KR100913181B1 - 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치 - Google Patents

평판 표시장치용 검사설비의 입력장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100913181B1
KR100913181B1 KR1020080003937A KR20080003937A KR100913181B1 KR 100913181 B1 KR100913181 B1 KR 100913181B1 KR 1020080003937 A KR1020080003937 A KR 1020080003937A KR 20080003937 A KR20080003937 A KR 20080003937A KR 100913181 B1 KR100913181 B1 KR 100913181B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
input unit
guide rail
unit
mother substrate
flat panel
Prior art date
Application number
KR1020080003937A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20090078132A (ko
Inventor
박상훈
Original Assignee
삼성모바일디스플레이주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성모바일디스플레이주식회사 filed Critical 삼성모바일디스플레이주식회사
Priority to KR1020080003937A priority Critical patent/KR100913181B1/ko
Priority to US12/314,925 priority patent/US8151657B2/en
Publication of KR20090078132A publication Critical patent/KR20090078132A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100913181B1 publication Critical patent/KR100913181B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0439—Pixel structures
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/08—Active matrix structure, i.e. with use of active elements, inclusive of non-linear two terminal elements, in the pixels together with light emitting or modulating elements
    • G09G2300/0809—Several active elements per pixel in active matrix panels
    • G09G2300/0842—Several active elements per pixel in active matrix panels forming a memory circuit, e.g. a dynamic memory with one capacitor
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters

Abstract

본 발명은 모기판(mother substrate) 상태의 평판 표시장치들을 검사하는 과정에서 불량이 발생한 평판 표시장치의 불량 신호를 입력하는 입력장치를 제공한다. 본 발명에 따른 입력장치는, 모기판의 전방에서 모기판과 거리를 두고 위치하며 불량의 종류가 표기된 복수의 라벨 및 적어도 하나의 선택 버튼을 구비하여 불량 선택 신호를 생성하는 입력부와, 입력부의 수평 이동을 가이드하는 제1 가이드 레일 및 입력부의 수직 이동을 가이드하는 제2 가이드 레일을 포함하는 가이드부와, 입력부의 위치를 감지하여 위치 신호를 생성하는 위치 감지부와, 입력부로부터 불량 선택 신호를 전송받고 위치 감지부로부터 위치 신호를 전송받아 모기판의 불량 정보를 맵핑하는 제어부를 포함한다.
입력부, 선택버튼, 가이드, 가이드레일, 위치감지, 센서, 제어부, 불량신호

Description

평판 표시장치용 검사설비의 입력장치 {INPUT DEVICE OF INSPECTION SYSTEM FOR FLAT PANEL DISPLAY}
본 발명은 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 모기판(mother substrate) 상태의 평판 표시장치들을 검사하는 과정에서 불량이 발생한 평판 표시장치의 불량 신호를 입력하는 입력장치에 관한 것이다.
영상을 표시하는 평판 표시장치로서 유기발광 표시장치와 액정 표시장치 및 플라즈마 디스플레이 패널 등이 잘 알려져 있다. 이러한 평판 표시장치는 하나의 모기판에 복수의 평판 표시장치를 동시에 형성하고, 평판 표시장치 사이를 절단하여 이들을 분리시키고, 분리된 평판 표시장치의 전극 패드부에 구동 회로를 실장하는 과정을 거쳐 완성될 수 있다.
평판 표시장치의 화질 검사는 분리된 평판 표시장치 각각에 대해 따로 수행될 수 있는데, 이 경우 대량 생산된 평판 표시장치의 검사에 많은 시간이 소요되는 단점이 있다. 따라서 모기판 상태에서 복수의 평판 표시장치를 동시에 검사하는 방법이 적용되고 있다. 이를 위해 모기판에는 각 평판 표시장치의 구동 전극들과 전기적으로 연결되는 검사용 전극들이 마련되고, 검사용 전극들이 모기판의 가장자리 로 인출되어 전극 패드부를 구성한다.
전극 패드부는 검사설비의 컨택 핀에 연결되어 구동 전압을 인가받으며, 모기판에 마련된 복수의 평판 표시장치를 동시에 구동시켜 화질 검사를 진행하게 된다. 이 과정에서 특정 평판 표시장치에 불량이 발생하면, 작업자는 불량으로 판정된 평판 표시장치의 위치와 불량 종류를 컴퓨터에 입력하여 불량이 발생한 평판 표시장치를 선별한다.
불량 신호를 입력하는 방법 가운데 하나는, 작업자가 불량으로 판정된 평판 표시장치를 손으로 터치하면, 검사설비에 부착된 센서가 터치 위치를 감지하여 불량이 발생한 평판 표시장치의 위치 신호를 생성하고 이를 컴퓨터에 전달하는 것이다. 그 후 작업자는 모니터가 설치된 곳으로 이동하여 모니터를 확인하면서 키패드를 이용하여 불량 종류를 입력하게 된다.
그런데 전술한 입력 방식에서는 작업자가 평판 표시장치의 앞면을 눌러 터치하기 때문에 이때 가해지는 압력에 의해 또 다른 불량이 발생할 가능성이 있다. 그리고 작업자가 모기판이 설치된 검사설비로부터 이탈하여 모니터와 키패드가 설치된 곳에서 불량 종류를 입력하므로, 입력 오류가 발생할 가능성을 배제할 수 없다.
본 발명은 작업자가 평판 표시장치를 터치하지 않고도 불량이 발생한 평판 표시장치의 위치 신호를 생성하여 터치에 따른 불량 발생 요인을 제거하고, 작업자가 모기판 앞에서 불량 종류를 입력할 수 있도록 하여 입력 오류의 가능성을 최소 화한 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치는, 복수의 평판 표시장치가 형성된 모기판의 전방에서 모기판과 거리를 두고 위치하며 불량의 종류가 표기된 복수의 라벨 및 적어도 하나의 선택 버튼을 구비하여 불량 선택 신호를 생성하는 입력부와, 모기판의 수평축과 나란하게 위치하여 입력부의 수평 이동을 가이드하는 제1 가이드 레일 및 모기판의 수직축과 나란하게 위치하여 입력부의 수직 이동을 가이드하는 제2 가이드 레일을 구비하는 가이드부와, 입력부의 위치를 감지하여 위치 신호를 생성하는 위치 감지부와, 입력부로부터 불량 선택 신호를 전송받고 위치 감지부로부터 위치 신호를 전송받아 모기판의 불량 정보를 맵핑하는 제어부를 포함한다.
입력부는 복수의 라벨이 부착된 회전 다이얼과, 회전 다이얼의 중심에 위치하는 지시 포인트 및 하나의 선택 버튼을 포함할 수 있다. 다른 한편으로, 입력부는 복수의 라벨마다 제공되는 복수의 선택 버튼을 포함할 수 있다.
제1 가이드 레일은 한 쌍으로 구비되어 모기판의 상측 가장자리 전방과 하측 가장자리 전방에 위치할 수 있으며, 제2 가이드 레일은 수평 이동부재에 의해 양단이 제1 가이드 레일에 결합될 수 있다. 제2 가이드 레일에는 입력부가 고정된 수직 이동부재가 설치되어 입력부를 수직 이동시킬 수 있다. 제1 가이드 레일의 양 끝단에는 스토퍼가 설치되어 제2 가이드 레일의 이탈을 방지할 수 있다.
위치 감지부는, 제1 가이드 레일에 설치되어 입력부의 수평 위치를 감지하는 제1 센서와, 제2 가이드 레일에 설치되어 입력부의 수직 위치를 감지하는 제2 센서를 포함할 수 있다. 위치 감지부는 입력부가 불량 선택 신호를 제어부에 전송하는 시점에 작동하여 입력부의 위치 신호를 생성할 수 있다.
입력부 주위에는 제어부로부터 전송받은 정보를 표시하는 표시부가 설치될 수 있다. 표시부는 수직 이동부재와 입력부 사이에 위치할 수 있다.
본 발명에 의한 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치에서는 가이드부와 입력부 구조에 의해 작업자가 평판 표시장치를 터치하지 않고도 불량이 발생한 평판 표시장치의 위치 신호를 생성할 수 있으므로, 터치에 따른 불량 발생 요인을 원천적으로 제거할 수 있다.
또한, 작업자가 불량으로 판정된 평판 표시장치 위에 입력부를 놓고 입력부를 조작하여 불량 종류를 입력할 수 있으며, 입력 결과를 입력부 주위에 설치된 표시부를 통해 바로 확인할 수 있으므로 작업자의 입력 오류를 최소화할 수 있다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치를 나타낸 사시도이다.
도 1을 참고하면, 검사설비는 복수의 평판 표시장치(10)를 구비하는 모기판(12)을 제공받아 복수의 평판 표시장치(10)를 동시에 구동시킴으로써 이의 화질 특성을 검사한다. 본 실시예의 입력장치(40)는 검사설비에 고정된 모기판(12)의 전면에 배치되고, 작업자의 조작으로 불량이 발생한 평판 표시장치(10)의 위치 신호와 불량의 종류를 나타내는 불량 선택 신호를 제어부(42)에 입력하는 기능을 한다.
특히 본 실시예의 입력장치(40)는 작업자가 불량이 발생한 평판 표시장치(10)를 터치하지 않고도 불량이 발생한 평판 표시장치(10)의 위치 신호를 생성할 수 있으며, 작업자가 모기판(12) 앞에서 불량이 발생한 평판 표시장치(10)를 눈으로 확인하면서 이의 불량 종류를 선택하여 입력할 수 있도록 한다.
먼저, 검사설비에 제공되는 모기판(12) 및 이 모기판(12)을 이용하여 제작되는 평판 표시장치(10)에 대해 설명하면 다음과 같다.
도 2는 도 1에 도시한 모기판의 사시도이다.
도 2를 참고하면, 모기판(12)은 제1 기판(14)과, 제1 기판(14)보다 작은 크기로 형성되며 밀봉 부재(16)에 의해 제1 기판(14)에 접합되는 제2 기판(18)으로 구성된다. 밀봉 부재(16)는 각각의 평판 표시장치(10)마다 서로간 거리를 두고 위치하며, 제1 기판(14) 및 제2 기판(18)과 함께 소정의 내부 공간을 형성한다.
각 평판 표시장치(10)마다 제1 기판(14)과 제2 기판(18) 중 적어도 한 기판에는 복수의 구동 전극과, 구동 전극에 의해 발광 세기가 제어되는 복수의 발광층이 위치한다.
제1 기판(14)은 적어도 두 가장자리가 제2 기판(18)의 외측으로 연장되어 그 위에 전극 패드부(20)를 형성한다. 전극 패드부(20)는 검사용 전극들의 패드부로서, 검사용 전극들은 각 평판 표시장치(10)의 구동 전극들과 전기적으로 연결되며, 각 평판 표시장치(10) 사이에 위치하여 모기판(12) 절단 후에는 평판 표시장치(10)에 잔류하지 않는다.
도 2에서는 일례로 제1 기판(14)의 세 가장자리가 제2 기판(18)의 외측으로 연장되어 그 위에 전극 패드부(20)가 형성된 경우를 도시하였으나, 모기판(12)의 형상은 도시한 예에 한정되지 않는다. 모기판(12)은 복수의 평판 표시장치(10)에 대해 화면 검사와 에이징 검사 등을 마친 후 밀봉 부재(16) 사이가 절단되어 개별 평판 표시장치(10)로 분리된다.
도 3은 도 2에 도시한 모기판을 이용한 평판 표시장치를 나타낸 사시도이고, 도 4는 도 3의 부분 확대 단면도이다. 도 3과 도 4에서는 평판 표시장치의 일례로 유기발광 표시장치를 나타내었다.
도 3과 도 4를 참고하면, 유기발광 표시장치(22)는 밀봉 부재(16')에 의해 접합되는 제1 기판(14')과 제2 기판(18')을 포함한다. 밀봉 부재(16') 내측에는 실제 화상 표시가 이루어지는 표시 영역(A100)이 위치하고, 밀봉 부재(16')의 외측으로 제1 기판(14')이 노출된 부분이 패드 영역(A110)을 형성한다. 제2 기판(18')은 내부에 흡습재(도시하지 않음)를 내장하고 있다.
제1 기판(14')의 표시 영역(A100)에는 복수의 부화소(sub-pixel)(24)가 매트릭스 형태로 배치되고, 표시 영역(A100)과 밀봉 부재(16') 사이 또는 밀봉 부재(16')의 외측에 부화소들(24)을 구동하기 위한 스캔 드라이버(도시하지 않음)와 데이터 드라이버(도시하지 않음)가 위치한다. 제1 기판(14')의 패드 영역(A110)에는 스캔 드라이버와 데이터 드라이버로 전기 신호를 전달하기 위한 패드 전극들(26)이 위치한다.
각각의 부화소(24)는 발광 소자(L1)와 구동 회로부로 이루어진다. 발광 소자(L1)는 애노드 전극(28)과 유기 발광층(30) 및 캐소드 전극(32)을 포함하며, 구동 회로부는 적어도 2개의 박막 트랜지스터와 적어도 하나의 저장 캐패시터(Cst)를 포함한다. 박막 트랜지스터는 기본적으로 스위칭용 제1 박막 트랜지스터(이하, '제1 TFT'라 한다)(T1)와 구동용 제2 박막 트랜지스터(이하, '제2 TFT'라 한다)(T2)를 포함한다.
제1 TFT(T1)는 스캔 라인(SL1)과 데이터 라인(DL1)에 연결되며, 스캔 라인(SL1)에 입력되는 스위칭 전압에 따라 데이터 라인(DL1)에 입력되는 데이터 전압을 제2 TFT(T2)로 전송한다. 저장 캐패시터(Cst)는 제1 TFT(T1)와 전원 라인(VDD)에 연결되며, 제1 TFT(T1)로부터 전송받은 전압과 전원 라인(VDD)에 공급되는 전압의 차이에 해당하는 전압을 저장한다.
제2 TFT(T2)는 전원 라인(VDD)과 저장 캐패시터(Cst)에 연결되어 저장 캐패시터(Cst)에 저장된 전압과 문턱 전압의 차이의 제곱에 비례하는 출력 전류를 발광 소자(L1)로 공급하고, 발광 소자(L1)는 출력 전류에 의해 발광한다. 제2 TFT(T2)는 소스 전극(34)과 드레인 전극(36) 및 게이트 전극(38)을 포함하며, 발광 소자(L1)의 애노드 전극(28)이 제2 TFT(T2)의 드레인 전극(36)에 연결될 수 있다. 부화소(24)의 구성은 전술한 예에 한정되지 않고 다양하게 변형 가능하다.
상기에서는 평판 표시장치의 일례로 유기발광 표시장치(22)를 설명하였으나, 본 실시예의 입력장치(40)가 사용되는 검사설비는 유기발광 표시장치(22) 이외의 다른 평판 표시장치, 일례로 액정 표시장치나 플라즈마 디스플레이 패널의 검사에 유효하게 적용될 수 있다.
다시 도 1을 참고하면, 본 실시예의 입력장치(40)는 모기판(12)의 전면에서 모기판(12)과 거리를 두고 위치하며 불량 선택 신호를 발생하는 입력부(44)와, 입력부(44)를 고정시키며 입력부(44)를 모기판(12)의 수평축(도면에 표기된 x축) 및 수직축(도면에 표기된 y축) 방향을 따라 이동시키는 가이드부(46)와, 입력부(44)의 위치를 감지하여 위치 신호를 생성하는 위치 감지부(48)와, 입력부(44)로부터 불량 선택 신호를 전송받고 위치 감지부(48)로부터 위치 신호를 전송받아 모기판(12)의 불량 정보를 맵핑하는 제어부(42)와, 입력부(44) 주위에 설치되어 제어부(42)가 전송한 정보를 표시하는 표시부(50)를 포함한다.
도 5는 도 1에 도시한 입력부의 확대 평면도이다.
도 5를 참고하면, 입력부(44)는 불량의 종류가 표기된 복수의 라벨(441)과, 복수의 라벨(441) 중 특정 라벨(441)을 지시하기 위한 지시 포인트(442)와, 지시 포인트(442)가 가르키는 라벨(441)의 불량에 대응하는 불량 선택 신호를 발생하는 선택 버튼(443)을 포함한다.
복수의 라벨(441)은 회전 다이얼(444)의 가장자리를 따라 배치될 수 있으며, 선택 버튼(443)과 지시 포인트(442)는 회전 다이얼(444)의 중앙에 고정될 수 있다. 따라서 작업자는 회전 다이얼(444)을 돌려 지시 포인트(442)가 본인이 의도한 불량 이 표기된 라벨(441)을 가르키도록 할 수 있다.
도 6은 도 1에 도시한 입력부의 다른 실시예를 나타낸 평면도이다.
도 6을 참고하면, 입력부(44')는 불량의 종류가 표기된 복수의 라벨(441)과, 각 라벨(441)마다 구비되는 복수의 선택 버튼(445)을 포함한다. 이 경우 작업자는 본인이 의도한 불량이 표시된 라벨(441)에 대응하는 선택 버튼(445)을 눌러 불량 선택 신호를 발생하도록 할 수 있다.
입력부(44, 44')의 구성은 전술한 두가지 예에 한정되지 않으며, 작업자가 여러가지 불량 종류 가운데 하나를 선택하여 이의 불량 선택 신호를 생성할 수 있는 구성이면 다양하게 적용 가능하다.
다시 도 1을 참고하면, 가이드부(46)는 모기판(12)의 상측 가장자리 전방과 하측 가장자리 전방에서 모기판(12)의 수평축과 나란하게 위치하는 한 쌍의 제1 가이드 레일(461)과, 모기판(12)의 수직축과 나란하게 위치하며 양단이 제1 가이드 레일(461)에 고정되는 제2 가이드 레일(462)을 포함한다.
제2 가이드 레일(462)은 한 쌍의 수평 이동부재(463)에 의해 양단이 제1 가이드 레일(461)에 설치되어 제2 가이드 레일(462) 자체가 모기판(12)의 수평축 방향을 따라 이동한다. 그리고 제2 가이드 레일(462)에는 전술한 입력부(44)가 고정된 수직 이동부재(464)가 설치되어 입력부(44)와 수직 이동부재(464)가 모기판(12)의 수직축 방향을 따라 이동한다.
제1 가이드 레일(461)에는 도시하지 않은 랙(rack)이 설치되고, 수평 이동부재(463)의 내부에는 도시하지 않은 피니언(pinion)이 설치되어 랙과 피니언의 결합 으로 수평 이동부재(463)가 제1 가이드 레일(461)을 따라 이동할 수 있다. 제2 가이드 레일(462)에도 도시하지 않은 랙이 설치되고, 수직 이동부재(464)의 내부에도 도시하지 않은 피니언이 설치되어 랙과 피니언의 결합으로 수직 이동부재(464)가 제2 가이드 레일(462)을 따라 이동할 수 있다.
제1 가이드 레일(461)과 수평 이동부재(463)의 결합 구조 및 제2 가이드 레일(462)과 수직 이동부재(464)의 결합 구조는 전술한 예에 한정되지 않으며, 다양하게 변형 가능하다. 또한, 제1 가이드 레일(461)의 양 끝단에는 스토퍼(465)가 설치되어 제2 가이드 레일(462)이 제1 가이드 레일(461)로부터 이탈하지 않도록 할 수 있다.
이와 같이 입력부(44)는 제2 가이드 레일(462)의 수평 이동과 수직 이동부재(464)의 수직 이동에 의해 그 위치를 자유롭게 설정할 수 있으며, 작업자의 의도에 따라 모기판(12)에 구비된 복수의 평판 표시장치(10) 중 특정 평판 표시장치(10)의 상부로 용이하게 이동할 수 있다.
입력부(44)의 위치를 감지하는 위치 감지부(48)는 가이드부(46)에 설치될 수 있다. 일례로, 위치 감지부(48)는 제1 가이드 레일(461)에 설치되어 제2 가이드 레일(462)의 수평 위치를 감지하는 제1 센서(481)와, 제2 가이드 레일(462)에 설치되어 입력부(44)의 수직 위치를 감지하는 제2 센서(482)로 구성될 수 있다. 위치 감지부(48)의 구조는 전술한 예에 한정되지 않고 다양하게 변형 가능하다.
표시부(50)는 제어부(42)가 전송한 정보를 표시하는 기능을 한다. 이러한 표시부(50)는 입력부(44)를 조작하는 작업자에게 쉽게 정보를 제공할 수 있도록 입력 부(44) 주위에 설치되는 것이 바람직하다. 예를 들어, 표시부(50)는 수직 이동부재(464)와 입력부(44) 사이에 배치될 수 있으며, 입력부(44) 및 수직 이동부재(464)와 함께 모기판(12)의 수평축 및 수직축 방향을 따라 이동한다.
도 7과 도 8은 입력장치의 사용 과정을 설명하기 위해 도시한 입력장치의 평면도이다.
도 7과 도 8을 참고하면, 복수의 평판 표시장치(10)가 형성된 모기판(12)을 검사설비(52)에 장착하고, 모기판(12)에 구비된 전극 패드부(20, 도 2 참조)로 구동 전압을 인가한다. 이로써 복수의 평판 표시장치(10)를 동시에 구동시켜 화질 특성을 검사한다.
이 과정에서 특정 평판 표시장치(10)가 불량으로 판정되면, 작업자는 입력부(44)를 이동시켜 불량으로 판정된 평판 표시장치(10) 상부에 입력부(44)를 위치시킨다. 도 7과 도 8에서 빗금이 추가된 평판 표시장치가 불량으로 판정된 평판 표시장치를 나타낸다.
그리고 작업자는 입력부(44)를 조작하여 불량이 발생한 평판 표시장치(10)에 대해 이의 불량 종류를 선택하여 입력한다. 입력부(44)가 구비하는 복수의 라벨(441, 도 5 및 도 6 참조)에는 명점 불량, 암점 불량, 면 불량, 선 불량, 얼룩 불량, 구동 불량, 증착 마스크 불량 등 다양한 종류의 불량이 기재될 수 있다.
입력부(44)가 도 5에 도시한 구성인 경우, 작업자는 회전 다이얼(444)을 돌려 특정 라벨(441)이 지시 포인트(442) 끝단에 위치하도록 맞춘 다음 선택 버튼(443)을 눌러 불량 종류를 입력한다. 다른 한편으로, 입력부(44')가 도 6에 도시 한 구성인 경우, 작업자는 특정 라벨(441)에 해당하는 선택 버튼(445)을 눌러 불량 종류를 입력한다.
이와 같이 입력부(44, 44')는 작업자 조작에 의해 불량 선택 신호를 발생하여 이를 제어부(42)에 전송한다. 이때 불량 선택 신호가 발생하는 시점에서 제1 센서(481)와 제2 센서(482)가 동작하여 입력부(44)의 수평축 상의 위치와 수직축 상의 위치를 감지함으로써 입력부(44)의 위치 신호를 생성한다. 입력부(44)의 위치 신호는 곧 모기판(12) 상에서 불량이 발생한 평판 표시장치(10)의 위치 신호를 의미하며, 불량 선택 신호와 함께 제어부(42)에 전송된다.
그러면 제어부(42)는 위치 신호와 불량 선택 신호를 데이터 베이스에 입력하고, 설정된 맵핑 프로그램에 따라 불량의 등급을 구분하여 모기판(12)의 불량 정보를 맵핑하는 작업을 수행한다. 그리고 불량 규정에 따른 등급 구분 결과를 표시부(50)에 전송하여 표시부(50)가 이 내용을 표시하도록 한다.
이와 같이 본 실시예의 입력장치(40)는 전술한 가이드부(46)와 입력부(44) 구조에 의해 작업자가 평판 표시장치(10)를 터치하지 않고도 불량이 발생한 평판 표시장치(10)의 위치 신호를 생성할 수 있으므로, 터치에 따른 불량 발생 요인을 원천적으로 제거할 수 있다.
또한, 작업자가 불량으로 판정된 평판 표시장치(10) 위에 입력부(44)를 놓고 입력부(44)를 조작하여 불량 종류를 입력할 수 있으며, 입력 결과를 입력부(44) 주위에 설치된 표시부(50)를 통해 바로 확인할 수 있기 때문에, 작업자의 입력 오류를 최소화할 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대0하여 설명하였지만, 본 발명은 이에 한정되는 것이 아니고 특허청구범위와 발명의 상세한 설명 및 첨부한 도면의 범위 안에서 여러 가지로 변형하여 실시하는 것이 가능하고 이 또한 본 발명의 범위에 속하는 것은 당연하다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 도 1에 도시한 모기판의 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시한 모기판을 이용한 평판 표시장치를 나타낸 사시도이다.
도 4는 도 3의 부분 확대 단면도이다.
도 5는 도 1에 도시한 입력부의 확대 평면도이다.
도 6은 도 1에 도시한 입력부의 다른 실시예를 나타낸 평면도이다.
도 7과 도 8은 입력장치의 사용 과정을 설명하기 위해 도시한 입력장치의 평면도이다.

Claims (10)

  1. 복수의 평판 표시장치가 형성된 모기판의 전방에서 상기 모기판과 거리를 두고 위치하며, 불량의 종류가 표기된 복수의 라벨 및 적어도 하나의 선택 버튼을 구비하여 불량 선택 신호를 생성하는 입력부;
    상기 모기판의 수평축과 나란하게 위치하여 상기 입력부의 수평 이동을 가이드하는 제1 가이드 레일 및 상기 모기판의 수직축과 나란하게 위치하여 상기 입력부의 수직 이동을 가이드하는 제2 가이드 레일을 포함하는 가이드부;
    상기 입력부의 위치를 감지하여 위치 신호를 생성하는 위치 감지부; 및
    상기 입력부로부터 불량 선택 신호를 전송받고 상기 위치 감지부로부터 위치 신호를 전송받아 상기 모기판의 불량 정보를 맵핑하는 제어부
    를 포함하고,
    상기 입력부 주위에 설치되며 상기 제어부로부터 전송받은 정보를 표시하는 표시부를 포함하는, 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 입력부가 상기 복수의 라벨이 부착된 회전 다이얼, 상기 회전 다이얼의 중심에 위치하는 지시 포인트, 및 하나의 선택 버튼을 포함하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 입력부가 상기 복수의 라벨마다 제공되는 복수의 선택 버튼을 포함하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 가이드 레일이 한 쌍으로 구비되어 상기 모기판의 상측 가장자리 전방과 하측 가장자리 전방에 위치하며, 상기 제2 가이드 레일이 수평 이동부재에 의해 양단이 상기 제1 가이드 레일에 결합되는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제2 가이드 레일에 상기 입력부가 고정된 수직 이동부재가 설치되어 상기 입력부를 수직 이동시키는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 제1 가이드 레일의 양 끝단에 스토퍼가 설치되어 상기 제2 가이드 레일의 이탈을 방지하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 위치 감지부가, 상기 제1 가이드 레일에 설치되어 상기 입력부의 수평 위치를 감지하는 제1 센서 및 상기 제2 가이드 레일에 설치되어 상기 입력부의 수직 위치를 감지하는 제2 센서를 포함하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  8. 삭제
  9. 제5항에 있어서,
    상기 수직 이동부재와 상기 입력부 사이에 설치되며, 상기 제어부로부터 전송받은 정보를 표시하는 표시부를 더욱 포함하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 위치 감지부는 상기 입력부가 불량 선택 신호를 상기 제어부에 전송하는 시점에 작동하여 상기 입력부의 위치 신호를 생성하는 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치.
KR1020080003937A 2008-01-14 2008-01-14 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치 KR100913181B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080003937A KR100913181B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치
US12/314,925 US8151657B2 (en) 2008-01-14 2008-12-18 Input device of inspection system for flat panel display

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080003937A KR100913181B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090078132A KR20090078132A (ko) 2009-07-17
KR100913181B1 true KR100913181B1 (ko) 2009-08-20

Family

ID=40849520

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080003937A KR100913181B1 (ko) 2008-01-14 2008-01-14 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8151657B2 (ko)
KR (1) KR100913181B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101168316B1 (ko) * 2009-12-01 2012-07-25 삼성전자주식회사 발광다이오드 검사 장치
CN109493777A (zh) * 2018-12-28 2019-03-19 苏州佳世达电通有限公司 带屏幕感测装置的显示器

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050070781A (ko) * 2003-12-30 2005-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 기판 검사장치 및 검사방법
KR20060060785A (ko) * 2004-11-30 2006-06-05 삼성전자주식회사 검사 시스템 및 이의 제어 방법
KR100766946B1 (ko) 2006-07-14 2007-10-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광셀의 검사장치 및 그 방법
KR20080001960A (ko) * 2006-06-30 2008-01-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 비전 오토 프로브 및 그를 이용한 액정패널 검사 방법

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5237598A (en) * 1992-04-24 1993-08-17 Albert Richard D Multiple image scanning X-ray method and apparatus
US5967892A (en) * 1997-06-04 1999-10-19 Shoemaker, Jr.; Stephen P. Video crane game
US20050097773A1 (en) * 2003-11-07 2005-05-12 Maytag Corporation Method and apparatus for appliance display
US7391510B2 (en) * 2006-01-26 2008-06-24 Orbotech Ltd System and method for inspecting patterned devices having microscopic conductors

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050070781A (ko) * 2003-12-30 2005-07-07 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치용 기판 검사장치 및 검사방법
KR20060060785A (ko) * 2004-11-30 2006-06-05 삼성전자주식회사 검사 시스템 및 이의 제어 방법
KR20080001960A (ko) * 2006-06-30 2008-01-04 엘지.필립스 엘시디 주식회사 비전 오토 프로브 및 그를 이용한 액정패널 검사 방법
KR100766946B1 (ko) 2006-07-14 2007-10-17 삼성에스디아이 주식회사 유기 발광셀의 검사장치 및 그 방법

Also Published As

Publication number Publication date
US20090178498A1 (en) 2009-07-16
US8151657B2 (en) 2012-04-10
KR20090078132A (ko) 2009-07-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5432461A (en) Method of testing active matrix liquid crystal display substrates
KR102573208B1 (ko) 표시패널
JP5106166B2 (ja) フラットパネルディスプレイの検査方法及び検査装置
KR102058611B1 (ko) 검사 장치와, 이를 이용한 배선 및 원장 검사 방법
KR100491560B1 (ko) 액정표시소자의 검사방법 및 장치
JP2008102335A (ja) アクティブマトリクス基板及び電気光学装置並びに検査方法及び電気光学装置の製造方法
US8508111B1 (en) Display panel and method for inspecting thereof
KR20230010182A (ko) 표시 장치
KR20070109533A (ko) 터치 스크린 패널의 검사 장치 및 검사 방법
KR101741820B1 (ko) 터치방식 영상 표시장치 및 그 제조 방법
KR20140056659A (ko) 터치타입 액정표시장치 및 이의 검사방법
JP5352066B2 (ja) 電子回路基板の製造装置
KR100913181B1 (ko) 평판 표시장치용 검사설비의 입력장치
JP2010145772A (ja) 表示装置および電子機器
KR101243793B1 (ko) 평판 표시장치 및 그의 검사방법
TWI238259B (en) Method of inspecting array substrate
KR100942503B1 (ko) 표시장치의 검사 장치 및 이를 이용한 검사 방법
JPWO2005085938A1 (ja) 基板の検査方法、アレイ基板の検査方法、及びアレイ基板の検査装置
KR20180087910A (ko) 표시 패널 검사 장치
TWI240083B (en) Method of inspecting array substrate and array substrate inspecting apparatus
JP6370057B2 (ja) アレイ基板およびアレイ基板の検査方法
KR101564984B1 (ko) 유기전계 발광소자용 기판
KR102016076B1 (ko) 평판 표시 소자의 검사 장치 및 검사 방법
KR20070117358A (ko) 터치 패널 표시장치용 검사장치
KR20060014437A (ko) 어레이 기판 및 어레이 기판의 검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120730

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20130731

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160801

Year of fee payment: 8

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180802

Year of fee payment: 10