KR100872873B1 - 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치 - Google Patents
기판 제조용 초임계 유체 공급 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (5)
- 초임계 유체를 공급하기 위한 초임계 유체 공급부;상기 초임계 유체의 성능을 향상시키기 위한 공용매를 공급하기 위한 공용매 공급부;상기 초임계 유체와 상기 공용매를 혼합하고 혼합된 상기 초임계 유체와 상기 공용매를 공정 챔버에 공급하기 위한 저장소;상기 초임계 유체 공급부 내에 설치되며 상기 저장소에 연결되어 유체를 초임계 상태로 가압하기 고압 펌프; 및상기 저장소와 상기 공정 챔버 사이에 구비되어 상기 공정 챔버 내부의 압력을 일정하게 유지시키기 위해 상기 공정 챔버 내로 공급되는 상기 초임계 유체와 상기 공용매 혼합 유체의 압력을 조절하는 압력 조절 장치를 포함하며,상기 공용매는 불산 또는 불산 피리딘염을 포함하는, 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 초임계 유체 공급부는,액체 상태의 상기 초임계 유체를 저장하는 유체 저장부;상기 액체 상태의 초임계 유체를 임계 온도 이상으로 가열하는 히터; 및상기 초임계 유체의 공급을 개폐하는 초임계 유체 공급 밸브를 더 포함하는 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 공용매 공급부는,상기 공용매를 저장하는 공용매 저장부; 및상기 공용매의 공급을 개폐하는 공용매 공급 밸브를 포함하는 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치.
- 제 1항에 있어서,상기 초임계 유체는 초임계 이산화 탄소인 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치.
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KR1020070066470A KR100872873B1 (ko) | 2007-07-03 | 2007-07-03 | 기판 제조용 초임계 유체 공급 장치 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101254326B1 (ko) * | 2011-04-06 | 2013-04-12 | (주)일신오토클레이브 | 초임계 유체와 약액의 혼합장치 및 그것을 사용하여 초임계유체 혼합물을 공급하는 방법 |
CN110582836A (zh) * | 2017-05-03 | 2019-12-17 | 应用材料公司 | 用于在半导体应用中使用超临界流体的方法和设备 |
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KR20040074632A (ko) * | 2003-02-19 | 2004-08-25 | 소니 가부시끼 가이샤 | 세정방법 |
KR20050097514A (ko) * | 2003-01-27 | 2005-10-07 | 미셀 테크놀로지즈, 인코포레이티드 | 마이크로일렉트로닉 및 다른 산업 공정에서 초임계 유체를이동하는 방법 |
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2007
- 2007-07-03 KR KR1020070066470A patent/KR100872873B1/ko active IP Right Grant
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