KR100914811B1 - 터치 패널의 비접촉 테스트를 수행하는 방법 및 시스템 - Google Patents

Abstract

본 발명에 따른 터치 패널의 비접촉(non-contact) 테스트를 수행하는 방법과 시스템이 개시된다. 에어 노즐(ari nozzle)이 에어 분사 통공(air jet orifice)과 상기 터치 패널 표면 사이에 소정 이격 거리를 두고 상기 터치 패널 위에 배열된다. 상기 에어 분사 통공이 상기 터치 패널을 향하여 에어 제트를 생성하도록 에어가 상기 에어 노즐로 공급된다. 테스트 장치의 제어하에, 상기 에어 노즐은 상기 터치 패널의 표면 위에 소정의 테스트 경로(route)를 따라 이동되도록 구동되며, 상기 터치 패널은 상기 경로를 따라 에어 노즐의 이동에 해당하는 터치 신호들을 생성한다. 상기 테스트 장치는 상기 터치 신호들을 수신하고 터치 패널이 선형성 테스트(linearity test)를 만족하는지 여부를 결정한다.

Description

터치 패널의 비접촉 테스트를 수행하는 방법 및 시스템{METHOD AND SYSTEM FOR CARRYING OUT NON-CONTACT TESTING OF TOUCH PANEL}

본 발명은 터치 패널을 테스트하는 분야에 관한 것으로, 더욱 구체적으로는 에어 노즐에 의하여 생성되는 에어 제트에 의하여 상기 터치 패널 상에 발생되는 가압(pressurization)으로 상기 터치 패널에 대한 비접촉 테스트를 수행하는 방법 및 시스템에 관한 것이다.

첨부된 도면 중 도 1은 종래의 터치 패널의 분해 조립도를 도시하고 있다. 도 1에서 참조부호 100으로 전반적으로 표시된 상기 종래 터치 패널은 유리기판(11)과 투명 전도층(transparent conductive layer)(111)이 전기적 전도성 유리 패널(ellectrically conductive glass panel)을 형성하도록 ITO층과 같은 투명 전도층(111)이 코딩된 표면을 가지는 유기 기판(11)을 포함한다. 상기 전기적 전도성 유리 패널은 상기 유리 기판(11)의 상기 투명 전도층(111)에 대면하는 투명 전도층(121)으로 고팅된 하면을 가지는 필름(12)으로 커버링된다. 복수 개의 격리 스페이서(insulation spacer)(13)는 상기 투명 전도층(111)과 상기 투명 전도층(121)이 상호 격리될 수 있도록 상기 유리 기판(11)의 상기 투명 전도층(111)과 상기 필름(12)의 상기 투명 전도층(121) 사이에 배열되며, 보호층(protection layer)(14)이 상기 필름(12)의 상면에 주로 커버링된다.

상기 유리 기판(11)의 상기 투명 전도층(111)과 상기 필름(12)의 상기 투명 전도층(121)에는 상기 터치 패널(100)의 디프레이션(depression)과 엑츄에이션(actuation)에 의하여 생성된 신호들을 전송하기 위하여 신호 전송 라인(15)이 연결되는 신호 접점(112, 122)이 각각 제공된다.

상기 터치 패널이 상기와 같이 제조된 후에, 상기 터치패널이 요구되는 전기적 성능(performance)에 부합되는지 여부와 원하는 품질을 만족하는지 여부를 조사하기 위하여 선형성 테스트가 수행된다. 상기 선형성 테스트(Linearity test)는 전기적 특성에 대한 주요한 테스트이다.

도 2에 도시된 바와 같이 상기 선형성 테스트를 수행하는 종래의 방법은 실제적인 터치와 디프레이션(depression)이 테스트를 위하여 수행되고, 실제적으로 상기 터치 패널(100)의 표면을 터치하거나 디프레스(depress)하기 위하여 가압 테스팅 스타일러스(pressurizing testing stylus)(2)가 상기 터치 패널(100) 상에 위치된다. 신호 연결에 대하여, 상기 신호 전송 라인(15)이 테스트 시스템(3)에 연결되고, 상기 테스트 시스템에서는 신호의 리딩(reading)과 분석을 위한 프로그램이 기 로딩되어 상기 테스트 시스템(3)은 신호 전송 라인(15)을 통하여 터치 패널(100)로부터 전송된 신호들을 리딩하고 또한, 상기 테스트 시스템(3)의 화면표시수단(4)상에 디스플레이하기 위하여 상기와 같이 리딩된 신호를 분석한다. 테스트를 수행하기 위하여, 상기 스타일러스(2)는 상기 터치 패널(100)상에 선을 그리고 이동하기 위한 압력을 가하기 위하여 X축과 Y축 방향으로 정의된 소정의 테스트 루트(L)를 따라 상기 터치 패널(100)을 터치하거나 디프레스한다. 이에 의한 터치 패널(100)의 가압에 따라, 상기 터치 패널(100)을 구성하는 상기 유리 기판(11)의 상기 투명 전도층(111)과 상기 필름(12)의 상기 투명 전도층(121)은 상호 접촉하게 되고, 터치 신호(signal of touch)를 유도한다. 상기 터치 신호는 그 후, 상기 신호 전송 라인(15)을 통하여 상기 테스트 시스템(3)으로 전송되고, 후속적으로 상기 테스트 시스템(3)에 의하여 리딩되고 분석된다. 그리고, 상기 리딩된 신호들에 상응하는 테스트 루트(L)가 상기 테스트 시스템(3)의 화면표시수단(4)상에 디스플레이된다. 상기 디스플레이된 결과에 기초하여, 상기 터치 패널이 선형성에 대한 적격성이 있는지 여부에 대한 결정이 이루어질 수 있다.

이러한 종래의 테스트 방법에서는, 가압 테스팅 스타일러스가 터치 패널의 테스트를 수행하기 위하여 사용되며, 테스트를 수행하기 위하여 직접적인 접촉(direct contact)과 가압이 상기 터치 패널의 표면상에 인가되고, 결과적으로 상기 스타일러스 자체가 상기 터치 태널을 테스트하는데 주요한 팩터(factor)가 된다. 예를 들어, 상기 스타일러스가 상기 터치 패널의 표면에 접촉되도록 놓여질 때, 상기 스타일러스에 의하여 상기 터치 패널에 가해진 접촉 가압과 상기 터치 패널 상의 상기 스타일러스의 이동(displacement)은 특별한 지그(jig)또는 제어수단에 의하여 제어되어야 한다.

상기 지그나 제어수단이 조악한 경우 또는 상기 스타일러스의 접촉 포인트(contact point)가 조악한 구성이거나 상기 터치 패널의 표면이 평탄하지 않은 경우, 데미지 또는 스크랩(scarpe)이 상기 터치 패널의 표면상에 쉽게 발생될 수 있다. 이런 데미지나 스크랩이 있는 상기 터치 패널이 시장에 나오는 경우, 아무리 그 정도가 작다고 하여도 이러한 데미지나 스크랩은 일반 수요자에게는 주요한 흠결로서 간주될 것이다. 추가적으로, 상기 테스트가 수행될 때, 상기 터치 패널의 표면에 부착된 작은 오염원 입자들이 있다면, 상기 스타일러스가 상기 터치 패널의 표면상을 이동할 때, 상기 스타일러스는 상기 입자들에 방해를 받게 될 수 있으며, 상기 스타일러스와 상기 터치 패널의 표면 사이에 존재하는 입자들을 통해 상기 스타일러스가 상기 터치 패널의 표면에 압력을 가하게 될 수 있어, 상기 터치 패널의 표면상에 원하는 않는 피해를 재차 발생시킬 수 있다.

그러므로, 본 발명은 터치 패널 제품의 품질을 보증하기 위하여 가압 테스팅 스타일러스에 위하여 수행되는 터치 패널의 종래 테스팅에서 발생하는 상기와 같은 문제점을 극복하는 것을 목적으로 한다.

본 발명의 목적은 터치 패널의 비접촉 선형성 테스팅 방법 즉, 상기 터치 패널의 테스팅이 상기 터치 패널의 표면과의 접촉없이 수행되도록 하는 방법을 제공하는 데 있다.

본 발명의 다른 목적은 터치 패널의 선형성 테스팅을 진행하기 위하여 에어 제트를 사용하는 방법을 제공하는 데 있으며, 여기에서, 에어 노즐에 의하여 생성된 상기 에어 제트는 상기 터치 패널의 표면에 압력을 가하게 되고, 상기 터치 패널에 터치 신호를 유발하도록 함으로써, 상기 터치 패널을 직접적으로 접촉하는 가압 테스팅 스타일러스에 의하여 상기 터치 신호를 생성하는 종래의 방법을 교체하는 데 있다.

본 발명의 또 다른 목적은 터치 패널의 선형성 테스팅을 수행할 수 있음과 동시에 터치 패널의 표면에 발생할 수 있는 작은 오염원 입자를 제거할 수 있는 방법을 제공하는 데 있다.

또한, 본 발명의 목적은 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템을 제공하는데 있으며, 상기 시스템은 에어 노즐, 에어 공급원 및 테스트 시스템을 포함하며, 상기 에어 공급원(air supply source)은 상기 에어 노즐에 공기/가스를 제공하고, 상기 에어 노즐은 상기 터치 패널의 표면으로 에어 제트(air jet)나 가스 플로우(gas flow)를 생성하여 상기 에어 제트에 대응하는 터치 신호를 상기 터치 패널이 생성하도록 한다. 상기 터치 신호는 후속적인 프로세싱을 위하여 전송 라인을 통하여 상기 테스트 시스템으로 인가될 수 있다.

본 발명에 의해, 앞서 논의된 문제를 위한 기술적인 해결방안은 다음과 같은 점에 있다. 상기 에어 노즐은 상기 에어 노즐의 에어 제트 통공과 상기 터치 패널의 표면 사이에 소정의 갭 또는 거리를 두고 분사될 터치 패널의 표면에 근접하여 배열된다. 상기 에어 공급원과 연결될 때, 상기 에어 노즐은 상기 에어 노즐의 에어 제트 통공에서 에어 제트를 형성하는 에어가 공급되고, 상기 터치 패널을 향하여 이동된다. 테스팅 시스템의 제어하에, 상기 터치 패널의 표면 위에 위치한 상기 에어 노즐은 소정의 루트(predetermined route)를 따라 이동한다. 상기 에어 제트에 의하여 구동되는 터치 패널은 상기 에어 노즐이 이동하는 루트에 대응하는 터치 신호를 발생하게 된다. 상기 테스팅 시스템은 상기 터치 신호를 수신하고, 상기 조사 대상 터치 패널이 선형성 테스트를 통과할 수 있는지 여부를 결정한다.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 터치 패널을 테스팅 하는 방법은, (a) 에어 제트 통공이 구비된 에어 노즐을 상기 에어 제트 통공과 상기 터치 패널의 표면 사이에 소정의 거리를 두어 상기 터치 패널의 표면 위에 배열하는 배열단계; (b) 상기 에어 노즐의 상기 에어 제트 통공이 상기 터치 패널의 상면을 향하여 에어 제트를 생성하도록 상기 에어 노즐에 에어를 공급하는 공급단계; (c) 상기 에어 노즐이 상기 터치 패널 표면 상의 소정 테스팅 경로를 따라 이동하도록 구동하는 구동단계; (d) 상기 터치 패널이 상기 에어 노즐의 상기 테스팅 경로를 따른 이동에 대응하는 일련의 터치 신호들을 생성하는 생성단계; 및 (e) 상기 터치 패널을 검증하기 위하여 상기 터치 신호들을 수신하는 수신단계를 포함하여 구성된다.

한편, 본 발명의 또 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템은, 소정 거리로 상기 터치 패널의 표면으로부터 이격되고 상기 터치 패널의 위에 배열되는 에어 제트 통공을 가지는 에어 노즐; 상기 에어 노즐에 에어를 공급하기 위하여 상기 에어 노즐과 도관에 의하여 연결되는 에어 공급원; 및 신호 전송 라인에 의하여 상기 터치 패널과 연결될 수 있는 테스트 장치를 포함하고, 상기 에어 공급원은 상기 에어 노즐에 에어를 공급하고, 상기 에어 노즐은 상기 터치 패널 표면을 향한 방향으로 에어 제트 통공에서 에어 제트를 생성하여 상기 터치 패널이 상기 에어 제트에 대응하는 터치 신호를 반응적으로 생성하고, 상기 터치 신호는 상기 신호전송라인을 통하여 상기 테스트 장치에 인가되도록 구성된다.

본 발명은 상기 터치 패널의 표면을 가압 테스팅 스타일러스의 직접적인 접촉에 의하여 유발되는 종래의 터치 신호를 테스트되는 동안 상기 터치 패널의 표면에 에어 제트를 인가함으로써 유발하는 터치 패널의 테스팅을 수행한다. 여기에서, 상기 터치 패널의 전기적 특성에 대한 테스팅이 상기 터치 패널의 표면에 대한 직접적인 물리적 접촉없이 수행될 수 있다. 그러므로, 본 발명에 의한 방법은 터치 패널에 대한 데미지, 스크랩 또는 파손(breakage) 등의 잠재적인 위험을 유발하지 않으며, 결과적으로 터치 패널에 대한 테스팅이 향상된다. 터치 패널 제품의 수익률 또한 증진될 수 있다. 더욱이, 본 발명에 따른 터치 패널의 테스팅을 수행함에 있어, 상기 터치 신호를 유발하기 위하여 상기 터치 패널의 표면에 압력을 가하도록 하는 상기 에어 제트는 또한, 상기 터치 패널의 표면에 부착되는 작은 오염원 입자들을 제거하거나 청소할 수 있도록 기능할 수 있다. 결과적으로, 터치 패널 제품의 테스팅이나 제조의 모든 과정은 단순화될 수 있으며, 상기 터치 패널의 테스팅과 불순물 제거과정이 개별적인 절차로 각각 수행되어야 하는 종래 터치 패널의 제조 방법에서 발생되는 문제점을 제거할 수 있다.

본 발명은 첨부된 도면들을 참조하고 본 고안의 바람직한 실시예에 대한 전술된 고안의 상세한 설명을 통하여 본 고안은 본 고안의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확해질 것이다.

도 1은 종래 터치 패널의 분해 조립도,

도 2는 터치 패널에 대한 종래의 접촉식 테스팅을 수행하는 어레인지먼트를 도시하는 사시도,

도 3은 본 발명에 따른 터치 패널의 비접촉 테스팅을 수행하는 어레인지먼트를 도시한 사시도,

도 4는 터치 패널을 테스팅하는 본 발명에 의한 비접촉 테스팅 방법의 흐름도,

도 5는 에어 제트가 상기 터치 패널의 표면에 인가되지 않은 상태에서 에어 노즐이 상기 터치 패널의 표면 위에 배열된 모습을 도시한 단면도,

도 6은 상기 터치 패널의 표면 위에 배열된 상기 에어 노즐이 에어 제트 통공에서 에어 제트를 상기 터피 패널의 표면을 향하여 생성하는 모습을 도시한 단면도이다.

도면, 특히 도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 터치 패널의 비접촉 테스트를 수행하기 위한 어레인지먼트(arrangement)가 도시되어 있다. 도시된 바와 같이, 본 발명에 따르면, 테스트를 수행하는 참조부호 100으로 전반적으로 표시된 기 제조된 터치 패널이 제공되며, 에어 노즐(5)은 상기 터치 패널(100) 위에 배열된다. 에어 노즐(5)은 소정의 거리 또는 갭(gap)에 의하여 상기 터치 패널(100) 액티브 영역(active zone)(110)의 표면으로부터 간격을 두어 대면하는 에어 제트 통공(51)을 형성하는 하부를 가진다.

상기 에어 노즐(5)은 플로우 스위치 유닛(flow switch unit)(53)과 도관(conduit)(52)을 통하여 에어 공급원(54)와 연결된다. 상기 에어 공급원(54)은 상기 플로우 스위치 유닛(53)의 제어하에 상기 도관(52)을 통하여 상기 에어 노즐(5)로 프리셋 압력(preset pressure)의 에어를 공급한다.

상기 터치 패널(100)은 신호 전송 라인(15)이 상기 터치 패널(100)과 상기 테스팅 시스템(6)을 연결하는 방법에 의하여 세팅된다. 상기 테스팅 시스템(6)은 신호를 리딩하거나 분석하는 프로그램 또는 소트프웨어가 미리 탑재되어 있다. 상기 테스팅 시스템(6)은 상기 터치 패널(100)으로부터 터치 신호(touch signal)를 수신하고, 상기 터치 신호를 분석하고 처리하여 상기 테스트 시트템(6)의 화면표시수단(display device)(61)에 상기 터치 신호와 관련된 데이터를 나타낸다. 상기 테스팅 시스템(6)은 터치 패널들을 테스팅하기 위한 설비에 기초된 컴퓨터가 그 예일 수 있으며, 선택적으로 상기 테스팅 시스템(6)은 신호 리딩 및 분석 프로그램 또는 소트프웨어가 기 로딩되고 조사될 상기 터치 패널과 연결될 수 있는 보통의 일반적 목적의 컴퓨터일 수도 있다.

상기 테스팅 시스템(6)은 소정의 루트(predetermined route)를 따라 상기 에어 노즐(5)이 이동되도록 하는 이동 제어 메카니즘(62)의 동작을 제어하기 위하여 이동 제어 신호(S1)을 제공한다. 상기 테스팅 시스템(6)은 또한, 상기 에어 공급원(54)으로부터 상기 에어 노즐(5)로의 에어 공급을 선택적으로 제공하거나 닫도록 하기 위하여 상기 플로우 스위치 유닛(53)의 동작을 제어하는 스위치 제어 신호(S2)를 제공한다. 상기 플로우 스위치 유닛(53)은 전자기 제어 밸브(electromagnetic control valve) 또는 동등한 플로우 제어 시스템(equivalent flow control system)이 그 예일 수 있다.

도 4는 터치 패널을 테스팅하는 본 발명에 따른 비접촉 테스팅 방법에 대한 흐름도를 도시하고 있다. 상기 본 발명의 비접촉 테스팅 방법은 도 4의 흐름도 및 도 3에 도시된 테스팅 어레인지먼트(arrangement)에 따라 설명될 것이다.

상기 테스팅은 상기 에어 노즐(5) 하부의 에어 제트 통공(51)과 상기 터치 패널(100)의 액티브 영역(110) 표면 사이에 소정의 갭 또는 거리를 두고 상기 터치 패널(100) 위에 상기 에어 노즐을 세팅하는 단계(S102)가 수반되는 상기 신호 전송 라인(15)을 통하여 상기 테스팅 시스템(6)에 상기 터치 패널(100)을 연결하는 단계(S101)에 의하여 시작된다.

상기 에어 노즐(5), 도관(52), 상기 플로우 스위치 유닛(53), 상기 에어 공급원(54) 및 이동 제어 메카니즘(62)은 적절하게 연결된다. 도 5는 에어 제트가 상기 터치 패널(100)의 표면에 인가되지 않은 상태에서 상기 터치 패널(100)의 표면 위에 배열된 에어 노즐(5)을 도시하는 단면도이다.

상기에서 언급된 이전 어레인지먼트에 의하여 상기 터치 패널(100)의 테스팅이 수행될 수 있다. 상기 테스팅 시스템(6)의 제어하에 플로우 스위치 유닛(53)과 도관(52)을 통하여 상기 에어 공급원(54)으로부터 상기 에어 노즐(5)로 에어가 공급된다(S103). 그리고, 상기 터치 패널(100)의 엑티브 영역(110)을 향하는 방향으로 상기 에어 노즐(5) 하부의 에어 제트 통공(51)에서 상기 에어 제트(F)(도 6 참조)가 생성된다(S104).

이와 동시에, 상기 테스팅 시스템(6)의 제어하에, 상기 이동 제어 메카니즘(62)이 도 6에 도시된 바와 같이 상기 터치 패널(100) 표면상의 소정의 루트(I)를 따라 이동하도록 상기 에어 노즐(5)을 구동한다(S105).

도 6은 상기 터치 패널(100)의 표면을 향하여 상기 에어 노즐(5)의 에어 제트 통공(51)에서 에어 제트(F)를 생성하는 상기 터치 패널(100)의 표면 위 배열되는 에어 노즐(5)을 도시하는 단면도이다. 도시된 바와 같이, 상기 터치 패널(100)의 표면은 상기 에어 노즐(5) 하부의 상기 에어 제트 통공(51)에 의하여 생성된 상기 에어 제트(F)에 의한 압력을 받게 되어, 리세스(recess)(A)가 형성되고, 상기 리세스(A)는 터치 패널(100)을 구성하는 부분인 유기 기판(11)의 투명 도전층(111)과 필름(12)의 투명 전도층(121)이 서로 접촉되도록 한다. 결과적으로, 상기 터치 패널(100)은 상기 이동 루트(I)를 따라 이동하는 에어 노즐(5)의 터치 위치(touch position)에 상응하는 일련의 터치 신호들을 생성한다. 상기 일련의 터치 신호들은 상기 신호 전송 라인(15)을 통하여 상기 테스팅 시스템(6)으로 인가된다(applied)(S106).

앞서 논의된 테스팅 처리과정에서 상기 에어 노즐(5)의 이동 루트(I)는 상기 터치 패널(100)의 X축 또는 Y축의 방향에 따른 직선 경로(linear path)로 설정될 수 있다. 또는 선택적으로 상기 루트(I)는 횡단 경로(transverse path) 또는 커브 경로(curved path)로 설정될 수도 있다.

본 발명에 따른 방법으로, 상기 터치 패널을 따라 이동하는 가압 테스팅 스타일러스에 의하여 종래 기술에서 행해지는 터치 패널에서의 터치 신호들에 대한 생성이 시뮬레이션될 수 있다. 더욱이, 본 발명의 방법으로, 일련의 터치 신호들과 연관된 상기 터치 패널(100) 상의 에어 노즐(5)의 이동 경로를 표현하는 데이터 또는 신호들은 상기 테스팅 시스템(6)의 화면표시수단(61)상에 디스플레이될 수 있다.

상기 터치 패널(100)상에서 상기 에어 노즐(5)의 이동 경로에 대응하는 상기 터치 신호들을 수신(S107)한 후 상기 테스팅 시스템(6)의 화면표시수단(61)은 상기 에어 노즐(5)의 경로에 연관된 터치 신호들을 표시한다(S108). 결과적으로 오퍼레이터는 상기 디스플레이된 터치 신호들에 기초하여 테스팅 중인 상기 터치 패널(100)이 선형성 테스트뿐만 아니라 다른 전기적 특성들의 요구조건을 만족하는지 판단할 수 있다(S109).

본 발명이 비록 바람직한 실시예 및 본 발명을 수행하는 최적의 예를 참조하여 설명되고 있으나, 다양한 수정들과 변형이 첨부된 청구범위에 의하여 정해지게 되는 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 이루어질 수 있다는 것은 당업자에게 자명하다.

Claims (6)

1. 터치 패널을 테스팅 하는 방법에 있어서,

   (a) 에어 제트 통공이 구비된 에어 노즐을 상기 에어 제트 통공과 상기 터치 패널의 표면 사이에 소정의 거리를 두어 상기 터치 패널의 표면 위에 배열하는 배열단계;

   (b) 상기 에어 노즐의 상기 에어 제트 통공이 상기 터치 패널의 상면을 향하여 에어 제트를 생성하도록 상기 에어 노즐에 에어를 공급하는 공급단계;

   (c) 상기 에어 노즐이 상기 터치 패널 표면상의 소정 테스팅 경로를 따라 이동하도록 구동하는 구동단계;

   (d) 상기 터치 패널이 상기 에어 노즐의 상기 테스팅 경로를 따른 이동에 대응하는 일련의 터치 신호들을 생성하는 생성단계; 및

   (e) 상기 터치 패널을 검증하기 위하여 상기 터치 신호들을 수신하는 수신단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 테스팅 방법.
2. 제 1항에 있어서, 상기 에어 노즐은,

   플로우 스위치 유닛을 통하여 에어 공급원에 연결되어 상기 플로우 스위치 유닛이 상기 에어 노즐에 대한 에어 공급을 제어하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 테스팅 방법.
3. 제 1항에 있어서, 상기 (e)단계는,

   화면표시수단에 상기 테스팅 경로에 따른 상기 에어 노즐의 이동에 대응하는 터치 신호들을 디스플레이하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 터치 패널 테스팅 방법.
4. 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템에 있어서,

   소정 거리로 상기 터치 패널의 표면으로부터 이격되고 상기 터치 패널의 위에 배열되는 에어 제트 통공을 가지는 에어 노즐;

   상기 에어 노즐에 에어를 공급하기 위하여 상기 에어 노즐과 도관에 의하여 연결되는 에어 공급원; 및

   신호 전송 라인에 의하여 상기 터치 패널과 연결될 수 있는 테스트 장치를 포함하고,

   상기 에어 공급원은 상기 에어 노즐에 에어를 공급하고, 상기 에어 노즐은 상기 터치 패널 표면을 향한 방향으로 에어 제트 통공에서 에어 제트를 생성하여 상기 터치 패널이 상기 에어 제트에 대응하는 터치 신호를 반응적으로 생성하고, 상기 터치 신호는 상기 신호전송라인을 통하여 상기 테스트 장치에 인가되는 것을 특징으로 하는 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템.
5. 제 4항에 있어서,

   상기 에어 공급원과 상기 에어 노즐 사이를 연결하는 플로우 스위치 유닛을 더 포함하고,

   상기 테스트 장치는,

   상기 에어 공급원으로부터 상기 에어 노즐로의 에어 공급의 제어를 위하여 상기 플로우 스위치 유닛을 제어하는 스위치 제어 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템.
6. 제 4항에 있어서,

   상기 에어 노즐과 연결되는 이동 제어 메카니즘을 더 포함하고,

   상기 테스트 장치는,

   상기 에어 노즐이 소정의 테스팅 경로를 따라 이동하도록 구동하기 위하여 상기 이동 제어 메카니즘을 제어하는 이동 제어 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 터치 패널을 테스팅하는 비접촉 테스팅 시스템.