KR100798686B1 - Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same - Google Patents
Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR100798686B1 KR100798686B1 KR1020060032474A KR20060032474A KR100798686B1 KR 100798686 B1 KR100798686 B1 KR 100798686B1 KR 1020060032474 A KR1020060032474 A KR 1020060032474A KR 20060032474 A KR20060032474 A KR 20060032474A KR 100798686 B1 KR100798686 B1 KR 100798686B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- leakage current
- unit
- electrode lines
- voltage
- scan electrode
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/30—Marginal testing, e.g. by varying supply voltage
- G01R31/3004—Current or voltage test
- G01R31/3008—Quiescent current [IDDQ] test or leakage current test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/316—Testing of analog circuits
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법이 개시된다. 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 있어서, 복수의 데이터전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압을 인가하는 전원공급부, 및 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인에 일단이 연결되며 그 타단이 나머지 스캔전극 라인의 일단 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결되는 전류측정기를 포함한다. 이때, 전원공급부는 공통접점으로 제1 전압보다 높은 제2 전압을 인가한다.Disclosed are an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate and a method of measuring the same. An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention includes a plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of scan electrode lines electrically connecting unit panels of the same row among the plurality of unit panels, and a plurality of unit panels. An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate having a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among unit panels of the unit panel, the unit panel of which the leakage current is to be measured among the plurality of data electrode lines. One end is connected to the scan electrode line to which the power supply unit applying the first voltage to the upper end of the connected data electrode line and the unit panel to measure the leakage current are connected, and the other end is one end of the remaining scan electrode line and the remaining data electrode line. It includes a current meter connected to the common contact with the top of the. In this case, the power supply unit applies a second voltage higher than the first voltage to the common contact.
평판 디스플레이 패널, 스캔전극, 데이터전극, 누설전류, 행, 열 Flat panel display panel, scan electrode, data electrode, leakage current, row, column
Description
도 1은 일반적인 매트릭스형 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치를 나타낸 도면, 1 is a view showing a leakage current measuring apparatus of a general matrix flat panel display substrate,
도 2는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 예를 개략적으로 도시한 블록도, 2 is a block diagram schematically showing an example of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention;
도 3은 도 2의 누설전류 측정장치의 회로도의 제1 실시예를 나타낸 도면, 3 is a view showing a first embodiment of a circuit diagram of the leakage current measuring device of FIG. 2;
도 4은 도 3의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 의한 누설전류 측정방법을 나타낸 흐름도,4 is a flowchart illustrating a leakage current measuring method by the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate of FIG. 3.
도 5은 도 2의 누설전류 측정장치 회로도의 제2 실시예를 나타낸 도면,5 is a view showing a second embodiment of a circuit diagram of the leakage current measuring device of FIG. 2;
도 6은 도 2의 누설전류 측정장치 회로도의 제3 실시예를 나타낸 도면, 6 is a view showing a third embodiment of the circuit diagram of the leakage current measuring device of FIG. 2;
도 7은 도 6의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 의한 누설전류 측정방법을 나타낸 흐름도,7 is a flowchart illustrating a leakage current measuring method using the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate of FIG. 6.
도 8은 도 2의 누설전류 측장장치 회로도의 제4 실시예를 나타낸 도면, 그리고8 shows a fourth embodiment of the circuit diagram of the leakage current measuring device of FIG. 2; and
도 9는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 다른 예를 개략적으로 도시한 블록도이다.9 is a block diagram schematically showing another example of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
110, 210 : 기판 120, 220 : 단위 패널110, 210:
130, 230 : 스캔전극 라인 140, 240 : 데이터전극 라인130, 230:
160, 250 : 전원공급부 150, 260 : 전류측정기160, 250:
본 발명은 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 공통전극을 가지는 평판 디스플레이 기판에 있어서, 인접한 패널들의 누설전류 간섭을 제거하여 단위 패널의 누설전류를 정확하게 측정할 수 있는 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate and a method of measuring the same, and more particularly, in a flat panel display substrate having a common electrode, the leakage current of a unit panel is accurately corrected by removing leakage current interference between adjacent panels. The present invention relates to an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate and a measuring method thereof.
일반적으로, 휴대폰을 포함한 이동통신 단말기, 디지털 카메라 모듈 등 각종 소형 전자기기에는 STN(Super-Twisted Nematic)-LCD, PM(Passive Matrix)-OLED 등 수동 매트릭스형 평판 디스플레이 패널(Flat Display Panel : FDP)이 널리 이용되고 있다.In general, a variety of small electronic devices such as mobile communication terminals including digital phones, digital camera modules, and passive matrix flat panel displays (STDP) such as Super-Twisted Nematic (STN) -LCD, Passive Matrix (PM) -OLED, etc. This is widely used.
평판 디스플레이 기판은 디스플레이 소자의 단위 패널들이 매트릭스 형태로 배열되고, 데이터 라인과 스캔 라인 간에 교차되는 지점에 인가되는 전압 차이가 단위 셀의 문턱전압(threshold voltage)을 넘을 경우에 그 셀은 발광하게 되며, 이때 흐르는 전류의 양에 따라 출력하는 빛의 양이 변하게 된다. 반대로, 문턱전압을 넘지 못한 셀의 경우 발광을 하지 않거나 눈에 보이지 않을 정도의 미소한 빛을 내게 된다.In the flat panel display substrate, the unit panels of the display element are arranged in a matrix, and the cell emits light when the voltage difference applied to the intersection point between the data line and the scan line exceeds the threshold voltage of the unit cell. At this time, the amount of light output changes according to the amount of current flowing. On the contrary, the cells that do not exceed the threshold voltage do not emit light or emit light that is invisible to the eye.
제조 공정이 완료된 평판 디스플레이 기판에 대하여는 각각의 단위 패널들에 대한 누설전류를 측정하여 불량 여부를 검사한다. For the flat panel display substrate which has been manufactured, the leakage current of each unit panel is measured to check for defects.
도 1은 일반적인 매트릭스형 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치를 나타낸 도면이다.1 is a view illustrating a leakage current measuring apparatus of a general matrix flat panel display substrate.
도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(110)에는 단위 패널(120)이 매트릭스 형태로 배열되어 있으며, 동일한 행(row)의 단위 패널은 스캔전극 라인(130)에 의해, 그리고 동일한 열(column)의 단위 패널은 데이터전극 라인(140)에 의해 전기적으로 연결되어 있다. Referring to the drawings, the
전류측정기(M)는 복수의 단위 패널 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인(130)에 일단이 연결되며, 그 타단은 접지된다.One end of the current meter M is connected to the
또한, 전원공급부(150)는 복수의 단위 패널 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인(140)의 상단에 연결되어 음의 전압(-Vcc)을 공급한다. In addition, the
누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 C43이며 그 단위 패널 C43에 누설전류가 발생한 경우, 단위패널 C43에는 역전류가 흐르게 되며 따라서, 그라운드(GND)와 전원공급부(150) 사이에는 실선으로 도시한 바와 같은 전류경로가 생성 되고, 전류측정기(M)에 그 전류값이 표시된다.When the unit panel for which the leakage current is to be measured is C43 and a leakage current occurs in the unit panel C43, a reverse current flows in the unit panel C43. Thus, a solid line is shown between the ground GND and the
그런데, 상기와 같은 종래기술에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 인접한 단위 패널에서 동시에 누설전류가 발생하는 경우, 그 측정하고자 하는 단위 패널에 대하여 정확한 누설전류를 측정할 수 없다는 문제점이 있다.However, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the related art has a problem in that when the leakage current is generated simultaneously in adjacent unit panels, the accurate leakage current cannot be measured for the unit panel to be measured. .
예를 들어, 단위 패널 C43의 누설전류를 측정하고자 하는 경우에 인접한 단위 패널 C42 및 C53에서도 누설전류가 발생되었다고 한다면, 인접한 단위 패널 C42 및 C53에 의해 점선으로 표시한 바와 같은 전류경로가 생성되며, 전류측정기(M)에는 단위 패널 C43에 의해 발생된 누설전류와 단위 패널 C42 및 C53에 의해 발생된 누설전류가 합쳐진 값이 표시된다. 이러한 문제는 단위 패널 C43의 누설전류값을 정확하게 측정할 수 없도록 하는 원인이 된다. For example, if leakage current is also generated in adjacent unit panels C42 and C53 when the leakage current of the unit panel C43 is to be measured, a current path as indicated by a dotted line is generated by the adjacent unit panels C42 and C53. The current meter M displays the sum of the leakage current generated by the unit panel C43 and the leakage current generated by the unit panels C42 and C53. This problem causes the leakage current value of the unit panel C43 to not be measured accurately.
또한, 단위 패널 C43이 정상적으로 동작하는 경우에도 전류측정기(150)에는 단위 패널 C42 및 C53에 의한 누설 전류값이 표시되기 때문에, 측정하고자 하는 단위 패널 C43이 정상임에도 불구하고 불량인 것으로 판단하게 되는 원인이 된다.In addition, even when the unit panel C43 operates normally, since the leakage current values of the unit panels C42 and C53 are displayed on the
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 인접한 패널들의 누설전류 간섭을 제거하여 단위 패널의 누설전류를 정확하게 측정할 수 있는 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been made to solve the above problems, and provides a leakage current measuring device and a measuring method of a flat panel display substrate that can accurately measure the leakage current of the unit panel by eliminating the leakage current interference of adjacent panels For the purpose of
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 제1 실시 예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 있어서, 상기 복수의 데이터전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압을 인가하는 전원공급부; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 스캔전극 라인의 일단 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결되는 전류측정기를 포함하며, 상기 전원공급부는, 상기 공통접점으로 상기 제1 전압보다 높은 제2 전압을 인가하는 것을 특징으로 한다.A first embodiment of a device for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object is a plurality of unit panels arranged in a matrix form, unit panels of the same row of the plurality of unit panels An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of scan electrode lines electrically connecting a plurality of scan electrodes; and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. A power supply unit which applies a first voltage to an upper end of a data electrode line to which a unit panel to measure leakage current of the plurality of data electrode lines is connected; And a current meter connected at one end to a scan electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, the other end of which is connected to a common contact with one end of the remaining scan electrode line and the top of the remaining data electrode line. The power supply unit may apply a second voltage higher than the first voltage to the common contact.
여기서, 상기 전원공급부는, 상기 각각의 데이터전극 라인의 상단에 순차적으로 상기 제1 전압을 인가하고, 그 나머지 데이터전극 라인의 상단으로 상기 제2 전압을 인가하도록 구현될 수 있다.The power supply unit may be configured to sequentially apply the first voltage to the upper ends of the respective data electrode lines and to apply the second voltage to the upper ends of the remaining data electrode lines.
또한, 상기 전류측정기의 일단은, 상기 각각의 스캔전극 라인과 순차적으로 연결되도록 구현될 수도 있다.In addition, one end of the current meter may be implemented to be sequentially connected to each scan electrode line.
또한, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 상기 나머지 스캔전극 라인과 상기 공통접점 사이에 각각 직렬로 연결되는 복수의 제2 전류측정기 를 더 포함하도록 구현될 수도 있다.In addition, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate, may be implemented to further include a plurality of second current meter connected in series between the remaining scan electrode line and the common contact.
한편, 상기의 제1 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법에 있어서, 상기 복수의 스캔전극 라인의 일단을 공통접점으로 연결하는 단계; 상기 복수의 스캔전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인과 상기 공통접점 사이에 전류측정기를 직렬로 연결하는 단계; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압을 인가하며, 상기 공통접점으로 상기 제1 전압보다 높은 제2 전압을 인가하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법을 제공한다. 이때, 나머지 데이터전극 라인의 상단은 상기 공통접점에 연결되는 것이 바람직하다.On the other hand, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the first embodiment, a plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of electrically connecting unit panels of the same row (row) of the plurality of unit panels A method of measuring a leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of scan electrode lines; and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. Connecting one end of the to a common contact; Connecting a current meter in series between a scan electrode line connected to a unit panel of which a leakage current is to be measured and a common contact among the plurality of scan electrode lines; And applying a first voltage to an upper end of a data electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, and applying a second voltage higher than the first voltage to the common contact. Provides a current measurement method. At this time, the upper end of the remaining data electrode line is preferably connected to the common contact.
상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 각각의 데이터전극 라인의 상단에 순차적으로 상기 제1 전압을 인가하고, 그 나머지 데이터전극 라인의 상단으로 상기 제2 전압을 인가하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.The method of measuring a leakage current of the flat panel display substrate may further include applying the first voltage to the upper ends of the respective data electrode lines and the second voltage to the upper ends of the remaining data electrode lines. It is desirable to.
또는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 전류측정기의 일단을 상기 각각의 스캔전극 라인에 순차적으로 연결시키는 단계를 더 포함하도록 구현될 수도 있다.Alternatively, the leakage current measuring method of the flat panel display substrate may be implemented to further include connecting one end of the current measuring device to each of the scan electrode lines sequentially.
또는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 전류측정 기는 복수로 구비되며, 상기 각각의 스캔전극 라인과 상기 공통접점 사이에 각각 직렬로 연결되도록 구현될 수도 있다.Alternatively, the leakage current measuring method of the flat panel display substrate may include a plurality of current measuring devices, and may be implemented to be connected in series between each of the scan electrode lines and the common contact.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 제2 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 있어서, 상기 복수의 스캔전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 제1 전압을 인가하는 전원공급부; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 데이터전극 라인의 상단 및 나머지 스캔전극 라인의 일단과 공통접점으로 연결되는 전류측정기를 포함하며, 상기 전원공급부는, 상기 공통접점으로 상기 제1 전압보다 낮은 제2 전압을 인가하는 것을 특징으로 한다.According to a second embodiment of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention, a plurality of unit panels arranged in a matrix form and unit panels of a same row among the plurality of unit panels are provided. An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of scan electrode lines electrically connecting a plurality of scan electrodes; and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. A power supply unit which applies a first voltage to one end of a scan electrode line to which a unit panel to measure a leakage current of the plurality of scan electrode lines is connected; And a current measuring device having one end connected to an upper end of a data electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, the other end of which is connected to a common contact with an upper end of the remaining data electrode line and one end of the remaining scan electrode line. The power supply unit may apply a second voltage lower than the first voltage to the common contact.
여기서, 상기 전원공급부는 상기 각각의 스캔전극 라인의 일단에 순차적으로 상기 제1 전압을 인가하고, 그 나머지 스캔전극 라인의 일단으로 상기 제2 전압을 인가하는 것이 바람직하다.The power supply unit may sequentially apply the first voltage to one end of each scan electrode line, and apply the second voltage to one end of the remaining scan electrode lines.
또는, 상기 전류측정기의 일단은, 상기 각각의 데이터전극 라인의 상단과 순차적으로 연결되도록 구현될 수도 있다.Alternatively, one end of the current meter may be implemented to be sequentially connected to an upper end of each data electrode line.
또는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 상기 나머지 데 이터전극 라인과 상기 공통접점 사이에 각각 직렬로 연결되는 복수의 제2 전류측정기를 더 포함하도록 구현될 수도 있다.Alternatively, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate may be implemented to further include a plurality of second current measuring instruments connected in series between the remaining data electrode lines and the common contact.
한편, 상기의 제2 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법에 있어서, 상기 복수의 데이터전극 라인의 상단을 공통접점으로 연결하는 단계; 상기 복수의 데이터전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단과 상기 공통접점 사이에 전류측정기를 직렬로 연결하는 단계; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 제1 전압을 인가하며, 상기 공통접점으로 상기 제1 전압보다 낮은 제2 전압을 인가하는 단계를 포함하는 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법을 제공한다. 이때, 나머지 스캔전극 라인의 일단은 상기 공통접점에 연결되는 것이 바람직하다.On the other hand, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the second embodiment, a plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of electrically connecting unit panels of the same row (row) of the plurality of unit panels A method of measuring a leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of data electrode lines having a plurality of scan electrode lines and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. Connecting the top of the to a common contact; Connecting a current meter in series between an upper end of a data electrode line to which a unit panel to measure leakage current of the plurality of data electrode lines is connected and the common contact; And applying a first voltage to one end of a scan electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, and applying a second voltage lower than the first voltage to the common contact. Provides a current measurement method. At this time, one end of the remaining scan electrode line is preferably connected to the common contact.
여기서, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 각각의 스캔전극 라인의 일단에 순차적으로 상기 제1 전압을 인가하고, 그 나머지 스캔전극 라인의 일단으로 상기 제2 전압을 인가하는 단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.The method of measuring a leakage current of the flat panel display substrate may include applying the first voltage to one end of each scan electrode line sequentially and applying the second voltage to one end of the remaining scan electrode lines. It is preferable to further include.
또는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 전류측정기의 일단을 상기 각각의 데이터전극 라인의 상단에 순차적으로 연결시키는 단계를 더 포함할 수도 있다.Alternatively, the leakage current measuring method of the flat panel display substrate may further include sequentially connecting one end of the current meter to an upper end of each of the data electrode lines.
또는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법은, 상기 전류측정기는 복수로 구비되며, 상기 각각의 데이터전극 라인의 상단과 상기 공통접점 사이에 각각 직렬로 연결되도록 구현될 수도 있다.Alternatively, the leakage current measuring method of the flat panel display substrate may include a plurality of current measuring devices, and may be implemented to be connected in series between an upper end of each data electrode line and the common contact.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 제3 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 있어서, 제1 전압 및 상기 제1 전압보다 높은 제2 전압을 선택적으로 공급하는 전원공급부; 상기 복수의 데이터전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 상기 제1 전압이 인가되도록 하며, 나머지 데이터전극 라인 및 상기 복수의 스캔전극 라인으로 상기 제2 전압이 인가되도록 상기 전원공급부를 제어하는 제어부; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 스캔전극 라인 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결되는 전류측정기를 포함하는 것을 특징으로 한다.A third embodiment of the apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object is a plurality of unit panels arranged in a matrix form, unit panels of the same row of the plurality of unit panels An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of scan electrode lines electrically connecting a plurality of scan electrodes; and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. A power supply unit selectively supplying a first voltage and a second voltage higher than the first voltage; The first voltage is applied to an upper end of a data electrode line to which a unit panel for measuring leakage current among the plurality of data electrode lines is connected, and the second voltage is applied to the remaining data electrode lines and the plurality of scan electrode lines. A control unit controlling the power supply unit to be; And a current measuring device having one end connected to a scan electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, the other end of which is connected to a common contact with the upper ends of the remaining scan electrode lines and the remaining data electrode lines. .
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 제4 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 있어서, 제1 전압 및 상기 제1 전압보다 낮은 제2 전압을 선택적으로 공급하는 전원공급부; 상기 복수의 스캔전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 상기 제1 전압이 인가되도록 하며, 나머지 스캔전극 라인 및 상기 복수의 데이터전극 라인의 상단으로 상기 제2 전압이 인가되도록 상기 전원공급부를 제어하는 제어부; 및 상기 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 스캔전극 라인 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결되는 전류측정기를 포함하는 것을 특징으로 한다.According to a fourth embodiment of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object, a plurality of unit panels arranged in a matrix form and unit panels of a same row among the plurality of unit panels are provided. An apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate, comprising: a plurality of scan electrode lines electrically connecting a plurality of scan electrodes; and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels. A power supply unit selectively supplying a first voltage and a second voltage lower than the first voltage; The first voltage is applied to one end of a scan electrode line to which a unit panel to measure leakage current among the plurality of scan electrode lines is connected, and the second voltage is applied to the upper ends of the remaining scan electrode lines and the plurality of data electrode lines. A control unit controlling the power supply unit to be applied; And a current meter having one end connected to an upper end of a data electrode line to which the unit panel to measure the leakage current is connected, and the other end connected to a common contact with the other scan electrode line and the upper end of the remaining data electrode line. It is done.
이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법은 인접한 패널들의 누설전류 간섭을 제거하여 단위 패널의 누설전류를 정확하게 측정할 수 있도록 한다.As a result, the leakage current measuring apparatus and its measuring method of the flat panel display substrate according to the present invention can eliminate the leakage current interference of the adjacent panels to accurately measure the leakage current of the unit panel.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치 및 그 측정방법을 상세하게 설명한다.Hereinafter, an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate and a measuring method thereof according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 예를 개략적으로 도시한 블록도이며, 도 3은 도 2의 누설전류 측정장치의 회로도의 제1 실시예를 간략히 도시한 도면이다.FIG. 2 is a block diagram schematically illustrating an example of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention, and FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a first embodiment of a circuit diagram of the apparatus for measuring leakage current of FIG. 2.
도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(210)에는 매트릭스 형태로 복수의 단위 패널(220)이 배열되어 있으며, 복수의 단위 패널(220) 중 동일한 행(row)의 단위 패널은 복수의 스캔전극 라인(230)에 의해 전기적으로 연결되어 있고, 복수의 단위 패널(220) 중 동일한 열(column)의 단위 패널은 복수의 데이터전극 라인(240)에 의해 전기적으로 연결되어 있다. 여기서, 스캔전극 라인(230)과 데이터전극 라인(240)의 교차지점은 전기적으로 절연되어 있다.Referring to the drawings, a plurality of
상기와 같은 평판 디스플레이 기판(210)에 대하여, 전원공급부(250)는 복수의 데이터전극 라인(240) 중 측정대상 단위패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압을 인가한다. For the flat
또한, 전류측정기(260)는 복수의 스캔전극 라인(230) 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널 즉, 측정대상 단위패널이 연결된 스캔전극 라인에 일단이 연결되며, 그 타단은 나머지 스캔전극 라인의 일단 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결된다. 이때, 전원공급부(250)는 공통접점으로 제1 전압보다 높은 제2 전압을 인가한다. In addition, one end of the
그러나 전원공급부(250)가 공통접점에 제2 전압을 인가하는 대신에, 공통접점을 그라운드(GND)시키고, 제1 전압으로 음의 전압을 인가하도록 구현될 수도 있다.However, instead of applying the second voltage to the common contact, the
도 4는 도 3의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 의한 누설전류 측정방법을 나타낸 흐름도이다. 도면을 참조하여 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법을 상세하게 설명한다.4 is a flowchart illustrating a leakage current measuring method using the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate of FIG. 3. A leakage current measuring method of a flat panel display substrate according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
평판 디스플레이 기판의 누설전류를 측정하기 위하여, 먼저 각각의 스캔전극 라인의 일단을 공통접점으로 연결한다(S101). 그 후, 측정대상의 단위 패널(도 3에는 측정대상의 단위 패널을 C43으로 설정하였다)이 연결된 스캔전극 라인과 공통접점 사이에 전류측정기(260)를 직렬로 연결시킨다(S103).In order to measure the leakage current of the flat panel display substrate, first, one end of each scan electrode line is connected to a common contact (S101). Thereafter, the
다음에, 전원공급부(250)를 통하여 측정대상 단위 패널(C43)이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압을 인가한다(S105). 이때, 그 나머지 데이터전극 라인들의 상단은 전류측정기(260)의 타단과 공통접점으로 연결되며, 공통접점으로는 제1 전압보다 높은 제2 전압이 인가된다. Next, the first voltage is applied to the upper end of the data electrode line to which the measurement target unit panel C43 is connected through the power supply unit 250 (S105). In this case, the upper ends of the remaining data electrode lines are connected to the other end of the
만일, 측정대상의 단위패널 C43에서 누설전류가 발생한다고 가정하면, 저전압 전원공급부(250-1)와 고전압 전원공급부(250-2) 사이에는 실선과 같은 전류경로가 생성된다. 전류측정기(250)는 이때의 누설전류를 측정하여 표시한다.If a leakage current occurs in the unit panel C43 to be measured, a current path such as a solid line is generated between the low voltage power supply 250-1 and the high voltage power supply 250-2. The
만일, 측정대상의 단위패널 C43과, 인접한 단위 패널 C53에서 동시에 누설전류가 발생하였다고 가정하면, 인접한 단위 패널 C53에서 발생된 누설전류는 점선과 같은 전류경로를 생성시키며, 측정대상의 단위패널 C43에 대한 누설전류 측정값에는 전혀 영향을 미치지 않게 된다.If it is assumed that leakage currents are generated in the unit panel C43 and the adjacent unit panel C53 at the same time, the leakage current generated in the adjacent unit panel C53 generates a current path such as a dotted line. It has no effect on the measured leakage current.
또한, 전원공급부(250)가 연결된 데이터전극 라인 이외의 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통 접점 사이에는 전압강하가 발생되지 않으므로, 다른 인접한 단위 패널에 의한 전류경로는 생성되지 않는다.In addition, since a voltage drop does not occur between the upper end of the remaining data electrode lines other than the data electrode line to which the
이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 측정대상의 단위 패널에 대한 누설전류값을 정확하게 측정할 수 있게 된다.Thus, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention can accurately measure the leakage current value for the unit panel to be measured.
바람직하게는, 하나의 스캔전극 라인에 연결된 단위 패널들에 대하여 순차적 으로 누설전류를 측정하기 위하여, 전원공급부(260)는 복수의 데이터전극 라인에 대하여 순차적으로 제1 전압을 인가하며, 제1 전압이 인가되는 데이터전극 라인 이외의 나머지 데이터전극 라인은 전류측정기(250)의 타단과 공통접점으로 연결한다(S107).Preferably, in order to sequentially measure the leakage current with respect to the unit panels connected to one scan electrode line, the
또한, 하나의 데이터전극 라인에 연결된 단위 패널들에 대하여 순차적으로 누설전류를 측정하기 위하여, 전류측정기(250)의 일단은 복수의 스캔전극 라인과 순차적으로 연결한다(S109).In addition, in order to sequentially measure the leakage current of the unit panels connected to one data electrode line, one end of the
이때, 동일한 데이터전극 라인에 연결된 복수의 단위 패널에서 동시에 누설전류가 발생하는 경우를 위하여, 전류측정기(250)의 일단을 복수의 스캔전극 라인과 순차적으로 연결하는 대신에, 도 5에 도시한 바와 같이 각각의 스캔전극 라인과 공통접지 사이에 전류측정기를 각각 직렬로 연결할 수도 있다.In this case, in order to simultaneously generate leakage current in a plurality of unit panels connected to the same data electrode line, instead of sequentially connecting one end of the
도 6은 도 2의 누설전류 측정장치의 회로도의 다른 실시예를 간략히 도시한 도면이다.6 is a view schematically showing another embodiment of a circuit diagram of the leakage current measuring apparatus of FIG. 2.
도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(210)의 구조는 상술한 도 3의 경우와 동일하며, 이하 그 설명을 생략한다.Referring to the drawings, the structure of the flat
상기와 같은 평판 디스플레이 기판(210)에 대하여, 전원공급부(250)는 복수의 스캔전극 라인(230) 중 측정대상 단위패널이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 제1 전압을 인가한다. For the flat
또한, 전류측정기(260)는 복수의 데이터전극 라인(240) 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널 즉, 측정대상 단위패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단에 일단이 연결되며, 그 타단은 나머지 데이터전극 라인의 상단 및 나머지 스캔전극 라인의 일단과 공통접점으로 연결된다. 이때, 전원공급부(250)는 공통접점으로 제1 전압보다 낮은 제2 전압을 인가한다. In addition, one end of the
그러나 전원공급부(250)가 하나의 스캔전극 라인에 제1 전압을 인가하는 대신에, 그 스캔전극 라인을 그라운드(GND)시키고, 제1 전압으로 음의 전압을 인가하도록 구현될 수도 있다.However, instead of applying the first voltage to one scan electrode line, the
도 7은 도 6의 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치에 의한 누설전류 측정방법을 나타낸 흐름도이다. 도면을 참조하여 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정방법을 상세하게 설명한다.FIG. 7 is a flowchart illustrating a leakage current measuring method using the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate of FIG. 6. A leakage current measuring method of a flat panel display substrate according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
평판 디스플레이 기판의 누설전류를 측정하기 위하여, 먼저 각각의 데이터전극 라인의 상단을 공통접점으로 연결한다(S201). 그 후, 측정대상의 단위 패널(도 6에는 측정대상의 단위 패널을 C43으로 설정하였다)이 연결된 데이터전극 라인의 상단과 공통접점 사이에 전류측정기(260)를 직렬로 연결시킨다(S203).In order to measure the leakage current of the flat panel display substrate, first, an upper end of each data electrode line is connected to a common contact (S201). Thereafter, the
다음에, 전원공급부(250)를 통하여 측정대상 단위 패널(C43)이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 제1 전압을 인가한다(S205). 이때, 그 나머지 스캔전극 라인들의 일단은 전류측정기(260)의 타단과 공통접점으로 연결되며, 공통접점으로는 제1 전압보다 낮은 제2 전압이 인가된다.Next, the first voltage is applied to one end of the scan electrode line to which the measurement target unit panel C43 is connected through the power supply unit 250 (S205). At this time, one end of the remaining scan electrode lines is connected to the other end of the
만일, 측정대상의 단위패널 C43에서 누설전류가 발생한다고 가정하면, 저전압 전원공급부(250-1)와 고전압 전원공급부(250-2) 사이에는 실선과 같은 전류경로가 생성된다. 전류측정기(260)는 이때의 누설전류를 측정하여 표시한다.If a leakage current occurs in the unit panel C43 to be measured, a current path such as a solid line is generated between the low voltage power supply 250-1 and the high voltage power supply 250-2. The
이때, 측정대상의 단위패널 C43과 인접한 단위 패널 C53에서 동시에 누설전류가 발생하였다고 하더라도, 인접한 단위 패널 C53의 양단에는 전압차가 발생하지 않기 때문에, 측정대상의 단위패널 C43에 대한 누설전류 측정값에는 전혀 영향을 미치지 않게 된다.At this time, even if leakage current is simultaneously generated in the unit panel C43 and the adjacent unit panel C53 at the same time, voltage difference does not occur at both ends of the adjacent unit panel C53. It will not affect.
또한, 전원공급부(250)가 연결된 데이터전극 라인 이외의 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통 접지 사이에 불량 단위 패널이 존재하더라도 그 때의 누설전류 경로는 해당 데이터전극 라인을 향해 형성되기 때문에, 다른 인접한 단위 패널에 의한 전류경로는 측정하고자 하는 단위 패널의 누설전류 측정값에는 영향을 미치지 않는다.In addition, even if a defective unit panel exists between the upper end of the remaining data electrode lines other than the data electrode line to which the
이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 측정대상의 단위 패널에 대한 누설전류값을 정확하게 측정할 수 있게 된다.Thus, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention can accurately measure the leakage current value for the unit panel to be measured.
바람직하게는, 하나의 데이터전극 라인에 연결된 단위 패널들에 대하여 순차적으로 누설전류를 측정하기 위하여, 전원공급부(260)는 복수의 스캔전극 라인에 대하여 순차적으로 제1 전압을 인가하며, 제1 전압이 인가되는 스캔전극 라인 이외의 나머지 스캔전극 라인은 전류측정기(250)의 타단과 공통접점으로 연결한다(S207).Preferably, in order to sequentially measure leakage current with respect to unit panels connected to one data electrode line, the
또한, 하나의 스캔전극 라인에 연결된 단위 패널들에 대하여 순차적으로 누설전류를 측정하기 위하여, 전류측정기(250)의 일단은 복수의 데이터전극 라인과 순차적으로 연결한다(S209).In addition, in order to sequentially measure the leakage current of the unit panels connected to one scan electrode line, one end of the
이때, 동일한 스캔전극 라인에 연결된 복수의 단위 패널에서 동시에 누설전 류가 발생하는 경우를 위하여, 전류측정기(250)의 일단을 복수의 데이터전극 라인과 순차적으로 연결하는 대신에, 도 8에 도시한 바와 같이 각각의 데이터전극 라인과 공통접점 사이에 전류측정기를 각각 직렬로 연결할 수도 있다.In this case, in order to simultaneously generate leakage current in a plurality of unit panels connected to the same scan electrode line, instead of sequentially connecting one end of the
이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 각각의 단위 패널에 대하여 정확하게 누설전류를 측정하는 것이 가능하게 된다.Thus, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention can accurately measure the leakage current for each unit panel.
도 9는 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치의 다른 예를 개략적으로 도시한 블록도이다. 9 is a block diagram schematically showing another example of an apparatus for measuring leakage current of a flat panel display substrate according to the present invention.
도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는 전원공급부(250), 전류측정기(260), 및 제어부(270)를 포함한다.Referring to the drawing, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate includes a
전원공급부(250)는 제1 전압, 및 제1 전압보다 높은 제2 전압을 선택적으로 공급한다. The
제어부(270)는 상술한 바와 같은 평판 디스플레이 기판(210)에 대하여, 복수의 데이터전극 라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단으로 제1 전압이 인가되도록 하며, 나머지 데이터전극 라인 및 복수의 스캔전극 라인으로 제2 전압이 인가되도록 전원공급부(250)를 제어한다.The
전류측정기(260)는 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 스캔전극 라인에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 스캔전극 라인 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결된다.One end of the
이와 같은 구성과 달리, 전원공급부(250)는 제1 전압, 및 제1 전압보다 낮은 제2 전압을 선택적으로 공급하고, 제어부(27)는 평판 디스플레이 기판(210)에 대하 여, 복수의 스캔라인 중 누설전류를 측정하고자 하는 단위패널이 연결된 스캔전극 라인의 일단으로 제1 전압이 인가되도록 하며, 나머지 스캔전극 라인 및 복수의 데이터전극 라인의 상단으로 제2 전압이 인가되도록 전원공급부(250)를 제어하도록 구현될 수도 있다. Unlike this configuration, the
이 경우, 전류측정기(260)는 누설전류를 측정하고자 하는 단위 패널이 연결된 데이터전극 라인의 상단에 일단이 연결되며, 그 타단이 나머지 스캔전극 라인 및 나머지 데이터전극 라인의 상단과 공통접점으로 연결되는 것이 바람직하다.In this case, one end of the
이로써, 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 제어부(270)에 의한 자동적 회로구성이 가능하여진다.As a result, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate can be automatically configured by the
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대해서 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.Although the preferred embodiments of the present invention have been illustrated and described above, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and the present invention is not limited to the specific embodiments of the present invention without departing from the spirit of the present invention as claimed in the claims. Anyone skilled in the art can make various modifications, as well as such modifications are within the scope of the claims.
본 발명에 따르면, 공통전극 라인의 형태로 설계된 평판 디스플레이 기판에 대하여, 인접한 패널들에서 동시에 누설전류가 발생하더라도 인접한 단위 패널들 사이의 누설전류의 간섭을 제거하고 각각의 단위 패널들에 대하여 정확한 누설전류를 측정하는 것이 가능하게 된다.According to the present invention, for a flat panel display substrate designed in the form of a common electrode line, even if leakage currents occur in adjacent panels at the same time, the interference of leakage currents between adjacent unit panels is eliminated and accurate leakage for each unit panel is achieved. It is possible to measure the current.
또한, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 누설전류 측정장치는, 데이터전극 라인 각각에 대하여 순차적으로 전압을 인가하거나, 스캔전극 라인 각각에 대하여 전류측정기를 순차적으로 연결함으로써, 전체의 단위 패널에 대한 누설전류의 측정 및 불량여부의 검사를 정확하게 할 수 있다.In addition, the leakage current measuring apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention, by applying a voltage to each of the data electrode lines in sequence, or by connecting a current meter to each of the scan electrode lines in sequence, the leakage to the entire unit panel Current measurement and inspection of defects can be performed accurately.
Claims (11)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060032474A KR100798686B1 (en) | 2006-04-10 | 2006-04-10 | Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020060032474A KR100798686B1 (en) | 2006-04-10 | 2006-04-10 | Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20070101461A KR20070101461A (en) | 2007-10-17 |
KR100798686B1 true KR100798686B1 (en) | 2008-01-28 |
Family
ID=38816695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060032474A KR100798686B1 (en) | 2006-04-10 | 2006-04-10 | Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100798686B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110867151B (en) * | 2019-11-29 | 2022-07-05 | 合肥维信诺科技有限公司 | Display mother board, display panel and electronic leakage testing method |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5057775A (en) | 1990-05-04 | 1991-10-15 | Genrad, Inc. | Method of testing control matrices for flat-panel displays |
JP2002229056A (en) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | Electrode substrate for display device and its inspection method |
US6985340B2 (en) | 2003-03-07 | 2006-01-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device with protection circuit protecting internal circuit from static electricity |
-
2006
- 2006-04-10 KR KR1020060032474A patent/KR100798686B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5057775A (en) | 1990-05-04 | 1991-10-15 | Genrad, Inc. | Method of testing control matrices for flat-panel displays |
JP2002229056A (en) * | 2001-02-05 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | Electrode substrate for display device and its inspection method |
US6985340B2 (en) | 2003-03-07 | 2006-01-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor device with protection circuit protecting internal circuit from static electricity |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20070101461A (en) | 2007-10-17 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11475808B2 (en) | Liquid crystal display device, image display system and vehicle | |
US10670629B2 (en) | Display substrate, light-on device and method for testing alignment of light-on testing pin | |
US8643574B2 (en) | Imaging device | |
KR20070001583A (en) | Organic light emitting display array substrate for performing sheet unit test and testing method using the same | |
KR101587291B1 (en) | Integrated method of detecting an image defect in a liquid crystal screen | |
KR101050211B1 (en) | LED backlight driving device | |
CN209624721U (en) | Substrate detection apparatus | |
US20190059145A1 (en) | Method for testing led backlight | |
KR20060065528A (en) | Method and apparatus for inspecting array substrate | |
KR101405164B1 (en) | Touch display apparatus | |
KR101308456B1 (en) | Flat panel display device and method for testing the same and manufacturing method | |
KR100798686B1 (en) | Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same | |
US9905198B2 (en) | Display panel, optical sensor, and measurement method | |
KR100662994B1 (en) | Organic light emitting display and mother board of the same and testing method using the same | |
KR100752937B1 (en) | Inspection apparatus of a circuit substrate | |
JP2014202907A (en) | Planar display device and inspection method of the same | |
KR20040079823A (en) | Semiconductor device with protection circuit protecting internal circuit from static electricity | |
US7038646B2 (en) | Circuit arrangement for the voltage supply of a liquid crystal display device | |
KR20080092522A (en) | Inspection apparatus of a circuit substrate | |
KR20100119223A (en) | One sheet test device and test method | |
US9761162B2 (en) | Array substrate for display panel and method for inspecting array substrate for display panel | |
KR20070063310A (en) | Liquid crystal display panel having signal line testing pad and liquid crystal display having the same | |
KR100795780B1 (en) | Lighting test device for flat display panels | |
TW200419165A (en) | Apparatus and method for inspecting thin film transistor active matrix substrate | |
KR100401931B1 (en) | Non-contact quality test method of TFT cell array for flat board display using a working principle of capacitor |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
G170 | Publication of correction | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121212 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131216 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141215 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |