현재 사용되고 있는 이미지 센서는 2400dpi 이상의 고해상도를 지원하고 있으며, 이 해상도는 평판 디스플레이 장치가 제공하는 해상도보다 매우 높은 해상도이다. 따라서 본 발명의 패널(110)의 픽셀에 대하여 불량 여부를 매우 정확한 수준으로 측정할 수 있다. 뿐만 아니라 이미지 센서부(ISS)의 A/D 컨버터(533)에서 디지털 이미지 신호(disg)로 변환 시에 변환 레벨 조절이 용이하므로 단순히 불량 픽 셀의 존재 여부 뿐만아니라 패널(110)에서 출력되는 이미지의 균일성까지 정확하게 측정할 수 있다. 또한 이미지 센서부(ISS)가 매우 높은 해상도로 패널의 이미지를 획득할 수 있으며 광원을 추가로 구비할 수 있으므로, 제조 공정 중의 패널(110)에 대해서도 검사를 할 수 있다. 즉 제조 공정 중의 패널(110)상에 각인된 부품, 픽셀(Pixel) 및 배선의 정상 연결 여부를 판별하기 위해서도 사용될 수 있다. The current image sensor supports 2400 dpi or higher resolution, which is much higher than the resolution provided by flat panel displays. Therefore, the defect of the pixel of the panel 110 of the present invention can be measured at a very accurate level. In addition, since the conversion level is easily adjusted when converting the A / D converter 533 of the image sensor unit ISS into the digital image signal disg, the image output from the panel 110 as well as the presence of a defective pixel is not only present. The uniformity of can be measured accurately. In addition, since the image sensor unit ISS may acquire an image of the panel at a very high resolution and may further include a light source, the panel 110 may be inspected during the manufacturing process. That is, it may also be used to determine whether the components, pixels, and wirings stamped on the panel 110 are normally connected during the manufacturing process.

따라서, 제조 공정 중의 패널(110)에서 문제가 발생된 것으로 검사되면 문제를 수정할 수 있는 기회를 제공하거나 또는 이후의 공정으로 진행이 되지 않도록 함으로써 제조원가를 낮추거나 최종 검사 단계에서의 불량의 발생을 최대한 낮추는데 기여할 수 있다. Therefore, if a problem is detected in the panel 110 during the manufacturing process, it provides an opportunity to correct the problem or prevents the process from proceeding to a later process, thereby reducing manufacturing cost or minimizing the occurrence of defects in the final inspection step. Can contribute to lowering.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to a preferred embodiment of the present invention, those skilled in the art will be able to variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as set forth in the claims below. It will be appreciated.

도1 은 기존의 카메라를 이용하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a panel inspection apparatus of a flat panel display apparatus using a conventional camera.

도2 는 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.2 is a view showing an embodiment of a panel inspecting apparatus of a flat panel display of the present invention.

도3 은 본 발명의 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치의 다른 실시예를 나타내는 도면이다.3 is a view showing another embodiment of the panel inspection apparatus of the flat panel display device of the present invention.

도4 는 도2 및 도3 에 도시된 검사부의 구성을 나타내는 도면이다.4 is a view showing the configuration of the inspection unit shown in FIG. 2 and FIG.

도5 는 도4 에 도시된 이미지 센서부의 구성을 나타내는 도면이다.FIG. 5 is a diagram illustrating a configuration of the image sensor unit shown in FIG. 4.

Claims (24)

패널 검사 시에 패널의 디스플레이 면에 근접하여 배치되는 적어도 하나의 이미지 센서부를 구비하여, 상기 패널로부터 출력되는 이미지를 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 라인 스캐닝하여 획득하고, 상기 획득된 이미지에 대응하는 이미지 신호를 출력하는 적어도 하나의 검사부;At least one image sensor unit disposed in close proximity to the display surface of the panel during the panel inspection, the image output from the panel is obtained by line scanning by a predetermined number of rows or columns, and corresponds to the obtained image At least one inspection unit configured to output an image signal; 상기 패널이 상기 적어도 하나의 검사부 각각에 대응하여 상기 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 서로 다른 이미지를 출력하도록 제어하고, 상기 검사부에서 인가되는 상기 이미지 신호를 분석하여 상기 패널의 불량 여부를 판별하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And controlling the panel to output different images in units of the predetermined number of rows or columns corresponding to each of the at least one inspection unit, and analyzing the image signal applied by the inspection unit to determine whether the panel is defective. Panel inspection apparatus for a flat panel display device characterized in that it comprises a control unit. 제1 항에 있어서, 상기 이미지 센서부는The method of claim 1, wherein the image sensor unit 적어도 하나 이상의 라인으로 배치되어 상기 패널에서 상기 지정된 소정 개수의 행 또는 열 단위로 출력되는 상기 이미지를 수렴하여 출력하는 복수개 렌즈;A plurality of lenses arranged in at least one or more lines to converge and output the images output in the predetermined number of rows or columns in the panel; 제1 제어 신호에 응답하여 상기 복수개의 렌즈에서 출력되는 상기 이미지를 축적하고, 상기 축적된 이미지에 대응하는 아날로그 이미지 신호를 각각 순차적으로 출력하는 복수개의 포토 셀을 구비하는 이미지 센서; 및An image sensor including a plurality of photo cells configured to accumulate the images output from the plurality of lenses in response to a first control signal and to sequentially output analog image signals corresponding to the accumulated images; And 상기 제1 제어 신호를 출력하는 센서 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a sensor controller for outputting the first control signal. 제2 항에 있어서, 상기 이미지 센서부는The method of claim 2, wherein the image sensor unit 상기 아날로그 이미지 신호와 상기 센서 제어부에서 추가로 출력되는 제2 제어 신호를 인가받고, 상기 아날로그 이미지 신호를 상기 제2 제어 신호에 의해 지정되는 비트 수의 디지털 이미지 신호로 변환하여 출력하는 적어도 하나의 A/D 컨버터를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.At least one A receiving the analog image signal and a second control signal additionally output from the sensor controller, and converting the analog image signal into a digital image signal having a bit number designated by the second control signal and outputting the same. The panel inspection device of the flat panel display device further comprises a / D converter. 제3 항에 있어서, 상기 A/D 컨버터는The method of claim 3, wherein the A / D converter 상기 디지털 이미지 신호를 차동 신호로 출력하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And outputting the digital image signal as a differential signal. 제2 항에 있어서, 상기 이미지 센서부는The method of claim 2, wherein the image sensor unit 상기 이미지 센서부 자체의 정상 동작 여부를 검사하기 위한 빛을 방출하는 광원 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a light source for emitting light for checking whether the image sensor unit operates normally. 제5 항에 있어서, 상기 이미지 센서부는The method of claim 5, wherein the image sensor unit CIS(Contact Image Sensor) 인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.Panel inspection apparatus for a flat panel display device characterized in that the CIS (Contact Image Sensor). 제5 항에 있어서, 상기 이미지 센서부는The method of claim 5, wherein the image sensor unit 적어도 하나의 라인 단위로 배치된 복수개의 카메라인 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a plurality of cameras arranged in at least one line unit. 제1 항에 있어서, 상기 검사부는The method of claim 1, wherein the inspection unit 복수개의 상기 이미지 센서부를 구비하는 경우, 상기 복수개의 이미지 센서부를 라인 단위로 교차하여 배치하되, 인접 라인의 상기 이미지 센서와 서로 중복 구간을 갖도록 배치하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.When the plurality of image sensor units are provided, the plurality of image sensor units are arranged to cross each other in line units, and the panel inspection apparatus of the flat panel display apparatus, wherein the plurality of image sensor units are arranged to have overlapping sections with the image sensors of adjacent lines. 제8 항에 있어서, 상기 검사부는The method of claim 8, wherein the inspection unit 상기 적어도 하나의 이미지 센서부 각각이 상기 패널 표면과 균일한 거리를 유지하도록 센서부 높이 조절 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And at least one sensor unit height adjusting means such that each of the at least one image sensor unit maintains a uniform distance from the surface of the panel. 제1 항에 있어서, 상기 패널은The method of claim 1, wherein the panel is 상기 제어부와 전기적으로 연결되고. 상기 제어부의 제어에 의해 상기 패널이 상기 적어도 하나의 검사부 각각에 대응하는 이미지를 출력하도록 상기 패널을 구동하는 테스트 구동부를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.Electrically connected with the control unit. And a test driver for driving the panel such that the panel outputs an image corresponding to each of the at least one inspection unit under the control of the controller. 제10 항에 있어서, 상기 제어부는The method of claim 10, wherein the control unit 상기 적어도 하나의 검사부 각각에서 출력되는 상기 이미지 신호 모두가 패널의 동일한 위치에 이상이 있는 것으로 분석되면 스크래치에 의한 불량으로 판정하고,If it is analyzed that all of the image signals output from each of the at least one inspection unit is abnormal in the same position of the panel, it is determined that the defect due to scratch, 상기 이미지 신호 중 하나의 이미지 신호만이 이상이 있는 것으로 분석되면 해당 위치의 상기 픽셀이 불량인 것으로 판정하며,If only one image signal of the image signal is analyzed to be abnormal, it is determined that the pixel at the corresponding position is defective, 상기 이미지 신호의 열 전체가 이상이 있는 것으로 분석되면 패널 내의 해당 열에 배치되는 배선 또는 상기 테스트 구동부 또는 백라이트의 불량으로 판정하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And if the entire column of the image signal is analyzed to be abnormal, determine that the wiring arranged in the corresponding column in the panel or the test driver or backlight is defective. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 상기 적어도 하나의 검사부가 상기 패널로부터 출력되는 이미지를 획득하기 전에 상기 패널 디스플레이 면에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 에어 브러쉬를 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And at least one inspection unit further comprises an airbrush for removing foreign matter that may be present on the panel display surface before acquiring an image output from the panel. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 상기 패널이 자체적으로 발광하지 못하는 경우에 상기 패널을 통과하여 상기 적어도 하나의 검사부로 빛을 조사하기 위한 백라이트부를 추가로 더 구비하는 것 을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a backlight unit for irradiating light to the at least one inspection unit through the panel when the panel does not emit light by itself. 제13 항에 있어서, 상기 백라이트부는The method of claim 13, wherein the backlight unit 상기 패널의 후면에서 상기 패널로 빛을 조사하는 적어도 하나의 백라이트; 및At least one backlight for irradiating light from the back of the panel to the panel; And 상기 백라이트에 의해 발생되는 열을 외부로 방출하기 위한 적어도 하나의 팬을 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And at least one fan for dissipating heat generated by the backlight to the outside. 제14 항에 있어서, 상기 백라이트는The method of claim 14, wherein the backlight is 복수개씩 그룹 단위로 배치되고, 상기 그룹 중 지정된 소정 개수만이 활성화 되며, 상기 활성화된 백라이트에 이상이 발생하면 상기 제어부의 제어에 의해 활성화 되지 않은 백라이트가 활성화되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.The panel of the flat panel display device, which is arranged in groups by a plurality, and only a predetermined number of the groups is activated, and when an abnormality occurs in the activated backlight, the unactivated backlight is activated by the control of the controller. Inspection device. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 검사가 수행될 패널을 검사 위치로 공급하는 패널 이송 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a panel conveying means for supplying a panel to be inspected to a test position. 제16 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 16, wherein the panel inspection device is 상기 패널 이송 수단에 의해 상기 패널이 이동하면서 라인 스캐닝을 수행하 는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And panel scanning by moving the panel by the panel conveying means. 제16 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 16, wherein the panel inspection device is 상기 패널 이송 수단이 상기 패널의 디스플레이 면이 상기 검사부의 지정된 소정의 거리에 배치되도록 상기 패널을 이송하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And the panel conveying means conveys the panel such that the display surface of the panel is arranged at a predetermined distance of the inspection unit. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 적어도 하나의 검사부가 상기 패널의 디스플레이 면 위를 이동하면서 라인 스캐닝을 수행하도록 검사 축 구동 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And at least one inspection unit further comprising inspection axis driving means to perform line scanning while moving on the display surface of the panel. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 적어도 하나의 검사부가 상기 패널의 디스플레이 면 아래를 이동하면서 라인 스캐닝을 수행하도록 검사 축 구동 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And at least one inspection unit further comprising inspection axis drive means to perform line scanning while moving below the display surface of the panel. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 상기 검사부가 상기 패널의 디스플레이 면의 지정된 소정의 거리까지 이동하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And the inspection unit moves to a predetermined distance of a display surface of the panel. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 검사 시에 상기 패널을 고정하기 위한 패널 고정 수단을 추가로 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And a panel fixing means for fixing the panel at the time of inspection. 제22 항에 있어서, 상기 패널 고정 수단은The method of claim 22 wherein the panel fixing means 상기 패널의 디스플레이 면이 상기 검사부의 지정된 소정의 거리에 배치되도록 상기 패널을 이송하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.And the panel is transported such that the display surface of the panel is disposed at a predetermined distance of the inspection unit. 제1 항에 있어서, 상기 패널 검사 장치는The apparatus of claim 1, wherein the panel inspection device is 제조 공정 중의 상기 패널을 라인 스캐닝하여 상기 패널의 이미지를 획득하고, 상기 획득된 이미지를 미리 저장된 이미지와 비교하여 상기 제조 공정 중의 패널의 정상 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 장치의 패널 검사 장치.The panel inspection apparatus of the flat panel display device, characterized in that the line scanning of the panel in the manufacturing process to obtain an image of the panel, and comparing the obtained image with a pre-stored image to determine whether the panel is normal in the manufacturing process. .
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