KR100792088B1 - 지문 대조 장치 및 지문 센서 - Google Patents

지문 대조 장치 및 지문 센서 Download PDF

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KR100792088B1
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유사꾸 후지이
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후지쯔 가부시끼가이샤
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Abstract

본 발명은, 피인증자가 예를 들어 손가락에 과도한 힘을 가하거나 손가락을 끌거나 돌림으로써 지문 판독면 상에 놓여진 손가락을 의도적으로 왜곡시키는지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛(9)을 포함하는 지문 대조 장치에 관한 것이다. 이러한 구성에 의해, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 들어오는 것을 방지할 수 있으므로, 정확한 지문 대조 확률을 높일 수 있다.
피인증자, 지문 판독면, 지문 왜곡 검출 유닛, 지문 화상, 지문 대조 장치

Description

지문 대조 장치 및 지문 센서{FINGERPRINT MATCHING APPARATUS AND FINGERPRINT SENSOR}
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 지문 대조 장치의 하드웨어 구성을 개략적으로 도시한 블록도.
도 2a 내지 도 2c는 본 발명의 실시예에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 하드웨어 구성의 일례를 각각 개략적으로 도시한 블록도로서, 특히 도 2a는 필름 왜곡량 검출 유닛을 도시하고, 도 2b는 압력 검출 유닛을 도시하고, 도 2c는 유리판 이동량 검출 유닛을 도시한 도면.
도 3은 본 발명의 일실시예에서 여권 판독기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 4는 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 5는 지문 검출 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 6은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 7은 타이머 감시 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 8은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 9는 지문 검색 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 10은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 11은 타이머 감시 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 12는 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 13은 지문 왜곡 검출 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 14는 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 15는 지문 센서에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 16은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 17은 지문 검색 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 18은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 19는 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 20은 제어기에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 21은 통지 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 22는 압력 검출 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 23은 압력 검출 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도시하는 흐름도.
도 24는 (필름 왜곡량에 따른) 본 발명의 일실시예에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 측면을 도시한 외관도.
도 25는 (필름 왜곡량에 따른) 지문 왜곡 검출 유닛의 상면을 도시한 외관도.
도 26a 및 도 26b는 본 발명의 일실시예에 사용되는 필름의 상면을 도시하는 외관도.
도 27은 (유리판 압력에 따른) 본 발명의 일실시예에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 측면을 도시한 외관도.
도 28은 (유리판 압력에 따른) 지문 왜곡 검출 유닛의 상면을 도시한 외관도.
도 29는 (유리판 이동량에 따른) 본 발명의 일실시예에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 측면을 도시한 외관도.
도 30은 (유리판 이동량에 따른) 지문 왜곡 검출 유닛의 상면을 도시한 외관도.
도 31은 (지문-센서 이동량에 따른) 본 발명에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 측면을 도시한 외관도.
도 32는 (지문-센서 이동량에 따른) 지문 왜곡 검출 유닛의 하면을 도시한 외관도.
도 33은 (지문-센서 압력에 따른) 본 발명의 일실시예에 따른 지문 왜곡 검출 유닛의 측면을 도시한 외관도.
도 34는 (지문-센서 압력에 따른) 지문 왜곡 검출 유닛의 하면을 도시한 외 관도.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
1: 타이머 감시 유닛
2: 여권 판독기
3: 제어기
4: 지문 검색 유닛
5: 통지 유닛
6: 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스
7: 지문 화상 버퍼 메모리
8: 지문 센서
9: 지문 왜곡 검출 유닛
10: 모니터
[특허 문헌1] 일본 특개평11-225998호 공보
[특허 문헌2] 일본 특개2003-058870호 공보
1. 발명 분야
본 발명은 지문 대조 장치에 관한 것이며, 보다 구체적으로는 피인증자(대상 자)가 지문 대조가 실패하기를 원해서 의도적으로 지문을 왜곡시키는 것을 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛을 포함하는 지문 대조 장치에 관한 것이다.
2. 관련 기술의 설명
최근, 각국의 출입국 심사가 엄격해졌다. 근래에는, 생체 인식(biometrics)을 이용하는 엄격한 출입국 심사의 발상이 제안되었다. 이 발상은 입국자 또는 이주자의 얼굴 및 지문의 화상을 획득하고 생체 인식 인증을 이용하여 그 입국자 또는 이주자가 블랙리스트에 있는 사람인지를 판단한다. 또한, 얼굴 및 지문과 같은 생체 인식 데이터가 입국자 또는 이주자의 인증에 따라 기록되는 IC 칩을 여권에 매립하여, 그 IC 칩 내의 데이터를 참조하여 여권 소지자를 엄격히 증명하는 다른 기술이 제안되어 왔다. 또한, 전자 여권은 기계에 의해서 판독될 수 있기 때문에, 신속한 셀프-서비스 출입국 심사를 제안하였으며, 이 출입국 심사는 무인으로 부쓰 내의 여권을 판독하는 기계를 입국자 또는 이주자가 동작시켜 얼굴 또는 지문 화상을 입력함으로써 수행된다. 그러한 무인 출입국 심사가 수행될 경우, 여권 소지자를 확인하여 그 여권 소지자를 블랙리스트 상의 사람과 대조하는 것이 중요시되고 있다.
종래에 지문 대조의 정밀도를 개선하기 위한 여러가지 기술이 제안되어 왔다.
예를 들면, 피인증자가 지문 대조 장치의 지문 판독면에 손가락을 너무 약하거나 너무 강하게 누르는 경우, 정확한 지문 화상을 얻을 수 없다. 해결책으로는, 손가락으로 지문 판독면에 일정한 압력을 가했을 때에 지문을 판독하는 기술이 있 다(특허 문헌 1).
피인증자의 신체 부분을 판독 위치에 유지하도록 하여, 피인증자가 대조 매칭 유닛의 조작에 익숙하지 않은 경우라도 생체 데이터를 양호하게 판독하도록 하는 또 다른 기술이 공개되어 있다(특허 문헌 2).
종래에는, 지문 대조 장치 유닛이 신분 확인을 위해 사용되었으나, 피인증자가 지문 대조를 수행하고, 어떤 이유로 인해 본인 확인이 되지 않으면, 다시 지문 대조를 시도하거나 신분 확인을 위해 다른 방법을 취한다. 피인증자 자신이 지문 대조시의 실패에 의해 불이익을 겪게 되기 때문에, 종래의 지문 대조 장치 유닛은 지문 대조가 성공하도록 피인증자에게 지문 대조 장치 유닛의 지문 판독면 상에 손가락을 다시 올려달라고 요청한다.
한편, 종래의 지문 대조 유닛을 블랙리스트 상의 사람을 찾는데 사용할 경우, 피인증자의 지문 화상이 블랙리스트에 이미 보유되어 있는 임의의 지문 화상과 동일한 지의 여부를 정확하게 판정하는 것이 중요하다. 피인증자가 실제로 블랙리스트 상의 사람이라면, 지문 대조에 성공하는 것, 즉 블랙 리스트 상의 사람이라고 판정되는 것은 본인에게는 바람직하지 못한 것이다. 따라서, 피인증자가 지문을 왜곡함으로써 고의로 지문 대조를 실패하게 할 가능성이 있다. 그러나, 지문 대조 유닛은 대조 능력에 한계가 있으므로, 피인증자에 의한 고의적인 지문 왜곡에 의해 지문 대조 실패 가능성이 높아지게 된다. 지문 대조가 실패하면, 피인증자는 블랙리스트 상의 사람이 아니라고 판정된다. 이 경우, 지문 대조 유닛은 피인증자가 블랙리스트 상의 사람임에도 찾는데 실패하게 된다.
발명의 개요
본 발명의 목적은 피인증자가 손가락을 지문 판독면에 부적절하게 놓은 것을 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛을 지문 대조 장치에 설치함으로써 이러한 종래 기술의 문제점을 해결하는 것이다. 지문 대조 장치의 존재는, 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓은 경우, 손가락을 다시 놓도록 요청하거나 제3자에게 통지하는 것을 가능하게 한다. 결과적으로, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 유입하는 것을 방지할 수 있으며, 블랙리스트 상의 사람을 찾아낼 확률을 높일 수 있다.
제1 주요 특징으로서, 지문 센서의 지문 판독면 상에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하여, 그 지문 화상을 이미 등록된 지문 화상과 대조하기 위한 지문 대조 장치로서: 손가락이 상기 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절히 놓여 있는지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛; 및 지문 왜곡 검출 유닛에 의한 검출 결과가 부정이면, 그 검출 결과를 제3자에게 통지하기 위한 통지 유닛을 포함하는 지문 대조 장치가 제공된다. 결과적으로, 피인증자의 손가락이 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛이 지문 대조 장치에 설치되어 있기 때문에, 그 장치는 손가락을 다시 놓도록 요청하거나 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓았을 경우, 손가락이 부적절하게 놓였음을 제3자에게 통지한다. 또한, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 유입하는 것을 방지할 수 있으며, 그 지문 대조 유닛은 그러한 왜곡된 지문 화상에 대해 지문 대조를 수행하는 시간을 소 모할 필요가 없으므로 장치의 작업능력을 개선할 수 있다.
제2 주요 특징으로서, 지문 센서의 지문 판독면 상에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하여, 그 지문 화상을 미리 등록된 지문 화상과 대조하기 위한 지문 대조 장치로서: 손가락의 이동에 의해 야기되는, 손가락 이동에 따라 이동하는 부재의 이동량을 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛; 및 지문 왜곡 검출 유닛에 의해 검출된 이동량이 소정값보다 크거나 같으면, 부재의 이동량이 소정값보다 크거나 같음을 제3자에게 통지하기 위한 통지 유닛을 포함하는 지문 대조 장치가 제공된다. 결과적으로, 피인증자의 손가락이 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는 지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛이 지문 대조 장치에 설치되어 있기 때문에, 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓으면, 그 장치는 손가락을 다시 놓으라고 요청하거나, 부적절한 손가락 놓임을 제3자에게 통지한다. 또한, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 유입하는 것을 방지할 수 있기 때문에, 지문 대조 유닛은 왜곡된 지문 화상에 대해 지문 대조를 수행할 시간을 소모할 필요가 없으므로, 장치의 작업 능력을 향상시킬 수 있다.
제3 주요 특징으로서, 지문 센서의 지문 판독면 상에 놓여진 손가락의 지문 화상(제1 지문 화상)을 판독하여 그 지문 화상을 미리 등록되어 있는 지문 화상과 대조하기 위한 지문 대조 장치로서: 손가락이 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛; 블랙리스트 상의 사람들의 하나 이상의 지문 화상(제2 지문 화상)을 보유하기 위한 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스; 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스에 보유되어 있는 제2 지문 화상으로 부터 제1 지문 화상과 동일한 지문 화상을 검색하기 위한 지문 검색 장치; 및 지문 왜곡 검출 유닛에 의한 검출 결과가 부정이거나 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스가 제1 지문 화상과 동일한 지문 화상을 보유하고 있다면, 지문 왜곡 검출 유닛에 의한 검출 결과가 부정이거나 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스가 제1 지문 화상과 동일한 지문 화상을 보유하고 있음을 제3자에게 통지하기 위한 통지 유닛을 포함하는 지문 대조 장치가 제공된다. 결과적으로, 피인증자의 손가락이 지문 판독면 강에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛이 지문 대조 장치에 설치되어 있기 때문에, 지문 대조 장치는 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓거나, 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스가 피인증자의 지문 화상과 동일한 지문 화상을 보유하고 있는 경우를 제3자에게 통지할 수 있다. 또한, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 유입하는 것을 방지할 수 있어서, 블랙리스트 상의 사람을 찾을 확률을 높일 수 있다.
제4 주요 특징으로서, 손가락이 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛을 포함하는, 지문 판독면 상의 지문 화상을 판독하기 위한 지문 센서가 제공된다. 이 지문 왜곡 검출 유닛에 있어서, 왜곡된 지문 화상 획득 확률을 지문 센서에 의해 줄일 수 있다.
바람직한 주요 특징으로서, 지문 왜곡 검출 유닛에 의한 검출 결과가 부정이면, 지문 왜곡 유닛은 손가락이 적절히 놓여져 있지 않은 것으로 판단된 횟수가 소정수보다 작거나 같은지를 판단하여, 그 판단 결과가 긍정이면, 지문 판독면 상에 손가락을 다시 놓도록 한다. 이러한 방식으로, 지문 대조 장치의 조작에 익숙하지 않은 피인증자를 의도적으로 손가락을 부적절하게 올려 놓고 있는 사람과 구별할 수 있다.
또 다른 바람직한 특징으로서, 지문 왜곡 검출 유닛이 소정 시간 내에 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있음을 검출하는데 성공하지 못하면, 지문 센서는 그 손가락의 지문 화상을 더 이상 판독하지 않는다. 이는 피인증자에게 소정 시간 내에 손가락을 적절히 놓도록 한다.
부가적인 바람직한 특징으로서, 지문 왜곡 검출 유닛은 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 고정되고, 손가락의 이동을 검출하기 위해 왜곡량 검출용 패턴이 부착되어 있는 투명 탄성 필름을 구비하고; 지문 왜곡 검출 유닛은 패턴의 이동량을 측정하여 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절히 놓여 있는지의 여부를 판단한다. 이러한 구성에 의해, 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가하면, 왜곡량 검출용 패턴이 변형되고, 그 변형을 관찰하면 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판단할 수 있다.
다른 바람직한 특징으로서, 지문 왜곡 검출 유닛은 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 반고정되어 있고, 손가락의 이동을 검출하기 위해 손가락의 이동량 검출용 패턴이 부착되어 있는 투명 필름을 구비하며; 지문 왜곡 검출 유닛은 패턴의 이동량을 측정하여 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 판단한다. 이러한 구성에 의해, 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가하면, 손가락의 이동량을 검철하는 패턴이 투명 필름을 따라 움직이게 된다. 그러므로, 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부는 이동량을 검출하는 패턴의 이동량을 측정함으로써 판단될 수 있다.
또 다른 바람직한 특징으로서, 지문 왜곡 유닛은 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 반고정되어 있는 투명 필름을 구비하고, 손가락에 의해 투명 필름에 가해지는 압력을 측정하여 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 판단한다. 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가한다면, 그 압력은 힘 적용에 따라서 변하므로, 압력 변동을 측정함으로써 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판단할 수 있다.
또 다른 바람직한 특징으로서, 지문 센서는 마운트에 반고정되고, 손가락의 이동을 검출하기 위해 이동량 검출용 패턴을 구비하며; 지문 왜곡 검출 유닛은 패턴의 이동량을 측정하여 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 판단한다. 이러한 구성에 의해, 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가하면, 지문 센서는 탄성체 상에 고정되어 있기 때문에 이동하게 되며, 이동량 검출용 패턴은 지문 센서의 이동에 따라 이동하게 된다. 이동량 검출용 패턴을 측정하면 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 검출할 수 있다.
또 다른 바람직한 특징으로서, 지문 센서는 마운트에 반고정되며; 지문 왜곡 검출 유닛은 손가락에 의해 지문 센서에 가해진 압력을 측정하여, 손가락이 지문 센서의 지문 판독면 상에 적절하게 놓여 있는지의 여부를 판단한다. 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가하면, 그 압력은 힘 적용에 따라서 변하므로, 압력 변동을 측정함으로써 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판단할 수 있다.
지문 대조 유닛은 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 부적절하게 놓았는 지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛을 포함한다. 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓았음을 지문 대조 장치가 검출하면, 그 장치는 손가락을 다시 놓도록 요청하거나, 손가락이 부적절하게 놓여 있음을 제3자에게 통지할 수 있다. 또한, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치로 유입하는 것을 방지할 수 있으므로, 블랙리스트의 사람을 찾아낼 확률을 높일 수 있다.
본 발명의 다른 목적 및 다른 특징들은 첨부 도면을 참조하여 다음의 상세한 설명을 읽어보면 명백해 질 것이다.
<실시예>
이제, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 여러가지 바람직한 실시예를 설명할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예를 개략적으로 도시한 블록도이다. 본 발명의 지문 대조 장치는 피인증자가 손가락을 놓고 정지하기(안정적으로 고정하기)까지의 시간 주기를 측정하기 위한 타이머 감시 유닛(1)과, 피인증자의 여권을 판독하기 위한 여권 판독기(2)와, 피인증자에게 동작 명령과 같은 메시지를 디스플레이하기 위한 모니터(10)와, 피인증자가 의도적으로 지문을 왜곡시키는지의 여부를 검출하기 위한 지문 왜곡 검출 유닛(9)과, 피인증자의 지문 화상을 획득하기 위한 지문 센서(8)와, 블랙리스트 상의 사람들의 지문 화상을 보유하고 있는 블랙리스트 지문 화상 DB(6)에서 지문 센서(8)에 의해 획득된 것과 동일한 지문 화상을 검색하기 위한 지문 검색 유닛(4)과, 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시켰음을 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 검출하거나, 지문 검색 유닛(4)이 블랙리스트 지문 화상 DB(6)에 보유되어 있는 지문 화상에서 피인증자의 것과 동일한 지문 화상을 찾은 경우, 그 사실을 제3자에게 통지하기 위한 통지 유닛(5), 및 타이머 감시 유닛(1), 여권 판독기(2), 모니터(10), 지문 왜곡 검출 유닛(9), 지문 센서(8), 지문 검색 유닛(4) 및 통지 유닛(5)에 접속되어 있는 제어기(3)를 구비한다.
(A) 제1 실시예:
이제, 제1 실시예에 따른 지문 대조 장치를 첨부 도면을 참조하여 기술할 것이다.
먼저, 여권 판독기(2)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 3을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S001에서, 여권 판독기(2)가 피인증자의 여권을 판독했는지의 여부를 여권 판독기(2)에서 판단한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 여권이 판독되어 처리 단계는 단계 S002로 진행한다. 반대로, 판단 결과가 부정이면, 여권 판독기(2)는 그 여권이 판독되었음을 제어기(3)에 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
단계 S002에서, 여권 판독기(2)는 제어기(3)에 여권이 판독되었음을 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 4를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S003에서, 제어기(3)는 여권 판독기(2)가 여권이 판독되었음을 제어기(3)에 통지했는지의 여부를 판단한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 여권이 판독되었기 때문에 처리 단계는 단계 S004로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S003으로 진행한다.
제어기(3)는 모니터(10) 상에 명령 메시지를 디스플레이하여, 피인증자에게 지문 판독면 상에 손가락을 놓도록 하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 지문 왜곡 검출 유닛(9)을 기술할 것이다.
지문을 고의로 왜곡시킬 의도의 경우, 피인증자는 융선(ridge)을 지우기 위해 손가락에 과도한 힘을 가하거나, 손가락을 끌거나 돌린다. 피인증자의 손가락(손가락 끝)의 피부가 왜곡되면, 지문 센서는 왜곡 지문 화상을 획득하게 되어, 지문 대조 실패를 야기하게 된다. 그러므로, 그러한 대조 실패를 피하기 위해서는, 지문 센서가 왜곡된 지문 화상을 캡쳐하는 것을 방지해야 한다. 해결책으로서, 지문의 의도적인 왜곡이 검출될 수 있도록 피인증자가 손가락끝에 과도한 힘을 가했는지의 여부를 판단한다.
이제 지문 왜곡 검출 유닛(9)의 구성을 각각 지문 왜곡 검출 유닛(9)의 측면 및 상면을 도시하는 도 24 및 도 25를 참조하여 기술할 것이다.
도 25에 도시된 바와 같이, 탄성 투명 필름(41)의 4개의 모퉁이를 고정 다리(42)로 고정한다. 체크 무늬의 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)이 탄성 투명 필름(41) 상에 부분적으로 인쇄된다.
도 24에 도시된 바와 같이, 탄성 투명 필름(41)을 지문 판독면에 밀착시키는 것이 아니라, 그 필름과 지문 판독면 간에 공간을 형성하기 위해 고정 다리에 의해 고정된다. 그러한 공간은 피인증자가 필름(41) 상에 손가락을 놓은 경우 이동이 그 탄성 투명 필름(41)의 왜곡을 달성하여 손가락 이동을 검출하기 위해 생성된다. 그러나, 필름과 지문 판독면 간의 공간은 광선의 난반사 및 굴절율의 부정합으로 인해 명료한 지문 화상을 획득할 수 없게 한다. 해결책으로서, 공간을 굴절율 정합제(46)로 채워, 탄성 투명 필름(41)의 비평탄 표면(uneven surface)을 통과한 광의 난반사를 방지함으로써, 명료한 지문 화상을 획득할 수 있다.
필름 왜곡량 검출 유닛(43)은 필름 왜곡량 검출용 패턴(47) 바로 밑에 배치된다. 필름 왜곡량 검출 유닛(43)은 도 2a에 도시된 바와 같이, 광학 렌즈 유닛(11), 촬상 소자(12), 메모리(13), 산술 연산자(14) 및 제어기(15)를 구비한다. 촬상 소자(12)는 광학 렌즈 유닛(11)을 통해 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)의 화상을 촬영하고, 그 획득된 화상을 메모리(13)에 저장한다. 산술 연산자(14)는 메모리(13)에 저장된 화상에 대해 대조 산술 연산과 같은 다양한 산술 연산을 수행한다. 이러한 연산들은 제어기(15)의 제어하에서 수행된다.
피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓을 때, 탄성 투명 필름(41)은 필름(41)과 지문 판독면 사이의 공간의 존재로 인해 변형된다. 그 변형은 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 적절히 놓았는지의 여부에 관해 판단하는데 이용된다. 피인증자가 손가락을 적절하게 놓은 경우, 투명 필름(41)은 많이 변형되지 않으므로, 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)도 많이 변형되지 않는다. 그러나, 피인증자가 손가락끝에 큰 힘을 가하여 끌거나 돌림으로써 고의로 지문을 왜곡시키면, 투명 필름(41)은 크게 왜곡되고 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)도 크게 변형하게 된다. 예를 들어, 피인증자가 손가락을 앞으로 끌면, 투명 필름(41)은 손가락끝 방향으로 당겨져서 도 26a에 도시된 바와 같이 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)을 이동 및 왜곡 시킨다. 피인증자가 손가락끝을 돌리면, 도 26b에 도시된 바와 같이 필름 왜곡량 검출용 패턴(47)을 왜곡 및 이동시킨다.
이제, 지문 왜곡 검출 유닛에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 5를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S005에서, 촬상 소자(12)는 시간 t에서의 필름 왜곡량을 검출하기 위해 획득된 패턴 Pt(x, y)을 획득하고, 단계 S006으로 진행한다.
다음 단계 S006에서, 촬상 소자(12)는 필름 왜곡량을 검출하기 위해 획득된 패턴 Pt(x, y)을 메모리(13)에 저장하고, 처리 단계 S007로 진행한다.
단계 S007에서, 산술 연산자(14)는 각각 시간 t 및 t-1에서 획득된 필름 왜곡량 검출용 패턴 Pt(x, y) 및 Pt-1(x, y)에 대해 대조 산술 연산을 수행하여, 시간 t와 t-1 사이의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)을 판정한다. 이어서, 처리 단계는 단계 S008로 진행한다. 그 대조 산술 연산의 결과로부터 시간 t와 t-1 간의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 이동량을 얻을 수 있다.
단계 S008에서, 산술 연산자(14)는 시간 t와 t-1 간의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)이 (0, 0)과 같은지(즉, (ΔXt, ΔYt) = (0, 0)인지)를 판단한다. 지문 판독면 상에 피인증자의 손가락을 놓으면 필름을 왜곡시키게 되어 필름 왜곡량 검출용 패턴을 변형시킨다. 그 변형으로 인해 (ΔXt, ΔYt)의 값이 변경하게 된다. 값 (ΔXt, ΔYt)이 0으로부터 변경하는 순간을 피인증자가 지 문 판독면 상에 손가락을 놓은 상태로 판단한다. 판단 결과가 부정이면, 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓았음을 의미하며, 그 처리 단계는 단계 S009로 진행한다. 반대로, 판단 결과가 긍정이면, 처리 단계는 단계 S005로 돌아간다.
단계 S009에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)에 타이머의 시작을 통지한다. 제1 실시예에서, 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓은 후 소정 시간 이상 걸린다면, 지문 센서는 피인증자의 지문 화상을 더 이상 판독하지 않는다. 따라서, 시간 길이가 측정된다. 그 후, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 6을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S010에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 제어기(3)에 타이머의 시작을 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)는 통지를 수신하고 단계 S011로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S010으로 돌아간다.
단계 S011에서, 제어기(3)가 타이머 감시 유닛(1)을 기동하고, 처리 단계를 종료한다.
이제 타이머 감시 유닛(1)에 의해 실행되는 연속 처리 단계를 도 7을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S012에서, 타이머 감시 유닛(1)은 제어기(3)가 타이머 감시 유닛(1)에 기동을 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 타이머 감시 유닛 (1)이 활성 통지를 수신했음을 의미하며, 처리 단계는 단계 S013으로 진행한다. 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S012로 돌아간다.
타이머 감시 유닛(1)은 단계 S013에서 현재 시간을 획득하고, 단계 S014로 이동한다.
다음 단계 S014에서, 타이머 감시 유닛(1)은 제어기(3)에 타이머 시작의 완료를 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 8을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S015에서, 제어기(3)는 타이머 감시 유닛(1)이 제어기(3)에 타이머 시작의 완료를 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 그 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S016으로 이동한다. 반대로, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S015로 돌아간다.
단계 S016에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 타이머 시작을 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 9를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S017에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)가 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 타이머 시작을 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 통지를 수신하였음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S018로 이동한다. 반대로, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S017로 돌아간다.
단계 S018에서 촬상 소자(12)는 시간 t에서 필름 왜곡량 검출용 패턴 Pt(x, y)를 획득하고, 처리 단계는 단계 S019로 진행한다.
다음 단계 S019에서, 촬상 소자(12)는 획득된 필름 왜곡량 검출용 패턴 Pt(x, y)를 메모리(13)에 저장하고, 단계 S020으로 진행한다.
단계 S020에서, 산술 연산자(14)는 각각 시간 t 및 t-1에서 획득된 필름 왜곡량 검출용 패턴 Pt(x, y) 및 Pt-1(x, y)에 대해 대조 산술 연산을 수행하여, 시간 t와 t-1 사이의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)을 판정한다. 이어서, 처리 단계는 단계 S021로 진행한다.
단계 S021에서, 산술 연산자(14)는 단계 S020에서 판정된 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)을 메모리(13)에 저장하고, 처리 단계는 단계 S022로 진행한다.
단계 S022에서, 산술 연산자는 시간 t와 t-1 간의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)이 (0, 0)과 동일한지(즉, (ΔXt, ΔYt) = (0, 0)인지)의 여부를 판단한다. 피인증자가 지문 판독면에 손가락을 적절하게 놓으면, 값 (ΔXt, ΔYt)가 0이 되도록 손가락의 이동을 안정화시킨다. 이 단계는 값 (ΔXt, ΔYt)이 0이 되는 순간을 피인증자의 손가락이 적절하게 놓인 상태임을 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S023으로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S018 로 돌아간다.
단계 S023에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)에 타이머의 중지를 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 10을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S024에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 제어기(3)에 타이머의 중지를 통지하는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 통지를 수신하였음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S025로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계가 단계 S024로 돌아가도록 한다.
단계 S025에서, 제어기(3)는 타이머 감시 유닛(10)에 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 타이머 중지의 통지를 발행했음을 통지한다.
이제, 타이머 감시 유닛(1)에 의해 수행된 연속 처리 단계를 도 11을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S026에서, 타이머 감시 유닛(1)은 제어기(3)가 타이머 감시 유닛(10)에 통지를 보내었음을 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 타이머 감시 유닛(1)이 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S027로 진행한다. 한편, 판단의 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S026으로 돌아간다.
단계 S027에서, 타이머 감시 유닛(1)은 현재 시간을 획득하고 처리 단계는 단계 S028로 진행한다.
단계 S028에서, 타이머 감시 유닛(1)은 단계 S013 및 S027에서 획득된 시간 에 기초하여, 피인증자가 소정 시간 내에 손가락을 안정하게 고정했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 피인증자가 소정 시간 내에 손가락을 안정하게 고정시켰음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S029로 진행한다. 반대로, 판단의 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S030으로 이동한다.
타이머 감시 유닛(1)은 단계 S029에서 제어기(3)에 타이머 중지를 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
단계 S030에서, 타이머 감시 유닛(1)은 피인증자가 소정 시간 내에 손가락을 적절히 놓지 않았음을 제어기(3)에 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행된 연속 처리 단계를 도 12를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S031에서, 제어기(3)는 타이머 감시 유닛(1)이 제어기(3)에 타이머 중지의 완료를 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S032로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S031로 돌아간다.
단계 S032에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 타이머 중지의 완료를 통지하고 처리 단계를 종료한다.
이제, 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 13을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S033에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)가 지문 왜곡 검출 유닛(9)에 타이머 중지의 완료를 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이 면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S034로 이동한다. 반대로, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S033으로 돌아간다.
단계 S034에서, 산술 연산자(14)는 도 9에서의 단계 S018 내지 단계 S022의 처리 루프에 저장된 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)의 총합을 계산하고, 처리 단계는 단계 S035로 진행한다.
단계 S035에서, 산술 연산자(14)는 지문 판독면 상에 손가락을 놓아서 지문 판독면에 안정적으로 고정되기까지의 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)의 총합이 소정값보다 작거나 같은지의 여부를 판단한다. 다시 말해서, 도 9에서의 단계 S018 내지 단계 S022의 처리 루프에 저장된 필름 왜곡량 검출용 패턴의 미소한 이동량(ΔXt, ΔYt)의 총합이 소정량보다 작거나 같은지의 여부를 판단한다. 피인증자가 예를 들어, 손가락을 돌림으로써 손가락을 부적절하게 놓으면, 이동량의 총합은 손가락을 놓을 때의 부적절함의 크기에 따라서 커지게 된다. 이러한 이유로, 소정값이 판정되고 그 소정값을 초과하는 총합은 피인증자가 손가락을 안정적으로 고정시키기 전에 부적절하게 놓았음을 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 손가락이 적절하게 놓여진 것으로 판단되어, 처리 단계는 단계 S036으로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S037로 이동한다.
지문 왜곡 검출 유닛(9)은 단계 S036에서 제어기(3)에 지문 왜곡의 검출 완료를 통지하여 처리 단계를 종료한다.
단계 S037에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 지문을 왜곡시킨 것으로 판단한 횟수를 1 증가시켜, 그 증가된 수를 저장한다. 이어서 처리 단계는 단계 S038로 진행한다.
단계 S038에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단된 횟수가 소정수(본 실시예에서는 3회)보다 작거나 같은지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단되는 횟수는 소정수보다 작거나 같으며, 처리 단계는 도 5에서의 단계 S005로 돌아간다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S039로 진행한다. 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡한 것으로 판단된 소정 횟수가 허용되는 이유는 그 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓는데 익숙하지 않으며, 피인증자가 처음 지문 대조 장치를 사용한다면 손가락에 과도한 힘을 가할 수도 있기 때문이다. 그러므로, 지문이 의도적으로 왜곡된 것으로 판단된 횟수가 소정수보다 작거나 같으면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 피인증자에게 손가락에 과도한 힘을 적용했음을 통지한다. 이러한 통지를 수신하면, 피인증자는 필요시 지문 판독면 상에 손가락을 다시 놓을 수 있다. 반대로, 그러한 통지에도 불구하고 지문이 의도적으로 왜곡된 것으로 판단된 횟수가 소정수를 초과한다면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 피인증자가 고의로 지문을 왜곡시킨 것으로 판단한다.
단계 S039에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)는 제어기(3)에 지문 왜곡의 검출 완료를 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행된 연속 처리 단계를 도 14를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S040에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 제어기(3)에 지문 왜곡 검출의 완료를 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 지문 왜곡 검출의 완료 통지를 수신하였음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S041로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S040으로 돌아간다.
단계 S041에서, 제어기(3)는 지문 센서(8)를 기동시키고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 지문 센서(8)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 15를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S042에서, 지문 센서(8)는 제어기(3)가 지문 센서(8)에 활성을 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 기동 통지를 수신했음을 의미하며, 처리 단계는 단계 S043으로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S042로 진행한다.
지문 센서(8)는 단계 S043에서 지문 화상을 획득하고, 처리 단계는 단계 S044로 진행한다.
지문 센서(8)는 단계 S044에서 그 획득된 지문 화상을 지문 화상 버퍼 메모리(7)에 저장하고, 처리 단계를 단계 S045로 진행시킨다.
단계 S045에서, 지문 센서(8)는 제어기(3)에 버퍼 메모리에 지문 화상 저장 완료를 통지하여 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 16을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S046에서, 지문 센서(8)가 제어기(3)에 지문 화상의 저장이 완료되었다는 통지를 보내었는지의 여부를 제어기(3)가 판단한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 완료 통지를 수신하였음을 의미하므로, 처리 단계는 단계 S047로 진행한다. 한편, 그 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S046으로 돌아간다.
단계 S047에서, 제어기(3)는 지문 검색 유닛(4)을 기동시켜, 처리 단계를 종료한다.
이제, 지문 검색 단계에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 17을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S048에서, 제어기(3)가 지문 검색 유닛(4)에 기동을 통지했는지의 여부를 지문 검색 유닛(4)이 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 지문 검색 유닛(4)이 기동 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계의 연속은 단계 S049로 진행한다. 반대로, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S048로 돌아간다.
단계 S049에서, 지문 검색 유닛(4)은 지문 화상 버퍼 메모리(7)로부터 피인증자의 지문 화상을 획득하고, 단계 S050으로 이동한다.
단계 S050에서, 지문 검색 유닛(4)은 이전 단계 S049에서 획득된 피인증자의 지문 화상이 블랙리스트 지문 화상 DB(6)에 미리 저장되어 있던 각각의 지문 화상과 동일한지의 여부를 판단한다. 블랙리스트 지문 화상 DB(6)가 피인증자의 것과 동일한 지문 화상을 보유하고 있다면, 그 피인증자를 블랙리스트 상의 사람이라고 판단하고 처리 단계는 단계 S052로 이동한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S051로 진행한다.
단계 S051에서, 지문 검색 유닛(4)은 제어기(3)에 지문 대조의 완료(어떤 동일한 지문 화상도 DB(6)에 등록되어 있지 않음)를 통지하여, 처리 단계를 종료한다.
단계 S052에서, 지문 검색 유닛(4)은 제어기(3)에 지문 대조의 완료(동일한 지문 화상이 DB(6)에 등록되어 있음)를 통지하여, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 18을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S053에서, 제어기(3)는 지문 대조의 완료(어떠한 동일한 지문 화상도 DB(6)에 등록되어 있지 않음)를 수신했는지의 여부를 판단한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S054로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S053으로 돌아간다.
단계 S054에서, 제어기(3)가 피인증자의 통행 허가를 모니터(10)에 디스플레이하고, 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 19를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S055에서, 제어기(3)는 지문 대조의 완료(동일한 지문 화상이 DB(6)에 등록되어 있음)를 수신했는지의 여부 또는 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 피인증자가 지문을 왜곡시킨 것으로 판단되는 횟수가 소정수보다 크거나 같음을 제어기(3)에 통지했는지의 여부를 판단한다. 둘 중 하나의 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)는 지문 대조 완료 통지 또는 피인증자에 의한 의도적인 지문 왜곡 통지를 수신하고, 처리 단계는 단계 S056으로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S055로 돌아간다.
단계 S056에서, 제어기(3)는 통지 유닛(5)를 기동시켜 처리 단계를 종료한다.
이제, 제어기(3)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 20을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S056에서, 제어기(3)는 지문 왜곡 검출 유닛(9)이 피인증자가 소정 시간 주기 내에 손가락을 안정하게 고정하지 않았음을 제어기(3)에 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 제어기(3)가 통지를 수신했음을 의미하고, 처리 단계는 단계 S058로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S057로 돌아간다.
단계 S058에서, 제어기(3)는 지문 센서(8)를 종료한다. 지문 센서(8)의 종료 결과로서, 피인증자는 지문 센서(8)로 지문 화상을 판독시킬 수 없게 된다. 이어서 처리 단계를 종료한다.
이제, 통지 유닛(5)에 의해 수행되는 연속 처리 단계를 도 21을 참조하여 기술할 것이다.
단계 S059에서, 통지 유닛(5)은 제어기(3)가 통지 유닛(5)에 기동을 통지했는지의 여부를 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 통지 유닛(5)이 기동 통지를 수 신했음을 의미하고, 처리 단계가 단계 S060으로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S059로 돌아간다.
단계 S060에서, 통지 유닛(5)은 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시켰기 때문에 지문 화상을 획득할 수 없거나 또는 피인증자의 지문이 블랙리스트 지문 화상 DB(6)에 등록되어 있는 것과 동일함을 여행사 직원(stuff clerk)에게 통지하고, 처리 단계를 종료한다.
(B) 제2 실시예:
지문 왜곡 검출 유닛(9)이 대안의 구성을 갖는 것으로 고려될 수도 있다. 본 제2 실시예에 사용되는 지문 왜곡 검출 유닛을, 각각 지문 화상 검출 유닛의 측면과 상면을 도시하는 도 27 및 도 28을 참조하여 기술한다.
피인증자는 제1 실시예에서 예시된 것과 동일한 행동을 하여 지문을 왜곡시킨다. 지문의 의도적인 왜곡 검출 이론은 제1 실시예에 기술된 바와 동일하다.
도 28에 도시된 바와 같이, 유리판(48)의 4개의 모퉁이를 유리판 고정 다리(49)로 반고정한다. "반고정(semi-fix)"하는 것은 유리판(48)을 수평 방향으로 약간만 움직이도록 고정하는 것을 의미한다. 지문 판독면에 의한 제한은 유리판(48)이 수직 방향으로는 움직일 수 없게 한다. i(자연수)개의 압력 검출 유닛(52)이 유리판(48) 주위에 설치된다. 각 압력 검출 유닛(52)은 도 2b에 도시된 바와 같이, 압력 센서(16), 메모리(17), 산술 연산자(18), 및 제어기(19)를 포함한다. 압력 센서(16)는 유리판(48)에 가해진 압력을 측정하여, 그 측정된 압력을 메모리(17)에 저장한다. 산술 연산자(18)는 메모리(17)에 저장되어 있는 압력 값들에 대 한 차분 계산과 같은 다양한 산술 연산을 수행한다. 이러한 동작들은 제어기(19)의 제어하에서 수행된다.
도 27에 도시된 바와 같이, 유리판(48)은 지문 판독면과 밀착하는 것이 아니라, 필름과 지문 판독면 사이의 공간을 형성하기 위해 유리판 고정 다리(49)에 의해 반고정된다. 피인증자가 유리판(48)에 손가락을 놓을 때 유리판(48)이 약간은 움직이도록 하기 위해서 공간을 생성한다. 그러나, 필름과 지문 판독면 간의 공간은 광선의 난반사 및 굴절율의 부정합을 야기하여, 명료한 지문 화상을 획득할 수 없게 한다. 해결책으로는, 굴절율 정합제(46)로 공간을 채워서 투명 필름(41) 또는 지문 판독면의 비평탄 표면으로 유리판(48)을 통과한 광의 난반사를 방지하므로, 명료한 지문 화상을 획득할 수 있다.
피인증자가 지문 판독면에 손가락을 놓을 때, 유리판(48)은 투명 필름(41)과 지문 판독면 사이의 공간의 존재 때문에 약간 움직인다. 유리판(48)의 이동은 각 압력 센서(16)에 의해 검출된 압력 값이 변화한다. 압력 값의 변화를 참조하여, 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부가 판단된다. 구체적으로, 피인증자가 지문 판독면에 손가락을 적절하게 놓았다면, 압력 센서(16)는 유사한 압력 값들을 검출한다. 반대로, 피인증자가 손가락을 끌거나 돌림으로써 고의로 지문을 왜곡시킨다면, 특정 방향으로 큰 압력이 유리판(48)에 가해지고, 압력 센서(16)는 각각 다른 압력 값들을 검출한다. 따라서, 유리판(48)에 부착된 압력 센서(16)에 의해 검출된 압력 값들을 비교함으로써 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판단할 수 있다.
이제, 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓았음을 검출하기 위해 수행되는 연속 처리 단계를 도 22를 참조하여 기술할 것이다.
단계 S101에서, 각각의 압력 센서(16)는 센서에 가해진 압력(Pi,t)을 측정한다. 여기서, i는 센서의 수를 나타내고 t는 시간을 나타낸다. 처리 단계는 단계 S102로 진행한다.
단계 S102에서, 제어기(19)는 단계 S101에서 압력 센서(16)에 의해 측정된 압력(Pi,t)을 메모리(17)에 저장하고 단계 S103으로 이동한다.
단계 S103에서, 산술 연산자(18)는 각 압력 센서(16)에 의해 시간 t 및 t-1에서 각각 연속으로 측정된 Pi,t와 Pi,t-1 간의 차를 계산하고, 처리 단계는 단계 S104로 진행한다.
단계 S104에서, 산술 연산자(18)는 단계 S103에서 계산된 차가 0(제로)인지의 여부를 판단한다. 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓으면 유리판을 약간 이동시켜 각 압력 센서(16)에 의해 측정된 압력 값을 변경시킨다. 압력 값들이 변화하는 순간을 피인증자가 손가락을 놓은 상태로서 간주한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 피인증자는 지문 판독면 상에 손가락을 놓고, 처리 단계는 단계 S105로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S101로 돌아간다.
단계 S105에서, 각 압력 센서(16)는 센서에 가해진 압력(Pi,t)을 측정하고, 처리 단계는 단계 S106으로 진행한다.
단계 S106에서, 제어기(19)는 단계 S101에서 압력 센서(16)에 의해 측정된 압력(Pi,t)를 메모리(17)에 저장한다.
단계 S107에서, 산술 연산자(18)는 각 압력 센서(16)에 의해 각각 시간 t와 t-1에서 연속으로 측정된 Pi,t와 Pi,t-1 간의 차를 계산하고, 처리 단계는 단계 S108로 진행한다.
단계 S108에서, 산술 연산자(18)는 단계 S103에서 계산된 차가 0(제로)인지의 여부를 판단한다. 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 적절히 놓으면 손가락의 이동이 안정화되기 때문에, 차는 0이 된다. 차가 0이 되는 순간을 피인증자의 손가락이 안정하게 놓여진 상태로 판단한다. 판단 결과가 긍정이면, 처리 단계는 단계 S109로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S105로 돌아간다.
단계 S109에서, 압력 센서(16)에 의해 측정된 압력 값(Pi,t)의 변화량(σ)을계산한다. 변화량(σ)은 과도한 힘이 손가락에 가해져서 손가락이 안정하게 놓여졌어도 지문을 왜곡시켜 버리는 경우의 어떤 경향을 보여주기 때문에, 손가락이 안정하게 놓여진 것으로 판단된 때에 측정된 압력 값을 이용하여 계산된다. 변화량(σ)의 값을 참조하여, 손가락이 지문 판독면에 안정하게 놓여진 때에도 손가락에 과도한 힘을 가한 것을 검출할 수 있다. 대안으로, 단계 S105 내지 단계 S108의 처리 루프에 저장된 모든 압력값(Pi,t)은 변화량(σ)를 계산하는데 이용될 수 있다. 그러한 변화량(σ)을 참조하면, 손가락이 지문 판독면 상에 안정하게 고정된 것으로 판단된 시간에 의해 손가락에 순간적으로 큰 힘을 가한 것을 검출할 수 있다. 처리 단계는 단계 S110으로 진행한다.
단계 S110에서, 산술 연산자(18)는 단계 S109에서 계산된 변화량(σ)이 소정값보다 작거나 같은 지의 여부를 판단한다. 피인증자가 손가락에 과도한 힘을 가하여 지문을 의도적으로 왜곡시키는 경우에, 변화량(σ)은 어떤 경향을 보여준다. 판단 결과가 긍정이면, 피인증자는 지문 판독면 상에 손가락을 적절하게 놓고, 처리 단계는 단계 S112로 진행한다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S111로 이동한다.
단계 S111에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단된 횟수를 1 증가시켜, 그 증가된 수를 저장한다. 이어서, 처리 단계는 단계 S113으로 진행한다.
단계 S113에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단된 횟수가 소정수(본 실시예에서는 3회)보다 작거나 같은지의 여부를 판단한다. 그 판단 결과가 긍정이면, 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단된 횟수가 소정수보다 작거나 같으며, 처리 단계는 단계 S101로 돌아간다. 한편, 판단 결과가 부정이면, 처리 단계는 단계 S114로 이동한다. 피인증자가 지문을 의도적으로 왜곡시킨 것으로 판단된 소정 횟수가 허용되는 이유는 제1 실시예에서 설명한 바와 같다.
단계 S112에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)에 지문 왜곡 검출 완료(피인증자가 손가락을 적절하게 놓음)를 통지하여, 처리 단계를 종료한다.
단계 S114에서, 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 제어기(3)에 지문 왜곡 검출 완료 (피인증자가 손가락을 부적절하게 놓음)를 통지하여, 처리 단계를 종료한다.
대안으로, 본 실시예의 단계 S109에서, 최대 압력 값은 단계 S105 내지 단계 S108의 처리 루프동안 저장된 압력 값으로부터 추출될 수 있으며, 최대 압력 값이 소정 값보다 크거나 같은지의 여부는 다음 단계 S110에서 판단될 수 있다. 압력 값이 지나치게 크면, 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓은 것으로 추정한다. 이제, 이 경우에 수행되는 연속 처리 단계를 도 23을 참조하여 기술할 것이다.
(C) 제3 실시예:
제3 실시예에서 고려되는 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 대안의 구성을 갖는 것으로 변경될 수 있다.
본 제3 실시예에서 사용된 지문 왜곡 검출 유닛을 각각 지문 왜곡 검출 유닛의 측면과 상면을 도시하는 도 29 및 도 30을 참조하여 기술한다.
도 30에 도시된 바와 같이, 유리판(48)의 4개의 모퉁이는 탄성 고정 다리(56)에 의해 반고정된다. "반고정"하는 것이란 제2 실시예에 기술된 바와 같다. 체크 무늬의 유리판 이동량 검출용 패턴(60)은 유리판(48) 상에 부분적으로 프린팅되어 있다.
도 29에 도시된 바와 같이, 유리판(48)은 지문 판독면과 밀착되어 있는 것이 아니라 필름과 지문 판독면 사이에 공간을 형성하도록 탄성 고정 다리(56)로 고정되어 있다. 피인증자가 유리판(48) 상에 손가락을 놓은 때에 유리판(48)의 이동을 동반한 손가락 이동을 검출하기 위해서, 그 공간을 생성한다. 그러나, 유리판(48)과 지문 판독면 사이의 공간은 광선의 난반사 및 굴절율의 부정합을 야기하여 명료 한 지문 화상을 획득할 수 없게 한다. 해결책으로는, 제2 실시예와 같은 이유로 굴절율 정합제(46)로 공간을 채운다.
유리판 이동량 검출 유닛(55)은 유리판 이동량 검출용 패턴(60) 바로 밑에 배치된다. 각각의 유리판 이동량 검출 유닛(55)은 도 2c에 도시된 바와 같이, 광학 렌즈 유닛(20), 촬상 소자(21), 메모리(22), 산술 연산자(23) 및 제어기(24)를 구비한다. 촬상 소자는 광학 렌즈 유닛(20)을 통해 유리판 이동량 검출용 패턴(60)의 화상을 취하여, 그 취해진 화상을 메모리(22)에 저장한다. 산술 연산자(23)는 메모리(22)에 저장된 화상에 대해 대조 산술 연산과 같은 다양한 산술 연산을 수행한다. 이러한 동작들은 제어기(24)의 제어하에 수행된다.
피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓은 경우, 유리판(8)은 반고정되어 있는 상태이기 때문에, 약간은 이동한다. 그러한 약간의 이동은 피인증자가 손가락을 적절히 놓았는지의 여부를 판정하는데 사용된다. 피인증자가 손가락을 적절히 놓았다면, 유리판(48)은 많이 이동하지 않으므로 유리판 이동량 검출용 패턴(60)도 많이 이동하지 않는다. 반대로, 피인증자가 고의로 끌거나 돌려서 지문을 왜곡시킨다면, 특정 방향으로 손가락끝에 큰 압력이 가해진다. 이 경우, 유리판(48)이 많이 이동하게 되므로, 유리판 이동량 검출용 패턴(60)도 많이 이동하게 된다. 예를 들어, 피인증자가 손가락을 앞으로 끌면, 유리판(48)도 앞으로 이동하므로 유리판 이동량 검출용 패턴(60)도 앞으로 이동하게 된다.
피인증자에 의한 부적절한 손가락 놓임을 검출하기 위한 절차는 제1 실시예에서 수행된 바와 동일한다.
(D) 제4 실시예:
지문 왜곡 검출 유닛(9)은 대안의 구성을 갖도록 변경될 수 있다. 제1 내지 제3 실시예에 기술된 지문 왜곡 검출 유닛들은 투명 필름과 기타 다른 것들로 덮여 있는 지문 센서를 가지므로, 지문 센서는 광학 센서이어야 한다. 대안으로, 제4 실시예에서는 반도체 지문 센서와 같은 비광학 지문 센서를 사용할 수 있다.
이제, 본 실시예의 지문 왜곡 검출 유닛을 각각 지문 왜곡 검출 유닛의 측면과 하면을 도시하는 도 31 및 도 32를 참조하여 기술할 것이다.
도 32에 도시된 바와 같이, 지문 센서 이동량 검출용 패턴(65)이 지문 센서(8) 상에 부분적으로 인쇄된다.
도 31에 도시된 바와 같이, 지문 센서(8)는 탄성체(62)를 사이에 끼운채 마운트(45)에 고정된다. 지문 센서 이동량 검출 센서(61)는 지문 센서 이동량 검출용 패턴(65) 바로 밑에 배치된다. 지문 센서 이동량 검출 센서(61)는 필름 왜곡량 검출 유닛(43)과 구성이 동일하다.
피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓으면, 지문 센서(8)가 탄성체(62)에 고정되어 있기 때문에, 지문 센서는 약간 이동한다. 그러한 약간의 이동은 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판정하는데 이용된다. 피인증자가 손가락을 적절히 놓았다면, 지문 센서(8)는 많이 이동하지 않으므로, 지문 센서 이동량 검출용 패턴(65)도 많이 이동하지 않게 된다. 반대로, 피인증자가 고의로 끌거나 돌림으로써 지문을 왜곡시켰다면, 특정 방향으로 손가락끝에 큰 압력이 가해진다. 이 경우, 지문 센서(8)는 많이 이동하게 되므로, 지문 센서 이동량 검출용 패턴(65)도 많이 이동하게 된다. 예를 들어, 피인증자가 손가락을 앞으로 끌면, 지문 센서(8)도 앞으로 이동하므로, 지문 센서 이동량 검출용 패턴(65)도 앞으로 이동하게 된다.
피인증자에 의한 손가락의 부적절한 놓임을 검출하기 위한 처리 단계들은 제1 실시예에서 수행된 것과 동일하다.
(E) 제5 실시예:
제1 실시예의 지문 왜곡 검출 유닛(9)은 대안의 구성을 갖도록 변경될 수 있다. 제1 내지 제3 실시예에 기술된 지문 왜곡 검출 유닛들은 투명 필름과 기타 다른 것들로 덮여 있는 지문 센서를 가지므로, 지문 센서는 광학 센서가 되어야 한다. 대안으로, 제5 실시예에서는 반도체 지문 센서와 같은 비광학 지문 센서를 사용할 수 있다.
이제, 본 실시예의 지문 왜곡 검출 유닛을 각각 지문 왜곡 검출 유닛의 측면과 하면을 도시하는 도 33 및 도 34를 참조하여 기술할 것이다.
도 34에 도시된 바와 같이, 많은 압력 검출 유닛(52)이 지문 센서(8) 주위에 배치된다. 각 압력 검출 유닛(52)의 구성은 제2 실시예에 기술된 바와 동일하다.
도 33에 도시된 바와 같이, 지문 센서(8)는 탄성체(62)를 사이에 끼운채 마운트(45) 상에 고정된다. 피인증자가 지문 판독면 상에 손가락을 놓을 경우, 지문 센서(8)는 탄성체(62)에 고정되어 있기 때문에, 약간 이동한다. 그러한 약간의 이동은 각 압력 검출 유닛(52)의 압력 센서(16)에 의해 검출된 압력 값의 변동을 야기한다. 이러한 압력 값은 피인증자가 손가락을 적절하게 놓았는지의 여부를 판정 하는데 이용된다. 다시 말해서, 피인증자가 손가락을 적절하게 놓은 경우, 모든 압력 센서들에 의해 검출된 압력 값들은 대략적으로 동일하다. 반대로, 피인증자가 고의로 끌거나 돌림으로써 지문을 왜곡시키면, 압력 센서는 각각 다른 압력 값을 검출한다. 이러한 이유로, 지문 센서(8)에 설치된 압력 검출 유닛(52)에 의해 측정된 압력 값들을 비교함으로써 피인증자가 손가락을 부적절하게 놓았음을 검출할 수 있다.
피인증자에 의한 지문의 부적절한 놓임을 검출하기 위한 절차는 제2 실시예에서 수행된 바와 동일하다.
추가로, 본 발명은 이러한 전술된 실시예들에만 제한되는 것이 아니며, 본 발명의 요지에서 벗어나지 않고 다양한 변경 또는 수정이 제안될 수 있다.
피인증자가 손가락을 지문 판독면에 부적절히 놓았음을 검출하는 지문 왜곡 검출 장치를 구비하고, 피인증자의 손가락이 부적절히 놓였음을 검출한 경우, 손가락을 다시 놓도록 하거나 제3자에게 통지할 수 있는 지문 대조 장치로서, 왜곡된 지문 화상이 지문 대조 장치에 들어오는 것을 방지할 수가 있으므로, 블랙리스트에 있는 사람을 찾아낼 수 있는 확률을 높일 수 있다.

Claims (16)

  1. 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하여, 상기 지문 화상을 미리 등록된 지문 화상과 대조하는 지문 대조 장치에 있어서,
    상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛과,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛이, 손가락이 왜곡되어 있는 것을 검출한 경우, 제3자에게 통지하는 통지 유닛
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  2. 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하여, 상기 지문 화상을 미리 등록된 지문 화상과 대조하는 지문 대조 장치에 있어서,
    손가락과 함께 이동하는 부재에 대하여, 손가락과 함께 이동한 상기 부재의 변화량을 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛과,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛이, 상기 변화량이 소정의 값 이상인 것을 검출한 경우, 제3자에게 통지하는 통지 유닛
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  3. 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하여, 상기 지문 화상을 미리 등록된 지문 화상과 대조하는 지문 대조 장치에 있어서,
    상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛과,
    요주의 인물의 지문 화상이 등록된 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스와,
    상기 지문 화상이 상기 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스에 등록된 지문 화상에 일치하는지의 여부를 검색하는 지문 검색 유닛과,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛이, 손가락이 왜곡되어 있는 것을 검출한 경우, 또는, 상기 지문 화상이 상기 블랙리스트 지문 화상 데이터베이스에 등록된 지문 화상과 일치한 경우, 제3자에게 통지하는 통지 유닛
    을 포함하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛이, 손가락이 왜곡되어 있는 것을 검출한 경우, 검출한 횟수가 소정 횟수 이하인지의 여부를 판정하고, 상기 검출한 횟수가 소정 횟수 이하인 경우, 손가락을 다시 놓는 것을 허용하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛이, 일정 시간 내에, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있지 않은 것을 검출할 수 없었던 경우, 상기 지문 센서는 피인증자의 손가락의 지문 화상을 판독하지 않게 되는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은,
    상기 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 고정되고,
    피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 왜곡량 검출용 패턴을 갖는 투명 탄성 필름을 구비함과 함께,
    상기 왜곡량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은,
    상기 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 반고정되고,
    피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 이동량 검출용 패턴을 갖는 투명판을 구비함과 함께,
    상기 이동량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은,
    상기 지문 센서의 지문 판독면 상에 배치되어 반고정된 투명판을 갖고,
    상기 투명판에 가해지는 압력을 측정하는 것으로, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 지문 센서는, 마운트에 반고정되고, 피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 이동량 검출용 패턴을 가지며,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 이동량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 지문 센서는 마운트에 반고정되고,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 지문 센서에 가해지는 압력을 측정하는 것으로, 상기 지문 센서의 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 대조 장치.
  11. 삭제
  12. 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하는 지문 센서로서,
    상기 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛을 포함하고,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 지문 판독면 상에 배치되어 고정되고, 피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 왜곡량 검출용 패턴을 갖는 투명 탄성 필름을 구비함과 함께, 상기 왜곡량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 센서.
  13. 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하는 지문 센서로서,
    상기 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛을 포함하고,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 지문 판독면 상에 배치되어 반고정되고, 피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 이동량 검출용 패턴을 갖는 투명판을 구비함과 함께, 상기 이동량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 센서.
  14. 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하는 지문 센서로서,
    상기 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛을 포함하고,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 지문 판독면 상에 배치되어 반고정된 투명판을 갖고, 그 투명판에 가해지는 압력을 측정하는 것으로, 상기 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 센서.
  15. 지문 판독면에 놓여진 손가락의 지문 화상을 판독하는 지문 센서로서,
    상기 지문 판독면에 놓여진 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 검출하는 지문 왜곡 검출 유닛과,
    마운트에 반고정되고, 피인증자의 손가락의 움직임을 검출하는 이동량 검출용 패턴을 포함하고,
    상기 지문 왜곡 검출 유닛은, 상기 이동량 검출용 패턴의 이동량을 측정하는 것으로, 상기 지문 판독면에 놓여진 피인증자의 손가락이 왜곡되어 있는지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 지문 센서.
  16. 삭제
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