KR100795780B1 - Lighting test device for flat display panels - Google Patents

Lighting test device for flat display panels Download PDF

Info

Publication number
KR100795780B1
KR100795780B1 KR1020060032479A KR20060032479A KR100795780B1 KR 100795780 B1 KR100795780 B1 KR 100795780B1 KR 1020060032479 A KR1020060032479 A KR 1020060032479A KR 20060032479 A KR20060032479 A KR 20060032479A KR 100795780 B1 KR100795780 B1 KR 100795780B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
unit
electrode lines
unit panels
panel
panels
Prior art date
Application number
KR1020060032479A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20070101463A (en
Inventor
이계한
Original Assignee
네오뷰코오롱 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 네오뷰코오롱 주식회사 filed Critical 네오뷰코오롱 주식회사
Priority to KR1020060032479A priority Critical patent/KR100795780B1/en
Publication of KR20070101463A publication Critical patent/KR20070101463A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100795780B1 publication Critical patent/KR100795780B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607—Circuits therefor
    • G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
    • G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
    • G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
    • G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
    • G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
    • G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/10—OLED displays
    • H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치가 개시된다. 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서, 복수의 데이터전극 라인의 양단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가하는 전원공급부를 포함하며, 복수의 스캔전극 라인의 양단은 공통으로 접지된 것을 특징으로 한다.Disclosed is a panel lighting inspection apparatus for a flat panel display substrate. Panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate according to the present invention, a plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of scan electrode lines for electrically connecting unit panels of the same row of the plurality of unit panels, and a plurality of 1. A panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of the same column among unit panels of the device panel, wherein the same magnitude of voltage is applied across the plurality of data electrode lines. It includes a power supply for applying a, characterized in that both ends of the plurality of scan electrode lines are commonly grounded.

평판 디스플레이 기판, 패널점등, 데이터전극 라인, 스캔전극 라인 Flat Panel Display, Panel Lighting, Data Electrode Line, Scan Electrode Line

Description

평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치{Lighting test device for flat display panels}Lighting test device for flat display panels

도 1은 종래의 기술에 따른 매트릭스형 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도,1 is a circuit diagram for detecting a lighting failure of a matrix type flat panel display substrate according to the prior art,

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등불량 검출을 위한 회로도,2 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a first embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도, 3 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a second exemplary embodiment of the present invention;

도 4는 도 3의 다른 실시예를 나타낸 도면, 그리고4 is a view showing another embodiment of FIG. 3, and

도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도이다.5 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a third exemplary embodiment of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

110, 210, 310, 410 : 평판 디스플레이 기판 110, 210, 310, 410: flat panel display substrate

120, 220, 320, 420 : 단위 패널       120, 220, 320, 420: unit panel

130, 230, 330, 430 : 스캔전극 라인 130, 230, 330, 430: scan electrode line

140, 240, 340, 440 : 데이터전극 라인       140, 240, 340, 440: data electrode line

150, 250, 350, 450 : 전원공급부150, 250, 350, 450: power supply

360 : 제1 보상회로부 370 : 제2 보상회로부360: first compensation circuit unit 370: second compensation circuit unit

본 발명은 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 각 패널들에 인가되는 전압차에 의해 발생되는 휘도 편차를 제거하여 패널의 점등검사를 정확하게 실시할 수 있는 평판 디스플레이 기판에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate, and more particularly, to a flat panel display substrate capable of accurately performing lighting inspection of a panel by removing a luminance deviation caused by a voltage difference applied to each panel. It is about.

일반적으로, 휴대폰을 포함한 이동통신 단말기, 디지털 카메라 모듈 등 각종 소형 전자기기에는 STN(Super-Twisted Nematic)-LCD, PM(Passive Matrix)-OLED 등 수동 매트릭스형 평판 디스플레이 패널(Flat Display Panel : FDP)이 널리 이용되고 있다.In general, a variety of small electronic devices such as mobile communication terminals including digital phones, digital camera modules, and passive matrix flat panel displays (STDP) such as Super-Twisted Nematic (STN) -LCD, Passive Matrix (PM) -OLED, etc. This is widely used.

평판 디스플레이 기판은 디스플레이 소자의 단위 패널들이 매트릭스 형태로 배열되고, 데이터 라인과 스캔 라인 간에 교차되는 지점에 인가되는 전압 차이가 단위 셀의 문턱전압(threshold voltage)을 넘을 경우에 그 셀은 발광하게 되며, 이때 흐르는 전류의 양에 따라 출력하는 빛의 양이 변하게 된다. 반대로, 문턱전압을 넘지 못한 셀의 경우 발광을 하지 않거나 눈에 보이지 않을 정도의 미소한 빛을 내게 된다.In the flat panel display substrate, the unit panels of the display element are arranged in a matrix, and the cell emits light when the voltage difference applied to the intersection point between the data line and the scan line exceeds the threshold voltage of the unit cell. At this time, the amount of light output changes according to the amount of current flowing. On the contrary, the cells that do not exceed the threshold voltage do not emit light or emit light that is invisible to the eye.

제조 공정이 완료된 평판 디스플레이 기판에 대하여는 각각의 단위 패널의 점등을 검사하여 불량 여부를 판단한다. For the flat panel display substrate on which the manufacturing process is completed, the lighting of each unit panel is inspected to determine whether there is any defect.

도 3은 종래의 기술에 따른 매트릭스형 평판 디스플레이 기판의 패널점등 불량 검출을 위한 회로도를 나타낸다. 3 is a circuit diagram for detecting a panel lighting failure of a matrix type flat panel display substrate according to the prior art.

도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(110)에는 단위 패널(120)이 매트릭스 형태로 배열되어 있으며, 복수의 단위 패널(120) 중 동일한 행(row)의 단위 패널은 스캔전극 라인(130)을 통하여 전기적으로 연결되고, 복수의 단위 패널(120) 중 동일한 열(column)의 단위 패널은 데이터전극 라인(140)을 통하여 전기적으로 연결되어 있다. 이때, 각각의 단위 패널(120)들 사이에는 라인저항이 발생되며, 도면에는 스캔전극 라인(130)의 라인저항을 RC로, 데이터전극 라인(140)의 라인저항을 RR로 나타내었다.Referring to the drawings, the unit panels 120 are arranged in a matrix form on the flat panel display substrate 110, and the unit panels of the same row among the plurality of unit panels 120 are connected to each other through the scan electrode lines 130. The unit panels of the same column among the plurality of unit panels 120 are electrically connected through the data electrode line 140. In this case, line resistance is generated between the unit panels 120, and the line resistance of the scan electrode line 130 is represented by RC, and the line resistance of the data electrode line 140 is represented by RR.

일반적으로, 상기와 같은 평판 디스플레이 기판(110)의 단위 패널들(120)의 점등을 검사할 경우, 전원공급부(140)는 데이터전극 라인(140)의 상단에 연결되어 양의 전압을 공급하며, 스캔전극 라인(130)의 일단은 공통으로 접지되어 있다.In general, when checking the lighting of the unit panels 120 of the flat panel display substrate 110 as described above, the power supply unit 140 is connected to the upper end of the data electrode line 140 to supply a positive voltage, One end of the scan electrode line 130 is commonly grounded.

그런데, 상기와 같은 종래 기술에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 단위 패널(120)과 단위 패널(120) 사이의 라인저항 때문에 단위 패널에 인가되는 전압에 차이가 발생하고, 그 전압 차에 의해 휘도 편차가 발생하여 정상적인 단위 패널의 점등 검사를 할 수 없게 된다.However, in the panel lighting inspection apparatus of the conventional flat panel display substrate as described above, a difference occurs in the voltage applied to the unit panel due to the line resistance between the unit panel 120 and the unit panel 120, the voltage difference As a result, luminance deviation occurs, and it is impossible to check the lighting of the normal unit panel.

예를 들어, 단위 패널(120)의 스캔전극 라인(130)의 일단을 접지(GND)시키고, 데이터전극 라인(140)의 상단에 양의 전압 Vcc를 인가할 경우, 전원공급부(150)에서 가까운 단위 패널 C51의 구동전압은 Vcc-GND로 높은 전압이 인가되지 만, 전원에서 먼 단위 패널 C16의 구동전압은 Vcc-GND-4ㅧRRㅧIc-5ㅧRCㅧIr로 매우 낮은 전압이 인가된다. 따라서 단위 패널(120)의 불량 검출을 위한 패널의 점등 검사를 수행할 경우, 높은 전압이 인가되어 고휘도로 발광하는 단위 패널 C51는 불량 검출이 용이하지만, 낮은 전압이 인가되어 저휘도로 발광하는 단위 패널 C16은 불량을 검출하기가 쉽지 않다. 여기서, Ic는 단위 패널(120)의 열(column)을 따라 흐르는 열전류(column current)이며, Ir은 단위 패널(120)의 행(row)을 따라 흐르는 행전류(row current)이다. For example, when one end of the scan electrode line 130 of the unit panel 120 is grounded (GND) and a positive voltage Vcc is applied to the upper end of the data electrode line 140, the power supply unit 150 is close to the power supply unit 150. The driving voltage of the unit panel C51 is Vcc-GND, but the driving voltage of the unit panel C16 far from the power supply is Vcc-GND-4 ㅧ RR ㅧ Ic-5 ㅧ RC ㅧ Ir. . Therefore, when the lighting test of the panel for detecting the failure of the unit panel 120 is performed, the unit panel C51 that emits light with high brightness due to high voltage is easily detected, but the unit that emits light with low brightness with low voltage is applied. Panel C16 is not easy to detect faults. Here, Ic is a column current flowing along a column of the unit panel 120, and Ir is a row current flowing along a row of the unit panel 120.

전원공급부(150)가 데이터전극 라인(140)의 상단으로 양의 전압 Vcc을 인가할 경우에, 주요 패널에 인가되는 구동전압은 다음과 같다.When the power supply unit 150 applies the positive voltage Vcc to the upper end of the data electrode line 140, the driving voltage applied to the main panel is as follows.

■ 단위패널 C51의 구동전압 : Vcc-GND■ Driving voltage of unit panel C51: Vcc-GND

■ 단위패널 C56의 구동전압 : Vcc-GND-5×RC×Ir■ Driving voltage of unit panel C56: Vcc-GND-5 × RC × Ir

■ 단위패널 C11의 구동전압 : Vcc-GND-4×RR×Ic■ Driving voltage of unit panel C11: Vcc-GND-4 × RR × Ic

■ 단위패널 C16의 구동전압 : Vcc-GND-4×RR×Ic-5×RC×Ir■ Driving voltage of unit panel C16: Vcc-GND-4 × RR × Ic-5 × RC × Ir

■ 단위패널 C34의 구동전압 : Vcc-GND-2×RR×Ic-3×RC×Ir■ Driving voltage of unit panel C34: Vcc-GND-2 × RR × Ic-3 × RC × Ir

이와 같이, 종래의 기술에 따른 평판 디스플레이 기판에서는 각 단위패널마다 서로 다른 구동전압이 걸리게 되며, 구동전압의 차이에 따라 휘도의 밝기는 서로 달라지게 된다. 이러한 휘도 편차는 패널의 점등 불량검출을 정상적으로 실시할 수 없도록 하는 원인이 된다.As described above, in the flat panel display substrate according to the related art, different driving voltages are applied to each unit panel, and brightness of the luminance is changed according to the difference of the driving voltages. This luminance deviation causes the panel to fail to detect poor lighting.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, 각 단위 패널들에 인가되는 전압차에 의해 발생되는 휘도 편차를 제거하여 패널의 점등 검사를 정확하게 실시할 수 있도록 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention was devised to solve the above problems, and the panel lighting of the flat panel display substrate to accurately perform the lighting test of the panel by eliminating the luminance deviation caused by the voltage difference applied to each unit panel It is an object to provide an inspection apparatus.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 제1 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서, 상기 복수의 데이터전극 라인의 양단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가하는 전원공급부를 포함하며, 상기 복수의 스캔전극 라인의 양단은 공통접점으로 연결되는 것을 특징으로 한다. 여기서, 상기 공통접점에는 제2의 전압이 인가되거나 그라운드(GND)될 수 있다.A first embodiment of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object is to electrically connect a plurality of unit panels arranged in a matrix form, unit panels of the same row of the plurality of unit panels; A panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of scan electrode lines and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels, wherein the plurality of data electrodes It includes a power supply for applying the same amount of voltage to both ends of the line, characterized in that both ends of the plurality of scan electrode lines are connected by a common contact. In this case, a second voltage may be applied to the common contact or grounded.

바람직하게는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 상기 각각의 데이터전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 보상회로부를 더 포함한다.Preferably, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate further comprises a compensation circuit unit for adjusting the voltage applied to each data electrode line.

바람직하게는, 상기의 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 상기 각각의 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 보상회로부를 더 포함한다.Preferably, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate further comprises a compensation circuit unit for adjusting the voltage applied to each scan electrode line.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 제2 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서, 상기 복수의 데이터전극 라인의 양단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가하는 전원공급부; 상기 각각의 데이터전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제1 보상회로부; 및 상기 각각의 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제2 보상회로부를 포함하는 것을 특징으로 한다.A second embodiment of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object is to electrically connect a plurality of unit panels arranged in a matrix form, unit panels of the same row of the plurality of unit panels; A panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of scan electrode lines and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels, wherein the plurality of data electrodes A power supply unit applying a positive voltage having the same magnitude to both ends of the line; A first compensation circuit unit controlling a voltage applied to each of the data electrode lines; And a second compensation circuit unit configured to adjust a voltage applied to each of the scan electrode lines.

여기서, 상기 제1 보상회로부 및 상기 제2 보상회로부는, 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 각각의 데이터전극 라인 및 상기 각각의 스캔전극 라인의 전압을 조절하는 것이 바람직하다.The first compensation circuit unit and the second compensation circuit unit may adjust the voltages of the data electrode lines and the scan electrode lines so that the same driving voltage is applied to the unit panels.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 제3 실시예는, 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서, 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 각각의 데이터전극 라인의 양단 및 상기 각각의 스캔전극 라인의 양단으로 독립적인 전압을 인가하는 전원공급부를 포함한다. A third embodiment of a flat panel display substrate according to the present invention for achieving the above object is to electrically connect a plurality of unit panels arranged in a matrix form, unit panels of the same row of the plurality of unit panels; A panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of scan electrode lines and a plurality of data electrode lines electrically connecting unit panels of a same column among the plurality of unit panels, wherein each unit panel is provided. And a power supply unit configured to apply independent voltages to both ends of each of the data electrode lines and both ends of each of the scan electrode lines so that the same driving voltage is applied thereto.

이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 각 단위 패널들에 인가되는 전압차에 의해 발생되는 휘도 편차를 줄여 패널의 점등 검사를 정확하게 실시할 수 있도록 한다.Accordingly, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention, it is possible to accurately perform the lighting inspection of the panel by reducing the luminance deviation caused by the voltage difference applied to each unit panel.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치의 구성 및 작용을 상세하게 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration and operation of the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention.

도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도이다. 2 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a first exemplary embodiment of the present invention.

도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(210)에는 단위 패널(220)이 매트릭스 형태로 배열되어 있으며, 복수의 단위 패널(220) 중 동일한 행(row)의 단위 패널은 스캔전극 라인(230)을 통하여 전기적으로 연결되고, 복수의 단위 패널(220) 중 동일한 열(column)의 단위 패널은 데이터전극 라인(240)을 통하여 전기적으로 연결되어 있다. 이때, 각각의 단위 패널(220)들 사이에는 라인저항이 발생되며, 도면에는 스캔전극 라인(230)의 라인저항을 RC로, 데이터전극 라인(240)의 라인저항을 RR로 나타내었다.Referring to the drawings, the unit panels 220 are arranged in a matrix form on the flat panel display substrate 210, and the unit panels of the same row among the plurality of unit panels 220 are connected through the scan electrode lines 230. The unit panels of the same column among the plurality of unit panels 220 are electrically connected through the data electrode line 240. In this case, line resistance is generated between the unit panels 220, and the line resistance of the scan electrode line 230 is represented by RC, and the line resistance of the data electrode line 240 is represented by RR.

복수의 단위 패널(220) 중의 각각의 단위 패널에 대한 점등을 검사하기 위하여, 전원공급부(250)는 복수의 데이터전극 라인(240)의 양단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가한다. 이때, 복수의 스캔전극 라인(230)의 양단은 공통접점으로 연결된다. 이 공통접점은 그라운드(GND)에 연결되거나, 별도의 제2 전압이 인가될 수 있다.In order to check the lighting of each unit panel of the plurality of unit panels 220, the power supply unit 250 applies the same amount of voltage to both ends of the plurality of data electrode lines 240. In this case, both ends of the plurality of scan electrode lines 230 are connected to a common contact. The common contact may be connected to the ground GND, or a separate second voltage may be applied.

이와 같은 구성을 통하여 전원공급부(250)와 그라운드(GND) 사이에는 최소의 저항을 가지는 전류 경로가 형성되며, 이로써 각각의 단위 패널의 구동전압 편차는 줄어들게 된다. 예를 들어, 단위 패널 C51을 살펴보면, 단위 패널 C51은 전원공급부(250)에 의해 데이터전극 라인의 상단으로 인가된 양의 전압(Vcc)과 그라운드(GND) 사이의 전압 차로 구동되므로, 그 구동전압은 Vcc - GND로 나타낼 수 있다. Through such a configuration, a current path having a minimum resistance is formed between the power supply unit 250 and the ground GND, thereby reducing the driving voltage variation of each unit panel. For example, referring to the unit panel C51, the unit panel C51 is driven by the voltage difference between the positive voltage Vcc and the ground GND applied by the power supply 250 to the upper end of the data electrode line. Can be expressed as Vcc-GND.

또한, 단위 패널 C11을 살펴보면, 단위 패널 C11은 전원공급부(250)에 의해 데이터전극 라인의 하단으로 인가된 양의 전압(Vcc)에서 RR ㅧ Ic 만큼 전압 강하된 값과 그라운드(GND) 사이의 전압 차로 구동되므로, 그 구동전압은 Vcc - GND - 1ㅧ RRㅧ Ic로 나타낼 수 있다.In addition, referring to the unit panel C11, the unit panel C11 may have a voltage between the ground voltage GND and the value dropped by RR ㅧ Ic from the positive voltage Vcc applied by the power supply unit 250 to the lower end of the data electrode line. Since it is driven by a difference, its driving voltage can be expressed as Vcc-GND-1 k RR k Ic.

상기와 같은 방법으로, 복수의 단위 패널(220) 중 몇 개의 주요 단위 패널에 대한 구동전압을 살펴보면 다음과 같다.As described above, the driving voltages of several main unit panels of the plurality of unit panels 220 are as follows.

· 단위 패널 C51 : Vcc - GND - 0× RR× Ic - 0× RC× IrUnit panel C51: Vcc-GND-0 × RR × Ic-0 × RC × Ir

· 단위 패널 C56 : Vcc - GND - 0× RR× Ic - 0× RC× IrUnit panel C56: Vcc-GND-0 × RR × Ic-0 × RC × Ir

· 단위 패널 C11 : Vcc - GND - 1× RR× Ic - 0× RC× IrUnit panel C11: Vcc-GND-1 × RR × Ic-0 × RC × Ir

· 단위 패널 C16 : Vcc - GND - 1× RR× Ic - 0× RC× IrUnit panel C16: Vcc-GND-1 × RR × Ic-0 × RC × Ir

· 단위 패널 C34 : Vcc - GND - 2× RR× Ic - 2× RC× IrUnit panel C34: Vcc-GND-2 × RR × Ic-2 × RC × Ir

· 단위 패널 C54 : Vcc - GND - 0× RR× Ic - 2× RC× IrUnit panel C54: Vcc-GND-0 × RR × Ic-2 × RC × Ir

· 단위 패널 C14 : Vcc - GND - 1× RR× Ic - 2× RC× IrUnit panel C14: Vcc-GND-1 × RR × Ic-2 × RC × Ir

이로써, 본 발명의 제1 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 종래의 기술에 비하여 각 단위 패널의 구동전압의 편차를 줄일 수 있게 되며, 이로써 각 단위 패널의 휘도 편차를 줄일 수 있게 된다.Accordingly, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate according to the first embodiment of the present invention can reduce the deviation of the driving voltage of each unit panel compared to the prior art, thereby reducing the luminance deviation of each unit panel Will be.

도 3은 본 발명의 제2 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도이다. 3 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a second exemplary embodiment of the present invention.

도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(310)에는 단위 패널(320)이 매트릭스 형태로 배열되어 있으며, 복수의 단위 패널(320) 중 동일한 행(row)의 단위 패널은 스캔전극 라인(330)을 통하여 전기적으로 연결되고, 복수의 단위 패널(420) 중 동일한 열(column)의 단위 패널은 데이터전극 라인(340)을 통하여 전기적으로 연결되어 있다.Referring to the drawings, the unit panels 320 are arranged in a matrix form on the flat panel display substrate 310, and the unit panels of the same row among the plurality of unit panels 320 are formed through the scan electrode lines 330. The unit panels of the same column among the plurality of unit panels 420 are electrically connected through the data electrode line 340.

복수의 단위 패널(320) 중의 각각의 단위 패널에 대한 점등을 검사하기 위하여, 전원공급부(350)는 복수의 데이터전극 라인(340)의 양단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가한다. 이때, 복수의 스캔전극 라인(330)의 양단은 공통으로 접지된다.In order to check the lighting of each unit panel of the plurality of unit panels 320, the power supply unit 350 applies the same amount of voltage to both ends of the plurality of data electrode lines 340. At this time, both ends of the plurality of scan electrode lines 330 are commonly grounded.

또한, 각각의 데이터전극 라인(340)과 전원공급부(350) 사이에는 데이터전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제1 보상회로부(360)가 마련되며, 각각의 스캔전극 라인(330)과 그라운드(GND) 사이에는 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제2 보상회로부(370)가 마련된다.In addition, a first compensation circuit unit 360 for controlling a voltage applied to the data electrode line is provided between each data electrode line 340 and the power supply unit 350, and each scan electrode line 330 and ground ( A second compensation circuit unit 370 is provided between the GNDs to adjust the voltage applied to the scan electrode line.

이때, 제1 보상회로부(360) 및 제2 보상회로부(370)는, 각각의 단위패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 각각의 데이터전극 라인으로 인가되는 전압 및 각각의 스캔전극 라인으로 인가되는 전압을 조절한다. 이와 같은 전압의 조절은, 전원공급부(350)에 의해 인가되는 전압을 전압강하시킴으로써 구현될 수 있다.At this time, the first compensation circuit unit 360 and the second compensation circuit unit 370 are applied to each data electrode line and the voltage applied to each scan electrode line such that the same driving voltage is applied to each unit panel. Adjust Such adjustment of the voltage may be implemented by dropping the voltage applied by the power supply 350.

도면에는 제1 보상회로부(360) 및 제2 보상회로부(370)가 동시에 마련된 것으로 도시하였지만, 이에 한정된 것은 아니며, 평판 디스플레이 기판(310)은 제1 보상회로부(360) 및 제2 보상회로부(370) 중의 어느 하나만을 구비함으로써, 각각의 단위패널에 인가되는 구동전압을 조절할 수도 있다.Although the first compensation circuit unit 360 and the second compensation circuit unit 370 are provided at the same time, the present invention is not limited thereto. The flat panel display substrate 310 may include the first compensation circuit unit 360 and the second compensation circuit unit 370. By providing only one of?), The driving voltage applied to each unit panel can be adjusted.

또한, 도면에는 스캔전극 라인의 양단 및 데이터전극 라인의 양단에 각각 제1 보상회로부(360) 및 제2 보상회로부(370)가 연결된 것으로 도시하였지만, 이에 한정된 것은 아니며, 데이터전극 라인의 어느 일단에만 제1 보상회로부(360)가 연결하거나, 스캔전극 라인의 어느 일단에만 제2 보상회로부(370)가 연결함으로써, 각각의 단위패널에 인가되는 구동전압을 조절할 수도 있다.In addition, although the first compensation circuit unit 360 and the second compensation circuit unit 370 are respectively connected to both ends of the scan electrode line and both ends of the data electrode line, the present invention is not limited thereto. The driving voltage applied to each unit panel may be adjusted by connecting the first compensation circuit unit 360 or connecting the second compensation circuit unit 370 only at one end of the scan electrode line.

이와 같은 구성에 의해 구동되는 단위패널의 구동전압을 몇 가지 예시하면 다음과 같다.Some examples of the driving voltage of the unit panel driven by such a configuration are as follows.

· 단위 패널 C51 : Vcc - GND - 0×RR×Ic - 0×RC×Ir - R11×Ic - R25×IrUnit panel C51: Vcc-GND-0 x RR x Ic-0 x RC x Ir-R11 x Ic-R25 x Ir

· 단위 패널 C56 : Vcc - GND - 0×RR×Ic - 0×RC×Ir - R16×Ic - R25×IrUnit panel C56: Vcc-GND-0 x RR x Ic-0 x RC x Ir-R16 x Ic-R25 x Ir

· 단위 패널 C11 : Vcc - GND - 1×RR×Ic - 0×RC×Ir - R11×Ic - R21×IrUnit panel C11: Vcc-GND-1 x RR x Ic-0 x RC x Ir-R11 x Ic-R21 x Ir

· 단위 패널 C16 : Vcc - GND - 1×RR×Ic - 0×RC×Ir - R16×Ic - R21×IrUnit panel C16: Vcc-GND-1 x RR x Ic-0 x RC x Ir-R16 x Ic-R21 x Ir

· 단위 패널 C34 : Vcc - GND - 2×RR×Ic - 2×RC×Ir - R14×Ic - R23×IrUnit panel C34: Vcc-GND-2 x RR x Ic-2 x RC x Ir-R14 x Ic-R23 x Ir

· 단위 패널 C54 : Vcc - GND - 0×RR×Ic - 2×RC×Ir - R14×Ic - R25×IrUnit panel C54: Vcc-GND-0 x RR x Ic-2 x RC x Ir-R14 x Ic-R25 x Ir

· 단위 패널 C14 : Vcc - GND - 1×RR×Ic - 2×RC×Ir - R14×Ic - R21×IrUnit panel C14: Vcc-GND-1 x RR x Ic-2 x RC x Ir-R14 x Ic-R21 x Ir

이로써, 각각의 단위패널에 인가되는 구동전압은 보상회로부에 의해 조절되어 그 편차가 줄어들게 된다.As a result, the driving voltage applied to each unit panel is adjusted by the compensation circuit unit to reduce the deviation.

도 4는 도 3의 다른 실시예를 나타낸 도면이다. 즉, 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 도 3과 같은 점등불량 검출회로에 제어부(380)를 연결한 구성으로 구현될 수 있다.4 is a diagram illustrating another embodiment of FIG. 3. That is, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate may be implemented by connecting the controller 380 to the lighting failure detection circuit as shown in FIG. 3.

이때, 제어부(380)는 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 각각의 보상회로부(360, 370)를 제어하여 각각의 스캔전극 라인(330) 또는 각각의 데이터전극 라인(340)에 인가되는 전압을 조절시킨다. 이로써, 본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는 제어부(380)에 의한 자동제어에 따라 각각의 스캔전극 라인(330) 및/또는 데이터전극 라인(340)에 인가되는 전압을 조절할 수 있게 된다. 이때, 도면에는 나타내지 않았지만, 평판 디스플레이 기판의 스캔전극 라인(330) 또는 데이터전극 라인(340)으로 인가되는 전압을 측정하고, 측정된 값에 의해 각각의 보상회로부(360, 370)를 피드백(feedback) 제어하기 위한 별도의 회로가 추가될 수 있다.At this time, the controller 380 controls the respective compensation circuit units 360 and 370 to be applied to each scan electrode line 330 or each data electrode line 340 so that the same driving voltage is applied to each unit panel. Adjust the voltage. Accordingly, the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention can adjust the voltage applied to each scan electrode line 330 and / or data electrode line 340 under the automatic control by the control unit 380. do. In this case, although not shown in the drawing, the voltage applied to the scan electrode line 330 or the data electrode line 340 of the flat panel display substrate is measured, and the respective compensation circuit units 360 and 370 are fed back based on the measured values. A separate circuit for control may be added.

도 5는 본 발명의 제3 실시예에 따른 평판 디스플레이 기판의 점등 불량 검출을 위한 회로도이다. 5 is a circuit diagram for detecting lighting failure of a flat panel display substrate according to a third exemplary embodiment of the present invention.

도면을 참조하면, 평판 디스플레이 기판(410)에는 단위 패널(420)이 매트릭스 형태로 배열되어 있으며, 복수의 단위 패널(420) 중 동일한 행(row)의 단위 패널은 스캔전극 라인(430)을 통하여 전기적으로 연결되고, 복수의 단위 패널(420) 중 동일한 열(column)의 단위 패널은 데이터전극 라인(440)을 통하여 전기적으로 연결되어 있다.Referring to the drawings, the unit panels 420 are arranged in a matrix form on the flat panel display substrate 410, and the unit panels of the same row among the plurality of unit panels 420 are formed through the scan electrode lines 430. The unit panels of the same column among the plurality of unit panels 420 are electrically connected through the data electrode line 440.

또한, 전원공급부(450)는 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도 록, 각각의 스캔전극 라인(430)의 양단 및 각각의 데이터전극 라인(440)의 양단으로 독립적인 전압을 인가한다. In addition, the power supply unit 450 applies independent voltages to both ends of each scan electrode line 430 and both ends of each data electrode line 440 so that the same driving voltage is applied to each unit panel.

이 경우, 도 4에 도시한 바와 같은 별도의 제어부(380)를 구비하고, 전원공급부(450)는 제어부(380)의 제어에 의해 각각의 스캔전극 라인(430)의 양단 및 각각의 데이터전극 라인(440)의 양단으로 독립적인 전압을 인가하도록 구현될 수도 있다.In this case, a separate control unit 380 as shown in FIG. 4 is provided, and the power supply unit 450 is controlled at both ends of each scan electrode line 430 and each data electrode line under control of the control unit 380. It may be implemented to apply an independent voltage across 440.

이로써, 각각의 스캔전극 라인(430) 및 데이터전극 라인(440)으로 인가되는 전압을 조절할 수 있게 되어, 도 3의 경우와 동일한 효과를 얻을 수 있게 된다.As a result, the voltages applied to the scan electrode lines 430 and the data electrode lines 440 can be adjusted, thereby obtaining the same effects as in the case of FIG. 3.

이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대해서 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.Although the preferred embodiments of the present invention have been illustrated and described above, the present invention is not limited to the specific embodiments described above, and the present invention is not limited to the specific embodiments of the present invention without departing from the spirit of the present invention as claimed in the claims. Anyone skilled in the art can make various modifications, as well as such modifications are within the scope of the claims.

본 발명에 따른 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치는, 각 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록 함으로써, 각 단위패널의 휘도편차를 줄일 수 있게 되어 결과적으로 패널의 점등 검사를 정확하게 실시할 수 있도록 한다.In the panel lighting inspection apparatus of the flat panel display substrate according to the present invention, by applying the same driving voltage to each unit panel, it is possible to reduce the luminance deviation of each unit panel, so that it is possible to accurately perform the lighting test of the panel. .

Claims (8)

매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서,A plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of scan electrode lines electrically connecting unit panels of the same row among the plurality of unit panels, and unit panels of the same column among the plurality of unit panels In the panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of data electrode lines for electrically connecting the 상기 복수의 데이터전극 라인의 각각의 양쪽 단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가하는 전원공급부를 포함하며,A power supply unit for applying an equal amount of voltage to both ends of each of the plurality of data electrode lines; 상기 복수의 스캔전극 라인의 각각의 양쪽 단은 공통접점으로 연결되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And both ends of each of the plurality of scan electrode lines are connected to a common contact point. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 각각의 데이터전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 보상회로부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a compensation circuit unit for adjusting a voltage applied to each of the data electrode lines. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 각각의 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 보상회로부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a compensation circuit unit for adjusting a voltage applied to each of the scan electrode lines. 제2항 또는 제3항에 있어서,The method according to claim 2 or 3, 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 각각의 데이터전극 라인 또는 상기 각각의 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a controller configured to adjust a voltage applied to each of the data electrode lines or the respective scan electrode lines so that the same driving voltage is applied to each of the unit panels. . 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서,A plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of scan electrode lines electrically connecting unit panels of the same row among the plurality of unit panels, and unit panels of the same column among the plurality of unit panels In the panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of data electrode lines for electrically connecting the 상기 복수의 데이터전극 라인의 각각의 양쪽 단으로 동일한 크기의 양의 전압을 인가하는 전원공급부; A power supply unit applying a positive voltage having the same magnitude to both ends of each of the plurality of data electrode lines; 상기 각각의 데이터전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제1 보상회로부; 및A first compensation circuit unit controlling a voltage applied to each of the data electrode lines; And 상기 각각의 스캔전극 라인에 인가되는 전압을 조절하는 제2 보상회로부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a second compensation circuit unit configured to adjust a voltage applied to each of the scan electrode lines. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 제1 보상회로부 및 상기 제2 보상회로부는, 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 각각의 데이터전극 라인 및 상기 각각의 스캔전극 라인의 전압을 조절하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.The first compensation circuit unit and the second compensation circuit unit, the flat panel display, characterized in that for adjusting the voltage of each of the data electrode line and each scan electrode line so that the same driving voltage is applied to each unit panel. Panel lighting inspection device of the board. 제 5항에 있어서, The method of claim 5, 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 제1 보상회로부 및 상기 제2 보상회로부를 제어하여 상기 각각의 데이터전극 라인 및 상기 각각의 스캔전극 라인의 전압을 조절하는 제어부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a controller configured to control the voltages of the data electrode lines and the scan electrode lines by controlling the first compensation circuit unit and the second compensation circuit unit so that the same driving voltage is applied to each unit panel. Panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate, characterized in that. 매트릭스 형태로 배열된 복수의 단위 패널, 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 행(row)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 스캔전극 라인, 및 상기 복수의 단위 패널 중 동일한 열(column)의 단위 패널을 전기적으로 연결하는 복수의 데이터전극 라인을 구비한 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치에 있어서,A plurality of unit panels arranged in a matrix form, a plurality of scan electrode lines electrically connecting unit panels of the same row among the plurality of unit panels, and unit panels of the same column among the plurality of unit panels In the panel lighting inspection apparatus of a flat panel display substrate having a plurality of data electrode lines for electrically connecting the 상기 각각의 단위 패널에 동일한 구동전압이 인가되도록, 상기 각각의 데이터전극 라인의 양단 및 상기 각각의 스캔전극 라인의 양단으로 독립적인 전압을 인가하는 전원공급부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 기판의 패널점등 검사장치.And a power supply unit configured to apply independent voltages to both ends of each of the data electrode lines and both ends of each of the scan electrode lines so that the same driving voltage is applied to each of the unit panels. Panel lighting inspection device.
KR1020060032479A 2006-04-10 2006-04-10 Lighting test device for flat display panels KR100795780B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060032479A KR100795780B1 (en) 2006-04-10 2006-04-10 Lighting test device for flat display panels

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060032479A KR100795780B1 (en) 2006-04-10 2006-04-10 Lighting test device for flat display panels

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20070101463A KR20070101463A (en) 2007-10-17
KR100795780B1 true KR100795780B1 (en) 2008-01-21

Family

ID=38816696

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060032479A KR100795780B1 (en) 2006-04-10 2006-04-10 Lighting test device for flat display panels

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100795780B1 (en)

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01217397A (en) * 1988-02-25 1989-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for inspecting performance of liquid crystal display panel
KR20030087699A (en) * 2002-05-09 2003-11-15 엘지전자 주식회사 Organic Electro Luminescent Module and Aging Method for the same
KR20030090502A (en) * 2002-05-21 2003-11-28 윈테스트 가부시키가이샤 Inspection method and inspection device for active matrix substrate, inspection program used therefor, and information storage medium
KR20040042151A (en) * 2002-11-13 2004-05-20 주식회사 엘리아테크 Machine concept for the OELD Panel Aging Process
KR20040090618A (en) * 2003-04-18 2004-10-26 지 . 텍 (주) Organic electroluminescence device tester
JP2005242162A (en) * 2004-02-27 2005-09-08 Seiko Epson Corp Measuring device, compensation data generator, inspecting device, information recording medium, measuring method, compensation data generation method and inspection method
KR20060014794A (en) * 2004-08-12 2006-02-16 삼성에스디아이 주식회사 Inspection apparatus of display panel
KR20060017586A (en) * 2003-05-12 2006-02-24 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 Active matrix panel inspection device, inspection method, and active matrix oled panel manufacturing method

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01217397A (en) * 1988-02-25 1989-08-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for inspecting performance of liquid crystal display panel
KR20030087699A (en) * 2002-05-09 2003-11-15 엘지전자 주식회사 Organic Electro Luminescent Module and Aging Method for the same
KR20030090502A (en) * 2002-05-21 2003-11-28 윈테스트 가부시키가이샤 Inspection method and inspection device for active matrix substrate, inspection program used therefor, and information storage medium
KR20040042151A (en) * 2002-11-13 2004-05-20 주식회사 엘리아테크 Machine concept for the OELD Panel Aging Process
KR20040090618A (en) * 2003-04-18 2004-10-26 지 . 텍 (주) Organic electroluminescence device tester
KR20060017586A (en) * 2003-05-12 2006-02-24 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션 Active matrix panel inspection device, inspection method, and active matrix oled panel manufacturing method
JP2005242162A (en) * 2004-02-27 2005-09-08 Seiko Epson Corp Measuring device, compensation data generator, inspecting device, information recording medium, measuring method, compensation data generation method and inspection method
KR20060014794A (en) * 2004-08-12 2006-02-16 삼성에스디아이 주식회사 Inspection apparatus of display panel

Also Published As

Publication number Publication date
KR20070101463A (en) 2007-10-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2473104C2 (en) Liquid crystal display and method of checking said display
JP4566075B2 (en) Liquid crystal display device and driving method thereof
KR20190136882A (en) Display panel and driving method of the display panel
US20170053577A1 (en) Judging Method of Array Test Reliability, Testing Method and Device of Organic Light Emitting Backplane
CN109410807B (en) Drive circuit and display panel
KR102549004B1 (en) Lighting test device, lighting test method and lighting test system
US9298055B2 (en) Array substrate, method of disconnection inspecting gate lead wire and source lead wire in the array substrate, method of inspecting the array substrate, and liquid crystal display device
KR101050211B1 (en) LED backlight driving device
KR20140113469A (en) Systems and methods for real-time monitoring of displays during inspection
US20190059145A1 (en) Method for testing led backlight
KR102450337B1 (en) Display device and method of inspecting the same
KR20060065528A (en) Method and apparatus for inspecting array substrate
US20190311663A1 (en) Substrate, panel, detection device and alignment detection method
KR102103840B1 (en) System and method of testing organic light emitting display device capable of testing automatically contact between probe and pad
KR100795780B1 (en) Lighting test device for flat display panels
KR100752937B1 (en) Inspection apparatus of a circuit substrate
KR100662994B1 (en) Organic light emitting display and mother board of the same and testing method using the same
CN113466252A (en) Display panel, detection method of display panel and display device
KR102317069B1 (en) Array test device and array test method for display device
WO2019205432A1 (en) Driving system and driving method for display device, and display device
CN107064773B (en) ATE voltage testing system and ATE voltage test method
JP2011169992A (en) Light emitting device, electronic device, device and method for inspecting light emitting panel, and method for canceling voltage drop of the light emitting device
KR102281948B1 (en) Micro Display and Test Method thereof
KR100798686B1 (en) Leakage current measuring device for flat display substrate and a measuring method using the same
US9761162B2 (en) Array substrate for display panel and method for inspecting array substrate for display panel

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20121212

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131216

Year of fee payment: 7

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141215

Year of fee payment: 8

LAPS Lapse due to unpaid annual fee