KR100801323B1 - 실리콘웨이퍼의 검사장비 - Google Patents
실리콘웨이퍼의 검사장비 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100801323B1 KR100801323B1 KR1020060135337A KR20060135337A KR100801323B1 KR 100801323 B1 KR100801323 B1 KR 100801323B1 KR 1020060135337 A KR1020060135337 A KR 1020060135337A KR 20060135337 A KR20060135337 A KR 20060135337A KR 100801323 B1 KR100801323 B1 KR 100801323B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- silicon wafer
- shelf
- unit
- inspection
- transfer
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
구분 | r축 | θ축 | Z축 |
Stroke | 450mm | 0 ~ 360° | 370mm |
전장 | 700mm | - | 800mm |
Speed | 0.15m/s | 0.15m/s | 0.1m/s |
용량 | 200W | 400W | 200W |
Camera | Dalsa 4K Line Scan Camera |
CCD Pixel Size | 7㎛ x 7㎛ |
Max Camera Total Data Rate | 30 MHz |
Max Camera Line Rate | Max. 7.2 KHz |
Size | 150 x 65.5 x 80 |
X-axis | Y-axis | Vacuum Plate Unit | |
Stroke | 500 mm | 400 mm | 8~12inch 대응 |
전장 | 780 mm | 600 mm | |
기타 | - Cableveyor, Cover 부착 - Speed : 0.2 m/s, 0.3G - 허용하중 : 15 kg |
Claims (3)
- 실리콘웨이퍼의 검사장비에 있어서,수평프레임(110)과 수직프레임(120)이 결합하여 직사각 형태의 틀로 구성되고 상기 프레임(110, 120)에 제1선반(130)이 전면으로 돌출 구비되며, 상기 틀 내부로 출입구멍(161)이 구비된 격벽(160)이 수직으로 구성되며, 그 격벽(160)을 중심으로 우측편에 제2선반(140)과 좌측편의 제3선반(150)이 수평으로 구비된 본체(100)와;실리콘웨이퍼(500)가 보관되기 위한, 개구부를 가진 사각형태의 카세트(210)가 제1선반(130)에 결착 구비되고, 상기 카세트(210)의 개구부 전면으로 실리콘웨이퍼(500)를 낱개로 이송시키기 위한 r-θ-Z방향으로 구동가능한 로봇(220)이 제2선반(140)에 구비된 이송부(200)와;이송부(200) 좌측의 제3선반(150) 상부의 중심으로, 횡 방향의 레일(320)이 구비되어 롤러(313)와 진공척(312), 스테이지(311)로 구성된 이송스테이지(310)의 롤러(313)와 접하도록 구성되고, 이송스테이지(310)의 상부로 하면을 향하는 조명부(330)와 그 조명부(330)의 전면으로 카메라부(340)가 가지는 시점이 교차될 수 있도록 구비된 검사부(300)와;이송부(200)와 검사부(300)의 작동을 제어하며 검사부(300)에 의해 촬영된 영상을 검사하고, 검사된 결과를 저장함과 동시에 디스플레이를 위한 프로그램이 내장된 PC(410)와 모니터로 구비된 제어부(400)로 구성됨을 특징으로 하는 실리콘 웨이퍼 검사장비.
- 제 1항에 있어서,검사부(300)는 세 개의 조명으로 구성된 조명부(330)와 세 개의 카메라(341)로 구성된 카메라부(340)로 영상을 획득함을 특징으로 하는 실리콘웨이퍼 검사장비.
- 제 1항에 있어서,조명부(330)는 제3선반(150)을 기준으로 45˚의 각도로 비스듬하게 설치되며, 카메라부(340)는 제3선반을(150)을 기준으로 60˚의 각도로 비스듬하게 설치되어, 조명부(330)와 카메라부(340)의 시점이 교차하는 교차시점(600)으로 실리콘웨이퍼(500)가 이동되어 영상을 획득하도록 함을 특징으로 하는 실리콘웨이퍼 검사장비.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060135337A KR100801323B1 (ko) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 실리콘웨이퍼의 검사장비 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060135337A KR100801323B1 (ko) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 실리콘웨이퍼의 검사장비 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100801323B1 true KR100801323B1 (ko) | 2008-02-11 |
Family
ID=39342480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060135337A KR100801323B1 (ko) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 실리콘웨이퍼의 검사장비 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100801323B1 (ko) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101153246B1 (ko) * | 2009-07-22 | 2012-06-05 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 기판검사방법 |
WO2016104899A1 (ko) * | 2014-12-23 | 2016-06-30 | 박우태 | 진공척 장치 |
KR20190004880A (ko) * | 2017-07-05 | 2019-01-15 | (주)소닉스 | 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템 |
CN114279961A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-05 | 江苏卓为工程咨询有限公司 | 硅晶板故障检测装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040069853A (ko) * | 2003-01-30 | 2004-08-06 | 아남반도체 주식회사 | 반도체 웨이퍼 검사장비 및 검사방법 |
-
2006
- 2006-12-27 KR KR1020060135337A patent/KR100801323B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20040069853A (ko) * | 2003-01-30 | 2004-08-06 | 아남반도체 주식회사 | 반도체 웨이퍼 검사장비 및 검사방법 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101153246B1 (ko) * | 2009-07-22 | 2012-06-05 | 엘아이지에이디피 주식회사 | 기판검사방법 |
WO2016104899A1 (ko) * | 2014-12-23 | 2016-06-30 | 박우태 | 진공척 장치 |
CN107112273A (zh) * | 2014-12-23 | 2017-08-29 | 朴佑泰 | 真空卡盘装置 |
KR20190004880A (ko) * | 2017-07-05 | 2019-01-15 | (주)소닉스 | 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템 |
KR101987822B1 (ko) | 2017-07-05 | 2019-06-12 | (주)소닉스 | 디스플레이모듈에 관련된 검사대상물을 검사하기 위한 인라인 검사시스템 |
CN114279961A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-05 | 江苏卓为工程咨询有限公司 | 硅晶板故障检测装置 |
CN114279961B (zh) * | 2021-12-21 | 2024-05-17 | 江苏卓为工程咨询有限公司 | 硅晶板故障检测装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI671836B (zh) | 加工裝置 | |
JP6999691B2 (ja) | 光学センサを有するコンポーネント受け取り装置 | |
KR100361962B1 (ko) | 웨이퍼 테두리 결함 검사장치 및 검사방법 | |
JP4466669B2 (ja) | 外観検査装置 | |
EP1617209A1 (en) | Inspection device for transparent substrate end surface and inspection method therefor | |
JP2007107945A (ja) | 基板検査装置 | |
JP2011047948A (ja) | ガラス基板の切断面検査装置 | |
JP4085538B2 (ja) | 検査装置 | |
KR100801323B1 (ko) | 실리콘웨이퍼의 검사장비 | |
JP2006329714A (ja) | レンズ検査装置 | |
CN100538345C (zh) | 玻璃基板的颗粒测定方法 | |
WO2012056858A1 (ja) | 観察対象物の端部観察装置及び端部検査装置 | |
KR20220044741A (ko) | 웨이퍼 외관 검사 장치 및 방법 | |
KR102558405B1 (ko) | 반도체 웨이퍼 결함 검사 장치 및 결함 검사 방법 | |
JP2007333672A (ja) | 外観検査装置および外観検査方法 | |
KR100561954B1 (ko) | 반도체 패키지의 검사장치 | |
JP6101481B2 (ja) | 積層構造を有するワークの内部検査装置 | |
KR200188365Y1 (ko) | 웨이퍼 테두리 결함 검사장치 | |
TWM523852U (zh) | 孔徑檢測系統 | |
KR20150017231A (ko) | 정밀 스캔구조를 갖는 패널의 외관 검사시스템 | |
JP2016128781A (ja) | 外観検査装置 | |
KR101030445B1 (ko) | Led 소자의 다이 및 와이어 본딩 검사 장치 및 그 방법 | |
KR101583510B1 (ko) | 백라이트유닛의 거치장치 | |
KR20150060317A (ko) | 디스플레이 패널 검사장치 | |
KR20150001706A (ko) | 사파이어 웨이퍼의 검사 및 분류를 위한 시스템 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121108 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140127 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150108 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160111 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170117 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180105 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190129 Year of fee payment: 12 |