KR100907908B1 - Silicon Monocrystalline Ingot Production Equipment - Google Patents
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Abstract
본 발명은 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 쵸크랄스키(CZ) 방법에 의하여 도가니 안에서 용융된 실리콘 융액으로부터 실리콘 단결정 잉곳을 성장시키는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 관한 것이다. 본 발명에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치는 내부에 형성된 수용부 및 일측에 관통 형성된 관통공을 가지는 반응챔버와, 수용부에 설치되는 도가니와, 도가니를 감싸도록 배치되어 도가니를 가열하는 히터와, 중공의 형상으로 이루어지며 관통공에 탈착 가능하도록 끼워지며 수용부의 기체가 반응챔버의 외부로 배출되는 가스배출튜브를 포함하는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 있어서, 가스배출튜브는 복수 개 구비되며, 각 가스배출튜브는 관통공의 중심축 방향으로의 길이가 히터의 하단과 반응챔버의 바닥면 사이의 거리보다 짧게 형성된다.The present invention relates to a silicon single crystal ingot production apparatus, and more particularly, to a silicon single crystal ingot production apparatus for growing a silicon single crystal ingot from a molten silicon melt in a crucible by the Czochralski (CZ) method. The silicon single crystal ingot production apparatus according to the present invention includes a reaction chamber having an accommodating part formed therein and a through hole formed in one side thereof, a crucible installed in the accommodating part, a heater disposed to surround the crucible, and a heater for heating the crucible, and hollow In the silicon single crystal ingot production apparatus comprising a gas discharge tube made of a shape of the and is detachably inserted in the through-hole and the gas of the receiving portion is discharged to the outside of the reaction chamber, a plurality of gas discharge tube is provided, each gas discharge The tube has a length in the direction of the central axis of the through hole shorter than the distance between the bottom of the heater and the bottom surface of the reaction chamber.
실리콘, 가스배출튜브, 반응챔버 Silicon, gas discharge tube, reaction chamber
Description
본 발명은 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 쵸크랄스키(CZ) 방법에 의하여 도가니 안에서 용융된 실리콘 융액으로부터 실리콘 단결정 잉곳을 성장시키는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 관한 것이다. The present invention relates to a silicon single crystal ingot production apparatus, and more particularly, to a silicon single crystal ingot production apparatus for growing a silicon single crystal ingot from a molten silicon melt in a crucible by the Czochralski (CZ) method.
일반적으로 실리콘 웨이퍼용 실리콘 단결정 잉곳을 생산하는 방법으로 쵸크랄스키 방법을 이용한다. 도 1에는 쵸크랄스키 방법을 이용하여 실리콘 단결정 잉곳을 생산하는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 일례가 도시되어 있다.In general, the Czochralski method is used to produce silicon single crystal ingots for silicon wafers. Figure 1 shows an example of a silicon single crystal ingot production apparatus for producing a silicon single crystal ingot using the Czochralski method.
도 1을 참조하면, 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(9)는 수용부 및 관통공이 형성된 반응챔버(1)와, 실리콘 융액이 저장되는 석영 도가니(2)와, 석영 도가니(2)에 저장된 실리콘 융액을 가열하는 히터(3)와, 종결정(Seed)이 연결된 케이블(4)과, 반응챔버(1)의 관통공에 끼워지는 가스배출튜브(5)를 구비한다.Referring to FIG. 1, the silicon single crystal
상기한 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(9)를 사용하여 실리콘 단결정 잉곳을 생산하는 과정을 살펴보면, 석영 도가니(2)에 초 고순도의 다결정 실리콘(Poly silicon)과 보론(Boron)을 장입한 후 히터(3)로 가열하여 용융시킨다. 이후, 융해 된 실리콘 융액 내에 종결정을 담근 후, 회전시키면서 서서히 끌어올려 실리콘 단결정 잉곳을 성장시킨다. Looking at the process of producing a silicon single crystal ingot using the silicon single crystal
상술한 과정 중, 가스공급장치(상온)에서 아르곤(Ar)이나 헬륨(He) 등과 같은 비활성 가스를 수용부로 공급함으로써, 수용부의 압력을 낮은 상태로 유지함과 동시에 잉곳 성장시 발생되는 산화물(SixOy) 등과 같은 이물질을 가스배출튜브(5)를 통해 외부로 배출한다. 이때, 산화물이 가스배출튜브(5)를 통과하는 동안 냉각됨에 따라 가스배출튜브(5)의 내면에 증착되어 가스배출튜브(5)가 막히게 되는데, 이와 같이 가스배출튜브(5)가 막히면 수용부 내에 존재하는 산화물이 원활하게 배출되지 않으므로 실리콘 단결정 잉곳이 불량하게 성장되게 된다. 따라서, 실리콘 단결정 잉곳의 성장과정이 완료된 후에는 가스배출튜브(5)를 반응챔버(1)에서 분리하여 가스배출튜브(5) 내에 증착된 산화물을 제거하여야 한다.In the above-described process, by supplying an inert gas such as argon (Ar) or helium (He) in the gas supply device (room temperature) to the receiving portion, the pressure generated during the ingot growth while maintaining the pressure of the containing portion (Si x Foreign matter such as O y ) is discharged to the outside through the gas discharge tube (5). At this time, as the oxide is cooled while passing through the gas discharge tube (5) is deposited on the inner surface of the gas discharge tube (5) to block the gas discharge tube (5). Since the oxides present therein are not smoothly discharged, the silicon single crystal ingot grows poorly. Therefore, after the growth process of the silicon single crystal ingot is completed, the
하지만, 도 1에 확대되어 도시되어 있는 바와 같이 종래의 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(9)의 경우, 가스배출튜브(5)를 반응챔버(1)에서 분리하는 과정에서 가스배출튜브(5)가 히터(3)에 걸려 분리되지 않으므로, 히터(3)를 먼저 반응챔버(1)에서 분리한 후 가스배출튜브(5)를 분리하여야 했다. 따라서, 가스배출튜브(5)에 증착된 산화물을 제거하는 데 많은 시간과 노동력이 소요되었으며, 이 과정 중에서는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(9)를 가동하지 못하므로, 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(10)의 생산효율이 저하되는 문제점이 있었다.However, in the case of the conventional silicon single crystal
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 도출된 것으로서, 본 발명의 목적은 가스배출튜브의 설치 및 분리가 용이하게 되어 생산효율이 향상되도록 구조가 개선된 실리콘 단결정 잉곳 생산장치를 제공하는 것이다.The present invention was derived to solve the above problems, an object of the present invention is to provide a silicon single crystal ingot production apparatus is improved in structure to facilitate the installation and separation of the gas discharge tube to improve the production efficiency.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치는 내부에 형성된 수용부 및 일측에 관통 형성된 관통공을 가지는 반응챔버와, 상기 수용부에 설치되는 도가니와, 상기 도가니를 감싸도록 배치되어 상기 도가니를 가열하는 히터와, 중공의 형상으로 이루어지며 상기 관통공에 탈착 가능하도록 끼워지며 상기 수용부의 기체가 상기 반응챔버의 외부로 배출되는 가스배출튜브를 포함하는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 있어서, 상기 가스배출튜브는 복수 개 구비되며, 상기 각 가스배출튜브는 상기 관통공의 중심축 방향으로의 길이가 상기 히터의 하단과 상기 반응챔버의 바닥면 사이의 거리보다 짧게 형성되는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the silicon single crystal ingot production apparatus according to the present invention is a reaction chamber having a receiving portion formed therein and through-holes formed on one side, a crucible installed in the receiving portion, and arranged to surround the crucible In the silicon single crystal ingot production apparatus comprising a heater for heating the crucible and a hollow shape and fitted into the through-hole so as to be detachable, the gas discharge tube is discharged to the outside of the reaction chamber And a plurality of gas discharge tubes, wherein each of the gas discharge tubes has a length in the direction of the central axis of the through hole shorter than a distance between the bottom of the heater and the bottom surface of the reaction chamber. .
본 발명에 따르면, 상기 복수 개의 가스배출튜브는, 상기 관통공의 중심축 방향과 직교하는 평면에서의 단면 형상이 서로 동일하게 형성되며, 동축적으로 배치되는 것이 바람직하다.According to the present invention, it is preferable that the plurality of gas discharge tubes have the same cross-sectional shape in a plane orthogonal to the direction of the central axis of the through hole, and are arranged coaxially.
또한, 본 발명에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치는 수용부 및 상기 수용부의 내부와 상기 수용부의 외부를 연통하는 관통공이 형성된 반응챔버와, 상기 수 용부에 설치되는 도가니와, 상기 도가니를 감싸도록 배치되어 상기 도가니를 가열하는 히터와, 중공의 형상으로 탈착 가능하도록 상기 관통공에 끼워지며 상기 수용부 내의 기체가 상기 수용부의 외부로 배출되는 가스배출튜브를 포함하는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 있어서, 상기 가스배출튜브는, 상기 가스배출튜브의 둘레를 따라 상기 관통공의 중심축 방향으로 구획되며 상호 분리가능한 복수 개의 튜브요소를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the silicon single crystal ingot production apparatus according to the present invention is disposed to surround the crucible and the crucible installed in the accommodating portion and the reaction chamber is formed with a through-hole communicating the inside of the accommodating portion and the outer portion of the accommodating portion. In the silicon single crystal ingot production apparatus comprising a heater for heating the crucible and a gas discharge tube fitted into the through-hole so as to be detachable in a hollow shape, the gas in the receiving portion is discharged to the outside of the receiving portion. The discharge tube is characterized in that it comprises a plurality of tube elements which are partitioned in the direction of the central axis of the through hole along the circumference of the gas discharge tube and are mutually separable.
상기한 구성의 본 발명에 따르면, 가스배출튜브가 용이하게 설치 및 분리되며, 가스배출튜브에 증착되는 이물질의 양이 감소된다. 따라서, 가스배출튜브 내부에 증착된 이물질을 제거하는데 소요되는 노동력 및 시간이 감소되며, 그 결과 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 생산효율이 향상된다.According to the present invention of the above configuration, the gas discharge tube is easily installed and separated, the amount of foreign matter deposited on the gas discharge tube is reduced. Therefore, the labor and time required to remove the foreign matter deposited inside the gas discharge tube is reduced, and as a result, the production efficiency of the silicon single crystal ingot production apparatus is improved.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치에 대하여 설명하기로 한다.Hereinafter, a silicon single crystal ingot production apparatus according to a preferred embodiment of the present invention with reference to the accompanying drawings will be described.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(100)의 개략적인 단면도이다.2 is a schematic cross-sectional view of a silicon single crystal
도 2를 참조하면, 실리콘 단결정 잉곳 생산장치(100)는 반응챔버(10)와, 도가니(20)와, 히터(30)와, 보온벽(40)과, 케이블(50)과, 가스배출튜브(60)를 구비한다.2, the silicon single crystal
반응챔버(10)는 중공 형상으로 이루어지며, 내부에는 수용부(11)가 형성되어 있다. 또한 반응챔버(10)에는 배출구(12)와 관통공(13)이 형성되어 있다. 배출구(12)는 실리콘 단결정 잉곳이 배출되는 통로이며, 반응챔버(10)의 상부에 관통 형성된다. 관통공(13)은 후술한 가스배출튜브가 끼워지는 곳이며, 반응챔버(10)의 바닥부에 관통 형성된다. The
도가니(20)는 석영으로 이루어지며, 반응챔버(10)의 수용부(11)에 회전 가능하게 설치된다. 도가니(20)에는 폴리 실리콘 및 보론이 장입된다. 도가니(20)는 후술할 히터(30)에 의해 가열되며, 도가니(20)의 가열시 폴리 실리콘이 융해되어 실리콘 융액이 된다. The
히터(30)는 중공의 원통형으로 형성된다. 히터(30)는 관통공(13)의 상측에 설치되며, 히터(30)의 내부에는 도가니(20)가 배치된다. 히터(30)는 전원 인가시 도가니(20)를 가열하여 도가니(20) 내부에 존재하는 폴리 실리콘을 융해시킨다.The
보온벽(40)은 중공의 원통형으로 형성되며, 그 내부에 히터(30)와 도가니(20)가 배치된다. 보온벽(40)은 히터(30)에서 발산되는 열이 반응챔버(10)의 내벽 쪽으로 확산되는 것을 방지하여 열효율을 향상시키며, 고온의 복사열로부터 반응챔버(10)의 내벽을 보호한다.The
케이블(50)은 반응챔버(10)의 배출구(12)를 통과하도록 설치되며, 상온 상태의 구동수단(미도시)과 연결되어 회전 및 승강가능하다. 그리고 케이블(50)의 일단에는 종결정(51)이 결합되어 있다. 종결정(51)은 도가니(20) 내의 실리콘 융액에 담긴 후, 케이블(50)과 함께 회전 및 상승하면서 실리콘 단결정 잉곳으로 성장하게 된다.The
가스배출튜브는 반응챔버(10)의 수용부(11) 내에 존재하는 기체가 반응챔버(10)의 외부로 배출되는 통로로서, 반응챔버(10)의 관통공(13)에 탈착가능하게 삽입된다. 가스배출튜브는 종래기술에서 살펴본 바와 같이, 반응챔버(10)로부터 가스배출튜브를 분리할 때 가스배출튜브가 히터(30)의 하단에 걸리게 되는 것이 방지되도록 형성되는데, 이하 첨부된 도면을 참조하여 가스배출튜브의 다양한 실시형태에 대해 설명하기로 한다.The gas discharge tube is a passage through which gas existing in the
도 3a는 제1실시예에 따른 가스배출튜브의 분리사시도이며, 도 3b는 도 3a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 반응챔버의 관통공(13)에 끼워진 상태의 부분단면도이다. 3A is an exploded perspective view of the gas discharge tube according to the first embodiment, and FIG. 3B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube shown in FIG. 3A fitted into the through
도 3a 및 도 3b를 참조하면, 제1실시예에 따른 가스배출튜브(60)는 3개 구비되며, 관통공(13)의 중심축 방향, 즉 상하방향을 따라 일렬로 배치된다. 각 가스배출튜브(60)는 중공의 원통형으로 상하방향과 수직한 평면에서의 단면이 서로 동일하게 형성된다. 각 가스배출튜브(60)의 상하방향의 길이는 반응챔버의 바닥면(14)과 히터(20) 하단 사이의 거리보다 짧게 형성된다. 3A and 3B, three
도 4a는 제2실시예에 따른 가스배출튜브 및 고정튜브의 분리사시도이며, 도 4b는 도 4a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 반응챔버의 관통공(13)에 끼워진 상태의 부분단면도이다. 4A is an exploded perspective view of the gas discharge tube and the fixed tube according to the second embodiment, and FIG. 4B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube illustrated in FIG. 4A fitted into the through
도 4a 및 도 4b를 참조하면, 제2실시예에서는 반응챔버의 관통공(13)에 고정튜브(70A)가 설치되어 있다. 고정튜브(70A)는 중공의 원통 형상으로 형성되어 관통공(13)에 끼워져 고정되며, 단열성이 우수한 소재로 이루어진다. 그리고, 제2실 시예에 따르면, 가스배출튜브(70,71,72)는 중공의 원통 형상으로 형성되며, 3개 구비된다. 3개의 가스배출튜브(70,71,72) 중 하나의 가스배출튜브(70)는 관통공(13)에 끼워져 고정튜브(70A)의 상측에 배치되며, 나머지 두 개의 가스배출튜브 즉 끼움튜브(71,72)는 고정튜브(70A)에 끼워진다. 두 개의 끼움튜브(71,72) 중 상측에 배치되는 끼움튜브(71)의 상단부에는 끼움튜브(71)의 외주면에 대하여 관통공의 직경방향으로 돌출된 플랜지부(71a)가 형성되어 있으며, 이 플랜지부(71a)는 고정튜브(70A)의 상단에 접촉된다. 4A and 4B, in the second embodiment, the
도 5a는 제3실시예에 따른 가스배출튜브의 분리사시도이며, 도 5b는 도 5a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 반응챔버의 관통공(13)에 끼워진 상태의 부분단면도이다. FIG. 5A is an exploded perspective view of the gas discharge tube according to the third embodiment, and FIG. 5B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube illustrated in FIG. 5A fitted into the through
도 5a 및 도 5b를 참조하면, 가스배출튜브(80)는 복수 개의 튜브요소(81,82)를 포함한다. 각 튜브요소(81,82)는 가스배출튜브(80)를 관통공(13)의 중심축과 평행하거나 관통공(13)의 중심축을 포함하는 평면, 즉 수평면에 대해 수직한 평면으로 분할하며 형성된다. 바람직하게는, 히터(20)를 하방향으로 평행이동시켜 반응챔버의 바닥면(14)에 배치할 때, 관통공(13)의 단면 중 히터(20)에 의해 막히지 않은 부분으로 각 튜브요소(81,82)가 통과할 수 있을 정도의 크기로 형성된다. 특히, 제3실시예에 따른 가스배출튜브(80)는 2개의 튜브요소(81,82)를 포함하며, 각 튜브요소(81,82)는 상하방향으로 길게 형성되어 수평면에서의 단면은 고리의 절반 형상으로 형성된다. 각 튜브요소(81,82)는 반응챔버의 관통공(13)에 끼워지며, 두 개의 튜브요소는 관통공(13) 내에서 서로 맞닿아 중공의 원통 형상을 형성한다. 5A and 5B, the
도 6a는 제4실시예에 따른 가스배출튜브 및 고정튜브의 분리사시도이며, 도 6b는 도 6a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 반응챔버에 끼워진 상태의 부분단면도이다. 6A is an exploded perspective view of the gas discharge tube and the fixed tube according to the fourth embodiment, and FIG. 6B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube shown in FIG. 6A fitted to the reaction chamber.
도 6a 및 도 6b를 참조하면, 제4실시예에서는 제2실시예와 동일하게 반응챔버의 관통공(13)에 고정튜브(90A)가 설치되어 있다. 고정튜브(90A)는 중공의 원통 형상으로 형성되어 관통공(13)에 끼워져 고정되며, 단열성이 우수한 소재로 이루어진다. 그리고, 제4실시예에 따른 가스배출튜브(90)는 제3실시예에 따른 가스배출튜브(80)와 마찬가지로 중공의 원통 형상으로 형성되며, 2개의 튜브요소(91,92)를 포함한다. 각 튜브요소(91,92)의 상단부에는 튜브요소(91,92)의 외주면에 대하여 관통공(30)의 원주방향으로 돌출된 플랜지부(91a,92a)가 형성되어 있다. 각 튜브요소(91,92)는 고정튜브(90A) 끼워지며, 두 개의 튜브요소(91,92)는 고정튜브(90A) 내에서 서로 맞닿아 중공의 원통 형상을 형성한다. 각 튜브요소의 플랜지부(91a,92a)는 고정튜브(90A)의 상단에 접촉된다.6A and 6B, in the fourth embodiment, the fixing
이하, 상술한 바와 같이 구성된 가스배출튜브를 반응챔버의 관통공에 삽입 및 분리하는 과정을 설명하기로 한다.Hereinafter, a process of inserting and separating the gas discharge tube configured as described above into the through hole of the reaction chamber will be described.
제1실시예에 따른 가스배출튜브(60)의 경우, 히터(20)의 하단과 반응챔버의 바닥면(14) 사이를 통해 3개의 가스배출튜브(60)를 관통공(13)에 순차적으로 삽입하면, 도 3b에 도시되어 있는 바와 같이 제일 먼저 삽입되는 가스배출튜브(60)가 반응챔버의 걸림턱(15)에 걸려 고정되고, 이 가스배출튜브(60)의 상측으로 나머지 2개의 가스배출튜브(60)가 배치된다. 한편, 관통공(13)에 삽입된 가스배출튜 브(60)를 분리하는 경우에는 도 3b에 점선으로 도시되어 있는 바와 같이 제일 상측에 배치되어 있는 가스배출튜브(60)부터 차례로 분리하면 된다.In the case of the
제2실시예에 따른 가스배출튜브(70,71,72)의 경우, 히터의 하단(20)과 반응챔버의 바닥면(14) 사이를 통해, 끼움튜브(71,72)를 고정튜브(70A)에 순차적으로 삽입하면, 도 4b에 도시되어 있는 바와 같이 플랜지부가 형성되지 않은 끼움튜브(72)가 반응챔버의 걸림턱(15)에 걸려 고정되며, 플랜지부(71a)가 형성된 끼움튜브(71)는 그 하단 및 플랜지부(71a)가 각각 플랜지부가 형성되지 않은 끼움튜브(72)의 상단 및 고정튜브(70A)의 상단에 접촉되어 고정된다. 이후, 가스배출튜브(70)를 관통공(13)에 삽입하면, 가스배출튜브(70)의 하단이 끼움튜브(71)의 플랜지부(71a)에 접촉되어 가스배출튜브(70)가 고정된다. 한편, 관통공(13)에 삽입된 가스배출튜브(70,71,72)를 분리하는 경우에는 도 4b에 점선으로 도시되어 있는 바와 같이 제일 상측에 배치되어 있는 가스배출튜브(70)부터 차례로 분리하면 된다.In the case of the
제3실시예에 따른 가스배출튜브(80)의 경우, 먼저 하나의 튜브요소(81)를 관통공(13)으로 삽입한 후 튜브요소(81)를 삽입된 위치의 반대쪽으로 이동시킨다. 이후, 나머지 튜브요소(82)를 삽입하면 도 5b에 도시되어 있는 바와 같이 가스배출튜브(80)가 설치된다. 한편, 가스배출튜브(80)를 분리하는 경우에는, 도 5b에 점선으로 도시되어 있는 바와 같이 나중에 삽입된 튜브요소(82)를 먼저 상방향으로 이동시켜 관통공(13)에서 분리하고, 이후 나머지 튜브요소(81)를 분리된 튜브요소(82)가 배치되어 있는 위치로 이동시킨 다음 상방향으로 이동시켜 분리한다. In the case of the
제4실시예에 따른 가스배출튜브(90)의 경우, 먼저 하나의 튜브요소(91)를 고 정튜브(90A)로 삽입한 후 튜브요소(91)를 삽입된 위치의 반대쪽으로 이동시킨다. 이후, 나머지 튜브요소(92)를 삽입하면 도 6b에 도시되어 있는 바와 같이 가스배출튜브(90)가 설치되며, 튜브요소(91,92)의 플랜지부(91a,92a)가 고정튜브(90A)의 상단에 지지된다. 한편, 가스배출튜브(90)를 분리하는 경우에는, 도 6b에 점선으로 도시되어 있는 바와 같이 나중에 삽입된 튜브요소(92)를 먼저 상방향으로 이동시켜 고정튜브(90A)에서 분리하고, 이후 나머지 튜브요소(91)를 분리된 튜브요소(92)가 배치되어 있는 위치로 이동시킨 다음 상방향으로 이동시켜 분리한다. In the case of the gas discharge tube 90 according to the fourth embodiment, one
상술한 바와 같이, 제1실시예 내지 제4실시예에 따른 가스배출튜브의 경우 히터를 분리하지 않고도 반응챔버의 관통공(13)에 설치 및 분리 가능하다. 따라서, 종래 기술에서 살펴본 바와 같이, 실리콘 단결정 잉곳의 성장과정 중 가스배출튜브 내부에 증착된 산화물 등을 제거하기 위하여 가스배출튜브를 관통공으로부터 분리하는데 소요되는 노동력이 절감된다. 또한, 가스배출튜브 내부에 증착된 산화물을 제거하는 동안에는 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 가동이 중단되는데, 본 실시예에 따르면 가스배출튜브를 관통공에 삽입 및 분리하는데 소요되는 시간이 단축되므로 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 생산효율이 향상된다.As described above, the gas discharge tube according to the first to fourth embodiments can be installed and separated in the through
특히, 제2실시예 및 제4실시예에 따른 가스배출튜브의 경우에는 도 4b 및 도 6b에 도시되어 있는 바와 같이 가스배출튜브와 관통공(13) 사이에는 고정튜브가 설치되어 있으며, 고정튜브가 단열성이 우수한 소재로 이루어져 있으므로 가스배출튜브와 관통공 내주면 사이의 열전달을 최소화할 수 있다. 따라서, 가스배출튜브의 온도가 종래보다 높은 상태로 유지되며, 그 결과 가스배출튜브에 증착되는 산화물 의 양이 줄어들게 되므로 가스배출튜브 내부에 증착된 산화물을 제거하는데 소요되는 시간 및 횟수가 줄어들게 된다.In particular, in the case of the gas discharge tube according to the second embodiment and the fourth embodiment, a fixed tube is installed between the gas discharge tube and the through
이상에서 본 발명의 바람직한 실시 예에 대해 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.Although the preferred embodiments of the present invention have been shown and described above, the present invention is not limited to the above-described specific preferred embodiments, and the present invention belongs to the present invention without departing from the gist of the present invention as claimed in the claims. Various modifications can be made by those skilled in the art, and such changes are within the scope of the claims.
도 1은 종래의 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a conventional silicon single crystal ingot production apparatus.
도 2는 본 발명의 제1실시예에 따른 실리콘 단결정 잉곳 생산장치의 단면도이다.2 is a cross-sectional view of the silicon single crystal ingot production apparatus according to the first embodiment of the present invention.
도 3a는 제1실시예에 따른 가스배출튜브의 분리사시도이며, 도 3b는 도 3a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 관통공에 끼워진 상태의 부분단면도이다. FIG. 3A is an exploded perspective view of the gas discharge tube according to the first embodiment, and FIG. 3B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube illustrated in FIG. 3A fitted into the through hole.
도 4a는 제2실시예에 따른 가스배출튜브 및 고정튜브의 분리사시도이며, 도 4b는 도 4a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 관통공에 끼워진 상태의 부분단면도이다. 4A is an exploded perspective view of the gas discharge tube and the fixed tube according to the second embodiment, and FIG. 4B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube shown in FIG. 4A fitted into the through hole.
도 5a는 제3실시예에 따른 가스배출튜브의 분리사시도이며, 도 5b는 도 5a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 관통공에 끼워진 상태의 부분단면도이다. FIG. 5A is an exploded perspective view of the gas discharge tube according to the third embodiment, and FIG. 5B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube illustrated in FIG. 5A fitted into the through hole.
도 6a는 제4실시예에 따른 가스배출튜브의 분리사시도이며, 도 6b는 도 6a에 도시되어 있는 가스배출튜브가 관통공에 끼워진 상태의 부분단면도이다. FIG. 6A is an exploded perspective view of the gas discharge tube according to the fourth embodiment, and FIG. 6B is a partial cross-sectional view of the gas discharge tube illustrated in FIG. 6A fitted into the through hole.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
10...반응챔버 20...도가니10
30...히터 40...보온벽30 ...
50...케이블 60,70,80,90...가스배출튜브50 ...
70A,90A...고정튜브 100...실리콘 단결정 잉곳 생산장치70A, 90A ...
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070112471A KR100907908B1 (en) | 2007-11-06 | 2007-11-06 | Silicon Monocrystalline Ingot Production Equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020070112471A KR100907908B1 (en) | 2007-11-06 | 2007-11-06 | Silicon Monocrystalline Ingot Production Equipment |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20090046369A KR20090046369A (en) | 2009-05-11 |
KR100907908B1 true KR100907908B1 (en) | 2009-07-16 |
Family
ID=40856247
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070112471A KR100907908B1 (en) | 2007-11-06 | 2007-11-06 | Silicon Monocrystalline Ingot Production Equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100907908B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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