KR100820917B1 - Apparatus and Method for inspecting shape of Flexible Printed Circuit Board - Google Patents

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Abstract

본 발명은 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 연성 인쇄회로기판의 패턴을 다수의 영역으로 분할하여 촬영함으로써 솔더레지스트(Solder Resist)의 내부 및 표면과 경계면까지 검사할 수 있는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for inspecting the appearance of a flexible printed circuit board, and more particularly, to inspect the inside and the surface and the boundary surface of a solder resist by dividing the pattern of the flexible printed circuit board into a plurality of areas. The present invention relates to an apparatus and method for inspecting appearance of a flexible printed circuit board.

본 발명에 의하면 연성 인쇄회로기판의 패턴을 다수의 영역으로 촬영하여 검사하므로 데이터 분량이 감소되어 상대적으로 검사 시간이 단축되며, 수지층이 도포된 영역과 도포되지 않은 영역을 별도로 촬영하기 때문에 영상데이터의 균일성을 향상시켜 보다 정밀한 검사가 가능하게 된다.According to the present invention, since the pattern of the flexible printed circuit board is photographed and inspected in a plurality of regions, the amount of data is reduced, so that the inspection time is relatively shortened, and the image data is photographed separately because the region coated with the resin layer is photographed separately. By improving the uniformity of the more precise inspection is possible.

인쇄회로기판, 외관 검사 Printed circuit board, appearance inspection

Description

연성인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법 {Apparatus and Method for inspecting shape of Flexible Printed Circuit Board}Apparatus and Method for inspecting shape of Flexible Printed Circuit Board}

도1은 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판 검사 장치의 개략도.1 is a schematic diagram of a flexible printed circuit board inspection apparatus according to the present invention.

도2는 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판 검사 장치의 주요 구성을 도시한 블럭도.Figure 2 is a block diagram showing the main configuration of the flexible printed circuit board inspection apparatus according to the present invention.

도3a는 본 발명에 의한 TAB(Tape Automated Bonding) 기판의 외관 검사 방법을 도시한 흐름도.Figure 3a is a flow chart showing the appearance inspection method of the Tape Automated Bonding (TAB) substrate according to the present invention.

도3b는 본 발명에 의한 COF(Chip On Film) 기판의 외관 검사 방법을 도시한 흐름도.Figure 3b is a flow chart showing the appearance inspection method of a chip on film (COF) substrate according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명> <Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

10 ... 연성 인쇄회로기판10 ... flexible printed circuit boards

110 ... 권출부110 ... unwinding

120 ... 검사부120 ... Inspection

121 ... 제1검사부121 ... First Inspection Unit

122 ... 제2검사부122 ... Second Inspection Unit

123 ... 제3검사부123 ... Third Inspection Department

124 ... 제4검사부124 ... Fourth Inspection Department

125 ... 제5검사부125 ... 5th Inspection Department

130 ... 목시부130 ... Visual

140 ... 불량표시부140 ... bad display

150 ... 권취부150 ... winding

160 ... 댄서부160 ... Dancer

170 ... 제어부170 ... control unit

본 발명은 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 연성 인쇄회로기판의 패턴을 다수의 영역으로 분할하여 촬영함으로써 솔더레지스트(Solder Resist) 내부 또는 표면에 있는 이물질까지 검사할 수 있는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for inspecting the appearance of a flexible printed circuit board. More particularly, the present invention relates to a flexible printed circuit board, in which a pattern of the flexible printed circuit board is divided into a plurality of areas and photographed to detect foreign substances in or on a solder resist. The present invention relates to an apparatus and method for inspecting appearance of a flexible printed circuit board.

연성 인쇄회로기판(Flexibel Printed Circuit Board)은 액정표시장치의 드라이버 집적회로, 메모리 등의 각종 반도체 디바이스들의 제조에 사용되는 주요 재료의 하나로서 반도체 디바이스의 소형화, 경량화 추세에 따라 필름(film), 테이프(tape) 형태로 많이 사용하고 있다.Flexible printed circuit board (Flexibel Printed Circuit Board) is one of the main materials used in the manufacturing of various semiconductor devices, such as driver integrated circuit, memory, etc. of liquid crystal display device, according to the trend of miniaturization and light weight of semiconductor devices, film, tape It is used a lot in the form of (tape).

이러한 연성 인쇄회로기판에는 TCP(Tape Carrier Package), COF(Chip On Film), TAB(Tape Automated Bonding) 기판 등이 있으며, 노광, 현상, 에칭 공정 등을 통하여 기판에 미세 회로 패턴이 형성된다. 그런데, 미세 회로 패턴 내에서의 합선(Short), 단락(Open), 돌기(Protrusion), 결손(Mouse Bite), 변색, 이물부착 등 각종 결함이 발생하여 큰 문제가 야기되고 있어, 이들의 효과적인 검사가 생산성 및 품질 관리에 관건이 되고 있는 실정이다.Such flexible printed circuit boards include a tape carrier package (TCP), a chip on film (COF), a tape automated bonding (TAB) substrate, and the like, and a fine circuit pattern is formed on the substrate through an exposure, development, and etching process. However, various defects such as short circuit, open circuit, protrusion, defect bite, discoloration, foreign matter adhesion, etc. occur in the fine circuit pattern, causing a big problem, and thus effective inspection thereof. Is the key to productivity and quality control.

이와 관련하여, 대한민국 특허출원 제2003-88510호에는 "테이프 캐리어 패키지의 외형 검사 장치 및 방법"(이하, '인용예'라 함)에 대해 개시되어 있다.In this regard, Korean Patent Application No. 2003-88510 discloses "appearance inspection apparatus and method of a tape carrier package" (hereinafter referred to as "quotation example").

상기 인용예에서는, 검사부에서 라인스캔카메라를 이용하여 검사 필름의 리드 부분의 영상을 획득, 분석하고, 에어리어 스캔 카메라를 이용하여 검사필름의 IP 홀과 패키지부 및 수지도포부의 영상을 획득하여 분석하도록 구성되어 있다.In the cited example, the inspection unit acquires and analyzes an image of the lead portion of the inspection film using a line scan camera, and obtains and analyzes an image of the IP hole, package portion, and resin coating cloth of the inspection film using an area scan camera. It is configured to.

그러나, 상기 인용예와 같은 구성은 회로패턴의 이상유무와 패턴상에 부착된 이물질을 검사할 수 있는 것으로서, 회로패턴면의 변색이나 수지층의 변색 그리고, 수지층 도포 경계면의 이상유무까지는 검사할 수 없는 문제점이 있다.However, the configuration as in the above cited example is capable of inspecting whether there is an abnormality in the circuit pattern and foreign matter adhered to the pattern. There is no problem.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 연성 인쇄회로기판의 패턴을 다수의 영역으로 분할하여 촬영함으로써 데이터 분량을 감소시켜 검사 시간을 단축시키고, 솔더레지스트(Solder Resist) 영역까지 검사할 수 있는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.The present invention is to solve the problems described above, by dividing the pattern of the flexible printed circuit board into a plurality of areas to reduce the amount of data to reduce the inspection time, to inspect the solder resist (Solder Resist) area It is an object of the present invention to provide an apparatus and method for inspecting the appearance of flexible printed circuit boards.

또한, 수지층이 도포된 영역과 도포되지 않은 영역을 별도로 촬영하여 영상데이터의 균일성을 향상시키기 위한 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치 및 방법을 제공하고자 한다.In addition, the present invention provides an apparatus and method for inspecting the appearance of a flexible printed circuit board to improve the uniformity of image data by separately photographing a region coated with a resin layer and a region not coated.

상술한 바와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치는, 다수의 연성 인쇄회로기판들을 연속적으로 제공하는 권출부, 상기 연성 인쇄회로기판들의 회로 패턴을 검사하는 검사부, 상기 검사부를 통해 불량으로 판별된 연성 인쇄회로기판에 불량표시를 하기 위한 불량표시부, 검사를 마친 연성 인쇄회로기판들을 수용하여 되감는 권취부, 및 상기 구성요소들의 제반 동작을 제어하는 제어부를 포함하여 구성된 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치에 있어서, 상기 검사부는, 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트(Solder Resist) 영역의 회로 패턴을 촬영하여 검사하는 제1검사부; 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 경계 및 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하여 검사하는 제2검사부; 및 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드(Outer Lead) 영역을 촬영하여 검사하는 제3 검사부로 구성되어진다.Apparatus for inspecting the appearance of a flexible printed circuit board according to the present invention for achieving the above technical problem, the unwinding unit for continuously providing a plurality of flexible printed circuit boards, the inspection unit for inspecting the circuit pattern of the flexible printed circuit boards And a defective display unit for displaying a defective display on the flexible printed circuit board which is determined as defective through the inspection unit, a winding unit which receives and rewinds the flexible printed circuit boards after the inspection, and a control unit for controlling overall operations of the components. An apparatus for inspecting an appearance of a flexible printed circuit board, the inspecting unit comprising: a first inspecting unit photographing and inspecting a circuit pattern of a solder resist region of the flexible printed circuit board; A second inspection unit which photographs and inspects a solder resist boundary and a region outside the solder resist boundary of the flexible printed circuit board; And a third inspection unit which photographs and inspects a solder resist surface and an outer lead region of the flexible printed circuit board.

한편, 상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 연속적으로 제공되는 다수의 연성 인쇄회로기판들의 외관을 검사하는 방법에 있어서, 제1검사부에 의하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 영역 내의 회로패턴을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제1검사단계; 제2검사부에 의하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 경계면과 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제2검사단계; 및 제3검사부에 의하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제3검사단계를 포함한다.Meanwhile, in order to achieve the above object, the present invention provides a method for inspecting the appearance of a plurality of flexible printed circuit boards that are continuously provided, and photographing a circuit pattern in a solder resist area of the flexible printed circuit board by a first inspection unit and failing. A first inspection step of determining whether or not; A second inspection step of photographing the solder resist boundary surface and the solder resist boundary region of the flexible printed circuit board by the second inspection unit and determining whether the defect is defective; And a third inspection step of photographing the solder resist surface and the external lead region of the flexible printed circuit board by the third inspection unit and determining whether the defect is defective.

이하에서는 본 발명의 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세히 설명하고자 한다.Hereinafter will be described in detail with reference to the accompanying drawings an embodiment of the present invention.

도1은 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판 외관 검사 장치의 개략도이며, 도2는 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판 검사 장치의 주요 구성을 도시한 블럭도이다.1 is a schematic diagram of a flexible printed circuit board visual inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a main configuration of the flexible printed circuit board inspection apparatus according to the present invention.

도1과 도2를 참조하면, 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 장치는 다수의 연성 인쇄회로기판(10)들을 연속적으로 제공하는 권출부(110), 상기 권출부(110)를 통해 제공되는 연성 인쇄회로기판들의 장력을 조절하기 위한 댄서부(160), 상기 연성 인쇄회로기판들의 회로 패턴을 검사하는 검사부(120), 상기 검사부(120)를 통과한 연성 인쇄회로기판을 검사자가 직접 관찰하기 위한 목시부(130), 상기 검사부(120)를 통해 불량으로 판별된 연성 인쇄회로기판에 불량표시를 하기 위한 불량표시부(140), 검사를 마친 연성 인쇄회로기판들을 수용하여 되감는 권취부(150), 및 상기 구성요소들의 제반 동작을 제어하는 제어부(170)를 포함하여 구성되어진다.1 and 2, the appearance inspection apparatus of the flexible printed circuit board according to the present invention through the unwinding unit 110, the unwinding unit 110, which provides a plurality of flexible printed circuit boards 10 continuously The inspector directly checks the dancer unit 160 for adjusting the tension of the flexible printed circuit boards provided therein, an inspection unit 120 for inspecting circuit patterns of the flexible printed circuit boards, and a flexible printed circuit board passing through the inspection unit 120. The visual unit 130 for observation, the defect display unit 140 for displaying a defect on the flexible printed circuit board that is determined to be defective through the inspection unit 120, the winding unit to receive and rewind the inspected flexible printed circuit boards 150, and a controller 170 for controlling all operations of the components.

상기 검사부(120)는, 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트(Solder Resist) 영역 의 회로 패턴을 촬영하여 검사하는 제1검사부(121); 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 경계 및 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하여 검사하는 제2검사부(122); 및 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드(Outer Lead) 영역을 촬영하여 검사하는 제3 검사부(123)로 이루어진다. 또한, 연성 인쇄회로기판의 내부 리드(Inner Lead) 영역의 패턴을 촬영하여 검사하는 제4검사부와 상기 제1 내지 제4 검사부에서 인식된 불량 부분을 재촬영하여 최종적으로 불량 여부를 판별하는 제5검사부가 구비되어진다.The inspection unit 120 may include a first inspection unit 121 photographing and inspecting a circuit pattern of a solder resist region of the flexible printed circuit board; A second inspection unit 122 photographing and inspecting a solder resist boundary and a region outside the solder resist boundary of the flexible printed circuit board; And a third inspection unit 123 photographing and inspecting a solder resist surface and an outer lead region of the flexible printed circuit board. In addition, a fourth inspection unit which photographs and inspects a pattern of an inner lead area of the flexible printed circuit board and a fifth inspection unit which finally determines whether or not a defect by re-photographing a defective portion recognized by the first to fourth inspection units. An inspection unit is provided.

도1을 참조하여 본 발명에 의한 연성 인쇄회로기판 외관 검사 장치의 동작을 살펴보면 다음과 같다.The operation of the flexible printed circuit board visual inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. 1.

일단, 권출부(110)에 의하여 필름 형태의 연성 인쇄회로기판(10)들이 연속적으로 검사부(120) 측으로 제공되어진다.First, the flexible printed circuit boards 10 in a film form are continuously provided to the inspection unit 120 by the unwinding unit 110.

제1검사부(121)에서는 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트(Solder Resist) 영역의 회로 패턴을 촬영하여 불량 여부를 검사하며, 제2검사부(122)에서는 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 경계 및 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하여 불량 여부를 판별하고, 제3검사부(123)에서는 연성 인쇄회로기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드(Outer Lead) 영역을 촬영하여 불량 여부를 검사한다.The first inspector 121 photographs a circuit pattern of a solder resist region of the flexible printed circuit board to inspect for defects, and the second inspector 122 inspects a solder resist boundary and a solder resist boundary of the flexible printed circuit board. The external region is photographed to determine whether the defect is inferior, and the third inspection unit 123 photographs the solder resist surface and the outer lead area of the flexible printed circuit board to inspect the defect.

여기서, 검사 대상 기판이 TAB(Tape Automated Bonding)인 경우에는 제4검사부(124)를 통해 내부 리드(Inner Lead) 영역의 패턴을 추가로 촬영하여 검사하게 된다. 그 이유는 TAB 기판의 경우에는 COF(Chip On Film) 기판과는 달리 내부 리드 (Inner Lead)를 지지하는 필름층이 없어 패턴 변형의 우려가 있기 때문이다. 즉, TAB 기판은 필름 상에 패턴을 형성하지만 칩이 실장되는 부분에 홀이 형성되어 있기 때문에 내부 리드가 홀 내부로 돌출되어 내부 리드 지지층이 없다는 것이다.Here, when the test target substrate is tape automated bonding (TAB), the pattern of the inner lead region is additionally photographed and inspected through the fourth inspection unit 124. The reason is that in the case of a TAB substrate, unlike a COF (Chip On Film) substrate, there is no film layer supporting an inner lead, which may cause deformation of the pattern. That is, the TAB substrate forms a pattern on the film, but since the hole is formed in the portion where the chip is mounted, the inner lead protrudes into the hole and there is no inner lead support layer.

반면에, COF 기판은 필름상에 패턴을 형성하고 칩이 실장되는 내부 리드 부분을 필름이 지지하고 있기 때문에, 일반적으로 내부 리드 영역의 패턴을 검사하지 않고, 필요한 경우에 한하여 해당 검사를 하게 된다.On the other hand, since the COF substrate forms a pattern on the film and the film supports the inner lead portion on which the chip is mounted, the COF substrate is generally inspected only when necessary, without inspecting the pattern of the inner lead region.

제5검사부(125)에서는 제1검사부 내지 제4 검사부에서 인식된 불량 부분을 재촬영하여 최종적으로 불량 여부를 판별한다. 이때, 어느 한 영역이라도 이상이 있으면 해당 연성 인쇄회로기판을 불량으로 처리하고, 이상이 없으면 양품으로 처리하도록 한다.The fifth inspector 125 retakes the defective part recognized by the first inspector to the fourth inspector to finally determine whether the inspector is defective. At this time, if any one of the areas is abnormal, the flexible printed circuit board is treated as defective, and if there is no abnormality, it is treated as good quality.

상기 제5검사부(125)에 의해 불량으로 판별된 연성 인쇄회로기판은 불량표시부(140)에 의해 불량표시되어지고, 권취부(150)에 감김으로써 검사 과정은 마무리되어진다.The flexible printed circuit board determined as defective by the fifth inspection unit 125 is displayed as defective by the failure display unit 140, and the inspection process is completed by winding the winding unit 150.

여기서, 상기 검사부(120)와 불량표시부(140) 사이에는 검사를 마친 연성 인쇄회로기판을 검사자가 직접 눈으로 확인하기 위한 목시부(130)가 구비되어지는데, 바람직하게는, 상기 불량표시부(140)와 권취부(150) 사이에 설치되어질 수 있다.Here, a visual part 130 is provided between the inspecting unit 120 and the defective display unit 140 to inspect the inspected flexible printed circuit board directly by the inspector. Preferably, the defective display unit 140 is provided. ) And the winding unit 150 may be installed.

도3a는 본 발명에 의한 TAB(Tape Automated Bonding) 기판의 외관 검사 방법을 도시한 흐름도이다.3A is a flowchart illustrating a method of inspecting an appearance of a tape automated bonding (TAB) substrate according to the present invention.

도면을 참조하면, 제1검사부(121)에서 반사 조명을 조사하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 영역 내의 회로패턴을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제1검사단계(S400)를 거쳐, 제2검사부(122)에서 투과 조명을 조사하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 경계면과 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제2검사단계(S402)를 수행하게 되며, 이어 제3검사부(123)에서 반사 조명을 조사하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제3검사단계(S404)를 수행한다.Referring to the drawings, the first inspection unit 121 performs a first inspection step (S400) of photographing a circuit pattern in the solder resist area of the flexible printed circuit board by irradiating the reflected light and determining whether or not the second inspection unit ( In step 122), the second inspection step S402 is performed to photograph the solder resist boundary surface and the solder resist boundary region of the flexible printed circuit board and determine whether the defect is defective by irradiating the transmitted light. The third test step (S404) of photographing the solder resist surface and the external lead region of the flexible printed circuit board and determining whether the defect is performed by irradiating the reflected light is performed.

TAB 기판의 솔더레지스트는 그 두께가 COF 기판에 비해 두꺼워서 상기 제1검사단계에서는 칼라 카메라(Color Camera)를 사용하는 것이 바람직하다.Since the solder resist of the TAB substrate is thicker than that of the COF substrate, it is preferable to use a color camera in the first inspection step.

상기 제3검사단계(S404) 이후에, 제4검사부(124)에서 반사 조명 또는 투과 조명을 조사하여 연성 인쇄회로기판의 내부 리드(Inner Lead) 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제4검사단계(S406)를 추가로 거치게 된다.After the third inspection step (S404), the fourth inspection unit 124 is irradiated with reflected light or transmitted light to photograph the inner lead (Inner Lead) area of the flexible printed circuit board and determine whether or not defective Further passes through (S406).

상기 제1검사단계(S400) 내지 제4검사단계(S406)는 필요에 따라 그 순서를 변경할 수도 있다.The first inspection step (S400) to the fourth inspection step (S406) may change the order as necessary.

마지막으로, 제5검사부(125)에 의해 상기 제1 검사부(121) 내지 제4 검사부(124)에서 판별한 불량 부분을 재촬영하여 검사하는 제5검사단계(S408)를 통하여, 어느 한 영역이라도 이상이 있으면(S410) 해당 연성 인쇄회로기판을 불량으로 처리하고(S412), 이상이 없으면 양품으로 처리한다(S414).Finally, the fifth inspection unit 125 performs a fifth inspection step S408 in which the defective portion determined by the first inspection unit 121 to the fourth inspection unit 124 is rephotographed and inspected. If there is an abnormality (S410), the flexible printed circuit board is treated as defective (S412), and if there is no abnormality, it is treated as good quality (S414).

각 검사단계에서 조명의 밝기 및 색상은 검사하고자 하는 이물의 특성에 맞춰 변경이 가능하다.In each inspection step, the brightness and color of the light can be changed to suit the characteristics of the foreign material to be inspected.

도3b는 본 발명에 의한 COF(Chip On Film) 기판의 외관 검사 방법을 도시한 흐름도이다.Figure 3b is a flow chart showing the appearance inspection method of a chip on film (COF) substrate according to the present invention.

상술한 바와 같이, COF 기판은 필름상에 패턴을 형성하고 칩이 실장되는 내부 리드 부분을 필름이 지지하고 있기 때문에, 내부 리드 영역의 패턴을 검사할 필요가 없으며, 필요한 경우에 한하여 해당 검사를 하게 된다.As described above, since the COF substrate forms a pattern on the film and the film supports the internal lead portion where the chip is mounted, there is no need to inspect the pattern of the internal lead region, and the inspection is performed only when necessary. do.

따라서, 제3검사단계(S404) 이후에 연성 인쇄회로기판의 내부 리드(Inner Lead) 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제4검사단계를 거치지 않고, 바로 제5검사단계(S408)로 넘어가는 것이 일반적이며, 필요한 경우에 한하여 제4검사단계를 수행하게 된다. Therefore, after the third inspection step S404, the process proceeds directly to the fifth inspection step S408 without taking a fourth inspection step of photographing an inner lead area of the flexible printed circuit board and determining whether there is a defect. In general, the fourth inspection step is performed only when necessary.

그 이외의 과정은 도3a를 참조하여 설명한 TAB 기판의 경우와 동일하므로 자세한 설명은 생략하기로 한다.Since other processes are the same as those of the TAB substrate described with reference to FIG. 3A, detailed description thereof will be omitted.

이상과 같이 본 발명은 비록 한정된 실시 예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정되어 해석되어서는 아니되며, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.As described above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the terms or words used in the present specification and claims are not to be construed as being limited to ordinary or dictionary meanings, and are consistent with the technical spirit of the present invention. It must be interpreted as meaning and concept. Therefore, the embodiments described in the specification and the drawings shown in the drawings are only one of the most preferred embodiments of the present invention and do not represent all of the technical idea of the present invention, various modifications that can be replaced at the time of the present application It should be understood that there may be equivalents and variations.

본 발명에 따른 연성 인쇄회로기판의 외관 검사장치 및 방법에 의하면, 패턴을 다수의 영역으로 촬영하여 검사함으로써 데이터 분량이 감소되어 상대적으로 검사 속도가 향상되는 효과를 제공한다.According to the apparatus and method for inspecting the appearance of a flexible printed circuit board according to the present invention, by capturing and inspecting a pattern in a plurality of areas, the amount of data is reduced, thereby providing an effect of relatively improving an inspection speed.

또한, 솔더레지스트(Solder Resist)의 내부 및 표면과 경계면까지 검사할 수 있고, 수지층이 도포된 영역과 도포되지 않은 영역을 별도로 촬영하기 때문에 이미지 데이터의 균일성을 향상시켜 보다 정밀한 검사가 가능하게 된다.In addition, the inside and the surface of the solder resist (Solder Resist), and even the interface can be inspected, and the area where the resin layer is applied and the uncoated area is taken separately to improve the uniformity of the image data to enable a more precise inspection do.

Claims (8)

삭제delete 삭제delete 삭제delete 연속적으로 제공되는 다수의 연성 인쇄회로기판들의 외관을 검사하는 방법에 있어서,In the method for inspecting the appearance of a plurality of flexible printed circuit boards provided in series, 반사조명을 이용하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 영역 내의 회로패턴을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제1검사단계;A first inspection step of photographing a circuit pattern in a solder resist area of the flexible printed circuit board using reflection light and determining whether there is a defect; 투과조명을 이용하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 경계면과 솔더레지스트 경계 외부 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제2검사단계; 및A second inspection step of photographing a solder resist boundary surface and an area outside the solder resist boundary of the flexible printed circuit board using transmission light and determining whether there is a defect; And 반사조명을 이용하여 연성 인쇄회로 기판의 솔더레지스트 표면 및 외부 리드 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제3검사단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 방법.And a third inspection step of photographing the solder resist surface and the external lead region of the flexible printed circuit board by using reflected light and determining whether there is a defect. 제4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 제3검사단계 이후에, 연성 인쇄회로기판의 내부 리드 영역을 촬영하고 불량여부를 판별하는 제4검사단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 방법.And after the third inspection step, further comprising a fourth inspection step of photographing an internal lead region of the flexible printed circuit board and determining whether there is a defect. 제4항 또는 제5항에 있어서,The method according to claim 4 or 5, 상기 제3검사단계 또는 제4검사단계 이후에, 상기 제1 내지 제4 검사 단계에서 판별한 불량 부분을 재촬영하여, 어느 한 영역이라도 이상이 있으면 해당 연성 인쇄회로기판을 불량으로 처리하고, 이상이 없으면 양품으로 처리하는 제5검사단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 방법.After the third inspection step or the fourth inspection step, the defective parts determined in the first to fourth inspection steps are rephotographed to treat the flexible printed circuit board as defective if any of the areas are abnormal. If not there is a visual inspection method of the flexible printed circuit board, characterized in that it further comprises a fifth inspection step of processing as good. 삭제delete 제5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제4검사단계에서는 반사조명 또는 투과조명을 이용하는 것을 특징으로 하는 연성 인쇄회로기판의 외관 검사 방법.In the fourth inspection step, the appearance inspection method of the flexible printed circuit board, characterized in that using the reflected light or transmitted light.
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