KR100826646B1 - 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 - Google Patents
로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100826646B1 KR100826646B1 KR1020060105918A KR20060105918A KR100826646B1 KR 100826646 B1 KR100826646 B1 KR 100826646B1 KR 1020060105918 A KR1020060105918 A KR 1020060105918A KR 20060105918 A KR20060105918 A KR 20060105918A KR 100826646 B1 KR100826646 B1 KR 100826646B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- address
- signal
- unit
- internal
- output
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/06—Address interface arrangements, e.g. address buffers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/10—Decoders
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C8/00—Arrangements for selecting an address in a digital store
- G11C8/18—Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
Description
Claims (18)
- 외부 어드레스를 버퍼링하여 내부 어드레스를 출력하는 어드레스 버퍼와;복수의 외부 커맨드를 입력받아 버퍼링하는 커맨드 버퍼와;커맨드 버퍼로부터 출력되는 버퍼링된 소정 커맨드를 이용하여 상기 내부 어드레스를 래치하는 프리 래치부와;상기 프리 래치부에서 래치된 내부어드레스를 입력받아, 상기 내부 어드레스가 리페어된 어드레스(repaired address)인지 정상 어드레스(normal address)인지를 판별하여 적어도 하나 이상의 판별신호를 출력하는 판별부와;버퍼링된 클럭신호를 이용하여 상기 내부 어드레스를 래치하는 어드레스 래치부와;상기 적어도 하나 이상의 판별신호와 상기 어드레스 래치부로부터의 내부 어드레스를 입력받아 글로벌 로우 어드레스를 발생시키되, 상기 판별부의 판별결과 상기 내부 어드레스가 정상 어드레스인 경우에는 상기 어드레스 래치부로부터의 내부 어드레스를 상기 글로벌 로우 어드레스로서 출력하고, 상기 판별부의 판별결과 상기 내부 어드레스가 리페어된 어드레스인 경우에는 상기 적어도 하나 이상의 판별신호를 인코딩한 어드레스를 상기 글로벌 로우 어드레스로서 출력하는 글로벌 어드레스 발생부를 포함하여 구성되는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로는 소정의 로우 액세스 스트로브 신호에 동기하여 상기 글로벌 로우 어드레스를 래치하여 각 뱅크에 대해 유효한 로컬 로우 어드레스를 출력하는 로컬 어드레스 발생부와;상기 로컬 로우 어드레스를 입력받아 이를 디코딩하여, 상기 정상 어드레스에 대응하는 메인 워드라인 신호 또는 상기 리페어된 어드레스에 대응하는 리던던트 메인워드 라인 신호를 출력하는 디코더를 더 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 2 항에 있어서,상기 디코더는, 상기 로컬 로우 어드레스를 입력받아 이를 디코딩하여 상기 정상 어드레스에 대응하는 메인 워드라인 신호를 출력하는 제 1 디코더와, 상기 로컬 로우 어드레스를 입력받아 이를 디코딩하여 상기 리페어된 어드레스에 대응하는 리던던트 메인워드 라인 신호를 출력하는 제 2 디코더를 포함하여 구성되는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 프리 래치부는 커맨드 버퍼로부터 출력되는 버퍼링된 라스(RAS) 신호를 이용하여 상기 내부 어드레스를 래치하는 어드레스 패스 회로.
- 제 4 항에 있어서,상기 프리 래치부는상기 내부 어드레스를 제 1 구간만큼 지연시키는 제 1 지연기와,상기 버퍼링된 라스 신호를 제 2 구간만큼 지연시키는 제 2 지연기와,상기 제 2 지연기의 출력신호의 인에이블시점에 동기하여 상기 1 지연기로부터 출력되는 내부 어드레스를 래치하는 래치 소자를 포함하여 구성되는 어드레스 패스 회로.
- 제 5 항에 있어서,상기 래치소자는 상기 제 2 지연기의 출력신호의 인에이블시점에 동기하여 상기 1 지연기로부터 출력되는 내부어드레스를 래치하여 상기 제 2 지연기의 출력신호의 다음 인에이블시점까지 유지시키는 플립플롭인 어드레스 패스 회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 판별부는상기 프리 래치부로부터 출력되는 내부어드레스를 디코딩하는 디코더와;상기 디코더로부터 출력되는 디코딩된 복수의 신호를 입력받아 상기 내부 어드레스가 리페어된 어드레스인지 정상 어드레스인지를 판별하는 상기 판별신호를 출력하는 복수의 판별회로를 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 7 항에 있어서,상기 복수의 판별회로의 각각은소정의 프리차지 신호에 응답하여 제 1 노드를 프리차지시키는 프리차지수단과;상기 디코딩된 복수의 신호에 응답하여 상기 제 1 노드를 풀-다운 구동하는 복수의 풀-다운소자와;상기 복수의 풀-다운소자와 제 1 노드 간에 각각 설치되는 복수의 퓨즈를 포함하여 구성되는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 8 항에 있어서,상기 복수의 판별회로의 각각은, 상기 제 1 노드의 전위를 소정 전위로 유지 시키는 래치부를 더 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 8 항에 있어서,상기 복수의 퓨즈를 구성하는 각 퓨즈의 컷오프 여부에 의한 조합의 구성은 리던던트 셀의 어드레스에 대응하는 것을 특징으로 하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 8 항에 있어서,상기 복수의 판별회로의 각각은, 상기 복수의 풀-다운소자와 접지단 간에 설치되고 뱅크 액티브 신호에 응답하여 각 판별회로를 인에이블시키는 복수의 스위치를 더 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 1 항에 있어서,상기 글로벌 어드레스 발생부는상기 적어도 하나이상의 판별신호를 논리연산하는 논리부와;상기 적어도 하나 이상의 판별신호를 인코딩하는 인코더와;상기 논리부의 출력신호에 응답하여 상기 어드레스 래치부로부터의 내부 어 드레스를 전달하는 제 1 신호전달부와;상기 논리부의 출력신호에 응답하여 상기 인코더에 의해 인코딩된 어드레스를 전달하는 제 2 신호전달부를 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 12 항에 있어서,상기 논리부는 상기 적어도 하나 이상의 판별신호 중 어느 하나라도 인에이블되면 인에이블되는 게이트 제어신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 13 항에 있어서,상기 논리부는 논리합연산을 수행하는 어드레스 패스 회로.
- 제 14 항에 있어서,상기 논리부는상기 적어도 하나 이상의 판별신호 중 일부를 입력받아 부정논리합 연산을 수행하는 복수의 노어게이트와,상기 복수의 노어게이트의 출력신호를 입력받아 부정논리곱 연산을 수행하는 낸드게이트를 포함하는 어드레스 패스 회로.
- 제 12 항에 있어서,상기 글로벌 어드레스 발생부는 상기 어드레스 래치부로부터의 내부 어드레스를 래치하여 상기 제 1 신호전달부로 공급하는 어드레스 래치소자를 더 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 12 항에 있어서,상기 제 1 신호전달부와 제 2 신호전달부는 상기 논리부의 출력신호에 응답하여 온오프 동작하는 전달게이트인 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
- 제 12 항에 있어서,상기 글로벌 어드레스 발생부는 상기 제 1 신호전달부와 제 2 신호전달부의 출력신호를 래치하는 래치부와, 상기 래치부의 출력신호를 버퍼링하는 버퍼를 더 포함하는 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060105918A KR100826646B1 (ko) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060105918A KR100826646B1 (ko) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050096253 Division | 2005-10-12 | 2005-10-12 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070040745A KR20070040745A (ko) | 2007-04-17 |
KR100826646B1 true KR100826646B1 (ko) | 2008-05-06 |
Family
ID=38176381
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060105918A KR100826646B1 (ko) | 2006-10-30 | 2006-10-30 | 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100826646B1 (ko) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100925385B1 (ko) * | 2008-02-22 | 2009-11-09 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치의 리던던시 제어 회로 및 방법 |
US8339880B2 (en) | 2008-02-22 | 2012-12-25 | Hynix Semiconductor Inc. | Circuit for controlling redundancy in semiconductor memory apparatus |
KR100930412B1 (ko) * | 2008-04-10 | 2009-12-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치 |
KR100945794B1 (ko) | 2008-05-02 | 2010-03-08 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 집적회로 및 그 어드레스/커맨드 처리방법 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000013737A (ko) * | 1998-08-12 | 2000-03-06 | 윤종용 | 트루/컴플리먼트 리던던시 스킴을 가지는 반도체 메모리 장치 |
-
2006
- 2006-10-30 KR KR1020060105918A patent/KR100826646B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000013737A (ko) * | 1998-08-12 | 2000-03-06 | 윤종용 | 트루/컴플리먼트 리던던시 스킴을 가지는 반도체 메모리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070040745A (ko) | 2007-04-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6272066B1 (en) | Synchronous semiconductor memory device capable of high speed reading and writing | |
US9214208B2 (en) | NOR-OR Decoder | |
US20060268652A1 (en) | Pseudo SRAM capable of operating in continuous burst mode and method of controlling burst mode operation thereof | |
KR20010007372A (ko) | 용장판정회로를 갖는 반도체 메모리 | |
KR100507379B1 (ko) | 워드라인 구동 회로 | |
USRE44218E1 (en) | Semiconductor memory device for controlling write recovery time | |
US6307806B1 (en) | Semiconductor integrated circuit and method of operating the same | |
KR100911185B1 (ko) | 라이트 오토 프리차지 신호 발생부를 공유하는 오토프리차지 회로 | |
US8339880B2 (en) | Circuit for controlling redundancy in semiconductor memory apparatus | |
KR100826646B1 (ko) | 로우 리던던트 스킴을 포함한 어드레스 패스회로 | |
US7227811B2 (en) | Address latch signal generation circuit and address decoding circuit | |
US20090213671A1 (en) | Circuit and method for controlling redundancy in semiconductor memory apparatus | |
US7391660B2 (en) | Address path circuit with row redundant scheme | |
EP0637132B1 (en) | Adressierungssystem für integrierte Halbleiterschaltungen | |
US6233183B1 (en) | Semiconductor memory device with high data access speed | |
KR0157289B1 (ko) | 컬럼 선택 신호 제어회로 | |
US7679983B2 (en) | Address path circuit with row redundant scheme | |
KR100821583B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 리던던시 제어 회로 및 방법 | |
US6278297B1 (en) | Row decoder with switched power supply | |
US8203903B2 (en) | Main decoding circuit and semiconductor memory apparatus including the same | |
US7505358B2 (en) | Synchronous semiconductor memory device | |
US7755954B2 (en) | Data I/O control signal generating circuit in a semiconductor memory apparatus | |
US6108245A (en) | Write recovery time control circuit in semiconductor memory and control method thereof | |
KR100543193B1 (ko) | 어드레스신호의 처리시간이 단축된 반도체 메모리 장치 | |
KR20090048886A (ko) | 리던던시 리셋 회로 및 이를 포함하는 반도체 메모리장치의 리던던시 제어 회로 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A107 | Divisional application of patent | ||
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
B601 | Maintenance of original decision after re-examination before a trial | ||
J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20070530 Effective date: 20080228 |
|
S901 | Examination by remand of revocation | ||
GRNO | Decision to grant (after opposition) | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130325 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140324 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160321 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170323 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180326 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190325 Year of fee payment: 12 |