KR100746169B1 - 반도체 소자 테스트 핸들러 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (13)
- 소정의 온도를 유지하는 제 1 챔버;상기 제 1 챔버의 내부에 상기 제 1 챔버의 내부공간과 구별되는 다른 내부공간을 형성하는 제 2 챔버;상기 제 1 챔버에 위치하는 테스트 트레이를 이동시키는 테스트 트레이 이송장치; 를 포함하며,상기 테스트 트레이 이송장치는,상기 제1 챔버에 위치하는 테스트 트레이를 취부하는 테스트 트레이 취부부;상기 테스트 트레이 취부부를 적어도 한 방향으로 이동시키기 위해 마련되며 상기 제 2 챔버에 위치하는 동력 전달부; 및상기 동력 전달부를 구동시키기 위해 마련되며, 상기 제 2 챔버에 위치되거나 상기 제 1 챔버나 제 2 챔버의 외부에 위치되는 구동수단; 을 포함하는 것을 특징으로 하는반도체 소자 테스트 핸들러.
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