KR100880174B1 - ITO sputtering target - Google Patents

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Abstract

실질적으로 인듐, 주석 및 산소로 부터 만들어진 ITO 스퍼터링 타겟에 있어서, 비에로존 부의 두께를 에로존 부의 두께보다도 얇게하여 에로존 부를 돌출시킴과 동시에, 상기 에로존 부를 포함하는 평면과 상기 비 에로존 부를 포함하는 평면을 둔각의 경사면으로 연결된 형상으로 하고, 상기 돌출시킨 에로존 부의 표면 거칠기(Ra)를 0.1μm 이하, 비 에로존 부 및 에로존 부와 비 에로존 부를 연결하는 경사면의 표면 거칠기 (Ra)를 1.0 μm 이상으로 한다.In an ITO sputtering target made substantially from indium, tin and oxygen, the non-erozone portion is made thinner than the thickness of the erozone portion to protrude the erozone portion, and at the same time, the plane including the erozone portion and the non-erozone The plane including the portion is formed in a shape connected to an obtuse inclined surface, and the surface roughness Ra of the protruding aerozone portion is 0.1 μm or less, and the surface roughness of the non-erozone portion and the inclined surface connecting the aerozone portion and the non-erozone portion ( Ra) is made 1.0 micrometer or more.

ITO, 스퍼터링, 타겟, 소결체, 표면 거칠기(Ra), 노듈, 황색분말, 파티클ITO, Sputtering, Target, Sintered Body, Surface Roughness (Ra), Nodule, Yellow Powder, Particle

Description

ITO 스퍼터링 타겟 {ITO sputtering target} ITO sputtering target {ITO sputtering target}             

도 1은 본 발명의 ITO 스퍼터링 타겟의 외관을 나타낸 도면이다. 1 is a view showing the appearance of the ITO sputtering target of the present invention.

도 2는 본 발명의 ITO 스퍼터링 타겟의 단면 형상의 일례를 나타낸 도면이다. It is a figure which shows an example of the cross-sectional shape of the ITO sputtering target of this invention.

도 3은 본 발명의 ITO 스퍼터링 타겟의 단면 형상의 일례를 나타낸 도면이다. It is a figure which shows an example of the cross-sectional shape of the ITO sputtering target of this invention.

도 4는 본 발명의 ITO 스퍼터링 타겟의 단면 형상의 일례를 나타낸 도면이다. It is a figure which shows an example of the cross-sectional shape of the ITO sputtering target of this invention.

도 5는 본 발명의 ITO 스퍼터링 타겟의 단면 형상의 일례를 나타낸 도면이다.
It is a figure which shows an example of the cross-sectional shape of the ITO sputtering target of this invention.

본 발명은 투명 도전성 박막 제조 시 사용되는 ITO 스파터링 타겟에 관한 것이다. The present invention relates to an ITO sputtering target used in the manufacture of a transparent conductive thin film.                         

투명 도전막인 ITO(Indium Tin Oxide) 박막의 제조 방법은, 스프레이 열분해법, CVD 법 등의 화학적 성막법과 전자빔 증착법, 스퍼터링 법 등의 물리적 성막법으로 크게 나눌 수 있다. 그 중에서도 ITO 타겟을 사용한 스퍼터링 법은, 대면적화가가 용이하고, 얻어지는 막의 저항치 및 투과율의 경시변화가 적고, 또한, 성막 조건의 컨트롤이 용이하기 때문에, 다양한 분야에 사용되고 있다. The manufacturing method of the indium tin oxide (ITO) thin film which is a transparent conductive film can be roughly divided into chemical film-forming methods, such as the spray pyrolysis method and CVD method, and physical film-forming methods, such as an electron beam vapor deposition method and sputtering method. Among them, the sputtering method using an ITO target has been used in various fields because it is easy to make a large area, there is little change over time of the resistance value and transmittance of the film obtained, and the control of the film forming conditions is easy.

특히, 스퍼터링 타겟의 배후에 자석을 배치하고, 타겟 표면에 자장을 형성시킴으로써 플라즈마를 수속(收束)시키도록 한 DC 마그네트론 스퍼터링 법은, 제막속도가 높은 특징을 가지고 있어, 양산장치로서 많이 채용되고 있다. In particular, the DC magnetron sputtering method in which a magnet is placed behind a sputtering target and a magnetic field is formed on the target surface to converge the plasma has a high film forming speed, and is widely employed as a mass production device. have.

이와같은 ITO 박막은, 고도전성, 고투과율이란 특징으로 가지며, 특히 미세가공도 용이하게 행할 수 있어, 플랫패널 디스플레이(flat panel display)용 표시전극, 태양전지용 창재, 대전 방지막 등의 광범위한 분야에 확대되어 사용되어 지고 있다. 특히, 액정표시 장치를 시작으로 한 플랫패널 디스플레이 분야에서는, 최근 대형화 및 고세정화(高細精化)가 진행되고 있어, 그 표시용 전극인 ITO 박막에 대한 저 파티클화의 요구가 높아지고 있다. Such ITO thin films are characterized by high electrical conductivity and high transmittance, and are particularly easy to perform fine processing, and are expanded to a wide range of fields such as display electrodes for flat panel displays, window materials for solar cells, and antistatic films. It is being used. In particular, in the field of flat panel displays, including liquid crystal displays, in recent years, large-scale and high-definition have progressed, and the demand for low particle size for the ITO thin film as the display electrode is increasing.

파티클의 발생 원인으로서는, 에로존(erosion) 부에 형성되는 노듈에 기인하는 것과, 타겟의 비(非)에로존 부분에 퇴적하는 황색 분말에 기인하는 것을 예로들 수 있다. Examples of the generation of particles include those caused by the nodule formed in the erosion portion and those caused by the yellow powder deposited on the non-erozone portion of the target.

노듈(nodule)이란, ITP 타겟을 아르곤 가스와 산소 가스와의 혼합가스 분위기 중에서 연속하여 스퍼터링 한 경우, 적산(積算) 스퍼터링 시간의 증가와 함께, 타겟 표면에 발생하는 흑색의 부착물이다. 인듐의 저급 산화물이라 생각되고 있는 이 흑색의 부착물은, 타겟의 에로존 부에서 석출되기 때문에, 스퍼터링 시 이상방전의 원인이 되기 쉽고, 또한 이들 자체가 이물(particle)의 발생 원인이 된다는 것이 알려져 있다. A nodule is black deposit which generate | occur | produces on a target surface with the increase of accumulated sputtering time, when the ITP target is sputtered continuously in the mixed gas atmosphere of argon gas and oxygen gas. It is known that this black deposit, which is considered to be a lower oxide of indium, is likely to cause abnormal discharge during sputtering and also cause foreign particles to themselves due to precipitation at the erosion part of the target. .

한편, 타겟 표면의 비 에로존 부에 퇴적되는 황색의 분말은, 스퍼터링 시간이 증가함에 따라 퇴적량이 증가하고, 어느정도 이상의 두께에 도달하면 타겟 표면에서 떨어져 나와, 진공`중을 떠다니다가 기판 표면에 부착하게 된다. 이 황색분말은, 에로존 부에서 방출되어 나간 타겟물질이, 대향하는 기판에 도달하기 전에, 진공 챔버 내의 가스 입자(아르곤, 산소 등)와의 충돌에 의해 방향이 변하여, 타겟 표면의 비(非) 에로존 부에 퇴적하는 것으로 생각되어지고 있다. 이러한 황색 분말이 기판에 부착하면, 액정 표시 장치 등의 표시 품위를 저하시키고, 불량의 원인이 되며, 제품의 제조율을 나쁘게 저하시킨다.On the other hand, the yellow powder deposited on the non-erozone portion of the target surface increases in the amount of deposition as the sputtering time increases, and when it reaches a certain thickness, it is separated from the target surface, floats in vacuum, and adheres to the substrate surface. Done. This yellow powder is changed in direction by collision with gas particles (argon, oxygen, etc.) in the vacuum chamber before the target material discharged from the erozone portion reaches the opposing substrate, and thus the non-target surface is released. It is thought to be deposited in the erotic zone. When such a yellow powder adheres to a substrate, display quality, such as a liquid crystal display device, is reduced, it becomes a cause of a defect, and the production rate of a product is badly reduced.

노듈에 기인하는 파티클을 저감시키는 수단으로서는, 예를들면, 특개평 05-148635호 공보에서는, 타겟의 밀도와 벌크저항율을 정범위내에서 얻음과 동시에 피(被) 스퍼터링 면의 표면 거칠기(Ra)를 0.5 μm 이하로 하는 방법이 보고되어져 있다. 그러나, 이러한 방법은 노듈에 기인하는 파티클 저감의 효과는 있었지만, 황색분말 기인의 파티클 저감에 대해서는 효과가 없었다. As a means for reducing the particles caused by the nodule, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 05-148635 obtains a target density and bulk resistivity within a certain range and at the same time the surface roughness Ra of the sputtered surface. It has been reported how to make 0.5 μm or less. However, this method had an effect of reducing particles due to nodules, but had no effect on reducing particles due to yellow powder.

한편, 황색분말 기인의 파티클을 저감시키는 수단으로서는, 예를들면, 특개소 60-193364호 공보와 같이, 타겟 표면을 거칠게 하여 황색분말의 부착강도를 높이는 방법이 보고되어져 있다. 그러나, 이와 같은 경우, 황색분말 기인의 파티클 저감의 효과는 있었어도, 노듈 기인의 파티클에 대해서는 효과가 없었다. On the other hand, as a means of reducing the particle | grains which originate in yellow powder, the method of raising the adhesion strength of a yellow powder by making a target surface rough, for example as Unexamined-Japanese-Patent No. 60-193364 is reported. However, in such a case, even if there was an effect of reducing particles due to yellow powder, there was no effect on particles due to nodule.                         

이와 같은 이유로, 노듈과 황색분말 쌍방에서 기인하는 파티클을 동시에 저감할 수 있도록 신규 ITO 타겟의 개발이 요규되어지고 있다.
For this reason, the development of a new ITO target is required to simultaneously reduce particles caused by both the nodule and the yellow powder.

본 발명의 과제는, ITO 타겟의 적산(積算) 사용 시간의 증가함에 따라 에로존 부에 발생하는 노듈에 기인하는 파티클 및 비(非) 에로존 부에 퇴적하는 황색분말에 기인하는 파티클의 발생량을 저감할 수 있는 ITO 스퍼터링 타겟을 제공하는데에 있다.
The problem of the present invention is that the amount of generation of particles due to yellow powder deposited on non-erozone parts and particles due to nodules generated in the erozone part increases with increasing the use time of the ITO target. An object of the present invention is to provide an ITO sputtering target that can be reduced.

본 발명자들은, 상기 공지 기술에 근거하여, 평행평판 형상의 타겟에 대하여 비(非) 에로존 부의 표면 거칠기를 거칠게 함과 동시에, 에로존 부의 표면 거칠기를 저하시키고, 노듈의 발생 상황 및 황색 분말의 부착력을 조사하는 실험을 실시하였다. 그러나, 재현성 양호하게 노듈 발생량을 저감시킴과 동시에 황색분말의 부착력을 증가시킬 수는 없었다. MEANS TO SOLVE THE PROBLEM The present inventors make the surface roughness of a non-erozone part rough with respect to a parallel plate-shaped target based on the said well-known technique, reduces the surface roughness of an erozone part, An experiment was conducted to investigate adhesion. However, it was not possible to reduce the amount of nodule generation with good reproducibility and to increase the adhesion of the yellow powder.

이 원인은, 이하의 이유에 나타난 바와 같다. 1) 타겟 표면의 에로존 영역을 특정하는 것은 곤란하다. 2) 동일한 설계의 캐소드(cathode)에 있어서도, 그 아래에 위치하는 자석의 미소한 자력의 차이에 의해 에로존 부가 미묘하게 다르다. 3) 에로존 부에서 약간의 폭에서도 표면 거칠기가 거친 영역을 형성하게 되면, 이 부분에 대부분의 노듈이 발생하기 때문에, 동일한 사이즈의 타겟에 있어서도, 캐소드 마다 영역을 나누어 설계하고, 표면 거칠기를 제어하는 것이 필요하므로, 이를 공업적으로 사용할 수 있는 기술은 될 수 없다. This cause is as showing in the following reasons. 1) It is difficult to specify the erozone region of the target surface. 2) Even in a cathode of the same design, the erosion part is slightly different due to the slight difference in the magnetic force of the magnet located below it. 3) If an area having a rough surface roughness is formed even at a small width in the erozone portion, most of the nodules are generated in this portion, so that even in a target of the same size, the area is designed for each cathode, and the surface roughness is controlled. Since it is necessary to do so, it cannot be a technique that can be used industrially.

그런데, 본 발명자들은 타겟의 형상과 표면 거칠기에 있어서, 상세한 검사를 행하고, 공업적으로 사용할 수 있는 방법을 이용하여, 재현성이 양호하게 노듈 발생량을 저감시킴과 동시에 황색 분말의 부착력을 증가시키는 방법에 관하여 예의검사를 행하였다. However, the inventors of the present invention conducted a detailed inspection on the shape and surface roughness of the target, using a method that can be used industrially, to reduce the amount of nodule generation with good reproducibility and to increase the adhesion of the yellow powder. A thorough examination was conducted.

그 결과, 비 에로존 부의 두께를 에로존 부의 두께 보다도 얇게 하여 에로존 부를 돌출시킴과 동시에, 상기 에로존 부를 포함하는 평면과 상기 비에로존 부를 포함하는 평면을 둔각의 경사면으로 연결된 형상의 ITO 스퍼터링 타겟에 있어서, 돌출된 에로존 부의 표면 거칠기(Ra)를 0.1 μm 이하로 함과 동시에, 비 에로존 부 및 에로존 부와 비 에로존 부를 연결하는 경사면의 표면 거칠기(Ra)를 1.0 μm 이상으로 함으로써, 노듈 및 황색분말 기인의 파티클을 저감할 수 있는 것을 발견하여 본 발명을 완성하였다. As a result, the thickness of the non-erozone portion is made thinner than the thickness of the aerozone portion to protrude the aerozone portion, and at the same time, the ITO having a shape in which the plane including the aerozone portion and the plane containing the non-erozone portion are connected by an obtuse inclined surface. In the sputtering target, the surface roughness Ra of the protruding aerozone portion is 0.1 μm or less, and the surface roughness Ra of the inclined surface connecting the non-erozone portion and the aerozone portion and the non-erozone portion is 1.0 μm or more. By doing so, it was found that the particles caused by the nodule and the yellow powder can be reduced, thereby completing the present invention.

즉, 본 발명은, 실질적으로 인듐, 주석 및 산소로 이루어진 소결체를 사용한 ITO 스퍼터링 타겟에 있어서, 비 에로존 부의 두께를 에로존 부의 두께보다도 얇게 하여, 에로존 부를 돌출시킴과 동시에, 상기 에로존 부를 포함하는 평면과 상기 비 에로존 부를 포함하는 평면을 둔각의 경사면으로 연결한 형상으로 하고, 상기 돌출된 에로존 부의 표면 거칠기(Ra)를 0.1μm 이하, 비 에로존 부 및 에로존 부와 비 에로존 부를 연결한 경사면의 표면 거칠기(Ra)를 1.0 μm 이상으로 하는 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟에 관한 것이다. That is, in the present invention, in the ITO sputtering target using a sintered body made of indium, tin, and oxygen, the thickness of the non-erozone portion is made thinner than the thickness of the erozone portion to protrude the erozone portion, The plane including the plane and the plane containing the non-erozone portion is formed by connecting the oblique angled inclined surface, and the surface roughness (Ra) of the protruding aerozone portion is 0.1μm or less, the non-erozone portion and the erozone portion and non-erosion The surface roughness Ra of the inclined surface which connected the zone part is 1.0 micrometer or more, It is related with the ITO sputtering target.

이하, 본 발명을 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail.

본 발명에 사용된 ITO 소결체는, 특히 한정된 것은 없지만, 예를 들면, 이하와 같은 방법으로 제조할 수 있다. Although the ITO sintered compact used for this invention is not specifically limited, For example, it can manufacture by the following method.

원료 분말로서는, 산화 인듐 분말과 산화 주석 분말과의 혼합 분말 또는 공침법(共沈法) 등에 의해 얻어진 ITO 분말을 사용할 수 있다. 사용하는 분말의 평균 입경이 크면 소결 후의 밀도가 충분히 상승하지 않는 경우가 있으므로, 보다 소결 밀도가 높은 소결체를 얻기 위해서는 사용하는 분말의 평균 입경은 1.5 μm 이하로 하는 것이 바람직하고, 특히 바람직하게는 0.1 - 1.5 μm 이다. As the raw material powder, a mixed powder of indium oxide powder and tin oxide powder, or an ITO powder obtained by coprecipitation method or the like can be used. If the average particle diameter of the powder to be used is large, the density after sintering may not sufficiently increase. Therefore, in order to obtain a sintered body having a higher sintered density, the average particle diameter of the powder to be used is preferably 1.5 μm or less, particularly preferably 0.1 1.5 μm.

또한, 혼합 분말 또는 ITO 분말 중의 산화 주석 함유량은, 스퍼터링 법에 의해 박막을 제조했을 때에 비저항이 저하하는 2 - 25 중량% (산화물환산)으로 하는 것이 비람직하다. In addition, it is preferable that tin oxide content in a mixed powder or ITO powder shall be 2-25 weight% (oxide conversion) in which a specific resistance falls when a thin film is manufactured by sputtering method.

원료분말로서 산화 인듐 분말 및 산화 주석 분말을 이용한 경우에는, 최초에 분말의 혼합을 행한다. 분말의 혼합은, 예를 들면, 볼 밀 등을 이용하여 습식 또는 건식 혼합을 행하면 좋다. When indium oxide powder and tin oxide powder are used as the raw material powder, the powder is mixed first. Mixing of the powder may be performed by wet or dry mixing using, for example, a ball mill.

이렇게 얻어진 분말을 프레스 법 또는 주입법 등의 성형법에 의해 성형하여 ITO 성형체를 제조한다. 프레스 성형에 의해 성형체를 제조하는 경우에는 소정 크기의 금형에 혼합 분말을 충진한 후, 프레스 기를 이용하여 100 - 500 kg/cm2의 압력으로 프레스를 행하여 성형체로 한다. 이 때, 필요한 경우에는 PVA 등의 바인더 등을 첨가하여도 좋다. The powder thus obtained is molded by a molding method such as a press method or an injection method to produce an ITO molded body. In the case of producing a molded article by press molding, after filling the mixed powder into a mold having a predetermined size, the molded article is pressed by pressing at a pressure of 100-500 kg / cm 2 using a press machine. At this time, if necessary, a binder such as PVA may be added.

한편, 주입법에 의해 성형체를 제조하는 경우에는, 원료분말을 물, 바인더 및 분산제와 함께 혼합하여 슬러리 화 하고, 이렇게 얻어진 50 - 5000 cP(센티프와즈)의 점도를 가진 슬러리를 원하는 형상의 흡수성을 가진 다공질 성형형에 주입하여 성형체를 제작한다. On the other hand, in the case of producing a molded article by injection method, the raw material powder is mixed with water, a binder, and a dispersant to make a slurry, and thus the slurry having a viscosity of 50-5000 cP (centifaz) is absorbed in a desired shape. It is injected into a porous molding mold having a molded article.

본 발명의 타겟의 외관을 도 1에, 이의 외관을 A-A 를 포함하는 평면으로 도시한 타겟에 대하여 수직으로 절단한 때의 단면 형상이 도 2에 나타나 있다. 본 발명의 타겟의 단면 형상으로서는, 도 2에 나타난 것 외에도, 도 3-5 에 나타난 것과 같이 중심부의 소결체를 제거한 환상(環狀)의 타겟트로서도 본 발명은 유효하다. 또는, 1매의 백킹 플레이트에 접합된 소결체가 1매로서 구성되어 있는 것 및 복수의 소결체를 1매의 백킹 플레이트에 접합한 다분할 타겟 모두에 대하여 유효하다.The cross-sectional shape when the external appearance of the target of this invention is cut | disconnected perpendicularly with respect to the target shown in FIG. 1 and its external appearance in the plane containing A-A is shown in FIG. As the cross-sectional shape of the target of the present invention, the present invention is also effective as an annular target in which the sintered body in the center is removed, as shown in Fig. 2. Or it is effective with respect to both the thing which the sintered compact bonded to one backing plate is comprised as one sheet, and the multidivided target which bonded several sintered compacts to one backing plate.

성형방법으로서 주입법을 사용하면 원하는 형상으로 성형체를 제작할 수 있고, 후의 가공공정을 필요로 하지 않기 때문에 바람직하다. When the injection method is used as the molding method, the molded body can be produced in a desired shape, and it is preferable because no subsequent processing step is required.

후에, 이렇게 얻어진 성형체는, 필요한 경우 냉간등방압 프레스(CIP)에 의한 처리를 행한다. 이 때, CIP 압력은 충분한 압밀 효과를 얻기 위해 1 ton/cm2 이상, 바람직하게는 2 - 5 ton/cm2 인 것이 바람직하다. After that, the molded article thus obtained is subjected to a cold isostatic press (CIP) if necessary. At this time, the CIP pressure is preferably 1 ton / cm 2 or more, preferably 2 to 5 ton / cm 2 , in order to obtain a sufficient consolidation effect.

성형을 프레스 법으로 행한 경우에서는, 여기에서 원하는 형상으로 가공한다. 소결 후에 가공하는 것도 가능하지만, 성형체의 경도는 소결체에 비하여 훨씬 낮아 용이하게 가공할 수 있으므로, 이 단계이서 가공하는 것이 바람직 하지만, 소결 후에 행하여도 차이가 없다. When shaping | molding is performed by the press method, it processes to a desired shape here. Although it is also possible to process after sintering, since the hardness of a molded object is much lower than that of a sintered compact, and can be processed easily, it is preferable to process at this stage, but there is no difference even if it is performed after sintering.                     

성형을 주입법에 의해 행한 경우에는, CIP 후의 성형체 중에 잔존하는 수분 및 바인더 등의 유기물을 제거하기 위하여, 300 - 500℃의 온도로 5-20 시간 정도의 건조 처리 및 탈(脫) 바인더 처리를 실시하는 것이 바람직하다. 또한, 성형을 프레스 법에 의해 행한 경우에도, 성형시에 바인더를 사용할 때에는, 같은 형태의 탈 바인더 처리를 행하는 것이 바람직하다. When the molding is carried out by the injection method, drying and debinding treatment are performed for about 5-20 hours at a temperature of 300 to 500 ° C. in order to remove moisture and organic substances such as binder remaining in the molded body after CIP. It is desirable to. Moreover, even when shaping | molding is performed by the press method, when using a binder at the time of shaping | molding, it is preferable to perform the binder removal process of the same form.

다음으로, 이와 같이 얻어진 성형체에 소성(燒成)을 행한다. 상승 온도에 있어서는 한정된 것은 없지만, 소결 시간의 단축과 깨짐 방지의 관점에서 10 - 400 ℃/시간으로 하는 것이 바람직하다. Next, the molded product thus obtained is fired. Although there is no limitation in raising temperature, it is preferable to set it as 10-400 degreeC / hour from a viewpoint of shortening a sintering time and preventing a crack.

소결 온도는, 1450℃ 이상 1650℃ 미만, 바람직하게는 1500 - 1600 ℃로 한다. 이렇게 함으로써, 고밀도의 소결체를 얻는 것이 가능하다.Sintering temperature is 1450 degreeC or more and less than 1650 degreeC, Preferably you may be 1500-1600 degreeC. By doing this, it is possible to obtain a high density sintered compact.

소결 시간에 있어서도 충분한 밀도 상승 효과를 얻기 위하여, 5시간 이상, 바람직하게는 5 - 30 시간으로 하는 것이 바람직하다.Also in the sintering time, in order to obtain sufficient density synergistic effect, it is preferable to set it as 5 hours or more, Preferably it is 5-30 hours.

소결 시의 분위기는, 산소 기류 중에서 하고, 소결시에 로 내에서 산소를 도입할 때의 산소류량(L/min)과 성형체 주입량(kg)의 비(주입중량/산소류량)를, 1.0 이하로 한다. 이와 같이 함으로써, 고밀도의 소결체를 얻기 쉽게 된다.  The atmosphere at the time of sintering is in oxygen airflow, and ratio (injection weight / oxygen amount) of oxygen amount (L / min) and injection amount (kg) at the time of introducing oxygen in a furnace at the time of sintering to 1.0 or less do. By doing in this way, a high density sintered compact is easy to be obtained.

소결 밀도는 높을 수록 노듈 저감효과를 얻을 수 있기 때문에, 99.0% 이상이 바람직하다. 보다 바람직하게는 99.5% 이상으로 하며, 특히 바람직하게는 99.7% 이상이다.The higher the sintered density is, the better the nodule reduction effect is, so 99.0% or more is preferable. More preferably, it is 99.5% or more, Especially preferably, it is 99.7% or more.

또한, 본 발명에서 말하는 상대밀도(D)란, In2O3 및 SnO2 의 진밀도(眞密度)의 상가평균(相加平均)으로부터 구할 수 있는 이론밀도(d)에 대한 상대치를 나타낸 다. 상가평균으로부터 구할 수 있는 이론밀도(d)란, 소결체 조성에 있어서, In2O3 및 SnO2 분말의 혼합량(g)을 각각 a, b 라고 할 때, In2O3 및 SnO2 의 진밀도 7.18, 6.95 (g/cm3) 를 사용하여, Further, the relative density (D) in the present invention is, showing the relative value of the theoretical density (d), which is available from commercial average (相加平均) the true density (眞密度) of In 2 O 3 and SnO 2 . Theoretical density (d), which can be obtained from the average of the averages, refers to the true density of In 2 O 3 and SnO 2 when the mixed amount (g) of In 2 O 3 and SnO 2 powder is a and b in the sintered body composition, respectively. Using 7.18, 6.95 (g / cm 3 ),

d = (a + b)/((a/7.18) + (b/6.95)) 에 의해 구할 수 있다. 따라서, 소결체의 측정 밀도를 d1 라고 하면, 그 상대밀도 D(%) 는 식:D=(d1/d)×100 으로 구할 수 있다. It can obtain | require by d = (a + b) / ((a / 7.18) + (b / 6.95)). Therefore, if the measured density of a sintered compact is d1, the relative density D (%) can be calculated | required by Formula: D = (d1 / d) * 100.

다음에는, ITO 소결체의 스퍼터링 면(에로존 부, 비 에로존 부 함께)에 대하여, 블라스트 처리를 행한다. 구체적인 방법으로서는, 예를 들면, 블라스트재를 포함하는 공기 등의 기체 또는 물 등의 액체를 피처리면에 분사함으로써, 블라스트재를 피처리면에 고속으로 충돌시킴으로써 행한다. Next, a blasting process is performed with respect to the sputtering surface (with an aerozone part and a non-erozone part) of an ITO sintered compact. As a specific method, it is performed by making a blast material collide with a to-be-processed surface at high speed, for example, by spraying gas, such as air containing a blast material, or liquid, such as water, to a to-be-processed surface.

블라스트재(블라스트 처리에 사용되는 분말)에는, 알루미나, 글라스, 지르코니아, SiC 등을 사용할 수 있지만, 지루코니아의 각각의 입자를 구상(球狀)으로 형성한 구상 지르코니아 분말은 블라스트 처리 되어진 타겟 표면(피처리면)이 오염되지 않아 특히 바람직하다. Alumina, glass, zirconia, SiC, etc. can be used for a blast material (powder used for a blasting process), but the spherical zirconia powder which formed each particle | grain of zirconia spherically is made into the blasted target surface ( The surface to be treated) is particularly preferable because it is not contaminated.

블라스트재의 형상은, 침상, 입상, 구상 등을 사용할 수 있고, 그 입경은 10 - 500 μm 가 바람직하며, 특히, 10 - 200 μm 가 바람직하다. As the shape of the blasting material, acicular, granular, spherical and the like can be used, and the particle diameter thereof is preferably 10-500 µm, particularly preferably 10-200 µm.

블라스트재를 타겟 표면에 충돌시키기 위하여 매체로서 사용되는 공기 등의 유체에 인가하는 압력(블라스트 압력)은, 1 - 10 kg/cm2 정도가 바람직하고, 특히, 2 - 7 kg/cm2 바람직하며, 3 - 5 kg/cm2 가 더욱 바람직하다. 이 압력이 높게되면, 타겟 표면에의 충돌이 강하게 되어, 깨짐의 원인이 될 뿐만 아니라, 대용량의 압축기(compressor)가 필요하게 되어 코스트가 높아지게 된다. The pressure (blast pressure) applied to a fluid such as air used as a medium to impinge the blast material onto the target surface is preferably about 1-10 kg / cm 2 , particularly preferably 2-7 kg / cm 2 , , 3-5 kg / cm 2 is more preferred. If this pressure is high, the collision with the target surface will become strong, and it will not only cause a crack, but also a large capacity compressor will be needed and cost will become high.

블라스트재를 분출하는 노즐과 타겟 표면의 거리는, 50 - 300 mm 정도가 바람직하다. 그 거리가 가깝운 경우는 블라스트 처리가 실시되는 유효 면적이 작게 되어 효율적이지 않다. As for the distance of the nozzle which blows out a blast material, and a target surface, about 50-300 mm is preferable. When the distance is close, the effective area to which a blasting process is performed becomes small and it is inefficient.

타겟 표면의 블라스트 처리 시간은, 블라스트 압력, 블라스트재의 종류 등에 따라서도 다르지만, 0.05 - 1.0 초/cm2 로 처리하는 것이 바람직하다. 이렇게 함으로써, ITO 소결체의 스퍼터링 면 전체의 Ra 가 1.0 μm 이상, Ry 가 8.0μm 이상으로 된다. Although the blast processing time of a target surface changes also with a blast pressure, a kind of blast material, etc., it is preferable to process at 0.05-1.0 second / cm <2> . By doing in this way, Ra of the whole sputtering surface of an ITO sintered compact becomes 1.0 micrometer or more, and Ry becomes 8.0 micrometers or more.

다음으로, 돌출시킨 에로존 부를 평면 연삭반 등을 이용하여 가공하여 표면 거칠기를 저하시킨다. 처음에, #120 정도의 지석(지석)을 사용하여, 1차 연삭을 한 후, # 400 정도의 지석을 사용하여 2차 연삭을 행하고, 다음에 # 800 정도의 지석을 사용하여 연마한다. 이렇게 함으로써, 돌출시킨 에로존 부의 Ra 를 0.1 μm 이하로 하는 것이 가능하게 된다. 이렇게 하여도 충분히 본 발명의 효과를 얻을 수 있지만, 부가적으로 번수가 가는 지석을 사용하여 가공하거나, 알루미나 제의 슬러리를 이용하여 가공하는 등 함으로써, Ry 를 1.0 μm 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다. Next, the protruding aerozone portion is processed using a planar grinding machine or the like to reduce the surface roughness. First, the first grinding is performed using the # 120 grindstone (grindstone), and then the second grinding is performed using the # 400 grindstone, and then polished using the # 800 grindstone. By doing in this way, it is possible to make Ra of the protruding erozone part into 0.1 micrometer or less. Although the effect of this invention is fully acquired even if it does in this way, it is further more preferable to make Ry into 1.0 micrometer or less by processing using the grindstone having a small number of times, or processing using the slurry made from alumina.

타겟 형상을 에로존 부를 돌출시킨 형상으로 함으로써, 마그네트의 치밀한 배치의 어긋남이나 강도에 영향받지 않고, 노듈의 발생이 억제됨과 동시에, 황색분말의 부착력이 강화된 ITO 타겟, 즉 노듈 기인 및 황색분말에 기인하는 파티클 모두의 기판 부착을 억제할 수 있는 ITO 타겟을 공업적으로 제조하는 것이 가능하게 된다.  By setting the target shape as the shape which protrudes the aerozone part, the ITO target which suppresses generation | occurrence | production of a nodule and strengthens the adhesive force of a yellow powder, without being influenced by the misalignment of the magnet's dense arrangement | positioning, and the intensity | strength of a yellow powder, It is possible to industrially produce an ITO target capable of suppressing substrate adhesion of all of the resulting particles.

또한, 본 발명에서의 Ra, 및 Ry 의 정의 및 측정 방법은, JIS B0601-1994 에 기재된 것을 따른 것이다. In addition, the definition and the measuring method of Ra and Ry in this invention are based on what was described in JIS B0601-1994.

이와 같이 얻어진, ITO 소결체를 무산소 구리 등으로 이루어진 백킹 플레이트 위에 인듐 반전 등을 이용하여 접합하여 용이하게 타겟 화 할 수 있다. The ITO sintered body thus obtained can be bonded to a backing plate made of oxygen-free copper or the like using indium inversion or the like and easily targeted.

스퍼터링을 하는 경우에는, 스퍼터링 가스로서, 아르곤 등의 불활성 기체 등에, 필요한 경우 산소 가스 등을 가하여, 통상 2 - 10 mTorr 에서 이들의 가스압을 억제하면서 행하여진다. 스퍼터링을 위한 전력인가 방식으로서는, DC, RF 또는 이들을 조합한 것이 사용가능하다. In the case of sputtering, as a sputtering gas, oxygen gas or the like is added to an inert gas such as argon or the like if necessary, and is usually performed while suppressing these gas pressures at 2-10 mTorr. As a power application method for sputtering, DC, RF, or a combination thereof can be used.

또한, 본 발명에 의한 스퍼터링 타겟은, ITO에 부가 기능을 가지도록 하기 위하여 제 3의 원소를 첨가한 타겟에 있어서도 유효하다. 제 3원소로서는, 예를들면, Mg, Al, Si, Ti, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Nb, Hf, Ta 등을 예시할 수 있다. 이러한 원소의 첨가량은, 특히 한정된 것은 아니지만, ITO 의 우수한 전기 광학적 특성을 저하시키지 않기 위해서, (제 3원소의 산화물의 총화) / (ITO + 제 3 원소의 산화물의 총화) / 100 으로서 0 % 초과, 20 % 이하(중량비)로 하는 것이 바람직하다.
In addition, the sputtering target by this invention is effective also in the target which added the 3rd element in order to have additional function to ITO. As the third element, for example, Mg, Al, Si, Ti, Zn, Ga, Ge, Y, Zr, Nb, Hf, Ta and the like can be exemplified. The amount of such elements added is not particularly limited, but in order not to lower the excellent electro-optical properties of ITO, (totalization of oxides of the third element) / (totalization of oxides of the third element) / 100 is more than 0%. It is preferable to set it as 20% or less (weight ratio).

<실시예> <Example>                     

이하, 본 발명을 실시예로서 상세히 설명하고자 하나, 본 발명은 이에 한정된 것은 아니다. Hereinafter, the present invention will be described in detail as examples, but the present invention is not limited thereto.

실시예 1 Example 1

평균 입경 1.3μm 의 산화 인듐 분말 900 g 과 평균 입경 0.7μm 의 산화 주석 분말 100 g 을 폴리에틸렌제의 통(pot)에 넣고, 건식 볼밀(ballmill)에 의해 72시간 혼합하여 혼합 분말을 제조한다. 상기 혼합 분말의 탭 밀도를 측정한 결과 2.0 g/cm3 였다. 900 g of indium oxide powder having an average particle diameter of 1.3 µm and 100 g of tin oxide powder having an average particle diameter of 0.7 µm were placed in a polyethylene pot and mixed for 72 hours by a dry ball mill to prepare a mixed powder. It was 2.0 g / cm <3> when the tap density of the said mixed powder was measured.

다음으로 상기 혼합 분말에 분산제, 바인더 및 이온교환수를 가하여 볼밀 혼합하고, 주입용 슬러리를 제작하였다. 계속하여 이 슬러리에 소포제를 가하고, 진공중에서 탈법처리를 실시하였다. Next, a dispersant, a binder, and ion-exchanged water were added to the mixed powder, followed by ball mill mixing to prepare a slurry for injection. Subsequently, an antifoaming agent was added to this slurry, and degassing treatment was performed in vacuo.

이들을 도 4에 나타난 형상을 형성할 수 있는 주형에 유입하여 주입 성형을 행하고, ITO 성형체를 얻었다. 이 성형체를 건조 후, 3 ton/cm2 의 압력으로, CIP 처리를 실시하였다. 이 후, 성형체 중에 존재하는 분산제 및 바인더를 제거하기 위하여, 상기 성형체를 대기 소성로 내에 설치하고, 이하의 조건에서 탈(脫) 왁스 처리를 실시하였다. These were flowed into the mold which can form the shape shown in FIG. 4, injection molding was performed, and the ITO molded object was obtained. After drying, this molded object was subjected to CIP treatment at a pressure of 3 ton / cm 2 . Subsequently, in order to remove the dispersing agent and binder which exist in a molded object, the said molded object was installed in the air baking furnace, and the dewaxing process was performed on condition of the following.

(탈 왁스 조건)(Dewaxing condition)

탈 왁스 온도 : 450℃, 승온속도 : 5℃/Hr, 유지시간 : 없음Dewaxing temperature: 450 ℃, Heating rate: 5 ℃ / Hr, Holding time: None

다음, 탈 왁스 후의 성형체를 순 산소 분위기 소결로 내에 설치하여, 이하 조건으로 소결하였다. Next, the molded body after dewaxing was installed in the pure oxygen atmosphere sintering furnace, and it sintered on condition of the following.                     

(소결조건)(Sintering condition)

소결온도 : 1500 ℃, 승온속도 : 25℃/Hr, 소결시간 : 10시간, 분위기 : 승온시 800℃ 에서 강(降)온시 400℃ 까지 순산소 가스를 로 내에, (주입중량/산소유량) = 0.8 로 도입하였다. Sintering temperature: 1500 ℃, Heating rate: 25 ℃ / Hr, Sintering time: 10 hours, Atmosphere: Pure oxygen gas in furnace, from 800 ℃ at elevated temperature to 400 ℃ at strong temperature, (injection weight / oxygen flow rate) = Introduced at 0.8.

얻어진 소결체 사이즈는, 101.6 ×177.8 mm 로서, 에로존 부의 두께는 8 mm, 비 에로존 부의 두께 6 mm 였다. 이 소결체의 밀도를 JIS R 1634-1998 에 근거하여 아르키메데스 법에 의해 측정하였다. 그 결과가 표 1 에 나타나 있다.The obtained sintered compact size was 101.6x177.8 mm, and the thickness of an aerozone part was 8 mm and the thickness of a non-erozone part 6 mm. The density of this sintered compact was measured by the Archimedes method based on JISR 1634-1998. The results are shown in Table 1.

다음, 이 소결체의 스퍼터 면으로 이루어진 면의 표면을 블라스트 처리하였다. 블라스트 압력은 4kg/cm2, 노즐과 타겟 표면의 거리는 150 mm, 블라스트재는 입경이 25 - 106 μm 의 범위(평균입경 53 μm)의 구상(球狀) 지르코니아 비이드를 사용하고, 블라스트 처리 시간은 80초로 하였다. 블라스트 처리 후에 타겟의 스퍼터링 면(블라스트 처리면)의 Ra 와 Ry 를 측정하였다. 그 결과가 표 1에 나타나 있다. Next, the surface of the surface which consists of the sputter surface of this sintered compact was blasted. The blast pressure is 4 kg / cm 2 , the distance between the nozzle and the target surface is 150 mm, and the blast material uses spherical zirconia beads in the range of 25 to 106 μm (average particle size: 53 μm), and the blast treatment time is It was set as 80 second. Ra and Ry of the sputtering surface (blast processing surface) of a target after blast processing were measured. The results are shown in Table 1.

다음, 평면연삭반을 사용하여 돌출된 부분의 표면 가공을 행하였다. 처음에는 #120 의 지석을 사용하고, #400, #800 으로 순차적으로 지석의 번수를 증가시켰다. 연삭 후의 돌출부의 Ra 및 Ry 를 측정하였다. 그 결과를 표 1에 나타내었다. Next, the surface processing of the part which protruded was performed using the planar grinder. Initially, the # 120 grindstone was used, and the number of grindstones was sequentially increased to # 400 and # 800. Ra and Ry of the protrusion part after grinding were measured. The results are shown in Table 1.

다음, 이 소결체를 무산소 구리로 부터 이루어진 백킹 플레이트 위에 인듐 반전(半田)을 사용하여 접합하여 ITO 타겟을 얻었다. Next, this sintered compact was bonded to a backing plate made of oxygen-free copper using indium inversion to obtain an ITO target.

이 타겟을 이하의 스퍼터링 조건으로, 타겟 라이프 엔드에 가까운 60 시간 스퍼터링 하였다. This target was sputtered for 60 hours close to the target life end under the following sputtering conditions.                     

(스퍼터링 조건)(Sputtering condition)

DC전력 : 300 W, 스퍼터 가스 : Ar + O2, 가스압 : 5mTorr, O2/Ar : 0.1 %DC power: 300 W, sputter gas: Ar + O 2 , gas pressure: 5 mTorr, O 2 / Ar: 0.1%

이후, 장치내에 Si 웨이퍼를 투입하여 다시 한번 상기조건으로 웨이퍼 위에 150 nm 의 ITO 막을 형성한 후, 웨이퍼 위에 부착한 1 μm 이상의 파티클 수를 레이져 파티클 카운터를 사용하여 측정하였다. 그 결과를 표 1에 나타내었다. 매우 적은 양의 파티클이 부착되는 것에 지나지 않았다. Thereafter, a Si wafer was introduced into the apparatus to form an ITO film of 150 nm on the wafer once again under the above conditions, and then the number of particles of 1 μm or more deposited on the wafer was measured using a laser particle counter. The results are shown in Table 1. Very little particles are attached.

사용 후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 노듈 발생량은 줄어들고, 황색분말은 타겟 표면에 견고히 부착되어 있었다. As a result of observing the target surface after use, the amount of nodule generation was reduced, and the yellow powder was firmly attached to the target surface.

(실시예 2)(Example 2)

실시예 1과 동일한 방법으로 ITO 소결체를 얻었다. 얻어진 소결체의 밀도를 측정한 결과를 표 1에 나타내었다. 이 소결체에 대하여 실시예 1과 동일한 방법으로 블라스트 처리를 행하였다. 처리면의 Ra 및 Ry 을 표 1에 나타내었다. 다음, 돌출된 에로존 부에 대하여 실시예 1과 동일한 방법으로 표면 연삭을 행한 후, 부가적으로 #1200 의 지석을 이용하여 연삭을 행하였다. 연삭 후의 Ra 및 Ry 를 표 1에 나타내었다.An ITO sintered body was obtained in the same manner as in Example 1. The result of having measured the density of the obtained sintered compact is shown in Table 1. This sintered compact was blasted in the same manner as in Example 1. Ra and Ry of the treated surface are shown in Table 1. Next, after surface-grinding was performed with respect to the protruding erozone part by the method similar to Example 1, it grind | polished further using the grindstone of # 1200. Ra and Ry after grinding are shown in Table 1.

다음으로 실시예 1과 동일한 방법으로 타겟 화 한 후, 실시예 1과 동일한 스퍼터링을 실시하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. 매우 적은 양의 파티클이 부착되는 것에 지나지 않았다.Next, after targeting in the same manner as in Example 1, the same sputtering as in Example 1. The results are shown in Table 1. Very little particles are attached.

사용 후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 노듈 발생은 적어지고, 황색분말은 타겟 표면에 견고히 부착되어 있었다. As a result of observing the target surface after use, the generation of nodules decreased, and the yellow powder was firmly attached to the target surface.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

실시예 1과 동일한 방법으로 주입용 슬러리를 제작하고, 평행평판 형의 성형체를 형성할 수 있는 주형에 유입시켜 주입 성형을 행하여 ITO 성형체를 얻었다. 이러한 후, 실시예 1과 동일한 방법으로 건조, CIP, 탈왁스, 소결을 행하여, 101.6 ×177.8 mm 로서 두께 8 mm 소결체를 얻었다. 얻어진 소결체의 밀도를 측정한 결과를 표 1에 나타내었다.Injecting slurry was produced in the same manner as in Example 1, and poured into a mold capable of forming a parallel plate-shaped molded product, followed by injection molding to obtain an ITO molded product. After this, drying, CIP, dewaxing and sintering were carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a 8 mm thick sintered body as 101.6 x 177.8 mm. The result of having measured the density of the obtained sintered compact is shown in Table 1.

이러한 소결체에 대하여 실시예 1과 동일한 방법으로 스퍼터링 면에 블라스트 처리를 행하였다. 처리면의 Ra 및 Ry 을 표 1에 나타내었다.  The sintered body was blasted on the sputtering surface in the same manner as in Example 1. Ra and Ry of the treated surface are shown in Table 1.

다음으로 실시예 1과 동일한 방법으로 타겟 화 한 후, 실시예 1과 동일한 스퍼터링을 실시하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. 많은 양의 파티클이 기판에 부착되었다. Next, after targeting in the same manner as in Example 1, the same sputtering as in Example 1. The results are shown in Table 1. A large amount of particles were attached to the substrate.

사용후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 황색분말은 타겟 표면에 견고하게 부착되어 있었지만, 다량의 노듈이 발생하였다. As a result of observing the used target surface, yellow powder was firmly attached to the target surface, but a large amount of nodule was generated.

(비교예 2)(Comparative Example 2)

실시예 1과 동일한 방법으로 주입용 슬러리를 제작하고, 평행평판 형의 성형체를 형성할 수 있는 주형에 유입시켜 주입 성형을 행하는 ITO 성형체를 얻었다. 이러한 후, 실시예 1과 동일한 방법으로 건조, CIP, 탈왁스, 소결을 행하여, 101.6 ×177.8 mm 로서 두께 8 mm 소결체를 얻었다. 얻어진 소결체의 밀도를 측정한 결과를 표 1에 나타내었다.An injection slurry was produced in the same manner as in Example 1, flowed into a mold capable of forming a parallel plate-shaped molded product, and an ITO molded product subjected to injection molding was obtained. After this, drying, CIP, dewaxing and sintering were carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a 8 mm thick sintered body as 101.6 x 177.8 mm. The result of having measured the density of the obtained sintered compact is shown in Table 1.

이러한 소결체에 대하여 평면연삭반을 사용하여 스퍼터링 면의 표면 가공을 행하였다. 처음에는 #120 의 지석을 사용하고, #400, #800 로 하여, 순차적으로 지석의 번수를 증가시켰다. 연삭 후, 돌출부의 Ra 및 Ry 의 측정 결과를 표 1에 나타내었다.  The surface processing of the sputtering surface was performed about this sintered compact using the planar grinding mill. Initially, the grindstone of # 120 was used, and the number of grindstones was sequentially increased to # 400 and # 800. After grinding, the measurement results of Ra and Ry of the protrusions are shown in Table 1.

다음으로 실시예 1과 동일한 방법으로 타겟 화 한 후, 실시예 1과 동일한 스퍼터링을 실시하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. 많은 양의 파티클이 기판에 부착되었다. Next, after targeting in the same manner as in Example 1, the same sputtering as in Example 1. The results are shown in Table 1. A large amount of particles were attached to the substrate.

사용후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 노듈의 발생량은 적어졌으나, 황색분말의 일부가 타겟 표면에서 박리되어져 있었다. As a result of observing the used target surface, the amount of nodule generation decreased, but part of the yellow powder was peeled off from the target surface.

(비교예 3)(Comparative Example 3)

실시예 1과 동일한 방법으로 주입용 슬러리를 제작하고, 평행평판 형의 성형체를 형성할 수 있는 주형에 유입시켜 주입 성형을 행하는 ITO 성형체를 얻었다. 이러한 후, 실시예 1과 동일한 방법으로 건조, CIP, 탈왁스, 소결을 행하여, 101.6 ×177.8 mm 로서 두께 8 mm 소결체를 얻었다. 얻어진 소결체의 밀도를 측정한 결과를 표 1에 나타내었다.An injection slurry was produced in the same manner as in Example 1, flowed into a mold capable of forming a parallel plate-shaped molded product, and an ITO molded product subjected to injection molding was obtained. After this, drying, CIP, dewaxing and sintering were carried out in the same manner as in Example 1 to obtain a 8 mm thick sintered body as 101.6 x 177.8 mm. The result of having measured the density of the obtained sintered compact is shown in Table 1.

이러한 소결체에 대하여, 평면연삭반을 사용하여 스퍼터링 면의 표면가공을 행하였다. 처음에는 #120 의 지석을 사용하고, #400, #800 로 하여, 순차적으로 지석의 번수를 증가시켰다. 연삭 후, 돌출부의 Ra 및 Ry 의 측정 결과를 표 1에 나타내었다.  The surface processing of the sputtering surface was performed about this sintered compact using the planar grinding mill. Initially, the grindstone of # 120 was used, and the number of grindstones was sequentially increased to # 400 and # 800. After grinding, the measurement results of Ra and Ry of the protrusions are shown in Table 1.

다음으로 비교예 2에서 사용된 스퍼터링을 마친 타겟을 원래의 에로존 영역을 판별하고, 해당 에로존 영역에 상당하는 부분에 대하여 비교예 3에서 제작 중의 소결체에 마스킹 처리를 실시하였다. 마스킹 처리된 소결체에 대하여 실시예 1과 동일한 방법으로, 스퍼터링 면의 블라스트 처리를 행하였다. 마스킹 처리 되어져 있지 않은 면의 Ra 및 Ry 를 표 1에 나타내었다. Next, the original spheroided target used in Comparative Example 2 was discriminated from the original erosion region, and the sintered compact during fabrication in Comparative Example 3 was masked for the portion corresponding to the erosion region. About the masked sintered compact, the blasting of the sputtering surface was performed by the method similar to Example 1. Table 1 shows Ra and Ry of the unmasked surface.

다음으로 실시예 1과 동일한 방법으로 타겟 화 한 후, 실시예 1과 동일한 스퍼터링을 실시하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. 많은 양의 파티클이 기판에 부착되었다. Next, after targeting in the same manner as in Example 1, the same sputtering as in Example 1. The results are shown in Table 1. A large amount of particles were attached to the substrate.

사용후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 대체로 노듈 발생량은 줄어들고, 황색분말은 타겟 표면에 부착되어 있었다. 그러나 일부, 에로존 영역에 블라스트 영역이 형성되어져, 이 부분에서 대량의 노듈이 발생하였다. 또한, 블라스트 처리되지 않은 비에로존 영역이 형성되어져 있어, 이 부분에서는 황색분말의 박리가 관찰되었다. As a result of observing the used target surface, the amount of nodule generation was generally reduced, and yellow powder was attached to the target surface. However, part of the erosion region was formed with a blast region, and a large amount of nodule was generated at this portion. In addition, a non-blasted non-erosion region was formed, and peeling of the yellow powder was observed in this portion.

(비교예 4)(Comparative Example 4)

실시예 1과 동일한 방법으로 ITO 소결체를 얻었다. 얻어진 소결체의 밀도의 측정 결과를 표 1에 나타내었다. 이 소결체에 대하여 실시예 1과 동일한 방법으로, 블라스트 처리를 행하였다. 처리 후의 Ra 및 Ry 를 표 1에 나타내었다. An ITO sintered body was obtained in the same manner as in Example 1. Table 1 shows the measurement results of the density of the obtained sintered compact. The sintered compact was blasted in the same manner as in Example 1. Ra and Ry after the treatment are shown in Table 1.

다음으로 실시예 1과 동일한 방법으로 타겟 화 한 후, 실시예 1과 동일한 스퍼터링을 실시하였다. 결과를 표 1에 나타내었다. 많은 양의 파티클이 기판에 부착되었다.  Next, after targeting in the same manner as in Example 1, the same sputtering as in Example 1. The results are shown in Table 1. A large amount of particles were attached to the substrate.

사용후의 타겟 표면을 관찰한 결과, 황색분말은 타겟 표면에 강하게 부착되어져 있었지만, 다량의 노듈이 발생하였다. As a result of observing the used target surface, yellow powder was strongly adhered to the target surface, but a large amount of nodule was generated.                     

(표1)Table 1

밀도 [%]density [%] 에로존 부Erozone Wealth 비에로존 부 및 경사부Non-erozone section and slope section 파티클 부착 수 [개]Particle Attachment [pcs] Ra [μm]Ra [μm] Ry [μm]Ry [μm] Ra [μm]Ra [μm] Ry [μm]Ry [μm] 실시예 1Example 1 99.799.7 0.070.07 1.101.10 1.401.40 10.6010.60 22 실시예 2Example 2 99.799.7 0.060.06 0.640.64 1.351.35 10.4510.45 22 비교예 1Comparative Example 1 99.799.7 1.401.40 10.6610.66 1.421.42 10.7010.70 2020 비교예 2Comparative Example 2 99.799.7 0.070.07 1.081.08 0.070.07 1.081.08 2626 비교예 3Comparative Example 3 99.799.7 0.070.07 1.091.09 1.401.40 10.5810.58 1212 비교예 4Comparative Example 4 99.799.7 1.411.41 10.7710.77 1.411.41 10.7610.76 1919

본 발명에 의해, 노듈 기인 및 황색분말에 기인하는 파티클을 모두 억제할 수 있는 ITO 스퍼터링 타겟을 공업적으로 생산하는 것이 가능하게 된다. According to the present invention, it becomes possible to industrially produce an ITO sputtering target capable of suppressing both particles caused by nodule and yellow powder.

Claims (5)

인듐, 주석 및 산소로 부터 만들어진 ITO 스퍼터링 타겟에 있어서, 비에로존 부의 두께를 에로존 부의 두께보다도 얇게하여 에로존 부를 돌출시킴과 동시에, 상기 에로존 부를 포함하는 평면과 상기 비 에로존 부를 포함하는 평면을 둔각의 경사면으로 연결된 형상으로 하고, 상기 돌출시킨 에로존 부의 표면 거칠기(Ra)를 0.1μm 이하, 비 에로존 부 및 에로존 부와 비 에로존 부를 연결하는 경사면의 표면 거칠기 (Ra)를 1.0 μm 이상으로 하는 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟.In the ITO sputtering target made from indium, tin and oxygen, the non-erozone portion is made thinner than the thickness of the erozone portion to protrude the erozone portion, and includes a plane including the erozone portion and the non-erozone portion. The surface roughness Ra of the protruding aerozone portion is 0.1 μm or less, the non-erozone portion, and the surface roughness Ra of the inclined surface connecting the aerozone portion and the non-erozone portion. ITO sputtering target, characterized in that more than 1.0 μm. 제 1항에 있어서, ITO 소결체의 상대 밀도가 99% 이상인 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟. The ITO sputtering target according to claim 1, wherein the ITO sintered body has a relative density of 99% or more. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 돌출시킨 에로존 부의 최대 높이(Ry)가 1.0μm 이하인 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟.The ITO sputtering target according to claim 1 or 2, wherein the maximum height Ry of the protruding aerozone portion is 1.0 µm or less. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 비 에로존 부와, 에로존 부와 비 에로존 부를 연결하는 경사면의 최대 높이(Ry)가 8.0μm 이상인 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟. The ITO sputtering target according to claim 1 or 2, wherein the maximum height Ry of the inclined surface connecting the non-erozone portion and the non-erozone portion is 8.0 µm or more. 제 3항에 있어서, 비 에로존 부와, 에로존 부와 비 에로존 부를 연결하는 경사면의 최대 높이(Ry)가 8.0μm 이상인 것을 특징으로 하는 ITO 스퍼터링 타겟. 4. The ITO sputtering target according to claim 3, wherein the maximum height Ry of the inclined surface connecting the non-erozone portion and the non-erozone portion is 8.0 µm or more.
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