JP2001262326A - Indium oxide-metallic thin powder mixture, ito sputtering target using the same powdery mixture as raw material and method for producing the same target - Google Patents

Indium oxide-metallic thin powder mixture, ito sputtering target using the same powdery mixture as raw material and method for producing the same target

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JP2001262326A
JP2001262326A JP2000073685A JP2000073685A JP2001262326A JP 2001262326 A JP2001262326 A JP 2001262326A JP 2000073685 A JP2000073685 A JP 2000073685A JP 2000073685 A JP2000073685 A JP 2000073685A JP 2001262326 A JP2001262326 A JP 2001262326A
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JP
Japan
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powder
indium oxide
metal tin
sputtering target
ito sputtering
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JP2000073685A
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Japanese (ja)
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Koichi Nakajima
光一 中島
Satoshi Tateno
諭 館野
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Nippon Mining Holdings Inc
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Nikko Materials Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To produce an indium oxide-metallic tin powdery mixture at a low cost, from which a sintered body of high density in which tin components are entered into solid solution in indium oxide, not present in the form of thin oxide and suitable for depositing an ITO film of high quality is obtained and to suppress nodules generated on a target and to reduce abnormal discharge and particles in the process of film deposition by sputtering by using an ITO sputtering target obtained by performing sintering using the same powder mixture. SOLUTION: This ITO sputtering target is obtained by pulverizing a powdery mixture composed of metal thin powder with the average particle size of 1 to 100 μm, and the balance indium oxide powder, thereafter performing granulation, molding the same at ordinary temperature under the pressure of 700 to 3,000 kg/cm2 and sintering this molded body at 1,500 to 1,650 deg.C in an oxygen atmosphere or in the air, and its producing method is provided.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、酸化インジウム
−金属錫混合粉末及び酸化インジウム−金属錫混合粉末
を原料とするITOスパッタリングターゲット並びに同
ターゲットの製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an indium oxide-metal tin mixed powder, an ITO sputtering target using indium oxide-metal tin mixed powder as a raw material, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】ITO(インジウム−錫の複合酸化物)
膜は液晶ディスプレーを中心とする表示デバイスの透明
電極(膜)として広く使用されている。このITO膜を
形成する方法として、真空蒸着法やスパッタリング法な
ど、一般に物理蒸着法と言われている手段によって行わ
れるのが普通である。特に、操作性や皮膜の安定性から
マグネトロンスパッタリング法を用いて形成することが
多い。
2. Description of the Related Art ITO (indium-tin composite oxide)
The film is widely used as a transparent electrode (film) of a display device mainly for a liquid crystal display. The method of forming the ITO film is generally performed by a means generally called a physical vapor deposition method such as a vacuum vapor deposition method or a sputtering method. In particular, it is often formed using a magnetron sputtering method from the viewpoint of operability and stability of the film.

【0003】スパッタリング法による膜の形成は、陰極
に設置したターゲットにArイオンなどの正イオンを物
理的に衝突させ、その衝突エネルギーでターゲットを構
成する材料を放出させて、対面している陽極側の基板に
ターゲット材料とほぼ同組成の膜を積層することによっ
て行われる。スパッタリング法による被覆法は処理時間
や供給電力等を調節することによって、安定した成膜速
度で数nmの薄い膜から数十μmの厚い膜まで形成でき
るという特徴を有している。
[0003] The formation of a film by the sputtering method involves physically colliding positive ions, such as Ar ions, with a target provided on a cathode, and releasing the material constituting the target with the collision energy, thereby forming a film on the side of the anode facing the anode. By laminating a film having substantially the same composition as the target material on the substrate. The coating method by the sputtering method has a feature that a thin film having a thickness of several nm to a thick film having a thickness of several tens of μm can be formed at a stable film forming rate by adjusting the processing time, the supplied power, and the like.

【0004】一般的に高品質はITO膜を得ようとした
場合には、高密度でかつ焼結体中の錫成分が酸化インジ
ウム中に固溶し、酸化錫の形態で存在していないITO
ターゲットを使用してスパッタリングを行うことが必要
である。ターゲットの密度が低かったり、焼結体中の錫
成分が酸化インジウム中に充分に固溶していない場合に
は、スパッタリングによる成膜中にターゲットのエロー
ジョン面にノジュールと呼ばれる黒色の突起物が多発し
てスパッタリングが不安定となり、異常放電やその時に
発生するパーティクルによって、膜穴欠陥や膜上突起物
といった膜不良が多発する。そこで、高密度なITOタ
ーゲットを製造する方法として、金属インジウム粉末又
はインジウム錫合金粉末を原料粉に含有させることが提
案されているが(特開平2−141459)、このよう
にして得られる焼結体の密度はせいぜい5.3g/cm
であり、性能的に充分であると言えるものではなかっ
た。
In general, in order to obtain an ITO film of high quality, it is necessary to obtain a high-density ITO component in which the tin component in the sintered body forms a solid solution in indium oxide and does not exist in the form of tin oxide.
It is necessary to perform sputtering using a target. If the density of the target is low or the tin component in the sintered body is not sufficiently dissolved in indium oxide, black projections called nodules frequently occur on the erosion surface of the target during sputtering. As a result, sputtering becomes unstable, and abnormal discharge and particles generated at that time frequently cause film defects such as film hole defects and protrusions on the film. Therefore, as a method of manufacturing a high-density ITO target, it has been proposed to include a metal indium powder or an indium tin alloy powder in a raw material powder (Japanese Patent Laid-Open No. 2-144959). Body density is at most 5.3 g / cm
3 , which was not sufficient in terms of performance.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記の諸問
題の解決、特に高品質なITO膜の形成に好適な、高密
度でかつ焼結体中の錫成分が酸化インジウム中に固溶
し、酸化錫の形態で存在していない焼結体を得ることが
できる酸化インジウム−金属錫混合粉末及び該混合粉末
を用いて焼結したITOスパッタリングターゲットを提
供するものであり、これによってスパッタリングによる
成膜中にターゲットに発生するノジュールを抑制し、異
常放電やパーティクルを減少させることを課題とするも
のである。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention solves the above-mentioned problems, and is particularly suitable for forming a high quality ITO film. And an indium oxide-metal tin mixed powder capable of obtaining a sintered body not existing in the form of tin oxide, and an ITO sputtering target sintered using the mixed powder. It is an object of the present invention to suppress nodules generated in a target during film formation and reduce abnormal discharge and particles.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めの技術的な手段は、酸化インジウム−金属錫混合粉末
をITOターゲットの原料とするものであり、これによ
って高品質なITO膜の形成に好適なITOスパッタリ
ングターゲットを得ることができるとの知見を得た。こ
の知見に基づき、本発明は 1)酸化インジウム粉末と平均粒径1〜100μmの金
属錫粉末からなることを特徴とする酸化インジウム−金
属錫混合粉末 2)金属錫粉末の平均粒径が10〜40μmであること
を特徴とする上記1記載の酸化インジウム−金属錫混合
粉末 3)金属錫粉末の最大粒径が150μmを超えないこと
を特徴とする上記1又は2記載の酸化インジウム−金属
錫混合粉末 4)酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉砕した後、
造粒することを特徴とする上記1〜3のそれぞれに記載
の酸化インジウム−金属錫混合粉末 5)酸化インジウム粉末と平均粒径1〜100μmの金
属錫粉末からなる混合粉末を成型した後、焼結し、該焼
結体に金属錫が含有しないことを特徴とする酸化インジ
ウム−金属錫混合粉末を原料とするITOスパッタリン
グターゲット 6)金属錫粉末の平均粒径が10〜40μmであること
を特徴とする上記5記載のITOスパッタリングターゲ
ット 7)金属錫粉末の最大粒径が150μmを超えないこと
を特徴とする上記5又は6記載のITOスパッタリング
ターゲット 8)酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉砕した後、
造粒することを特徴とする上記5〜7のそれぞれに記載
のITOスパッタリングターゲット 9)焼結体の密度が6.8g/cm以上であることを
特徴とする上記5〜8のそれぞれに記載のITOスパッ
タリングターゲット 10)金属錫粉末0.78〜11.82wt%を含有す
る酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉砕した後、造
粒し、これを常温で圧力700〜3000kg/cm
下における金型成型又はCIP成型した後、酸素雰囲気
又は大気中で、1500〜1650°Cに加熱し焼結す
ることを特徴とするITOスパッタリングターゲットの
製造方法 11)焼結体に金属錫が含有しないことを特徴とする上
記10記載のITOスパッタリングターゲットの製造方
法 12)焼結体の密度が6.8g/cm以上であること
を特徴とする上記10又は11記載のITOスパッタリ
ングターゲットの製造方法 13)酸化インジウム粉末と平均粒径1〜100μmの
金属錫粉末からなる酸化インジウム−金属錫混合粉末で
あることを特徴とする上記10〜12のそれぞれに記載
のITOスパッタリングターゲットの製造方法 14)金属錫粉末の平均粒径が10〜40μmであるこ
とを特徴とする上記10〜13のそれぞれに記載のIT
Oスパッタリングターゲットの製造方法 15)金属錫粉末の最大粒径が150μmを超えないこ
とを特徴とする上記10〜14のそれぞれに記載のIT
Oスパッタリングターゲットの製造方法 16)酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉砕した
後、造粒することを特徴とする上記10〜15のそれぞ
れに記載のITOスパッタリングターゲットの製造方
法、を提供する。
A technical means for solving the above problems is to use a mixed powder of indium oxide and metal tin as a raw material for an ITO target, thereby forming a high quality ITO film. That a suitable ITO sputtering target can be obtained. Based on this finding, the present invention provides: 1) an indium oxide-metal tin mixed powder comprising an indium oxide powder and a metal tin powder having an average particle diameter of 1 to 100 μm 2) an average particle diameter of the metal tin powder of 10 to 10 μm 3. Indium oxide-metal tin mixed powder as described in 1 above, characterized in that it is 40 μm. 3) Indium oxide-metal tin mixed as described in 1 or 2 above, wherein the maximum particle size of the metal tin powder does not exceed 150 μm. Powder 4) After finely pulverizing the indium oxide-metal tin mixed powder,
Indium oxide-metal tin mixed powder according to any one of the above 1 to 3, characterized in that granulation is performed. 5) A mixed powder composed of indium oxide powder and metal tin powder having an average particle diameter of 1 to 100 µm is molded and then sintered. An ITO sputtering target made of indium oxide-metal tin mixed powder, characterized in that the sintered body does not contain metal tin. 6) An average particle diameter of the metal tin powder is 10 to 40 μm. 7) The ITO sputtering target according to 5 or 6 above, wherein the maximum particle diameter of the metal tin powder does not exceed 150 μm. 8) The indium oxide-metal tin mixed powder is finely pulverized. rear,
9) The ITO sputtering target according to any one of 5 to 7 above, wherein the density of the sintered body is 6.8 g / cm 3 or more. 10) Indium oxide-metal tin mixed powder containing 0.78 to 11.82 wt% of metal tin powder is pulverized and then granulated, and then granulated at normal temperature under a pressure of 700 to 3000 kg / cm 2.
A method of manufacturing an ITO sputtering target characterized by heating and sintering at 1500 to 1650 ° C. in an oxygen atmosphere or air after the lower mold or CIP molding 11) Metal tin is contained in the sintered body (12) The method for producing an ITO sputtering target according to (10) or (11), wherein the density of the sintered body is 6.8 g / cm 3 or more. 13) The method for producing an ITO sputtering target according to any one of the above items 10 to 12, wherein the mixed powder is an indium oxide-metal tin mixed powder composed of indium oxide powder and metal tin powder having an average particle diameter of 1 to 100 μm. Each of the above-mentioned 10 to 13, wherein the average particle diameter of the tin powder is 10 to 40 µm IT described
15) The method according to any one of the items 10 to 14, wherein the maximum particle size of the metal tin powder does not exceed 150 μm.
16) The method for producing an ITO sputtering target according to any one of the above items 10 to 15, wherein the mixed powder of indium oxide and metal tin is finely pulverized and then granulated.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】一般に、ITOスパッタリングタ
ーゲットの原料としては、酸化インジウム−酸化錫混合
粉末が使用されることが多いが、このような混合粉を成
型して焼結した場合には、焼結体中の錫成分が酸化イン
ジウム中に完全には固溶せず、一部は酸化錫の形態で存
在するといったことが避けることができなかった。ま
た、酸化錫成分の固溶度を向上させ、高密度なターゲッ
トを得るためには、原料となる酸化インジウム粉末及び
酸化錫粉末及びこれらの混合粉末を平均粒径数μm程度
に微細化し、粒度分布も厳密に調整、管理することが必
要であった。本発明は、基本的に酸化インジウム−金属
錫混合粉末をITOターゲットの原料とすることによ
り、上記の問題を解決することができた。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS In general, a mixed powder of indium oxide and tin oxide is often used as a raw material for an ITO sputtering target. It was unavoidable that the tin component in the solid was not completely dissolved in indium oxide and a part of the tin component was present in the form of tin oxide. In addition, in order to improve the solid solubility of the tin oxide component and obtain a high-density target, indium oxide powder and tin oxide powder as raw materials and a powder mixture thereof are refined to an average particle size of about several μm, and the particle size is reduced. The distribution also needed to be strictly adjusted and managed. The present invention has successfully solved the above-mentioned problem by using indium oxide-metal tin mixed powder as a raw material for an ITO target.

【0008】上記の通り、本発明は、平均粒径1〜10
0μmの金属錫粉末0.78〜11.82wt%と残部
がふるい下95%に達する粉末の粒径が1.5〜2.5
μmの酸化インジウム粉末の混合粉末をITOターゲッ
トの原料として使用する。金属錫粉末の平均粒径は10
〜40μmであることが好ましく、また、最大粒径は1
50μmを超えないことが望ましい。酸化インジウム−
金属錫混合粉末は、金属錫が活性であることから、1〜
100μmの広範囲な平均粒径においても、焼結時に錫
成分(金属錫)が酸化インジウム中に充分固溶するとい
う特徴を備えている。酸化インジウム−金属錫混合粉末
を原料として使用する場合に、それぞれの粉末を平均粒
径数μm程度に調整しなければならなかったのに比べ格
段の相違である。また、本発明では、従来では必須であ
った酸化錫の微粉末を製造する工程がなくなり、製造コ
ストを大幅に低減できるという著しい利点がある。ま
た、酸化錫粉末製造工程において生じる酸性廃水の処理
が不必要となるといった利点もある。
[0008] As described above, the present invention provides an average particle size of 1 to 10
0.78 to 11.82 wt% of 0 µm metal tin powder and the particle size of the powder reaching 95% below the sieve is 1.5 to 2.5.
A mixed powder of μm indium oxide powder is used as a raw material of the ITO target. The average particle size of the metal tin powder is 10
4040 μm, and the maximum particle size is 1
It is desirable not to exceed 50 μm. Indium oxide-
Since the metal tin is active, the metal tin mixed powder is 1 to 1
It has a feature that the tin component (metal tin) is sufficiently dissolved in indium oxide during sintering even in a wide range of average particle diameter of 100 μm. When using indium oxide-tin oxide mixed powder as a raw material, this is a marked difference as compared with the case where each powder had to be adjusted to an average particle size of about several μm. Further, the present invention has a remarkable advantage that the step of producing a fine powder of tin oxide, which is conventionally essential, is eliminated, and the production cost can be greatly reduced. In addition, there is an advantage that treatment of acidic wastewater generated in the tin oxide powder production process is unnecessary.

【0009】焼結体の製造に際しては、まず上記金属錫
粉末と酸化インジウム粉末を混合し、湿式ミル等を用い
て平均粒径1μm程度に微粉砕する。この微粉砕スラリ
ーを造粒し、例えば平均粒径45μmの造粒粉とする。
次に、これを金型又はCIP型に充填し、常温で圧力7
00〜3000kg/cmをかけて成型する。この成
型体の密度は3〜4g/cm程度となる。この成型体
を酸素雰囲気(なお、本明細書中で使用する「酸素雰囲
気」は、純酸素雰囲気を含む高酸素分圧雰囲気を意味す
る。)又は大気中で、1500〜1650°Cで焼結す
る。昇温時間は4〜9時間程度とし、保持時間は0〜7
時間程度とする。これによって、密度が6.8g/cm
以上の高密度焼結体が得られる。また、この焼結体に
は金属錫を使用しているにもかかわらず、金属錫は含有
していない。これは本発明の大きな特徴である。この焼
結体は、さらに機械加工、表面粗さの調整、バッキング
プレートへのボンディング、仕上げ、洗浄などを施して
ITOスパッタリングターゲットとする。
In the production of a sintered body, the above-mentioned metal tin powder and indium oxide powder are first mixed and finely pulverized using a wet mill or the like to an average particle size of about 1 μm. This finely pulverized slurry is granulated to obtain granulated powder having an average particle diameter of 45 μm, for example.
Next, this is filled in a mold or a CIP mold, and the pressure is 7 at room temperature.
Molding is performed at a pressure of 00 to 3000 kg / cm 2 . The density of this molded body is about 3 to 4 g / cm 3 . The molded body is sintered at 1500 to 1650 ° C. in an oxygen atmosphere (the “oxygen atmosphere” used in this specification means a high oxygen partial pressure atmosphere including a pure oxygen atmosphere) or the atmosphere. I do. The heating time is about 4 to 9 hours, and the holding time is 0 to 7
About an hour. This results in a density of 6.8 g / cm.
Three or more high-density sintered bodies can be obtained. In addition, despite the use of tin metal, the sintered body does not contain tin metal. This is a major feature of the present invention. The sintered body is further subjected to machining, adjustment of surface roughness, bonding to a backing plate, finishing, washing, and the like to obtain an ITO sputtering target.

【0010】[0010]

【実施例及び比較例】次に、本発明の実施例について説
明する。なお、本実施例はあくまで1例であり、この例
に制限されるものではない。すなわち、本発明の技術思
想の範囲内で、実施例以外の態様あるいは変形を全て包
含するものである。
Examples and Comparative Examples Next, examples of the present invention will be described. This embodiment is merely an example, and the present invention is not limited to this example. That is, all aspects or modifications other than the examples are included within the scope of the technical idea of the present invention.

【0011】(実施例)焼結用原料粉として、平均粒径
40μm、最大粒径100μmの金属錫粉末7.88w
t%と残部平均粒径2μmの酸化インジウム粉末を使用
した。次に、上記金属錫粉末と酸化インジウム粉末を混
合し、湿式ミルを用いて平均粒径0.9μmに微粉砕し
た。この微粉砕スラリーを造粒し、平均粒径45μmの
造粒粉とした。次に、これを幅179mm、長さ788
mmの金型に充填し、油圧プレスにより常温で750k
g/cmの圧力をかけて成型した。これによって得ら
れた成型体の密度は3.78g/cmであった。
(Example) As a raw material powder for sintering, 7.88 w of metal tin powder having an average particle size of 40 μm and a maximum particle size of 100 μm.
Indium oxide powder having t% and a balance average particle diameter of 2 μm was used. Next, the metal tin powder and the indium oxide powder were mixed and finely pulverized using a wet mill to an average particle size of 0.9 μm. This finely pulverized slurry was granulated to obtain granulated powder having an average particle diameter of 45 μm. Next, this is 179 mm in width and 788 in length.
750k at room temperature by hydraulic press
It was molded under a pressure of g / cm 2 . The density of the molded product thus obtained was 3.78 g / cm 3 .

【0012】この成型体を純酸素雰囲気中で、昇温時間
6時間、1570°Cに加熱、保持時間4時間とし焼結
した。これによって、焼結体の密度は7.13g/cm
の高密度焼結体が得られた。この焼結体をX線回折に
より金属錫の確認を行ったが、原料粉として金属錫を使
用しているにもかかわらず、該焼結体に金属錫は含有さ
れていなかった。この焼結体は、さらに機械加工により
127×508×6mmに加工し、バッキングプレート
へのボンディング後、仕上げ加工により表面粗さRa=
0.35μmに調整し、さらに多重超音波洗浄などを施
してITOスパッタリングターゲットとした。
The molded body was sintered in a pure oxygen atmosphere for 6 hours at a heating time of 1570 ° C. and a holding time of 4 hours. Thereby, the density of the sintered body is 7.13 g / cm.
3 was obtained. X-ray diffraction of this sintered body was confirmed for metallic tin. However, despite the use of metallic tin as a raw material powder, this sintered body did not contain metallic tin. This sintered body was further processed to 127 × 508 × 6 mm by machining, and after bonding to a backing plate, surface roughness Ra =
The thickness was adjusted to 0.35 μm, and multiple ultrasonic cleaning was performed to obtain an ITO sputtering target.

【0013】(比較例)焼結用原料粉として、平均粒径
2μmの酸化錫粉末10.00wt%と残部平均粒径2
μmの酸化インジウム粉末を使用した。次に、上記酸化
錫粉末と酸化インジウム粉末を混合し、湿式ミルを用い
て平均粒径0.9μmに微粉砕した。この微粉砕スラリ
ーを造粒し、平均粒径45μmの造粒粉とした。次に、
これを幅179mm、長さ788mmの金型に充填し、
油圧プレスにより常温で750kg/cmの圧力をか
けて成型した。これによって得られた成型体の密度は
3.72g/cmであった。
Comparative Example As a raw material powder for sintering, 10.00 wt% of tin oxide powder having an average particle size of 2 μm and a residual average particle size of 2
μm indium oxide powder was used. Next, the tin oxide powder and the indium oxide powder were mixed and pulverized to a mean particle size of 0.9 μm using a wet mill. This finely pulverized slurry was granulated to obtain granulated powder having an average particle diameter of 45 μm. next,
This is filled in a mold of width 179 mm and length 788 mm,
Molding was performed by applying a pressure of 750 kg / cm 2 at normal temperature by a hydraulic press. The density of the molded product thus obtained was 3.72 g / cm 3 .

【0014】この成型体を純酸素雰囲気中で、昇温時間
6時間、1570°Cに加熱、保持時間4時間とし焼結
した。これによって、焼結体の密度は7.11g/cm
の焼結体が得られた。この焼結体は、さらに機械加工
により127×508×6mmに加工し、バッキングプ
レートへのボンディング後、仕上げ加工により表面粗さ
Ra=0.35μmに調整し、さらに多重超音波洗浄な
どを施してITOスパッタリングターゲットとした。こ
の結果、比較例の酸化錫−酸化インジウム混合粉末は、
微細な粉末(平均粒径2μmの酸化錫粉末)を用いて
も、実施例の焼結体密度よりもやや劣る結果となった。
The molded body was sintered in a pure oxygen atmosphere with a heating time of 6 hours, heating at 1570 ° C. and a holding time of 4 hours. Thereby, the density of the sintered body is 7.11 g / cm.
3 was obtained. This sintered body is further processed to 127 × 508 × 6 mm by machining, and after bonding to a backing plate, is adjusted to a surface roughness Ra = 0.35 μm by finishing, and further subjected to multiple ultrasonic cleaning and the like. An ITO sputtering target was used. As a result, the tin oxide-indium oxide mixed powder of the comparative example is:
Even when a fine powder (tin oxide powder having an average particle size of 2 μm) was used, the result was slightly inferior to the sintered body density of the example.

【0015】次に、上記実施例及び比較例で得られたス
パッタリングターゲットを用いてDCマグネトロンスパ
ッタリングし、ノジュールの発生量(被覆率)とアーク
放電数を測定した。スパッタリング条件は次の通りであ
る。 スパッタガス : Ar+0 スパッタガス圧 : 0.5Pa スパッタガス流量 : 300SCCM スパッタガス中の酸素濃度 : 1vol% 漏洩磁束密度 : 1000Gauss 投入スパッタパワー密度 : 1.0W/cm ノジュールの被覆率の測定結果及びマイクロアークモニ
ターによる異常放電発生回数を測定した結果を表1に示
す。ここで、「ノジュール被覆率」とは、スパッタリン
グターゲット表面における「ノジュール面積/エロージ
ョン部面積」の比率を%表示したものである。
Next, DC magnetron sputtering was performed using the sputtering targets obtained in the above Examples and Comparative Examples, and the generation amount (coverage) of nodules and the number of arc discharges were measured. The sputtering conditions are as follows. Sputtering gas: Ar + 0 2 sputtering gas pressure: 0.5 Pa Sputtering gas flow rate: 300 SCCM oxygen concentration of the sputtering gas: 1 vol% leakage magnetic flux density: 1000 Gauss turned sputtering power density: 1.0 W / cm 2 of nodules coverage measurement results and Table 1 shows the results of measuring the number of abnormal discharges generated by the micro arc monitor. Here, the “nodule coverage” is a percentage of “nodule area / erosion area” on the surface of the sputtering target.

【0016】ノジュール被覆率は、積算電力量20WH
r/cmでは、実施例が0.3%であるのに対して、
比較例では0.5%であり、同40WHr/cm
は、実施例が2.2%であるのに対して、比較例では
2.8%であり、さらに同120WHr/cmでは、
実施例が39.5%であるのに対して、比較例では4
9.1%であった。異常放電発生回数は、積算電力量2
0WHr/cmでは、実施例が9回であるのに対し
て、比較例では16回であり、同40WHr/cm
は、実施例が21回であるのに対して、比較例では29
回であり、さらに同120WHr/cmでは、実施例
が601回であるのに対して、比較例では722回であ
った。これらの対比から明らかなように、本発明の効果
が確認できる。
The nodule coverage rate is 20 WH
At r / cm 2 , the example is 0.3%,
In the comparative example was 0.5%, the same 40WHr / cm 2, whereas the embodiment is 2.2%, 2.8% in the comparative example, the further the 120WHr / cm 2,
In the example, 39.5% was obtained, whereas in the comparative example, 4% was obtained.
9.1%. The number of abnormal discharge occurrences is
At 0 WHr / cm 2 , the number of examples was 9 times, whereas in the comparative example, it was 16 times. At 40 WHr / cm 2 , the number of examples was 21 times, whereas that of the comparative example was 29 times.
At 120 WHr / cm 2 , the number of times was 601 in the example and 722 in the comparative example. As is clear from these comparisons, the effect of the present invention can be confirmed.

【0017】[0017]

【表1】 [Table 1]

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明の酸化インジウム粉末及び金属錫
粉末からなる混合粉末を使用することにより、高品質な
ITO膜の形成に好適な、6.7g/cm以上の高密
度でかつ焼結体中の錫成分が酸化インジウム中に固溶
し、酸化錫の形態で存在していない焼結体を得ることが
できる。これによって、スパッタリングによる成膜中に
ターゲットに発生するノジュールを抑制し、異常放電や
パーティクルを減少させるITOスパッタリングターゲ
ットを低コストで得ることができる優れた効果を有す
る。
By using the mixed powder of the indium oxide powder and the metal tin powder according to the present invention, it is possible to form a high-quality ITO film at a high density of 6.7 g / cm 3 or more and sintered. It is possible to obtain a sintered body in which the tin component in the body forms a solid solution in indium oxide and does not exist in the form of tin oxide. Thereby, there is an excellent effect that a nodule generated in the target during film formation by sputtering is suppressed, and an ITO sputtering target that reduces abnormal discharge and particles can be obtained at low cost.

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成12年5月19日(2000.5.1
9)
[Submission date] May 19, 2000 (2005.1.
9)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0018[Correction target item name] 0018

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0018】[0018]

【発明の効果】本発明の酸化インジウム粉末及び金属錫
粉末からなる混合粉末を使用することにより、高品質な
ITO膜の形成に好適な、6.8g/cm 以上の高密
度でかつ焼結体中の錫成分が酸化インジウム中に固溶
し、酸化錫の形態で存在していない焼結体を得ることが
できる。これによって、スパッタリングによる成膜中に
ターゲットに発生するノジュールを抑制し、異常放電や
パーティクルを減少させるITOスパッタリングターゲ
ットを低コストで得ることができる優れた効果を有す
る。
EFFECT OF THE INVENTION By using the mixed powder comprising the indium oxide powder and the metallic tin powder of the present invention, it is suitable for forming a high quality ITO film, and has a high density of 6.8 g / cm 3 or more and is sintered. It is possible to obtain a sintered body in which the tin component in the body forms a solid solution in indium oxide and does not exist in the form of tin oxide. Thereby, there is an excellent effect that a nodule generated in the target during film formation by sputtering is suppressed, and an ITO sputtering target that reduces abnormal discharge and particles can be obtained at low cost.

フロントページの続き Fターム(参考) 4G030 AA34 AA61 GA03 GA05 GA11 GA22 GA25 GA27 4K029 BA45 BA50 BC09 CA05 DC05 DC09 5G323 BA01 BA02 BB05 BB06 Continued on the front page F term (reference) 4G030 AA34 AA61 GA03 GA05 GA11 GA22 GA25 GA27 4K029 BA45 BA50 BC09 CA05 DC05 DC09 5G323 BA01 BA02 BB05 BB06

Claims (16)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 酸化インジウム粉末と平均粒径1〜10
0μmの金属錫粉末からなることを特徴とする酸化イン
ジウム−金属錫混合粉末。
An indium oxide powder having an average particle size of 1 to 10
A mixed powder of indium oxide and metal tin, comprising a metal tin powder of 0 μm.
【請求項2】 金属錫粉末の平均粒径が10〜40μm
であることを特徴とする請求項1記載の酸化インジウム
−金属錫混合粉末。
2. An average particle diameter of the metal tin powder is 10 to 40 μm.
The indium oxide-metal tin mixed powder according to claim 1, wherein
【請求項3】 金属錫粉末の最大粒径が150μmを超
えないことを特徴とする請求項1又は2記載の酸化イン
ジウム−金属錫混合粉末。
3. The mixed powder of indium oxide and metal tin according to claim 1, wherein the maximum particle size of the metal tin powder does not exceed 150 μm.
【請求項4】 酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉
砕した後、造粒することを特徴とする請求項1〜3のそ
れぞれに記載の酸化インジウム−金属錫混合粉末。
4. The mixed powder of indium oxide and metal tin according to claim 1, wherein the mixed powder of indium oxide and metal tin is finely pulverized and then granulated.
【請求項5】 酸化インジウム粉末と平均粒径1〜10
0μmの金属錫粉末からなる混合粉末を成型した後、焼
結し、該焼結体に金属錫が含有しないことを特徴とする
酸化インジウム−金属錫混合粉末を原料とするITOス
パッタリングターゲット。
5. An indium oxide powder having an average particle size of 1 to 10
An ITO sputtering target using an indium-metal tin mixed powder as a raw material, characterized in that a mixed powder composed of 0 μm metal tin powder is molded and then sintered, and the sintered body does not contain metal tin.
【請求項6】 金属錫粉末の平均粒径が10〜40μm
であることを特徴とする請求項5記載のITOスパッタ
リングターゲット。
6. An average particle diameter of the metal tin powder is 10 to 40 μm.
The ITO sputtering target according to claim 5, wherein
【請求項7】 金属錫粉末の最大粒径が150μmを超
えないことを特徴とする請求項5又は6記載のITOス
パッタリングターゲット。
7. The ITO sputtering target according to claim 5, wherein the maximum particle size of the metal tin powder does not exceed 150 μm.
【請求項8】 酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉
砕した後、造粒することを特徴とする請求項5〜7のそ
れぞれに記載のITOスパッタリングターゲット。
8. The ITO sputtering target according to any one of claims 5 to 7, wherein the indium oxide-metal tin mixed powder is finely pulverized and then granulated.
【請求項9】 焼結体の密度が6.8g/cm以上で
あることを特徴とする請求項5〜8のそれぞれに記載の
ITOスパッタリングターゲット。
9. The ITO sputtering target according to claim 5, wherein the density of the sintered body is 6.8 g / cm 3 or more.
【請求項10】 金属錫粉末0.78〜11.82wt
%を含有する酸化インジウム−金属錫混合粉末を微粉砕
した後、造粒し、これを常温で圧力700〜3000k
g/cm下における金型成型又はCIP成型した後、
酸素雰囲気又は大気中で、1500〜1650°Cに加
熱し焼結することを特徴とするITOスパッタリングタ
ーゲットの製造方法。
10. Metal tin powder 0.78 to 11.82 wt.
% Of indium oxide-metal tin mixed powder containing fine particles is granulated and then granulated at normal temperature under a pressure of 700 to 3000 k.
After molding or CIP molding under g / cm 2 ,
A method for producing an ITO sputtering target, comprising heating to 1500 to 1650 ° C. and sintering in an oxygen atmosphere or air.
【請求項11】 焼結体に金属錫が含有しないことを特
徴とする請求項10記載のITOスパッタリングターゲ
ットの製造方法。
11. The method for producing an ITO sputtering target according to claim 10, wherein the sintered body does not contain metal tin.
【請求項12】 焼結体の密度が6.8g/cm以上
であることを特徴とする請求項10又は11記載のIT
Oスパッタリングターゲットの製造方法。
12. The IT according to claim 10, wherein the density of the sintered body is 6.8 g / cm 3 or more.
A method for manufacturing an O sputtering target.
【請求項13】 酸化インジウム粉末と平均粒径1〜1
00μmの金属錫粉末からなる酸化インジウム−金属錫
混合粉末であることを特徴とする請求項10〜12のそ
れぞれに記載のITOスパッタリングターゲットの製造
方法。
13. An indium oxide powder having an average particle size of 1 to 1.
The method for producing an ITO sputtering target according to any one of claims 10 to 12, wherein the ITO sputtering target is an indium-metal tin mixed powder composed of 00 µm metal tin powder.
【請求項14】 金属錫粉末の平均粒径が10〜40μ
mであることを特徴とする請求項10〜13のそれぞれ
に記載のITOスパッタリングターゲットの製造方法。
14. The metal tin powder has an average particle size of 10 to 40 μm.
The method for producing an ITO sputtering target according to any one of claims 10 to 13, wherein m is m.
【請求項15】 金属錫粉末の最大粒径が150μmを
超えないことを特徴とする請求項10〜14のそれぞれ
に記載のITOスパッタリングターゲットの製造方法。
15. The method for producing an ITO sputtering target according to claim 10, wherein the maximum particle size of the metal tin powder does not exceed 150 μm.
【請求項16】 酸化インジウム−金属錫混合粉末を微
粉砕した後、造粒することを特徴とする請求項10〜1
5のそれぞれに記載のITOスパッタリングターゲット
の製造方法。
16. The method according to claim 10, wherein the indium oxide-metal tin mixed powder is pulverized and then granulated.
5. The method for producing an ITO sputtering target according to 5 above.
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